CN113253074B - 电阻片能量耐受确定方法、装置、计算机设备和存储介质 - Google Patents

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CN113253074B CN202110689143.8A CN202110689143A CN113253074B CN 113253074 B CN113253074 B CN 113253074B CN 202110689143 A CN202110689143 A CN 202110689143A CN 113253074 B CN113253074 B CN 113253074B
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/12Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing

Abstract

本申请涉及一种电阻片能量耐受确定方法、装置、计算机设备和存储介质,适应于电力系统技术领域。所述方法包括:对待测试的目标电阻片施加多个第一方波电压信号,各第一方波电压信号的峰值持续时长不同;逐步增加各第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片被击穿为止;根据目标电阻片被击穿时,第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值;根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。采用本方法能够满足电阻片在实际应用中的需求。

Description

电阻片能量耐受确定方法、装置、计算机设备和存储介质
技术领域
本申请涉及电力系统技术领域,特别是涉及一种电阻片能量耐受确定方法、装置、计算机设备和存储介质。
背景技术
氧化锌电阻片由功能型复合陶瓷材料氧化锌制成,因其具有优异的非线性电阻特性、通流容量大等特点,使其在氧化锌避雷器中发挥了限制过电压幅值、吸收过电压能量的重要作用,氧化锌电阻片耐受能量冲击能力是其重要的特性参数之一。
由于2ms方波为国际标准方波,因此,在传统技术中,氧化锌电阻片耐受能量冲击能力是通过考核氧化锌电阻片在2ms方波冲击下的极限能量值来确定的。
然而,在实际使用过程中,氧化锌电阻片通常需要吸收几十毫秒到几百毫秒的长波电压对应的能量值,因此,利用2ms国际标准方波测试得到的氧化锌电阻片的极限能量值适用性较差,不能满足实际需求。
发明内容
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种电阻片能量耐受确定方法、装置、计算机设备和存储介质,能够确定各中长波电压下,电阻片的极限能量值,从而满足实际需求。
第一方面,提供了一种电阻片能量耐受确定方法,方法包括:对待测试的目标电阻片施加多个第一方波电压信号,各第一方波电压信号的峰值持续时长不同;在施加各第一方波电压信号的过程中,逐步增加各第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片被击穿为止;对于各第一方波电压信号,根据目标电阻片被击穿时,第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值;根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在其中一个实施例中,对于各第一方波电压信号,根据目标电阻片被击穿时,第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值,包括:对于各第一方波电压信号,根据第一方波电压信号对与目标电阻片规格相同的备用电阻片施加重复方波电压信号,重复方波电压信号的电压峰值与目标电阻片被击穿时第一方波电压信号的第一电压峰值相同,重复方波电压信号的峰值持续时长与第一方波电压信号的峰值持续时长相同;对于各第一方波电压信号,若备用电阻片被击穿,则根据第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值。
在其中一个实施例中,方法还包括:对于各第一方波电压信号,若备用电阻片未被击穿,则根据第一方波电压信号对备用电阻片施加第二方波电压信号,并从第一方波电压信号的第一电压峰值起逐步增加第二方波电压信号的电压峰值,直至备用电阻片被击穿为止,其中,第二方波电压信号的峰值持续时长与第一方波电压信号的峰值持续时长相同;对于各第一方波电压信号,根据备用电阻片被击穿时,施加于备用电阻片上的第二方波电压信号的第二电压峰值、备用电阻片的第二电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于备用电阻片上的第二能量值;根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第二能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在其中一个实施例中,方法还包括:对于各第一方波电压信号,若目标电阻片在第一方波电压信号未增加电压峰值的情况下被击穿,则逐步降低第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片不被击穿为止;根据目标电阻片不被击穿时,施加于目标电阻片上的第一方波电压信号的第三电压峰值、目标电阻片的第三电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第三能量值;根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第三能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在其中一个实施例中,在施加各第一方波电压信号的过程中,逐步增加各第一方波电压信号的电压峰值,包括:对于各第一方波电压信号,在每次增加第一方波电压信号的电压峰值之前,确定目标电阻片是否冷却至环境温度;若目标电阻片冷却至环境温度,则增加第一方波电压信号的电压峰值。
在其中一个实施例中,根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系,包括:根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值拟合曲线;根据曲线,确定方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
第二方面,提供了一种电阻片能量耐受确定装置,装置包括:
施加模块,用于对待测试的目标电阻片施加多个第一方波电压信号,各第一方波电压信号的峰值持续时长不同;
增加模块,用于在施加各第一方波电压信号的过程中,逐步增加各第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片被击穿为止;
第一计算模块,用于对于各第一方波电压信号,根据目标电阻片被击穿时,第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值;
第一构建模块,用于根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在其中一个实施例中,上述第一计算模块包括:
施加单元,用于对于各第一方波电压信号,根据第一方波电压信号对与目标电阻片规格相同的备用电阻片施加重复方波电压信号,重复方波电压信号的电压峰值与目标电阻片被击穿时第一方波电压信号的第一电压峰值相同,重复方波电压信号的峰值持续时长与第一方波电压信号的峰值持续时长相同;
第一计算单元,用于若备用电阻片被击穿,则根据第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值。
第三方面。提供了一种计算机设备,包括存储器和处理器,存储器存储有计算机程序,处理器执行计算机程序时实现如上述第一方面任一所述的方法。
第四方面。提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面任一所述的方法。
上述电阻片能量耐受确定方法、装置、计算机设备和存储介质,对待测试的目标电阻片施加多个第一方波电压信号,各第一方波电压信号的峰值持续时长不同。因此,需要对在待测试的目标电阻片施加多个第一方波电压信号,因此可以测量得到目标电阻片在多个第一方波电压信号下对应的极限能量值。此外,施加各第一方波电压信号的过程中,逐步增加各第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片被击穿为止。其中,目标电阻片被击穿,说明当前各第一方波电压信号的对应的能量值已经达到了目标电阻片的极限能量值,因此,可以准确确定目标电阻片的极限能量值对应的第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长。对于各第一方波电压信号,根据目标电阻片被击穿时,第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值,可以保证计算得到的第一能量值的准确性。根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。上述方法中,通过构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系,可以确定各种不同峰值持续时长的方波电压信号对应的可击穿电阻片的极限能量值,因此能够确定各中长波电压下,电阻片的极限能量值,从而满足实际需求。
附图说明
图1为一个实施例中电阻片能量耐受确定方法的流程示意图;
图2为一个实施例中电阻片能量耐受确定方法的计算机设备部分构造的示意图;
图3为一个实施例中电阻片能量耐受确定方法的流程示意图;
图4(a)为一个实施例中电阻片能量耐受确定方法40ms方波电压信号的示意图;
图4(b)为一个实施例中电阻片能量耐受确定方法70ms方波电压信号的示意图;
图4(c)为一个实施例中电阻片能量耐受确定方法100ms方波电压信号的示意图;
图4(d)为一个实施例中电阻片能量耐受确定方法200ms方波电压信号的示意图;
图5为一个实施例中电阻片能量耐受确定步骤的流程示意图;
图6为另一个实施例中电阻片能量耐受确定方法的流程示意图;
图7另为一个实施例中电阻片能量耐受确定步骤的流程示意图;
图8为另一个实施例中电阻片能量耐受确定方法中拟合的曲线的示意图;
图9为另一个实施例中电阻片能量耐受确定方法的流程示意图;
图10为一个实施例中电阻片能量耐受确定装置的结构框图;
图11为一个实施例中电阻片能量耐受确定装置的结构框图;
图12为一个实施例中电阻片能量耐受确定装置的结构框图;
图13为一个实施例中电阻片能量耐受确定装置的结构框图;
图14为一个实施例中电阻片能量耐受确定装置的结构框图;
图15为一个实施例中电阻片能量耐受确定装置的结构框图;
图16为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
本申请实施例提供的电阻片能量耐受确定方法,其执行主体可以是电阻片能量耐受确定的装置,该电阻片能量耐受确定的装置可以通过软件、硬件或者软硬件结合的方式实现成为计算机设备的部分或者全部,其中,该计算机设备可以是服务器或者终端,其中,本申请实施例中的服务器可以为一台服务器,也可以为由多台服务器组成的服务器集群,本申请实施例中的终端可以是智能手机、个人电脑、平板电脑、可穿戴设备、儿童故事机以及智能机器人等其他智能硬件设备。下述方法实施例中,均以执行主体是计算机设备为例来进行说明。
在本申请一个实施例中,如图1所示,提供了一种电阻片能量耐受确定方法,以该方法应用于计算机设备为例进行说明,包括以下步骤:
步骤101,计算机设备对待测试的目标电阻片施加多个第一方波电压信号,各第一方波电压信号的峰值持续时长不同。
其中,计算机设备可以是一种可以调节方波电压信号持续时长的特殊设备。如图2所示,可以为计算机设备中的一部分结构示意图。
其中,待测试的目标电阻片的数量可以是1个,也可以是多个,本申请实施例对待测试的目标电阻片的数量不做具体限定。
具体地,计算机设备可以根据待测试的目标电阻片在实际应用中可能会遇到的典型的方波电压信号,针对待测试的目标电阻片选择多个第一方波电压信号,并将选择的多个方波电压信号依次施加在待测试的目标电阻片上。其中,各第一方波电压信号的峰值持续时长不同,多个第一方波电压信号的数量可以为3个、也可以为5个、还可以为7个,本申请实施例对多个第一方波电压信号的数量不做具体限定。
示例性的,计算机设备根据待测试的目标电阻片在实际应用中可能会遇到的典型的方波电压信号,可以选择峰值持续时长为40ms、70ms、100ms和200ms等4个典型方波电压信号以及另外的国际标准的峰值持续时长为2ms的方波电压信号。计算机设备可以对待测试的目标电阻片依次施加上述选择的多个第一方波电压信号。
在选择了多个第一方波电压信号之后,计算机设备可以根据待测试的目标电阻片在实际应用的电流流通情况,为待测试的目标电阻片选择合适的正弦半波试验电流。
步骤102,在施加各第一方波电压信号的过程中,计算机设备逐步增加各第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片被击穿为止。
具体地,针对各第一方波电压信号,在施加各第一方波电压信号的过程中,计算机设备在将各第一方波电压信号以及正弦半波试验电流施加到待测试的目标电阻片之后,如果目标电阻片没有发生闪络或被击穿等现象,则计算机设备逐步增加各第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片被击穿为止。
示例性的,假设当前某一个第一方波电压信号的电压峰值为5V,在将该第一方波电压信号以及正弦半波试验电流施加到待测试的目标电阻片之后,如果目标电阻片没有发生闪络或被击穿等现象,计算机设备将该第一方波电压信号的电压峰值增加为5.1V,以此类推,每次可以将第一方波电压信号的电压峰值增加0.1V,直到第n轮目标电阻片发生闪络或被击穿等现象。
可选的,针对各第一方波电压信号,在施加各第一方波电压信号的过程中,计算机设备在将各第一方波电压信号以及正弦半波试验电流施加到待测试的目标电阻片之后,如果目标电阻片没有发生闪络或被击穿等现象,算机设备逐步增加各第一方波电压信号对应的暂时过电压倍数,直至目标电阻片被击穿为止。
其中,暂时过电压倍数是指目标电阻片的实际电压与额定电压的比值。
示例性的,在施加某一个第一方波电压信号的过程中,首先先选取一个暂时过电压倍数m,在将该第一方波电压信号以及正弦半波试验电流施加到待测试的目标电阻片之后,如果目标电阻片没有发生闪络或被击穿等现象,计算机设备在该第一方波电压信号下,逐步增加0.02倍的暂时过电压(m+0.02),继续进行过电压耐受,按照该试验步骤,直到第n轮目标电阻片发生闪络或被击穿等现象。
步骤103,对于各第一方波电压信号,计算机设备根据目标电阻片被击穿时,第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值。
具体地,对于各第一方波电压信号,在目标电阻片发生闪络或被击穿等现象时,计算机设备获取施加在目标电阻片的第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长。
计算机设备根据目标电阻片被击穿时,第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,对第一方波电压信号的第一电压峰值以及目标电阻片的第一电流值进行第一方波电压信号的峰值持续时长内的时间积分,计算得到施加于目标电阻片上的第一能量值。
步骤104,计算机设备根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
具体地,计算机设备在获取到各第一方波电压信号对应的第一能量值之后,可以将各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值进行对应存储,从而构建得到方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
上述电阻片能量耐受确定方法中,对待测试的目标电阻片施加多个第一方波电压信号,各第一方波电压信号的峰值持续时长不同。因此,需要对在待测试的目标电阻片施加多个第一方波电压信号,因此可以测量得到目标电阻片在多个第一方波电压信号下对应的极限能量值。此外,施加各第一方波电压信号的过程中,逐步增加各第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片被击穿为止。其中,目标电阻片被击穿,说明当前各第一方波电压信号的对应的能量值已经达到了目标电阻片的极限能量值,因此,可以准确确定目标电阻片的极限能量值对应的第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长。对于各第一方波电压信号,根据目标电阻片被击穿时,第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值,可以保证计算得到的第一能量值的准确性。根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。上述方法中,通过构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系,可以确定各种不同峰值持续时长的方波电压信号对应的可击穿电阻片的极限能量值,因此能够确定各中长波电压下,电阻片的极限能量值,从而满足实际需求。
在本申请一个实施例中,如图3所示,上述步骤103中的“对于各第一方波电压信号,根据目标电阻片被击穿时,第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值”,可以包括以下步骤:
步骤301,对于各第一方波电压信号,计算机设备根据第一方波电压信号对与目标电阻片规格相同的备用电阻片施加重复方波电压信号。
其中,重复方波电压信号的电压峰值与目标电阻片被击穿时第一方波电压信号的第一电压峰值相同,重复方波电压信号的峰值持续时长与第一方波电压信号的峰值持续时长相同。
具体地,施加各第一方波电压信号的过程中,逐步增加各第一方波电压信号的电压峰值,当各第一方波电压信号的电压峰值增加到某一电压峰值的情况下,目标电阻片被击穿或者发生闪络。
计算机设备根据目标电阻片的规格信息,获取与目标电阻片规格相同的备用电阻片。其中,备用电阻片的数量可以是1个也可以是多个,且备用电阻片的数量可以与目标电阻片的数量相同,也可以不相同,本申请实施例对备用电阻片的数量不做具体限定。
对于各第一方波电压信号,计算机设备根据第一方波电压信号对与目标电阻片规格相同的备用电阻片施加重复方波电压信号。
示例性的,以40ms的第一方波电压信号为例,假设目标电阻片被击穿或者发生闪络时,施加在目标电阻片上的是第一方波电压信号的峰值持续时长为40ms,第一方波电压信号的第一电压峰值为5.5V。计算机设备在备用电阻片上施加峰值持续时长为40ms,且第一电压峰值为5.5V的重复方波电压信号。
步骤302,对于各第一方波电压信号,若备用电阻片被击穿,则计算机设备根据第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值。
具体地,对于各第一方波电压信号,在对备用电阻片施加重复方波电压信号以后,若在重复方波电压信号的峰值持续时长之内,备用电阻片被击穿或者发生闪络现象,则计算机设备确定当前能量值已经达到了目标电阻片的极限能量值。
计算机设备根据备用电阻片被击穿时,第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,对第一方波电压信号的第一电压峰值以及目标电阻片的第一电流值进行第一方波电压信号的峰值持续时长内的时间积分,计算得到施加于目标电阻片上的第一能量值。
步骤303,对于各第一方波电压信号,若备用电阻片未被击穿,则计算机设备根据第一方波电压信号对备用电阻片施加第二方波电压信号,并从第一方波电压信号的第一电压峰值起逐步增加第二方波电压信号的电压峰值,直至备用电阻片被击穿为止。
其中,第二方波电压信号的峰值持续时长与第一方波电压信号的峰值持续时长相同。
具体地,对于各第一方波电压信号,在对备用电阻片施加重复方波电压信号以后,若在重复方波电压信号的峰值持续时长之内,备用电阻片未被击穿或者未发生闪络现象,则计算机设备确定当前能量值没有达到了目标电阻片的极限能量值。
计算机设备根据第一方波电压信号对备用电阻片施加第二方波电压信号,并从第一方波电压信号的第一电压峰值起逐步增加第二方波电压信号的电压峰值,直至备用电阻片被击穿为止。
示例性的,对于各第一方波电压信号,假设当前第一方波电压信号的第一电压峰值为5V,在将该第二方波电压信号以及正弦半波试验电流施加到待测试的目标电阻片之后,如果备用电阻片没有发生闪络或被击穿等现象,计算机设备将该第二方波电压信号的电压峰值增加为5.1V,以此类推,每次可以将第二方波电压信号的电压峰值增加0.1V,直到第n轮备用电阻片发生闪络或被击穿等现象。
可选的,针对各第一方波电压信号,在将该第二方波电压信号以及正弦半波试验电流施加到待测试的目标电阻片之后,如果备用电阻片没有发生闪络或被击穿等现象,计算机设备逐步增加各第二方波电压信号对应的暂时过电压倍数,直至目标电阻片被击穿为止。其中,暂时过电压倍数是指目标电阻片的实际电压与额定电压的比值。
示例性的,在施加某一个第二方波电压信号的过程中,首先先选取一个第二方波电压信号对应的暂时过电压倍数m,在将该第二方波电压信号以及正弦半波试验电流施加到待测试的目标电阻片之后,如果备用电阻片没有发生闪络或被击穿等现象,计算机设备在该第二方波电压信号下,逐步增加0.02倍的暂时过电压(m+0.02),继续进行过电压耐受,按照该试验步骤,直到第n轮备用电阻片发生闪络或被击穿等现象。
步骤304,对于各第一方波电压信号,计算机设备根据备用电阻片被击穿时,施加于备用电阻片上的第二方波电压信号的第二电压峰值、备用电阻片的第二电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于备用电阻片上的第二能量值。
具体地,对于各第一方波电压信号,在备用电阻片发生闪络或被击穿等现象时,计算机设备获取施加在备用电阻片的第二方波电压信号的第二电压峰值、备用电阻片的第二电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长。
计算机设备根据备用电阻片被击穿时,第二方波电压信号的第二电压峰值、备用电阻片的第二电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,对第二方波电压信号的第二电压峰值以及备用电阻片的第二电流值进行第二方波电压信号的峰值持续时长内的时间积分,计算得到施加于备用电阻片上的第一能量值。
步骤305,计算机设备根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第二能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
具体地,计算机设备在获取到各第一方波电压信号对应的第二能量值之后,可以将各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第二能量值进行对应存储,从而构建得到方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
示例性的,假设计算机设备根据待测试的目标电阻片在实际应用中可能会遇到的典型的方波电压信号,可以选择峰值持续时长为40ms、70ms、100ms和200ms等4个典型方波电压信号。假设计算机设备选取的备用电阻片的数量为3个。
计算机设备依次对目标电阻片施加峰值持续时长为40ms、70ms、100ms以及200ms的方波电压信号,并测试的目标电阻片在实际应用的电流流通情况,为待测试的目标电阻片选择合适的正弦半波试验电流。其中,施加在目标电阻片上的正弦半波试验电流不变。
以计算机设备对目标电阻片施加峰值持续时长为40ms的方波电压信号为例,假设目标电阻片的数量为3片,在施加40ms第一方波电压信号的过程中,逐步增加40ms第一方波电压信号的电压峰值,当40ms第一方波电压信号的电压峰值增加到电压峰值为5V的情况下,3个目标电阻片中的至少一片目标电阻片被击穿或者发生闪络。
计算机设备获取与目标电阻片规格相同的3个备用电阻片,在3个备用电阻片上施加重复方波电压信号。其中,重复方波电压信号的峰值持续时长为40ms,重复方波电压信号的电压峰值为5V。
若在对备用电阻片施加重复方波电压信号以后,若在重复方波电压信号的峰值持续时长之内,备用电阻片被击穿或者发生闪络现象,则计算机设备确定当前能量值已经达到了目标电阻片的极限能量值。
计算机设备根据备用电阻片被击穿时,第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,对第一方波电压信号的第一电压峰值以及目标电阻片的第一电流值进行第一方波电压信号的峰值持续时长内的时间积分,计算得到施加于目标电阻片上的第一能量值。
若在对备用电阻片施加重复方波电压信号以后,若在重复方波电压信号的峰值持续时长之内,备用电阻片未被击穿或者未发生闪络现象。则计算机设备根据第一方波电压信号对备用电阻片施加第二方波电压信号,其中,第二方波电压信号的峰值持续时长为40ms,将该第二方波电压信号的电压峰值增加为5.1V,以此类推,每次可以将第二方波电压信号的电压峰值增加0.1V,直到第n轮备用电阻片发生闪络或被击穿等现象。
计算机设备根据备用电阻片被击穿时,第二方波电压信号的第二电压峰值、备用电阻片的第二电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,对第二方波电压信号的第二电压峰值以及备用电阻片的第二电流值进行第二方波电压信号的峰值持续时长内的时间积分,计算得到施加于3个备用电阻片上的第一能量值。
根据上述方法,依次计算出峰值持续时长为40ms、70ms、100ms以及200ms的方波电压信号施加在目标电阻片上分别对应的第一能量值。
如图4中的(a)表示峰值持续时长为40ms的方波电压信号施加在目标电阻片上时,对应的显示器示意图;如图4中的(b)表示峰值持续时长为70ms的方波电压信号施加在目标电阻片上时,对应的显示器示意图;如图4中的(c)表示峰值持续时长为100ms的方波电压信号施加在目标电阻片上时,对应的显示器示意图;如图4中的(d)表示峰值持续时长为200ms的方波电压信号施加在目标电阻片上时,对应的显示器示意图。
本申请实施例中,对于各第一方波电压信号,计算机设备根据第一方波电压信号对与目标电阻片规格相同的备用电阻片施加重复方波电压信号。对于各第一方波电压信号,若备用电阻片被击穿,则计算机设备根据第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值。对于各第一方波电压信号,若备用电阻片未被击穿,则计算机设备根据第一方波电压信号对备用电阻片施加第二方波电压信号,并从第一方波电压信号的第一电压峰值起逐步增加第二方波电压信号的电压峰值,直至备用电阻片被击穿为止。对于各第一方波电压信号,计算机设备根据备用电阻片被击穿时,施加于备用电阻片上的第二方波电压信号的第二电压峰值、备用电阻片的第二电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于备用电阻片上的第二能量值。计算机设备根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第二能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。上述方法中,在目标电阻片被击穿的情况下,计算机设备根据第一方波电压信号对与目标电阻片规格相同的备用电阻片施加重复方波电压信号。考虑了目标电阻片因为受损而被击穿的情况,可以利用备用电阻片替换目标电阻片,可以保证计算得到的第一能量值或者第二能量值的准确性。
在本申请一个可选的实施例中,如图5所示,上述电阻片能量耐受确定方法,还可以包括以下步骤:
步骤501,对于各第一方波电压信号,若目标电阻片在第一方波电压信号未增加电压峰值的情况下被击穿,则计算机设备逐步降低第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片不被击穿为止。
具体地,对于各第一方波电压信号,若目标电阻片在第一方波电压信号未增加电压峰值的情况下被击穿,则说明施加在目标电阻片上的第一方波电压信号的电压峰值过高了。因此,计算机设备需要逐步降低第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片不被击穿为止。
示例性的,假设当前某一个第一方波电压信号的电压峰值为5V,在将该第一方波电压信号以及正弦半波试验电流施加到待测试的目标电阻片之后,如果目标电阻片发生闪络或被击穿等现象,说明施加在目标电阻片上的第一方波电压信号的电压峰值过高了。计算机设备将该第一方波电压信号的电压峰值降低为4.9V,以此类推,每次可以将第一方波电压信号的电压峰值降低0.1V,直到第n轮目标电阻片不发生闪络或被击穿等现象。
可选的,针对各第一方波电压信号,在施加各第一方波电压信号的过程中,计算机设备在将各第一方波电压信号以及正弦半波试验电流施加到待测试的目标电阻片之后,如果目标电阻片发生闪络或被击穿等现象,算机设备逐步降低各第一方波电压信号对应的暂时过电压倍数,直至目标电阻片不发生闪络或被击穿等现象。其中,暂时过电压倍数是指目标电阻片的实际电压与额定电压的比值。
示例性的,在施加某一个第一方波电压信号的过程中,首先先选取一个暂时过电压倍数m,在将该第一方波电压信号以及正弦半波试验电流施加到待测试的目标电阻片之后,如果目标电阻片发生闪络或被击穿等现象,计算机设备在该第一方波电压信号下,逐步降低0.02倍的暂时过电压(m-0.02),继续进行过电压耐受,按照该试验步骤,直到第n轮目标电阻片不发生闪络或被击穿等现象。
步骤502,计算机设备根据目标电阻片不被击穿时,施加于目标电阻片上的第一方波电压信号的第三电压峰值、目标电阻片的第三电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第三能量值。
具体地,针对各第一方波电压信号,在目标电阻片不被击穿时,计算机设备获取标电阻片不被击穿时,施加于目标电阻片上的第一方波电压信号的第三电压峰值、目标电阻片的第三电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长。
计算机设备根据目标电阻片不被击穿时,第一方波电压信号的第三电压峰值、目标电阻片的第三电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长。,对第一方波电压信号的第三电压峰值以及目标电阻片的第三电流值进行第一方波电压信号的峰值持续时长内的时间积分,计算得到施加于目标电阻片上的第三能量值。
步骤503,计算机设备根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第三能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
具体地,计算机设备在获取到各第一方波电压信号对应的第三能量值之后,可以将各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第三能量值进行对应存储,从而构建得到方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在本申请实施例中,对于各第一方波电压信号,若目标电阻片在第一方波电压信号未增加电压峰值的情况下被击穿,则计算机设备逐步降低第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片不被击穿为止。计算机设备根据目标电阻片不被击穿时,施加于目标电阻片上的第一方波电压信号的第三电压峰值、目标电阻片的第三电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第三能量值。计算机设备根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第三能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。上述方法中,可以保证最终计算得到的第三能量值的准确性,进一步保证方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系的准确性。
在本申请一个可选的实施例中,如图6所示,上述步骤102中的“在施加各第一方波电压信号的过程中,逐步增加各第一方波电压信号的电压峰值”,可以包括以下步骤:
步骤601,对于各第一方波电压信号,在每次增加第一方波电压信号的电压峰值之前,计算机设备确定目标电阻片是否冷却至环境温度。
具体地,对于各第一方波电压信号,在每次增加第一方波电压信号的电压峰值之前,计算机设备可以利用温度传感器测量目标电阻片的温度,从而判断是目标电阻片是否冷却至环境温度。
可选的,对于各第一方波电压信号,在每次降低第一方波电压信号的电压峰值之前,计算机设备可以利用温度传感器测量目标电阻片的温度,从而判断是目标电阻片是否冷却至环境温度。
步骤602,若目标电阻片冷却至环境温度,则计算机设备增加第一方波电压信号的电压峰值。
具体地,在目标电阻片冷却至环境温度的情况下,计算机设备增加第一方波电压信号的电压峰值。
可选的,在目标电阻片冷却至环境温度的情况下,计算机设备降低第一方波电压信号的电压峰值。
在本申请实施例中,对于各第一方波电压信号,在每次增加第一方波电压信号的电压峰值之前,计算机设备确定目标电阻片是否冷却至环境温度。若目标电阻片冷却至环境温度,则计算机设备增加第一方波电压信号的电压峰值。可以保证计计算得到的各第一方波电压信号对应的第一能量值的准确性,进一步保证方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系的准确性。
在本申请一个可选的实施例中,如图7所示,上述步骤104中的“根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系”,可以包括以下步骤:
步骤701,计算机设备根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值拟合曲线。
具体地,计算机设备在对待测试的目标电阻片施加多个第一方波电压信号时,目标电阻片的数量可以为多个。对于各第一方波电压信号,计算机设备计算得到多个目标电阻片在各第一方波电压信号下得到的多个第一能量值。针对各第一方波电压信号,计算机设备从各第一方波电压信号下对应的多个第一能量值中,选择最小的第一能量值作为极限能量值。
计算机设备根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的目标能量值利用预设的算法拟合曲线。其中,曲线的横坐边为目标电阻片的耐受时间,即方波电压信号的峰值持续时长,纵坐标为可击穿电阻片的极限能量值。如图8所示。
示例性的,假设目标电阻片的数量可以为3个,计算机设备分别计算得到峰值持续时长分别为2ms、40ms、70ms、100ms以及200ms的第一方波电压信号对应的第一能量值。具体情况如表1所示:
Figure 46499DEST_PATH_IMAGE001
示例性的,计算机设备可以将120kJ确定为目标电阻片在200ms的第一方波电压信号下对应的极限能量值;将127kJ确定为目标电阻片在100ms的第一方波电压信号下对应的极限能量值;将141kJ确定为目标电阻片在70ms的第一方波电压信号下对应的极限能量值;将153kJ确定为目标电阻片在40ms的第一方波电压信号下对应的极限能量值;将498kJ确定为目标电阻片在2ms的第一方波电压信号下对应的极限能量值。
计算机设备利用预设的算法拟合曲线,其中,一种可选的实现方式中,可以将曲线拟合为指数曲线。其中,指数曲线的公式可以为:
Figure 251216DEST_PATH_IMAGE002
其中,t可以表示方波电压信号的峰值持续时长,E(t)表示极限能量值。
步骤702,计算机设备根据曲线,确定方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
具体地,在拟合得到曲线之后,计算机设备可以将方波电压信号的峰值持续时长确定曲线中的横坐标,然后根据曲线的纵坐标确定方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值。从而确定方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
可选的,在拟合得到曲线对应的公式之后,计算机设备可以将方波电压信号的峰值持续时长代入公式中,然后根据公式计算出方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值。从而确定方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在本申请实施例中,计算机设备根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值拟合曲线。计算机设备根据曲线,确定方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。从而确定各种不同峰值持续时长的方波电压信号对应的可击穿电阻片的极限能量值,因此能够确定各中长波电压下,电阻片的极限能量值,从而满足实际需求。
为了更好的说明本申请的提供的电阻片能量耐受确定方法,本申请提供一种电阻片能量耐受确定的整体流程方面进行解释说明的实施例,如图9所示,该方法包括:
步骤901,计算机设备对待测试的目标电阻片施加多个第一方波电压信号,各第一方波电压信号的峰值持续时长不同。
步骤902,对于各第一方波电压信号,在施加各所述第一方波电压信号的过程中,在每次增加第一方波电压信号的电压峰值之前,计算机设备确定目标电阻片是否冷却至环境温度。
步骤903,若目标电阻片冷却至环境温度,则计算机设备增加第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片被击穿为止。
步骤904,对于各第一方波电压信号,计算机设备根据第一方波电压信号对与目标电阻片规格相同的备用电阻片施加重复方波电压信号,重复方波电压信号的电压峰值与目标电阻片被击穿时第一方波电压信号的第一电压峰值相同,重复方波电压信号的峰值持续时长与第一方波电压信号的峰值持续时长相同。
步骤905,对于各第一方波电压信号,若备用电阻片被击穿,则计算机设备根据第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值。
步骤906,对于各第一方波电压信号,若备用电阻片未被击穿,则计算机设备根据第一方波电压信号对备用电阻片施加第二方波电压信号,并从第一方波电压信号的第一电压峰值起逐步增加第二方波电压信号的电压峰值,直至备用电阻片被击穿为止。
步骤907,对于各第一方波电压信号,计算机设备根据备用电阻片被击穿时,施加于备用电阻片上的第二方波电压信号的第二电压峰值、备用电阻片的第二电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于备用电阻片上的第二能量值。
步骤908,计算机设备根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第二能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
步骤909,对于各第一方波电压信号,若目标电阻片在第一方波电压信号未增加电压峰值的情况下被击穿,则计算机设备逐步降低第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片不被击穿为止。
步骤910,计算机设备根据目标电阻片不被击穿时,施加于目标电阻片上的第一方波电压信号的第三电压峰值、目标电阻片的第三电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第三能量值。
步骤911,计算机设备根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第三能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
步骤912,计算机设备根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值拟合曲线。
步骤913,计算机设备根据曲线,确定方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
应该理解的是,虽然图1、3、5-7以及9的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,图1、3、5-7以及9中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段,这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在本申请一个实施例中,如图10所示,提供了一种电阻片能量耐受确定装置1000,包括:施加模块1010、增加模块1020、第一计算模块1030和第一构建模块1040,其中:
施加模块1010,用于对待测试的目标电阻片施加多个第一方波电压信号,各第一方波电压信号的峰值持续时长不同;
增加模块1020,用于在施加各第一方波电压信号的过程中,逐步增加各第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片被击穿为止;
第一计算模块1030,用于对于各第一方波电压信号,根据目标电阻片被击穿时,第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值;
第一构建模块1040,用于根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在本申请一个实施例中,如图11所示,上述第一计算模块1030,包括:施加单元1031以及第一计算单元1032,其中:
施加单元1031,用于对于各第一方波电压信号,根据第一方波电压信号对与目标电阻片规格相同的备用电阻片施加重复方波电压信号,重复方波电压信号的电压峰值与目标电阻片被击穿时第一方波电压信号的第一电压峰值相同,重复方波电压信号的峰值持续时长与第一方波电压信号的峰值持续时长相同;
第一计算单元1032,用于若备用电阻片被击穿,则根据第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值。
在本申请一个实施例中,如图12所示,上述第一计算模块1030,还包括:第一增加单元1033、第二计算单元1034以及构建单元1035,其中:
第一增加单元1033,用于对于各第一方波电压信号,若备用电阻片未被击穿,则根据第一方波电压信号对备用电阻片施加第二方波电压信号,并从第一方波电压信号的第一电压峰值起逐步增加第二方波电压信号的电压峰值,直至备用电阻片被击穿为止,其中,第二方波电压信号的峰值持续时长与第一方波电压信号的峰值持续时长相同;
第二计算单元1034,用于对于各第一方波电压信号,根据备用电阻片被击穿时,施加于备用电阻片上的第二方波电压信号的第二电压峰值、备用电阻片的第二电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于备用电阻片上的第二能量值;
构建单元1035,用于根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第二能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在本申请一个实施例中,如图13所示,上述电阻片能量耐受确定装置1000,还包括:降低模块1050、第二计算模块1060以及第二构建模块1070,其中:
降低模块1050,用于对于各第一方波电压信号,若目标电阻片在第一方波电压信号未增加电压峰值的情况下被击穿,则逐步降低第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片不被击穿为止;
第二计算模块1060,用于根据目标电阻片不被击穿时,施加于目标电阻片上的第一方波电压信号的第三电压峰值、目标电阻片的第三电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第三能量值;
第二构建模块1070,用于根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第三能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在本申请一个实施例中,如图14所示,上述增加模块1020,包括:
第一确定单元1021,用于对于各第一方波电压信号,在每次增加第一方波电压信号的电压峰值之前,确定目标电阻片是否冷却至环境温度;
第二增加单元1022,用于若目标电阻片冷却至环境温度,则增加第一方波电压信号的电压峰值。
在本申请一个实施例中,如图15所示,上述第一构建模块1040,包括:拟合单元1041以及第二确定单元1042,其中:
拟合单元1041,用于根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值拟合曲线;
第二确定单元1042,用于根据曲线,确定方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
关于电阻片能量耐受确定装置的具体限定可以参见上文中对于电阻片能量耐受确定方法的限定,在此不再赘述。上述电阻片能量耐受确定装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中,也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中,以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在本申请一个实施例中,提供了一种计算机设备,该计算机设备可以是终端,当计算机设备为终端时,其内部结构图可以如图16所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、通信接口、显示屏和输入装置。其中,该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信,无线方式可通过WIFI、运营商网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种电阻片能量耐受确定方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏,该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层,也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板,还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解,图16中示出的结构,仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图,并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定,具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。
在本申请一个实施例中,提供了一种计算机设备,包括存储器和处理器,存储器中存储有计算机程序,该处理器执行计算机程序时实现以下步骤:对待测试的目标电阻片施加多个第一方波电压信号,各第一方波电压信号的峰值持续时长不同;在施加各第一方波电压信号的过程中,逐步增加各第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片被击穿为止;对于各第一方波电压信号,根据目标电阻片被击穿时,第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值;根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在本申请一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:对于各第一方波电压信号,根据第一方波电压信号对与目标电阻片规格相同的备用电阻片施加重复方波电压信号,重复方波电压信号的电压峰值与目标电阻片被击穿时第一方波电压信号的第一电压峰值相同,重复方波电压信号的峰值持续时长与第一方波电压信号的峰值持续时长相同;对于各第一方波电压信号,若备用电阻片被击穿,则根据第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值。
在本申请一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:对于各第一方波电压信号,若备用电阻片未被击穿,则根据第一方波电压信号对备用电阻片施加第二方波电压信号,并从第一方波电压信号的第一电压峰值起逐步增加第二方波电压信号的电压峰值,直至备用电阻片被击穿为止,其中,第二方波电压信号的峰值持续时长与第一方波电压信号的峰值持续时长相同;对于各第一方波电压信号,根据备用电阻片被击穿时,施加于备用电阻片上的第二方波电压信号的第二电压峰值、备用电阻片的第二电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于备用电阻片上的第二能量值;根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第二能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在本申请一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:对于各第一方波电压信号,若目标电阻片在第一方波电压信号未增加电压峰值的情况下被击穿,则逐步降低第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片不被击穿为止;根据目标电阻片不被击穿时,施加于目标电阻片上的第一方波电压信号的第三电压峰值、目标电阻片的第三电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第三能量值;根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第三能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在本申请一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:对于各第一方波电压信号,在每次增加第一方波电压信号的电压峰值之前,确定目标电阻片是否冷却至环境温度;若目标电阻片冷却至环境温度,则增加第一方波电压信号的电压峰值。
在本申请一个实施例中,处理器执行计算机程序时还实现以下步骤:根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值拟合曲线;根据曲线,确定方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在本申请一个实施例中,提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:对待测试的目标电阻片施加多个第一方波电压信号,各第一方波电压信号的峰值持续时长不同;在施加各第一方波电压信号的过程中,逐步增加各第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片被击穿为止;对于各第一方波电压信号,根据目标电阻片被击穿时,第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值;根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在本申请一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:对于各第一方波电压信号,根据第一方波电压信号对与目标电阻片规格相同的备用电阻片施加重复方波电压信号,重复方波电压信号的电压峰值与目标电阻片被击穿时第一方波电压信号的第一电压峰值相同,重复方波电压信号的峰值持续时长与第一方波电压信号的峰值持续时长相同;对于各第一方波电压信号,若备用电阻片被击穿,则根据第一方波电压信号的第一电压峰值、目标电阻片的第一电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第一能量值。
在本申请一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:对于各第一方波电压信号,若备用电阻片未被击穿,则根据第一方波电压信号对备用电阻片施加第二方波电压信号,并从第一方波电压信号的第一电压峰值起逐步增加第二方波电压信号的电压峰值,直至备用电阻片被击穿为止,其中,第二方波电压信号的峰值持续时长与第一方波电压信号的峰值持续时长相同;对于各第一方波电压信号,根据备用电阻片被击穿时,施加于备用电阻片上的第二方波电压信号的第二电压峰值、备用电阻片的第二电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于备用电阻片上的第二能量值;根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第二能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在本申请一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:对于各第一方波电压信号,若目标电阻片在第一方波电压信号未增加电压峰值的情况下被击穿,则逐步降低第一方波电压信号的电压峰值,直至目标电阻片不被击穿为止;根据目标电阻片不被击穿时,施加于目标电阻片上的第一方波电压信号的第三电压峰值、目标电阻片的第三电流值以及第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于目标电阻片上的第三能量值;根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第三能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
在本申请一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:对于各第一方波电压信号,在每次增加第一方波电压信号的电压峰值之前,确定目标电阻片是否冷却至环境温度;若目标电阻片冷却至环境温度,则增加第一方波电压信号的电压峰值。
在本申请一个实施例中,计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤:根据各第一方波电压信号的峰值持续时长以及各第一方波电压信号对应的第一能量值拟合曲线;根据曲线,确定方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM可以是多种形式,比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory,SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory,DRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种电阻片能量耐受确定方法,其特征在于,所述方法包括:
对待测试的目标电阻片施加多个第一方波电压信号,各所述第一方波电压信号的峰值持续时长不同;
在施加各所述第一方波电压信号的过程中,逐步增加各所述第一方波电压信号的电压峰值,直至所述目标电阻片被击穿为止;
对于各所述第一方波电压信号,根据所述目标电阻片被击穿时,所述第一方波电压信号的第一电压峰值、所述目标电阻片的第一电流值以及所述第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于所述目标电阻片上的第一能量值;
根据各所述第一方波电压信号的峰值持续时长以及各所述第一方波电压信号对应的第一能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系;
其中,所述对于各所述第一方波电压信号,根据所述目标电阻片被击穿时,所述第一方波电压信号的第一电压峰值、所述目标电阻片的第一电流值以及所述第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于所述目标电阻片上的第一能量值,包括:
对于各所述第一方波电压信号,根据所述第一方波电压信号对与所述目标电阻片规格相同的备用电阻片施加重复方波电压信号,所述重复方波电压信号的电压峰值与所述目标电阻片被击穿时所述第一方波电压信号的第一电压峰值相同,所述重复方波电压信号的峰值持续时长与所述第一方波电压信号的峰值持续时长相同;
对于各所述第一方波电压信号,若所述备用电阻片被击穿,则根据所述第一方波电压信号的第一电压峰值、所述目标电阻片的第一电流值以及所述第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于所述目标电阻片上的第一能量值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
对于各所述第一方波电压信号,若所述备用电阻片未被击穿,则根据所述第一方波电压信号对所述备用电阻片施加第二方波电压信号,并从所述第一方波电压信号的第一电压峰值起逐步增加所述第二方波电压信号的电压峰值,直至所述备用电阻片被击穿为止,其中,所述第二方波电压信号的峰值持续时长与所述第一方波电压信号的峰值持续时长相同;
对于各所述第一方波电压信号,根据所述备用电阻片被击穿时,施加于所述备用电阻片上的所述第二方波电压信号的第二电压峰值、所述备用电阻片的第二电流值以及所述第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于所述备用电阻片上的第二能量值;
根据各所述第一方波电压信号的峰值持续时长以及各所述第一方波电压信号对应的第二能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
对于各所述第一方波电压信号,若所述目标电阻片在所述第一方波电压信号未增加电压峰值的情况下被击穿,则逐步降低所述第一方波电压信号的电压峰值,直至所述目标电阻片不被击穿为止;
根据所述目标电阻片不被击穿时,施加于所述目标电阻片上的所述第一方波电压信号的第三电压峰值、所述目标电阻片的第三电流值以及所述第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于所述目标电阻片上的第三能量值;
根据各所述第一方波电压信号的峰值持续时长以及各所述第一方波电压信号对应的第三能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在施加各所述第一方波电压信号的过程中,逐步增加各所述第一方波电压信号的电压峰值,包括:
对于各所述第一方波电压信号,在每次增加所述第一方波电压信号的电压峰值之前,确定所述目标电阻片是否冷却至环境温度;
若所述目标电阻片冷却至环境温度,则增加所述第一方波电压信号的电压峰值。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据各所述第一方波电压信号的峰值持续时长以及各所述第一方波电压信号对应的第一能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系,包括:
所述根据各所述第一方波电压信号的峰值持续时长以及各所述第一方波电压信号对应的第一能量值拟合曲线;
根据所述曲线,确定方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据所述目标电子片的规格信息,获取与所述目标电阻片规格相同的所述备用电阻片。
7.一种电阻片能量耐受确定装置,其特征在于,所述装置包括:
施加模块,用于对待测试的目标电阻片施加多个第一方波电压信号,各所述第一方波电压信号的峰值持续时长不同;
增加模块,用于在施加各所述第一方波电压信号的过程中,逐步增加各所述第一方波电压信号的电压峰值,直至所述目标电阻片被击穿为止;
第一计算模块,用于对于各所述第一方波电压信号,根据所述目标电阻片被击穿时,所述第一方波电压信号的第一电压峰值、所述目标电阻片的第一电流值以及所述第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于所述目标电阻片上的第一能量值;
第一构建模块,用于根据各所述第一方波电压信号的峰值持续时长以及各所述第一方波电压信号对应的第一能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系;
其中,所述第一计算模块包括:
施加单元,用于对于各所述第一方波电压信号,根据所述第一方波电压信号对与所述目标电阻片规格相同的备用电阻片施加重复方波电压信号,所述重复方波电压信号的电压峰值与所述目标电阻片被击穿时所述第一方波电压信号的所述第一电压峰值相同,所述重复方波电压信号的峰值持续时长与所述第一方波电压信号的峰值持续时长相同;
第一计算单元,用于若所述备用电阻片被击穿,则根据所述第一方波电压信号的第一电压峰值、所述目标电阻片的第一电流值以及所述第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于所述目标电阻片上的第一能量值。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述第一计算模块还包括:
第一增加单元,用于对于各所述第一方波电压信号,若所述备用电阻片未被击穿,则根据所述第一方波电压信号对所述备用电阻片施加第二方波电压信号,并从所述第一方波电压信号的第一电压峰值起逐步增加所述第二方波电压信号的电压峰值,直至所述备用电阻片被击穿为止,其中,所述第二方波电压信号的峰值持续时长与所述第一方波电压信号的峰值持续时长相同;
第二计算单元,用于对于各所述第一方波电压信号,根据所述备用电阻片被击穿时,施加于所述备用电阻片上的所述第二方波电压信号的第二电压峰值、所述备用电阻片的第二电流值以及所述第一方波电压信号的峰值持续时长,计算施加于所述备用电阻片上的第二能量值;
构建单元,用于根据各所述第一方波电压信号的峰值持续时长以及各所述第一方波电压信号对应的第二能量值构建方波电压信号的峰值持续时长与可击穿电阻片的极限能量值之间的对应关系。
9.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
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CN104459417B (zh) * 2014-12-25 2018-05-29 中国西电电气股份有限公司 一种能量耐受试验装置及试验方法
CN107876433B (zh) * 2017-10-18 2019-08-06 南阳金牛电气有限公司 一种非线性金属氧化物电阻片能量耐受的筛选方法
CN110618356A (zh) * 2019-08-05 2019-12-27 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 一种直流转换开关避雷器长时间电压耐受试验装置及方法
CN111722065B (zh) * 2020-05-21 2021-08-31 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 一种直流转换开关避雷器电阻片极限能量耐受试验方法

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