CN113253001A - 一种计算导线表面电场强度的方法及装置 - Google Patents

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罗鲁东
撖奥洋
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温建春
王立强
苗骁健
王超
赵学童
郝建
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Abstract

本发明属于高电压下电场强度测量技术领域，提出了一种计算导线表面电场强度的方法及装置。首先利用空间电荷测量装置测量得到电晕笼内导线周围空间电荷密度分布，提取得到靠近导线表面的空间电荷密度大小；然后提出最大电荷密度比率方法将空间电荷密度测量值与有限元法的计算值进行对比，根据对比结果调整有限元算法中的表面电场边界条件直至最大电荷密度比率为1，即可认为此时调整后的导线表面电场强度是实际电场强度。本发明提出的导线表面电场强度的确定方法一方面有利于进一步研究空间电荷密度分布，另一方面又有助于深入分析电晕放电机理。

Description

一种计算导线表面电场强度的方法及装置
技术领域
本发明属于高电压下电场强度测量技术领域，尤其涉及一种基于气体中空间电荷密度确定导线表面电场强度的方法及装置。
背景技术
本部分的陈述仅仅是提供了与本发明相关的背景技术信息，不必然构成在先技术。
导线表面电场强度对研究电晕损失、可听噪声和无线电干扰具有重要意义。此外，在电晕放电的数值计算和仿真中，也使用表面电场强度作为边界条件。但电晕发生后，表面电场强度的变化机理较为复杂，目前广泛认为在电晕放电发生后，表面电场强度保持不变并且等于起晕电场强度。但由于假设与实际情况的不同，会导致误差的出现。
目前针对表面电场强度的研究主要集中于实验测量方面，利用探针或者磁通计对导线表面电场强度进行测量分析，但存在如下问题：(1)探针或者磁通计的引入会使原有电场发生畸变，影响表面电场的测量准确度；(2)静电磁通计使用时要求导线必须中空，这与实际情况不符。而在仿真计算方面，针对表面电场强度的研究较少且缺乏有力支撑。实验上的研究存在很大的缺陷而仿真计算方面则浅尝辄止，因此目前有关导线表面电场强度的变化规律还存在争议。
发明内容
为了解决上述背景技术中存在的技术问题，本发明提供一种计算导线表面电场强度的方法及装置，其引入空间电荷密度和电荷密度比率法分析导体表面电场强度变化规律，避免了仪器测量对原有电场分布的干扰，提高了测量精度。
为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：
本发明的第一个方面提供一种计算导线表面电场强度的方法。
一种计算导线表面电场强度的方法，包括以下步骤：
S1：采用空间电荷测量装置测量电晕笼内空间电荷产生的电场信号，根据反演算法计算得到电晕笼内导线周围空间电荷密度；
S2：对步骤S1得到的空间电荷密度进行分析，提取靠近导线位置的空间电荷密度大小；
S3：将步骤S2得到的空间电荷密度与有限元法计算结果相比较，提出最大空间电荷密度比率方法进行分析；
S4：依据步骤S3中的分析结果调整有限元法中的表面电场边界条件，直至最大电荷密度比率为1，即可认为此时调整后的导线表面电场强度是实际电场强度。
本发明的第二个方面提供一种计算导线表面电场强度的装置。
一种计算导线表面电场强度的装置，包括：
空间电荷密度计算模块，其被配置为：采用空间电荷测量装置测量电晕笼内空间电荷产生的电场信号，根据反演算法计算得到电晕笼内导线周围空间电荷密度；
空间电荷密度大小获取模块，其被配置为：对步骤S1得到的空间电荷密度进行分析，提取靠近导线位置的空间电荷密度大小；
比较模块，其被配置为：将步骤S2得到的空间电荷密度与有限元法计算结果相比较，提出最大空间电荷密度比率方法进行分析；
优化输出模块，其被配置为：依据步骤S3中的分析结果调整有限元法中的表面电场边界条件，直至最大电荷密度比率为1，即可认为此时调整后的导线表面电场强度是实际电场强度。
本发明的第三个方面提供一种计算机可读存储介质。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上述第一方面所述的计算导线表面电场强度的方法中的步骤。
本发明的第四个方面提供一种计算机设备。
一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述第一方面所述的计算导线表面电场强度的方法中的步骤。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
本发明提出了基于空间电荷密度求解导体表面电场强度的方法，利用电荷密度比率法分析表面电场强度变化，一方面避免了背景技术中存在的问题，另一方面也有利于电晕放电机理的进一步深化研究。
本发明首先引入空间电荷密度和电荷密度比率法分析导体表面电场强度变化规律，避免了仪器测量对原有电场分布的干扰，从而影响测量精度；其次采用空间电荷密度方法，可以进一步对表面电场强度进行量化分析，最后能够得到其拟合经验公式。
本发明附加方面的优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
构成本发明的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。
图1是本发明实施例一计算导线表面电场强度方法的流程图。
具体实施方式
下面结合附图与实施例对本发明作进一步说明。
应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本发明提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本发明所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。
需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本发明的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
实施例一
本实施例提供了一种计算导线表面电场强度的方法。
图1是本发明实施例一计算导线表面电场强度方法的流程图，如图1所示：
一种计算导线表面电场强度的方法，包括以下步骤：
S1：采用空间电荷测量装置测量电晕笼内空间电荷产生的电场信号，根据反演算法计算得到电晕笼内导线周围空间电荷密度；
其中S1包括：声发射装置发射的声波进入空间电荷测量装置内，空间电荷在声波振动下产生变化的电场信号。
其中，根据反演算法计算得到电晕笼内导线周围空间电荷密度的过程如下：
S11：基于大气压强和声波约束条件，并考虑定容定压比热、衰减系数以及波系数，得到空间密度随声压变化的关系式；其中，声波约束条件包括：声压的幅值、声波的角频率以及声波的传播距离。
空间电荷在声波振动下会产生变化的电场信号，通过反演算法分析此电场信号可以得到空间电荷密度，具体如下：
空间电荷密度随声压变化可以表示为：
Figure BDA0003007839910000051
式中：P0是大气压强，取1.013×105Pa；ρ0是稳态下的电荷密度；A是声压的幅值；γ是定容定压比热，取1.402J/(kg·K)；ω是声波的角频率；K是波系数，K＝ω/c，c是声速；x是声波的传播距离。在声波作用下空间电荷会发生振动从而产生电场信号。
S12：基于场源关系式，得到空间电荷测量装置内，电场强度的关系式；
通过空间电荷测量装置得到空间电荷振动产生的电场信号，利用电场与电荷间物理关系(场源关系式)如下：
Figure BDA0003007839910000052
式中：E表示电场强度，q表示源点处电荷量，R表示场点与源点之间距离，eR表示源点到场点的向量。
S13：基于空间密度随声压变化的关系式和电场强度的关系式，并考虑中间系数，得到空间电荷的密度分布。
根据场源关系式可以利用电场信号反演得到空间电荷密度，如下：
Figure BDA0003007839910000061
式中：k为中间系数。由式(3)可知，电场的变化趋势表现为电荷密度的变化，因此将公式(1)和公式(2)带入公式(3)对方程组进行求解，可以得到空间电荷的分布。
S2：对步骤S1得到的空间电荷密度进行分析，提取靠近导线位置的空间电荷密度大小；
S3：将步骤S2得到的空间电荷密度与有限元法计算结果相比较，提出最大空间电荷密度比率方法进行分析；
得到电晕笼内径向空间电荷密度分布后，提取靠近导线位置的最大空间电荷密度并与有限元法的空间电荷密度计算结果进行对比，提出最大电荷密度比率法进行分析，如下：
Figure BDA0003007839910000062
式中，n代表最大电荷密度比率，ρs-max代表有限元计算的最大电荷密度值，ρe-max代表实验测量的最大电荷密度值。实验测量中采用的最大空间电荷密度是指导线表面处的空间电荷密度，最大电荷密度比率表明了计算结果与实测结果的差异。最大电荷密度比率n接近1，说明实验结果与计算结果间偏差较小。
其中S3包括：提取靠近导线位置的最大空间电荷密度并与有限元法的空间电荷密度计算结果进行对比，提出最大电荷密度比率法进行分析。所述提取靠近导线位置的最大空间电荷密度指的是，采用实验测量的方式提取导线表面处的最大空间电荷密度。
S4：依据步骤S3中的分析结果调整有限元法中的表面电场边界条件，直至最大电荷密度比率为1，即可认为此时调整后的导线表面电场强度是实际电场强度。
其中S4包括：若空间电荷测量结果与空间电荷的有限元法计算结果比率不为1，则对有限元算法中的表面电场强度边界条件进行调整使其小于起晕电场值，然后再进行计算并与空间电荷测量结果对比，直至二者比率为1。此时认为调整过后的表面电场强度等于实际表面电场强度，从而达到确定导线表面电场强度的目的。
本发明首先引入空间电荷密度和电荷密度比率法分析导体表面电场强度变化规律，避免了仪器测量对原有电场分布的干扰，从而影响测量精度；其次采用空间电荷密度方法，可以进一步对表面电场强度进行量化分析，最后能够得到其拟合经验公式。
实施例二
本实施例提供了一种计算导线表面电场强度的装置。
一种计算导线表面电场强度的装置，包括：
空间电荷密度计算模块，其被配置为：采用空间电荷测量装置测量电晕笼内空间电荷产生的电场信号，根据反演算法计算得到电晕笼内导线周围空间电荷密度；
空间电荷密度大小获取模块，其被配置为：对步骤S1得到的空间电荷密度进行分析，提取靠近导线位置的空间电荷密度大小；
比较模块，其被配置为：将步骤S2得到的空间电荷密度与有限元法计算结果相比较，提出最大空间电荷密度比率方法进行分析；
优化输出模块，其被配置为：依据步骤S3中的分析结果调整有限元法中的表面电场边界条件，直至最大电荷密度比率为1，即可认为此时调整后的导线表面电场强度是实际电场强度。
此处需要说明的是，上述空间电荷密度计算模块、空间电荷密度大小获取模块、比较模块和优化输出模块对应于实施例一中的步骤S1至S4，上述模块与对应的步骤所实现的示例和应用场景相同，但不限于上述实施例一所公开的内容。
实施例三
本实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上述实施例一所述的计算导线表面电场强度的方法中的步骤。
实施例四
本实施例提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如上述实施例一所述的计算导线表面电场强度的方法中的步骤。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用硬件实施例、软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)等。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种计算导线表面电场强度的方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：采用空间电荷测量装置测量电晕笼内空间电荷产生的电场信号，根据反演算法计算得到电晕笼内导线周围空间电荷密度；
S2：对步骤S1得到的空间电荷密度进行分析，提取靠近导线位置的空间电荷密度大小；
S3：将步骤S2得到的空间电荷密度与有限元法计算结果相比较，提出最大空间电荷密度比率方法进行分析；
S4：依据步骤S3中的分析结果调整有限元法中的表面电场边界条件，直至最大电荷密度比率为1，即可认为此时调整后的导线表面电场强度是实际电场强度。
2.根据权利要求1所述的计算导线表面电场强度的方法，其特征在于，所述S1包括：声发射装置发射的声波进入空间电荷测量装置内，空间电荷在声波振动下产生变化的电场信号。
3.根据权利要求1所述的计算导线表面电场强度的方法，其特征在于，所述根据反演算法计算得到电晕笼内导线周围空间电荷密度的过程如下：
S11：基于大气压强和声波约束条件，并考虑定容定压比热、衰减系数以及波系数，得到空间密度随声压变化的关系式；
S12：基于场源关系式，得到空间电荷测量装置内，电场强度的关系式；
S13：基于空间密度随声压变化的关系式和电场强度的关系式，并考虑中间系数，得到空间电荷的密度分布。
4.根据权利要求1所述的计算导线表面电场强度的方法，其特征在于，所述声波约束条件包括：声压的幅值、声波的角频率以及声波的传播距离。
5.根据权利要求1所述的计算导线表面电场强度的方法，其特征在于，所述S3包括：提取靠近导线位置的最大空间电荷密度并与有限元法的空间电荷密度计算结果进行对比，提出最大电荷密度比率法进行分析。
6.根据权利要求5所述的计算导线表面电场强度的方法，其特征在于，所述提取靠近导线位置的最大空间电荷密度指的是，采用实验测量的方式提取导线表面处的最大空间电荷密度。
7.根据权利要求1所述的计算导线表面电场强度的方法，其特征在于，所述S4包括：若空间电荷测量结果与空间电荷的有限元法计算结果比率不为1，则对有限元算法中的表面电场强度边界条件进行调整使其小于起晕电场值，然后再进行计算并与空间电荷测量结果对比，直至二者比率为1。
8.一种计算导线表面电场强度的装置，其特征在于，包括：
空间电荷密度计算模块，其被配置为：采用空间电荷测量装置测量电晕笼内空间电荷产生的电场信号，根据反演算法计算得到电晕笼内导线周围空间电荷密度；
空间电荷密度大小获取模块，其被配置为：对步骤S1得到的空间电荷密度进行分析，提取靠近导线位置的空间电荷密度大小；
比较模块，其被配置为：将步骤S2得到的空间电荷密度与有限元法计算结果相比较，提出最大空间电荷密度比率方法进行分析；
优化输出模块，其被配置为：依据步骤S3中的分析结果调整有限元法中的表面电场边界条件，直至最大电荷密度比率为1，即可认为此时调整后的导线表面电场强度是实际电场强度。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的计算导线表面电场强度的方法中的步骤。
10.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-7中任一项所述的计算导线表面电场强度的方法中的步骤。
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