CN113220091A - 超算设备、算力板的在位检测方法及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种超算设备、算力板的在位检测方法及存储介质，该方法包括：至少一个算力板，所述算力板包括第一类型信号针和第二类型信号针，第一类型信号针和第二类型信号针的长度不同；算力板接口，算力板插接在算力板接口中；电平检测电路，电平检测电路与算力板接口电性连接；主控电路，主控电路与电平检测电路连接；其中，电平检测电路用于检测第一类型信号针对应的第一电平信号和第二类型信号针对应的第二电平信号，主控电路根据第一电平信号和第二电平信号确定算力板的在位信息。本申请旨在准确地检测算力板的在位信息。

Description

超算设备、算力板的在位检测方法及存储介质

技术领域

本申请涉及计算机设备的技术领域，尤其涉及一种超算设备、算力板的在位检测方法及存储介质。

背景技术

随着网络的大规模应用，服务器技术的快速发展，加密货币的市场需求也呈指数增长。为了高效获取加密货币，需要运用专用硬件，例如矿机，矿机通常支持热插拔功能。矿机的核心元件是算力板，也称为哈希板，其包含电路和集成电路芯片，并执行哈希函数的计算。

算力板可通过热插拔的方式实现与矿机的连接，当矿机检测到算力板插入时，检测信号的逻辑电平由高变低时，判定算力板在位；当矿机检测到算力板拔出，检测信号的逻辑电平由低变高时，判定算力板不在位。然而，当算力板插入时的插接不到位，出现虚插现象时，容易误判算力板的在位信息，产生安全隐患。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种超算设备、算力板的在位检测方法及存储介质，旨在准确地检测算力板的在位信息，避免严重故障发生。

第一方面，本申请提供一种超算设备，所述超算设备包括；

至少一个算力板，所述算力板包括第一类型信号针和第二类型信号针，第一类型信号针和第二类型信号针的长度不同；

算力板接口，所述算力板插接在所述算力板接口中；

电平检测电路，所述电平检测电路与所述算力板接口电性连接；

主控电路，所述主控电路与所述电平检测电路连接；

其中，所述电平检测电路用于检测所述第一类型信号针对应的第一电平信号和所述第二类型信号针对应的第二电平信号，所述主控电路根据所述第一电平信号和第二电平信号确定所述算力板的在位信息。

第二方面，本申请还提供一种算力板的在位检测方法，应用于如前所述的超算设备，所述方法包括：

检测所述第一类型信号针对应的第一电平信号和所述第二类型信号针对应的第二电平信号；

根据所述第一电平信号和第二电平信号确定所述算力板的在位信息，所述在位信息包括在位状态、虚插状态和未在位状态。

第三方面，本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其中所述计算机程序被处理器执行时，实现如上所述的在位检测方法的步骤。

本申请提供一种超算设备、算力板的在位检测方法及存储介质，本申请在算力板插接于算力板接口中时，通过电平检测电路检测第一类型信号针对应的第一电平信号和第二类型信号针对应的第二电平信号，并通过主控电路根据第一电平信号和第二电平信号确定算力板的在位信息。第一类型信号针和第二类型信号针的长度不同，能够更加准确地检测算力板的在位信息，尤其是准确地检测算力板是否处于虚插状态，可靠性强，避免由于算力板虚插而导致严重故障发生。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的超算设备一实施方式的电路示意图；

图2为本申请实施例提供的算力板处于虚插状态的电路示意图；

图3为本申请实施例提供的算力板处于在位状态的电路示意图；

图4为本申请实施例提供的超算设备又一实施方式的电路示意图；

图5为本申请实施例提供的超算设备又一实施方式的电路示意图；

图6为本申请实施例提供的超算设备又一实施方式的电路示意图；

图7为本申请实施例提供的超算设备又一实施方式的电路示意图；

图8为本申请实施例提供的一种算力板的在位检测方法的流程示意图；

图9为本申请实施例提供的算力板和算力板接口的结构示意图。

本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

附图中所示的流程图仅是示例说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解、组合或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。

如图1所示为超算设备一实施方式的电路示意图。

如图1所示，超算设备包括至少一个算力板110、算力板接口120、电平检测电路130、主控电路140。

其中，算力板110包括第一类型信号针111和第二类型信号针112，第一类型信号针111和第二类型信号针112的长度不同。

示例性地，第一类型信号针111的长度小于第二类型信号针112的长度。第一类型信号针111为用于实现在位检测的在位信号针，第二类型信号针112为能够实现电平检测和数据信息传递的复用信号针，算力板110还包括用于实现除在位检测外的其他预定功能的普通信号针，在位信号针的长度短于普通信号针，普通信号针的长度相同，普通信号针包括第二类型信号针112。通过长度较长的复用信号针以及长度较短的在位信号针，能够更加准确地检测算力板110插入或者拔出时的在位信息。

其中，算力板110可插接在算力板接口120中，从而实现算力板110与超算设备之间的连接，算力板110可以是一个或者多个，用于执行哈希函数的计算。

在一些实施方式中，电平检测电路130与算力板接口120电性连接，主控电路140与电平检测电路130连接。电平检测电路130用于检测第一类型信号针111对应的第一电平信号和第二类型信号针112对应的第二电平信号。主控电路140根据第一电平信号和第二电平信号确定算力板110的在位信息，该在位信息包括在位状态、虚插状态和未在位状态。

如图1至图3所示，第一类型信号针111的长度小于第二类型信号针112的长度。如图1所示，算力板110处于未在位状态，未在位状态为第二类型信号针112未到达算力板接口110的第一预设位置S1，且第一类型信号针111未到达所述第一预设位置S1的状态。

如图2所示，算力板110处于虚插状态，该虚插状态为第二类型信号针112位于算力板接口120的第一预设位置S1和第二预设位置S2之间，且第一类型信号针111未到达第一预设位置S1的状态。

需要说明的是，当前的超算设备通过在位信号针(第一类型信号针111)检测算力板110的在位信息，然而，这种检测方式仅能确定算力板110的在位信息为在位状态或者未在位状态，即当第一类型信号针111未到达第一预设位置S1时确定算力板110的在位信息为未在位状态，当第一类型信号针111到达第一预设位置S1和第二预设位置S2之间时确定算力板110的在位信息为在位状态。当算力板110插入时的插接不到位，出现虚插现象时，容易误判算力板110的在位信息，产生安全隐患。

基于此，本实施例通过第一类型信号针111对应的第一电平信号和第二类型信号针112对应的第二电平信号确定算力板110的在位信息，其能准确地检测算力板的在位信息，可靠性高，保障用电安全。

如图3所示，算力板110处于在位状态，该在位状态为第二类型信号针112到达或者超过算力板接口120的第二预设位置S2，且所述第一类型信号针111到达或者超过第一预设位置S1的状态。

示例性的，第一类型信号针111包括热插拔信号针，例如hotswap信号针；所述第二类型信号针112包括复用信息针，所述复用信息针用于同步实现电平信号检测和数据信息传输。复用信息针例如为abs信息针，abs信息针能够同步实现电平信号的传输和abs函数信号的传输。

如图1至图3所示，电平检测电路130用于检测第一类型信号针111对应的第一电平信号和第二类型信号针112对应的第二电平信号。电平检测电路130连接于主控电路140，将检测得到的第一类型信号针111对应的第一电平信号和第二类型信号针112对应的第二电平信号传输至主控电路140。主控电路140根据第一电平信号和第二电平信号确定算力板110的在位信息，该在位信息包括在位状态、虚插状态和未在位状态。

示例性的，若第一电平信号和第二电平信号均为第一预设信号，则确定算力板110的在位信息为不在位状态；若第一电平信号为第二预设信号，且第二电平信号为第一预设信号，则确定算力板110的在位信息为虚插状态；若第一电平信号和第二电平信号均为第二预设信号，则确定算力板110的在位信息为在位状态。通过第一类型信号针111对应的第一电平信号和第二类型信号针112对应的第二电平信号确定算力板110的在位信息，其能准确地检测算力板的在位信息，可靠性高，避免严重故障发生。

其中，第一预设信号为高电平信号，第二预设信号为低电平信号；或者，第一预设信号为低电平信号，第二预设信号为高电平信号。本实施例对此不做具体限定。

在一些实施方式中，如图4所示，算力板110还包括电源针113和接地针114，电源针113的长度小于接地针114的长度，从而保证算力板110插接与算力板接口120中时，接地针114先于电源针113触电，避免算力板110短路，保证用电安全。

如图4所示，电平检测电路130包括第一电平检测单元131和第二电平检测单元132，第一电平检测单元131用于检测第一类型信号针111对应的第一电平信号，第二电平检测单元132用于检测第二类型信号针112对应的第二电平信号。通过第一电平检测单元131和第二电平检测单元132分别检测第一类型信号针111对应的第一电平信号和第二类型信号针112对应的第二电平信号，从而便于第一电平检测单元131将第一类型信号针111对应的第一电平信号传输至主控电路140，以及便于第二电平检测单元132将第二类型信号针112对应的第二电平信号传输至主控电路140。

如图4和图5所示，第一电平检测单元131设置在超算设备本体上，连接于算力板接口120与主控电路140之间，第二电平检测单元132设置在超算设备本体上或者算力板111上。

其中，第一电平检测单元131一端连接于第一类型信号针111对应的第一算力板接口，另一端连接于主控电路140；当第二电平检测单元132设置在超算设备本体上，第二电平检测单元132一端连接于第二类型信号针112对应的第二算力板接口，另一端连接于主控电路140。

可以理解的是，当第二电平检测单元132设置在算力板111上，第二类型信号针112为复用信息针，所述复用信息针用于同步实现电平信号检测和数据信息传输。第二电平检测单元132连接于第二类型信号针112，因此可通过第二类型信号针112传输第二类型信号针112对应的第二电平信号，实现复用信息针的数据信息传输功能，并通过第二类型信号针112对应的第二算力板接口将第二电平信号输出至主控电路140。通过复用信息针传输第二电平信号，无需增加成本设立两个在位信号针进行算力板110的在位检测，在降低成本的同时保证算力板110的在位信息的检测准确性。

需要说明的是，也可通过其他的能够实现数据信息传输的普通信息针来传输第二电平检测单元132检测的第二类型信号针112对应的第二电平信号，本实施例不做具体限定。

在另一实施方式中，如图6所示，第一电平检测单元131设置在算力板上，第二电平检测单元132设置在超算设备本体上。第一电平检测单元131一端连接于第一类型信号针111，另一端连接于算力板110，以便通过包括第二类型信号针112在内的能够实现数据信息传输的普通信息针来传输第一电平检测单元132检测的第一类型信号针111对应的第一电平信号；第二电平检测单元132一端连接于第二类型信号针112对应的第二算力板接口，另一端连接于主控电路140。由于第二类型信号针112为复用信息针，能够同步实现电平信号检测和数据信息传输，在不增加成本的同时能更加准确地检测算力板的在位信息。

在另一实施方式中，第一电平检测单元131包括第一电阻，所述第一电阻连接预设电压，该预设电压可灵活设置，例如预设电压为3.3V，第一电阻另一侧连接算力板接口120和主控电路140，并作为第一电平信号的检测点。当第一类型信号针111插接于对应的第一算力板接口时，通往算力板110的线路导通，第一类型信号针111对应的第一电平信号为低电平信号；当第一类型信号针111未插接于对应的第一算力板接口时，通往算力板110的线路断开，第一类型信号针111对应的第一电平信号为高电平信号。

在另一实施方式中，第一电平检测单元131包括第一电阻R10，第一电阻R10接地，算力板110的第一类型信号针111连接电源。当第一类型信号针111插接于对应的第一算力板接口时，通往算力板110的线路导通，第一类型信号针111对应的第一电平信号为高电平信号；当第一类型信号针111未插接于对应的第一算力板接口时，通往算力板110的线路断开，第一类型信号针111对应的第一电平信号为低电平信号。

在另一实施方式中，第二电平检测单元132包括场效应管和第二电阻，场效应管的栅极用于接收控制信号，控制信号用于控制场效应管导通或断开，场效应管的漏极通过该第二电阻连接预设电压，该预设电压可灵活设置，场效应管的漏极作为第二电平信号的检测点，场效应管的源极接地。场效应管的栅极可以连接在第二类型信号针112对应的第二算力板接口，场效应管的漏极还与主控电路140连接，以便主控电路140通过该第二电平检测单元132检测算力板110的在位信息。

具体地，为了提高电路的安全性，场效应管的栅极通过第四电阻与第二类型信号针112对应的第二算力板接口连接，且通过第三电阻与场效应管的源极连接。控制信号包括第一控制信号和第二控制信号，第一控制信号例如为高电平信号，用于控制场效应管导通；第二控制信号例如为低电平信号，用于控制场效应管断开。

因此，当第二类型信号针112与对应的第二算力板接口之间的电通道导通时，控制信号控制场效应管导通，主控电路140检测到场效应管的漏极为低电平信号；当第二类型信号针112与对应的第二算力板接口之间的电通道未导通时，控制信号控制场效应管断开，场效应管的漏极为高电平信号。

在另一实施方式中，场效应管的漏极通过该第二电阻接地，算力板110的第二类型信号针112连接电源。第一控制信号为低电平信号，用于控制场效应管导通，当第二类型信号针112与对应的第二算力板接口之间的电通道未导通时，低电平信号控制场效应管导通，场效应管的漏极为低电平信号；第二控制信号例如为高电平信号，用于控制场效应管断开，当第二类型信号针112与对应的第二算力板接口之间的电通道导通时，高电平信号控制场效应管断开，场效应管的漏极为高电平信号。

如图7所示，算力板接口120包括第一弹片121和第二弹片122，第一弹片121用于与第一类型信号针111连接，第二弹片122用于与第二类型信号针112连接。便于通过第一弹片121检测第一类型信号针111的第一电平信号，并通过第二弹片122检测第二类型信号针112的第二电平信号。

其中，在第一弹片121未与第一类型信号针111相接时，电平检测电路130检测第一类型信号针111对应的第一电平信号为第一预设信号；在第一弹片121与第一类型信号针111相接时，电平检测电路130检测第一类型信号针111对应的第一电平信号为第二预设信号。

其中，在第二弹片122未与第二类型信号针112相接时，电平检测电路130检测第二类型信号针112对应的第二电平信号为第一预设信号；在第二弹片122与第二类型信号针112相接时，电平检测电路130检测第二类型信号针112对应的第二电平信号为第二预设信号。

上述的第一预设信号为高电平信号，第二预设信号为低电平信号；或者，上述的第一预设信号为低电平信号，第二预设信号为高电平信号，本实施例对此不做具体限定。若第一电平信号为第二预设信号，且第二电平信号为第一预设信号，则确定算力板110的在位信息为虚插状态，检测可靠性更高。

在一些实施方式中，第一弹片121的长度大于第二弹片122的长度，以使算力板110插接在算力板接口120中时，第一弹片121与第一类型信号针111相接，且第二弹片122与第二类型信号针112相接，从而避免算力板110出现虚插状态，保证用电安全。

在一些实施方式中，超算设备还包括连接于主控电路140的输出装置，输出装置用于输出该算力板110的在位信息。

可选的，输出装置包括指示灯、显示屏、蜂鸣器等中的至少一种。

示例性的，如图2所示，第二类型信号针112位于算力板接口120的第一预设位置S1和第二预设位置S2之间，且第一类型信号针111未到达第一预设位置S1时，电平检测电路130检测第一类型信号针111对应的第一电平信号为第二预设信号，且第二类型信号针112对应的第二电平信号为第一预设信号，主控电路140判定算力板110的在位信息为虚插状态，可以触发输出装置发出算力板110处于虚插状态的提示；例如触发指示灯闪烁、显示屏输出图像提示和/或蜂鸣器发出警告声等提示。

本说明书实施例提供的超算设备，在算力板插接于算力板接口中时，通过电平检测电路检测第一类型信号针对应的第一电平信号和第二类型信号针对应的第二电平信号，并通过主控电路根据第一电平信号和第二电平信号确定算力板的在位信息，在位信息包括在位状态、虚插状态和未在位状态。第一类型信号针和第二类型信号针的长度不同，能够更加准确地检测算力板的在位信息，尤其是检测算力板是否处于虚插状态，可靠性强，避免由于算力板虚插而导致严重故障发生。

本申请实施例还提供一种算力板的在位检测方法。其中，该在位检测方法可应用于超算设备等计算机设备。下面结合附图，对本申请的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

请参照图8，图8为本申请实施例提供的一种算力板的在位检测方法的流程示意图。

如图8所示，该在位检测方法包括步骤S101至步骤S102。

步骤S101、检测所述第一类型信号针对应的第一电平信号和所述第二类型信号针对应的第二电平信号。

其中，超算设备包括至少一个算力板，算力板包括第一类型信号针和第二类型信号针，第一类型信号针和第二类型信号针的长度不同。例如，第一类型信号针的长度小于第二类型信号针的长度。第一类型信号针为用于实现在位检测的在位信号针，第二类型信号针为能够实现电平检测和数据信息传递的复用信号针。

其中，第一类型信号针包括热插拔信号针，例如hotswap信号针；第二类型信号针包括复用信息针，复用信息针用于同步实现电平信号检测和数据信息传输。复用信息针例如为abs信息针，abs信息针能够同步实现电平信号的传输和abs函数信号的传输。

在一些实施例中，算力板包括用于实现在位检测的在位信号针和用于实现除在位检测外的其他预定功能的普通信号针，在位信号针的长度短于普通信号针，普通信号针包括能够实现电平检测的复用信号针。

示例性的，如图9所示，算力板9包括一个在位信号针101(第一类型信号针)和多个普通信号针102，多个普通信号针102中包括复用信号针103(第二类型信号针)，在位信号针101用于算力板的在位检测，普通信号针102用于实现除在位检测外的其他预定功能，复用信号针103能够实现电平检测以及除在位检测外的其他预定功能，例如数据信息传递功能。在位信号针101的长度短于多个普通信号针102，自然也短于复用信号针103。通过长度较长的复用信号针以及长度较短的在位信号针，能够更加准确地检测算力板插入或者拔出时的在位信息。

在一实施例中，超算设备还包括算力板接口，算力板接口包括第一弹片和第二弹片，第一弹片用于与第一类型信号针相连接，并通过第一弹片检测第一类型信号针的第一电平信号；第二弹片用于与第二类型信号针相连接，并通过第二弹片检测第二类型信号针的第二电平信号。

示例性的，如图9所示，算力板接口20包括第一弹片201和第二弹片202，第一弹片201用于与第一类型信号针101相连接，第二弹片202用于与第二类型信号针103相连接，便于准确获取第一电平信号以及第二电平信号。

在一实施例中，通过第一弹片检测第一类型信号针的第一电平信号，包括：若第一弹片未与第一类型信号针相接，则检测第一类型信号针的第一电平信号为第一预设信号；若第一弹片与第一类型信号针相接，则检测第一类型信号针的第一电平信号为第二预设信号。有利于准确地确定第一类型信号针的第一电平信号。

在一实施例中，通过第二弹片检测第二类型信号针的第二电平信号，包括：若第二弹片未与第二类型信号针相接，则检测第二类型信号针的第二电平信号为第一预设信号；若第二弹片与第二类型信号针相接，则检测第二类型信号针的第二电平信号为第二预设信号。有利于准确地确定第二类型信号针的第二电平信号。

其中，第一预设信号为高电平信号，第二预设信号为低电平信号；或者，第一预设信号为低电平信号，第二预设信号为高电平信号。本实施例对此不做具体限定。

在一实施例中，第二弹片的长度长于第一弹片，以使算力板通过算力板接口连接超算设备本体时，第一弹片与第一类型信号针相接，第二类型信号针与第二弹片相接，检测第二类型信号针的第二电平信号为第二预设信号，从而避免算力板出现虚插状态，保证用电安全。

步骤S102、根据所述第一电平信号和第二电平信号确定所述算力板的在位信息。

其中，在位信息包括在位状态、虚插状态和未在位状态。

具体地，若第一电平信号和第二电平信号均为第一预设信号，则确定算力板的在位信息为未在位状态；若第一电平信号为第二预设信号，且第二电平信号为第一预设信号，则确定算力板的在位信息为虚插状态；若第一电平信号和第二电平信号均为第二预设信号，则确定算力板的在位信息为在位状态。

示例性地，第一预设信号为高电平信号，第二预设信号为低电平信号；或者，第一预设信号为低电平信号，第二预设信号为高电平信号。本实施例对此不做具体限定。

在一实施例中，第一类型信号针的长度小于第二类型信号针的长度，未在位状态为第二类型信号针未到达算力板接口的第一预设位置，且第一类型信号针未到达所述第一预设位置的状态；虚插状态为第二类型信号针112位于算力板接口的第一预设位置和第二预设位置之间，且第一类型信号针未到达第一预设位置的状态；在位状态为第二类型信号针到达或者超过算力板接口的第二预设位置，且所述第一类型信号针到达或者超过第一预设位置的状态。

需要说明的是，本实施例通过第一类型信号针对应的第一电平信号和第二类型信号针对应的第二电平信号确定算力板的在位信息，其能准确地检测算力板的在位信息，可靠性高，保障用电安全。

在一实施例中，根据第一电平信号和第二电平信号，确定算力板的在位状态之后，还包括：若算力板的在位状态为虚插，则输出算力板虚插的提示信息。例如，超算设备检测第一类型信号针对应的第一电平信号为第二预设信号，且第二类型信号针对应的第二电平信号为第一预设信号，则判定算力板的在位信息为虚插状态，可以触发输出装置发出算力板处于虚插状态的提示。例如触发指示灯闪烁、显示屏输出图像提示和/或蜂鸣器发出警告声等提示，避免由于算力板虚插而导致严重故障发生。

上述实施例提供的在位检测方法，通过检测第一类型信号针的第一电平信号，并检测第二类型信号针的第二电平信号，结合第一电平信号和第二电平信号的电平状态，确定算力板的在位信息，在位信息包括在位状态、虚插状态和未在位状态，能够更加准确地检测算力板的在位信息，尤其是检测算力板是否处于虚插状态，避免由于算力板插入时的插接不到位，出现虚插现象而导致严重故障发生。

本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序中包括程序指令，所述程序指令被执行时所实现的方法可参照本申请算力板的在位检测方法的各个实施例。

其中，所述计算机可读存储介质可以是前述实施例所述的超算设备的内部存储单元，例如所述超算设备的硬盘或内存。所述计算机可读存储介质也可以是所述超算设备的外部存储设备，例如所述超算设备上配备的插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card，SMC)，安全数字(Secure Digital，SD)卡，闪存卡(Flash Card)等。

应当理解，在此本申请说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本申请。如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。

还应当理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。

上述本申请实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种超算设备，其特征在于，所述超算设备包括：

至少一个算力板，所述算力板包括第一类型信号针和第二类型信号针，第一类型信号针和第二类型信号针的长度不同；

算力板接口，所述算力板插接在所述算力板接口中；

电平检测电路，所述电平检测电路与所述算力板接口电性连接；

主控电路，所述主控电路与所述电平检测电路连接；

其中，所述电平检测电路用于检测所述第一类型信号针对应的第一电平信号和所述第二类型信号针对应的第二电平信号，所述主控电路根据所述第一电平信号和第二电平信号确定所述算力板的在位信息。

2.如权利要求1所述的超算设备，其特征在于，所述第一类型信号针的长度小于所述第二类型信号针的长度，所述在位信息包括在位状态、虚插状态和未在位状态；

所述虚插状态为所述第二类型信号针位于所述算力板接口的第一预设位置和第二预设位置之间，且所述第一类型信号针未到达所述第一预设位置的状态；

所述在位状态为所述第二类型信号针到达所述算力板接口的第二预设位置，且所述第一类型信号针到达所述第一预设位置的状态；

所述未在位状态为所述第二类型信号针未到达所述算力板接口的第一预设位置，且所述第一类型信号针未到达所述第一预设位置的状态。

3.如权利要求2所述的超算设备，其特征在于，所述第一类型信号针包括热插拔信号针，所述第二类型信号针包括复用信息针，所述复用信息针用于同步实现电平信号检测和数据信息传输。

4.如权利要求1所述的超算设备，其特征在于，所述电平检测电路包括第一电平检测单元和第二电平检测单元，所述第一电平检测单元用于检测所述第一类型信号针对应的第一电平信号，所述第二电平检测单元用于检测所述第二类型信号针对应的第二电平信号。

5.如权利要求4所述的超算设备，其特征在于，所述第一电平检测单元设置在超算设备本体上，所述第二电平检测单元设置在所述超算设备本体上或者所述算力板上；或者，所述第一电平检测单元设置在所述算力板上，所述第二电平检测单元设置在所述超算设备本体上。

6.如权利要求4所述的超算设备，其特征在于，所述第一电平检测单元包括第一电阻，所述第一电阻连接预设电压或者接地。

7.如权利要求4所述的超算设备，其特征在于，所述第二电平检测单元包括场效应管和第二电阻，所述场效应管的栅极用于接收控制信号，所述控制信号用于控制所述场效应管导通或断开，所述场效应管的漏极通过所述第二电阻连接预设电压，所述场效应管的漏极作为所述第二电平信号的检测点，所述场效应管的源极接地。

8.一种算力板的在位检测方法，其特征在于，应用于权利要求1-7任一项所述的超算设备，所述方法包括：

检测所述第一类型信号针对应的第一电平信号和所述第二类型信号针对应的第二电平信号；

根据所述第一电平信号和第二电平信号确定所述算力板的在位信息，所述在位信息包括在位状态、虚插状态和未在位状态。

9.如权利要求8所述的在位检测方法，其特征在于，所述根据所述第一电平信号和第二电平信号确定所述算力板的在位状态，包括：

若所述第一电平信号和所述第二电平信号均为第一预设信号，则确定所述算力板的在位信息为未在位状态；

若所述第一电平信号为第二预设信号，且所述第二电平信号为第一预设信号，则确定所述算力板的在位信息为虚插状态；

若所述第一电平信号和所述第二电平信号均为第二预设信号，则确定所述算力板的在位信息为在位状态。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其中所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求8或9所述的在位检测方法的步骤。

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