CN215006498U - 超算设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种超算设备，超算设备包括：至少一个算力板，所述算力板包括第一类型信号针和第二类型信号针，第一类型信号针和第二类型信号针的长度不同；算力板接口，算力板插接在算力板接口中；电平检测电路，电平检测电路与算力板接口电性连接；主控电路，主控电路与电平检测电路连接；其中，电平检测电路用于检测第一类型信号针对应的第一电平信号和第二类型信号针对应的第二电平信号，主控电路根据第一电平信号和第二电平信号确定算力板的在位信息。通过长度不同的第一类型信号针和第二类型信号针准确地检测算力板的在位信息。

Description

超算设备

技术领域

本实用新型涉及计算机设备技术，尤其涉及一种超算设备。

背景技术

当前，随着加密货币的市场需求越来越多，通过矿机获取加密货币也越来越常见。矿机的核心元件是算力板，也称为哈希板，其包含电路和集成电路芯片，并执行哈希函数的计算。算力板可通过热插拔的方式实现与矿机的连接，当矿机检测到算力板插入时，检测信号的逻辑电平由高变低时，判定算力板在位；当矿机检测到算力板拔出，检测信号的逻辑电平由低变高时，判定算力板不在位。然而，当算力板插入时的插接不到位，出现虚插现象时，容易误判算力板的在位信息，产生安全隐患。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种超算设备，其能准确地检测算力板的在位信息，避免严重故障发生。

本实用新型的第一方面提供了一种超算设备，包括：

至少一个算力板，所述算力板包括第一类型信号针和第二类型信号针，第一类型信号针和第二类型信号针的长度不同；

算力板接口，所述算力板插接在所述算力板接口中；

电平检测电路，所述电平检测电路与所述算力板接口电性连接；

主控电路，所述主控电路与所述电平检测电路连接；

其中，所述电平检测电路用于检测所述第一类型信号针对应的第一电平信号和所述第二类型信号针对应的第二电平信号，所述主控电路根据所述第一电平信号和第二电平信号确定所述算力板的在位信息，所述在位信息包括在位状态、虚插状态和未在位状态。

相比现有技术，本实用新型实施例的有益效果在于：在算力板插接于算力板接口中时，通过电平检测电路检测第一类型信号针对应的第一电平信号和第二类型信号针对应的第二电平信号，并通过主控电路根据第一电平信号和第二电平信号确定算力板的在位信息。第一类型信号针和第二类型信号针的长度不同，能够更加准确地检测算力板的在位信息，尤其是准确地检测算力板是否处于虚插状态，可靠性强，避免由于算力板虚插而导致严重故障发生。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的超算设备一实施方式的电路示意图；

图2为本实用新型实施例提供的算力板处于虚插状态的电路示意图；

图3为本实用新型实施例提供的算力板处于在位状态的电路示意图；

图4为本实用新型实施例提供的超算设备又一实施方式的电路示意图；

图5为本实用新型实施例提供的超算设备又一实施方式的电路示意图；

图6为本实用新型实施例提供的超算设备又一实施方式的电路示意图；

图7为本实用新型实施例提供的超算设备又一实施方式的电路示意图；

图8为本申请实施例提供的算力板和算力板接口的结构示意图。

具体实施方式

下面，结合附图以及具体实施方式，对本实用新型做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。

如图1所示为超算设备一实施方式的电路示意图。

如图1所示，超算设备包括至少一个算力板110、算力板接口120、电平检测电路130、主控电路140。

其中，算力板110包括第一类型信号针111和第二类型信号针112，第一类型信号针111和第二类型信号针112的长度不同。

示例性地，第一类型信号针111的长度小于第二类型信号针112的长度。第一类型信号针111为用于实现在位检测的在位信号针，第二类型信号针112为能够实现电平检测和数据信息传递的复用信号针，算力板110还包括用于实现除在位检测外的其他预定功能的普通信号针，在位信号针的长度短于普通信号针，普通信号针的长度相同，普通信号针包括第二类型信号针112。通过长度较长的复用信号针以及长度较短的在位信号针，能够更加准确地检测算力板110插入或者拔出时的在位信息。

其中，算力板110可插接在算力板接口120中，从而实现算力板110与超算设备之间的连接，算力板110可以是一个或者多个，用于执行哈希函数的计算。

在一些实施方式中，电平检测电路130与算力板接口120电性连接，主控电路140与电平检测电路130连接。电平检测电路130用于检测第一类型信号针111对应的第一电平信号和第二类型信号针112对应的第二电平信号。主控电路140根据第一电平信号和第二电平信号确定算力板110的在位信息，该在位信息包括在位状态、虚插状态和未在位状态。

如图1至图3所示，第一类型信号针111的长度小于第二类型信号针112的长度。如图1所示，算力板110处于未在位状态，未在位状态为第二类型信号针112未到达算力板接口110的第一预设位置S1，且第一类型信号针111未到达所述第一预设位置S1的状态。

如图2所示，算力板110处于虚插状态，该虚插状态为第二类型信号针112位于算力板接口120的第一预设位置S1和第二预设位置S2之间，且第一类型信号针111未到达第一预设位置S1的状态。

需要说明的是，当前的超算设备通过在位信号针(第一类型信号针111)检测算力板110的在位信息，然而，这种检测方式仅能确定算力板110的在位信息为在位状态或者未在位状态，即当第一类型信号针111未到达第一预设位置S1时确定算力板110的在位信息为未在位状态，当第一类型信号针111到达第一预设位置S1和第二预设位置S2之间时确定算力板110的在位信息为在位状态。当算力板110插入时的插接不到位，出现虚插现象时，容易误判算力板110的在位信息，产生安全隐患。

基于此，本实施例通过第一类型信号针111对应的第一电平信号和第二类型信号针112对应的第二电平信号确定算力板110的在位信息，其能准确地检测算力板的在位信息，可靠性高，保障用电安全。

如图3所示，算力板110处于在位状态，该在位状态为第二类型信号针112到达或者超过算力板接口120的第二预设位置S2，且所述第一类型信号针111到达或者超过第一预设位置S1的状态。

示例性的，第一类型信号针111包括热插拔信号针，例如hotswap信号针；所述第二类型信号针112包括复用信息针，所述复用信息针用于同步实现电平信号检测和数据信息传输。复用信息针例如为abs信息针，abs信息针能够同步实现电平信号的传输和abs函数信号的传输。

如图1至图3所示，电平检测电路130用于检测第一类型信号针111对应的第一电平信号和第二类型信号针112对应的第二电平信号。电平检测电路130连接于主控电路140，将检测得到的第一类型信号针111对应的第一电平信号和第二类型信号针112对应的第二电平信号传输至主控电路140。主控电路140根据第一电平信号和第二电平信号确定算力板110的在位信息，该在位信息包括在位状态、虚插状态和未在位状态。

示例性的，若第一电平信号和第二电平信号均为第一预设信号，则确定算力板110的在位信息为不在位状态；若第一电平信号为第二预设信号，且第二电平信号为第一预设信号，则确定算力板110的在位信息为虚插状态；若第一电平信号和第二电平信号均为第二预设信号，则确定算力板110的在位信息为在位状态。通过第一类型信号针111对应的第一电平信号和第二类型信号针112对应的第二电平信号确定算力板110的在位信息，其能准确地检测算力板的在位信息，可靠性高，避免严重故障发生。

其中，第一预设信号为高电平信号，第二预设信号为低电平信号；或者，第一预设信号为低电平信号，第二预设信号为高电平信号。本实施例对此不做具体限定。

在一些实施方式中，如图4所示，算力板110还包括电源针113和接地针114，电源针113的长度小于接地针114的长度，从而保证算力板110插接与算力板接口120中时，接地针114先于电源针113触电，避免算力板110短路，保证用电安全。

如图4所示，电平检测电路130包括第一电平检测单元131和第二电平检测单元132，第一电平检测单元131用于检测第一类型信号针111对应的第一电平信号，第二电平检测单元132用于检测第二类型信号针112对应的第二电平信号。通过第一电平检测单元131和第二电平检测单元132分别检测第一类型信号针111对应的第一电平信号和第二类型信号针112对应的第二电平信号，从而便于第一电平检测单元131将第一类型信号针111对应的第一电平信号传输至主控电路140，以及便于第二电平检测单元132将第二类型信号针112对应的第二电平信号传输至主控电路140。

如图4和图5所示，第一电平检测单元131设置在超算设备本体上，连接于算力板接口120与主控电路140之间，第二电平检测单元132设置在超算设备本体上或者算力板111上。

其中，第一电平检测单元131一端连接于第一类型信号针111对应的第一算力板接口，另一端连接于主控电路140；当第二电平检测单元132设置在超算设备本体上，第二电平检测单元132一端连接于第二类型信号针112对应的第二算力板接口，另一端连接于主控电路140。

可以理解的是，当第二电平检测单元132设置在算力板111上，第二类型信号针112为复用信息针，所述复用信息针用于同步实现电平信号检测和数据信息传输。第二电平检测单元132连接于第二类型信号针112，因此可通过第二类型信号针112传输第二类型信号针112对应的第二电平信号，实现复用信息针的数据信息传输功能，并通过第二类型信号针112对应的第二算力板接口将第二电平信号输出至主控电路140。通过复用信息针传输第二电平信号，无需增加成本设立两个在位信号针进行算力板110的在位检测，在降低成本的同时保证算力板110的在位信息的检测准确性。

需要说明的是，也可通过其他的能够实现数据信息传输的普通信息针来传输第二电平检测单元132检测的第二类型信号针112对应的第二电平信号，本实施例不做具体限定。

在另一实施方式中，如图6所示，第一电平检测单元131设置在算力板上，第二电平检测单元132设置在超算设备本体上。第一电平检测单元131一端连接于第一类型信号针111，另一端连接于算力板110，以便通过包括第二类型信号针112在内的能够实现数据信息传输的普通信息针来传输第一电平检测单元132检测的第一类型信号针111对应的第一电平信号；第二电平检测单元132一端连接于第二类型信号针112对应的第二算力板接口，另一端连接于主控电路140。由于第二类型信号针112为复用信息针，能够同步实现电平信号检测和数据信息传输，在不增加成本的同时能更加准确地检测算力板的在位信息。

如图7所示，第一电平检测单元131包括第一电阻R10，所述第一电阻R10连接预设电压V1，该预设电压V1可灵活设置，例如预设电压V1为3.3V，第一电阻R10另一侧连接算力板接口120和主控电路140，并作为第一电平信号的检测点。当第一类型信号针111插接于对应的第一算力板接口时，通往算力板110的线路导通，第一类型信号针111对应的第一电平信号为低电平信号；当第一类型信号针111未插接于对应的第一算力板接口时，通往算力板110的线路断开，第一类型信号针111对应的第一电平信号为高电平信号。

在另一实施方式中，第一电平检测单元131包括第一电阻R10，第一电阻R10接地，算力板110的第一类型信号针111连接电源。当第一类型信号针111插接于对应的第一算力板接口时，通往算力板110的线路导通，第一类型信号针111对应的第一电平信号为高电平信号；当第一类型信号针111未插接于对应的第一算力板接口时，通往算力板110的线路断开，第一类型信号针111对应的第一电平信号为低电平信号。

在另一实施方式中，第二电平检测单元132包括场效应管和第二电阻，场效应管的栅极用于接收控制信号，控制信号用于控制场效应管导通或断开，场效应管的漏极通过该第二电阻连接预设电压压，该预设电压可灵活设置，场效应管的漏极作为第二电平信号的检测点，场效应管的源极接地。场效应管的栅极可以连接在第二类型信号针112对应的第二算力板接口，场效应管的漏极还与主控电路140连接，以便主控电路140通过该第二电平检测单元132检测算力板110的在位信息。

具体地，为了提高电路的安全性，场效应管的栅极通过第三电阻与第二类型信号针112对应的第二算力板接口连接，且通过第四电阻与场效应管的源极连接。控制信号包括第一控制信号和第二控制信号，第一控制信号例如为高电平信号，用于控制场效应管导通；第二控制信号例如为低电平信号，用于控制场效应管断开。

因此，当第二类型信号针112与对应的第二算力板接口之间的电通道导通时，控制信号控制场效应管导通，主控电路140检测到场效应管的漏极为低电平信号；当第二类型信号针112与对应的第二算力板接口之间的电通道未导通时，控制信号控制场效应管断开，场效应管的漏极为高电平信号。

在另一实施方式中，场效应管的漏极通过该第二电阻接地，算力板110的第二类型信号针112连接电源。第一控制信号为低电平信号，用于控制场效应管导通，当第二类型信号针112与对应的第二算力板接口之间的电通道未导通时，低电平信号控制场效应管导通，场效应管的漏极为低电平信号；第二控制信号例如为高电平信号，用于控制场效应管断开，当第二类型信号针112与对应的第二算力板接口之间的电通道导通时，高电平信号控制场效应管断开，场效应管的漏极为高电平信号。

如图7所示，算力板接口120包括第一弹片121和第二弹片122，第一弹片121用于与第一类型信号针111连接，第二弹片122用于与第二类型信号针112连接。便于通过第一弹片121检测第一类型信号针111的第一电平信号，并通过第二弹片122检测第二类型信号针112的第二电平信号。

其中，在第一弹片121未与第一类型信号针111相接时，电平检测电路130检测第一类型信号针111对应的第一电平信号为第一预设信号；在第一弹片121与第一类型信号针111相接时，电平检测电路130检测第一类型信号针111对应的第一电平信号为第二预设信号。

其中，在第二弹片122未与第二类型信号针112相接时，电平检测电路130检测第二类型信号针112对应的第二电平信号为第一预设信号；在第二弹片122与第二类型信号针112相接时，电平检测电路130检测第二类型信号针112对应的第二电平信号为第二预设信号。

上述的第一预设信号为高电平信号，第二预设信号为低电平信号；或者，上述的第一预设信号为低电平信号，第二预设信号为高电平信号，本实施例对此不做具体限定。若第一电平信号为第二预设信号，且第二电平信号为第一预设信号，则确定算力板110的在位信息为虚插状态，检测可靠性更高。

在一些实施方式中，第一弹片121的长度大于第二弹片122的长度，以使算力板110插接在算力板接口120中时，第一弹片121与第一类型信号针111相接，且第二弹片122与第二类型信号针112相接，从而避免算力板110出现虚插状态，保证用电安全。

在一些实施方式中，超算设备还包括连接于主控电路140的输出装置，输出装置用于输出该算力板110的在位信息。

可选的，输出装置包括指示灯、显示屏、蜂鸣器等中的至少一种。

示例性的，如图2所示，第二类型信号针112位于算力板接口120的第一预设位置S1和第二预设位置S2之间，且第一类型信号针111未到达第一预设位置S1时，电平检测电路130检测第一类型信号针111对应的第一电平信号为第二预设信号，且第二类型信号针112对应的第二电平信号为第一预设信号，主控电路140判定算力板110的在位信息为虚插状态，可以触发输出装置发出算力板110处于虚插状态的提示；例如触发指示灯闪烁、显示屏输出图像提示和/或蜂鸣器发出警告声等提示。

示例性的，如图8所示，算力板110包括第一类型信号针111和第二类型信号针112，第一类型信号针111用于算力板的在位检测，例如热插拔信号针，第二类型信号针112为复用信息针用于实现电平检测以及除在位检测外的其他预定功能，例如数据信息传递功能，例如abs信息针。第一类型信号针111的长度短于第二类型信号针112。通过长度较长的第二类型信号针112以及长度较短的第一类型信号针111，能够更加准确地检测算力板插入或者拔出时的在位信息。算力板接口120包括第一算力板接口121和第二算力板接口122，第一算力板接口121用于与第一类型信号针111相连接，第二算力板接口122用于与第二类型信号针112相连接，便于准确获取第一电平信号以及第二电平信号。

本说明书实施例提供的超算设备，在算力板插接于算力板接口中时，通过电平检测电路检测第一类型信号针对应的第一电平信号和第二类型信号针对应的第二电平信号，并通过主控电路根据第一电平信号和第二电平信号确定算力板的在位信息，在位信息包括在位状态、虚插状态和未在位状态。第一类型信号针和第二类型信号针的长度不同，能够更加准确地检测算力板的在位信息，尤其是检测算力板是否处于虚插状态，可靠性强，避免由于算力板虚插而导致严重故障发生。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接。可以是机械连接，也可以是电连接。可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

上文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本实用新型的不同结构。为了简化本实用新型的公开，上文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本实用新型。此外，本实用新型可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本实用新型提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施方式”、“一些实施方式”、“示意性实施方式”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合实施方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施方式或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施方式或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。

上述实施方式仅为本实用新型的优选实施方式，不能以此来限定本实用新型保护的范围，本领域的技术人员在本实用新型的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本实用新型所要求保护的范围。

Claims (10)

1.一种超算设备，其特征在于，所述超算设备包括：

至少一个算力板，所述算力板包括第一类型信号针和第二类型信号针，第一类型信号针和第二类型信号针的长度不同；

算力板接口，所述算力板插接在所述算力板接口中；

电平检测电路，所述电平检测电路与所述算力板接口电性连接；

主控电路，所述主控电路与所述电平检测电路连接；

其中，所述电平检测电路用于检测所述第一类型信号针对应的第一电平信号和所述第二类型信号针对应的第二电平信号，所述主控电路根据所述第一电平信号和第二电平信号确定所述算力板的在位信息。

2.如权利要求1所述的超算设备，其特征在于，所述第一类型信号针的长度小于所述第二类型信号针的长度，所述在位信息包括在位状态、虚插状态和未在位状态；

所述虚插状态为所述第二类型信号针位于所述算力板接口的第一预设位置和第二预设位置之间，且所述第一类型信号针未到达所述第一预设位置的状态；

所述在位状态为所述第二类型信号针到达所述算力板接口的第二预设位置，且所述第一类型信号针到达所述第一预设位置的状态；

所述未在位状态为所述第二类型信号针未到达所述算力板接口的第一预设位置，且所述第一类型信号针未到达所述第一预设位置的状态。

3.如权利要求2所述的超算设备，其特征在于，所述第一类型信号针包括热插拔信号针，所述第二类型信号针包括复用信息针，所述复用信息针用于同步实现电平信号检测和数据信息传输。

4.如权利要求1所述的超算设备，其特征在于，所述算力板还包括电源针和接地针，所述电源针的长度小于所述接地针的长度。

5.如权利要求1所述的超算设备，其特征在于，所述电平检测电路包括第一电平检测单元和第二电平检测单元，所述第一电平检测单元用于检测所述第一类型信号针对应的第一电平信号，所述第二电平检测单元用于检测所述第二类型信号针对应的第二电平信号。

6.如权利要求5所述的超算设备，其特征在于，所述第一电平检测单元设置在超算设备本体上，所述第二电平检测单元设置在所述超算设备本体上或者所述算力板上；或者，所述第一电平检测单元设置在所述算力板上，所述第二电平检测单元设置在所述超算设备本体上。

7.如权利要求5所述的超算设备，其特征在于，所述第一电平检测单元包括第一电阻，所述第一电阻连接预设电压。

8.如权利要求5所述的超算设备，其特征在于，所述第二电平检测单元包括场效应管和第二电阻，所述场效应管的栅极用于接收控制信号，所述控制信号用于控制所述场效应管导通或断开，所述场效应管的漏极通过所述第二电阻连接预设电压，所述场效应管的漏极作为所述第二电平信号的检测点，所述场效应管的源极接地。

9.如权利要求1所述的超算设备，其特征在于，所述算力板接口包括第一弹片和第二弹片，所述第一弹片用于与所述第一类型信号针连接，第二弹片用于与所述第二类型信号针连接；

其中，在所述第一弹片未与所述第一类型信号针相接时，所述电平检测电路检测所述第一类型信号针对应的第一电平信号为第一预设信号；在所述第一弹片与所述第一类型信号针相接时，所述电平检测电路检测所述第一类型信号针对应的第一电平信号为第二预设信号；

在所述第二弹片未与所述第二类型信号针相接时，所述电平检测电路检测所述第二类型信号针对应的第二电平信号为第一预设信号；在所述第二弹片与所述第二类型信号针相接时，所述电平检测电路检测所述第二类型信号针对应的第二电平信号为第二预设信号。

10.如权利要求9所述的超算设备，其特征在于，所述第一弹片的长度大于所述第二弹片的长度，以使所述算力板插接在所述算力板接口中时，所述第一弹片与所述第一类型信号针相接，且所述第二弹片与所述第二类型信号针相接。

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