CN113219320A - Bms电路板校验方法、系统、可读存储介质及终端设备 - Google Patents

Bms电路板校验方法、系统、可读存储介质及终端设备 Download PDF

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CN113219320A CN202110410446.1A CN202110410446A CN113219320A CN 113219320 A CN113219320 A CN 113219320A CN 202110410446 A CN202110410446 A CN 202110410446A CN 113219320 A CN113219320 A CN 113219320A
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere

Abstract

本申请属于电路板校验技术领域,尤其涉及一种BMS电路板校验方法、系统、计算机可读存储介质及终端设备。所述方法包括:获取待校验的BMS电路板的类别信息;根据所述类别信息确定所述BMS电路板的各个测试点;通过预设的继电器模块在所述BMS电路板的各个测试点之间进行切换,分别对所述BMS电路板的各个测试点进行校验。对于任一测试点,提供不同的基准电压,完成线性校验。通过本申请,可以实现对各种类别的BMS电路板的多点位校验,具有较好的通用性。

Description

BMS电路板校验方法、系统、可读存储介质及终端设备
技术领域
本申请属于电路板校验技术领域,尤其涉及一种BMS电路板校验方法、系统、计算机可读存储介质及终端设备。
背景技术
电池管理系统(Battery Management System,BMS)可以智能化管理及维护各个电池单元,防止电池出现过充电和过放电,延长电池的使用寿命,监控电池的状态。BMS的电路板(PCBA)在投入实际使用之前,需要对其进行校验,但现有的校验方法往往只针对单一类别的BMS电路板进行单点校验,通用性较差。
发明内容
有鉴于此,本申请实施例提供了一种BMS电路板校验方法、系统、计算机可读存储介质及终端设备,以解决现有的BMS电路板校验方法往往只针对单一类别的BMS电路板进行单点校验,通用性较差的问题。
本申请实施例的第一方面提供了一种BMS电路板校验方法,可以包括:
获取待校验的BMS电路板的类别信息;
根据所述类别信息确定所述BMS电路板的各个测试点;
通过预设的继电器模块在所述BMS电路板的各个测试点之间进行切换,分别对所述BMS电路板的各个测试点进行校验。
在第一方面的一种具体实现中,所述通过预设的继电器模块在所述BMS电路板的各个测试点之间进行切换,分别对所述BMS电路板的各个测试点进行校验,可以包括:
通过所述继电器模块从所述BMS电路板的各个测试点中选取一个未校验的测试点作为当前测试点;
对所述当前测试点进行校验,得到所述当前测试点的校验结果;
返回执行所述通过所述继电器模块从所述BMS电路板的各个测试点中选取一个未校验的测试点作为当前测试点的步骤及其后续步骤,直至所述BMS电路板的各个测试点均已校验为止。
在第一方面的一种具体实现中,所述对所述当前测试点进行校验,得到所述当前测试点的校验结果,可以包括:
通过预设的第一程控直流电源模块向预设的模拟电池模块供电,激活所述BMS电路板;
通过预设的第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供预设的基准电压,并读取所述BMS电路板的电压采样值;
根据所述基准电压和所述电压采样值计算所述当前测试点的参数值,并将所述参数值写入所述BMS电路板中;
通过所述第一程控直流电源模块重新激活所述BMS电路板;
通过所述第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供所述基准电压,并读取所述BMS电路板的新的电压采样值;
根据所述基准电压和所述新的电压采样值确定所述当前测试点的校验结果。
在第一方面的一种具体实现中,所述基准电压包括第一电压和第二电压,且所述第一电压低于所述第二电压;所述电压采样值包括与所述第一电压对应的第一采样值,以及与所述第二电压对应的第二采样值;
所述通过预设的第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供预设的基准电压,并读取所述BMS电路板的电压采样值,可以包括:
通过所述第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供所述第一电压,并读取所述BMS电路板的第一采样值;
通过所述第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供所述第二电压,并读取所述BMS电路板的第二采样值。
在第一方面的一种具体实现中,所述根据所述基准电压和所述新的电压采样值确定所述当前测试点的校验结果,可以包括:
计算所述第一电压与新的第一采样值之间的第一差值;
计算所述第二电压与新的第二采样值之间的第二差值;
若所述第一差值和所述第二差值均满足预设的精度要求,则确定所述当前测试点校验成功;
若所述第一差值或所述第二差值不满足所述精度要求,则确定所述当前测试点校验失败。
在第一方面的一种具体实现中,在读取所述BMS电路板的电压采样值之后,还可以包括:
判断所述第一采样值是否高于或等于所述第二采样值;
若所述第一采样值高于或等于所述第二采样值,则确定所述当前测试点校验失败。
在第一方面的一种具体实现中,还可以包括:
通过预设的第一程控直流电源模块向所述BMS电路板的电芯电压采样电路模块提供预设的基准电压,对所述电芯电压采样电路模块进行校验。
本申请实施例的第二方面提供了一种BMS电路板校验系统,可以包括电路板夹具、夹具控制底箱和终端设备,所述夹具控制底箱分别与所述电路板夹具和所述终端设备连接;
所述电路板夹具,用于固定待校验的BMS电路板;
所述夹具控制底箱,用于在所述终端设备的控制下对所述BMS电路板进行校验;
所述终端设备,用于执行上述任一种BMS电路板校验方法的步骤。
本申请实施例的第三方面提供了一种BMS电路板校验装置,可以包括:
类别信息获取模块,用于获取待校验的BMS电路板的类别信息;
测试点确定模块,用于根据所述类别信息确定所述BMS电路板的各个测试点;
测试点校验模块,用于通过预设的继电器模块在所述BMS电路板的各个测试点之间进行切换,分别对所述BMS电路板的各个测试点进行校验。
在第三方面的一种具体实现中,所述测试点校验模块可以包括:
当前测试点选取子模块,用于通过所述继电器模块从所述BMS电路板的各个测试点中选取一个未校验的测试点作为当前测试点;
当前测试点校验子模块,用于对所述当前测试点进行校验,得到所述当前测试点的校验结果。
在第三方面的一种具体实现中,所述当前测试点校验子模块可以包括:
第一激活单元,用于通过预设的第一程控直流电源模块向预设的模拟电池模块供电,激活所述BMS电路板;
第一操作单元,用于通过预设的第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供预设的基准电压,并读取所述BMS电路板的电压采样值;
参数值计算单元,用于根据所述基准电压和所述电压采样值计算所述当前测试点的参数值,并将所述参数值写入所述BMS电路板中;
第二激活单元,用于通过所述第一程控直流电源模块重新激活所述BMS电路板;
第二操作单元,用于通过所述第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供所述基准电压,并读取所述BMS电路板的新的电压采样值;
校验结果确定单元,用于根据所述基准电压和所述新的电压采样值确定所述当前测试点的校验结果。
在第三方面的一种具体实现中,所述基准电压包括第一电压和第二电压,且所述第一电压低于所述第二电压;所述电压采样值包括与所述第一电压对应的第一采样值,以及与所述第二电压对应的第二采样值;所述第一操作单元可以包括:
第一操作子单元,用于通过所述第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供所述第一电压,并读取所述BMS电路板的第一采样值;
第二操作子单元,用于通过所述第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供所述第二电压,并读取所述BMS电路板的第二采样值。
在第三方面的一种具体实现中,所述校验结果确定单元可以包括:
第一差值计算子单元,用于计算所述第一电压与新的第一采样值之间的第一差值;
第二差值计算子单元,用于计算所述第二电压与新的第二采样值之间的第二差值;
第一校验结果确定子单元,用于若所述第一差值和所述第二差值均满足预设的精度要求,则确定所述当前测试点校验成功;
第二校验结果确定子单元,用于若所述第一差值或所述第二差值不满足所述精度要求,则确定所述当前测试点校验失败。
在第三方面的一种具体实现中,所述第一操作单元还可以包括:
采样值判断子单元,用于判断所述第一采样值是否高于或等于所述第二采样值;
第三校验结果确定子单元,用于若所述第一采样值高于或等于所述第二采样值,则确定所述当前测试点校验失败。
在第三方面的一种具体实现中,所述BMS电路板校验装置还可以包括:
电芯校验模块,用于通过预设的第一程控直流电源模块向所述BMS电路板的电芯电压采样电路模块提供预设的基准电压,对所述电芯电压采样电路模块进行校验。
本申请实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一种BMS电路板校验方法的步骤。
本申请实施例的第五方面提供了一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一种BMS电路板校验方法的步骤。
本申请实施例的第六方面提供了一种计算机程序产品,当计算机程序产品在终端设备上运行时,使得终端设备执行上述任一种BMS电路板校验方法的步骤。
本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是:本申请实施例获取待校验的BMS电路板的类别信息;根据所述类别信息确定所述BMS电路板的各个测试点;通过预设的继电器模块在所述BMS电路板的各个测试点之间进行切换,分别对所述BMS电路板的各个测试点进行校验。通过本申请实施例,可以实现对各种类别的BMS电路板的多点位校验,具有较好的通用性。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本申请实施例中一种BMS电路板校验系统的一个实施例示意图;
图2为本申请实施例中一种BMS电路板校验方法的一个实施例流程图;
图3为对当前测试点进行校验的示意流程图;
图4为本申请实施例中一种BMS电路板校验装置的一个实施例结构图;
图5为本申请实施例中一种终端设备的示意框图。
具体实施方式
为使得本申请的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,下面所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而非全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本申请保护的范围。
应当理解,当在本说明书和所附权利要求书中使用时,术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在,但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解,在此本申请说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本申请。如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样,除非上下文清楚地指明其它情况,否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
还应当进一步理解,在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合,并且包括这些组合。
如在本说明书和所附权利要求书中所使用的那样,术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地,短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
另外,在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
请参阅图1,本申请实施例中提供的一种BMS电路板校验系统可以包括:电路板夹具、夹具控制底箱和终端设备,其中,夹具控制底箱通过连接器分别与电路板夹具和终端设备连接。电路板夹具,用于固定待校验的BMS电路板。夹具控制底箱,用于在终端设备的控制下对BMS电路板进行校验。夹具控制底箱可以包括:继电器模块、第一程控直流电源模块、第二程控直流电源模块、程控万用表模块、模拟电池模块和通信模块。终端设备,用于对整个校验过程进行控制管理。
基于上述的BMS电路板校验系统,本申请实施例中还提供了一种BMS电路板校验方法,该方法的执行主体为终端设备,具体可以包括如图2所示的步骤:
步骤S201、获取待校验的BMS电路板的类别信息。
本申请实施例可以对各种不同类别的BMS电路板进行校验,具体支持哪些类别的BMS电路板,可以预先通过后台进行配置。在进行校验时,可以首先获取待校验的BMS电路板的类别信息,从而确定该BMS电路板的类别,以便执行针对该类别的校验过程。
步骤S202、根据类别信息确定BMS电路板的各个测试点。
对于不同类别的BMS电路板,所需进行校验的测试点可能是不同的,在本申请实施例中,可以根据已获取的类别信息来确定出该类别的BMS电路板的各个测试点。
步骤S203、通过继电器模块在BMS电路板的各个测试点之间进行切换,分别对BMS电路板的各个测试点进行校验。
在本申请实施例中,可以通过继电器模块从BMS电路板的各个测试点中选取一个未校验的测试点作为当前测试点,然后对当前测试点进行校验,得到当前测试点的校验结果。重复以上过程,依次遍历每个测试点,直至BMS电路板的各个测试点均已校验为止。
具体地,如图3所示,对当前测试点进行校验的过程可以包括如下步骤:
步骤S301、通过第一程控直流电源模块向模拟电池模块供电,激活BMS电路板。
优选地,在执行完激活操作后,可以通过通信模块读取BMS电路板的状态信息,以确认BMS电路板是否已处于激活状态。若未激活,则重新执行激活操作,若已激活,则执行后续步骤。
步骤S302、通过第二程控直流电源模块向当前测试点提供预设的基准电压,并读取BMS电路板的电压采样值。
在本申请实施例中,可以通过程控万用表实时测量基准电压。其中,基准电压包括第一电压(记为V1)和第二电压(记为V2),且第一电压低于第二电压,即第一电压为低电压,第二电压为高电压。电压采样值包括与第一电压对应的第一采样值(记为Va1),以及与第二电压对应的第二采样值(记为Va2)。
在本申请实施例的一种具体实现中,可以首先通过第二程控直流电源模块向当前测试点提供第一电压,并通过通信模块读取此时BMS电路板的电压值,也即第一采样值。然后通过第二程控直流电源模块向当前测试点提供第二电压,并通过通信模块读取此时BMS电路板的电压值,也即第二采样值。在本申请实施例的另一种具体实现中,也可以首先提供第二电压并读取对应的第二采样值,然后提供第一电压并读取对应的第一采样值。
优选地,在读取得到第一采样值和第二采样值之后,可以对其进行合法性判断,即判断第一采样值是否高于或等于第二采样值,若第一采样值高于或等于第二采样值,则直接确定当前测试点校验失败,无需再执行步骤S303至步骤S306的过程。若第一采样值小于第二采样值,则继续执行步骤S303至步骤S306的过程。
步骤S303、根据基准电压和电压采样值计算当前测试点的参数值,并将参数值写入BMS电路板中。
具体如何计算参数值可以根据实际情况进行设置,在本申请实施例的一种具体实现中,可以根据线性方程公式y=kx+b,使用两点(V1,Va1),(V2,Va2)计算出k和b这两个参数值,并写入到BMS电路板的微处理器中,从而完成对参数值的更新。
步骤S304、通过第一程控直流电源模块重新激活BMS电路板。
步骤S305、通过第二程控直流电源模块向当前测试点提供基准电压,并读取BMS电路板的新的电压采样值。
步骤S305与步骤S302类似,具体可参见步骤S302中的详细描述,此处不再赘述。需要注意的是,由于参数值已更新,此时读取得到的新的第一采样值可能与步骤S302中的第一采样值并不一致,为了便于区分,将新的第一采样值记为Vy1。类似地,此时读取得到的新的第二采样值可能与步骤S302中的第二采样值并不一致,为了便于区分,将新的第二采样值记为Vy2。
步骤S306、根据基准电压和新的电压采样值确定当前测试点的校验结果。
具体地,可以根据下式计算第一电压与新的第一采样值之间的第一差值:
e1=V1-Vy1
其中,e1即为第一差值。
根据下式计算计算第二电压与新的第二采样值之间的第二差值:
e2=V2-Vy2
其中,e2即为第二差值。
若第一差值和第二差值均满足预设的精度要求,即abs(e1)<TH且abs(e2)<TH,则可以确定当前测试点校验成功。其中,abs为求绝对值函数,TH为预设的误差阈值,其具体取值可以根据实际情况进行设置,本申请实施例对其不作具体限定。
反之,若第一差值或第二差值不满足精度要求,即abs(e1)≥TH或abs(e2)≥TH,则可以确定当前测试点校验失败。
优选地,在本申请实施例的一种具体实现中,还可以通过第一程控直流电源模块向BMS电路板的电芯提供基准电压,对电芯进行校验。该校验过程与前述对各个测试点的校验过程类似,具体可参见前述对各个测试点的校验过程的详细描述,此处不再赘述。
综上所述,通过本申请实施例,可以实现对各种类别的BMS电路板的多点位校验,具有较好的通用性。
应理解,上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
对应于上文实施例所述的一种BMS电路板校验方法,图4示出了本申请实施例提供的一种BMS电路板校验装置的一个实施例结构图。
本实施例中,一种BMS电路板校验装置可以包括:
类别信息获取模块401,用于获取待校验的BMS电路板的类别信息;
测试点确定模块402,用于根据所述类别信息确定所述BMS电路板的各个测试点;
测试点校验模块403,用于通过预设的继电器模块在所述BMS电路板的各个测试点之间进行切换,分别对所述BMS电路板的各个测试点进行校验。
在本申请实施例的一种具体实现中,所述测试点校验模块可以包括:
当前测试点选取子模块,用于通过所述继电器模块从所述BMS电路板的各个测试点中选取一个未校验的测试点作为当前测试点;
当前测试点校验子模块,用于对所述当前测试点进行校验,得到所述当前测试点的校验结果。
在本申请实施例的一种具体实现中,所述当前测试点校验子模块可以包括:
第一激活单元,用于通过预设的第一程控直流电源模块向预设的模拟电池模块供电,激活所述BMS电路板;
第一操作单元,用于通过预设的第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供预设的基准电压,并读取所述BMS电路板的电压采样值;
参数值计算单元,用于根据所述基准电压和所述电压采样值计算所述当前测试点的参数值,并将所述参数值写入所述BMS电路板中;
第二激活单元,用于通过所述第一程控直流电源模块重新激活所述BMS电路板;
第二操作单元,用于通过所述第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供所述基准电压,并读取所述BMS电路板的新的电压采样值;
校验结果确定单元,用于根据所述基准电压和所述新的电压采样值确定所述当前测试点的校验结果。
在本申请实施例的一种具体实现中,所述基准电压包括第一电压和第二电压,且所述第一电压低于所述第二电压;所述电压采样值包括与所述第一电压对应的第一采样值,以及与所述第二电压对应的第二采样值;所述第一操作单元可以包括:
第一操作子单元,用于通过所述第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供所述第一电压,并读取所述BMS电路板的第一采样值;
第二操作子单元,用于通过所述第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供所述第二电压,并读取所述BMS电路板的第二采样值。
在本申请实施例的一种具体实现中,所述校验结果确定单元可以包括:
第一差值计算子单元,用于计算所述第一电压与新的第一采样值之间的第一差值;
第二差值计算子单元,用于计算所述第二电压与新的第二采样值之间的第二差值;
第一校验结果确定子单元,用于若所述第一差值和所述第二差值均满足预设的精度要求,则确定所述当前测试点校验成功;
第二校验结果确定子单元,用于若所述第一差值或所述第二差值不满足所述精度要求,则确定所述当前测试点校验失败。
在本申请实施例的一种具体实现中,所述第一操作单元还可以包括:
采样值判断子单元,用于判断所述第一采样值是否高于或等于所述第二采样值;
第三校验结果确定子单元,用于若所述第一采样值高于或等于所述第二采样值,则确定所述当前测试点校验失败。
在本申请实施例的一种具体实现中,所述BMS电路板校验装置还可以包括:
电芯校验模块,用于通过预设的第一程控直流电源模块向所述BMS电路板的电芯电压采样电路模块提供预设的基准电压,对所述电芯电压采样电路模块进行校验。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的装置,模块和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述或记载的部分,可以参见其它实施例的相关描述。
图5示出了本申请实施例提供的一种终端设备的示意框图,为了便于说明,仅示出了与本申请实施例相关的部分。
如图5所示,该实施例的终端设备5包括:处理器50、存储器51以及存储在所述存储器51中并可在所述处理器50上运行的计算机程序52。所述处理器50执行所述计算机程序52时实现上述各个BMS电路板校验方法实施例中的步骤,例如图2所示的步骤S201至步骤S203。或者,所述处理器50执行所述计算机程序52时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能,例如图4所示模块401至模块403的功能。
示例性的,所述计算机程序52可以被分割成一个或多个模块/单元,所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器51中,并由所述处理器50执行,以完成本申请。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段,该指令段用于描述所述计算机程序52在所述终端设备5中的执行过程。
所述终端设备5可以是桌上型计算机、笔记本、掌上电脑等计算设备。本领域技术人员可以理解,图5仅仅是终端设备5的示例,并不构成对终端设备5的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件,例如所述终端设备5还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所述处理器50可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),还可以是其它通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其它可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器51可以是所述终端设备5的内部存储单元,例如终端设备5的硬盘或内存。所述存储器51也可以是所述终端设备5的外部存储设备,例如所述终端设备5上配备的插接式硬盘,智能存储卡(Smart Media Card,SMC),安全数字(Secure Digital,SD)卡,闪存卡(Flash Card)等。进一步地,所述存储器51还可以既包括所述终端设备5的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器51用于存储所述计算机程序以及所述终端设备5所需的其它程序和数据。所述存储器51还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成,即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中,上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。另外,各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述或记载的部分,可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
在本申请所提供的实施例中,应该理解到,所揭露的装置/终端设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通讯连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读存储介质中。基于这样的理解,本申请实现上述实施例方法中的全部或部分流程,也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中,该计算机程序在被处理器执行时,可实现上述各个方法实施例的步骤。其中,所述计算机程序包括计算机程序代码,所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读存储介质可以包括:能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是,所述计算机可读存储介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减,例如在某些司法管辖区,根据立法和专利实践,计算机可读存储介质不包括电载波信号和电信信号。
以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围,均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种BMS电路板校验方法,其特征在于,包括:
获取待校验的BMS电路板的类别信息;
根据所述类别信息确定所述BMS电路板的各个测试点;
通过预设的继电器模块在所述BMS电路板的各个测试点之间进行切换,分别对所述BMS电路板的各个测试点进行校验。
2.根据权利要求1所述的BMS电路板校验方法,其特征在于,所述通过预设的继电器模块在所述BMS电路板的各个测试点之间进行切换,分别对所述BMS电路板的各个测试点进行校验,包括:
通过所述继电器模块从所述BMS电路板的各个测试点中选取一个未校验的测试点作为当前测试点;
对所述当前测试点进行校验,得到所述当前测试点的校验结果;
返回执行所述通过所述继电器模块从所述BMS电路板的各个测试点中选取一个未校验的测试点作为当前测试点的步骤及其后续步骤,直至所述BMS电路板的各个测试点均已校验为止。
3.根据权利要求2所述的BMS电路板校验方法,其特征在于,所述对所述当前测试点进行校验,得到所述当前测试点的校验结果,包括:
通过预设的第一程控直流电源模块向预设的模拟电池模块供电,激活所述BMS电路板;
通过预设的第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供预设的基准电压,并读取所述BMS电路板的电压采样值;
根据所述基准电压和所述电压采样值计算所述当前测试点的参数值,并将所述参数值写入所述BMS电路板中;
通过所述第一程控直流电源模块重新激活所述BMS电路板;
通过所述第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供所述基准电压,并读取所述BMS电路板的新的电压采样值;
根据所述基准电压和所述新的电压采样值确定所述当前测试点的校验结果。
4.根据权利要求3所述的BMS电路板校验方法,其特征在于,所述基准电压包括第一电压和第二电压,且所述第一电压低于所述第二电压;所述电压采样值包括与所述第一电压对应的第一采样值,以及与所述第二电压对应的第二采样值;
所述通过预设的第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供预设的基准电压,并读取所述BMS电路板的电压采样值,包括:
通过所述第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供所述第一电压,并读取所述BMS电路板的第一采样值;
通过所述第二程控直流电源模块向所述当前测试点提供所述第二电压,并读取所述BMS电路板的第二采样值。
5.根据权利要求4所述的BMS电路板校验方法,其特征在于,所述根据所述基准电压和所述新的电压采样值确定所述当前测试点的校验结果,包括:
计算所述第一电压与新的第一采样值之间的第一差值;
计算所述第二电压与新的第二采样值之间的第二差值;
若所述第一差值和所述第二差值均满足预设的精度要求,则确定所述当前测试点校验成功;
若所述第一差值或所述第二差值不满足所述精度要求,则确定所述当前测试点校验失败。
6.根据权利要求4所述的BMS电路板校验方法,其特征在于,在读取所述BMS电路板的电压采样值之后,还包括:
判断所述第一采样值是否高于或等于所述第二采样值;
若所述第一采样值高于或等于所述第二采样值,则确定所述当前测试点校验失败。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的BMS电路板校验方法,其特征在于,还包括:
通过预设的第一程控直流电源模块向所述BMS电路板的电芯电压采样电路模块提供预设的基准电压,对所述电芯电压采样电路模块进行校验。
8.一种BMS电路板校验系统,其特征在于,包括:电路板夹具、夹具控制底箱和终端设备,所述夹具控制底箱分别与所述电路板夹具和所述终端设备连接;
所述电路板夹具,用于固定待校验的BMS电路板;
所述夹具控制底箱,用于在所述终端设备的控制下对所述BMS电路板进行校验;
所述终端设备,用于执行如权利要求1至7中任一项所述的BMS电路板校验方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的BMS电路板校验方法的步骤。
10.一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任一项所述的BMS电路板校验方法的步骤。
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