CN113162488B - 电机的转子位置测量方法、控制方法、电机转子和电机 - Google Patents

电机的转子位置测量方法、控制方法、电机转子和电机 Download PDF

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CN113162488B CN202110492511.XA CN202110492511A CN113162488B CN 113162488 B CN113162488 B CN 113162488B CN 202110492511 A CN202110492511 A CN 202110492511A CN 113162488 B CN113162488 B CN 113162488B
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Abstract

本申请涉及电机的转子位置测量方法、电机的控制方法、电机转子、电机、电机的转子位置测量装置、电机的控制装置、电机的控制电路和可读存储介质,转子设置有至少一对磁极,转子的两端中的一端面设置有凹凸曲面,凹凸曲面的凹凸程度与端面中磁极的磁场强度相对应,电机上设置有测距模块,位置测量方法包括:测量测距模块自身所在的当前位置与凹凸曲面之间的实时距离,根据实时距离,以及凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定转子的实时位置。上述转子位置测量方法极大的提高了转子位置测量的便捷性。

Description

电机的转子位置测量方法、控制方法、电机转子和电机
技术领域
本申请涉及电机控制领域,具体涉及一种电机的转子位置测量方法、电机的控制方法、电机转子、电机、电机的转子位置测量装置、电机的控制装置、电机的控制电路和可读存储介质。
背景技术
针对目前的直流无刷电机,通常需要测量电机转子的位置以进行对应的换相控制,例如采用在电机上安装三个霍尔传感器或编码器的方法以进行转子位置的测量。
其中,霍尔传感器是通过检测磁场强度来得知转子位置,但电机在长时间使用后,转子的永磁体存在消磁的现象,导致霍尔传感器检测灵敏度下降或者易产生检测误判,而编码器的成本相对于霍尔传感器较高,现有的转子测量方案通常较为复杂不便,经济成本往往较高。
发明内容
鉴于此,本申请提供一种电机的转子位置测量方法、电机的控制方法、电机转子、电机、电机的转子位置测量装置、电机的控制装置、电机的控制电路和可读存储介质,通过在转子的两端中的一端面设置有凹凸曲面,凹凸曲面的凹凸程度与端面中磁极的磁场强度相对应,并通过设置在定子上的测距模块测量测距模块自身所在的当前位置与凹凸曲面之间的实时距离,从而确定转子实时位置,在降低经济成本的同时,也避免了霍尔传感器长期使用过程中消磁所带来的检测灵敏度下降或者易产生检测误判的缺点,极大的提高了转子位置测量的便捷性。
本申请提供的一种电机的转子位置测量方法,转子设置有至少一对磁极,转子的两端中的一端面设置有凹凸曲面,凹凸曲面的凹凸程度与端面中磁极的磁场强度相对应,电机上设置有测距模块,位置测量方法包括:
测量测距模块自身所在的当前位置与凹凸曲面之间的实时距离;
根据实时距离,以及凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定转子的实时位置。
在一个实施例中,根据实时距离,以及凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定转子的实时位置的步骤包括:
确定当前位置与凹凸曲面之间的基准距离;
计算实时距离与基准距离的差值;
将差值与凹凸曲面的凹凸程度进行比较,并结合凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定转子的实时位置。
在一个实施例中,凹凸曲面中的各个凸出部分和凹陷部分交叉设置,且每个凸出部分和凹陷部分各自的形状对称,确定当前位置与凹凸曲面之间的基准距离的步骤包括:
以各个凸出部分和凹陷部分之间的对称平面为凹凸曲面的基准平面;
计算当前位置与基准平面之间的距离以确定当前位置与凹凸曲面之间的基准距离。
此外,还提供一种电机的控制方法,控制方法采用上述转子位置测量方法,控制方法还包括:
根据转子的实时位置生成对应的换相控制信号以对定子中的线圈绕组进行换相控制。
此外,还提供一种电机转子,电机转子两端中的一端面设置有凹凸曲面,电机转子设置有至少一对磁极,凹凸曲面的凹凸程度与端面中磁极的磁场强度相对应。
在一个实施例中,凹凸曲面的凸出部分和凹陷部分交叉设置,且凸出部分和凹陷部分各自的形状对称。
在一个实施例中,凹凸曲面采用正弦波曲面或齿轮状曲面。
此外,还提供一种电机,电机采用上述电机转子,电机还包括定子,定子上设置有测距模块;
测距模块用于测量测距模块自身所在的当前位置与凹凸曲面之间的实时距离。
此外,还提供一种电机的转子位置测量装置,转子设置有至少一对磁极,转子的两端中的一端面设置有凹凸曲面,凹凸曲面的凹凸程度与端面中磁极的磁场强度相对应,电机上设置有测距模块,位置测量装置包括:
距离测量单元,用于测量测距模块自身所在的当前位置与凹凸曲面之间的实时距离;
位置确定单元,用于根据实时距离,以及凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定转子的实时位置。
此外,还提供一种电机的控制装置,控制装置采用上述的转子位置测量装置,控制装置还包括:
换相控制单元,用于根据转子的实时位置生成对应的换相控制信号以对定子中的线圈绕组进行换相控制。
此外,还提供一种电机的控制电路,电机的转子设置有至少一对磁极,转子的两端中的一端面设置有凹凸曲面,凹凸曲面的凹凸程度与端面中磁极的磁场强度相对应,电机上设置有测距模块,控制电路包括:
距离测量电路,用于测量测距模块自身所在的当前位置与凹凸曲面之间的实时距离并发送至控制器;
控制器,用于根据实时距离,以及凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定转子的实时位置,生成对应的换相控制信号;
开关驱动电路,用于接收控制器发送的换相控制信号以对定子中的线圈绕组进行换相控制。
此外,还提供一种可读存储介质,可读存储介质存储有计算机程序,计算机程序在被处理器执行时实施上述转子位置测量方法。
上述电机的转子位置测量方法,从电机转子的端面中相邻的两个磁极分别为N极和S极的特点出发,结合N极和S极各自的磁性强度的不同,通过在转子的两端中的一端面设置有凹凸曲面,将凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度对应以进行关联,然后通过电机的定子上设置的测距模块测量测距模块自身所在的当前位置与凹凸曲面之间的实时距离,进而根据该实时距离,以及凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系,最终可确定转子的实时位置。
上述电机的转子位置测量方法,除增加一个测距模块之外,仅仅需要将电机转子的端面的表面设置为凹凸曲面,在降低经济成本的同时,也避免了霍尔传感器长期使用过程中消磁所带来的检测灵敏度下降或者易产生检测误判的缺点,极大的提高了转子位置测量的便捷性,另外,上述转子位置测量方法对于硬件平台的计算能力没有特殊要求,无复杂的数据运算量,转子位置测量的实时性较高。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例中提供的一种电机的转子位置测量方法的应用场景示意图;
图2为本申请实施例中提供的一对磁极的平面示意图;
图3为图2中提供的一对磁极在不同角度位置的磁场强度分布示意图;
图4为本申请实施例中提供的一种电机转子中一对相邻磁极的竖直截面示意图;
图5为本申请实施例中提供的一种电机的转子位置测量方法的流程示意图;
图6为本申请实施例中提供的一种确定转子的实时位置的方法流程示意图;
图7为本申请实施例中提供的一种计算确定当前位置与凹凸曲面之间的基准距离的方法流程示意图;
图8为本申请实施例中提供的一种电机的转子位置测量方法的界面示意图;
图9为本申请实施例中提供的一种电机的控制方法的流程示意图;
图10为本申请实施例中提供的一种电机转子的结构示意图;
图11为本申请实施例中提供的一种电机的转子位置测量装置的结构框图;
图12为本申请实施例中提供的另一种电机的转子位置测量装置的结构框图;
图13为本申请实施例中提供的一种电机的控制电路的结构框图。
具体实施方式
下面结合附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本申请一部分实施例,而非全部实施例。基于本申请中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。在不冲突的情况下,下述各个实施例及其技术特征可以相互组合。
图1为本申请实施例提供的一种电机的转子位置测量方法的应用场景示意图,其中,转子100设置有多对磁极N和S(这里以一对磁极N和S进行举例说明),转子100的两端中的一端面设置有凹凸曲面101,凹凸曲面101的凹凸程度与端面中磁极的磁场强度相对应,电机的定子102上方连接有控制电路板103,控制电路板103上设置有测距模块104,凹凸曲面101中的凸出部分与N极对应,凹凸曲面中的凹陷部分与S极对应。
其中,在转子100进行旋转的过程中,测距模块104测量测距模块104自身所在的当前位置与凹凸曲面101之间的实时距离。
在一个实施例中,凹凸曲面101的中凸出部分的凸出程度与端面中磁极N的磁场强度相对应,凹凸曲面101的中凹陷部分的凹陷程度与端面中磁极S的磁场强度相对应。
其中,如图2所示,图2为一对磁极(N极和S极)的平面示意图,图3为该对磁极在不同角度位置的磁场强度分布示意图,其中,A、B、C和D各个位置点的磁场强度如图3所示。
因此,针对上述凹凸曲面101的凹凸程度,可参照图3该对磁极在不同角度位置的磁场强度分布示意图进行设置,通常与磁极的磁场强度分布保持一致。
在一个实施例中,图4为凹凸曲面101中相邻N极和S极的竖直截面示意图,其中,凹凸曲面101的中凸出部分的凸出程度与端面中磁极N的磁场强度的大小相对应,N极磁场强度越大,凹凸曲面101的中凸出部分的向上凸出程度就越大,N极磁场强度越小,凹凸曲面101的中凸出部分的向上凸出程度就越小;同理,该凹凸曲面101的中凹陷部分的凹陷程度与端面中磁极S的磁场强度的大小相对应,S极磁场强度越大,凹凸曲面101的中凹陷部分的向下凹陷的程度就越大,S极磁场强度越小,凹凸曲面101的中凹陷部分的向下凹陷程度就越小。
其中,上述凹凸曲面101也可做成齿轮状凹凸曲面,这取决于对转子的位置测量精度需求,精度越高,该凹凸曲面101越接近于正弦波曲面。
当然,在另一个实施例中,凹凸曲面101的中凸出部分的凸出程度与端面中磁极S的磁场强度的大小也可对应,此时,凹凸曲面101的中凹陷部分的凹陷程度与端面中磁极N的磁场强度的大小相对应,原理与上述过程相同,不再进行赘述。
如图5所示,图5为本申请实施例提供的一种电机的转子位置测量方法,该位置测量方法包括:
步骤110,测量测距模块自身所在的当前位置与凹凸曲面之间的实时距离。
其中,参照图1所示,测距模块一般设置在定子上的控制电路板上,通常采用激光测距模块,也可采用其它测距模块。
其中,在转子进行旋转的过程中,测距模块测量自身所在的当前位置与凹凸曲面之间的实时距离,因为凹凸曲面的表面高度不同,因而测距模块不同的时刻所对应的测量距离会发生变化。
步骤120,根据实时距离,以及凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定转子的实时位置。
其中,凹凸曲面的凹凸程度和转子端面中磁极的磁场强度相对应,在获取到上述实时距离后,根据测距模块每个时刻的实时距离的变化,即可将该实时距离的变化与上述凹凸曲面的凹凸程度进行比较,并可根据凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定转子的实时位置,即转子位于N极还是S极以及当位于N极或者S极时所对应的实际位置。
上述电机的转子位置测量方法,从电机转子的端面中相邻的两个磁极分别为N极和S极的基础出发,结合N极和S极各自的磁性强度的不同,通过在转子的两端中的一端面设置有凹凸曲面,将凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度对应起来进行关联,然后通过电机的定子上设置的测距模块测量测距模块自身所在的当前位置与凹凸曲面之间的实时距离,进而根据该实时距离,以及凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系,最终可确定转子的实时位置。
上述电机的转子位置测量方法,除增加一个测距模块之外,仅仅需要将电机转子的端面的表面设置为凹凸曲面,在降低经济成本的同时,也避免了霍尔传感器长期使用过程中消磁所带来的检测灵敏度下降或者易产生检测误判的缺点,极大的提高了转子位置测量的便捷性,另外,上述转子位置测量方法对于硬件平台的计算能力没有特殊要求,无复杂的数据运算量,转子位置测量过程的实时性较高。
在一个实施例中,如图6所示,上述步骤120包括:
步骤122,确定当前位置与凹凸曲面之间的基准距离。
其中,在计算转子的实时位置的过程中,需要设立一个基准距离,作为当前位置与凹凸曲面之间的标准参考距离,这是因为对于凹凸曲面而言,测量模块自身的当前位置与凹凸曲面之间的实时距离会一直不断变化,因而若要比较实时距离的变化程度,必然要设置一个标准参考距离,作为当前位置与凹凸曲面之间的基准距离。
步骤124,计算实时距离与基准距离的差值。
其中,实时距离是一直变化的,特别是对于N极和S极的旋转切换交接过程中,若要比较实时距离的变化程度,需要进一步计算实时距离与基准距离的差值。
步骤126,将差值与凹凸曲面的凹凸程度进行比较,并结合凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定转子的实时位置。
其中,上述实时距离与基准距离的差值的变化是与每个当前位置所对应的凹凸曲面的凹凸程度的直接反映,换言之,该差值的变化与凹凸曲面的凹凸程度的变化是一致的,因此,在已知凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系的基础上,将差值与凹凸曲面的凹凸程度进行比较,即可获得该差值与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系,即该实时距离与该端面中每个磁极强度之间的对应关系,再加上转子中的磁极的各个位置与对应的磁场强度的对应关系曲线是已知的,最终可得到当前位置对应的转子的实时位置。
上述转子位置测量方法,通过确定当前位置与凹凸曲面之间的基准距离,进一步计算实时距离与基准距离的差值,并将该差值与凹凸曲面的凹凸程度进行比较,结合凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系,以及转子上磁极各个位置点对应的磁场强度曲线的已知条件,最终确定转子的实时位置,进一步降低了数据运算量,提高了转子位置测量过程的实时性。
在一个实施例中,凹凸曲面中的各个凸出部分和凹陷部分交叉设置,且每个凸出部分和凹陷部分各自的形状对称,如图7所示,步骤122包括:
步骤122a,以各个凸出部分和凹陷部分之间的对称平面为凹凸曲面的基准平面。
其中,为更形象直观的体现转子旋转过程中N极和S极的变化,以便于定子绕组线圈中的电流及时的进行换相,通常以各个凸出部分和凹陷部分之间的对称平面为凹凸曲面的基准平面,这样以来,能够大大简化计算量,方便后续过程的数值比较过程,提高了计算过程的简洁性。
步骤122b,计算当前位置与基准平面之间的距离以确定当前位置与凹凸曲面之间的基准距离。
其中,采用上述基准平面,当测量模块的当前位置对应的转子的位置是N极时,上述差值为正值;当测量模块的当前位置对应的转子的位置是S极时,上述差值为负值,因而能够更好的体现转子在旋转过程中N极和S极的交替过程,为后续控制定子绕组线圈中的电流进行换相奠定基础。
在一个实施例中,如图8所示,图8为本申请实施例提供的一种电机的转子位置测量方法的界面示意图,其中以两对磁极进行说明,N1和S1,N2和S2,测距模块104采用激光测距模块,该凹凸曲面101为正弦波曲面,横轴x表示时间,竖轴y表示实时距离D,基准距离为T,显然随着转子的转动,N极和S极不断的旋转,通过测距模块104自身所在的当前位置与凹凸曲面101之间的实时距离D,然后将该实时距离D与基准距离T之间的差值,与凹凸曲面101的凹凸程度进行比较,并结合凹凸曲面101的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定转子的实时位置。
其中,在图8所示的实施例中,上述凹凸曲面101也可以采用如锯齿状凹凸表面或者梯形状凹凸表面,原理与图8所示的过程相同,不再进行赘述。
此外,如图9所示,还提供一种电机的控制方法,该控制方法采用上述转子位置测量方法,控制方法还包括:
步骤S130,根据转子的实时位置生成对应的换相控制信号以对定子中的线圈绕组进行换相控制。
其中,电机中的控制器在获取到转子的实时位置后,根据转子的实时位置生成对应的换相控制信号以对定子中的线圈绕组进行换相控制。
例如,当上述实时位置位于转子中端面的磁极N与磁极S的交接处,且转子将要有N极旋转到S极时,此时根据转子的实时位置生成对应的换相控制信号,以改变定子中的线圈绕组的电流方向,使得转子由N极旋转到S极。
此外,还提供一种电机转子,电机转子两端中的一端面设置有凹凸曲面,电机转子设置有至少一对磁极(N极和S极),凹凸曲面的凹凸程度与端面中磁极的磁场强度相对应,电机的凹凸曲面的阐述参照前述过程对应内容,这里不再进行赘述。
在一个实施例中,为了加工工艺方便,该凹凸曲面与磁极可为一体化结构,均为磁性材料。
在一个实施例中,该凹凸曲面中的凹陷部分和凸出部分的材料为非磁性材料,该凹凸曲面与上述磁极为非一体化结构。
如图10所示,图10为本申请提供的实施例中一种电机转子200的结构示意图,该电机转子200设置有中的一端面设置有凹凸曲面201,设置有磁极一对N和S,凹凸曲面201中凸出部分为202且与N极相对应,凹陷部分为203与S极相对应。
在一个实施例中,凹凸曲面的凸出部分和凹陷部分交叉设置,且凸出部分和凹陷部分各自的形状对称。
在一个实施例中,凹凸曲面采用正弦波曲面或齿轮状曲面。
此外,还提供一种电机,电机采用上述电机转子,电机还包括定子,定子上设置有测距模块;
测距模块用于测量测距模块自身所在的当前位置与凹凸曲面之间的实时距离。
此外,如图11所示,还提供一种电机的转子位置测量装置300,转子设置有至少一对磁极,转子的两端中的一端面设置有凹凸曲面,凹凸曲面的凹凸程度与端面中磁极的磁场强度相对应,电机上设置有测距模块,位置测量装置300包括:
距离测量单元310,用于测量测距模块自身所在的当前位置与凹凸曲面之间的实时距离;
位置确定单元320,用于根据实时距离,以及凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定转子的实时位置。
此外,如图12所示,还提供一种电机的控制装置400,控制装置400采用上述的转子位置测量装置300,控制装置400还包括:
换相控制单元330,用于根据转子的实时位置生成对应的换相控制信号以对定子中的线圈绕组进行换相控制。
此外,如图13所示,还提供一种电机的控制电路500,电机的转子设置有至少一对磁极,转子的两端中的一端面设置有凹凸曲面,凹凸曲面的凹凸程度与端面中磁极的磁场强度相对应,电机上设置有测距模块,控制电路500包括:
距离测量电路510,用于测量测距模块自身所在的当前位置与凹凸曲面之间的实时距离;
其中,距离测量电路用于通过设置的测距模块测量自身所在的当前位置与凹凸曲面之间的实时距离并将该实时距离发送至控制器520进行处理。
控制器520,用于根据实时距离,以及凹凸曲面的凹凸程度与端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定转子的实时位置,生成对应的换相控制信号;
其中,该换相控制信号通常采用脉宽调制信号。
开关驱动电路530,用于接收控制器发送的换相控制信号以对定子中的线圈绕组进行换相控制。
其中,开关驱动电路530通常采用MOS管开关控制电路,且采用脉宽调制信号进行驱动。
在一个实施例中,上述开关驱动电路530采用三相逆变器电路。
此外,还提供一种可读存储介质,可读存储介质存储有计算机程序,计算机程序在被处理器执行时实施上述转子位置测量方法。
上述转子位置测量装置和控制装置中各个单元的划分仅用于举例说明,在其他实施例中,可将转子位置测量装置和控制装置按照需要划分为不同的单元,以完成上述转子位置测量装置和控制装置的全部或部分功能。关于转子位置测量装置和控制装置的具体限定可以参见上文中对于转子位置测量方法和电机的控制方法的限定,在此不再赘述。
即,以上所述仅为本申请的实施例,并非因此限制本申请的专利范围,凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,例如各实施例之间技术特征的相互结合,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本申请的专利保护范围内。
另外,对于特性相同或相似的结构元件,本申请可采用相同或者不相同的标号进行标识。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。在本申请的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
应当明白的是,本领域普通技术人员可以认识到,在不使用这些特定细节的情况下也可以实现本申请。在其它实施例中,不会对公知的结构和过程进行详细阐述,以避免不必要的细节使本申请的描述变得晦涩。因此,本申请并非旨在限于所示的实施例,而是与符合本申请所公开的原理和特征的最广范围相一致。

Claims (8)

1.一种电机的转子位置测量方法,其特征在于,所述转子设置有至少一对磁极,所述转子的两端中的一端面设置有凹凸曲面,所述凹凸曲面的凹凸程度与所述端面中磁极的磁场强度相对应,所述电机上设置有测距模块,所述位置测量方法包括:
测量所述测距模块自身所在的当前位置与所述凹凸曲面之间的实时距离;
根据所述实时距离,以及所述凹凸曲面的凹凸程度与所述端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定所述转子的实时位置。
2.根据权利要求1所述的转子位置测量方法,其特征在于,所述根据所述实时距离,以及所述凹凸曲面的凹凸程度与所述端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定所述转子的实时位置的步骤包括:
确定所述当前位置与所述凹凸曲面之间的基准距离;
计算所述实时距离与所述基准距离的差值;
将所述差值与所述凹凸曲面的凹凸程度进行比较,并结合所述凹凸曲面的凹凸程度与所述端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定所述转子的实时位置。
3.根据权利要求2所述的转子位置测量方法,其特征在于,所述凹凸曲面中的各个凸出部分和凹陷部分交叉设置,且每个凸出部分和凹陷部分各自的形状对称,所述确定所述当前位置与所述凹凸曲面之间的基准距离的步骤包括:
以各个所述凸出部分和所述凹陷部分之间的对称平面为所述凹凸曲面的基准平面;
计算所述当前位置与所述基准平面之间的距离以确定所述当前位置与所述凹凸曲面之间的基准距离。
4.一种电机的控制方法,其特征在于,所述控制方法采用权利要求1至3中任一项所述的转子位置测量方法,所述控制方法还包括:
根据所述转子的实时位置生成对应的换相控制信号以对定子中的线圈绕组进行换相控制。
5.一种电机的转子位置测量装置,其特征在于,所述转子设置有至少一对磁极,所述转子的两端中的一端面设置有凹凸曲面,所述凹凸曲面的凹凸程度与所述端面中磁极的磁场强度相对应,所述电机上设置有测距模块,所述位置测量装置包括:
距离测量单元,用于测量所述测距模块自身所在的当前位置与所述凹凸曲面之间的实时距离;
位置确定单元,用于根据所述实时距离,以及所述凹凸曲面的凹凸程度与所述端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定所述转子的实时位置。
6.一种电机的控制装置,其特征在于,所述控制装置采用权利要求1至3中任一项所述的转子位置测量方法确定所述转子的实时位置,所述控制装置还包括:
换相控制单元,用于根据所述转子的实时位置生成对应的换相控制信号以对定子中的线圈绕组进行换相控制。
7.一种电机的控制电路,其特征在于,所述电机的转子设置有至少一对磁极,所述转子的两端中的一端面设置有凹凸曲面,所述凹凸曲面的凹凸程度与所述端面中磁极的磁场强度相对应,所述电机上设置有测距模块,所述控制电路包括:
距离测量电路,用于测量所述测距模块自身所在的当前位置与所述凹凸曲面之间的实时距离并发送至控制器;
所述控制器用于根据所述实时距离,以及所述凹凸曲面的凹凸程度与所述端面中每个磁极的磁场强度之间的对应关系确定所述转子的实时位置,生成对应的换相控制信号;
开关驱动电路,用于接收所述控制器发送的换相控制信号以对定子中的线圈绕组进行换相控制。
8.一种可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序在被处理器执行时实施权利要求1至3中任一项所述的转子位置测量方法。
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