CN113138059A - 共振耐久考核方法、装置、设备、系统及存储介质 - Google Patents

共振耐久考核方法、装置、设备、系统及存储介质 Download PDF

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CN113138059A CN202110520659.XA CN202110520659A CN113138059A CN 113138059 A CN113138059 A CN 113138059A CN 202110520659 A CN202110520659 A CN 202110520659A CN 113138059 A CN113138059 A CN 113138059A
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Abstract

本发明实施例提供一种共振耐久考核方法、装置、设备、系统及存储介质,其中方法包括:通过对待测样件多个位置进行扫频试验,确定各个位置对应的共振频率,根据试验得到的多个共振频率,确定多个共振频率的统一考核时间,将各个共振频率对应的激励信号叠加,并加速处理得到统一考核时间对应的考核谱,根据计算得到的统一考核时间以及考核谱,对待测样件进行振动耐久考核,本发明实施例提供的方法、装置、设备、系统及存储介质能够缩短试验周期,节约试验成本。

Description

共振耐久考核方法、装置、设备、系统及存储介质
技术领域
本发明涉及测试技术领域,尤其涉及一种共振耐久考核方法、装置、设备、系统及存储介质。
背景技术
振动是零部件工作过程的一种重要表现形式,零部件系统在工作过程中,承受着发动机、其他旋转机械及路面冲击等振动激励,当振动激励过大时容易导致系统故障失效,造成一定的经济损失。为了提高零部件系统振动的可靠性,可对系统进行共振耐久考核。
现有技术的共振耐久考核需搭载发动机台架或整车进行,对系统中每一零部件依次进行单一共振频率的考核,这种考核方法存在考核周期长,试验成本高等问题。
发明内容
本发明实施例提供一种共振耐久考核方法、装置、设备、系统及存储介质,用以缩短零部件共振耐久考核周期,减少试验成本。
第一方面,本发明实施例提供一种共振耐久考核方法,所述方法包括:
通过对待测样件多个位置进行扫频试验,确定各个位置对应的共振频率;
根据试验得到的多个共振频率,确定所述多个共振频率的统一考核时间;
将各个共振频率对应的激励信号叠加,并加速处理得到所述统一考核时间对应的考核谱;
根据计算得到的统一考核时间以及考核谱,对所述待测样件进行振动耐久考核。
可选的,对待测样件多个位置进行扫频试验,确定各个位置对应的共振频率,包括:
按照预设的频率变化率、扫频顺序以及频率范围,对所述待测样件进行扫频试验;
获取扫频试验过程中在所述待测样件多个位置分别安装的传感器采集到的测量数据;
根据所述测量数据,确定各个位置对应的共振频率。
可选的,根据试验得到的多个共振频率,确定所述多个共振频率的统一考核时间,包括:
根据试验得到的各个共振频率,计算每一共振频率对应的考核时间;
从各个共振频率对应的考核时间中选择所述统一考核时间。
可选的,从各个共振频率对应的考核时间中选择所述统一考核时间,包括:
将各个共振频率对应的考核时间由短到长进行排序;
选择排序第一的考核时间,并重复执行下述步骤,直至所述多个位置对应的测试加速度均满足要求:
计算以当前选择的考核时间作为统一考核时间时,所述待测样件对应的测试加速度;
根据每个位置的属性信息,确定所述测试加速度是否满足要求;
若所述测试加速度均满足要求,则确定所选择的考核时间为所述统一考核时间;
若所述测试加速度不满足要求,则选择下一考核时间。
可选的,将各个共振频率对应的激励信号叠加,并加速处理得到所述统一考核时间对应的考核谱,包括:
将各个共振频率对应的激励信号叠加,得到时域加速度信号;
根据所述时域加速度信号计算疲劳损伤谱,并根据疲劳损伤谱进行加速处理,得到所述统一考核时间对应的功率谱密度,所述考核谱为计算得到的所述功率谱密度。
第二方面,本发明实施例提供一种共振耐久考核装置,所述装置包括:
第一确定模块,用于通过对待测样件多个位置进行扫频试验,确定各个位置对应的共振频率;
第二确定模块,用于根据试验得到的多个共振频率,确定所述多个共振频率的统一考核时间;
得到模块,用于将各个共振频率对应的激励信号叠加,并加速处理得到所述统一考核时间对应的考核谱;
考核模块,用于根据计算得到的统一考核时间以及考核谱,对所述待测样件进行振动耐久考核。
第三方面,本发明实施例提供一种共振耐久考核设备,包括:
至少一个处理器和存储器;
所述存储器存储计算机执行指令;
所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令,使得所述至少一个处理器执行如上第一方面任一项所述的共振耐久考核方法。
第四方面,本发明实施例提供一种试验系统,包括用于固定待测样件的试验台以及如上第三方面所述的共振耐久考核设备。
第五方面,本发明实施例提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令,所述计算机执行指令被处理器执行时,用于实现如上第一方面任一项所述的共振耐久考核方法。
第六方面,本发明实施例提供一种计算机程序产品,包括计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上第一方面任一项所述的共振耐久考核方法。
本发明实施例提供的共振耐久考核方法、装置、设备、系统及存储介质,通过对待测样件多个位置进行扫频试验,确定各个位置对应的共振频率,根据试验得到的多个共振频率,确定所述多个共振频率的统一考核时间,将各个共振频率对应的激励信号叠加,并加速处理得到所述统一考核时间对应的考核谱,根据计算得到的统一考核时间以及考核谱,对所述待测样件进行振动耐久考核,能够缩短试验周期,节约试验成本。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本发明的实施例,并与说明书一起用于解释本发明的原理。
图1为本发明实施例提供的一种应用场景示意图;
图2为本发明实施例提供的一种共振耐久考核方法的流程示意图;
图3为本发明实施例提供的一种选择统一考核时间的流程示意图;
图4为本发明实施例提供的振动载荷加速处理的流程示意图;
图5为本发明实施例提供的一种共振耐久考核装置的结构示意图;
图6为本发明实施例提供的一种共振耐久考核设备的结构示意图。
通过上述附图,已示出本发明明确的实施例,后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本发明构思的范围,而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本发明的概念。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明,其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时,除非另有表示,不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本发明相一致的所有实施方式。相反,它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明的一些方面相一致的装置和方法的例子。
下面以具体地实施例对本发明的技术方案以及本发明的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合,对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。
下面对本发明实施例提供的一种应用场景进行解释:本发明实施例提供的方案,涉及到零部件的共振耐久考核。零部件是各个机器组成必不可少的一部分。零部件在组装成机器的一部分时,需要对零部件进行共振耐久考核,也就是模拟零部件在实际工作时的环境,测试零部件的工作时长。这样可以减少零部件在实际工作时出现的异常情况,提高零部件产品的可靠性。
图1为本发明实施例提供的一种应用场景示意图。如图1所示,在汽车10的发动机部位安装零部件系统20,其中零部件系统20由多个零部件30组成。当汽车10在行驶过程中,多个零部件30会因发动机的一些内部运动以及一些道路的情况,出现振动现象。当振动程度过大或振动时长太久,超过零部件的耐受程度时,可能会导致零部件脱落或失效,从而造成一些严重的后果。
在一些技术中,考虑零部件系统中每一零部件的共振耐受程度。在得到每一零部件的共振频率后,将零部件系统放置到发动机台架或整车中,依次对每一个零部件进行单一共振频率考核,得到每一个零部件的共振考核时间。这种方法对零部件的共振考核存在考核时间长,试验成本高等问题。
因此,本发明的实施例提供了一种共振耐久考核的方法,可以先通过扫频试验确定零部件的共振频率,计算各共振频率对应的耐久考核时间及考核谱,等效加速到统一时间的多频率考核谱,从而可以实现多共振频率同时进行振动耐久考核,缩短试验周期,减少试验成本,提高产品的可靠性。
下面结合附图,对本发明的一些实施方式作详细说明。在各实施例之间不冲突的情况下,下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
图2为本发明实施例提供的一种共振耐久考核方法的流程示意图。如图2所示,本实施例中的方法可以包括:
步骤201、通过对待测样件多个位置进行扫频试验,确定各个位置对应的共振频率。
其中,所述待测样件可以为待进行共振耐久测试的一个或多个零部件。共振频率是指该待测样件在特定频率下,比其他频率以更大的振幅做振动的情形,此特定频率就称为共振频率。
可选的,在对待测样件进行扫频试验时,可将待测样件固定在振动试验台上进行试验。其中,振动试验台可以是电磁式振动试验台,用于模拟零部件在实际工作过程中的环境,检测待测样件的耐振性能。
步骤202、根据试验得到的多个共振频率,确定所述多个共振频率的统一考核时间。
可选的,在对待测样本进行测试时,在多个位置放置有传感器,可以通过传感器得到各位置对应的共振频率,从而可以得到待测样件的多个共振频率。每个共振频率对应一个共振考核时间,多个共振频率可以得到多个共振考核时间,可以从多个考核时间中选取一个合适的考核时间,得到多个共振频率对应的统一考核时间。
步骤203、将各个共振频率对应的激励信号叠加,并加速处理得到所述统一考核时间对应的考核谱。
其中,激励信号也就是施加的加速度信号。例如,当零部件的共振频率是10Hz时,其对应的激励信号可以为10Hz的正弦信号。
可选的,每个共振频率对应一个激励信号,将各个共振频率对应的激励信号进行叠加,叠加完以后做加速处理可以得到统一考核时间对应的考核谱。
步骤204、根据计算得到的统一考核时间以及考核谱,对所述待测样件进行振动耐久考核。
其中,振动耐久为预测或验证零部件结构耐振性能进行的试验。
可选的,根据得到的统一考核时间和考核谱,将待测样件放置于振动试验台上,对待测样件进行振动耐久考核。
在实际应用中,待测样件的不同位置可以对应于不同的共振频率。在单频耐久测试的方案中,对于每一共振频率,可以根据所述共振频率计算出对应的考核时间,再根据所述共振频率对应的激励信号,得到该考核时间下的考核谱,从而可以依据每一共振频率对应的考核时间和考核谱,依次对各个共振频率进行耐久测试。而本发明实施例中,在得到多个共振频率后,可以根据多个共振频率确定统一的考核时间,再将多个共振频率对应的激励信号进行叠加,根据叠加后的信号得到统一的考核时间对应的考核谱,从而可以实现同时对多个共振频率激进行测试。
本实施例提供的共振耐久考核方法,通过对待测样件多个位置进行扫频试验,确定各个位置对应的共振频率,根据试验得到的多个共振频率,确定所述多个共振频率的统一考核时间,将各个共振频率对应的激励信号叠加,并加速处理得到所述统一考核时间对应的考核谱,根据计算得到的统一考核时间以及考核谱,对所述待测样件进行振动耐久考核,能够缩短试验周期,节约试验成本。
在上述实施例提供的技术方案的基础上,可选的,对待测样件多个位置进行扫频试验,确定各个位置对应的共振频率,包括:
按照预设的频率变化率、扫频顺序以及频率范围,对待测样件进行扫频试验;获取扫频试验过程中在所述待测样件多个位置分别安装的传感器采集到的测量数据;根据所述测量数据,确定各个位置对应的共振频率。
其中,传感器可以用来测量加速度。
可选的,在对待测样件进行扫频试验之前,先获取待测样件在实际情况中发动机的转速,或是根据经验值得到的发送机的转速,或是在台架上直接采取发动机的转速,根据如下公式(1)得到工作转速在该工作情况下对应的待测样件的工作频率,通过工作频率采集该工作情况下的激励加速信号,使得该加速度值更贴近实际使用时的加速度值,避免在试验时,给予待测样件施加一个过大或过小的加速度值,损坏待测样件或导致试验结果不准确。
Figure BDA0003063824740000071
其中,Fd表示第d个位置对应的实测频率,单位为Hz,d=1,2,3,…;nd表示第d个位置对应的转速,单位为r/min,d=1,2,3,…;i表示阶次,二冲程发动机
Figure BDA0003063824740000072
四冲程发动机i=0.5,1.0,1.5,…。
可选的,根据试验前获取的待测样件的实际加速度值。在测试时将待测样件固定到振动试验台上,参考实际加速度值,给予待测样件合适的加速度值,针对待测样件在测试试验中的位移量、变化量等较大的部位,将多个传感器放置在待测样件不同的位置。
具体来说,假设待测样件在实际工作时对应的发动机的共振转速为1000r/min,该共振转速对应的加速度为1g,当将待测样件放置到振动试验台进行试验时,可以对待测样件施加1g的加速度。在试验中待测样件的中间位置有了明显的位移变化,可以将传感器放置在中间的位置。
在本实施例中,确定传感器安装的位置是为了确定共振频率是样件本身的共振频率,不受其他地方的影响,也不是由其他部分带起来的振动产生的。可选的,在对待测样件进行扫频试验时,只需要进行一次扫频试验即可,先根据待测样件在实际工作环境的频率值,设定待测样件在试验时的频率变化率、扫频顺序以及扫频试验的频率变化范围,一次扫频试验结束后,每个传感器会采集到不同的测量数据,根据得到的测量数据,可以得到不同的波形,将波形确定下来,可通过阵形判断待测样件某一位置的共振频率。根据传感器的波形显示的峰值确定其共振频率,根据多个传感器确定的波形,可得到多个共振频率。
具体来说,在对待测样件进行扫频试验时,可先设定频率变化率为1Hz/s,扫频顺序为低频-高频-低频,频率变化范围是10-10000Hz。在扫频时,频率的变化范围是10Hz-11Hz-12Hz-……-9999Hz-10000Hz-9999Hz-9998Hz-……-11Hz-10Hz,在一次扫频结束后,得到某一传感器的波形的峰值为340,则得到该待测样件的某一位置对应的共振频率为340Hz。
在扫频时,根据提前设定好的频率变化率、扫频顺序以及频率范围,根据传感器获得的测量数据,得到具体的波形图,可以准确测得待测样件中各个位置对应的共振频率。
可选的,根据试验得到的多个共振频率,确定所述多个共振频率的统一考核时间,包括:
根据试验得到的各个共振频率,计算每一共振频率对应的考核时间;从各个共振频率对应的考核时间中选择所述统一考核时间。
可选的,将待测样件某一位置的共振频率,带入如下公式(2)中,得到该位置共振频率对应的考核时间。根据试验得到的多个共振频率,计算待测样件中每个共振频率对应的考核时间,得到待测样件各个位置对应的考核时间,从求得的多个考核时间中选取一个合适的考核时间作为待测样件的统一考核时间。例如,可以从多个共振考核时间中选择最长的一个考核时间。
Figure BDA0003063824740000081
其中,N表示单方向共振耐久循环数,可选的,N=1×107。F表示共振频率。
在实际应用中,可以对特定的某一方向进行共振耐久测试,也可以针对多个方向进行共振耐久测试。通过对待测样件的三个方向进行共振频率测试,可以从三个共振频率中得到一个考核时间,再选取待测样件最合适的统一考核时间,得到的考核时间能满足所有位置对应的加速度值。
图3为本发明实施例提供的一种选择统一考核时间的流程示意图。如图3所示,在从各个共振频率对应的考核时间中选择所述统一考核时间时,可以先将各个共振频率对应的考核时间由短到长进行排序,再选择排序第一的考核时间,并重复执行下述步骤,直至所述多个位置对应的测试加速度均满足要求:
步骤301、计算以当前选择的考核时间作为统一考核时间时,所述待测样件对应的测试加速度。
可选的,在确定考核时间对应的测N表示试加速度时,可通过如下公式(3),得到需要在待测样件上施加的加速度值。
(g0/g1)=(T1/T0)K (3)
其中,g0可以是待测样件在实际工况中的加速度值,表示规定的正弦振动量值(峰值加速度),单位为g。
Figure BDA0003063824740000082
N表示单方向共振耐久循环数,Fd表示待测样件的实测频率,可以从实际工况中得到的实测频率根据公式计算求得的规定时间T0,单位为h。T1为当前选择的考核时间,单位为h,K表示材料常量(取决于log/log疲劳曲线或S/N曲线),在公式(3)中已知三个变量,可以得到施加的测试加速度g1,所述测试加速度可以具体用于表示施加的正弦振动量值(峰值加速度)。
例如,在对待测样件进行共振耐久考核时,测得待测样件中有五个共振频率,其共振频率分别为40,50,60,70,80(单位:Hz)。其对应的最短考核时间为1×107/80min,则可以先选择所述最短考核时间作为统一考核时间,确定对应的测试加速度。
其中,所述测试加速度可以是指以所述统一考核时间对所述待测样件进行共振耐久测试时,施加在所述待测样件上的加速度。所述统一考核时间越长,所述测试加速度可能越小;所述统一考核时间越短,所述测试加速度可能越大。
步骤302、根据每个位置的属性信息,确定所述测试加速度是否满足要求。
在本实施例中,得到待测样件各位置对应的考核时间后,对得到的考核时间由短到长进行排序,先选取时间最短的考核时间作为统一考核时间,再选取该位置的属性信息,即对应的S/N曲线,根据S/N曲线,得到加速度参考值,并从加速度参考值中选取该位置对应的极限加速度值。其中,各零部件对应的S/N曲线,也可以称为限值,或是经验值,或是累积的一个数据,根据这个值可以得到各位置对应的极限加速度值。
可选的,根据S/N曲线确定各位置对应的极限加速度值,再判断所述测试加速度是否满足待测样件中各位置对应的极限加速度值。
步骤303、若所述测试加速度均满足要求,则确定所选择的考核时间为所述统一考核时间。
可选的,若确定的测试加速度值均小于待测样件各位置对应的极限加速度值,则测试加速度值对应的考核时间为所求的统一考核时间。
步骤304、若所述测试加速度不满足要求,则选择下一考核时间。
在本实施例中,若确定的测试加速度值大于至少一个其他位置对应的极限加速度值,则该考核时间不满足要求。根据考核时间的排序,将时间延长,选取下一个考核时间,根据下一考核时间对应的测试加速度值再进行进一步的判断,直到选出合适的统一考核时间。
可选的,将各位置对应的共振频率带入公式(4)中,可以求得单频共振考核叠加的时间。显然选取合适的统一考核时间要比单频共振时间要短。
Figure BDA0003063824740000101
其中,n表示共振频率的数量,其中,Ft为第t个共振频率。
具体来说,在对待测样件进行共振耐久考核时,测得待测样件中有五个共振频率,其共振频率分别为10,20,30,40,50(单位:Hz)。其对应的最短考核时间为1×107/50min,确定该考核时间对应的测试加速度为2g。其中共振频率是30Hz的位置对应的极限加速度为1g,在对待测样件施加最短考核时间对应的测试加速度时,超过了共振频率为30Hz位置的极限加速度,因此需要将时间延长,判断考核时间稍微较长的下一个考核时间值。当考核时间为1×107/40min时,该考核时间对应的测试加速度值是否小于所有位置对应的极限加速度值,若该考核时间对应的测试加速度值为0.5g,不会超过所有位置对应的极限加速度值,则得到该待测样件的统一考核时间为1×107/40min。相应的,从多个考核时间中得到统一的考核时间比单频依次进行考核的叠加时间明显减小。
通过对共振频率对应的考核时间进行排序,根据待测样件各位置的属性信息,选出能满足所有位置极限加速度对应的最短时间,从而能从全部考核时间中选取最合适的统一考核时间,这样得到的统一考核时间比单频依次进行需要的考核时间短。
可选的,将各个共振频率对应的激励信号叠加,并加速处理得到所述统一考核时间对应的考核谱,包括:
将各个共振频率对应的激励信号叠加,得到时域加速度信号;根据所述时域加速度信号计算疲劳损伤谱,并根据疲劳损伤谱进行加速处理,得到所述统一考核时间对应的功率谱密度,所述考核谱为计算得到的所述功率谱密度。
其中,考核谱,又称为功率谱密度(power spectral density简称PSD)谱。
图4为本发明实施例提供的振动载荷加速处理的流程示意图。如图4所示,输入时域加速度信号,也就是激励信号,计算冲击响应谱,将待测样件中测得的每个共振频率作为固有频率,计算得到自由度振动系统在上述每个频率下受到同一激励载荷的响应曲线,将这些曲线的最大值做成包络线,得到冲击响应谱,根据得到的冲击响应谱,可以得到最大值包络冲击响应谱。
可选的,输入时域加速度信号,也就是加速度激励信号,对每个频率下的响应进行雨流计数后,再调用S/N曲线,计算疲劳损伤谱,得到疲劳损伤谱,利用Miner法则,将待测样件的疲劳损伤谱乘以对应的循环次数,累加疲劳损伤谱,得到总损伤谱,根据疲劳损伤谱合成加速的台架试验功率谱密度,计算极限响应谱,可判断极限响应谱是否小于最大值包络冲击响应谱,来检验考核谱是否有效。若极限响应谱小于最大值包络冲击响应谱,则考核谱是有效的,否则无效。
在本实施例中,统一考核时间确定之后,将各共振频率对应的激励信号叠加起来,得到时域加速度信号。根据时域加速度信号得到疲劳损伤谱,再对待测样件做加速处理,计算得到统一考核时间对应的考核谱。
可选的,如下公式(5)可以用来求待测样件单频位置施加的加速度密度谱。
(W0/W1)=(T1/T0)K (5)
其中,W0表示规定的随机振动量值(加速度谱密度),单位g2/Hz,W1表示施加的随机振动量值(加速度谱密度),单位g2/Hz。公式(3)和公式(5)表示两种加速方式对待测样件某一位置进行单频考核,两者达到的疲劳损伤效果是一样的,对待测样件的破坏效果是一样的。
可选的,在进行单频考核时,根据每一位置得到的加速度值以及共振频率,确定考核谱。通过叠加计算得到的考核谱包含其他单频计算出来的考核谱,可以得到这种方法在理论上是可行的。
具体地,在待测样件安装有十个传感器,十个传感器对应的共振频率分别是10Hz,20Hz,30Hz,……,100Hz,对应的统一考核时间为1×107/50min。其中,一个零部件的共振频率是10Hz,那么他对应的激励信号就是10Hz的正弦信号,将10-100Hz的正弦信号叠加起来,叠加完成之后得到时域加速度信号,根据时域加速度信号求得疲劳损伤谱,再对待测样件进行加速得到的考核谱就是统一考核时间1×107/50min的考核谱。其中,考核谱上有每一个频率对应的加速度。
通过将共振频率对应的激励信号进行叠加,求得疲劳损伤谱,对待测样件进行加速处理,得到统一考核时间对应的考核谱,该叠加后的考核谱可以包络所有位置单频共振考核时对应的考核谱,因此,叠加后的考核谱具有一定可行性。
图5为本发明实施例提供的一种共振耐久考核装置的结构示意图。如图5所示,本实施例提供的共振耐久考核装置,可以包括:
第一确定模块501,用于通过对待测样件多个位置进行扫频试验,确定各个位置对应的共振频率;
第二确定模块502,用于根据试验得到的多个共振频率,确定所述多个共振频率的统一考核时间;
得到模块503,用于将各个共振频率对应的激励信号叠加,并加速处理得到所述统一考核时间对应的考核谱;
考核模块504,用于根据计算得到的统一考核时间以及考核谱,对所述待测样件进行振动耐久考核。
可选的,所述第一确定模块501具体用于:
按照预设的频率变化率、扫频顺序以及频率范围,对待测样件进行扫频试验;
获取扫频试验过程中在所述待测样件多个位置分别安装的传感器采集到的测量数据;
根据所述测量数据,确定各个位置对应的共振频率。
可选的,所述第二确定模块502具体用于:
根据试验得到的各个共振频率,计算每一共振频率对应的考核时间;
从各个共振频率对应的考核时间中选择所述统一考核时间。
所述第二确定模块502在从各个共振频率对应的考核时间中选择所述统一考核时间时,具体用于:
将各个共振频率对应的考核时间由短到长进行排序;
选择排序第一的考核时间,并重复执行下述步骤,直至所述多个位置对应的测试加速度均满足要求:
计算以当前选择的考核时间作为统一考核时间时,所述待测样件对应的测试加速度;
根据每个位置的属性信息,确定所述测试加速度是否满足要求;
若所述测试加速度均满足要求,则确定所选择的考核时间为所述统一考核时间;
若所述测试加速度不满足要求,则选择下一考核时间。
可选的,所述得到模块503,具体用于:
将各个共振频率对应的激励信号叠加,得到时域加速度信号;
根据所述时域加速度信号计算疲劳损伤谱,并根据疲劳损伤谱进行加速处理,得到所述统一考核时间对应的功率谱密度,所述考核谱为计算得到的所述功率谱密度。
本实施例提供的装置可以执行如图1-图4所示的方法实施例的技术方案,其实现原理和技术效果类似,此处不再赘述。
图6为本发明实施例提供的一种共振耐久考核设备的结构示意图。如图6所示,本实施例提供的设备,可以包括:至少一个处理器61和存储器62;
所述存储器62存储计算机执行指令;
所述至少一个处理器61执行所述存储器62存储的计算机执行指令,使得所述至少一个处理器61执行上述任一实施例所述的方法。
其中,存储器62和处理器61可以通过总线63连接。
本实施例提供的设备的具体实现原理和效果可以参见图1-图4所示实施例对应的相关描述和效果,此处不做过多赘述。
本发明实施例还提供一种试验系统,包括用于固定待测样件的试验台以及所述的共振耐久考核设备。
其中,所述设备根据计算得到的统一考核时间以及考核谱,对所述待测样件进行振动耐久考核,具体可以是指:将所述统一考核时间以及考核谱输出给振动试验台,由所述振动试验台根据所述统一考核时间以及考核谱对待测样件施加相应的信号,以实现对所述待测样件的振动耐久考核。
本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行以实现本发明任一实施例提供的共振耐久考核方法。
本发明实施例还提供一种计算机程序产品,包括计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现本发明任一实施例所述的共振耐久考核方法。
在本发明所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,模块的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或模块的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的,作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案。
另外,在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个模块单独物理存在,也可以两个或两个以上模块集成在一个单元中。上述模块成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
上述以软件功能模块的形式实现的集成的模块,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能模块存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)或处理器执行本发明各个实施例所述方法的部分步骤。
应理解,上述处理器可以是中央处理单元(Central Processing Unit,简称CPU),还可以是其它通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,简称DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,简称ASIC)等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合发明所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件处理器执行完成,或者用处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。
存储器可能包含高速RAM存储器,也可能还包括非易失性存储NVM,例如至少一个磁盘存储器,还可以为U盘、移动硬盘、只读存储器、磁盘或光盘等。
总线可以是工业标准体系结构(Industry Standard Architecture,简称ISA)总线、外部设备互连(Peripheral Component Interconnect,简称PCI)总线或扩展工业标准体系结构(Extended Industry Standard Architecture,简称EISA)总线等。总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示,本发明附图中的总线并不限定仅有一根总线或一种类型的总线。
上述存储介质可以是由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现,如静态随机存取存储器(SRAM),电可擦除可编程只读存储器(EEPROM),可擦除可编程只读存储器(EPROM),可编程只读存储器(PROM),只读存储器(ROM),磁存储器,快闪存储器,磁盘或光盘。存储介质可以是通用或专用计算机能够存取的任何可用介质。
一种示例性的存储介质耦合至处理器,从而使处理器能够从该存储介质读取信息,且可向该存储介质写入信息。当然,存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于专用集成电路(Application Specific Integrated Circuits,简称ASIC)中。当然,处理器和存储介质也可以作为分立组件存在于电子设备或主控设备中。
本领域普通技术人员可以理解:实现上述各方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成。前述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中。该程序在执行时,执行包括上述各方法实施例的步骤;而前述的存储介质包括:ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后,将容易想到本发明的其它实施方案。本发明旨在涵盖本发明的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本发明的一般性原理并包括本发明未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本发明的真正范围和精神由下面的权利要求书指出。
应当理解的是,本发明并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构,并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本发明的范围仅由所附的权利要求书来限制。

Claims (10)

1.一种共振耐久考核方法,其特征在于,包括:
通过对待测样件多个位置进行扫频试验,确定各个位置对应的共振频率;
根据试验得到的多个共振频率,确定所述多个共振频率的统一考核时间;
将各个共振频率对应的激励信号叠加,并加速处理得到所述统一考核时间对应的考核谱;
根据计算得到的统一考核时间以及考核谱,对所述待测样件进行振动耐久考核。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对待测样件多个位置进行扫频试验,确定各个位置对应的共振频率,包括:
按照预设的频率变化率、扫频顺序以及频率范围,对所述待测样件进行扫频试验;
获取扫频试验过程中在所述待测样件多个位置分别安装的传感器采集到的测量数据;
根据所述测量数据,确定各个位置对应的共振频率。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据试验得到的多个共振频率,确定所述多个共振频率的统一考核时间,包括:
根据试验得到的各个共振频率,计算每一共振频率对应的考核时间;
从各个共振频率对应的考核时间中选择所述统一考核时间。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,从各个共振频率对应的考核时间中选择所述统一考核时间,包括:
将各个共振频率对应的考核时间由短到长进行排序;
选择排序第一的考核时间,并重复执行下述步骤,直至所述多个位置对应的测试加速度均满足要求:
计算以当前选择的考核时间作为统一考核时间时,所述待测样件对应的测试加速度;
根据每个位置的属性信息,确定所述测试加速度是否满足要求;
若所述测试加速度均满足要求,则确定所选择的考核时间为所述统一考核时间;
若所述测试加速度不满足要求,则选择下一考核时间。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将各个共振频率对应的激励信号叠加,并加速处理得到所述统一考核时间对应的考核谱,包括:
将各个共振频率对应的激励信号叠加,得到时域加速度信号;
根据所述时域加速度信号计算疲劳损伤谱,并根据疲劳损伤谱进行加速处理,得到所述统一考核时间对应的功率谱密度,所述考核谱为计算得到的所述功率谱密度。
6.一种共振耐久考核装置,其特征在于,所述装置包括:
第一确定模块,用于通过对待测样件多个位置进行扫频试验,确定各个位置对应的共振频率;
第二确定模块,用于根据试验得到的多个共振频率,确定所述多个共振频率的统一考核时间;
得到模块,用于将各个共振频率对应的激励信号叠加,并加速处理得到所述统一考核时间对应的考核谱;
考核模块,用于根据计算得到的统一考核时间以及考核谱,对所述待测样件进行振动耐久考核。
7.一种共振耐久考核设备,其特征在于,包括:至少一个处理器和存储器;
所述存储器存储计算机执行指令;
所述至少一个处理器执行所述存储器存储的计算机执行指令,使得所述至少一个处理器执行如权利要求1-5任一项所述的共振耐久考核方法。
8.一种试验系统,其特征在于,包括用于固定待测样件的试验台以及如权利要求7所述的共振耐久考核设备。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质中存储有计算机执行指令,所述计算机执行指令被处理器执行时用于实现如权利要求1-5任一项所述的共振耐久考核方法。
10.一种计算机程序产品,包括计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-5任一项所述的共振耐久考核方法。
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