CN113126714B - 一种服务器内存连接装置、服务器内存测试系统及方法 - Google Patents
一种服务器内存连接装置、服务器内存测试系统及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113126714B CN113126714B CN202110377303.5A CN202110377303A CN113126714B CN 113126714 B CN113126714 B CN 113126714B CN 202110377303 A CN202110377303 A CN 202110377303A CN 113126714 B CN113126714 B CN 113126714B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- memory
- server
- tested
- switch module
- remote server
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000015654 memory Effects 0.000 title claims abstract description 161
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 38
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 24
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims abstract description 7
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 20
- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims description 9
- 238000010998 test method Methods 0.000 abstract description 4
- 230000009225 memory damage Effects 0.000 abstract 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 4
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000012938 design process Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- 238000012966 insertion method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/16—Constructional details or arrangements
- G06F1/18—Packaging or power distribution
- G06F1/183—Internal mounting support structures, e.g. for printed circuit boards, internal connecting means
- G06F1/185—Mounting of expansion boards
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2273—Test methods
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3003—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored
- G06F11/3031—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored where the computing system component is a motherboard or an expansion card
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3065—Monitoring arrangements determined by the means or processing involved in reporting the monitored data
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
本发明提供了一种服务器内存连接装置、服务器内存测试系统及方法。所述装置包括:设置在服务器主板上的多个插槽,以及多个内存;转接板,所述转接板具有分别与每个插槽通信连接的端口,且每个端口分为与内存数量相同的多个通道;多个开关模组,每个开关模组对应转接板的一个端口和一个内存,每个开关模组的一端与所述多个通道连接,另一端与对应的内存连接,并且配置为选通多个通道中的任意一个通道以使内存与任意一个插槽连通。本发明的方案避免了直接对内存进行插拔操作,降低了内存损坏的风险,同时还使的插槽与内存的连接更为灵活可控,极大的节省了人力操作,为服务器内存测试提供了极大的便利。
Description
技术领域
本发明属于服务器技术领域,尤其涉及一种服务器内存连装置、服务器内存测试系统及方法。
背景技术
内存是服务器主板上的主要存储部件,在计算机存储层次结构中占有重要地位。内存的稳定性与可靠性,以及内存与主板的兼容性对于服务器设计至关重要。而在服务器的设计与生产过程中,不同品牌内存的差异性、服务器主板材质的差异性、PCB布局与走线设计等都是影响服务器主板与内存兼容性的因素。因而服务器开发测试过程中,RMT(RankMargin Test,排名优势测试)是必不可少的一环,其测试数据能在一定程度上反映服务器主板上内存的性能以及可靠性,研发人员可根据测试数据评估主板PCB器件布局与走线设计。
目前,传统测试内存RMT的常用的方法是通过手动设置BIOS的选项,然后连接BIOS串口,收集服务器开机日志,然后手动插拔内存,进行内存的平移(移位),然后再重复收集BIOS串口开机日志。通常为了得到比较准确的测试结果,一台服务器上通常要经过多次拔插内存,将内存按一定的规则进行移位,重复收集多组数据,来确保内存RMT测试的可靠性。在进行内存插拔的过程中,目前都是通过手动插拔内存来实现内存的移位,这样的测试方法不仅效率极低,而且反复插拔还可能损坏硬盘,严重时还会带来一定的经济损失。
发明内容
有鉴于此,有必要针对以上技术问题,提供无需人工进行插槽与内存插拔操作的一种服务器内存连装置、一种服务器内存测试系统、一种服务器内存测试方以及一种服务器。
根据本发明的第一方面,提供了一种服务器内存连装置,所述装置包括:
设置在服务器主板上的多个插槽,以及多个内存;
转接板,所述转接板具有分别与每个插槽通信连接的端口,且每个端口分为与内存数量相同的多个通道;
多个开关模组,每个开关模组对应转接板的一个端口和一个内存,每个开关模组的一端与所述多个通道连接,另一端与对应的内存连接,并且配置为选通多个通道中的任意一个通道以使内存与任意一个插槽连通。
在其中一个实施例中,所述装置还包括单片机,所述单片机与每一开关模组连接并配置用于生成导通或关闭对应开关模组的驱动信号。
在其中一个实施例中,每个开关模组均包括多个并联的MOS管;
多个并联的MOS管与端口的所述多个通道一一对应,每个MOS管的一端与通道连接,另一端与对应的内存连接;
所述单片机还与每个MOS管连接,并配置为向MOS管发送驱动信号以使MOS管导通或关闭。
在其中一个实施例中,所述插槽和所述内存均为四个。
根据本发明的第二方面,提供了一种服务器内存测试系统,包括待测试服务器和数据收集设备;
所述数据收集设备与所述待测试服务器连接,所述待测试服务器采用以上所述的装置连接主板与内存。
在其中一个实施例中,所述数据收集设备为远程服务器;
所述远程服务器通过串口线与所述待测试服务器连接,并配置为设置所述待测试服务器的BIOS选项以及收集开机日志;
所述远程服务器还与单片机连接,并配置为向所述单片机发送内存移位信号以使所述单片机根据所述内存移位信号生成对开关模组的驱动信号。
在其中一个实施例中,所述的系统还包括电源分配单元;
所述电源分配单元的一端与远程服务器连接,另一端与所述待测试服务连接,并配置为从远程服务器接收指令并根据接收到的指令控制所述待测试服务上电或下电。
根据本发明的第三方面,提供了一种服务器内存测试方法,所述方法采用以上所述服务器内存测试系统,所述方法包括:
利用远程服务器向电源分配单元发送上电指令以使待测试服务器开机;
利用远程服务器收集所述待测试服务器的开机日志;
若开机日志收集完成,则利用远程服务器向电源分配单元发送下电指令以使待测试服务器关机;
利用远程服务器向单片机发送内存移位信号,使所述单片机根据所述内存移位信号驱动MOS管导通或关闭以改变待测试服务器主板上插槽内存的对应关系,并返回至利用远程服务器向电源分配单元发送上电指令以使待测试服务器开机的步骤。
优选地,所述方法还包括:
对所述待测试服务器的开机次数进行统计;
若所述开机次数达到预设值,则在本次开机日志收集完成后停止测试。
根据本发明的第四方面,还提供了一种服务器,所述服务器包括主板和内存,主板和内存采用以上所述的服务器内存连接装置连接。
上述一种服务器内存连装置,将插槽与内存分离,并在插槽与内存之间通过转接板和多个开关模组连接,利用转接板将每个插槽分成多个通道,再利用开关模组进行多选一操作,即选通某个通道与对应内存连通,从而实现每个内存能够与主板上的每个插槽连通,避免了直接对内存进行插拔操作,降低了内存损坏的风险,同时还使的插槽与内存的连接更为灵活可控,极大的节省了人力操作,为服务器内存测试提供了极大的便利。
此外,本发明还提供了一种服务器内存测试系统、一种服务器内存测试方法和一种服务器,同样能实现上述技术效果,这里不再赘述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的实施例。
图1为本发明一个实施例提供的一种服务器内存连装置结构示意图;
图2为本发明又一个实施提供的服务器内存连装置内部信号流向示意图;
图3为本发明又一个实施例提供的一种服务器内存测试系统结构示意图;
图4为本发明又一个实施例提供的一种服务器内存测试方法的流程示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明实施例进一步详细说明。
需要说明的是,本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量,可见“第一”“第二”仅为了表述的方便,不应理解为对本发明实施例的限定,后续实施例对此不再一一说明。
在一个实施例中,请参照图1所示,本发明提供了一种服务器内存连接装置,所述装置包括:
设置在服务器主板上的多个插槽,以及多个内存;
转接板,所述转接板具有分别与每个插槽通信连接的端口,且每个端口分为与内存数量相同的多个通道;
多个开关模组,每个开关模组对应转接板的一个端口和一个内存,每个开关模组的一端与所述多个通道连接,另一端与对应的内存连接,并且配置为选通多个通道中的任意一个通道以使内存与任意一个插槽连通。
上述一种服务器内存连装置,将插槽与内存分离,并在插槽与内存之间通过转接板和多个开关模组连接,利用转接板将每个插槽分成多个通道,再利用开关模组进行多选一操作即选通某个通道与对应内存连通,从而实现每个内存能够与主板上的每个插槽连通,避免了直接对内存进行插拔操作,降低了内存损坏的风险,同时还使的插槽与内存的连接更为灵活可控,极大的节省了人力操作,为服务器内存测试提供了极大的便利。
在又一个实施例中,请继续参照图1和图2所示,所述装置还包括单片机,所述单片机与每一开关模组连接并配置用于生成导通或关闭对应开关模组的驱动信号。
优选地,每个开关模组均包括多个并联的MOS管;
多个并联的MOS管与端口的所述多个通道一一对应,每个MOS管的一端与通道连接,另一端与对应的内存连接;
所述单片机还与每个MOS管连接,并配置为向MOS管发送驱动信号以使MOS管导通或关闭。
在具体实施过程中,单片机可根据RMT测试用例规定的内存移位规则编写对应单片机代码,此代码可输出一个连续的高低电平信号,用来控制MOS管的导通或关闭。
在又一个实施了中,所述插槽和所述内存均为四个。
为了便于理解本发明的技术方案,由于通用M6大多数机器的内存插槽数量为32或者16,RMT测试时一般要求5次移位,为了增加内存转接板的兼容性,且满足5次移位的要求,本实施例将以包括四个通道的转接板为例进行说明,该服务器内连接装置包括:内存插槽1至内存插槽4、转接板、MOS管开关模组1至MOS管开关模组4,内存1至内存4;
转接板上内嵌MOS管开关模组1至MOS管开关模组4,相当于在内存与内存插槽之间加一个电路开关,且此开关可以受电平信号控制。以MOS管开关模组1为例,其内包括并联的四个MOS管开记作MOS管1至MOS关4,MOS管1至MOS管4的一端分别通过转接板的一个端口分出的四个通道连接至内存插口1至内存插口4,MOS管1至MOS管4的另一端分别连接至内存1至内存4,MOS管开关模组1至MOS管开关模组4均与单片机连接;MOS管开关实现内存的移位的具体实现方法如下:假如MOS管1开关闭合时,内存1就相当于插在内存插槽1上,当MOS管4开关闭合时,内存1就相当于插在内存插槽上,同理MOS管开关模组2与转接板配合实现内存2与任意一个内存插槽连通,MOS管开关模组3与转接板配合实现内存3与任意一个内存插槽连通,MOS管开关模组4与转接板配合实现内存4与任意一个内存插槽连通。这样通过单片机对MOS管开关模组的控制,就可以实现内存的移位。该装置(如上图1)既可以满足大多数机器的内存结构不会有干涉,且可以组成24种插法,完全满足内存移位要求。
在又一个实施例中,请参照图3所示,本发明还提供了一种服务器内存测试系统,所述的系统包括待测试服务器和数据收集设备;
所述数据收集设备与所述待测试服务器连接,所述待测试服务器采用以上所述的装置连接主板与内存。
其中,数据采集设备是指能够与待测试服务通信并能够读区待测试服务开机日志的现有设备,例如可以是终端、其它服务器、个人计算机等等。
优选地,所述数据收集设备为远程服务器;
所述远程服务器通过串口线与所述待测试服务器连接,并配置为设置所述待测试服务器的BIOS选项以及收集开机日志;
所述远程服务器还与单片机连接,并配置为向所述单片机发送内存移位信号以使所述单片机根据所述内存移位信号生成对开关模组的驱动信号。
优选地,所述的系统还包括电源分配单元;其中电源分配单元(PowerDistribution Unit)是电源末端分配到设备的工业标准的电源连接设备。
所述电源分配单元的一端与远程服务器连接,另一端与所述待测试服务连接,并配置为从远程服务器接收指令并根据接收到的指令控制所述待测试服务上电或下电。
在又一个实施例中,为了便于实现内存RMT测试全部自动化,RMT测试过程需要多次进行内存位移,本发明使用一台远程服务器,在远程服务器上运行自动化脚本,实现对待测试服务器BIOS选项的更改,在具体实施过程中BIOS选项设置只需要在第一开机是进行即可,请参照图4所示,本发明还提供了一种服务器内存测试方法,所述方法采用以上所述的系统:所述方法包括以下步骤:
步骤一、利用远程服务器向电源分配单元发送上电指令以使待测试服务器开机;
步骤二、利用远程服务器收集所述待测试服务器的开机日志;
步骤三、若开机日志收集完成,则利用远程服务器向电源分配单元发送下电指令以使待测试服务器关机;
步骤四、利用远程服务器向单片机发送内存移位信号,使所述单片机根据所述内存移位信号驱动MOS管导通或关闭以改变待测试服务器主板上插槽内存的对应关系,并返回至利用远程服务器向电源分配单元发送上电指令以使待测试服务器开机的步骤。
本发明的方法至少具有以下有益效果:
(1)实现自动的对待测试服务器BIOS选项的更改;
(2)通过PDU实现自动的控制待测试服务器的开机、关机操作;
(3)通过单片机对内存进行多次移位,移位结束后自动地通过BIOS串口开机log收集。
(4)整个测试过程无需人工进行内存的插拔、以及开关机操作,节省了大量的人力,极大的提高了内存测试的效率,降低了测试成本,同时也能避免多次插拔内存降低内存损坏的风险,减少测试带来的经济损耗。
优选地,所述方法还包括:
步骤五、对所述待测试服务器的开机次数进行统计;
步骤六、若所述开机次数达到预设值,则在本次开机日志收集完成后停止测试。
举例来说,通常内存RMT测试需要进行5次内存移位,可以将预设值设置为5,即单台服务器一共需要收集5组BIOS串口开机日志,这样就可以完成内存的RMT自动化测试。
在又一个实施例中,本发明还提供了一种服务器,所述服务器包括主板和内存,主板和内存采用以上所述的服务器内存连接装置连接。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM以多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (8)
1.一种服务器内存连接装置,其特征在于,所述装置包括:
设置在服务器主板上的多个插槽,以及多个内存;
转接板,所述转接板具有分别与每个插槽通信连接的端口,且每个端口分为与内存数量相同的多个通道;
多个开关模组,每个开关模组对应转接板的一个端口和一个内存,每个开关模组的一端与所述多个通道连接,另一端与对应的内存连接,并且配置为选通多个通道中的任意一个通道以使内存与任意一个插槽连通;
所述装置还包括单片机,所述单片机与每一开关模组连接并配置用于生成导通或关闭对应开关模组的驱动信号;
每个开关模组均包括多个并联的MOS管;
多个并联的MOS管与端口的所述多个通道一一对应,每个MOS管的一端与通道连接,另一端与对应的内存连接;
所述单片机还与每个MOS管连接,并配置为向MOS管发送驱动信号以使MOS管导通或关闭。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述插槽和所述内存均为四个。
3.一种服务器内存测试系统,其特征在于,包括待测试服务器和数据收集设备;
所述数据收集设备与所述待测试服务器连接,所述待测试服务器采用权利要求1或2所述的装置连接主板与内存。
4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,所述数据收集设备为远程服务器;
所述远程服务器通过串口线与所述待测试服务器连接,并配置为设置所述待测试服务器的BIOS选项以及收集开机日志;
所述远程服务器还与单片机连接,并配置为向所述单片机发送内存移位信号以使所述单片机根据所述内存移位信号生成对开关模组的驱动信号。
5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述的系统还包括电源分配单元;
所述电源分配单元的一端与远程服务器连接,另一端与所述待测试服务连接,并配置为从远程服务器接收指令并根据接收到的指令控制所述待测试服务上电或下电。
6.一种服务器内存测试方法,其特征在于,所述方法采用权利要求3到5任一项所述的系统,所述方法包括:
利用远程服务器向电源分配单元发送上电指令以使待测试服务器开机;
利用远程服务器收集所述待测试服务器的开机日志;
若开机日志收集完成,则利用远程服务器向电源分配单元发送下电指令以使待测试服务器关机;
利用远程服务器向单片机发送内存移位信号,使所述单片机根据所述内存移位信号驱动MOS管导通或关闭以改变待测试服务器主板上插槽内存的对应关系,并返回至利用远程服务器向电源分配单元发送上电指令以使待测试服务器开机的步骤。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
对所述待测试服务器的开机次数进行统计;
若所述开机次数达到预设值,则在本次开机日志收集完成后停止测试。
8.一种服务器,所述服务器包括主板和内存,其特征在于,主板和内存采用权利要求1或2所述的装置连接。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110377303.5A CN113126714B (zh) | 2021-04-08 | 2021-04-08 | 一种服务器内存连接装置、服务器内存测试系统及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110377303.5A CN113126714B (zh) | 2021-04-08 | 2021-04-08 | 一种服务器内存连接装置、服务器内存测试系统及方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113126714A CN113126714A (zh) | 2021-07-16 |
CN113126714B true CN113126714B (zh) | 2022-08-02 |
Family
ID=76775319
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202110377303.5A Active CN113126714B (zh) | 2021-04-08 | 2021-04-08 | 一种服务器内存连接装置、服务器内存测试系统及方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113126714B (zh) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103069358A (zh) * | 2010-06-07 | 2013-04-24 | 杰森·A·苏利万 | 关于电源、存储器、互连件与led的小型化技术、系统及装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103049364A (zh) * | 2012-12-21 | 2013-04-17 | 西安华芯半导体有限公司 | 可控转接卡 |
CN103049360B (zh) * | 2012-12-21 | 2015-08-19 | 西安华芯半导体有限公司 | 一种应用于内存模组在主板上测试的供电电压的调整方法 |
CN205015434U (zh) * | 2015-10-14 | 2016-02-03 | 长沙市博巨兴电子科技有限公司 | 一种用于烧录器转接卡的测试架 |
CN111324502A (zh) * | 2018-12-13 | 2020-06-23 | 英业达科技有限公司 | 批量测试系统及其方法 |
CN110502462B (zh) * | 2019-08-09 | 2021-07-06 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种ocp转接卡和服务器 |
CN111858198A (zh) * | 2020-06-19 | 2020-10-30 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种多方案内存插拔测试方法、系统、终端及存储介质 |
-
2021
- 2021-04-08 CN CN202110377303.5A patent/CN113126714B/zh active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103069358A (zh) * | 2010-06-07 | 2013-04-24 | 杰森·A·苏利万 | 关于电源、存储器、互连件与led的小型化技术、系统及装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN113126714A (zh) | 2021-07-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN202159328U (zh) | Usb端口测试装置 | |
CN112130061B (zh) | 芯片同步测试装置及芯片同步测试方法 | |
US9032262B2 (en) | Memory test method, memory test device, and adapter thereof | |
CN112069002B (zh) | 一种服务器热插拔调试装置及方法 | |
CN112511370B (zh) | 一种phy模式自主切换的信号测试系统 | |
CN115454903A (zh) | 一种接口拔插自动化操控装置及方法 | |
CN113126714B (zh) | 一种服务器内存连接装置、服务器内存测试系统及方法 | |
CN115083510A (zh) | 固态硬盘测试方法、装置、存储介质、电源及电子设备 | |
KR20080025155A (ko) | 시험 장치 | |
CN101477184A (zh) | 用电管理终端全自动测试系统 | |
CN216388068U (zh) | 一种pcie接口验证板及测试系统 | |
CN115662492A (zh) | 一种数据存储设备的量产测试方法及装置 | |
CN114265731A (zh) | 一种pcie接口验证板、测试系统及测试方法 | |
CN210722061U (zh) | 基于金手指连接方式可快速插拔的信息技术教学实验设备 | |
CN113010462A (zh) | 自动调整PCIe信道配置的电路结构与方法 | |
RU180602U1 (ru) | Коммутационная плата для тестирования параметров радиоэлектронной аппаратуры | |
CN219590813U (zh) | 一种固态硬盘的断电测试装置 | |
CN219369956U (zh) | 一种系统级芯片电源测试电路 | |
CN220305791U (zh) | 一种转接结构及验证系统 | |
CN220894890U (zh) | 控制电路、电路板组件及电子设备 | |
CN219285243U (zh) | 一种测试平台 | |
CN118212967A (zh) | 一种一站式硬盘自动化测试仪的多端口硬盘测试板 | |
CN220305792U (zh) | 一种转接结构及验证系统 | |
US11933842B2 (en) | Board adapter device, test method, system, apparatus, and device, and storage medium | |
CN220543599U (zh) | 一种测试电路板和测试装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |