CN113125815B - 电子组件测试装置与探针 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种电子组件测试装置与探针，所述电子组件测试装置包含载板以及探针。所述载板用以承载电子组件。所述探针包含接触部以及常闭型开关。接触部电性连接量测模块，并用以接触电子组件。常闭型开关电性连接量测模块，并受控于控制信号。当常闭型开关未收到控制信号时，常闭型开关提供旁路电流路径，旁路电流路径用以将量测模块导通至旁路端。当常闭型开关收到控制信号时，常闭型开关不提供该旁路电流路径。

Description

电子组件测试装置与探针

技术领域

本申请是关于一种测试装置与探针，特别是关于一种具静电放电保护功能的测试装置与探针。

背景技术

一般来说，由于产品对于静电放电的保护机制较为完善，使得电子组件在产品之中较不容易受到静电放电的破坏。然而，电子组件在安装到产品之前，往往无法抵抗静电放电的攻击。举例来说，电子组件出厂前会进行一连串的测试，以确保电子组件的质量。但是，测试的过程中遇到静电放电，例如在安装电子组件或用探针接触电子组件时，则很有可能因为此时缺少保护机制而导致电子组件的损坏。

此外，由于静电放电的攻击位置难以预测，如果静电放电的攻击位置很靠近电子组件，纵使测试电子组件的机台本身具有静电放电防护的功能，很可能也无法确实保护到电子组件。据此，业界需要一种新的静电放电保护的对策，以减少电子组件于测试时被静电放电破坏的可能性。

发明内容

有鉴于此，本申请的主要目的在于提供一种电子组件测试装置，所述电子组件测试装置中的探针接触到电子组件时，探针会先提供阻抗较低的旁路电流路径，以减少电子组件于测试时被静电放电破坏的可能性。

本申请提出一种电子组件测试装置，所述电子组件测试装置包含载板以及探针。所述载板用以承载电子组件。所述探针包含接触部以及常闭型开关。接触部电性连接量测模块，并用以接触电子组件。常闭型开关电性连接量测模块，并受控于控制信号。当常闭型开关未收到控制信号时，常闭型开关提供旁路电流路径，旁路电流路径用以将量测模块导通至旁路端。当常闭型开关收到控制信号时，常闭型开关不提供该旁路电流路径。

于一些实施例中，于旁路端电性连接接地端后，接触部可以接触电子组件，且载板也可以电性连接接地端。在此，常闭型开关可以为空乏型场效晶体管或常闭型继电器。此外，电子组件测试装置可以更包含盒体与侦测器，载板可拆卸地设置于盒体中，侦测器用以侦测盒体的使用状态，据以产生盒体状态信号。另外，电子组件测试装置也可以包含处理单元，处理单元判断盒体状态信号是否正常，当盒体状态信号正常，则处理单元提供控制信号。所述盒体可以由金属制成，用以提供静电屏蔽或磁场屏蔽的功能。

本申请提供一种探针，在接触到电子组件时，探针会先提供阻抗较低的旁路电流路径，以减少电子组件于测试时被静电放电破坏的可能性。

本申请提出一种探针，包含第一电流路径、第二电流路径以及常闭型开关。第一电流路径电性连接于信号端和接触部之间，接触部用以电性连接电子组件。第二电流路径电性连接于信号端和旁路端之间，第二电流路径中的阻抗小于第一电流路径中的阻抗。常闭型开关设置于第二电流路径中，并受控于控制信号。当常闭型开关未收到控制信号时，第一电流路径与第二电流路径同时导通。当常闭型开关收到控制信号时，仅第一电流路径导通。

于一些实施例中，常闭型开关可以为空乏型场效晶体管或常闭型继电器。此外，旁路端可以相邻接触部，且旁路端可以用来电性连接接地端。

综上所述，本申请提供的电子组件测试装置以及探针，可以避免探针接触到电子组件的瞬间产生静电电流。此外，由于探针被预设提供阻抗较低的旁路电流路径，纵使产生静电电流也可以经由旁路电流路径导引掉，以减少电子组件于测试时被静电放电破坏的可能性。

有关本申请的其它功效及实施例的详细内容，配合附图说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是依据本申请一实施例的电子组件测试装置的结构示意图；

图2是依据本申请一实施例的电子组件测试装置的电路示意图。

符号说明

1 电子组件测试装置 10 载板

100 接地端 12 探针

120 接触部 122 信号端

124 旁路端 126 常闭型开关

14 量测模块 16 处理单元

C1、C2 电流路径 DUT 电子组件

具体实施方式

以下为具体说明本申请的实施方式与达成功效，提供一实施例并搭配图式说明如下。

请一并参阅图1与图2，图1是绘示依据本申请一实施例的电子组件测试装置的结构示意图，图2是绘示依据本申请一实施例的电子组件测试装置的电路示意图。如图所示，电子组件测试装置1包含了载板10、探针12、量测模块14以及处理单元16，载板10可以用来承载电子组件DUT，探针12可以用来接触电子组件DUT并将电子组件DUT的信号传输给量测模块14，使得量测模块14可以量测电子组件DUT内部的电压、电流或者阻抗等各种电性参数。于一个例子中，电子组件DUT可以是一种雷射二极管，当然本实施例不加以限制，电子组件DUT也有可能是具其他功能的芯片或者是光电组件。以下分别说明电子组件测试装置1的各部组件。

载板10上可以有对应电子组件DUT的槽位，用以容置一个或多个电子组件DUT，在此图1以载板10设置一个电子组件DUT为例子。此外，载板10可以有接地端100，所述接地端100可以电性连接到一片金属板体。于所属技术领域具有通常知识者应可以明白，金属板体可以被视为接地电位。也就是说，载板10设置有电子组件DUT时，载板10和电子组件DUT之间可以是没有电位差的，且载板10和电子组件DUT可以都是接地电位。另外，电子组件测试装置1还可以有一个盒体(图未示)，而载板10可拆卸地设置于所述盒体中，所述盒体可以由金属制成，用以屏蔽静电或磁场。前述接地端100电性连接到的金属板体可以是所述盒体的一部份或电性连接到盒体，本实施例不加以限制。

于一个例子中，电子组件测试装置1也可以包含多个盒体，而每个盒体可以像抽屉一般，可插拔地组合于电子组件测试装置1中。在此，除了电子组件测试装置1的载板10可以设置在盒体中，探针12也可以设置于盒体中，或者一部分的探针12延伸进盒体中，本实施例不加以限制。由于盒体能够尽可能地阻断外界的干扰，探针12在盒体内量测电子组件DUT的电性参数时，能够有较高的准确度。此外，图1还绘示了量测模块14，量测模块14可以设置于盒体中或者盒体外，本实施例不加以限制。实务上，量测模块14是用来接收并读出探针12量测到的结果，本实施例也不限制量测模块14的种类，例如量测模块14可以是由一些用于信号处理的电路组合而成。

以图1的例子来说，探针12在结构上可以有接触部120、信号端122和旁路端124。接触部120用来接触电子组件DUT，并从电子组件DUT上的接垫(pad)读出信号。此外，信号端122用来电性连接量测模块14，而旁路端124用来电性连接接地端100。信号端122和接触部120之间可以电性连接在一起，且信号端122和旁路端124之间可以电性连接在一起，而电子组件测试装置1中可以定义有第一电流路径C1和旁路电流路径(第二电流路径C2)。第一电流路径C1可以是从量测模块14、探针12的信号端122、探针12的接触部120、电子组件DUT到接地电位的电流路径。此外，第二电流路径C2可以是从量测模块14、探针12的信号端122、探针12的旁路端124到接地电位的电流路径。虽然图1绘示了探针12的旁路端124会经过接地端100电性连接到接地电位，但探针12也有可能通过其他方式电性连接到接地电位，本实施例不加以限制。实务上，第二电流路径C2中还包含了常闭型开关126，常闭型开关126可以受控于处理单元16产生的控制信号，用来决定第二电流路径C2是否导通。

于一个例子中，常闭型开关126与一般的开关不同的是，常闭型开关126仅稳定于闭合状态而不会稳定于开路状态，例如常闭型开关126可以是一种空乏型(depletiontype)的场效晶体管或一种常闭型继电器。也就是说，常闭型开关126在没有受到控制信号的触发时，常闭型开关126会保持在闭合状态并保持第二电流路径C2导通。当常闭型开关126受到控制信号的触发时，常闭型开关126才会切换到开路状态并截止第二电流路径C2。当控制信号结束，常闭型开关126又会切换回闭合状态并导通第二电流路径C2。值得一提的是，因为本实施例选用了常闭型开关126，不需要给常闭型开关126通电也让第二电流路径C2保持导通，因此本实施例的电子组件测试装置1不论是否有上电都能够保护电子组件DUT。

由于常闭型开关126的阻抗极小，当常闭型开关126在闭合状态而第二电流路径C2导通时，可以看成探针12会经由第二电流路径C2短路到接地。此外，因第一电流路径C1中会经过阻抗较大的电子组件DUT，使得第二电流路径C2中的阻抗会远小于第一电流路径C1中的阻抗。于所属技术领域具有通常知识者应可以明白，只要第二电流路径C2是导通的，不论第一电流路径C1是否导通，所有的电流或信号都会走第二电流路径C2，而不走电子组件DUT所在的第一电流路径C1。换句话说，当常闭型开关126在闭合状态而第二电流路径C2导通时，所有的电流(含静电电流)或信号会旁路(bypass)电子组件DUT。当常闭型开关126在开路状态而截止第二电流路径C2时，由于仅剩下第一电流路径C1，此时所有的电流或信号才会经过电子组件DUT。

以实际的例子来说，在盒体尚未安置于电子组件测试装置1内的适当位置时，有可能在搬运或者器械间的接触时产生静电电流，或者探针12刚刚接触到电子组件DUT的瞬间，也有可能产生静电电流。由图2可知，本实施例在预设状态下，第一电流路径C1和第二电流路径C2都是导通的。实务上，在探针12与电子组件DUT接触之前，于第二电流路径C2中的旁路端124会先电性连接到接地端100，并经过接地端100电性连接到接地电位。也就是说，如果探针12与电子组件DUT接触时产生了静电电流，因为第二电流路径C2是短路到接地电位，所以静电电流会由第二电流路径C2导引接地，而可以避免静电电流流经电子组件DUT。然而，由于很难确定静电电流于何时或何处产生，因此电子组件测试装置1可以做一些检查与判断，例如在盒体已经确实装好且判断电子组件DUT可以准备量测时，才会截止第二电流路径C2。也就是说，在处理单元16产生所述控制信号之前，所有的电流或信号会由第二电流路径C2旁路电子组件DUT。实务上，电子组件测试装置1可以利用一个或多个侦测器(图未示)来侦测盒体的使用状态，使得处理单元16能够基于盒体的使用状态来判断是否产生所述控制信号。

于一个例子中，盒体可以具有滑轨，且电子组件测试装置1可以设置有侦测器，来侦测盒体是否已经由滑轨推入到正确位置。例如，当盒体组装于滑轨并推入电子组件测试装置1后，侦测器可以产生对应的盒体状态信号并指示盒体已经推到底。或者，电子组件测试装置1可以设置有盒体的门档，当盒体已经由滑轨推入到正确位置后，门文件可以固定盒体。当然，门档有对应的侦测器，侦测器可以产生对应的盒体状态信号并指示盒体已经推到底。在此，本实施例不限制上述两种侦测器的数量，也不限制是否设置两种侦测器或是择一设置，于所属技术领域可以自由设计。此外，当盒体被放置到正确位置后，电子组件测试装置1可以锁定盒体的位置，使盒体在完成量测之前不能再被抽出。于一个例子中，电子组件测试装置1锁定盒体位置的指令、电子组件测试装置1等待一段默认时间或者电子组件测试装置1达到默认温度等，也都有可能被视为一种盒体状态信号，本实施例不加以限制。

承接上述，处理单元16可以接收侦测器产生的盒体状态信号，并判断上述一个或多个的盒体状态信号是否正常。当处理单元16判断所述一个或多个的盒体状态信号是正常的，则可以推论盒体已经确实装好并且系统处于相对稳定的状态。因为盒体本身具有屏蔽静电或磁场的功能，电子组件DUT在盒体中且盒体装设好之后，意味着电子组件DUT突然被静电电流攻击的机率很低。此时，处理单元16可以接着把常闭型开关126设定为开路状态，再开始进行电子组件DUT的量测。如此一来，电子组件测试装置1便可以提供电子组件DUT完整的防护静电放电或突波的机制。

综上所述，本申请提供的电子组件测试装置以及探针于量测电子组件时，可以默认提供阻抗较低的旁路电流路径，让静电电流经由旁路电流路径导引掉，而不会让静电电流攻击电子组件。并且，本申请提供的电子组件测试装置可以检查系统是否在一个稳定的状态，只有在系统稳定时才会切开旁路电流路径，以减少电子组件于测试时被静电放电破坏的可能性。

以上所述的实施例及/或实施方式，仅是用以说明实现本申请技术的较佳实施例及/或实施方式，并非对本申请技术的实施方式作任何形式上的限制，任何本领域技术人员，在不脱离本申请内容所公开的技术手段的范围，当可作些许的更动或修改为其它等效的实施例，但仍应视为与本申请实质相同的技术或实施例。

Claims (8)

1.一种电子组件测试装置，其特征在于，包含：

一载板，用以承载一电子组件；以及

一探针，包含：

一接触部，电性连接一量测模块，并用以接触该电子组件；以及

一常闭型开关，电性连接该量测模块，并受控于一控制信号；

其中当该常闭型开关未收到该控制信号时，该常闭型开关提供一旁路电流路径，该旁路电流路径用以将该量测模块导通至一旁路端；

其中当该常闭型开关收到该控制信号时，该常闭型开关不提供该旁路电流路径；

于该旁路端电性连接一接地端后，该接触部接触该电子组件。

2.如权利要求1所述的电子组件测试装置，其特征在于，该载板电性连接该接地端。

3.如权利要求1所述的电子组件测试装置，其特征在于，该常闭型开关为一空乏型场效晶体管或一常闭型继电器。

4.如权利要求1所述的电子组件测试装置，其特征在于，更包含一盒体与一侦测器，该载板可拆卸地设置于该盒体中，该侦测器用以侦测该盒体的使用状态，据以产生一盒体状态信号。

5.如权利要求4所述的电子组件测试装置，其特征在于，更包含一处理单元，该处理单元判断该盒体状态信号是否正常，当该盒体状态信号正常，则该处理单元提供该控制信号。

6.如权利要求4所述的电子组件测试装置，其特征在于，该盒体由金属制成，用以屏蔽静电或磁场。

7.一种探针，其特征在于，包含：

一第一电流路径，电性连接于一信号端和一接触部之间，该接触部用以电性连接一电子组件；

一第二电流路径，电性连接于该信号端和一旁路端之间，该第二电流路径中的阻抗小于该第一电流路径中的阻抗；以及

一常闭型开关，设置于该第二电流路径中，并受控于一控制信号；

其中当该常闭型开关未收到该控制信号时，该第一电流路径与该第二电流路径同时导通；

其中当该常闭型开关收到该控制信号时，仅该第一电流路径导通；

其中该旁路端相邻该接触部，且该旁路端用以电性连接一接地端。

8.如权利要求7所述的探针，其特征在于，该常闭型开关为一空乏型场效晶体管或一常闭型继电器。