CN112964155B - 配对推力调心滚子轴承轴向游隙测量方法及测量装置 - Google Patents

Abstract

本发明属于轴承游隙测量技术领域，具体涉及一种配对推力调心滚子轴承轴向游隙测量方法，以标准配对轴承为基准，选用标准配对轴承中的标准单列轴承，得到标准单列轴承的轴圈轴向高度、座圈轴向高度以及二者高度差，选取量块的高度与高度差相同，记为H；将量块放置在一套单列轴承座圈端面上，将测量表指针先与轴圈端面接触校准，然后使测量表指针与量块接触，记录测量表示数为I1，测量配对的另一套单列轴承记为I2；计算游隙。本发明借用常用的测量工具，通过尺寸间的换算，解决此类型轴承无法精确检测轴向游隙的问题，既方便快捷，不需制作复杂的检测装置，又能精确检测游隙，满足生产需要。

Description

配对推力调心滚子轴承轴向游隙测量方法及测量装置

技术领域

本发明属于轴承游隙测量技术领域，具体涉及一种配对推力调心滚子轴承轴向游隙测量方法及其测量装置。

背景技术

轴承游隙是轴承滚动体与轴承内外圈壳体之间的间隙，轴承游隙会对轴承的滚动疲劳寿命、温升、噪声、振动等性能产生影响，因此轴承出厂时需要对其游隙数据进行测量。目前配对推力调心滚子轴承轴向游隙没有有效的检测手段，国家标准中也没有相关的检测方法，传统的游隙检测装置无法适用于配对轴承，不能精确检测出轴向游隙。

发明内容

根据上述现有技术存在的缺陷，本发明的目的是提供一种配对推力调心滚子轴承轴向游隙测量方法，能够方便快捷又精确的检测出配对轴承的轴向游隙，满足生产需要。

为实现上述目的，本发明所采用的技术方案为：一种配对推力调心滚子轴承轴向游隙测量方法，包括以下步骤：

步骤一、选取量块，以标准配对轴承为基准，选用标准配对轴承中的标准单列轴承，得到标准单列轴承的轴圈轴向高度、座圈轴向高度以及二者高度差，选取量块的高度与高度差相同，设定量块高度为H；

步骤二、轴承测量，对待测量的配对轴承中的两套单列轴承分别进行测量，将量块放置在一套单列轴承座圈端面上，将测量表指针先与轴圈端面接触校准，然后使测量表指针与量块接触，记录测量表示数为I1，按照同样的方法，测量配对的另一套单列轴承，记录测量表示数为I2；

步骤三、游隙计算，根据步骤二得到的测量表示数计算两套单列轴承组成的配对轴承的游隙数值。

进一步地，对于步骤一中，将选取的量块放置在标准单列轴承的座圈端面上，通过测量表进行对表，使轴圈端面与量块上表面高度相同。

进一步地，对于步骤二中，测量单列轴承时，首先将测量表的指针接触在轴圈端面上，将指针对在“0”的位置，然后再将单列轴承移动，使指针与量块接触，记录下指针的数值I。

进一步地，对于步骤二中，测量表指针与量块接触时，指针的数值I记录为正数、负数或零。

进一步地，配对轴承的轴向游隙为Y=（H-I1）+（H-I2）。

进一步地，配对轴承产品存在要求的游隙数值P，则配对轴承的轴向游隙为Y=（H-I1）+（H-I2）+P。

配对推力调心滚子轴承轴向游隙测量装置，包括上表面水平的测量平台，配对轴承中的单列轴承放置在测量平台上，所述单列轴承的座圈上放置量块，量块的上表面与单列轴承轴圈端面在同一水平线上，所述测量平台上设置有测量表，测量表的指针依次与单列轴承轴圈端面和量块上表面接触，进行测量。

进一步地，所述测量表通过表架设置在测量平台上，测量表与表架滑动连接并沿表架上下移动。

本发明的有益效果为：本发明通过检测方法的创新，解决配对推力调心滚子轴承轴向游隙的检测问题，并借用常用的测量工具，通过尺寸间的换算，解决此类型轴承无法精确检测轴向游隙的问题，既方便快捷，不需制作复杂的检测装置，又能精确检测游隙，满足生产需要。

附图说明

图1为配对推力调心滚子轴承示意图；

图2为本发明的测量装置示意图；

图中：1、座圈， 2、轴圈， 3、隔圈， 4、量块， 5、测量表， 6、表架， 7、测量平台。

具体实施方式

为了使本发明的结构和方法更加清晰，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。

参见附图1，此种配对推力调心滚子轴承轴向游隙的检测方法，其原理是通过确定隔圈3不同的宽度尺寸偏差，从而保证产品的轴向游隙。其具体的测量方法如附图2所示，以附图2的单列轴承规格为例，其中座圈1、轴圈2宽度尺寸如图所示，A-A表示座圈端面，B-B表示轴圈端面。座圈与轴圈的高度差用H表示。选用量块如图2所示，量块4放置在座圈端面上进行“对表”，量块的高度等于轴圈端面高度85mm减去座圈端面高度41.7mm，本示意图所示，量块高度为H=85-41.7=43.3mm。

检测步骤：对待测量的配对轴承中的两套单列轴承分别进行测量，将第一套单列轴承放在测量平台7上，首先将测量表的指针接触在轴圈端面上，将指针对在“0”的位置，然后再将轴承移动，使指针与量块接触，记录下指针的数值为I1。按照同样的方法，测量另一套配对的单列轴承，记录下指针的数值为I2。

游隙数值的测算：

1）如果两套单列轴承的检测，仪表的数值都为零，那么隔圈的宽度尺寸就是量块的高度尺寸2倍；若检测的配对轴承有产品要求的游隙数值P，再加上游隙数值P。

以图2量块所示尺寸为例，若两套单列轴承采用相同的量块，则配对轴承的轴向游隙为Y=2*43.3=86.6mm。若产品要求的游隙数值P为0.15mm，Y=43.3X2+0.15=86.75mm。

2）如果测量表的数值都为负值，那么隔圈高度就是一套单列轴承的量块高度，加上测量表显示数值的绝对值，加上另一套配对的单列轴承量块高度，加上测量表显示数值的绝对值，再加上产品要求游隙的数值，就是隔圈的宽度尺寸。

以图2量块所示尺寸为例，量块高度H=43.3mm，第一组测量表的读数为-0.2mm，第二组测量表的读数为-0.3mm，产品要求的游隙数值P为0.15mm，则配对轴承的轴向游隙为Y=43.3+|-0.2|+(43.3+|-0.3|)+0.15=87.25mm。

3）如果测量表的数值都为正值，那么隔圈高度就是一套单列轴承的量块高度，减去测量表显示数值的绝对值，加上（另一套配对的单列轴承量块高度，减去测量表显示数值的绝对值），再加上产品要求游隙的数值，就是隔圈的宽度尺寸。

以图2量块所示尺寸为例，量块高度H=43.3mm，第一组测量表的读数为0.2mm，第二组测量表的读数为0.3mm，产品要求的游隙数值P为0.15mm，则配对轴承的轴向游隙为Y=43.3-|0.2|+(43.3-|0.3|)+0.15=86.25mm。

综上，将以上步骤进行总结，测量配对轴承的轴向游隙时，记录量块高度为H，记录第一套单列轴承的测量表指针的数值为I1，记录第二套单列轴承的测量表指针的数值为I2，配对轴承产品要求的游隙数值为P，配对轴承的轴向游隙为Y=（H-I1）+（H-I2）+P。其中I1、I2可以为正数、负数或零。

以上过程均以配对推力调心滚子轴承为例，即两套单列轴承的规格相同，因此使用量块的尺寸相同；若为不对称轴承，则分别使用不同高度的量块，列为H1和H2，采用上述方法进行测量，也属于本发明的保护范围内。

所述测量表5通过表架6设置在测量平台7上，测量表5与表架6滑动连接并沿表架6上下移动，便于测量不同尺寸的轴承。所述量块的高度依据标准轴承的尺寸设计，可根据不同规格的轴承设置多组，便于测量不同尺寸的轴承是进行替换。

以上列举的仅是本发明的最佳实施例。显然，本发明不限于以上实施例，还可以有许多变形。本领域的普通技术人员能从本发明公开的内容直接导出或联想到的所有变形，均应认为是本发明的保护范围。

Claims (4)

1.配对推力调心滚子轴承轴向游隙测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、选取量块，以标准配对轴承为基准，选用标准配对轴承中的标准单列轴承，得到标准单列轴承的轴圈轴向高度、座圈轴向高度以及二者高度差，选取量块的高度与高度差相同，设定量块高度为H；

步骤二、轴承测量，对待测量的配对轴承中的两套单列轴承分别进行测量，将量块放置在一套单列轴承座圈端面上，将测量表指针先与轴圈端面接触校准，然后使测量表指针与量块接触，记录测量表示数为I1，按照同样的方法，测量配对的另一套单列轴承，记录测量表示数为I2；

步骤三、游隙计算，根据步骤二得到的测量表示数计算两套单列轴承组成的配对轴承的游隙数值；

对于步骤一中，将选取的量块放置在标准单列轴承的座圈端面上，通过测量表进行对表，使轴圈端面与量块上表面高度相同；

对于步骤二中，测量单列轴承时，首先将测量表的指针接触在轴圈端面上，将指针对在“0”的位置，然后再将单列轴承移动，使指针与量块接触，记录下指针的数值为I；

对于步骤二中，测量表指针与量块接触时，指针的数值I记录为正数、负数或零；

配对轴承的轴向游隙为Y=（H-I1）+（H-I2）。

2.根据权利要求1所述的配对推力调心滚子轴承轴向游隙测量方法，其特征在于，配对轴承产品存在要求的游隙数值P，则配对轴承的轴向游隙为Y=（H-I1）+（H-I2）+P。

3.如权利要求1或2所述的配对推力调心滚子轴承轴向游隙测量方法的配对推力调心滚子轴承轴向游隙测量装置，其特征在于：包括上表面水平的测量平台，配对轴承中的单列轴承放置在测量平台上，所述单列轴承的座圈上放置量块，量块的上表面与单列轴承轴圈端面在同一水平线上，所述测量平台上设置有测量表，测量表的指针依次与单列轴承轴圈端面和量块上表面接触，进行测量。

4.根据权利要求3所述的配对推力调心滚子轴承轴向游隙测量装置，其特征在于：所述测量表通过表架设置在测量平台上，测量表与表架滑动连接并沿表架上下移动。

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