CN112946051A - 一种低温脱水进样装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及质谱分析仪器进样部分装置,具体的说是一种低温脱水进样装置。具体结构包括低温脱水总进样腔体、散热片和三极半导体制冷片。低温脱水总进样腔体为平板状结构,于上表面设流道,侧壁面上设有分别与流道二端相连的样品进口和样品出口,上方设有平板状上盖,四周边缘密闭连接。低温脱水进样腔体进口连接样品出样口,出口连接质谱分析仪器进样入口。本于上盖上表面和腔体下表面中部分别设有凹槽,二个三极半导体制冷片分别置于二个凹槽内。该新型低温脱水进样装置技术大大提高了质谱分析仪器进样部分用于进样采集时去除水的干扰影响,在环境监测、食品安全、医疗诊断等使用的分析仪器进样装置领域中具有广阔的应用前景。
Description
技术领域
本发明涉及质谱分析仪器进样部分装置,具体的说是一种低温脱水进样装置。该新型低温脱水进样装置技术大大提高了质谱分析仪器进样部分用于进样采集时去除水的干扰影响,在环境监测、食品安全、医疗诊断等使用的分析仪器进样装置领域中具有广阔的应用前景。
背景技术
质谱分析仪器在分析化学中属于精密仪器,在分析化学中对样品物质进行分析需要质谱分析仪器具有较高的灵敏度以及分辨率才行,但是想要提高质谱分析仪器的灵敏度以及分辨率,不仅仅在其装配时使用较高精度的装配部件进行合理搭配,同时还需要对仪器的进样条件需要保持良好的样品前处理,以保障质谱分析仪器可以简单明了的分析样品中各个组分,确保质谱分析仪器的正常工作。但是样品中难免会存在一些杂质影响质谱分析仪器的检测结果,当中水汽的影响尤其严重,不仅会与样品分子进行解离是产生竞争电离,同时长时间使用会使仪器内部零部件表面产生水渍,影响对样品的分析检测,而且水汽是无处不在的,例如大气环境中。这也导致想要使样品不接触水汽是十分困难的一件事情。
因此,发展一种低温脱水进样装置具有十分重要的意义。
发明内容
本发明的目的在于提供一种低温脱水进样装置,包括低温脱水总进样腔体为一平板状结构,于平板状结构上表面设流道,于平板结构的侧壁面上设有分别与流道二端相连的样品进口和样品出口,于平板结构的上方设有平板状上盖,上盖下表面的四周边缘与腔体上表面流道的四周边缘密闭连接;
于上盖上表面和腔体下表面中部分别设有凹槽,二个三极半导体制冷片分别置于二个凹槽内,二个三极半导体制冷片的冷端分别与二个凹槽的底面相贴接;二个三极半导体制冷片的热端分别设有散热片。
所述三极半导体制冷片靠近冷端的一极半导体制冷片置于凹槽内,其余二极半导体制冷片位于凹槽外部。
所述三极半导体制冷片包括第一极半导体制冷片;于第一极半导体制冷片冷端的中部设有第二极半导体制冷片,第二极半导体制冷片的热端与第一极半导体制冷片冷端相贴接,且第二极半导体制冷片的热端表面面积小于第一极半导体制冷片冷端表面面积;于第二极半导体制冷片冷端的中部设有第三极半导体制冷片,第三极半导体制冷片的热端与第二极半导体制冷片冷端相贴接,且第三极半导体制冷片的热端表面面积小于第二极半导体制冷片冷端表面面积,形成三层阶梯状的三极半导体制冷片。
所述流道为蛇形流道。
上盖和低温脱水进样腔体紧固连接,于上盖正面四角上打有相同尺寸的螺钉通孔;于低温脱水进样腔体流道四周边缘处设有密封圈槽;低温脱水进样装置依次安装部件顺序是散热片分别与上盖和低温脱水进样腔体紧固连接内,其中间放置三极半导体制冷片部件,再次低温脱水进样腔体与上盖密封紧固连接。
散热片由依次排列等间距的散热翅片构成,散热片两端为散热风扇支撑板金,支撑板金两端分别打有与散热风扇上螺钉通孔相同尺寸的螺钉通孔,散热片四角上打有与上盖和低温脱水进样腔体上螺钉通孔相同尺寸的螺钉通孔,用于与上盖和低温脱水进样腔体紧固连接;所有装置均为平板结构,并且层叠放置。
散热片材料为导热性好的铝等金属装置;散热片内部有方形槽和边框板金用于卡紧三极半导体制冷片第一极半导体制冷片,三极半导体制冷片两条连接线分别从散热片侧壁面到方形槽之间开出的凹槽中引出。
上盖和低温脱水进样腔体需要密封装配,上盖和低温脱水进样腔体背壁面正中间均开有方形槽,用于卡紧三极半导体制冷片第三极半导体制冷片。
上盖和低温脱水进样腔体背壁面正中间均开有方形槽为25*25*1.5mm,上盖正面四角螺钉通孔和低温脱水进样腔体正面四角对应原螺钉通孔直径为4mm;低温脱水进样腔体的密封圈槽直径72~75.8mm,深度为1.1mm,低温脱水进样腔体内部的真空度维持在760Torr。
低温脱水进样腔体侧壁面开有低温脱水进样腔体进口,侧壁面开有低温脱水进样腔体出口;低温脱水进样腔体进口连接样品出样口,低温脱水进样腔体出口连接质谱分析仪器进样入口;低温脱水进样腔体内部开有流道,流道的进出口分别与低温脱水进样腔体侧壁面开有低温脱水进样腔体进口和侧壁面开有低温脱水进样腔体出口相连接;流道的截面为4*6mm,沿着蛇形均匀排布在低温脱水进样腔体内部。
一种低温脱水进样装置。该新型低温脱水进样装置技术大大提高了质谱分析仪器进样部分用于进样采集时去除水的干扰影响,在环境监测、食品安全、医疗诊断等使用的分析仪器进样装置领域中具有广阔的应用前景。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案为:
本发明提供一种低温脱水进样装置。在装配过程中,包括低温脱水总进样腔体、散热片和三极半导体制冷片。低温脱水总进样腔体为一平板状结构,于平板结构上表面设流道,于平板结构的侧壁面上设有分别与流道二端相连的样品进口和样品出口,于平板结构的上方设有平板状上盖,上盖下表面的四周边缘与腔体上表面流道的四周边缘密闭连接。低温脱水进样腔体进口连接样品出样口,低温脱水进样腔体出口连接质谱分析仪器进样入口。本于上盖上表面和腔体下表面中部分别设有凹槽,二个三极半导体制冷片分别置于二个凹槽内,二个三极半导体制冷片的冷端分别与二个凹槽的底面相贴接;二个三极半导体制冷片的热端分别设有散热片。以上设计最终可以大大提高了质谱分析仪器进样部分用于进样采集时去除水的干扰影响的目的。
附图说明
图1为本发明的一种低温脱水进样装置总装配体示意图;
图2为本发明的一种低温脱水进样装置总装配体零部件拆分图;
图3和图4为本发明的一种低温脱水进样装置散热片示意图;
图5为本发明的一种低温脱水进样装置低温脱水进样腔体上盖示意图;
图6为本发明的一种低温脱水进样装置低温脱水进样腔体示意图;
图7为本发明的一种低温脱水进样装置三极半导体制冷片示意图;
图8和图9为本发明的一种低温脱水进样装置散热片结构示意图;
图10为本发明的一种低温脱水进样装置三极半导体制冷片结构示意图;
图11为本发明的一种低温脱水进样装置低温脱水进样腔体上盖结构示意图;
图12为本发明的一种低温脱水进样装置低温脱水进样腔体结构示意图;
具体实施方式
请参阅图1,为本发明的总装配体示意图。
一种低温脱水进样装置,包括低温脱水总进样腔体为一平板状结构,于平板状结构上表面设流道4.4,于平板结构的侧壁面上设有分别与流道二端相连的样品进口4.5和样品出口4.6,于平板结构的上方设有平板状上盖3,上盖3下表面的四周边缘与腔体上表面流道的四周边缘密闭连接4.3;
于上盖上表面和腔体下表面中部分别设有凹槽3.2,二个三极半导体制冷片2分别置于二个凹槽内,二个三极半导体制冷片2的冷端2.1分别与二个凹槽3.2的底面相贴接;二个三极半导体制冷片2的热端分别设有散热片1。
所述三极半导体制冷片2靠近冷端的一极半导体制冷片置于凹槽3.2内,其余二极半导体制冷片位于凹槽3.2外部。
所述三极半导体制冷片2包括第一极半导体制冷片;于第一极半导体制冷片冷端的中部设有第二极半导体制冷片,第二极半导体制冷片的热端与第一极半导体制冷片冷端相贴接,且第二极半导体制冷片的热端表面面积小于第一极半导体制冷片冷端表面面积;于第二极半导体制冷片冷端的中部设有第三极半导体制冷片,第三极半导体制冷片的热端与第二极半导体制冷片冷端相贴接,且第三极半导体制冷片的热端表面面积小于第二极半导体制冷片冷端表面面积,形成三层阶梯状的三极半导体制冷片2。
所述流道为蛇形流道4.4。
上盖3和低温脱水进样腔体4紧固连接,于上盖3正面四角上打有相同尺寸的螺钉通孔3.3;于低温脱水进样腔体4流道四周边缘处设有密封圈槽4.3;低温脱水进样装置依次安装部件顺序是散热片1分别与上盖3和低温脱水进样腔体4紧固连接内,其中间放置三极半导体制冷片2部件,再次低温脱水进样腔体4与上盖3密封紧固连接。
散热片1由依次排列等间距的散热翅片1.5构成,散热片两端为散热风扇支撑板金1.4,支撑板金1.4两端分别打有与散热风扇上螺钉通孔相同尺寸的螺钉通孔1.3,散热片1四角上打有与上盖3和低温脱水进样腔体4上螺钉通孔相同尺寸的螺钉通孔1.2,用于与上盖3和低温脱水进样腔体4紧固连接;所有装置均为平板结构,并且层叠放置。
散热片1材料为导热性好的铝等金属装置;散热片1内部有方形槽1.6和边框板金1.8用于卡紧三极半导体制冷片2第一极半导体制冷片2.2,三极半导体制冷片两条连接线2.3分别从散热片1侧壁面到方形槽1.6之间开出的凹槽1.7中引出。
上盖3和低温脱水进样腔体4需要密封装配,上盖3和低温脱水进样腔体4背壁面正中间均开有方形槽3.2,用于卡紧三极半导体制冷片2第三极半导体制冷片2.1。
上盖3和低温脱水进样腔体4背壁面正中间均开有方形槽3.2为25*25*1.5mm,上盖3正面四角螺钉通孔3.3和低温脱水进样腔体4正面四角对应原螺钉通孔4.1直径为4mm;低温脱水进样腔体4的密封圈槽4.3直径72~75.8mm,深度为1.1mm,低温脱水进样腔体4内部的真空度维持在760Torr。
低温脱水进样腔体4侧壁面开有低温脱水进样腔体进口4.5,侧壁面开有低温脱水进样腔体出口4.6;低温脱水进样腔体进口4.5连接样品出样口,低温脱水进样腔体出口4.6连接质谱分析仪器进样入口;低温脱水进样腔体4内部开有流道4.4,流道4.4的进出口分别与低温脱水进样腔体4侧壁面开有低温脱水进样腔体进口4.5和侧壁面开有低温脱水进样腔体出口4.6相连接;流道4.4的截面为4*6mm,沿着蛇形均匀排布在低温脱水进样腔体4内部。
Claims (10)
1.一种低温脱水进样装置,
包括低温脱水总进样腔体为一平板状结构,于平板状结构上表面设流道(4.4),于平板结构的侧壁面上设有分别与流道二端相连的样品进口(4.5)和样品出口(4.6),于平板结构的上方设有平板状上盖(3),上盖(3)下表面的四周边缘与腔体上表面流道的四周边缘密闭连接(4.3);
于上盖上表面和腔体下表面中部分别设有凹槽(3.2),二个三极半导体制冷片(2)分别置于二个凹槽内,二个三极半导体制冷片(2)的冷端(2.1)分别与二个凹槽(3.2)的底面相贴接;二个三极半导体制冷片(2)的热端分别设有散热片(1)。
2.根据权利要求1所述的低温脱水进样装置,其特征在于:
所述三极半导体制冷片(2)靠近冷端的一极半导体制冷片置于凹槽(3.2)内,其余二极半导体制冷片位于凹槽(3.2)外部。
3.根据权利要求1或2所述的低温脱水进样装置,其特征在于:
所述三极半导体制冷片(2)包括第一极半导体制冷片;于第一极半导体制冷片冷端的中部设有第二极半导体制冷片,第二极半导体制冷片的热端与第一极半导体制冷片冷端相贴接,且第二极半导体制冷片的热端表面面积小于第一极半导体制冷片冷端表面面积;于第二极半导体制冷片冷端的中部设有第三极半导体制冷片,第三极半导体制冷片的热端与第二极半导体制冷片冷端相贴接,且第三极半导体制冷片的热端表面面积小于第二极半导体制冷片冷端表面面积,形成三层阶梯状的三极半导体制冷片(2)。
4.根据权利要求1所述的低温脱水进样装置,其特征在于:
所述流道为蛇形流道(4.4)。
5.根据权利要求1所述的低温脱水进样装置,其特征在于:
上盖(3)和低温脱水进样腔体(4)紧固连接,于上盖(3)正面四角上打有相同尺寸的螺钉通孔(3.3);于低温脱水进样腔体(4)流道四周边缘处设有密封圈槽(4.3);低温脱水进样装置依次安装部件顺序是散热片(1)分别与上盖(3)和低温脱水进样腔体(4)紧固连接内,其中间放置三极半导体制冷片(2)部件,再次低温脱水进样腔体(4)与上盖(3)密封紧固连接。
6.根据权利要求1所述的低温脱水进样装置,其特征在于:
散热片(1)由依次排列等间距的散热翅片(1.5)构成,散热片两端为散热风扇支撑板金(1.4),支撑板金(1.4)两端分别打有与散热风扇上螺钉通孔相同尺寸的螺钉通孔(1.3),散热片(1)四角上打有与上盖(3)和低温脱水进样腔体(4)上螺钉通孔相同尺寸的螺钉通孔(1.2),用于与上盖(3)和低温脱水进样腔体(4)紧固连接;所有装置均为平板结构,并且层叠放置。
7.根据权利要求1或2所述的低温脱水进样装置,其特征在于:
散热片(1)材料为导热性好的铝等金属装置;散热片(1)内部有方形槽(1.6)和边框板金(1.8)用于卡紧三极半导体制冷片(2)第一极半导体制冷片(2.2),三极半导体制冷片两条连接线(2.3)分别从散热片(1)侧壁面到方形槽(1.6)之间开出的凹槽(1.7)中引出。
8.根据权利要求1所述的低温脱水进样装置,其特征在于:
上盖(3)和低温脱水进样腔体(4)需要密封装配,上盖(3)和低温脱水进样腔体(4)背壁面正中间均开有方形槽(3.2),用于卡紧三极半导体制冷片(2)第三极半导体制冷片(2.1)。
9.根据权利要求1所述的低温脱水进样装置,其特征在于:
上盖(3)和低温脱水进样腔体(4)背壁面正中间均开有方形槽(3.2)为25*25*1.5mm,上盖(3)正面四角螺钉通孔(3.3)和低温脱水进样腔体(4)正面四角对应原螺钉通孔(4.1)直径为4mm;低温脱水进样腔体(4)的密封圈槽(4.3)直径72~75.8mm,深度为1.1mm,低温脱水进样腔体(4)内部的真空度维持在760Torr。
10.根据权利要求1所述的低温脱水进样装置,其特征在于:
低温脱水进样腔体(4)侧壁面开有低温脱水进样腔体进口(4.5),侧壁面开有低温脱水进样腔体出口(4.6);低温脱水进样腔体进口(4.5)连接样品出样口,低温脱水进样腔体出口(4.6)连接质谱分析仪器进样入口;低温脱水进样腔体(4)内部开有流道(4.4),流道(4.4)的进出口分别与低温脱水进样腔体(4)侧壁面开有低温脱水进样腔体进口(4.5)和侧壁面开有低温脱水进样腔体出口(4.6)相连接;流道(4.4)的截面为4*6mm,沿着蛇形均匀排布在低温脱水进样腔体(4)内部。
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Legal Events
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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