CN112858701B - 磁珠试剂的混匀方法和样本分析仪 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种磁珠试剂的混匀方法和样本分析仪,所述方法包括:获取第一批样本测试结束时的第一时间和申请对第二批样本进行测试时的第二时间,其中所述第二批样本与所述第一批样本相邻并在所述第一批样本之后进行测试;计算所述第一时间与所述第二时间之间的时间间隔;基于所述时间间隔,确定对所述第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀参数,根据所述混匀参数对所述磁珠试剂执行混匀操作。根据本发明的磁珠试剂的混匀方法和样本分析仪,根据样本分析仪的状态动态调整磁珠试剂的混匀参数,既使得试剂混匀效率最高,又保证了试剂的混匀效果。
Description
技术领域
本发明涉及样本分析仪,更具体地,涉及磁珠试剂的混匀方法和样本分析仪。
背景技术
化学免疫测试中,对于异相分离的化学发光免疫测试方法,采用磁珠和标记物进行磁分离是一种成熟且广泛应用的技术。作为试剂的一个重要组分,磁珠及标记物在存储位置时容易发生沉积板结,在测试之前需要将磁珠试剂进行充分混匀后再进行测试,以此保证测试结果的准确性。
目前的磁珠试剂混匀方案中,通常是上机前用户对磁珠试剂进行手动混匀,混匀充分后再上机,上机后再混匀一段固定时间后,才能启动测试。但是对于某些场景,比如对于急诊检测,最大的要求就是能快速出结果,最好能实现样本一上机,就能立马吸样。而当前这种设计,即使仪器刚结束测试而进入“空闲”状态,也需要混匀固定时间(例如,3min)后才能启动吸样,显然这种设计比较呆板,仪器的检测时间会显著延长,从而影响用户的使用感受。
因此,本领域需要一种优化的磁珠试剂的混匀方法和样本分析仪,以解决上述问题。
发明内容
为了解决上述问题而提出了本发明。根据本发明的一方面,提供了一种磁珠试剂的混匀方法,所述方法包括:获取第一批样本测试结束时的第一时间和申请对第二批样本进行测试时的第二时间,其中所述第二批样本与所述第一批样本相邻并在所述第一批样本之后进行测试;计算所述第一时间与所述第二时间之间的时间间隔;基于所述时间间隔,确定对所述第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀参数,根据所述混匀参数对所述磁珠试剂执行混匀操作。
根据本发明的另一方面,提供了一种磁珠试剂的混匀方法,所述方法包括:检测对第二批样本进行测试的申请;当检测到所述申请时,根据不同的测试需求调节对所述第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀参数,并根据调节后的混匀参数对所述磁珠试剂执行混匀操作。
根据本发明的又一方面,提供了一种样本分析仪,包括试剂盘和控制装置,其中:所述试剂盘包括电磁铁、试剂齿轮盘、试剂瓶基座、试剂瓶,其中所述试剂瓶基座用于装载所述试剂瓶,所述试剂瓶包括磁珠腔,用于容纳磁珠试剂,所述试剂瓶还包括传动部,所述试剂瓶能够在所述传动部与所述试剂齿轮盘的传动下进行正、反转,从而对所述磁珠试剂进行混匀;所述控制装置用于:获取第一批样本测试结束时的第一时间和申请对第二批样本进行测试时的第二时间,其中所述第二批样本与所述第一批样本相邻并在所述第一批样本之后进行测试;计算所述第一时间与所述第二时间之间的时间间隔;基于所述时间间隔,确定对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀参数,根据所述混匀参数控制对所述磁珠试剂执行混匀操作。
根据本发明的再一方面,提供了一种样本分析仪,包括试剂盘和控制装置,其中:所述试剂盘包括电磁铁、试剂齿轮盘、试剂瓶基座,其中所述试剂瓶基座用于承载试剂瓶,所述试剂瓶包括磁珠腔,用于容纳磁珠试剂,所述试剂瓶还包括传动部,所述试剂瓶能够在所述传动部与所述试剂齿轮盘的传动下进行正、反转,从而对所述磁珠试剂进行混匀;所述控制装置用于:检测对第二批样本进行测试的申请;当检测到所述申请时,根据不同的测试需求调节对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀参数,并根据调节后的混匀参数对所述磁珠试剂执行混匀操作。
根据本发明实施例的磁珠试剂的混匀方法和样本分析仪,根据样本分析仪的状态动态调整磁珠试剂的混匀参数,既使得试剂混匀效率最高,又保证了试剂的混匀效果。
附图说明
通过结合附图对本发明实施例进行更详细的描述,本发明的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显。附图用来提供对本发明实施例的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中,相同的参考标号通常代表相同部件或步骤。
图1示出了根据本发明的一个实施例的样本分析仪的结构框图;
图2示出了根据本发明的一个实施例的试剂盘的结构示意图;
图3示出了根据本发明的一个实施例的磁珠试剂的混匀方法的步骤流程图;
图4示出了根据本发明的另一实施例的磁珠试剂的混匀方法的步骤流程图。
具体实施方式
为了使得本发明的目的、技术方案和优点更为明显,下面将参照附图详细描述根据本发明的示例实施例。显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是本发明的全部实施例,应理解,本发明不受这里描述的示例实施例的限制。基于本发明中描述的本发明实施例,本领域技术人员在没有付出创造性劳动的情况下所得到的所有其它实施例都应落入本发明的保护范围之内。
下面简单介绍化学免疫测试的测试过程。
化学免疫测试的整个测试过程通常包括:空闲—用户点击“开始”按钮—批前流程—测试流程—批后流程。其中,只有当仪器处于“空闲”状态时,才允许用户点击“开始”按钮。点击“开始”按钮后,仪器会先进入批前流程,其主要包括加样针的清洗、各部件的机械复位及试剂自动混匀(固定为3分钟)。此流程中,由于试剂的自动混匀最占用时间,所以该流程的执行时间也就近似等于试剂的自动混匀时间,即只要降低试剂的自动混匀时间,也就降低了批前流程的执行时间。其中,测试流程主要包括吸样本、吸试剂、反应液混匀、磁分离、测光等一系列的周期动作,等仪器进行完最后一个样本的磁分离后,仪器进入到批后流程,批后流程主要包括磁分离清洗及加样针清洗等,等该流程完成后,仪器会重新进入“空闲”状态。
除了以上状态之外,仪器还会处于:日常维护状态—此时仪器在进行日常保养,进行针浸泡清洗及光度计校准等动作;停止状态—仪器因发生故障而进入该状态,如针发生碰撞、注射器失步等;初始化—仪器进行故障恢复以及各部件的系统复位、针清洗等;试剂自动混匀—空闲时间超过某时间(例如90分钟),仪器自动执行此操作。
下面结合具体实施例详细描述根据本发明的样本分析仪和样本分析仪的细胞图像的处理方法。
实施例一
本实施例提供了一种样本分析仪。参考图1和图2,图1示出了根据本发明的一个实施例的样本分析仪的结构框图,图2示出了根据本发明的一个实施例的试剂盘的结构示意图。
如图1所示,根据本实施例的样本分析仪10可以包括试剂盘100和控制装置200。在一个实施例中,样本分析仪10可以为本领域公知的任何分析仪,例如免疫分析仪、血液分析仪等,本发明对此不作限定。
如图2所示,试剂盘100可以包括电磁铁110、试剂齿轮盘120、试剂瓶基座130、试剂瓶140,其中试剂瓶基座130用于装载试剂瓶140,试剂瓶140包括磁珠腔150,用于容纳磁珠试剂。试剂瓶140还包括传动部,试剂瓶140能够在传动部与试剂齿轮盘120的传动下进行正、反转,从而对磁珠试剂进行混匀。
在一个实施例中,除了容纳试剂瓶140的腔体之外,试剂瓶基座130还可以包括一个或更多个附加的收容腔,其中可放入其他混匀要求不太高的试剂。
在一个实施例中,试剂瓶140可以通过本领域公知的方式与试剂瓶基座130配合。例如,试剂瓶140开口的一端的外径可以大于试剂瓶基座130上的通孔的内径,从而使试剂瓶140通过试剂瓶140开口端部而支撑于试剂瓶基座130中。又例如,可以在试剂瓶140开口的一端设置凸块,从而使试剂瓶140通过凸块支撑于试剂瓶基座130等等。
在一个实施例中,传动部可以为环绕试剂瓶140底部或中间部位设置的齿纹,或者可以是与试剂瓶140底部固定连接的齿轮。
由于样本分析仪处于空闲状态的时间长短不同,磁珠试剂混匀的难易程度也不同,因此,在一个实施例中,控制装置200可用于:获取第一批样本测试结束时的第一时间和申请对第二批样本进行测试时的第二时间,其中所述第二批样本与所述第一批样本相邻并在所述第一批样本之后进行测试;计算所述第一时间与所述第二时间之间的时间间隔;基于所述时间间隔,确定对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀参数,根据所述混匀参数控制对所述磁珠试剂执行混匀操作。
在一个实施例中,所述混匀参数可以包括混匀时间、混匀速度等。由此,控制装置200还可用于:基于所述时间间隔,确定对所述第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。
具体地,可预先设置好时间间隔ΔT与磁珠试剂混匀时间或混匀速度的关系,例如如下表一和表二所示,其中表一为在不同时间间隔ΔT内磁珠试剂的试剂混匀时间,表二为在不同时间间隔ΔT内磁珠试剂在1分钟内混匀时的试剂混匀速度。其中,时间间隔ΔT为上一批样本测试结束的时间(即试剂盘停止旋转的时间)与本批测试的申请时间(即永恒点击“开始”按钮的时间)之间的时间间隔。
表一
表二
ΔT/min | 试剂混匀速度/(r/s) |
≤10 | 0.2r/s |
10<ΔT≤30 | 0.25r/s |
30<ΔT≤90 | 0.4r/s |
>90 | 0.6r/s |
用户点击“开始”按钮,即申请测试之后,控制装置200可获取上一批样本测试结束时的第一时间和申请对该批样本进行测试时的第二时间,并计算第一时间与第二时间之间的时间间隔ΔT。例如,上一批样本测试结束时的第一时间为9:00,申请对该批样本进行测试时的第二时间为9:15,则时间间隔ΔT为15分钟。然后,控制装置200基于该时间间隔ΔT为15分钟,10分钟<15分钟≤30分钟,根据表一确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀时间为1分钟,或根据表二确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀速度为0.25r/s,从而控制装置200根据该混匀时间1分钟或根据该混匀速度为0.25r/s控制对磁珠试剂执行混匀操作。应理解,这种相互关系并非任意设定,而需经过严格的验证,验证时需考虑到不同的试剂类型、磁珠粒径、磁珠浓度、缓冲液体等多种影响因素,并取最严格的条件来验证,以保证所有类型的磁珠试剂在设定的混匀时间下都能实现充分混匀,或保证所有类型的磁珠试剂以该设定的混匀速度进行混匀都能够在期望时间(例如,1分钟等)内充分混匀。
除了上述时间间隔ΔT以外,磁珠试剂混匀的难易程度还会受到磁珠试剂的试剂类型的影响,例如磁珠试剂A、磁珠试剂B、磁珠试剂C代表三种混匀难度的磁珠试剂,在相同条件下,三种磁珠试剂实现混匀所需混匀时间不同,或在期望时间内实现混匀所需混匀速度不同。因此,在一个实施例中,控制装置200还用于:获取磁珠试剂的试剂类型;基于所述磁珠试剂的试剂类型,确定不同的时间间隔内对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。
具体地,还可以预先设置好不同的磁珠试剂类型在不同的时间间隔ΔT内的混匀时间或混匀速度,例如如下表三和表四所示,其中表三为不同磁珠试剂类型在不同时间间隔ΔT内的试剂混匀时间,表四为不同磁珠试剂类型在不同时间间隔ΔT内磁珠试剂在1分钟内混匀时的混匀速度。其中,磁珠试剂A代表最难混匀的磁珠试剂,磁珠试剂B代表较难混匀的磁珠试剂,磁珠试剂C代表最易混匀的磁珠试剂。
表三
表四
用户点击“开始”按钮,即申请测试之后,控制装置200可获取在机的磁珠试剂的试剂类型,并计算上一批样本测试结束时的第一时间和申请对该批样本进行测试时的第二时间之间的时间间隔ΔT。例如,如果样本分析仪上仅存在磁珠试剂B,上一批样本测试结束时的第一时间与申请对该批样本进行测试时的第二时间之间的时间间隔ΔT为30分钟,则控制装置200基于磁珠试剂B和时间间隔ΔT为30分钟,20分钟<30分钟≤60分钟,根据表三确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀时间为1分钟,或根据表四确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀速度为0.25r/s,从而控制装置200根据该混匀时间1分钟或混匀速度0.25r/s控制对磁珠试剂执行混匀操作。
如果样本分析仪上存在两种及以上的磁珠试剂类型,为了保证所有磁珠试剂均被混匀,控制装置200可基于存在的磁珠试剂中最难混匀的磁珠试剂类型来确定混匀时间或混匀速度。例如,如果样本分析仪上存在磁珠试剂A和磁珠试剂B,上一批样本测试结束时的第一时间与申请对该批样本进行测试时的第二时间之间的时间间隔ΔT为40分钟,则控制装置200基于磁珠试剂A和时间间隔ΔT为40分钟,30分钟<40分钟≤90分钟,根据表三确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀时间为2分钟,或根据表四确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀速度为0.4r/s,从而控制装置200根据该混匀时间2分钟或混匀速度0.4r/s控制对磁珠试剂执行混匀操作。
在一个实施例中,当对磁珠试剂执行混匀操作前,该磁珠试剂所在的试剂盘上新放入一个或更多个试剂瓶时,控制装置200还用于:确定该新放入的试剂瓶中的磁珠试剂的试剂类型,根据该新放入的磁珠试剂的试剂类型,将混匀时间设定为与该新放入的磁珠试剂的试剂类型相对应的最长混匀时间,或将混匀速度设定为与该新放入的磁珠试剂的试剂类型相对应的最大混匀速度。这样是为了确保新放入的试剂能够充分混匀。例如,在执行混匀操作前,用户手动放入了三瓶磁珠试剂,其试剂类型分别为磁珠试剂A、磁珠试剂B和磁珠试剂C,则此时控制装置200应将磁珠试剂的混匀时间设定为最难混匀的磁珠试剂A所对应的最长混匀时间3分钟,或将磁珠试剂的混匀速度设定为最难混匀的磁珠试剂A所对应的最大混匀速度0.6r/s。
在一个实施例中,如果申请对第二批样本进行测试时检测到所述样本分析仪的空闲时间超过预定时间,则控制装置200还可以用于:确定开始测试之前磁珠试剂的混匀时间为预先设定的最长混匀时间,或确定开始测试之前磁珠试剂的混匀速度为预先设定的最大混匀速度。在一个实施例中,该预定时间可以根据经验进行设定,例如为90分钟,本发明对此不作限定。在一个实施例中,该最长混匀时间或最大混匀速度可以根据经验进行设定,例如该最长混匀时间可以为3分钟,该最大混匀速度可以为0.6r/s,本发明对此不作限定。
由于磁珠试剂混匀的难易程度还受到磁珠粒径、磁珠浓度等因素的影响,因此在一个实施例中,控制装置200还可以基于磁珠粒径、磁珠浓度等设定磁珠试剂的混匀时间或混匀速度,具体规律为:在磁珠试剂类型、磁珠浓度相同时,磁珠粒径越大,混匀所需时间越长,或混匀速度越大;在磁珠试剂类型、磁珠粒径相同时,磁珠浓度越大,混匀所需时间越长,或混匀速度越大。本发明对此不再详述。
测试过程中,为了保证磁珠试剂不发生沉积,控制装置200还用于:在样本测试过程中,控制磁珠试剂所在的试剂瓶进行至少一次预定角度的正、反向旋转,以维持磁珠试剂的混匀状态。在一个实施例中,预定角度可以为大于等于40度。在一个实施例中,旋转次数可以为一次、两次或更多次。
在一个实施例中,如果申请对第二批样本进行测试时样本分析仪处于日常维护状态,控制装置200还可以用于:控制在日常维护过程中开始对磁珠试剂进行混匀,而不等待日常维护的完成。这样做是由于样本分析仪处于日常维护状态时进行的是针浸泡清洗及光度计校准等动作,对试剂盘无动作,此时试剂盘处于空闲状态,因此日常维护过程中即开始对磁珠试剂进行混匀,使日常维护与试剂混匀大致同时完成,可以有效节约时间。
在一个实施例中,如果申请对第二批样本进行测试时样本分析仪处于因故障停止后的初始化状态,控制装置200还可以用于:控制在初始化过程中开始对磁珠试剂进行混匀,而不等待初始化的完成。这样做是由于样本分析仪处于初始化状态时进行的是故障恢复以及各部件的系统复位、针清洗等工作,对试剂盘无影响,因此初始化过程中即开始对磁珠试剂进行混匀,使初始化与试剂混匀大致同时完成,也可以有效节约时间。
实施例二
本实施例提供了一种样本分析仪。继续参考图1和图2,本实施例的样本分析仪的结构与实施例一相同,在此不再赘述。本实施例与实施例一的不同之处在于:控制装置200用于:检测对第二批样本进行测试的申请;当检测到所述申请时,根据不同的测试需求调节对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀参数,并根据调节后的混匀参数对所述磁珠试剂执行混匀操作。
在一个实施例中,混匀参数可以包括混匀时间、混匀速度等。由此,在一个实施例中,控制装置200可以用于:计算第一批样本测试结束时的第一时间和申请对所述第二批样本进行测试时的第二时间之间的时间间隔;基于该时间间隔,确定对第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。具体地,用户点击“开始”按钮,即申请测试之后,控制装置200可获取上一批样本测试结束时的第一时间和申请对该批样本进行测试时的第二时间,并计算第一时间与第二时间之间的时间间隔ΔT,然后根据上述表一确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀时间,或根据上述表二确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀速度,并根据所确定的混匀时间或混匀速度控制对磁珠试剂执行混匀操作。
在一个实施例中,控制装置200还用于:获取磁珠试剂的试剂类型;基于磁珠试剂的试剂类型,确定不同的时间间隔内对第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。具体地,用户点击“开始”按钮,即申请测试之后,控制装置200可获取在机的磁珠试剂的试剂类型,并计算上一批样本测试结束时的第一时间和申请对该批样本进行测试时的第二时间之间的时间间隔ΔT,然后基于存在的磁珠试剂中最难混匀的磁珠试剂类型和时间间隔ΔT,根据上述表三确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀时间,或根据上述表四确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀速度,并根据所确定的混匀时间或混匀速度控制对磁珠试剂执行混匀操作。
在一个实施例中,控制装置200还用于:获取磁珠试剂的试剂类型;基于磁珠试剂的试剂类型,确定对第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。由于此种情况下不考虑上述时间间隔ΔT,因此,控制装置200可确定混匀时间为存在的磁珠试剂中最难混匀的磁珠试剂类型所对应的最长混匀时间,或确定混匀速度为存在的磁珠试剂中最难混匀的磁珠试剂类型所对应的最大混匀速度,以确保所有磁珠试剂均能够充分混匀或在期望时间(例如,1分钟等)内能够充分混匀。
在一个实施例中,当对磁珠试剂执行混匀操作前,该磁珠试剂所在的试剂盘上新放入一个或更多个试剂瓶时,控制装置200还用于:确定该新放入的试剂瓶中的磁珠试剂的试剂类型,根据该新放入的磁珠试剂的试剂类型,将混匀时间设定为与该新放入的磁珠试剂的试剂类型相对应的最长混匀时间,或将混匀速度设定为与该新放入的磁珠试剂的试剂类型相对应的最大混匀速度。这样是为了确保新放入的试剂能够充分混匀。例如,在执行混匀操作前,用户手动放入了三瓶磁珠试剂,其试剂类型分别为磁珠试剂A、磁珠试剂B和磁珠试剂C,则此时控制装置200应将磁珠试剂的混匀时间设定为最难混匀的磁珠试剂A所对应的最长混匀时间3分钟,或将磁珠试剂的混匀速度设定为最难混匀的磁珠试剂A所对应的最大混匀速度0.6r/s。
在一个实施例中,如果申请对第二批样本进行测试时检测到所述样本分析仪的空闲时间超过预定时间,则控制装置200还可以用于:确定开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间为预先设定的最长混匀时间,或确定开始测试之前磁珠试剂的混匀速度为预先设定的最大混匀速度。在一个实施例中,该预定时间可以根据经验进行设定,例如为90分钟,本发明对此不作限定。在一个实施例中,最长混匀时间或最大混匀速度可以根据经验进行设定,例如该最长混匀时间可以为3分钟,该最大混匀速度可以为0.6r/s,本发明对此不作限定。
由于磁珠试剂的混匀所需时间还受到磁珠粒径、磁珠浓度等因素的影响,因此在一个实施例中,控制装置200还可以基于磁珠粒径、磁珠浓度等设定磁珠试剂的混匀时间,具体规律为:在磁珠试剂类型、磁珠浓度相同时,磁珠粒径越大,混匀所需时间越长,或混匀速度越大;在磁珠试剂类型、磁珠粒径相同时,磁珠浓度越大,混匀所需时间越长,或混匀速度越大。本发明对此不再详述。
测试过程中,为了保证磁珠试剂不发生沉积,控制装置200还用于:在样本测试过程中,控制磁珠试剂所在的试剂瓶进行至少一次预定角度的正、反向旋转,以维持磁珠试剂的混匀状态。在一个实施例中,预定角度可以为大于等于40度。在一个实施例中,旋转次数可以为一次、两次或更多次。
在一个实施例中,如果申请对第二批样本进行测试时样本分析仪处于日常维护状态,控制装置200还可以用于:控制在日常维护过程中开始对磁珠试剂进行混匀,而不等待日常维护的完成。这样做是由于样本分析仪处于日常维护状态时进行的是针浸泡清洗及光度计校准等动作,对试剂盘无动作,此时试剂盘处于空闲状态,因此日常维护过程中即开始对磁珠试剂进行混匀,使日常维护与试剂混匀大致同时完成,可以有效节约时间。
在一个实施例中,如果申请对第二批样本进行测试时样本分析仪处于因故障停止后的初始化状态,控制装置200还可以用于:控制在初始化过程中开始对磁珠试剂进行混匀,而不等待初始化的完成。这样做是由于样本分析仪处于初始化状态时进行的是故障恢复以及各部件的系统复位、针清洗等工作,对试剂盘无影响,因此初始化过程中即开始对磁珠试剂进行混匀,使初始化与试剂混匀大致同时完成,也可以有效节约时间。
实施例三
本实施例提供了一种磁珠试剂的混匀方法。参考图3,图3示出了根据本发明的一个实施例的磁珠试剂的混匀方法20的步骤流程图。如图3所示,方法20可以包括:
步骤210:获取第一批样本测试结束时的第一时间和申请对第二批样本进行测试时的第二时间,其中所述第二批样本与所述第一批样本相邻并在所述第一批样本之后进行测试。
步骤220:计算所述第一时间与所述第二时间之间的时间间隔。具体地,
步骤230:基于所述时间间隔,确定对所述第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀参数,根据所述混匀参数对所述磁珠试剂执行混匀操作。
在一个实施例中,所述混匀参数可以包括混匀时间、混匀速度等。由此,其中基于所述时间间隔,确定对所述第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀参数可以包括:基于所述时间间隔,确定对所述第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。
具体地,可预先设置好时间间隔ΔT与磁珠试剂混匀时间的关系(参见上述表一),或时间间隔ΔT与磁珠试剂混匀速度的关系(参见上述表二)。用户点击“开始”按钮,即申请测试之后,可获取上一批样本测试结束时的第一时间和申请对该批样本进行测试时的第二时间,并计算第一时间与第二时间之间的时间间隔ΔT。然后根据表一确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀时间,或根据表二确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀速度,并根据该混匀时间或混匀速度对磁珠试剂执行混匀操作。
除了上述时间间隔ΔT以外,磁珠试剂混匀的难易程度还会受到磁珠试剂的试剂类型的影响。因此在一个实施例中,基于所述时间间隔,确定对所述第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀参数还包括:获取磁珠试剂的试剂类型;基于所述磁珠试剂的试剂类型,确定不同的所述时间间隔内对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。具体地,还可以预先设置好不同的磁珠试剂类型在不同的时间间隔ΔT内的混匀时间或混匀速度,参见上述表三和表四。用户点击“开始”按钮,即申请测试之后,可获取在机的磁珠试剂的试剂类型,并计算上一批样本测试结束时的第一时间和申请对该批样本进行测试时的第二时间之间的时间间隔ΔT,基于存在的磁珠试剂中最难混匀的磁珠试剂类型和时间间隔ΔT来确定混匀时间或混匀速度,以根据该混匀时间或混匀速度对磁珠试剂执行混匀操作。
在一个实施例中,方法20还可以包括:当对磁珠试剂执行混匀操作前,磁珠试剂所在的试剂盘上新放入一个或更多个试剂瓶时,确定新放入的试剂瓶中的磁珠试剂的试剂类型,根据新放入的磁珠试剂的试剂类型,将混匀时间设定为与新放入的磁珠试剂的试剂类型相对应的最长混匀时间,或将混匀速度设定为与该新放入的磁珠试剂的试剂类型相对应的最大混匀速度。这样是为了确保新放入的试剂能够充分混匀。例如,在执行混匀操作前,用户手动放入了三瓶磁珠试剂,其试剂类型分别为磁珠试剂A、磁珠试剂B和磁珠试剂C,则此时控制装置200应将磁珠试剂的混匀时间设定为最难混匀的磁珠试剂A所对应的最长混匀时间3分钟,或将磁珠试剂的混匀速度设定为最难混匀的磁珠试剂A所对应的最大混匀速度0.6r/s。
在一个实施例中,方法20还可以包括:如果申请对第二批样本进行测试时检测到测试仪器的空闲时间超过预定时间,则确定开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间为预先设定的最长混匀时间,或确定开始测试之前磁珠试剂的混匀速度为预先设定的最大混匀速度。在一个实施例中,该预定时间可以根据经验进行设定,例如为90分钟,本发明对此不作限定。在一个实施例中,最长混匀时间或最大混匀速度可以根据经验进行设定,例如该最长混匀时间可以为3分钟,该最大混匀速度可以为0.6r/s,本发明对此不作限定。
由于磁珠试剂混匀的难易程度还受到磁珠粒径、磁珠浓度等因素的影响,因此在一个实施例中,方法20还可以包括基于磁珠粒径、磁珠浓度等设定磁珠试剂的混匀时间或混匀速度,具体规律为:在磁珠试剂类型、磁珠浓度相同时,磁珠粒径越大,混匀所需时间越长,或混匀速度越大;在磁珠试剂类型、磁珠粒径相同时,磁珠浓度越大,混匀所需时间越长,或混匀速度越大。本发明对此不再详述。
测试过程中,为了保证磁珠试剂不发生沉积,在一个实施例中,方法20还可以包括:在样本测试过程中,使得磁珠试剂所在的试剂瓶进行至少一次预定角度的正、反向旋转,以维持磁珠试剂的混匀状态。在一个实施例中,预定角度可以为大于等于40度。在一个实施例中,旋转次数可以为一次、两次或更多次。
在一个实施例中,方法20还可以包括:如果申请对第二批样本进行测试时测试仪器处于日常维护状态,则在日常维护过程中开始对所述磁珠试剂进行混匀,而不等待所述日常维护的完成。这样做是由于测试仪器处于日常维护状态时进行的是针浸泡清洗及光度计校准等动作,对试剂盘无动作,此时试剂盘处于空闲状态,因此日常维护过程中即开始对磁珠试剂进行混匀,使日常维护与试剂混匀大致同时完成,可以有效节约时间。
在一个实施例中,方法20还可以包括:如果申请对第二批样本进行测试时测试仪器处于故障后的初始化状态,则在初始化过程中开始对所述磁珠试剂进行混匀,而不等待初始化的完成。这样做是由于测试仪器处于初始化状态时进行的是故障恢复以及各部件的系统复位、针清洗等工作,对试剂盘无影响,因此初始化过程中即开始对磁珠试剂进行混匀,使初始化与试剂混匀大致同时完成,也可以有效节约时间。
实施例四
本实施例提供了一种磁珠试剂的混匀方法。参考图4,图4示出了根据本发明的另一实施例的磁珠试剂的混匀方法30的步骤流程图。如图4所示,方法30可以包括:
步骤310:检测对第二批样本进行测试的申请。
步骤320:当检测到所述申请时,根据不同的测试需求调节对第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀参数,并根据调节后的混匀参数对磁珠试剂执行混匀操作。
在一个实施例中,混匀参数可以包括混匀时间、混匀速度等。由此,在一个实施例中,根据不同的测试需求调节对第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀参数包括:计算第一批样本测试结束时的第一时间和申请对所述第二批样本进行测试时的第二时间之间的时间间隔;基于所述时间间隔,确定对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。具体地,用户点击“开始”按钮,即申请测试之后,可获取上一批样本测试结束时的第一时间和申请对该批样本进行测试时的第二时间,并计算第一时间与第二时间之间的时间间隔ΔT,然后根据上述表一确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀时间,或根据上述表二确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀速度,并根据所确定的混匀时间或混匀速度对磁珠试剂执行混匀操作。
在另一实施例中,其中根据测试需求确定对第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀参数还包括:获取磁珠试剂的试剂类型;基于所述磁珠试剂的试剂类型,确定不同的所述时间间隔内对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。具体地,用户点击“开始”按钮,即申请测试之后,可获取在机的磁珠试剂的试剂类型,并计算上一批样本测试结束时的第一时间和申请对该批样本进行测试时的第二时间之间的时间间隔ΔT,然后基于存在的磁珠试剂中最难混匀的磁珠试剂类型和时间间隔ΔT,根据上述表三确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀时间,或根据上述表四确定对该批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀速度,并根据所确定的混匀时间或混匀速度控制对磁珠试剂执行混匀操作。
在又一实施例中,根据不同的测试需求调节对第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀参数还包括:获取磁珠试剂的试剂类型;基于所述磁珠试剂的试剂类型,确定对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。由于此种情况下不考虑上述时间间隔ΔT,因此,可将混匀时间设定为存在的磁珠试剂中最难混匀的磁珠试剂类型所对应的最长混匀时间,或将混匀速度设定为存在的磁珠试剂中最难混匀的磁珠试剂类型所对应的最大混匀速度,以确保所有磁珠试剂均能够充分混匀或在期望时间(例如,1分钟等)内能够充分混匀。
在一个实施例中,方法30还可以包括:当对磁珠试剂执行混匀操作前,磁珠试剂所在的试剂盘上新放入一个或更多个试剂瓶时,确定新放入的试剂瓶中的磁珠试剂的试剂类型,根据新放入的磁珠试剂的试剂类型,将混匀时间设定为与新放入的磁珠试剂的试剂类型相对应的最长混匀时间,或将混匀速度设定为与该新放入的磁珠试剂的试剂类型相对应的最大混匀速度。这样是为了确保新放入的试剂能够充分混匀。例如,在执行混匀操作前,用户手动放入了三瓶磁珠试剂,其试剂类型分别为磁珠试剂A、磁珠试剂B和磁珠试剂C,则此时应将磁珠试剂的混匀时间设定为最难混匀的磁珠试剂A所对应的最长混匀时间3分钟,或将磁珠试剂的混匀速度设定为最难混匀的磁珠试剂A所对应的最大混匀速度0.6r/s。
在一个实施例中,方法30还可以包括:如果申请对第二批样本进行测试时检测到测试仪器的空闲时间超过预定时间,则确定开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间为预先设定的最长混匀时间,或确定开始测试之前磁珠试剂的混匀速度为预先设定的最大混匀速度。在一个实施例中,该预定时间可以根据经验进行设定,例如为90分钟,本发明对此不作限定。在一个实施例中,最长混匀时间或最大混匀速度可以根据经验进行设定,例如该最长混匀时间可以为3分钟,该最大混匀速度可以为0.6r/s,本发明对此不作限定。
由于磁珠试剂的混匀所需时间还受到磁珠粒径、磁珠浓度等因素的影响,因此在一个实施例中,方法30还可以包括基于磁珠粒径、磁珠浓度等设定磁珠试剂的混匀时间,具体规律为:在磁珠试剂类型、磁珠浓度相同时,磁珠粒径越大,混匀所需时间越长,或混匀速度越大;在磁珠试剂类型、磁珠粒径相同时,磁珠浓度越大,混匀所需时间越长,或混匀速度越大。本发明对此不再详述。
测试过程中,为了保证磁珠试剂不发生沉积,在一个实施例中,方法30还可以包括:在样本测试过程中,使得所述磁珠试剂所在的试剂瓶进行至少一次预定角度的正、反向旋转,以维持所述磁珠试剂的混匀状态。在一个实施例中,预定角度可以为大于等于40度。在一个实施例中,旋转次数可以为一次、两次或更多次。
在一个实施例中,方法30还可以包括:如果申请对第二批样本进行测试时测试仪器处于日常维护状态,则在日常维护过程中开始对所述磁珠试剂进行混匀,而不等待所述日常维护的完成。这样做是由于样本分析仪处于日常维护状态时进行的是针浸泡清洗及光度计校准等动作,对试剂盘无动作,此时试剂盘处于空闲状态,因此日常维护过程中即开始对磁珠试剂进行混匀,使日常维护与试剂混匀大致同时完成,可以有效节约时间。
在一个实施例中,方法30还可以包括:如果申请对第二批样本进行测试时测试仪器处于故障后的初始化状态,则在初始化过程中开始对所述磁珠试剂进行混匀,而不等待初始化的完成。这样做是由于样本分析仪处于初始化状态时进行的是故障恢复以及各部件的系统复位、针清洗等工作,对试剂盘无影响,因此初始化过程中即开始对磁珠试剂进行混匀,使初始化与试剂混匀大致同时完成,也可以有效节约时间。
实施例五
本实施例提供了一种计算机可读介质,该计算机可读介质上存储有计算机程序,所述计算机程序在运行时执行如上述实施例所述的方法。任何有形的、非暂时性的计算机可读介质皆可被使用,包括磁存储设备(硬盘、软盘等)、光存储设备(CD-ROM、DVD、蓝光光盘等)、闪存和/或诸如此类。这些计算机程序指令可被加载到通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理设备上以形成机器,使得这些在计算机上或其他可编程数据处理装置上执行的指令可以生成实现指定功能的装置。这些计算机程序指令也可以存储在计算机可读存储器中,该计算机可读存储器可以指示计算机或其他可编程数据处理设备以特定的方式运行,这样存储在计算机可读存储器中的指令就可以形成一件制造品,包括实现指定功能的实现装置。计算机程序指令也可以加载到计算机或其他可编程数据处理设备上,从而在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生一个计算机实现的进程,使得在计算机或其他可编程设备上执行的指令可以提供用于实现指定功能的步骤。
本发明的技术效果:
1)本发明的方案根据样本分析仪的状态动态调整磁珠试剂的混匀参数,既使得试剂混匀效率最高,又保证了试剂的混匀效果。
2)本发明的方案还根据不同的磁珠试剂动态调整磁珠试剂的混匀参数,也使得试剂混匀效率最高,又保证了试剂的混匀效果。
尽管这里已经参考附图描述了示例实施例,应理解上述示例实施例仅仅是示例性的,并且不意图将本发明的范围限制于此。本领域普通技术人员可以在其中进行各种改变和修改,而不偏离本发明的范围和精神。所有这些改变和修改意在被包括在所附权利要求所要求的本发明的范围之内。
在此处所提供的说明书中,说明了大量具体细节。然而,能够理解,本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中,并未详细示出公知的方法、结构和技术,以便不模糊对本说明书的理解。
类似地,应当理解,为了精简本发明并帮助理解各个发明方面中的一个或多个,在对本发明的示例性实施例的描述中,本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而,并不应将该本发明的方法解释成反映如下意图:即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说,如相应的权利要求书所反映的那样,其发明点在于可以用少于某个公开的单个实施例的所有特征的特征来解决相应的技术问题。因此,遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式,其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。
本领域的技术人员可以理解,除了特征之间相互排斥之外,可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述,本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。
此外,本领域的技术人员能够理解,尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征,但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如,在权利要求书中,所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。
应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制,并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中,不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中,这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式或对具体实施方式的说明,本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (19)
1.一种磁珠试剂的混匀方法,其特征在于,所述方法包括:
检测对第二批样本进行测试的申请;
当检测到所述申请时,根据不同的测试需求调节对所述第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀参数,并根据调节后的混匀参数对所述磁珠试剂执行混匀操作,其中所述测试需求包括第一批样本测试结束时的第一时间与申请对所述第二批样本进行测试时的第二时间之间的时间间隔或者所述磁珠试剂的试剂类型。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,其中根据所述时间间隔调节对所述第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀参数包括:
计算所述时间间隔;
基于所述时间间隔,确定对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,其中根据所述时间间隔调节对所述第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀参数包括:
计算所述时间间隔并获取所述磁珠试剂的试剂类型;
基于所述磁珠试剂的试剂类型,确定不同的所述时间间隔内对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,其中根据所述磁珠试剂的试剂类型调节对所述第二批样本开始测试之前磁珠试剂的混匀参数包括:
获取所述磁珠试剂的试剂类型;
基于所述磁珠试剂的试剂类型,确定对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:当对所述磁珠试剂执行混匀操作前,所述磁珠试剂所在的试剂盘上新放入一个或更多个试剂瓶时,确定所述新放入的试剂瓶中的磁珠试剂的试剂类型,根据所述新放入的磁珠试剂的试剂类型,将所述磁珠试剂的混匀时间设定为与所述新放入的磁珠试剂的试剂类型相对应的最长混匀时间,或将所述磁珠试剂的混匀速度设定为与所述新放入的磁珠试剂的试剂类型相对应的最大混匀速度。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:如果申请对第二批样本进行测试时检测到测试仪器的空闲时间超过预定时间,则确定开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间为预先设定的最长混匀时间,或确定开始测试之前所述磁珠试剂的混匀速度为预先设定的最大混匀速度。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:在样本测试过程中,使得所述磁珠试剂所在的试剂瓶进行至少一次预定角度的正、反向旋转,以维持所述磁珠试剂的混匀状态。
8.根据权利要求1至6中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:如果申请对第二批样本进行测试时测试仪器处于日常维护状态,则在日常维护过程中开始对所述磁珠试剂进行混匀,而不等待所述日常维护的完成。
9.根据权利要求1至6中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:如果申请对第二批样本进行测试时测试仪器处于故障后的初始化状态,则在初始化过程中开始对所述磁珠试剂进行混匀,而不等待所述初始化的完成。
10.一种样本分析仪,包括试剂盘和控制装置,其特征在于,其中:
所述试剂盘包括电磁铁、试剂齿轮盘、试剂瓶基座,其中所述试剂瓶基座用于承载试剂瓶,所述试剂瓶包括磁珠腔,用于容纳磁珠试剂,所述试剂瓶还包括传动部,所述试剂瓶能够在所述传动部与所述试剂齿轮盘的传动下进行正、反转,从而对所述磁珠试剂进行混匀;
所述控制装置用于:
检测对第二批样本进行测试的申请;
当检测到所述申请时,根据不同的测试需求调节对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀参数,并根据调节后的混匀参数对所述磁珠试剂执行混匀操作,其中所述测试需求包括第一批样本测试结束时的第一时间与申请对所述第二批样本进行测试时的第二时间之间的时间间隔或者所述磁珠试剂的试剂类型。
11.根据权利要求10所述的样本分析仪,其特征在于,所述控制装置还用于:
计算所述时间间隔;
基于所述时间间隔,确定对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。
12.根据权利要求10所述的样本分析仪,其特征在于,所述控制装置还用于:计算所述时间间隔并获取所述磁珠试剂的试剂类型;
基于所述磁珠试剂的试剂类型,确定不同的所述时间间隔内对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。
13.根据权利要求10所述的样本分析仪,其特征在于,所述控制装置还用于:
获取所述磁珠试剂的试剂类型;
基于所述磁珠试剂的试剂类型,确定对所述第二批样本开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间或混匀速度。
14.根据权利要求10所述的样本分析仪,其特征在于,所述控制装置还用于:当对所述磁珠试剂执行混匀操作前,所述磁珠试剂所在的试剂盘上新放入一个或更多个试剂瓶时,确定所述新放入的试剂瓶中的磁珠试剂的试剂类型,根据所述新放入的磁珠试剂的试剂类型,将所述磁珠试剂的混匀时间设定为与所述新放入的磁珠试剂的试剂类型相对应的最长混匀时间,或将所述磁珠试剂的混匀速度设定为与所述新放入的磁珠试剂的试剂类型相对应的最大混匀速度。
15.根据权利要求10所述的样本分析仪,其特征在于,所述控制装置还用于:如果申请对第二批样本进行测试时检测到所述样本分析仪的空闲时间超过预定时间,则确定开始测试之前所述磁珠试剂的混匀时间为预先设定的最长混匀时间,或确定开始测试之前所述磁珠试剂的混匀速度为预先设定的最大混匀速度。
16.根据权利要求10至15中任一项所述的样本分析仪,其特征在于,所述控制装置还用于:在样本测试过程中,控制磁珠试剂所在的试剂瓶进行至少一次预定角度的正、反向旋转,以维持所述磁珠试剂的混匀状态。
17.根据权利要求10至15中任一项所述的样本分析仪,其特征在于,所述控制装置还用于:如果申请对第二批样本进行测试时测试仪器处于日常维护状态,则控制在日常维护过程中开始对所述磁珠试剂进行混匀,而不等待所述日常维护的完成。
18.根据权利要求10至15中任一项所述的样本分析仪,其特征在于,所述控制装置还用于:如果申请对第二批样本进行测试时所述样本分析仪处于故障后的初始化状态,则控制在初始化过程中开始对所述磁珠试剂进行混匀,而不等待所述初始化的完成。
19.一种计算机可读存储介质,包含计算机可执行指令,其特征在于,所述计算机可执行指令在由处理器执行时,能够执行如权利要求1-9之一所述的方法。
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