CN117054410B - 一种胶体金免疫层析分析仪的检测方法 - Google Patents

一种胶体金免疫层析分析仪的检测方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种胶体金免疫层析分析仪的检测方法，胶体金免疫层析分析仪包括胶体金免疫层析试纸条、第一传感器、第二传感器、第三传感器、第一发光器件、第二发光器件及控制器；胶体金免疫层析试纸条包括加液区及对待测物进行检测的检测区，检测区包括测试线、空白区域及控制线；第一发光器件照射测试线和空白区域；第二发光器件照射空白区域和控制线；第一传感器、第二传感器和第三传感器用于对应获取测试线、空白区域和控制线的光子数量；控制器控制第一发光器件和第二发光器件的发光时间，使在将待测物滴入加液区前，测试线和控制线的光子数量差值小于预设光子数量差值。本发明实现了测试线和控制线的照度平衡，提高了检测准确性。

Description

一种胶体金免疫层析分析仪的检测方法
技术领域
本发明涉及胶体金免疫层析分析技术领域，具体涉及一种胶体金免疫层析分析仪的检测方法。
背景技术
胶体金免疫层析技术是近些年来新兴的一种快速检测技术，常以胶体金、乳胶颗粒、磁珠、荧光素等作为示踪标志物应用于抗原-抗体异性免疫反应的一种检测技术，原理是以固有检测线的条状纤维层析材料为固定相，以待检测样品为移动相，当在试纸条上滴入待测样品时，待测样品通过毛细作用发生层析运动，当运动至检测线时样品中的抗原和特异性抗体结合后被截留，结合物的浓度和样品中抗体的浓度成正比，浓度越高，颜色越深，分析其颜色值即可完成这一特异性检测过程。胶体金免疫层析分析仪是利用胶体金免疫层析技术为基础生产的用于自动实现检测的设备。
现有技术中的胶体金免疫层析分析仪，如授权公告号为CN206725419U所公开的胶体金免疫层析分析仪器的光学结构，其虽然实现了通过对多个胶体金试纸条进行拍摄，提高检测精度，但其未考虑各个胶体金试纸条在检测时，测试线和控制线的照度对检测结果的影响，导致当测试线和控制线的照度不平衡时，会使得测试线和控制线上的光子数量不相同，进而导致检测结果不准确。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种胶体金免疫层析分析仪的检测方法，用以解决现有技术中存在的当测试线和控制线的照度不平衡时，导致检测结果不准确的技术问题。
本发明提供了一种胶体金免疫层析分析仪的检测方法，胶体金免疫层析分析仪包括胶体金免疫层析试纸条、第一发光器件、第二发光器件，所述胶体金免疫层析试纸条包括用于盛放待测物的加液区以及对所述待测物进行检测的检测区，所述检测区包括测试线、空白区域以及控制线；所述第一发光器件设置在所述测试线和所述空白区域之间；所述第二发光器件设置在所述空白区域和所述控制线之间，所述胶体金免疫层析分析仪的检测方法包括：
控制所述第一发光器件和所述第二发光器件的发光时间，获得待使用胶体金免疫层析分析仪，所述待使用胶体金免疫层析分析仪为在将所述待测物滴入所述加液区前，所述测试线和所述控制线的反射率差值小于预设反射率差值的胶体金免疫层析分析仪；
在将所述待测物滴入所述加液区前，控制所述第一发光器件和所述第二发光器件发光，分别获取所述测试线的第一测试反射率、所述空白区域的第一空白反射率以及所述控制线的第一控制反射率，并基于所述第一测试反射率和所述第一空白反射率确定第一参考反射率比值；
将所述待测物滴入所述加液区，并基于所述第一参考反射率比值和所述第一控制反射率确定所述待使用胶体金免疫层析试纸条反应是否完成；
当所述待使用胶体金免疫层析试纸条反应完成后，控制所述第一发光器件和所述第二发光器件发光，并获取所述测试线的目标测试反射率、所述空白区域的目标空白反射率以及所述控制线的目标控制反射率，并根据所述目标测试反射率、所述目标空白反射率、所述目标控制反射率、所述第一空白反射率以及所述第一测试反射率确定检测结果。
在一些可能的实现方式中，所述基于所述第一测试反射率和所述第一空白反射率确定第一参考反射率比值，包括：
将所述第一测试反射率和所述第一空白反射率的比值作为第一待用反射率比值；
确定第一百分比阈值，并根据所述第一百分比阈值和所述第一待用反射率比值确定所述第一参考反射率比值。
在一些可能的实现方式中，所述基于所述第一反射率比值和所述第一控制反射率确定所述待使用胶体金免疫层析试纸条反应是否完成，包括：
控制所述第一发光器件和所述第二发光器件发光，并获取所述测试线的第二测试反射率、所述空白区域的第二空白反射率以及所述控制线的第二控制反射率；
基于所述第二测试反射率、所述第二空白反射率以及所述第一参考反射率比值确定待测物是否达到所述测试线；
当所述待测物达到所述测试线时，等待第一预设时间，并控制所述第二发光器件发光，获取所述控制线的第三控制反射率；
基于所述第三控制反射率和所述第二控制反射率确定所述待使用胶体金免疫层析试纸条是否可靠；
当所述待使用胶体金免疫层析试纸条可靠时，等待第二预设时间，并控制所述第二发光器件发光，获取所述控制线的第四控制反射率；
基于所述第四控制反射率以及所述第一控制反射率确定所述待使用胶体金免疫层析试纸条是否可用；
当所述待使用胶体金免疫层析试纸条可用时，等待第三预设时间，所述待使用胶体金免疫层析试纸条反应完成。
在一些可能的实现方式中，所述基于所述第二测试反射率、所述第二空白反射率以及所述第一参考反射率比值确定待测物是否达到所述测试线，包括：
将所述第二测试反射率和所述第二空白反射率的比值作为第二待用反射率比值；
判断所述第二待用反射率比值是否小于第一参考反射率比值，当所述第二待用反射率比值小于第一参考反射率比值时，所述待测物达到所述测试线。
在一些可能的实现方式中，所述基于所述第三控制反射率和所述第二控制反射率确定所述待使用胶体金免疫层析试纸条是否可靠，包括：
确定第二百分比阈值，并根据所述第二百分比阈值和所述第二控制反射率确定第二参考控制反射率；
判断所述第三控制反射率是否大于所述第二参考控制反射率，当所述第三控制反射率大于所述第二参考控制反射率时，所述待使用胶体金免疫层析试纸条可靠。
在一些可能的实现方式中，所述基于所述第四控制反射率以及所述第一控制反射率确定所述待使用胶体金免疫层析试纸条是否可用，包括：
确定第三百分比阈值，并根据所述第三百分比阈值和所述第一控制反射率确定第一参考控制反射率；
判断所述第四控制反射率是否小于所述第一参考控制反射率，当所述第四控制反射率小于所述第一参考控制反射率时，所述待使用胶体金免疫层析试纸条可用。
在一些可能的实现方式中，所述检测结果为：
式中，为检测结果；/>为目标空白光子数量；为第一空白光子数量；/>为目标控制光子数量；为第一控制光子数量。
采用上述实施例的有益效果是：本发明提供的胶体金免疫层析分析仪的检测方法，通过设置在测试线和空白区域之间的第一发光器件照射测试线和空白区域，设置在空白区域和控制线之间的第二发光器件照射空白区域和控制线，可实现测试线和控制线的分别照射；并通过控制器控制第一发光器件和第二发光器件的发光时间，以使在将待测物滴入加液区前，测试线和控制线的反射率差值小于预设反射率差值，即：实现在将待测物滴入加液区前，测试线和控制线的照度平衡，从而可提高胶体金免疫层析分析仪的检测准确性。
进一步地，通过在用待使用胶体金免疫层析试纸条获取检测结果之前，首先确定待使用胶体金免疫层析试纸条反应是否完成，可确保检测结果的可靠性。并且，本发明并不是直接将目标测试反射率作为检测结果，而是根据目标测试反射率、目标空白反射率、目标控制反射率、第一空白反射率以及第一测试反射率确定检测结果，可进一步提高检测结果的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的胶体金免疫层析分析仪的一个实施例结构示意图；
图2为本发明提供的胶体金免疫层析分析仪的检测方法的一个实施例流程示意图；
图3为本发明图2中步骤S202的一个实施例流程示意图；
图4为本发明图3中步骤S301中确定第一参考光子数量比值的一个实施例流程示意图；
图5为本发明图3中步骤S302的一个实施例流程示意图；
图6为本发明图5中步骤S502的一个实施例流程示意图；
图7为本发明图5中步骤S504的一个实施例流程示意图；
图8为本发明图5中步骤S506的一个实施例流程示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应当理解，示意性的附图并未按实物比例绘制。本发明中使用的流程图示出了根据本发明的一些实施例实现的操作。应当理解，流程图的操作可以不按顺序实现，没有逻辑的上下文关系的步骤可以反转顺序或者同时实施。此外，本领域技术人员在本发明内容的指引下，可以向流程图添加一个或多个其他操作，也可以从流程图中移除一个或多个操作。附图中所示的一些方框图是功能实体，不一定必须与物理或逻辑上独立的实体相对应。可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体，或在不同网络和/或处理器系统和/或微控制器系统中实现这些功能实体。
本发明实施例中所涉及到的“第一”、 “第二”等描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或者暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。因此，限定有“第一”、 “第二”的技术特征可以明示或者隐含的包括至少一个该特征。
在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
本发明提供了一种胶体金免疫层析分析仪及其检测方法，以下分别进行说明。
图1为本发明提供的胶体金免疫层析分析仪的一个实施例结构示意图，如图1所示，胶体金免疫层析分析仪10包括：胶体金免疫层析试纸条100、第一传感器200、第二传感器300、第三传感器400、第一发光器件500、第二发光器件600以及控制器700；
胶体金免疫层析试纸条100包括用于盛放待测物的加液区110以及对待测物进行检测的检测区120，检测区120包括测试线121、空白区域122以及控制线123；
第一发光器件500设置在测试线121和空白区域122之间，用于照射测试线121和空白区域122；
第二发光器件600设置在空白区域122和控制线123之间，用于照射空白区域122和控制线123；
第一传感器200、第二传感器300和第三传感器400用于对应获取测试线121、空白区域122和控制线123的光子数量；
控制器700控制第一发光器件500和第二发光器件600的发光时间，以使在将待测物滴入加液区前，测试线121和控制线123的光子数量差值小于预设光子数量差值。
与现有技术相比，本发明实施例提供的胶体金免疫层析分析仪10，通过设置在测试线121和空白区域122之间的第一发光器件500照射测试线121和空白区域122，设置在空白区域122和控制线123之间的第二发光器件600照射空白区域122和控制线123，可实现测试线121和控制线123的分别照射；并通过控制器700控制第一发光器件500和第二发光器件600的发光时间，以使在将待测物滴入加液区前，测试线121和控制线123的光子数量差值小于预设光子数量差值，即：实现在将待测物滴入加液区前，测试线121和控制线123的照度平衡，从而可提高胶体金免疫层析分析仪10的检测准确性。
在本发明的具体实施例中，第一发光器件500和第二发光器件600为发光二极管（Light-Emitting Diode，LED）。
应当理解的是：预设光子数量差值可根据实际应用场景或经验值进行设置或调整，在此不做具体限定。
由于空白区域122的光子数量在检测过程中作为对照组参与检测，因此，为了避免照射在空白区域122和测试线121、控制线123的照度不平衡，导致对检测结果有影响，在本发明的一些实施例中，第一发光器件500设置在测试线121和空白区域122之间的中轴线上，第二发光器件600设置在空白区域122和控制线123之间的中轴线上。
本发明实施例通过将第一发光器件500设置在测试线121和空白区域122之间的中轴线上，第二发光器件600设置在空白区域122和控制线123之间的中轴线上，可实现第一发光器件500照向测试线121和空白区域122的光照量相同，第二发光器件600照向控制线123和空白区域122的光照量相同，从而进一步提高了胶体金免疫层析分析仪10的检测准确性。并且，降低了通过胶体金免疫层析分析仪10进行定量检测时的工作复杂度，提高了检测效率。
另一方面，本发明还提供了一种胶体金免疫层析分析仪的检测方法，适用于上述任意一个实施例中的胶体金免疫层析分析仪10，如图2所示，胶体金免疫层析分析仪的检测方法包括：
S201、控制第一发光器件500和第二发光器件600的发光时间，获得待使用胶体金免疫层析分析仪，待使用胶体金免疫层析分析仪为在将待测物滴入加液区前，测试线121和控制线123的光子数量差值小于预设光子数量差值的胶体金免疫层析分析仪；
S202、基于待使用胶体金免疫层析分析仪对待测物进行定量检测。
本发明实施例通过在将待测物滴入加液区前，控制测试线121和控制线123的光子数量差值小于预设光子数量差值，即：实现在将待测物滴入加液区前，测试线121和控制线123的照度平衡，从而可提高通过胶体金免疫层析分析仪的检测方法检测结果的准确性。
在本发明的一些实施例中，如图3所示，步骤S202包括：
S301、在将待测物滴入加液区前，控制第一发光器件500和第二发光器件600发光，分别获取测试线121的第一测试光子数量O_empty_t、空白区域122的第一空白光子数量O_ empty_bt以及控制线123的第一控制光子数量O_empty_c，并基于第一测试光子数量O_ empty_t和第一空白光子数量O_empty_bt确定第一参考光子数量比值R_empty_tb_90；
S302、将待测物滴入加液区，并基于第一参考光子数量比值R_empty_tb_90和第一控制光子数量O_empty_c确定待使用胶体金免疫层析试纸条反应是否完成；
S303、当待使用胶体金免疫层析试纸条反应完成后，控制第一发光器件500和第二发光器件600发光，并获取测试线121的目标测试光子数量O_finish_t、空白区域122的目标空白光子数量O_finish_bt以及控制线123的目标控制光子数量O_finish_c，并根据目标测试光子数量O_finish_t、目标空白光子数量O_finish_bt、目标控制光子数量O_finish_c、第一空白光子数量O_empty_bt以及第一测试光子数量O_empty_t确定检测结果。
本发明实施例通过在用待使用胶体金免疫层析试纸条获取检测结果之前，首先确定待使用胶体金免疫层析试纸条反应是否完成，可确保检测结果的可靠性。并且，本发明实施例并不是直接将目标测试光子数量O_finish_t作为检测结果，而是根据目标测试光子数量O_finish_t、目标空白光子数量O_finish_bt、目标控制光子数量O_finish_c、第一空白光子数量O_empty_bt以及第一测试光子数量O_empty_t确定检测结果，可进一步提高检测结果的准确性。
在本发明的一些实施例中，如图4所示，步骤S301中的基于第一测试光子数量O_ empty_t和第一空白光子数量O_empty_bt确定第一参考光子数量比值R_empty_tb_90，包括：
S401、将第一测试光子数量O_empty_t和第一空白光子数量O_empty_bt的比值作为第一待用光子数量比值R_empty_tb；
S402、确定第一百分比阈值，并根据第一百分比阈值和第一待用光子数量比值R_ empty_tb确定第一参考光子数量比值R_empty_tb_90。
在本发明的具体实施例中，第一百分比阈值为90%，则第一参考光子数量比值R_ empty_tb_90为：
R_empty_tb_90= R_empty_tb×90%
在本发明的一些实施例中，如图5所示，步骤S302包括：
S501、控制第一发光器件500和第二发光器件600发光，并获取测试线121的第二测试光子数量O_load_t、空白区域122的第二空白光子数量O_load_bt以及控制线123的第二控制光子数量O_load_c；
S502、基于第二测试光子数量O_load_t、第二空白光子数量O_load_bt以及第一参考光子数量比值R_empty_tb_90确定待测物是否达到测试线121；
S503、当待测物达到测试线121时，等待第一预设时间，并控制第二发光器件600发光，获取控制线123的第三控制光子数量O_overflow_c；
S504、基于第三控制光子数量O_overflow_c和第二控制光子数量O_load_c确定待使用胶体金免疫层析试纸条是否可靠；
S505、当待使用胶体金免疫层析试纸条可靠时，等待第二预设时间，并控制第二发光器件600发光，获取控制线123的第四控制光子数量O_low_sample_c；
S506、基于第四控制光子数量O_low_sample_c以及第一控制光子数量O_empty_c确定待使用胶体金免疫层析试纸条是否可用；
S507、当待使用胶体金免疫层析试纸条可用时，等待第三预设时间，待使用胶体金免疫层析试纸条反应完成。
本发明实施例通过依次判断待测物是否达到测试线121，使用胶体金免疫层析试纸条是否可靠以及待使用胶体金免疫层析试纸条是否可用，可进一步确保使用待使用胶体金免疫层析试纸条进行检测的检测结果的准确性。
在本发明的具体实施例中，第一预设时间为5S，第二预设时间为20S，第三预设时间为240S。
应当理解的是：第一预设时间、第二预设时间和第三预设时间均可根据实际应用场景或经验值进行设定或调整，在此不做一一赘述。
在本发明的一些实施例中，如图6所示，步骤S502包括：
S601、将第二测试光子数量O_load_t和第二空白光子数量O_load_bt的比值作为第二待用光子数量比值R_load_tb；
S602、判断第二待用光子数量比值R_load_tb是否小于第一参考光子数量比值R_ empty_tb_90，当第二待用光子数量比值R_load_tb小于第一参考光子数量比值R_empty_ tb_90时，待测物达到测试线121。
需要说明的是：当第二待用光子数量比值R_load_tb大于或等于第一参考光子数量比值R_empty_tb_90时，则说明待测物还未达到测试线121，需要继续等待，重复对待测物是否达到测试线121进行检测。
在本发明的一些实施例中，如图7所示，步骤S504包括：
S701、确定第二百分比阈值，并根据第二百分比阈值和第二控制光子数量O_load_ c确定第二参考控制光子数量O_load_c_90；
S702、判断第三控制光子数量O_overflow_c是否大于第二参考控制光子数量O_ load_c_90，当第三控制光子数量O_overflow_c大于第二参考控制光子数量O_load_c_90时，待使用胶体金免疫层析试纸条可靠。
在本发明的具体实施例中，第二百分比阈值为90%，则第二参考控制光子数量O_ load_c_90为：
O_load_c_90=O_load_c×90%
应当理解的是：第二百分比阈值可根据实际应用场景或经验值进行设定或调整，在此不做一一赘述。
具体地，当第三控制光子数量O_overflow_c大于第二参考控制光子数量O_load_ c_90时，表示控制线123的颜色变深速度比较正常，说明待使用胶体金免疫层析试纸条可靠，而当第三控制光子数量O_overflow_c小于或等于第二参考控制光子数量O_load_c_90时，则说明待使用胶体金免疫层析试纸条有问题，需要停止检测。
在本发明的一些实施例中，如图8所示，步骤S506包括：
S801、确定第三百分比阈值，并根据第三百分比阈值和第一控制光子数量O_ empty_c确定第一参考控制光子数量O_empty_c_80；
S802、判断第四控制光子数量O_low_sample_c是否小于第一参考控制光子数量O_ empty_c，当第四控制光子数量O_low_sample_c小于第一参考控制光子数量O_empty_c时，待使用胶体金免疫层析试纸条可用。
在本发明的具体实施例中，第三百分比阈值为80%，则第一参考控制光子数量O_ empty_c_80为：
O_empty_c_80= O_empty_c×80%
应当理解的是：第三百分比阈值可根据实际应用场景或经验值进行设定或调整，在此不做一一赘述。
具体地，当第四控制光子数量O_low_sample_c小于第一参考控制光子数量O_ empty_c时，表示控制线123的颜色已经变得足够深，可以进行检测结果的判定，而当第四控制光子数量O_low_sample_c大于或等于第一参考控制光子数量O_empty_c时，则说明待使用胶体金免疫层析试纸条有问题，需要停止检测。
在本发明的一些实施例中，检测结果为：
式中，为检测结果；/>为目标空白光子数量；为第一空白光子数量；/>为目标控制光子数量；为第一控制光子数量。
本发明实施例中检测结果的计算公式中，分子和分母分别为待测物滴入加液区110前、后的光子数量比值，可进一步消除测试线121和控制线123的照度差异，从而进一步提高检测结果的准确性。
更进一步地，检测结果的计算公式中，分子为空白区域122的光子数量比值，分母为测试线121的光子数量比值，即：检测结果为空白区域122和测试线121光子数量的比值，可减小胶体金免疫层析试纸条100本身颜色对检测结果的干扰，更进一步地提高了检测结果的准确性。
本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关的硬件（如处理器，控制器等）来完成，计算机程序可存储于计算机可读存储介质中。其中，计算机可读存储介质为磁盘、光盘、只读存储记忆体或随机存储记忆体等。
以上对本发明所提供的胶体金免疫层析分析仪及其检测方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (6)

1.一种胶体金免疫层析分析仪的检测方法，其特征在于，胶体金免疫层析分析仪包括胶体金免疫层析试纸条、第一发光器件、第二发光器件，所述胶体金免疫层析试纸条包括用于盛放待测物的加液区以及对所述待测物进行检测的检测区，所述检测区包括测试线、空白区域以及控制线；所述第一发光器件设置在所述测试线和所述空白区域之间；所述第二发光器件设置在所述空白区域和所述控制线之间；
所述胶体金免疫层析分析仪的检测方法包括：
控制所述第一发光器件和所述第二发光器件的发光时间，获得待使用胶体金免疫层析分析仪，所述待使用胶体金免疫层析分析仪为在将所述待测物滴入所述加液区前，所述测试线和所述控制线的光子数量差值小于预设光子数量差值的胶体金免疫层析分析仪；
在将所述待测物滴入所述加液区前，控制所述第一发光器件和所述第二发光器件发光，分别获取所述测试线的第一测试光子数量、所述空白区域的第一空白光子数量以及所述控制线的第一控制光子数量，并基于所述第一测试光子数量和所述第一空白光子数量确定第一参考光子数量比值；
将所述待测物滴入所述加液区，并基于所述第一参考光子数量比值和所述第一控制光子数量确定所述待使用胶体金免疫层析试纸条反应是否完成；
当所述待使用胶体金免疫层析试纸条反应完成后，控制所述第一发光器件和所述第二发光器件发光，并获取所述测试线的目标测试光子数量、所述空白区域的目标空白光子数量以及所述控制线的目标控制光子数量，并根据所述目标测试光子数量、所述目标空白光子数量、所述目标控制光子数量、所述第一空白光子数量以及所述第一测试光子数量确定检测结果；
所述基于所述第一参考光子数量比值和所述第一控制光子数量确定所述待使用胶体金免疫层析试纸条反应是否完成，包括：
控制所述第一发光器件和所述第二发光器件发光，并获取所述测试线的第二测试光子数量、所述空白区域的第二空白光子数量以及所述控制线的第二控制光子数量；
基于所述第二测试光子数量、所述第二空白光子数量以及所述第一参考光子数量比值确定待测物是否达到所述测试线；
当所述待测物达到所述测试线时，等待第一预设时间，并控制所述第二发光器件发光，获取所述控制线的第三控制光子数量；
基于所述第三控制光子数量和所述第二控制光子数量确定所述待使用胶体金免疫层析试纸条是否可靠；
当所述待使用胶体金免疫层析试纸条可靠时，等待第二预设时间，并控制所述第二发光器件发光，获取所述控制线的第四控制光子数量；
基于所述第四控制光子数量以及所述第一控制光子数量确定所述待使用胶体金免疫层析试纸条是否可用；
当所述待使用胶体金免疫层析试纸条可用时，等待第三预设时间，所述待使用胶体金免疫层析试纸条反应完成。
2.根据权利要求1所述的胶体金免疫层析分析仪的检测方法，其特征在于，所述基于所述第一测试光子数量和所述第一空白光子数量确定第一参考光子数量比值，包括：
将所述第一测试光子数量和所述第一空白光子数量的比值作为第一待用光子数量比值；
确定第一百分比阈值，并根据所述第一百分比阈值和所述第一待用光子数量比值确定所述第一参考光子数量比值。
3.根据权利要求1所述的胶体金免疫层析分析仪的检测方法，其特征在于，所述基于所述第二测试光子数量、所述第二空白光子数量以及所述第一参考光子数量比值确定待测物是否达到所述测试线，包括：
将所述第二测试光子数量和所述第二空白光子数量的比值作为第二待用光子数量比值；
判断所述第二待用光子数量比值是否小于第一参考光子数量比值，当所述第二待用光子数量比值小于第一参考光子数量比值时，所述待测物达到所述测试线。
4.根据权利要求1所述的胶体金免疫层析分析仪的检测方法，其特征在于，所述基于所述第三控制光子数量和所述第二控制光子数量确定所述待使用胶体金免疫层析试纸条是否可靠，包括：
确定第二百分比阈值，并根据所述第二百分比阈值和所述第二控制光子数量确定第二参考控制光子数量；
判断所述第三控制光子数量是否大于所述第二参考控制光子数量，当所述第三控制光子数量大于所述第二参考控制光子数量时，所述待使用胶体金免疫层析试纸条可靠。
5.根据权利要求1所述的胶体金免疫层析分析仪的检测方法，其特征在于，所述基于所述第四控制光子数量以及所述第一控制光子数量确定所述待使用胶体金免疫层析试纸条是否可用，包括：
确定第三百分比阈值，并根据所述第三百分比阈值和所述第一控制光子数量确定第一参考控制光子数量；
判断所述第四控制光子数量是否小于所述第一参考控制光子数量，当所述第四控制光子数量小于所述第一参考控制光子数量时，所述待使用胶体金免疫层析试纸条可用。
6.根据权利要求1所述的胶体金免疫层析分析仪的检测方法，其特征在于，所述检测结果为：
式中，为检测结果；/>为目标空白光子数量；/>为第一空白光子数量；/>为目标控制光子数量；/>为第一控制光子数量。
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