CN106841642A - 试剂混匀控制方法、装置和样本分析仪 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种试剂混匀控制方法、装置和样本分析仪。该方法包括：包括：在样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间；在试剂盘空闲时间内，试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作。本发明公开的剂混匀控制方法，能够在不降低仪器的检测通量的同时对试剂进行混匀。

Description

试剂混匀控制方法、装置和样本分析仪

技术领域

本发明属于检测技术领域，尤其涉及一种试剂混匀控制方法、装置和样本分析仪。

背景技术

仪器上使用的试剂盒是一种耗材，试剂盒中装有试剂，试剂的使用次数是有限的。试剂盒放置在仪器的试剂仓中，试剂仓有多个位置。试剂仓一般是一种圆形且可正向/反向旋转的装置，可将试剂仓上的任何一个位置转动到试剂臂取试剂的位置上。

现有的试剂混匀方式，多采用设置在仪器中的试剂混匀机构进行混匀操作。通过试剂盘的转动带动试剂混匀机构旋转，以使试剂混匀。在仪器工作时直接进行混匀操作，极易增加试剂臂的等待时间，对仪器正常工作造成影响。

通常检测仪器的性能指标之一为仪器的检测通量，检测通量一般表示在单位时间内能够完成测试的样本的数量。如果在检测过程中，需要增加额外的时间以混匀试剂，则会降低仪器的检测通量。如果要保持检测通量不变，只有增加仪器的运动速度，但会提高仪器调度的复杂度。

综上，现有技术中存在的技术问题是：试剂混匀过程带来了不可避免的检测通量降低。

发明内容

本发明实施例提供了一种试剂混匀控制方法、装置和样本分析仪，能够在不降低仪器的检测通量的同时对试剂进行混匀。

第一方面，提供了一种试剂混匀控制方法，包括：在样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间；在试剂盘空闲时间内，试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作。

第二方面，提供了一种试剂混匀控制装置，包括：计算单元和控制单元。该计算单元用于在样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间。该控制单元用于在试剂盘空闲时间内，试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作。

第三方面，提供了一种样本分析仪，包括上述试剂混匀控制装置和一个或一个以上的试剂混匀机构，上述剂混匀控制装置控制试剂盘旋转，以带动试剂混匀机构对试剂进行混匀。

根据本发明实施例提供的试剂混匀控制方法、装置和样本分析仪，通过在样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间，从而获得混匀动作开始的时间点以使试剂盘转动预设角度实现了在不影响仪器正常工作时的同时来试剂进行混匀。能够在不降低仪器的检测通量的同时对试剂进行混匀。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明的一种实施例的试剂混匀控制方法的示意性流程图；

图2是本发明的另一种实施例的试剂混匀控制方法的示意性流程图；

图3是本发明的一种实施例的在样本的处理周期内不存在试剂取用操作是试剂混匀控制方法的示意性流程图；

图4是本发明的一种实施例的在样本的处理周期内不存在试剂取用操作的试剂混匀控制方法的示意性时序图；

图5是本发明的一种实施例的在样本的处理周期内存在一个试剂臂进行试剂取用操作的试剂混匀控制方法的示意性流程图；

图6是本发明的一种实施例的在样本的处理周期内存在一个试剂臂进行试剂取用操作是的试剂混匀控制方法的示意性时序图；

图7是本发明的一种实施例的在样本的处理周期内存在两个试剂臂进行试剂取用操作的试剂混匀控制方法的示意性流程图；

图8是本发明的一种实施例的在样本的处理周期内存在两个试剂臂进行试剂取用操作是的试剂混匀控制方法的示意性时序图；

图9是本发明的一种实施例的试剂混匀控制装置的示意性框图；

图10是本发明的另一种实施例的试剂混匀控制装置的示意性框图；

图11是本发明的再一种实施例的试剂混匀控制装置的示意性框图；

图12是本发明的一种实施例的试剂混匀控制装置的示意性框图；

图13是本发明的一种实施例的样本分析仪的示意性框图；

图14是本发明的一种实施例的试剂混匀控制装置的计算设备实现的示意性框图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例。在下面的详细描述中，提出了许多具体细节，以便提供对本发明的全面理解。但是，对于本领域技术人员来说很明显的是，本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明的更好的理解。本发明决不限于下面所提出的任何具体配置和算法，而是在不脱离本发明的精神的前提下覆盖了元素、部件和算法的任何修改、替换和改进。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

在一些示例中，设置在仪器中混匀机构，试剂盘中的每个试剂盒可以设计有独立的试剂位。例如有三个试剂位，每个试剂位可以放置不同的液体形式物质，统称为试剂。

其中有一种试剂里有微粒状的磁珠，检测时必须使磁珠能均匀的分布在试剂中每个位置。若静止不动则磁珠会随着时间的推移慢慢沉降，分布变得不均匀。所以在检测时，应不停的混匀试剂，使其均匀分布。

在一些示例中，试剂混匀机构设置在试剂盒的一个试剂位中，该试剂混匀机构一般设计成可旋转的圆柱形装置。当试剂盘转动时，带动试剂盒上的磁珠位置旋转，从而达到混匀试剂的目的。

在一些示例中，仪器从待机模式到运行模式时，试剂盘会顺转一圈，然后反转一圈，如此反复多次，试剂盘旋转时带动盘上所有试剂盒的磁珠位置转动，使试剂混匀，或是应用户需求对进行转动，对试剂进行混匀，但会占用仪器的工作时间，影响仪器检测通量。

基于上述问题，本发明实施例提供一种试剂混匀控制方法，能够在不降低仪器的检测通量的同时对试剂进行混匀。

图1是本发明的一种实施例的试剂混匀控制方法的示意性流程图。如图1所示，该试剂混匀控制方法，可以包括：

S110，在一个样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间。试剂盘被试剂臂占用的时间，例如可以是在试剂臂进行取试剂时，需要占用试剂盘，这段时间可以称为试剂盘的工作时间，而相应的试剂盘未被试剂臂占用的时间可以称为试剂盘空闲时间。

S120，在试剂盘空闲时间内，试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作。

在一些示例中，该混匀控制方法100，可以通过仪器在线自动运行实现。

在一些示例中，混匀动作包括在试剂盘空闲时间内，试剂盘顺时针转动、逆时针转动、交替转动、旋转一周或多周以及其他规律或不规律转动。

本发明实施例的试剂混匀控制方法，可以通过在样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间，从而获得混匀动作开始的时间点以使试剂盘转动预设角度实现了在不影响仪器正常工作时的同时来试剂进行混匀。能够在不降低仪器的检测通量的同时对试剂进行混匀。

在一些示例中，上述样本的处理周期可以是基于仪器的检测通量计算获得。例如，一台仪器的检测通量为每小时300个样本，那么每个样本的处理周期则为3600秒÷300＝12秒。

根据一些实施例，上述试剂盘空闲时间可以是：样本的处理周期内试剂臂取试剂后的试剂盘空闲时间或样本的处理周期内试剂臂取试剂前的试剂盘空闲时间。例如，在同一个样本的处理周期的试剂臂取试剂前的试剂盘空闲时间和试剂臂取试剂后的试剂盘空闲时间均可以认为是该样本的处理周期的试剂盘空闲时间。在一个示例中，可以在同一个样本的处理周期的试剂臂取试剂前的试剂盘空闲时间和试剂臂取试剂后的试剂盘空闲时间分别执行上述一次或一次以上试剂混匀动作。在一些示例中，也可只在同一个样本的处理周期试剂臂取试剂前的试剂盘空闲时间或试剂臂取试剂后的试剂盘空闲时间中的一者执行上述一次或一次以上试剂混匀动作。

在一些示例中，上述试剂盘空闲时间还可以是：样本的处理周期内试剂臂取试剂后的试剂盘空闲时间与下一个样本的处理周期内试剂臂取试剂前的试剂盘空闲时间之和。例如，可以认为上述样本的处理周期为两个样本的处理周期，在前一个周期剂臂取试剂后存在试剂盘空闲时间，那么该试剂盘空闲时间可以跨越周期直到下一个周期的试剂臂取试剂之前为止。这样，会使试剂盘有更长的时间进行试剂混匀操作，提高试剂混匀效果。

图2是本发明的另一种实施例的试剂混匀控制方法的示意性流程图。如图2所示，该试剂混匀控制方法，可以包括：

S210，判断样本的处理周期内，是否存在试剂取用操作。这里的样本的处理周期内可以是一个或一个以上。

S220，上述样本的处理周期内不存在试剂取用操作。

S230，在这样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间。

S240，在试剂盘空闲时间内，试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作。

在一些示例中，如果判定某一个样本的处理周期内没有试剂臂进行取试剂操作，那么可以在试剂盘空闲时间内，试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作。

在一些示例中，S230中，在上述一个上样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间，也可以将下一个样本的处理周期内试剂臂取试剂前，试剂盘未被占用的时间考虑在内，获得一个更长的试剂盘空闲时间。

在一些示例中，上述样本的处理周期可以是一个以上，比如三个，如果在三个样本的处理周期判定均不存在试剂取用操作，那么可以认为这个三个样本的处理周期都是试剂盘空闲时间，以进行混匀动作。在一些示例中，还可以将上述的三个样本的处理周期之前的一个周期中试剂臂取试剂之后的时间，和上述的三个样本的处理周期之后的一个周期中试剂臂取试剂之前的时间与上述三个样本的处理周期共同算作试剂盘空闲时间，以进行混匀动作。以实现在不降低仪器的检测通量的同时对试剂进行更长时间的混匀。

图3是本发明的一种实施例的在样本的处理周期内不存在试剂取用操作是试剂混匀控制方法的示意性流程图。如图3所示，该试剂混匀控制方法，可以包括：

S310，判断样本的处理周期内，是否存在试剂取用操作。

S320，上述样本的处理周期内不存在试剂取用操作。

S330，在上述样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间。

S340，在试剂盘空闲时间内，试剂盘转动一周以执行混匀动作。例如，试剂盘顺时针转动一周。以实现在不降低仪器的检测通量的同时对试剂进行混匀。在一些示例中，S330中，在一个样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间，也可以将下一个样本的处理周期内试剂臂取试剂前，试剂盘未被占用的时间考虑在内，获得一个更长的试剂盘空闲时间。

图4是本发明的一种实施例的在样本的处理周期内不存在试剂取用操作的试剂混匀控制方法的示意性时序图。如图4所示，该时序图由四个上述样本处理周期组成。以一个样本周期的时间片为12秒为例，曲线1代表上述样本处理周期，其中的间隔线代表一个样本处理周期的结束和下一个样本处理周期的开始，曲线2中的凸起代表试剂盘在执行混匀动作。通过上述实际混匀控制方法在每个样本周期的空闲时间内对试剂进行混匀。

图5是本发明的一种实施例的在样本的处理周期内存在一个试剂臂进行试剂取用操作的试剂混匀控制方法的示意性流程图。如图5所示，该试剂混匀控制方法，可以包括：

S510，在样本的处理周期的工作时间，一个试剂臂进行试剂取用操作，则试剂盘转动w度，使试剂盘上需要进行试剂取用的试剂位置旋转至试剂臂停留位置，w不大于180。

S520，在上述样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间。

S530，在上述试剂盘空闲时间内，试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作。

在一些示例中，在一个试剂臂进行试剂取用操作时，为例尽量避免延长试剂臂的等待时间，提高整个仪器的检测通量，会在试剂盘上需要进行试剂取用的试剂位置旋转至试剂臂停留位置时，选择一个较短的角度，以缩短试剂臂的等待时间。

图6是本发明的一种实施例的在样本的处理周期内存在一个试剂臂进行试剂取用操作是的试剂混匀控制方法的示意性时序图。如图6所示，该时序图由四个上述样本处理周期组成。以一个样本周期的时间片为12秒为例，曲线1代表上述样本处理周期，其中的间隔线代表一个样本处理周期的结束和下一个样本处理周期的开始，曲线2中的凸起代表试剂盘在执行混匀动作。曲线3中的凸起代表一个试剂臂在执行取试剂动作，通过上述实际混匀控制方法在避开试剂臂取试剂的时间，在每个样本周期的空闲时间内对试剂进行混匀。其中，在第一个样本处理周期，可以看到试剂盘在该样本处理周期内的试剂盘空闲时间分别进行了两次混匀。在第二个样本处理周期，可以看到试剂盘在试剂臂取试剂之前进行了一次混匀，并第二个样本处理周期的试剂臂取试剂之后至第三个样本处理周期内的试剂臂取试剂之前，进行了一次更长时间的混匀。

图7是本发明的一种实施例的在一个样本的处理周期内存在两个试剂臂进行试剂取用操作的试剂混匀控制方法的示意性流程图。如图7所示，该试剂混匀控制方法，可以包括：

S710，在样本的处理周期的工作时间，两个或两个以上试剂臂进行试剂取用操作，分别计算试剂盘上需要进行试剂取用的试剂位置与两个或两个以上试剂臂的停留位置之间的夹角。

S720，将试剂盘转动m度，使试剂盘上需要进行试剂取用的试剂位置旋转至夹角中的最小夹角对应的试剂臂的停留位置，m不大于180。

S730，在上述样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间。

S740，在上述试剂盘空闲时间内，试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作。

在一个示例中，例如两个试剂臂进行试剂取用操作时，为例尽量避免延长试剂臂的等待时间，提高整个仪器的检测通量，会先分别计算在试剂盘上需要进行试剂取用的试剂位置与两个试剂臂的停留位置之间的角度，在这里选择一个较小的角度对应的试剂臂，例如试剂臂1，将试剂盘上需要进行试剂取用的试剂位置旋转至试剂臂1的停留位置，以缩短试剂臂的等待时间。

图8是本发明的一种实施例的在样本的处理周期内存在两个试剂臂进行试剂取用操作是的试剂混匀控制方法的示意性时序图。如图8所示，该时序图由4个上述样本处理周期组成。以一个样本周期的时间片为12秒为例，曲线1代表上述样本处理周期，其中的间隔线代表一个样本处理周期的结束和下一个样本处理周期的开始，曲线2中的凸起代表试剂盘在执行混匀动作。曲线3中的凸起代表第一试剂臂或第二试剂臂在执行取试剂动作，通过上述实际混匀控制方法在避开两个试剂臂取试剂的时间，在每个样本周期的空闲时间内对试剂进行混匀。

根据一些实施例，在上述的，在样本的处理周期内，一个或多个试剂臂进行取试剂操作的情况。

在一些示例中，该试剂混匀控制方法的混匀动作中还可以包括第一复位动作。该试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作可以包括：试剂盘转动复位角度中的较大复位角度以执行一次第一复位动作。需要说明的是，这里的复位可以指的是，试剂盘转回到试剂臂取试剂前的位置，也可以表示试剂盘转回至某个特定的初始位置。由于试剂盘在执行复位时，会存在两个复位角度，一个复位角为度延顺时针进行复位时试剂盘需要转动的角度，另一个复位为角度延逆时针进行复位时试剂盘需要转动的复位角度，去除两个复位角度都等于180度的情况，会产生一个较大的复位角度和一个较小的复位角度，这里的第一复位动作可以理解为在试剂盘进行复位时，选择一个相对较大的角度进行复位，以提高试剂的混匀效果。

在一个示例中，在一个试剂臂的情况下，该第一复位动作结合S510可以保证该试剂盘在空闲时间至少旋转了一周，已进行试剂混匀。在一些示例中，该试剂混匀控制方法的混匀动作中还可以包括第二复位动作。该试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作可以包括：当复位角度中的较小复位角度小于预设阈值时，则试剂盘先向较小复位角度的所需旋转方向反向旋转n度，然后再向较小复位角度的所需旋转方向旋转较小复位角度加n度，以执行一次第二复位动作，需要说明的是，这里的第二复位动作是在复位角度中的较小复位角度小于一个预设阈值时，为了让试剂盘仍能转过一个较大角度，增加试剂混匀效果，而执行的试剂盘先向较小复位角度的所需旋转方向反向旋转n度，然后再向较小复位角度的所需旋转方向旋转较小复位角度加n度的动作。

在一个示例中，试剂盘设置有30个试剂盒也就是30个位点，每个位点对应试剂盘上的一个角度值。例如预设阈值为10个位点所占据的角度值，那么当复位角度中的较小复位角度小于上述10个位点所占据的角度值时，可以选择试剂盘先向较小复位角度的所需旋转方向反向旋转n度，例如旋转90度，然后再向较小复位角度的所需旋转方向旋转较小复位角度加90度，以执行一次第二复位动作。通过上述第二复位动作，可以使在试剂盘进行复位时，转动一个较大的角度进行复位，以提高试剂的混匀效果。

根据一些实施例，上述试剂混匀控制方法中的试剂混匀动作还可以包括周转动作。

在执行一次第一复位动作之后，该试剂混匀控制方法还可以包括：试剂盘转动360度的整数倍以执行一次或一次以上的周转动作。

在一些示例中，在执行一次第一复位动作之后，该试剂混匀控制方法还可以包括：试剂盘转动360度的整数倍以执行一次或一次以上的周转动作。通过在试剂盘空闲时间内在复位动作完成后，执行周转动作，可以在不降低仪器的检测通量的同时，提高试剂的混匀效果。

上文中结合图1至图8，详细描述了根据本发明实施例的试剂混匀控制方法，下面将结合图9至图12，详细描述根据本发明实施例的试剂混匀控制的装置。

图9是本发明的一种实施例的试剂混匀控制装置的示意性框图。如图9所示，该试剂混匀控制装置900，可以包括：计算单元910和控制单元920。

计算单元910用于在样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间。

控制单元920用于在试剂盘空闲时间内，试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作。

根据本发明实施例的试剂混匀控制装置900可对应于根据本发明实施例的试剂混匀控制方法100中的执行主体，并且试剂混匀控制装置900中的各个单元的上述和其它操作和/或功能分别为了实现图1中的各个方法的相应流程，为了简洁，在此不再赘述。

试剂混匀控制装置900通过在样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间，从而获得混匀动作开始的时间点以使试剂盘转动预设角度实现了在不影响仪器正常工作时的同时来试剂进行混匀。能够在不降低仪器的检测通量的同时对试剂进行混匀。

根据一些实施例，上述样本的处理周期可以基于仪器的检测通量计算获得。

根据一些实施例，上述试剂盘空闲时间可以是：样本的处理周期内试剂臂取试剂后的试剂盘空闲时间或样本的处理周期内试剂臂取试剂前的试剂盘空闲时间。

根据一些实施例，上述试剂盘空闲时间还可以是：样本的处理周期内试剂臂取试剂后的试剂盘空闲时间与下一个样本的处理周期内试剂臂取试剂前的试剂盘空闲时间之和。

根据一些实施例，试剂混匀控制装置900的控制单元还可以用于：在试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作之前，判断样本的处理周期内，是否存在试剂取用操作；样本的处理周期内不存在试剂取用操作。

根据一些实施例，试剂混匀控制装置900的控制单元还可以用于：在样本的处理周期的工作时间，一个试剂臂进行试剂取用操作，则试剂盘转动w度，使试剂盘上需要进行试剂取用的试剂位置旋转至试剂臂停留位置，w不大于180。

根据一些实施例，该试剂混匀控制装置900的控制单元还可以用于：在一个样本的处理周期的工作时间，两个或两个以上试剂臂进行试剂取用操作，分别计算试剂盘上所述需要进行试剂取用的试剂位置与两个或两个以上试剂臂的停留位置之间的夹角；将试剂盘转动m度，使试剂盘上需要进行试剂取用的试剂位置旋转至所述夹角中的最小夹角对应的试剂臂的停留位置，m不大于180度。

图10是本发明的另一种实施例的试剂混匀控制装置的示意性框图。如图10所示，该试剂混匀控制装置1000，可以包括，计算单元1010、控制单元1020和第一复位单元1030。

计算单元1010用于在样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间。

控制单元1020用于在试剂盘空闲时间内，试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作。

第一复位单元1030，可以用于试剂盘转动复位角度中的较大复位角度以执行一次第一复位动作。

图11是本发明的再一种实施例的试剂混匀控制装置的示意性框图。如图11所示，该试剂混匀控制装置1100，可以包括，计算单元1110、控制单元1120和第二复位单元1130。

计算单元1110用于在样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间。

控制单元1120用于在试剂盘空闲时间内，试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作。

第二复位单元1130，可以用于当复位角度中的较小复位角度小于预设阈值时，则试剂盘先向较小复位角度的所需旋转方向反向旋转n度，然后再向较小复位角度的所需旋转方向旋转较小复位角度加n度，以执行一次第二复位动作。

图12是本发明的一种实施例的试剂混匀控制装置的示意性框图。如图12所示，该试剂混匀控制装置1200，可以包括，计算单元1210、控制单元1220、第一复位单元1230和周转单元1240。

计算单元1210用于在样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间。

控制单元1220用于在试剂盘空闲时间内，试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作。

第一复位单元1230，可以用于试剂盘转动复位角度中的较大复位角度以执行一次第一复位动作。

周转单元1240可以用于在执行一次第一复位动作之后，试剂盘转动360度的整数倍以执行一次或一次以上的周转动作。

在一些示例中，上述该试剂混匀控制装置1100的周转单元还可以用于在执行一次第二复位动作之后，试剂盘转动360度的整数倍以执行一次或一次以上的周转动作。

图13是本发明的一种实施例的样本分析仪的示意性框图。如图13所示，该样本分析仪1300，可以包括上述试剂混匀控制装置和一个或一个以上的试剂混匀机构，上述剂混匀控制装置控制试剂盘旋转，以带动试剂混匀机构对试剂进行混匀。该样本分析仪1300可以通过在样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间，从而获得混匀动作开始的时间点以使试剂盘转动预设角度实现了在不影响仪器正常工作时的同时来试剂进行混匀。能够在不降低仪器的检测通量的同时对试剂进行混匀。

图14是本发明的一种实施例的试剂混匀控制装置的计算设备实现的示意性框图。如图14所示结合上述的试剂混匀控制方法和试剂混匀控制装置的至少一部分可以由计算设备1400实现，该计算设备1400可以包括输入设备1401、输入端口1402、处理器1403、存储器1404、输出端口1405、以及输出设备1406。其中，输入端口1402、处理器1403、存储器1404、以及输出端口1405通过总线1410相互连接，输入设备1401和输出设备1406分别通过输入端口1402和输出端口1405与总线1410连接，进而与计算设备1400的其他组件连接。需要说明的是，这里的输出接口和输入接口也可以用I/O接口表示。具体地，输入设备1401接收来自外部的输入信息，并通过输入端口1402将输入信息传送到处理器1403；处理器1403基于存储器1404中存储的计算机可执行指令对输入信息进行处理以生成输出信息，将输出信息临时或者永久地存储在存储器1404中，然后通过输出端口1405将输出信息传送到输出设备1406；输出设备1406将输出信息输出到计算设备1400的外部。

上述存储器1404包括用于数据或指令的大容量存储器。举例来说而非限制，存储器1404可包括HDD、软盘驱动器、闪存、光盘、磁光盘、磁带或通用串行总线(USB)驱动器或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下，存储器1404可包括可移除或不可移除(或固定)的介质。在合适的情况下，存储器1404可在计算设备1400的内部或外部。在特定实施例中，存储器1404是非易失性固态存储器。在特定实施例中，存储器1404包括只读存储器(ROM)。在合适的情况下，该ROM可以是掩模编程的ROM、可编程ROM(PROM)、可擦除PROM(EPROM)、电可擦除PROM(EEPROM)、电可改写ROM(EAROM)或闪存或者两个或更多个以上这些的组合。

总线1410包括硬件、软件或两者，将计算设备1400的部件彼此耦接在一起。举例来说而非限制，总线1410可包括加速图形端口(AGP)或其他图形总线、增强工业标准架构(EISA)总线、前端总线(FSB)、超传输(HT)互连、工业标准架构(ISA)总线、无限带宽互连、低引脚数(LPC)总线、存储器总线、微信道架构(MCA)总线、外围组件互连(PCI)总线、PCI-Express(PCI-X)总线、串行高级技术附件(SATA)总线、视频电子标准协会局部(VLB)总线或其他合适的总线或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下，总线1410可包括一个或多个总线1410。尽管本发明实施例描述和示出了特定的总线，但本发明考虑任何合适的总线或互连。

当通过图14所示的计算设备1400实现结合图9描述的试剂混匀控制装置时，输入设备1401接收仪器的试剂臂控制时序，在特定实施例中，与输出设备相连的I/O接口可以包括硬件、软件或两者，提供用于在计算设备1400与一个或多个I/O设备之间的通信的一个或多个接口。在合适的情况下，计算设备1400可包括一个或多个这些I/O设备。一个或多个这些I/O设备可允许人和计算机系统1400之间的通信。举例来说而非限制，I/O设备可包括键盘、小键盘、麦克风、监视器、鼠标、打印机、扫描仪、扬声器、静态照相机、触针、手写板、触摸屏、轨迹球、视频摄像机、另一合适的I/O设备或者两个或更多个以上这些的组合。I/O设备可包括一个或多个传感器。本发明实施例考虑用于它们的任何合适的I/O设备和任何合适的I/O接口。在合适的情况下，I/O接口可包括一个或多个装置或能够允许处理器1403驱动一个或多个这些I/O设备的软件驱动器。在合适的情况下，I/O接口可包括一个或多个I/O接口。尽管本发明实施例描述和示出了特定的I/O接口，但本发明实施例考虑任何合适的I/O接口。该处理器1403基于存储器1404中存储的计算机可执行指令，在一个样本的处理周期内，计算试剂臂执行取试剂后试剂盘空闲时间；在试剂盘空闲时间内，试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作。随后在需要时经由输出端口1405和输出设备1406将试剂盘转动预设角度的控制指令输出。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本发明实施例方案的目的。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (21)

1.一种试剂混匀控制方法，其特征在于，包括：

在样本的处理周期内，计算试剂臂执行取试剂后试剂盘空闲时间；

在所述试剂盘空闲时间内，所述试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作。

2.根据权利要求1所述的试剂混匀控制方法，其特征在于，所述样本的处理周期基于仪器的检测通量计算获得。

3.根据权利要求1或2所述的试剂混匀控制方法，其特征在于，所述试剂盘空闲时间是：样本的处理周期内试剂臂取试剂后的试剂盘空闲时间或样本的处理周期内试剂臂取试剂前的试剂盘空闲时间。

4.根据权利要求1或2所述的试剂混匀控制方法，其特征在于，所述试剂盘空闲时间是：样本的处理周期内试剂臂取试剂后的试剂盘空闲时间与下一个样本的处理周期内试剂臂取试剂前的试剂盘空闲时间之和。

5.根据权利要求1所述的试剂混匀控制方法，其特征在于，所述试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作之前，还包括：

判断所述样本的处理周期内，是否存在试剂取用操作；

所述样本的处理周期内不存在试剂取用操作。

6.根据权利要求1所述的试剂混匀控制方法，其特征在于，所述试剂混匀动作包括第一复位动作；

所述试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作，包括：

试剂盘转动复位角度中的较大复位角度执行一次第一复位动作。

7.根据权利要求1所述的试剂混匀控制方法，其特征在于，所述试剂混匀动作包括第二复位动作；

所述试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作，包括：

当复位角度中的较小复位角度小于预设阈值时，则试剂盘先向所述较小复位角度的所需旋转方向反向旋转n度，然后再向所述较小复位角度的所需旋转方向旋转所述较小复位角度加n度，以执行一次第二复位动作。

8.根据权利要求6或7所述的试剂混匀控制方法，其特征在于，所述试剂混匀动作还包括周转动作；在执行一次第一复位动作或第二复位动作之后，还包括：

所述试剂盘转动360度的整数倍以执行一次或一次以上的所述周转动作。

9.根据权利要求1所述的试剂混匀控制方法，其特征在于，还包括：

在所述样本的处理周期的工作时间，一个试剂臂进行试剂取用操作，则所述试剂盘转动w度，使所述试剂盘上需要进行试剂取用的试剂位置旋转至所述试剂臂停留位置，所述w不大于180。

10.根据权利要求1所述的试剂混匀控制方法，其特征在于，还包括：

在所述样本的处理周期的工作时间，两个或两个以上试剂臂进行试剂取用操作，分别计算所述试剂盘上需要进行试剂取用的试剂位置与所述两个或两个以上试剂臂的停留位置之间的夹角；

将所述试剂盘转动m度，使所述试剂盘上所述需要进行试剂取用的试剂位置旋转至所述夹角中的最小夹角对应的试剂臂的停留位置，所述m不大于180。

11.一种试剂混匀控制装置，其特征在于，包括：

计算单元，用于在样本的处理周期内，计算未被试剂臂占用的试剂盘空闲时间；

控制单元，用于在所述试剂盘空闲时间内，所述试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作。

12.根据权利要求11所述的试剂混匀控制装置，其特征在于，所述样本的处理周期基于仪器的检测通量计算获得。

13.根据权利要求11或12所述的试剂混匀控制装置，其特征在于，所述试剂盘空闲时间是：样本的处理周期内试剂臂取试剂后的试剂盘空闲时间或样本的处理周期内试剂臂取试剂前的试剂盘空闲时间。

14.根据权利要求11或12所述的试剂混匀控制装置，其特征在于，所述试剂盘空闲时间是：样本的处理周期内试剂臂取试剂后的试剂盘空闲时间与下一个样本的处理周期内试剂臂取试剂前的试剂盘空闲时间之和。

15.根据权利要求11所述的试剂混匀控制装置，其特征在于，所述控制单元还用于：

在所述试剂盘转动预设角度以执行一次或一次以上试剂混匀动作之前，判断所述样本的处理周期内，是否存在试剂取用操作；

所述样本的处理周期内不存在试剂取用操作。

16.根据权利要求11所述的试剂混匀控制装置，其特征在于，所述试剂混匀动作包括第一复位动作；所述试剂混匀控制装置还包括第一复位单元，用于试剂盘转动复位角度中的较大复位角度以执行一次第一复位动作。

17.根据权利要求11所述的试剂混匀控制装置，其特征在于，所述试剂混匀动作包括第二复位动作；所述试剂混匀控制装置还包括第二复位单元，用于当复位角度中的较小复位角度小于预设阈值时，则试剂盘先向所述较小复位角度的所需旋转方向反向旋转n度，然后再向所述较小复位角度的所需旋转方向旋转所述较小复位角度加n度，以执行一次第二复位动作。

18.根据权利要求16或17所述的试剂混匀控制装置，其特征在于，

所述试剂混匀动作还包括周转动作；所述试剂混匀控制装置还包括，周转单元，用于在执行一次第一复位动作或第二复位动作之后，所述试剂盘转动360度的整数倍以执行一次或一次以上的所述周转动作。

19.根据权利要求11所述的试剂混匀控制装置，其特征在于，所述控制单元还用于：

在所述样本的处理周期的工作时间，一个试剂臂进行试剂取用操作，则所述试剂盘转动w度，使所述试剂盘上需要进行试剂取用的试剂位置旋转至所述试剂臂停留位置，所述w不大于180。

20.根据权利要求11所述的试剂混匀控制装置，其特征在于，所述控制单元还用于：

在所述样本的处理周期的工作时间，两个或两个以上试剂臂进行试剂取用操作，分别计算所述试剂盘上需要进行试剂取用的试剂位置与所述两个或两个以上试剂臂的停留位置之间的夹角；

将所述试剂盘转动m度，使所述试剂盘上所述需要进行试剂取用的试剂位置旋转至所述夹角中的最小夹角对应的试剂臂的停留位置，所述m不大于180。

21.一种样本分析仪，其特征在于，包括如权利要求11至20中任一项所述的试剂混匀控制装置和一个或一个以上的试剂混匀机构，所述剂混匀控制装置控制试剂盘旋转，以带动所述试剂混匀机构对试剂进行混匀。