CN112799022A - 一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测方法与系统 - Google Patents
一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测方法与系统 Download PDFInfo
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Abstract
本发明涉及一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测方法与系统,系统包括:数据矩阵构造模块、中间变量矩阵计算模块、检测统计量构造模块、检测门限确定模块、目标判决模块;方法包括:首先构造数据矩阵,然后利用数据矩阵构造中间变量矩阵,接着利用中间变量矩阵构造检测统计量,再根据系统设定的虚警概率及检测统计量确定检测门限,最后比较检测统计量与检测门限的大小,并判决目标是否存在。本发明设计的检测方法基于自适应检测思想,能够彻底抑制干扰,并适用于非均匀杂波环境,不仅流程简便,性能优良,而且无需独立的滤波和恒虚警处理步骤即可实现高效的目标检测。
Description
技术领域
本发明涉及信号检测技术领域,尤其涉及一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测方法与系统。
背景技术
随着雷达距离分辨能力的不断提高,雷达目标的回波往往占据多个距离分辨单元,呈现出扩展特性,尤其对于大型舰船及战略轰战机等大型目标。一方面,雷达距离分辨力的提高还会使得单个距离单元包含的杂波强散射点数目降低,提高了信杂噪比,有利于目标检测性能的提升。另一方面,随着雷达距离分辨单元所包含的杂波强散射点数目降低,增加了杂波闪烁的可能性,从而增加了杂波环境的非均匀特性,进而增加了目标检测的难度。
此外,雷达面临的电磁环境日益复杂,时常存在电子干扰,进一步降低了雷达目标探测性能的正常发挥。
发明内容
为了解决非均匀杂波及存在干扰时的扩展目标检测问题,本发明提供一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测方法与系统。
一方面,本发明提供一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测方法,包括以下步骤:
步骤1:构造数据矩阵;
步骤2:利用所述数据矩阵构造中间变量矩阵;
步骤3:利用所述中间变量矩阵构造检测统计量;
步骤4:根据系统设定的虚警概率及所述的检测统计量确定检测门限;
步骤5:比较所述检测统计量与所述检测门限的大小,并判决目标是否存在;
所述步骤1中构造的数据矩阵包括:待检测数据矩阵、训练样本矩阵、信号矩阵和
干扰矩阵,且依次表示为、、和,且维数分别为、、
和,为系统通道数,也就是待检测数据矩阵的行数,为待检测数据矩阵的列
数,物理含义为扩展目标占据的距离单元数,为训练样本个数,也就是训练样本矩阵的列
数,表示信号矩阵列数,表示干扰矩阵的列数;
所述步骤2中利用所述数据矩阵构造的中间变量矩阵包括
和
进一步地,所述步骤3中利用所述中间变量矩阵构造的检测统计量为
进一步地,所述步骤4中的检测门限为
进一步地,所述步骤5中比较检测统计量和检测门限的大小分下述两种情况进行判定:
另一方面,本发明提供一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测系统,包括以下模块:
数据矩阵构造模块,用于构造待检测数据矩阵、训练样本矩阵、信号矩阵和干扰矩阵;
中间变量矩阵计算模块,用于利用待检测数据矩阵、训练样本矩阵、信号矩阵和干扰矩阵计算构造检测统计量所需的中间变量矩阵;
检测统计量构造模块,用于利用中间变量矩阵构造检测统计量;
检测门限确定模块,用于利用系统设定的虚警概率和检测统计量确定检测门限;
目标判决模块,用于比较检测统计量与检测门限之间的大小,若检测统计量大于检测门限,则判决目标存在,反之则判决目标不存在。
与现有技术相比,本发明的有益效果在于:
1)本发明提供的检测方法流程简略,无需独立的滤波处理即可实现杂波抑制和干扰抑制;
2)本发明提供的检测方法能够有效抑制非均匀杂波;
3)本发明提供的检测方法能够彻底抑制干扰;
4)本发明提供的检测方法具有恒虚警特性,无需额外的恒虚警处理流程;
5)本发明提供的检测方法性能优良,提高了目标检测效率。
附图说明
图1为本发明所述一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测方法的流程示意图;
图2为本发明所述一种具有恒虚警特性的扩展目标自适应检测系统的结构框架图。
具体实施方式
为了使本发明的目的和优点更加清楚明白,下面结合实施例对本发明作进一步描述;应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,并不用于限定本发明。
下面参照附图来描述本发明的优选实施方式。本领域技术人员应当理解的是,这些实施方式仅仅用于解释本发明的技术原理,并非在限制本发明的保护范围。
在上述变量中,信号矩阵和干扰矩阵已知,信号坐标矩阵和干扰坐标矩阵未知。此外,令杂波加噪声分量的每一列均分从均值为零、协方差矩阵为的复高斯
分布,在实际环境中,通常未知。为了估计,一般需要用到训练样本,而训练样本一
般从待检测数据单元附近的距离单元获得。假设存在个仅含杂波及热噪声分量的训练样
本,记第个训练样本为:
本发明的目的在于解决非均匀环境中存在干扰时扩展目标检测问题。为实现上述目的,请参阅图1所示,本发明提供了一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测方法,包括以下步骤:
步骤1:构造数据矩阵;
步骤2:利用所述数据矩阵构造中间变量矩阵;
步骤3:利用所述中间变量矩阵构造检测统计量;
步骤4:根据系统设定的虚警概率及所述的检测统计量确定检测门限;
步骤5:比较所述检测统计量与所述检测门限的大小,并判决目标是否存在;
所述步骤1中构造的数据矩阵包括:待检测数据矩阵、训练样本矩阵、信号矩阵和
干扰矩阵,且依次表示为 、、和,且维数分别为、、和,为系统通道数,也就是待检测数据矩阵的行数,为待检测数据矩阵的列数,
物理含义为扩展目标占据的距离单元数,为训练样本个数,也就是训练样本矩阵的列数,表示信号矩阵列数,表示干扰矩阵的列数;
所述步骤2中利用所述数据矩阵构造的中间变量矩阵包括
和
具体而言,所述步骤3中利用所述中间变量矩阵构造的检测统计量为
具体而言,所述步骤4中的检测门限为
具体而言,所述步骤5中比较检测统计量和检测门限的大小分下述两种情况进行判定:
请参阅图2所示,本发明还提供一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测系统,其特征在于:包括以下模块:
数据矩阵构造模块,用于构造待检测数据矩阵、训练样本矩阵、信号矩阵和干扰矩阵;
中间变量矩阵计算模块,用于利用待检测数据矩阵、训练样本矩阵、信号矩阵和干扰矩阵计算构造检测统计量所需的中间变量矩阵;
检测统计量构造模块,用于利用中间变量矩阵构造检测统计量;
检测门限确定模块,用于利用系统设定的虚警概率和检测统计量确定检测门限;
目标判决模块,用于比较检测统计量与检测门限之间的大小,若检测统计量大于检测门限,则判决目标存在,反之则判决目标不存在。
至此,已经结合附图所示的优选实施方式描述了本发明的技术方案,但是,本领域技术人员容易理解的是,本发明的保护范围显然不局限于这些具体实施方式。在不偏离本发明的原理的前提下,本领域技术人员可以对相关技术特征做出等同的更改或替换,这些更改或替换之后的技术方案都将落入本发明的保护范围之内。
以上所述仅为本发明的优选实施例,并不用于限制本发明;对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。 凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤1:构造数据矩阵;
步骤2:利用所述数据矩阵构造中间变量矩阵;
步骤3:利用所述中间变量矩阵构造检测统计量;
步骤4:根据系统设定的虚警概率及所述的检测统计量确定检测门限;
步骤5:比较所述检测统计量与所述检测门限的大小,并判决目标是否存在;
所述步骤1中构造的数据矩阵包括:待检测数据矩阵、训练样本矩阵、信号矩阵和干扰
矩阵,且依次表示为、、和,且维数分别为、、和,为系统通道数,也就是待检测数据矩阵的行数,为待检测数据矩阵的列数,
物理含义为扩展目标占据的距离单元数,为训练样本个数,也就是训练样本矩阵的列数,表示信号矩阵列数,表示干扰矩阵的列数;
所述步骤2中利用所述数据矩阵构造的中间变量矩阵包括
和
5.一种非均匀及干扰环境中的扩展目标检测系统,其特征在于:包括以下模块:
数据矩阵构造模块,用于构造待检测数据矩阵、训练样本矩阵、信号矩阵和干扰矩阵;
中间变量矩阵计算模块,用于利用待检测数据矩阵、训练样本矩阵、信号矩阵和干扰矩阵计算构造检测统计量所需的中间变量矩阵;
检测统计量构造模块,用于利用中间变量矩阵构造检测统计量;
检测门限确定模块,用于利用系统设定的虚警概率和检测统计量确定检测门限;
目标判决模块,用于比较检测统计量与检测门限之间的大小,若检测统计量大于检测门限,则判决目标存在,反之则判决目标不存在。
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