CN112785100B - 产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质 - Google Patents

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Abstract

一种产品检测阈值设定方法、装置及计算机可读存储介质，所述方法包括：获取检测设备对待测产品的产品参数进行检测所设定的初始阈值上、下界；分别统计在初始阈值上、下界下待测产品的第一至第四判定数量；将设备判定为不良品的最小产品参数(最大产品参数)、初始阈值下界(初始阈值上界)及其之间的多个数值加入集合；重复从集合中任意取出一元素设为试验阈值，直至集合为空集，统计在每一试验阈值下待测产品的第一至第四判定数量；计算每一试验阈值的效益；将集合中具有最大效益的元素作为检测设备对待测产品进行检测的建议阈值上、下界。本发明可给出合适的检测建议阈值，使得检测机台误报率降到最低、效益达到最高。

Description

产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质
技术领域
本发明涉及检测技术领域，尤其涉及一种应用于产品检测的检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质。
背景技术
在新产品导入初期，待测物之阈值范围通常较为严格，需藉由大量人工目检结果及产线实际状况，一步步将阈值修正到适当范围。传统的运作方式由工程师根据产线实际状况，多次来回调适一段时间后才会确定最终的阈值，因此需投入较多的人力成本。比如，自动光学辨识(AOI)机台应用在SMT组装线上，检测电路板上的零件组装后的质量状况，或是检查锡膏印刷后有否符合标准，产线工程师须设定每个待测物之阈值，若标准设置太严格，则假警报率过高；若标准设置太宽松，又会漏检。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质，可给出合适的检测建议阈值，使得检测机台误报率降到最低、效益达到最高。
本发明一实施方式提供一种产品检测阈值设定方法，所述方法包括：
获取检测设备对待测产品的产品参数进行检测所设定的初始检测阈值及所述初始检测阈值的设定方式；
统计在所述初始检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量，其中所述第一判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判亦为良品的数量，所述第二判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判为不良品的数量，所述第三判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判为良品的数量，所述第四判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判亦为不良品的数量；
若所述初始检测阈值的设定方式为单边阈值下界，则获取被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最小产品参数；
将所述最小产品参数、所述初始检测阈值及所述最小产品参数与所述初始检测阈值之间的多个数值加入一集合；
从所述集合中任意取出一元素设为试验阈值，并统计在所述试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
基于所述初始检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量及所述试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量计算所述试验阈值的效益；
重复从所述集合中任意取出一元素设为所述试验阈值的步骤，直至所述集合为空集，以计算所述集合中每一元素的效益；及
将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界。
优选地，所述方法还包括：
若所述初始检测阈值的设定方式为单边阈值上界，则获取被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最大产品参数；
将所述最大产品参数、所述初始检测阈值及所述最大产品参数与所述初始检测阈值之间的多个数值加入一集合；及
将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界。
优选地，所述将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界的步骤还包括：
若所述集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始阈值的差值；
从该多个元素中选取与所述初始阈值差值最小的元素作为目标元素；及
将所述目标元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界。
优选地，所述将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界的步骤包括：
若所述集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始阈值的差值；
从该多个元素中选取与所述初始阈值差值最小的元素作为目标元素；及
将所述目标元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界。
优选地，所述试验阈值的效益通过以下公式计算得到：BF＝(TN’-TN)*COST1-(FN’-FN)*COST2，其中BF为所述试验阈值的效益，TN’为在所述试验阈值下所述待测产品的第一判定数量，TN为在所述初始检测阈值下所述待测产品的第一判定数量，FN’为在所述试验阈值下所述待测产品的第三判定数量，FN为在所述初始检测阈值下所述待测产品的第三判定数量，COST1为所述检测设备将良品判断为不良品所带来的成本，COST2为所述检测设备将不良品判断为良品所带来的成本。
本发明一实施方式提供一种产品检测阈值设定方法，所述方法包括：
获取检测设备对待测产品的产品参数进行检测所设定的初始下界检测阈值及初始上界检测阈值；
统计在所述初始下界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
获取在所述初始下界检测阈值下被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最小产品参数；
将所述最小产品参数、所述初始下界检测阈值及所述最小产品参数与所述初始下界检测阈值之间的多个数值加入第一集合；
从所述第一集合中任意取出一元素设为第一试验阈值，并统计在所述第一试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
基于所述初始下界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量及所述第一试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量计算所述第一试验阈值的效益；
重复从所述第一集合中任意取出一元素设为所述第一试验阈值的步骤，直至所述第一集合为空集，以计算所述第一集合中每一元素的效益；
将所述第一集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界；
统计在所述初始上界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
获取在所述初始上界检测阈值下被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最大产品参数；
将所述最大产品参数、所述初始上界检测阈值及所述最大产品参数与所述初始上界检测阈值之间的多个数值加入第二集合；
从所述第二集合中任意取出一元素设为第二试验阈值，并统计在所述第二试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
基于所述初始上界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量及所述第二试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量计算所述第二试验阈值的效益；
重复从所述第二集合中任意取出一元素设为所述第二试验阈值的步骤，直至所述第二集合为空集，以计算所述第二集合中每一元素的效益；及
将所述第二集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界；
其中，所述第一判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判亦为良品的数量，所述第二判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判为不良品的数量，所述第三判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判为良品的数量，所述第四判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判亦为不良品的数量。
优选地，所述将所述第一集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界的步骤包括：
若所述第一集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始下界阈值的差值；及
从该多个元素中选取与所述初始下界阈值差值最小的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界。
优选地，所述将所述第二集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界的步骤包括：
若所述第二集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始上界阈值的差值；
从该多个元素中选取与所述初始上界阈值差值最小的元素作为目标元素；及
将所述目标元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界。
本发明一实施方式提供一种产品检测阈值设定装置，所述装置包括处理器及存储器，所述存储器上存储有若干计算机程序，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现上述的产品检测阈值设定方法的步骤。
本发明一实施方式还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有多条指令，多条所述指令可被一个或者多个处理器执行，以实现上述的产品检测阈值设定方法的步骤。
与现有技术相比，上述产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质，通过对设备判定为不良品的数据进行分析，可自动给出合适的检测建议阈值，使得检测机台误报率降到最低、效益达到最高。
附图说明
图1是本发明一实施方式的待测产品的检测环境示意图。
图2是本发明一实施方式的产品检测阈值设定装置的功能模块图。
图3是本发明一实施方式的产品检测阈值设定程序的功能模块图。
图4是本发明一实施方式的产品检测阈值设定方法的流程图。
主要元件符号说明
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
进一步需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
请参阅图1，检测设备11用于对待测产品13进行检测，以判断待测产品13是良品还是不良品。所述检测设备11可以预先存储有检测标准，通过检测待测产品13的产品参数是否符合所述检测标准来判断待测产品13是良品还是不良品。比如，所述检测设备11为AOI检测机台，所述待测产品13为电路板，所述产品参数可以是电路板的每一元器件的组装状况，或者錫膏印刷状况。电路板中每一产品参数皆有一初始阈值，若量测值介于阈值内，则检测设备11判断其为良品；若量测值介于阈值外，则检测设备11判断其为不良品。经过所述检测设备11检测的电路板再经人工目检后，复判结果共有以下四种情形：a).检测设备11判定为良品，复判后亦为良品，其数量为TN；b).检测设备11判定为良品，复判后为不良品，其数量为FN；c).检测设备11判定为不良品，复判后为良品，其数量为FP；d).检测设备11判定为不良品，复判后亦为不良品，其数量为TP。
请参阅图2，为本发明产品检测阈值设定装置较佳实施例的示意图。
所述产品检测阈值设定装置100包括存储器10、处理器20以及存储在所述存储器10中并可在所述处理器20上运行的产品检测阈值设定程序30。所述处理器20执行所述产品检测阈值设定程序30时实现产品检测阈值设定方法实施例中的步骤，例如图4所示的步骤S400～S414。或者，所述处理器20执行所述产品检测阈值设定程序30时实现产品检测阈值设定程序实施例中各模块的功能，例如图3中的模块101～107。
在一实施方式中，所述产品检测阈值设定装置100可以集成在所述检测设备11中。
所述产品检测阈值设定程序30可以被分割成一个或多个模块，所述一个或者多个模块被存储在所述存储器10中，并由所述处理器20执行，以完成本发明。所述一个或多个模块可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，所述指令段用于描述所述产品检测阈值设定程序30在所述产品检测阈值设定装置100中的执行过程。例如，所述产品检测阈值设定程序30可以被分割成图3中的第一获取模块101、统计模块102、第二获取模块103、加入模块104、试验模块105、计算模块106及建议模块107。各模块具体功能参见下图3中各模块的功能。
本领域技术人员可以理解，所述示意图仅是产品检测阈值设定装置100的示例，并不构成对产品检测阈值设定装置100的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述产品检测阈值设定装置100还可以包括网络接入设备、总线等。
所称处理器20可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者所述处理器20也可以是任何常规的处理器等，所述处理器20可以利用各种接口和总线连接产品检测阈值设定装置100的各个部分。
所述存储器10可用于存储所述产品检测阈值设定程序30和/或模块，所述处理器20通过运行或执行存储在所述存储器10内的计算机程序和/或模块，以及调用存储在存储器10内的数据，实现所述产品检测阈值设定装置100的各种功能。所述存储器10可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如硬盘、内存、插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(Secure Digital,SD)卡，闪存卡(Flash Card)、至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。
图3为本发明产品检测阈值设定程序较佳实施例的功能模块图。
参阅图3所示，产品检测阈值设定程序30可以包括第一获取模块101、统计模块102、第二获取模块103、加入模块104、试验模块105、计算模块106及建议模块107。在一实施方式中，上述模块可以为存储于所述存储器10中且可被所述处理器20调用执行的可程序化软件指令。可以理解的是，在其他实施方式中，上述模块也可为固化于所述处理器20中的程序指令或固件(firmware)。
所述第一获取模块101用于获取所述检测设备11对待测产品13的产品参数进行检测所设定的初始检测阈值及所述初始检测阈值的设定方式。
在一实施方式中，所述初始检测阈值可以是测试人员根据以往测试经验在所述检测设备11中设定的检测阈值。当初始检测阈值被设定后，所述第一获取模块101可以获取得到所述检测设备11所设定的初始检测阈值。所述初始检测阈值的设定方式可以包括三种：第一种为仅设置初始阈值下界LSL，该初始检测阈值为[LSL,∞]；第二种为仅设置初始阈值上界USL，该初始检测阈值为[0,USL]；第三种为设置了初始阈值下界LSL及初始阈值上界USL，该初始检测阈值为[LSL,USL]。以下以仅设置初始阈值下界LSL为例进行说明。
所述统计模块102用于统计在所述初始阈值下界下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
在一实施方式中，所述第一判断数量为TN，即所述检测设备11判定为良品，人工复判亦为良品的数量，所述第二判定数量为FN，即所述检测设备11判定为良品，人工复判为不良品的数量，所述第三判定数量为FP，即所述检测设备11判定为不良品，人工复判为良品的数量，所述第四判定数量为TP，即所述检测设备11判定为不良品，人工复判亦为不良品的数量。
在一实施方式中，由于每一所述待测产品13需要进行人工复判，所述第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量可以由人工复判统计得到，再录入至所述检测设备11，进而所述统计模块102可以统计得到在所述初始阈值下界下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
所述第二获取模块103用于获取被所述检测设备11判定为不良品的所有待测产品13中的最小产品参数。
在一实施方式中，由于是以仅设置初始阈值下界LSL为例进行说明，则检测设备11判为不良品的量测范围为[0,LSL]，判为良品的量测范围为[LSL,∞]。在实际生产中，由于生产环境、生产参数等不能处于理想的生产状态，所述检测设备11可以检测得到多个设备判定的不良品，其产品参数的量测范围在[0,LSL]之间，所述第二获取模块103可以获取得到所有设备判定为不良品中的最小产品参数。举例而言，LSL＝10mm，设备判定为不良品的产品参数包括5mm、6mm、5mm、8mm、9mm、7mm，则待测产品13为不良品的最小产品参数为5mm。
所述加入模块104用于将所述最小产品参数、所述初始阈值下界及所述最小产品参数与所述初始阈值下界之间的多个数值加入一集合。
在一实施方式中，该多个数值可以是所述最小产品参数与所述初始阈值下界之间的整数值，该多个数值还可以是与所述初始阈值下界或所述最小产品参数构成一等差数列，等差数列的差值可以根据实际需求进行设定。当所述加入模块104将所述最小产品参数、所述初始阈值下界及所述最小产品参数与所述初始阈值下界之间的多个数值加入所述集合后，所述集合即包括了多个元素。
所述试验模块105用于从所述集合中任意取出一元素设为试验阈值，并统计在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
在一实施方式中，试验模块105可以从所述集合中任意取出一元素设为试验阈值，并统计在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
可以理解的，所述试验模块105可以重复元素取出过程，直至所述集合为空集，即可以统计得到所述集合中每一元素所对应的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
所述计算模块106用于基于所述初始阈值下界下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量及所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量计算所述试验阈值的效益。
在一实施方式中，当所述试验模块105得到在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量时，所述计算模块106可以基于所述初始阈值下界下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量及所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量计算所述试验阈值的效益。可以理解的，所述集合中的每一元素均是一试验阈值，所述计算模块106可以以相同的计算方式计算得到每一元素的效益。
在一实施方式中，所述试验阈值的效益可以根据实际需求设定计算公式，比如通过以下公式计算得到：BF＝(TN’-TN)*COST1-(FN’-FN)*COST2，其中BF为所述试验阈值的效益，TN’为在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量，TN为在所述初始阈值下界下所述待测产品13的第一判定数量，FN’为在所述试验阈值下所述待测产品13的第三判定数量，FN为在所述初始阈值下界下所述待测产品13的第三判定数量，COST1为所述检测设备11将良品判断为不良品所带来的成本，COST2为所述检测设备11将不良品判断为良品所带来的成本。
所述建议模块107用于将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值下界。
在一实施方式中，当计算模块106计算得到所述集合中每一元素的效益时，所述建议模块107可以从该些计算得到的效益中查找具有最大效益的元素，并将具有最大效益的元素作为所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值下界。
在一实施方式中，若产生最大效益的元素不只一个，则所述建议模块107可以取最接近所述初始阈值下界的元素作为所述建议阈值下界。具体地，若所述集合中具有最大效益的元素存在多个，则所述建议模块107可以分别计算该多个元素与所述初始阈值下界的差值，再从该多个元素中选取与所述初始阈值下界差值最小的元素作为目标元素，最后将所述目标元素设定为所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值下界。
在一实施方式中，若所述初始检测阈值的设定方式为仅设置初始阈值上界USL。则检测设备11判为不良品的量测范围为[USL,∞]，判为良品的量测范围为[0,USL]。所述检测设备11可以检测得到多个设备判定的不良品，其产品参数的量测范围在[USL,∞]之间，所述第二获取模块103可以获取得到所有设备判定为不良品中的最大产品参数。举例而言，USL＝10mm，设备判定为不良品的产品参数包括15mm、16mm、15mm、18mm、19mm、17mm，则待测产品13为不良品的最大产品参数为19mm。
在一实施方式中，所述加入模块104可以将所述最大产品参数、所述初始阈值上界及所述最大产品参数与所述初始阈值上界之间的多个数值加入一集合。该多个数值可以是所述最大产品参数与所述初始阈值上界之间的整数值，该多个数值还可以是与所述初始阈值上界或所述最大产品参数构成一等差数列，等差数列的差值可以根据实际需求进行设定。当所述加入模块104将所述最大产品参数、所述初始阈值上界及所述最大产品参数与所述初始阈值上界之间的多个数值加入所述集合后，所述集合即包括了多个元素。所述试验模块105可以从所述集合中任意取出一元素设为试验阈值，并统计在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
在一实施方式中，试验模块105同样可以从所述集合中任意取出一元素设为试验阈值，并统计在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。所述计算模块106可以基于所述初始阈值上界下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量及所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量计算所述试验阈值的效益。
在一实施方式中，当所述试验模块105得到在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量时，所述计算模块106可以基于所述初始阈值上界下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量及所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量计算所述试验阈值的效益。
在一实施方式中，当计算模块106计算得到所述集合中每一元素的效益时，所述建议模块107可以从该些计算得到的效益中查找具有最大效益的元素，并将具有最大效益的元素作为所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值上界。
在一实施方式中，若产生最大效益的元素不只一个，则所述建议模块107可以取最接近所述初始阈值上界的元素作为所述建议阈值上界。具体地，若所述集合中具有最大效益的元素存在多个，则所述建议模块107可以分别计算该多个元素与所述初始阈值上界的差值，再从该多个元素中选取与所述初始阈值上界差值最小的元素作为目标元素，最后将所述目标元素设定为所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值上界。
在一实施方式中，若所述初始检测阈值的设定方式为同时设定了初始阈值下界LSL及初始阈值上界USL，则检测设备11判为不良品的量测范围为[USL,∞]及[0,USL]，判为良品的量测范围为[LSL,USL]。基于上述确定建议阈值下界的方式，对于在[0,USL]区间设备判定的不良品，可以找到所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值下界，在此不再重复叙述。基于上述确定建议阈值上界的方式，对于在[USL,∞]区间设备判定的不良品，可以找到所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值上界，在此不再重复叙述。
图4为本发明一实施方式中产品检测阈值设定方法的流程图。根据不同的需求，所述流程图中步骤的顺序可以改变，某些步骤可以省略。
步骤S400，获取检测设备11对待测产品13的产品参数进行检测所设定的初始检测阈值及所述初始检测阈值的设定方式。
步骤S402，统计在所述初始检测阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
步骤S404，若所述初始检测阈值的设定方式为单边阈值下界，则获取被所述检测设备11判定为不良品的所有待测产品13中的最小产品参数。
步骤S406，将所述最小产品参数、所述初始检测阈值及所述最小产品参数与所述初始检测阈值之间的多个数值加入一集合。
步骤S408，从所述集合中任意取出一元素设为试验阈值，并统计在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
步骤S410，基于所述初始检测阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量及所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量计算所述试验阈值的效益。
步骤S412，重复从所述集合中任意取出一元素设为所述试验阈值的步骤，直至所述集合为空集，以计算所述集合中每一元素的效益。
步骤S414，将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值下界。
上述产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质，通过对设备判定为不良品的数据进行分析，可自动给出合适的检测建议阈值，使得检测机台误报率降到最低、效益达到最高。
对本领域的技术人员来说，可以根据本发明的发明方案和发明构思结合生产的实际需要做出其他相应的改变或调整，而这些改变和调整都应属于本发明所公开的范围。

Claims (10)

1.一种产品检测阈值设定方法，其特征在于，所述方法包括：
获取检测设备对待测产品的产品参数进行检测所设定的初始检测阈值及所述初始检测阈值的设定方式；
统计在所述初始检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量，其中所述第一判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判亦为良品的数量，所述第二判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判为不良品的数量，所述第三判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判为良品的数量，所述第四判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判亦为不良品的数量；
若所述初始检测阈值的设定方式为单边阈值下界，则获取被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最小产品参数；
将所述最小产品参数、所述初始检测阈值及所述最小产品参数与所述初始检测阈值之间的多个数值加入一集合；
从所述集合中任意取出一元素设为试验阈值，并统计在所述试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
基于所述初始检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量及所述试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量计算所述试验阈值的效益；
重复从所述集合中任意取出一元素设为所述试验阈值的步骤，直至所述集合为空集，以计算所述集合中每一元素的效益；及
将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
若所述初始检测阈值的设定方式为单边阈值上界，则获取被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最大产品参数；
将所述最大产品参数、所述初始检测阈值及所述最大产品参数与所述初始检测阈值之间的多个数值加入一集合；及
将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界的步骤还包括：
若所述集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始检测阈值的差值；
从该多个元素中选取与所述初始检测阈值差值最小的元素作为目标元素；及
将所述目标元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界的步骤包括：
若所述集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始检测阈值的差值；
从该多个元素中选取与所述初始检测阈值差值最小的元素作为目标元素；及
将所述目标元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述试验阈值的效益通过以下公式计算得到：BF＝(TN’-TN)*COST1-(FN’-FN)*COST2，其中BF为所述试验阈值的效益，TN’为在所述试验阈值下所述待测产品的第一判定数量，TN为在所述初始检测阈值下所述待测产品的第一判定数量，FN’为在所述试验阈值下所述待测产品的第三判定数量，FN为在所述初始检测阈值下所述待测产品的第三判定数量，COST1为所述检测设备将良品判断为不良品所带来的成本，COST2为所述检测设备将不良品判断为良品所带来的成本。
6.一种产品检测阈值设定方法，其特征在于，所述方法包括：
获取检测设备对待测产品的产品参数进行检测所设定的初始下界检测阈值及初始上界检测阈值；
统计在所述初始下界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
获取在所述初始下界检测阈值下被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最小产品参数；
将所述最小产品参数、所述初始下界检测阈值及所述最小产品参数与所述初始下界检测阈值之间的多个数值加入第一集合；
从所述第一集合中任意取出一元素设为第一试验阈值，并统计在所述第一试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
基于所述初始下界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量及所述第一试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量计算所述第一试验阈值的效益；
重复从所述第一集合中任意取出一元素设为所述第一试验阈值的步骤，直至所述第一集合为空集，以计算所述第一集合中每一元素的效益；
将所述第一集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界；
统计在所述初始上界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
获取在所述初始上界检测阈值下被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最大产品参数；
将所述最大产品参数、所述初始上界检测阈值及所述最大产品参数与所述初始上界检测阈值之间的多个数值加入第二集合；
从所述第二集合中任意取出一元素设为第二试验阈值，并统计在所述第二试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
基于所述初始上界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量及所述第二试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量计算所述第二试验阈值的效益；
重复从所述第二集合中任意取出一元素设为所述第二试验阈值的步骤，直至所述第二集合为空集，以计算所述第二集合中每一元素的效益；及
将所述第二集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界；
其中，所述第一判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判亦为良品的数量，所述第二判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判为不良品的数量，所述第三判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判为良品的数量，所述第四判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判亦为不良品的数量。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述将所述第一集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界的步骤包括：
若所述第一集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始下界检测阈值的差值；及
从该多个元素中选取与所述初始下界检测阈值差值最小的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界。
8.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述将所述第二集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界的步骤包括：
若所述第二集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始上界检测阈值的差值；
从该多个元素中选取与所述初始上界检测阈值差值最小的元素作为目标元素；及
将所述目标元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界。
9.一种产品检测阈值设定装置，所述装置包括处理器及存储器，所述存储器上存储有若干计算机程序，其特征在于，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如权利要求1-8任一项所述的产品检测阈值设定方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有多条指令，多条所述指令可被一个或者多个处理器执行，以实现如权利要求1-8任一项所述的产品检测阈值设定方法的步骤。
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