CN112785100A - 产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质 - Google Patents

产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN112785100A
CN112785100A CN201911071806.9A CN201911071806A CN112785100A CN 112785100 A CN112785100 A CN 112785100A CN 201911071806 A CN201911071806 A CN 201911071806A CN 112785100 A CN112785100 A CN 112785100A
Authority
CN
China
Prior art keywords
threshold
product
detection
initial
determination
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201911071806.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112785100B (zh
Inventor
唐婉馨
许涵婷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Electronics Tianjin Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Electronics Tianjin Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Electronics Tianjin Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Electronics Tianjin Co Ltd
Priority to CN201911071806.9A priority Critical patent/CN112785100B/zh
Priority to US16/908,949 priority patent/US11255705B2/en
Publication of CN112785100A publication Critical patent/CN112785100A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112785100B publication Critical patent/CN112785100B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D21/00—Measuring or testing not otherwise provided for
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G06Q10/00—Administration; Management
    • G06Q10/06—Resources, workflows, human or project management; Enterprise or organisation planning; Enterprise or organisation modelling
    • G06Q10/063—Operations research, analysis or management
    • G06Q10/0639—Performance analysis of employees; Performance analysis of enterprise or organisation operations
    • G06Q10/06395—Quality analysis or management
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Programme-control systems
    • G05B19/02—Programme-control systems electric
    • G05B19/418—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
    • G05B19/41875—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by quality surveillance of production
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F17/00—Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
    • G06F17/10—Complex mathematical operations
    • G06F17/18—Complex mathematical operations for evaluating statistical data, e.g. average values, frequency distributions, probability functions, regression analysis
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G06Q50/00—Information and communication technology [ICT] specially adapted for implementation of business processes of specific business sectors, e.g. utilities or tourism
    • G06Q50/04—Manufacturing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/30—Nc systems
    • G05B2219/32—Operator till task planning
    • G05B2219/32177—Computer assisted quality surveyance, caq
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Business, Economics & Management (AREA)
  • Human Resources & Organizations (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Data Mining & Analysis (AREA)
  • Strategic Management (AREA)
  • Economics (AREA)
  • Mathematical Optimization (AREA)
  • General Business, Economics & Management (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Marketing (AREA)
  • Entrepreneurship & Innovation (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Educational Administration (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Development Economics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Computational Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Pure & Applied Mathematics (AREA)
  • Mathematical Analysis (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Tourism & Hospitality (AREA)
  • Evolutionary Biology (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
  • Algebra (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Game Theory and Decision Science (AREA)
  • Probability & Statistics with Applications (AREA)
  • Primary Health Care (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)

Abstract

一种产品检测阈值设定方法、装置及计算机可读存储介质，所述方法包括：获取检测设备对待测产品的产品参数进行检测所设定的初始阈值上、下界；分别统计在初始阈值上、下界下待测产品的第一至第四判定数量；将设备判定为不良品的最小产品参数(最大产品参数)、初始阈值下界(初始阈值上界)及其之间的多个数值加入集合；重复从集合中任意取出一元素设为试验阈值，直至集合为空集，统计在每一试验阈值下待测产品的第一至第四判定数量；计算每一试验阈值的效益；将集合中具有最大效益的元素作为检测设备对待测产品进行检测的建议阈值上、下界。本发明可给出合适的检测建议阈值，使得检测机台误报率降到最低、效益达到最高。

Description

产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质
技术领域
本发明涉及检测技术领域，尤其涉及一种应用于产品检测的检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质。
背景技术
在新产品导入初期，待测物之阈值范围通常较为严格，需藉由大量人工目检结果及产线实际状况，一步步将阈值修正到适当范围。传统的运作方式由工程师根据产线实际状况，多次来回调适一段时间后才会确定最终的阈值，因此需投入较多的人力成本。比如，自动光学辨识(AOI)机台应用在SMT组装线上，检测电路板上的零件组装后的质量状况，或是检查锡膏印刷后有否符合标准，产线工程师须设定每个待测物之阈值，若标准设置太严格，则假警报率过高；若标准设置太宽松，又会漏检。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质，可给出合适的检测建议阈值，使得检测机台误报率降到最低、效益达到最高。
本发明一实施方式提供一种产品检测阈值设定方法，所述方法包括：
获取检测设备对待测产品的产品参数进行检测所设定的初始检测阈值及所述初始检测阈值的设定方式；
统计在所述初始检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量，其中所述第一判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判亦为良品的数量，所述第二判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判为不良品的数量，所述第三判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判为良品的数量，所述第四判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判亦为不良品的数量；
若所述初始检测阈值的设定方式为单边阈值下界，则获取被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最小产品参数；
将所述最小产品参数、所述初始检测阈值及所述最小产品参数与所述初始检测阈值之间的多个数值加入一集合；
从所述集合中任意取出一元素设为试验阈值，并统计在所述试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
基于所述初始检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量及所述试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量计算所述试验阈值的效益；
重复从所述集合中任意取出一元素设为所述试验阈值的步骤，直至所述集合为空集，以计算所述集合中每一元素的效益；及
将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界。
优选地，所述方法还包括：
若所述初始检测阈值的设定方式为单边阈值上界，则获取被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最大产品参数；
将所述最大产品参数、所述初始检测阈值及所述最大产品参数与所述初始检测阈值之间的多个数值加入一集合；及
将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界。
优选地，所述将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界的步骤还包括：
若所述集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始阈值的差值；
从该多个元素中选取与所述初始阈值差值最小的元素作为目标元素；及
将所述目标元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界。
优选地，所述将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界的步骤包括：
若所述集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始阈值的差值；
从该多个元素中选取与所述初始阈值差值最小的元素作为目标元素；及
将所述目标元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界。
优选地，所述试验阈值的效益通过以下公式计算得到：BF＝(TN’-TN)*COST1-(FN’-FN)*COST2，其中BF为所述试验阈值的效益，TN’为在所述试验阈值下所述待测产品的第一判定数量，TN为在所述初始检测阈值下所述待测产品的第一判定数量，FN’为在所述试验阈值下所述待测产品的第三判定数量，FN为在所述初始检测阈值下所述待测产品的第三判定数量，COST1为所述检测设备将良品判断为不良品所带来的成本，COST2为所述检测设备将不良品判断为良品所带来的成本。
本发明一实施方式提供一种产品检测阈值设定方法，所述方法包括：
获取检测设备对待测产品的产品参数进行检测所设定的初始下界检测阈值及初始上界检测阈值；
统计在所述初始下界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
获取在所述初始下界检测阈值下被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最小产品参数；
将所述最小产品参数、所述初始下界检测阈值及所述最小产品参数与所述初始下界检测阈值之间的多个数值加入第一集合；
从所述第一集合中任意取出一元素设为第一试验阈值，并统计在所述第一试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
基于所述初始下界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量及所述第一试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量计算所述第一试验阈值的效益；
重复从所述第一集合中任意取出一元素设为所述第一试验阈值的步骤，直至所述第一集合为空集，以计算所述第一集合中每一元素的效益；
将所述第一集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界；
统计在所述初始上界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
获取在所述初始上界检测阈值下被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最大产品参数；
将所述最大产品参数、所述初始上界检测阈值及所述最大产品参数与所述初始上界检测阈值之间的多个数值加入第二集合；
从所述第二集合中任意取出一元素设为第二试验阈值，并统计在所述第二试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
基于所述初始上界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量及所述第二试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量计算所述第二试验阈值的效益；
重复从所述第二集合中任意取出一元素设为所述第二试验阈值的步骤，直至所述第二集合为空集，以计算所述第二集合中每一元素的效益；及
将所述第二集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界；
其中，所述第一判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判亦为良品的数量，所述第二判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判为不良品的数量，所述第三判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判为良品的数量，所述第四判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判亦为不良品的数量。
优选地，所述将所述第一集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界的步骤包括：
若所述第一集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始下界阈值的差值；及
从该多个元素中选取与所述初始下界阈值差值最小的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界。
优选地，所述将所述第二集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界的步骤包括：
若所述第二集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始上界阈值的差值；
从该多个元素中选取与所述初始上界阈值差值最小的元素作为目标元素；及
将所述目标元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界。
本发明一实施方式提供一种产品检测阈值设定装置，所述装置包括处理器及存储器，所述存储器上存储有若干计算机程序，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现上述的产品检测阈值设定方法的步骤。
本发明一实施方式还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有多条指令，多条所述指令可被一个或者多个处理器执行，以实现上述的产品检测阈值设定方法的步骤。
与现有技术相比，上述产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质，通过对设备判定为不良品的数据进行分析，可自动给出合适的检测建议阈值，使得检测机台误报率降到最低、效益达到最高。
附图说明
图1是本发明一实施方式的待测产品的检测环境示意图。
图2是本发明一实施方式的产品检测阈值设定装置的功能模块图。
图3是本发明一实施方式的产品检测阈值设定程序的功能模块图。
图4是本发明一实施方式的产品检测阈值设定方法的流程图。
主要元件符号说明
Figure BDA0002261173710000061
Figure BDA0002261173710000071
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
进一步需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
请参阅图1，检测设备11用于对待测产品13进行检测，以判断待测产品13是良品还是不良品。所述检测设备11可以预先存储有检测标准，通过检测待测产品13的产品参数是否符合所述检测标准来判断待测产品13是良品还是不良品。比如，所述检测设备11为AOI检测机台，所述待测产品13为电路板，所述产品参数可以是电路板的每一元器件的组装状况，或者錫膏印刷状况。电路板中每一产品参数皆有一初始阈值，若量测值介于阈值内，则检测设备11判断其为良品；若量测值介于阈值外，则检测设备11判断其为不良品。经过所述检测设备11检测的电路板再经人工目检后，复判结果共有以下四种情形：a).检测设备11判定为良品，复判后亦为良品，其数量为TN；b).检测设备11判定为良品，复判后为不良品，其数量为FN；c).检测设备11判定为不良品，复判后为良品，其数量为FP；d).检测设备11判定为不良品，复判后亦为不良品，其数量为TP。
请参阅图2，为本发明产品检测阈值设定装置较佳实施例的示意图。
所述产品检测阈值设定装置100包括存储器10、处理器20以及存储在所述存储器10中并可在所述处理器20上运行的产品检测阈值设定程序30。所述处理器20执行所述产品检测阈值设定程序30时实现产品检测阈值设定方法实施例中的步骤，例如图4所示的步骤S400～S414。或者，所述处理器20执行所述产品检测阈值设定程序30时实现产品检测阈值设定程序实施例中各模块的功能，例如图3中的模块101～107。
在一实施方式中，所述产品检测阈值设定装置100可以集成在所述检测设备11中。
所述产品检测阈值设定程序30可以被分割成一个或多个模块，所述一个或者多个模块被存储在所述存储器10中，并由所述处理器20执行，以完成本发明。所述一个或多个模块可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，所述指令段用于描述所述产品检测阈值设定程序30在所述产品检测阈值设定装置100中的执行过程。例如，所述产品检测阈值设定程序30可以被分割成图3中的第一获取模块101、统计模块102、第二获取模块103、加入模块104、试验模块105、计算模块106及建议模块107。各模块具体功能参见下图3中各模块的功能。
本领域技术人员可以理解，所述示意图仅是产品检测阈值设定装置100的示例，并不构成对产品检测阈值设定装置100的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述产品检测阈值设定装置100还可以包括网络接入设备、总线等。
所称处理器20可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者所述处理器20也可以是任何常规的处理器等，所述处理器20可以利用各种接口和总线连接产品检测阈值设定装置100的各个部分。
所述存储器10可用于存储所述产品检测阈值设定程序30和/或模块，所述处理器20通过运行或执行存储在所述存储器10内的计算机程序和/或模块，以及调用存储在存储器10内的数据，实现所述产品检测阈值设定装置100的各种功能。所述存储器10可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如硬盘、内存、插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(Secure Digital,SD)卡，闪存卡(Flash Card)、至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。
图3为本发明产品检测阈值设定程序较佳实施例的功能模块图。
参阅图3所示，产品检测阈值设定程序30可以包括第一获取模块101、统计模块102、第二获取模块103、加入模块104、试验模块105、计算模块106及建议模块107。在一实施方式中，上述模块可以为存储于所述存储器10中且可被所述处理器20调用执行的可程序化软件指令。可以理解的是，在其他实施方式中，上述模块也可为固化于所述处理器20中的程序指令或固件(firmware)。
所述第一获取模块101用于获取所述检测设备11对待测产品13的产品参数进行检测所设定的初始检测阈值及所述初始检测阈值的设定方式。
在一实施方式中，所述初始检测阈值可以是测试人员根据以往测试经验在所述检测设备11中设定的检测阈值。当初始检测阈值被设定后，所述第一获取模块101可以获取得到所述检测设备11所设定的初始检测阈值。所述初始检测阈值的设定方式可以包括三种：第一种为仅设置初始阈值下界LSL，该初始检测阈值为[LSL,∞]；第二种为仅设置初始阈值上界USL，该初始检测阈值为[0,USL]；第三种为设置了初始阈值下界LSL及初始阈值上界USL，该初始检测阈值为[LSL,USL]。以下以仅设置初始阈值下界LSL为例进行说明。
所述统计模块102用于统计在所述初始阈值下界下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
在一实施方式中，所述第一判断数量为TN，即所述检测设备11判定为良品，人工复判亦为良品的数量，所述第二判定数量为FN，即所述检测设备11判定为良品，人工复判为不良品的数量，所述第三判定数量为FP，即所述检测设备11判定为不良品，人工复判为良品的数量，所述第四判定数量为TP，即所述检测设备11判定为不良品，人工复判亦为不良品的数量。
在一实施方式中，由于每一所述待测产品13需要进行人工复判，所述第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量可以由人工复判统计得到，再录入至所述检测设备11，进而所述统计模块102可以统计得到在所述初始阈值下界下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
所述第二获取模块103用于获取被所述检测设备11判定为不良品的所有待测产品13中的最小产品参数。
在一实施方式中，由于是以仅设置初始阈值下界LSL为例进行说明，则检测设备11判为不良品的量测范围为[0,LSL]，判为良品的量测范围为[LSL,∞]。在实际生产中，由于生产环境、生产参数等不能处于理想的生产状态，所述检测设备11可以检测得到多个设备判定的不良品，其产品参数的量测范围在[0,LSL]之间，所述第二获取模块103可以获取得到所有设备判定为不良品中的最小产品参数。举例而言，LSL＝10mm，设备判定为不良品的产品参数包括5mm、6mm、5mm、8mm、9mm、7mm，则待测产品13为不良品的最小产品参数为5mm。
所述加入模块104用于将所述最小产品参数、所述初始阈值下界及所述最小产品参数与所述初始阈值下界之间的多个数值加入一集合。
在一实施方式中，该多个数值可以是所述最小产品参数与所述初始阈值下界之间的整数值，该多个数值还可以是与所述初始阈值下界或所述最小产品参数构成一等差数列，等差数列的差值可以根据实际需求进行设定。当所述加入模块104将所述最小产品参数、所述初始阈值下界及所述最小产品参数与所述初始阈值下界之间的多个数值加入所述集合后，所述集合即包括了多个元素。
所述试验模块105用于从所述集合中任意取出一元素设为试验阈值，并统计在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
在一实施方式中，试验模块105可以从所述集合中任意取出一元素设为试验阈值，并统计在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
可以理解的，所述试验模块105可以重复元素取出过程，直至所述集合为空集，即可以统计得到所述集合中每一元素所对应的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
所述计算模块106用于基于所述初始阈值下界下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量及所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量计算所述试验阈值的效益。
在一实施方式中，当所述试验模块105得到在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量时，所述计算模块106可以基于所述初始阈值下界下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量及所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量计算所述试验阈值的效益。可以理解的，所述集合中的每一元素均是一试验阈值，所述计算模块106可以以相同的计算方式计算得到每一元素的效益。
在一实施方式中，所述试验阈值的效益可以根据实际需求设定计算公式，比如通过以下公式计算得到：BF＝(TN’-TN)*COST1-(FN’-FN)*COST2，其中BF为所述试验阈值的效益，TN’为在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量，TN为在所述初始阈值下界下所述待测产品13的第一判定数量，FN’为在所述试验阈值下所述待测产品13的第三判定数量，FN为在所述初始阈值下界下所述待测产品13的第三判定数量，COST1为所述检测设备11将良品判断为不良品所带来的成本，COST2为所述检测设备11将不良品判断为良品所带来的成本。
所述建议模块107用于将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值下界。
在一实施方式中，当计算模块106计算得到所述集合中每一元素的效益时，所述建议模块107可以从该些计算得到的效益中查找具有最大效益的元素，并将具有最大效益的元素作为所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值下界。
在一实施方式中，若产生最大效益的元素不只一个，则所述建议模块107可以取最接近所述初始阈值下界的元素作为所述建议阈值下界。具体地，若所述集合中具有最大效益的元素存在多个，则所述建议模块107可以分别计算该多个元素与所述初始阈值下界的差值，再从该多个元素中选取与所述初始阈值下界差值最小的元素作为目标元素，最后将所述目标元素设定为所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值下界。
在一实施方式中，若所述初始检测阈值的设定方式为仅设置初始阈值上界USL。则检测设备11判为不良品的量测范围为[USL,∞]，判为良品的量测范围为[0,USL]。所述检测设备11可以检测得到多个设备判定的不良品，其产品参数的量测范围在[USL,∞]之间，所述第二获取模块103可以获取得到所有设备判定为不良品中的最大产品参数。举例而言，USL＝10mm，设备判定为不良品的产品参数包括15mm、16mm、15mm、18mm、19mm、17mm，则待测产品13为不良品的最大产品参数为19mm。
在一实施方式中，所述加入模块104可以将所述最大产品参数、所述初始阈值上界及所述最大产品参数与所述初始阈值上界之间的多个数值加入一集合。该多个数值可以是所述最大产品参数与所述初始阈值上界之间的整数值，该多个数值还可以是与所述初始阈值上界或所述最大产品参数构成一等差数列，等差数列的差值可以根据实际需求进行设定。当所述加入模块104将所述最大产品参数、所述初始阈值上界及所述最大产品参数与所述初始阈值上界之间的多个数值加入所述集合后，所述集合即包括了多个元素。所述试验模块105可以从所述集合中任意取出一元素设为试验阈值，并统计在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
在一实施方式中，试验模块105同样可以从所述集合中任意取出一元素设为试验阈值，并统计在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。所述计算模块106可以基于所述初始阈值上界下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量及所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量计算所述试验阈值的效益。
在一实施方式中，当所述试验模块105得到在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量时，所述计算模块106可以基于所述初始阈值上界下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量及所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量计算所述试验阈值的效益。
在一实施方式中，当计算模块106计算得到所述集合中每一元素的效益时，所述建议模块107可以从该些计算得到的效益中查找具有最大效益的元素，并将具有最大效益的元素作为所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值上界。
在一实施方式中，若产生最大效益的元素不只一个，则所述建议模块107可以取最接近所述初始阈值上界的元素作为所述建议阈值上界。具体地，若所述集合中具有最大效益的元素存在多个，则所述建议模块107可以分别计算该多个元素与所述初始阈值上界的差值，再从该多个元素中选取与所述初始阈值上界差值最小的元素作为目标元素，最后将所述目标元素设定为所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值上界。
在一实施方式中，若所述初始检测阈值的设定方式为同时设定了初始阈值下界LSL及初始阈值上界USL，则检测设备11判为不良品的量测范围为[USL,∞]及[0,USL]，判为良品的量测范围为[LSL,USL]。基于上述确定建议阈值下界的方式，对于在[0,USL]区间设备判定的不良品，可以找到所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值下界，在此不再重复叙述。基于上述确定建议阈值上界的方式，对于在[USL,∞]区间设备判定的不良品，可以找到所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值上界，在此不再重复叙述。
图4为本发明一实施方式中产品检测阈值设定方法的流程图。根据不同的需求，所述流程图中步骤的顺序可以改变，某些步骤可以省略。
步骤S400，获取检测设备11对待测产品13的产品参数进行检测所设定的初始检测阈值及所述初始检测阈值的设定方式。
步骤S402，统计在所述初始检测阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
步骤S404，若所述初始检测阈值的设定方式为单边阈值下界，则获取被所述检测设备11判定为不良品的所有待测产品13中的最小产品参数。
步骤S406，将所述最小产品参数、所述初始检测阈值及所述最小产品参数与所述初始检测阈值之间的多个数值加入一集合。
步骤S408，从所述集合中任意取出一元素设为试验阈值，并统计在所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量。
步骤S410，基于所述初始检测阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量及所述试验阈值下所述待测产品13的第一判定数量、第三判定数量计算所述试验阈值的效益。
步骤S412，重复从所述集合中任意取出一元素设为所述试验阈值的步骤，直至所述集合为空集，以计算所述集合中每一元素的效益。
步骤S414，将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备11对所述待测产品13进行检测的建议阈值下界。
上述产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质，通过对设备判定为不良品的数据进行分析，可自动给出合适的检测建议阈值，使得检测机台误报率降到最低、效益达到最高。
对本领域的技术人员来说，可以根据本发明的发明方案和发明构思结合生产的实际需要做出其他相应的改变或调整，而这些改变和调整都应属于本发明所公开的范围。

Claims (10)

1.一种产品检测阈值设定方法，其特征在于，所述方法包括：
获取检测设备对待测产品的产品参数进行检测所设定的初始检测阈值及所述初始检测阈值的设定方式；
统计在所述初始检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量，其中所述第一判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判亦为良品的数量，所述第二判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判为不良品的数量，所述第三判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判为良品的数量，所述第四判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判亦为不良品的数量；
若所述初始检测阈值的设定方式为单边阈值下界，则获取被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最小产品参数；
将所述最小产品参数、所述初始检测阈值及所述最小产品参数与所述初始检测阈值之间的多个数值加入一集合；
从所述集合中任意取出一元素设为试验阈值，并统计在所述试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
基于所述初始检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量及所述试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量计算所述试验阈值的效益；
重复从所述集合中任意取出一元素设为所述试验阈值的步骤，直至所述集合为空集，以计算所述集合中每一元素的效益；及
将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
若所述初始检测阈值的设定方式为单边阈值上界，则获取被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最大产品参数；
将所述最大产品参数、所述初始检测阈值及所述最大产品参数与所述初始检测阈值之间的多个数值加入一集合；及
将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界的步骤还包括：
若所述集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始阈值的差值；
从该多个元素中选取与所述初始阈值差值最小的元素作为目标元素；及
将所述目标元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界的步骤包括：
若所述集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始阈值的差值；
从该多个元素中选取与所述初始阈值差值最小的元素作为目标元素；及
将所述目标元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述试验阈值的效益通过以下公式计算得到：BF＝(TN’-TN)*COST1-(FN’-FN)*COST2，其中BF为所述试验阈值的效益，TN’为在所述试验阈值下所述待测产品的第一判定数量，TN为在所述初始检测阈值下所述待测产品的第一判定数量，FN’为在所述试验阈值下所述待测产品的第三判定数量，FN为在所述初始检测阈值下所述待测产品的第三判定数量，COST1为所述检测设备将良品判断为不良品所带来的成本，COST2为所述检测设备将不良品判断为良品所带来的成本。
6.一种产品检测阈值设定方法，其特征在于，所述方法包括：
获取检测设备对待测产品的产品参数进行检测所设定的初始下界检测阈值及初始上界检测阈值；
统计在所述初始下界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
获取在所述初始下界检测阈值下被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最小产品参数；
将所述最小产品参数、所述初始下界检测阈值及所述最小产品参数与所述初始下界检测阈值之间的多个数值加入第一集合；
从所述第一集合中任意取出一元素设为第一试验阈值，并统计在所述第一试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
基于所述初始下界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量及所述第一试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量计算所述第一试验阈值的效益；
重复从所述第一集合中任意取出一元素设为所述第一试验阈值的步骤，直至所述第一集合为空集，以计算所述第一集合中每一元素的效益；
将所述第一集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界；
统计在所述初始上界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
获取在所述初始上界检测阈值下被所述检测设备判定为不良品的所有待测产品中的最大产品参数；
将所述最大产品参数、所述初始上界检测阈值及所述最大产品参数与所述初始上界检测阈值之间的多个数值加入第二集合；
从所述第二集合中任意取出一元素设为第二试验阈值，并统计在所述第二试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第二判定数量、第三判定数量及第四判定数量；
基于所述初始上界检测阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量及所述第二试验阈值下所述待测产品的第一判定数量、第三判定数量计算所述第二试验阈值的效益；
重复从所述第二集合中任意取出一元素设为所述第二试验阈值的步骤，直至所述第二集合为空集，以计算所述第二集合中每一元素的效益；及
将所述第二集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界；
其中，所述第一判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判亦为良品的数量，所述第二判定数量为所述检测设备判定为良品，人工复判为不良品的数量，所述第三判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判为良品的数量，所述第四判定数量为所述检测设备判定为不良品，人工复判亦为不良品的数量。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述将所述第一集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界的步骤包括：
若所述第一集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始下界阈值的差值；及
从该多个元素中选取与所述初始下界阈值差值最小的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值下界。
8.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述将所述第二集合中具有最大效益的元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界的步骤包括：
若所述第二集合中具有最大效益的元素存在多个，则分别计算该多个元素与所述初始上界阈值的差值；
从该多个元素中选取与所述初始上界阈值差值最小的元素作为目标元素；及
将所述目标元素作为所述检测设备对所述待测产品进行检测的建议阈值上界。
9.一种产品检测阈值设定装置，所述装置包括处理器及存储器，所述存储器上存储有若干计算机程序，其特征在于，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机程序时实现如权利要求1-8任一项所述的产品检测阈值设定方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有多条指令，多条所述指令可被一个或者多个处理器执行，以实现如权利要求1-8任一项所述的产品检测阈值设定方法的步骤。
CN201911071806.9A 2019-11-05 2019-11-05 产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质 Active CN112785100B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911071806.9A CN112785100B (zh) 2019-11-05 2019-11-05 产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质
US16/908,949 US11255705B2 (en) 2019-11-05 2020-06-23 Method for setting quality thresholds of products for testing purposes and device employing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911071806.9A CN112785100B (zh) 2019-11-05 2019-11-05 产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112785100A true CN112785100A (zh) 2021-05-11
CN112785100B CN112785100B (zh) 2023-10-31

Family

ID=75687197

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201911071806.9A Active CN112785100B (zh) 2019-11-05 2019-11-05 产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11255705B2 (zh)
CN (1) CN112785100B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114022059A (zh) * 2022-01-06 2022-02-08 锱云(上海)物联网科技有限公司 产品的不良原因分析方法、系统、终端设备和存储介质

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1086322A (ja) * 1996-09-12 1998-04-07 Opt Kk クリームハンダ印刷検査方法およびその装置
CN102138068A (zh) * 2008-09-09 2011-07-27 玛机统丽公司 外观检查装置
JP2013036887A (ja) * 2011-08-09 2013-02-21 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 観測値信頼度評価装置、観測値信頼度評価方法及び観測値信頼度評価プログラム
DE102012221259A1 (de) * 2012-11-21 2014-05-22 Siemens Aktiengesellschaft Optimieren von Rüstfamilien
JP2016126560A (ja) * 2015-01-05 2016-07-11 株式会社リコー 不具合通知システム、不具合通知装置及び不具合通知プログラム
CN107229252A (zh) * 2016-03-24 2017-10-03 发那科株式会社 判定工件合格与否的加工机械系统
JP2019040272A (ja) * 2017-08-22 2019-03-14 富士電機株式会社 品質監視システム及びプログラム
CN109677118A (zh) * 2018-12-14 2019-04-26 格力电器（重庆）有限公司 一种smt印刷机锡膏回拢检测方法及系统
US20190223337A1 (en) * 2018-01-16 2019-07-18 Omron Corporation Inspection management system, inspection management apparatuses, and inspection management method
WO2019159426A1 (ja) * 2018-02-14 2019-08-22 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス 検査装置、検査方法、錠剤印刷装置および錠剤印刷方法
CN110288599A (zh) * 2019-07-10 2019-09-27 浙江大华技术股份有限公司 一种坏点检测方法、装置、电子设备及存储介质

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6738450B1 (en) * 2002-12-10 2004-05-18 Agilent Technologies, Inc. System and method for cost-effective classification of an object under inspection
TW200801487A (en) * 2006-06-23 2008-01-01 Innolux Display Corp Method and device for detecting circuit
US7855567B2 (en) * 2008-04-01 2010-12-21 Test Research, Inc. Electronic device testing system and method

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1086322A (ja) * 1996-09-12 1998-04-07 Opt Kk クリームハンダ印刷検査方法およびその装置
CN102138068A (zh) * 2008-09-09 2011-07-27 玛机统丽公司 外观检查装置
JP2013036887A (ja) * 2011-08-09 2013-02-21 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 観測値信頼度評価装置、観測値信頼度評価方法及び観測値信頼度評価プログラム
DE102012221259A1 (de) * 2012-11-21 2014-05-22 Siemens Aktiengesellschaft Optimieren von Rüstfamilien
JP2016126560A (ja) * 2015-01-05 2016-07-11 株式会社リコー 不具合通知システム、不具合通知装置及び不具合通知プログラム
CN107229252A (zh) * 2016-03-24 2017-10-03 发那科株式会社 判定工件合格与否的加工机械系统
JP2019040272A (ja) * 2017-08-22 2019-03-14 富士電機株式会社 品質監視システム及びプログラム
US20190223337A1 (en) * 2018-01-16 2019-07-18 Omron Corporation Inspection management system, inspection management apparatuses, and inspection management method
WO2019159426A1 (ja) * 2018-02-14 2019-08-22 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス 検査装置、検査方法、錠剤印刷装置および錠剤印刷方法
CN109677118A (zh) * 2018-12-14 2019-04-26 格力电器（重庆）有限公司 一种smt印刷机锡膏回拢检测方法及系统
CN110288599A (zh) * 2019-07-10 2019-09-27 浙江大华技术股份有限公司 一种坏点检测方法、装置、电子设备及存储介质

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
""基于SMT大数据的产品质量控制方法研究"", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库 基础科学辑》, pages 002 - 468 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114022059A (zh) * 2022-01-06 2022-02-08 锱云(上海)物联网科技有限公司 产品的不良原因分析方法、系统、终端设备和存储介质
CN114022059B (zh) * 2022-01-06 2022-05-27 锱云(上海)物联网科技有限公司 产品的不良原因分析方法、系统、终端设备和存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
US11255705B2 (en) 2022-02-22
CN112785100B (zh) 2023-10-31
US20210131840A1 (en) 2021-05-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106097361B (zh) 一种缺陷区域检测方法及装置
US10674651B2 (en) Printed circuit board inspecting apparatus, method for determining fault type of screen printer and computer readable recording medium
CN108896278B (zh) 一种滤光片丝印缺陷检测方法、装置及终端设备
CN108961345B (zh) 一种尿液试纸中有效颜色的确定方法及确定装置
CN108805180B (zh) 目标对象的检测方法及装置
CN111812118A (zh) Pcb检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质
CN112669290A (zh) 图像比对方法及装置
CN113723467A (zh) 用于缺陷检测的样本收集方法、装置和设备
CN112785100A (zh) 产品检测阈值设定装置、方法及计算机可读存储介质
CN109523557A (zh) 一种图像语义分割标注方法、装置及存储介质
WO2021017797A1 (en) Counting check device,counting system and method
CN109941672B (zh) 物料纠偏的方法、装置和电子设备
TWI721632B (zh) 產品檢測閾值設定裝置、方法及電腦可讀取存儲介質
CN117009221A (zh) 产品测试的处理方法、装置、设备、存储介质及程序产品
CN112150413A (zh) 一种管路振动检测方法、装置、设备及存储介质
CN116071335A (zh) 墙面验收方法、装置、设备及存储介质
CN103632232A (zh) 一种产品的检测方法和设备
WO2020009108A1 (ja) 検査方法、検査システム及びプログラム
CN107990929B (zh) 滤波时间常数的控制方法及装置、计算机装置、存储介质
CN113870754B (zh) 一种面板检测电子信号缺陷判定的方法和系统
CN112149546B (zh) 一种信息处理方法、装置、电子设备及存储介质
CN114937037A (zh) 产品缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质
JP5906965B2 (ja) 車載ｅｃｕの評価装置
CN113625092A (zh) 一种电子元件性能数据检测方法
CN113962558A (zh) 一种基于生产数据管理的工业互联网平台评价方法及系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information

Address after: No. 36, North Street, West District, economic and Technological Development Zone, Binhai New Area, Tianjin

Applicant after: Fulian precision electronics (Tianjin) Co.,Ltd.

Address before: No. 36, North Street, West District, economic and Technological Development Zone, Binhai New Area, Tianjin

Applicant before: HONGFUJIN PRECISION ELECTRONICS (TIANJIN) Co.,Ltd.

CB02 Change of applicant information
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant