CN112767879A - 显示面板、亮度检测方法及显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种显示面板、亮度检测方法及显示装置。显示面板包括显示区，显示区包括第一显示区和第二显示区，第一显示区的像素密度小于第二显示区的像素密度；第二显示区包括第一区域，第一区域包括第一像素和第二像素；在第一区域中，第一像素的密度与第一显示区的像素密度相同，且第一像素的排布方式与第一显示区内的像素排布方式相同；像素电路，像素电路包括第一像素电路和第二像素电路，第一像素电路和第一像素电连接；第二像素电路和第二像素电连接，第二像素电路包括第一晶体管，第一晶体管用于在亮度检测状态时，使第二像素处于非显示状态。根据本申请实施例，能够提高对第一显示区亮度检测的准确性。

Description

显示面板、亮度检测方法及显示装置

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板、亮度检测方法及显示装置。

背景技术

随着显示技术的不断发展，用户对屏占比的要求越来越高，使得全面屏显示受到业界越来越多的关注。

目前出现了屏下摄像头的设计，将显示面板的显示区划分为副屏区和主屏区，副屏区对应设置摄像头等感光元件。副屏区的面积一般设置的比较小，由于现有的亮度检测装置中镜头的面积比较大，导致在对副屏区进行伽马(gamma)调试时，难以准确的测量副屏区的亮度。

发明内容

本申请实施例提供一种显示面板、亮度检测方法及显示装置，能够提高对第一显示区亮度检测的准确性。

第一方面，本申请实施例提供一种显示面板，包括：显示区，显示区包括第一显示区和第二显示区，第一显示区的像素密度小于第二显示区的像素密度；第二显示区包括第一区域，第一区域包括第一像素和第二像素；在第一区域中，第一像素的密度与第一显示区的像素密度相同，且第一像素的排布方式与第一显示区内的像素排布方式相同；像素电路，像素电路包括第一像素电路和第二像素电路，第一像素电路和第一像素电连接；第二像素电路和第二像素电连接，第二像素电路包括第一晶体管，第一晶体管用于在亮度检测状态时，使第二像素处于非显示状态。

第二方面，基于同一发明构思，本申请实施例提供一种亮度检测方法，用于检测如第一方面所述显示面板的亮度，该亮度检测方法包括：控制第一像素处于显示状态，并控制第一晶体管处于截止状态，以使第二像素处于非显示状态；获取第一区域的第一实测亮度数据，并将第一实测亮度数据存储为第一显示区的至少部分亮度数据。

第三方面，基于同一发明构思，本申请实施例提供一种显示装置，包括如第一方面所述的显示面板。

本申请实施例提供的显示面板、亮度检测方法及显示装置，第二像素电路包括第一晶体管，第一晶体管在亮度检测状态时，能够使第二像素处于非显示状态，也就是说，可以使第一区域的第一像素处于显示状态，第二像素处于非显示状态，利用第一区域模拟第一显示区的显示情况，一方面，可以通过检测第一区域的亮度数据作为第一显示区的亮度数据，并且可以根据通用的亮度检测装置的镜头尺寸调整第一区域的尺寸，无需为了第一显示区在定做小尺寸的亮度检测装置的镜头；另一方面，相对于利用模拟信号的方式使第二像素不发光，例如，在电源电压PVDD一定时，通过增大提供至第二像素的数据电压的值，以使第二像素不发光，本申请中利用第一晶体管直接断开第二像素，使得第一区域的数据线的负载更符合或者说接近第一显示区数据线负载的实际情况，从而检测到的第一区域的亮度数据更符合第一显示区的实际亮度；又一方面，本申请中利用第一晶体管能够使第二像素达到完全不亮的状态，从而能够更好的模拟第一显示区的显示情况。

附图说明

通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本申请的其它特征、目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征，附图并未按照实际的比例绘制。

图1示出本申请实施例提供的一种显示面板的俯视示意图；

图2至图15示出本申请实施例提供的多种第二像素电路的结构示意图；

图16示出本申请实施例提供的一种第一像素电路的结构示意图；

图17示出本申请实施例提供的另一种显示面板的俯视示意图；

图18示出本申请实施例提供的又一种显示面板的俯视示意图；

图19示出本申请实施例提供的一种亮度检测方法的流程示意图；

图20示出本申请实施例提供的另一种亮度检测方法的流程示意图；

图21示出本申请实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将详细描述本申请的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本申请进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本申请，并不被配置为限定本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本申请的示例来提供对本申请更好的理解。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

应当理解，在描述部件的结构时，当将一层、一个区域称为位于另一层、另一个区域“上面”或“上方”时，可以指直接位于另一层、另一个区域上面，或者在其与另一层、另一个区域之间还包含其它的层或区域。并且，如果将部件翻转，该一层、一个区域将位于另一层、另一个区域“下面”或“下方”。

在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在本申请中能进行各种修改和变化，这对于本领域技术人员来说是显而易见的。因而，本申请意在覆盖落入所对应权利要求(要求保护的技术方案)及其等同物范围内的本申请的修改和变化。需要说明的是，本申请实施例所提供的实施方式，在不矛盾的情况下可以相互组合。

本申请实施例提供了一种显示面板、亮度检测方法及显示装置，以下将结合附图对显示面板、亮度检测方法及显示装置的各实施方式进行说明。

如图1所示，本申请实施例提供一种显示面板，该显示面板可以是有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)显示面板。当然，本申请实施例提供的显示面板也可以是其它类型的显示面板，例如，液晶显示面板、电子纸等，本申请对此不作限定。本申请将以有机发光二极管显示面板为例进行说明。

显示面板100具有显示区AA，显示区AA包括第一显示区AA1和第二显示区AA2。第一显示区AA1的像素密度小于第二显示区AA2的像素密度。由于第一显示区AA1的像素密度较小，第一显示区AA1的透光率会大于第二显示区AA2的透光率，使得显示面板100在第一显示区AA1的背面可以集成感光组件，实现例如摄像头的感光组件的屏下集成，同时第一显示区AA1能够显示画面，提高显示面板100的显示面积，实现显示装置的全面屏设计。

图1示例性的示出了第一显示区AA1和第二显示区AA2的形状、位置及面积，示例性的，第一显示区AA1或第二显示区AA2也可以为方形、圆形或其它异形形状，本申请对此不作限定。

第一显示区AA1和第二显示区AA2均包括用于显示的像素P。在显示面板100显示时，第一显示区AA1和第二显示区AA2的像素P均可以进行发光显示，进而实现全面屏显示。

第二显示区AA2包括第一区域A1，第一区域A1中的像素P包括第一像素P1和第二像素P2。示例性的，第一显示区AA1还可以包括位于相邻像素P之间的透光区NP。在第一区域A1中第一像素P1的像素密度与第一显示区AA1内的像素P的密度相同，且第一像素P1的排布方式与第一显示区AA1内的像素P的排布方式相同。可选的，在第一区域A1中第二像素P2的像素密度与第一显示区AA1的透光区NP的密度相同，且第二像素P2的排布方式与第一显示区AA1内的透光区NP的排布方式相同。

示例性的，第二显示区AA2还可以包括第二区域A2，第二区域A2可以是第二显示区AA2中除第一区域A1之外的其它区域。第二区域A2可以包括第三像素P3。

本文中的像素可以理解为不包括像素电路，例如在有机发光二极管显示面板中，可以理解为仅包括发光元件，不包括像素电路，而对应的像素密度可以理解为有机发光二极管显示面板中发光元件的密度。

如图2和图3所示，显示面板还包括像素电路，像素电路包括第一像素电路和第二像素电路，第一像素电路与第一像素P1电连接，第二像素电路与第二像素P2电连接。第二像素电路包括第一晶体管M11，第一晶体管M11用于在亮度检测状态时，使第二像素P2处于非显示状态。其中，亮度检测状态可以理解为采集第一显示区对应亮度数据的阶段。

由于第一像素P1的像素密度及排布方式与第一显示区AA1的像素密度及像素的排布方式相同，且第一晶体管M11能够在亮度检测状态时，使第二像素P2处于非显示状态，因此，第一区域A1能够模拟第一显示区AA1的显示情况。

本申请实施例提供的显示面板，第二像素电路包括第一晶体管，第一晶体管在亮度检测状态时，能够使第二像素处于非显示状态，也就是说，例如在对第一显示区进行伽马调试的过程中，需要采集第一显示区对应的亮度数据时，可以使第一区域的第一像素处于显示状态，第二像素处于非显示状态，利用第一区域模拟第一显示区的显示情况，一方面，可以通过检测第一区域的亮度数据作为第一显示区的至少部分亮度数据，相对于现有技术中通用的亮度检测装置中镜头的面积比较大，无法准确检测第一显示区的亮度，需要额外定做小尺寸的亮度检测装置的镜头来检测面积较小的第一显示区的亮度，根据本申请实施例可以根据通用的亮度检测装置的镜头尺寸调整第一区域的尺寸，无需为了第一显示区再定做小尺寸的亮度检测装置的镜头。另一方面，相对于利用模拟信号的方式使第二像素处于非显示状态(不发光)，例如，当显示面板为有机发光二极管显示面板时，电源电压PVDD一定，增大提供至第二像素的数据电压的值，以使第二像素不发光，在这种模拟信号的方式下，第二像素仍在导通的电路上，第二像素的数据电压仍存在，导致第一区域的数据线的负载仍包括第二像素，且第二像素的数据电压为高电压，会产生寄生电容影响周围的第一像素电路，继而影响第一像素的显示效果，本申请中可以利用第一晶体管直接断开第二像素，使得第一区域的数据线的负载仅包括第一像素，更符合第一显示区的数据线的负载的实际情况，从而检测到的第一区域的亮度数据更符合或者说接近第一显示区的实际亮度，并且本申请中第一晶体管直接断开第二像素，使第二像素处于断路状态，从而避免由于数据电压的存在产生寄生电容影响第一像素的显示效果的现象。又一方面，本申请的发明人发现，在实际显示控制的过程中，利用上述模拟信号的方式，无法使第二像素处于完全不亮的状态，而本申请中利用第一晶体管直接断开第二像素，在第一晶体管(大体上)无漏流的情况下，能够使第二像素完全处于断路状态，从而使第二像素达到完全不亮的状态，能够更好的模拟第一显示区的显示情况。

例如，第二像素电路的驱动过程包括数据写入阶段和发光阶段，在亮度检测状态下，可以至少在发光阶段控制第一晶体管处于截止状态，也可以在数据写入阶段以及发光阶段均控制第一晶体管处于截止状态。又例如，第二像素电路的驱动过程包括复位阶段、数据写入阶段和发光阶段，在亮度检测状态下，可以至少在发光阶段控制第一晶体管处于截止状态，也可以在复位阶段、数据写入阶段以及发光阶段均控制第一晶体管处于截止状态。

作为一个示例，如图2和图3所示，第二像素电路可以包括第一电源输入端PVDD、阳极输入端N、数据写入模块21和驱动模块22，驱动模块22串联在第一电源输入端PVDD与阳极输入端N，第二像素P2串联在阳极输入端N与第二电源端PVEE之间，数据写入模块21与驱动模块22电连接。至少一个第一晶体管M11可以串联在第一电源输入端PVDD和驱动模块22之间，和/或，至少一个第一晶体管M11可以串联在驱动模块22和阳极输入端N之间。图2和图3示例性的示出了第二像素电路的一种电路结构且示例性的示出了第二像素电路包括一个第一晶体管M11，这并不用于限定本申请。

作为另一个示例，如图4至图10所示，第二像素电路可以包括数据写入模块21、驱动模块22、补偿模块23、第一复位模块24、第二复位模块25、第一发光控制模块26、第二发光控制模块27以及存储模块28。其中，驱动模块22的第一端与第一节点N1电连接，驱动模块22的第二端与第二节点N2电连接，驱动模块22的控制端与第三节点N3电连接；数据写入模块21与第一节点N1电连接；补偿模块23串联在第二节点N2与第三节点N3之间；第一复位模块24与第三节点N3电连接；第二复位模块25与第四节点N4电连接，第一发光控制模块26串联在第一电源输入端PVDD与第一节点N1之间，第二发光控制模块27串联在第二节点N2与第四节点N4之间，存储模块28的一端与第一电源输入端PVDD在第五节点电连接，存储模块28的另一端与第三节点N4电连接，第二像素P2串联在阳极输入端N与第二电源端PVEE之间，阳极输入端N与第四节点N4电连接。

在下述位置中的至少一个可以串联有至少一个第一晶体管M11：第一发光控制模块26与第一电源输入端PVDD之间(包括第一发光控制模块26与第五节点之间以及第五节点与第一电源输入端PVDD之间)、第一发光控制模块26与第一节点N1之间、第一节点N1与驱动模块22的第一端之间、驱动模块22的第二端与第二节点N2之间、第二节点N2与第二发光控制模块27之间、第二发光控制模块27与第四节点N4之间以及第四节点N4与阳极输入端N之间。

示例性的，第一发光控制模块26包括第一发光控制晶体管M1，数据写入模块21包括数据写入晶体管M2，驱动模块22包括驱动晶体管M3，补偿模块23包括补偿晶体管M4，第一复位模块24包括第一复位晶体管M5，第二发光控制模块27包括第二发光控制晶体管M6，第二复位模块25包括第二复位晶体管M7，存储模块28包括存储电容Cst。

作为一个示例，驱动晶体管M3的第一极与第一节点N1电连接，驱动晶体管M3的第二极与第二节点N2电连接，驱动晶体管M3的栅极与第三节点N3电连接；第一发光控制晶体管M1及第二发光控制晶体管M6的栅极均与发光控制信号端EM电连接，第一发光控制晶体管M1的第一极与第一电源输入端PVDD电连接，第一发光控制晶体管M1的第二极与第一节点N1电连接，第二发光控制晶体管M6的第一极与第二节点N2电连接，第二发光控制晶体管M6的第二极与第四节点N4电连接。数据写入晶体管M2及补偿晶体管M4的栅极均与第二扫描信号端SCAN2电连接，数据写入晶体管M2的第一极与数据信号输入端VDATA电连接，数据写入晶体管M2的第二极与第一节点N1电连接，补偿晶体管M4的第一极与第二节点N2电连接，补偿晶体管M4的第二极与第三节点N3电连接。第一复位晶体管M5及第二复位晶体管M7的栅极均与第一扫描信号端SCAN1电连接，或者，如图10，第一复位晶体管M5及第二复位晶体管M7的栅极可以与不同的扫描信号端电连接，第一复位晶体管M5的栅极与第一扫描信号端SCAN1电连接，第二复位晶体管M7的栅极与第三扫描信号端SCAN3电连接。第一复位晶体管M5的第一极与参考信号端VREF电连接，第一复位晶体管M5的第二极与第三节点N3电连接，第二复位晶体管M7的第一极与参考信号端VREF电连接，第二复位晶体管M7的第二极与第四节点N4电连接。第二像素P2的阳极与阳极输入端N电连接，第二像素P2的阴极与第二电源端PVEE电连接。

示例性的，显示面板为有机发光二极管显示面板，第一、二、三像素可以包括层叠设置的阳极、发光功能层及阴极。发光功能层可以包括层叠设置的空穴注入层、空穴传输层、发光层、电子传输层、电子注入层。

示例性的，图4至图10示出了第一电源输入端PVDD与阳极输入端N之间串联有一个第一晶体管M11，具体地为第五节点与阳极输入端N之间串联有一个第一晶体管M11。可选的，第一晶体管M11也串联在第一电源输入端PVDD与第五节点之间。

示例性的，如图4所示，第一晶体管M11可以串联在第一电源输入端PVDD与晶体管M1之间。具体的，第一晶体管M11的栅极与控制信号端EN电连接，第一晶体管M11的第一极与第一电源输入端PVDD电连接，第一晶体管M11的第二极与晶体管M1的第一极电连接。

示例性的，如图5所示，第一晶体管M11可以串联在第一发光控制晶体管M1与第一节点N1之间。具体的，第一晶体管M11的栅极与控制信号端EN电连接，第一晶体管M11的第一极与第一发光控制晶体管M1的第二极电连接，第一晶体管M11的第二极与第一节点N1电连接。

示例性的，如图6所示，第一晶体管M11可以串联在第一节点N1与驱动晶体管M3的第一极之间。具体的，第一晶体管M11的栅极与控制信号端EN电连接，第一晶体管M11的第一极与第一节点N1电连接，第一晶体管M11的第二极与驱动晶体管M3的第一极电连接。

示例性的，如图7所示，第一晶体管M11可以串联在阳极输入端N与第四节点N4之间。具体的，第一晶体管M11的栅极与控制信号端EN电连接，第一晶体管M11的第一极与第四节点N4电连接，第一晶体管M11的第二极与阳极输入端N电连接。

示例性的，如图8所示，第一晶体管M11可以串联在第二发光控制晶体管M6与第二节点N2之间。具体的，第一晶体管M11的栅极与控制信号端EN电连接，第一晶体管M11的第一极与第二节点N2电连接，第一晶体管M11的第二极与第二发光控制晶体管M6的第一极电连接。

示例性的，如图9所示，第一晶体管M11可以串联在驱动晶体管M3的第二极与第二节点N2之间。具体的，第一晶体管M11的栅极与控制信号端EN电连接，第一晶体管M11的第一极与晶体管M3的第二极电连接，第一晶体管M11的第二极与第二节点N2电连接。

示例性的，如图10所示，第一晶体管M11可以串联在第二发光控制晶体管M6与第四节点N4之间。具体的，第一晶体管M11的栅极与控制信号端EN电连接，第一晶体管M11的第一极与第二发光控制晶体管M6的第二极电连接，第一晶体管M11的第二极与第四节点N4电连接。

图4至图10示例性的示出了第二像素电路仅包括一个第一晶体管M11，第二像素电路也可以包括多个第一晶体管M11。例如，以上所述的第一晶体管M11所在的位置中可以都设置第一晶体管M11，或者任选其中某些位置设置第一晶体管M11，本申请对此不作限定。例如，第一电源输入端PVDD与第一发光控制晶体管M1之间电连接有一个第一晶体管M11，且阳极输入端N与第二发光控制晶体管M6及第二复位晶体管M7之间电连接均设置有一个第一晶体管M11。上述仅仅是一种示例，并不用于限定多个第一晶体管M11的位置组合方式。示例性的，在第二像素电路包括多个第一晶体管M11的情况下，多个第一晶体管M11的栅极可以与同一个控制信号端电连接，当然，多个第一晶体管M11的栅极也可以与不同的控制信号端电连接，本申请对此不作限定。

在本申请中，晶体管M1～M7以及第一晶体管M11可以均为P型晶体管，也可以均为N型晶体管，也可以部分晶体管为P型晶体管，部分晶体管为N型晶体管。以第一晶体管M11为P型晶体管为例，在亮度检测状态下，即需要利用第一区域模拟第一显示区的显示情况的时候，控制信号端EN上的控制信号可以为高电平，使第一晶体管M11处于截止状态，从而使第一电源输入端PVDD与第二电源端PVEE之间断开，也就是说，在第一晶体管M11(大体上)不漏电的情况下，能够使第二像素P2完全处于断路状态，从而使第二像素P2达到完全不亮的状态，使得第一区域的数据线的负载不再包括第二像素P2，仅包括第一像素P1；另外，由于第一电源输入端PVDD与第二电源端PVEE之间是断开的，即使数据信号输入端VDATA上仍有数据电压，也不会产生寄生电容。

图2至图10仅仅是第二像素电路的一些示例，这并不用于限定本申请，只要第一电源输入端PVDD与阳极输入端N之间串联有至少一个第一晶体管M11，均在本申请的保护范围之内。

可以理解的是，在对第二显示区AA2进行伽马调试时或者在显示面板实际被使用时，第二像素电路中的第一晶体管可以处于导通状态，从而可以使第二像素处于显示状态。

在一些可选的实施例中，在第一电源输入端PVDD与阳极输入端N之间串联有至少一个第一晶体管M11的基础上，如图11至图15所示，数据信号输入端VDATA与驱动晶体管M3的栅极之间串联有至少一个第二晶体管M11’。第二晶体管M11’在亮度检测状态下，阻止数据信号输入端VDATA的数据信号写入驱动晶体管的栅极。图11至图15仍以第二像素电路包括数据写入模块21、驱动模块22、补偿模块23、第一复位模块24、第二复位模块25、第一发光控制模块26、第二发光控制模块27以及存储模块28为例，这并不用于限定本申请，只要数据信号输入端VDATA与驱动晶体管M3的栅极之间串联有至少一个第二晶体管M11’，均在本申请的保护范围之内。

图11至图15示例性的示出了一个第一晶体管M11串联在阳极输入端N与第四节点N4之间，一个第二晶体管M11’串联在数据信号输入端VDATA与驱动晶体管M3的栅极之间。如图11所示，第二晶体管M11’可以串联在数据信号输入端VDATA与数据写入晶体管M2的第一极之间。具体的，第二晶体管M11’的第一极与数据信号输入端VDATA电连接，第二晶体管M11’的第二极与数据写入晶体管M2的第一极电连接。可选的，第二晶体管M11’的栅极与控制信号端EN电连接，即第二晶体管M11’与第一晶体管M11的栅极连接相同的控制端。需要说明的是，第二晶体管M11’与第一晶体管M11的栅极也可以连接不同的控制端，进而，可以在不同的时段分别截止关断。

示例性的，如图12所示，第二晶体管M11’可以串联在数据写入晶体管M2的第二极与第一节点N1之间。具体的，第二晶体管M11’的第一极与数据写入晶体管M2的第二极电连接，第一晶体管M11’的第二极与第一节点N1电连接。可选的，第二晶体管M11’的栅极与控制信号端EN电连接，即第二晶体管M11’与第一晶体管M11的栅极连接相同的控制端。需要说明的是，第二晶体管M11’与第一晶体管M11的栅极也可以连接不同的控制端，进而，可以在不同的时段分别截止关断。

示例性的，如图13所示，第二晶体管M11’可以串联在第二节点N2与补偿晶体管M4的第一极之间。具体的，第二晶体管M11’的第一极与第二节点N2电连接，第二晶体管M11’的第二极与补偿晶体管M4的第一极电连接。可选的，第二晶体管M11’的栅极与控制信号端EN电连接，即第二晶体管M11’与第一晶体管M11的栅极连接相同的控制端。需要说明的是，第二晶体管M11’与第一晶体管M11的栅极也可以连接不同的控制端，进而，可以在不同的时段分别截止关断。

示例性的，如图14所示，第二晶体管M11’可以串联在第三节点N3与补偿晶体管M4的第二极之间。具体的，第二晶体管M11’的第一极与补偿晶体管M4的第二极电连接，第二晶体管M11’的第二极与第三节点N3电连接。可选的，第二晶体管M11’的栅极与控制信号端EN电连接，即第二晶体管M11’与第一晶体管M11的栅极连接相同的控制端。需要说明的是，第二晶体管M11’与第一晶体管M11的栅极也可以连接不同的控制端，进而，可以在不同的时段分别截止关断。

示例性的，如图15所示，第二晶体管M11’可以串联在第三节点N3与驱动晶体管M3的栅极之间。具体的，第二晶体管M11’的第一极与第三节点N3电连接，第二晶体管M11’的第二极与驱动晶体管M3的栅极电连接。可选的，第二晶体管M11’的栅极与控制信号端EN电连接，即第二晶体管M11’与第一晶体管M11的栅极连接相同的控制端。需要说明的是，第二晶体管M11’与第一晶体管M11的栅极也可以连接不同的控制端，进而，可以在不同的时段分别截止关断。

当然，在图11至图15所示的第二晶体管M11’所在的位置中可以都设置第二晶体管M11’，或者任选其中两个或多个位置设置第二晶体管M11’，本申请对此不作限定。

示例性的，第二像素电路的驱动过程包括复位阶段、数据写入阶段和发光阶段，在亮度检测状态下，可以至少在数据写入阶段控制第二晶体管处于截止状态，也可以在复位阶段、数据写入阶段以及发光阶段均控制第二晶体管处于截止状态。

本申请实施例中，数据信号输入端VDATA与驱动晶体管的栅极之间串联有第二晶体管M11’，在亮度检测状态下，即需要利用第一区域模拟第一显示区的显示情况的时候，可以控制第二晶体管也处于截止状态，从而避免数据信号输入端VDATA的数据电压写入驱动晶体管的栅极，即使第一晶体管存在漏流，由于第二晶体管能够阻止数据信号写入驱动晶体管的栅极，使得驱动晶体管无法产生电流，从而更彻底的使第二像素处于非显示状态。

可以理解的是，在如图6和/或图9所示的位置上仅设置的第一晶体管，也能够阻止数据信号写入驱动晶体管的栅极，使得驱动晶体管无法产生电流。

示例性的，第二晶体管M11’的数量为多个时，多个第二晶体管M11’可以与同一个控制信号端电连接，多个第二晶体管M11’也可以与不同的控制信号端电连接。另外，第一晶体管M11和第二晶体管M11’的栅极可以与同一个控制信号端电连接，从而节约控制信号端的数量，降低成本。第一晶体管M11和第二晶体管M11’的栅极也可以与不同的控制信号端电连接，本申请对此不作限定。

示例性的，如图16所示，第一像素电路可以包括电容Cst’和晶体管M1’、M2’、M3’、M4’、M5’、M6’、M7’，第一像素电路与第二像素电路的差别在于第二像素电路还包括第一晶体管M11和/或第二晶体管M11’。第一像素电路也可以是其它形式的电路结构，例如与第二像素电路的电路结构大致相同，只是对第一和/或第二晶体管栅极的控制方案进行对应的调整，本申请对此不作限定。另外，第一显示区内的像素所连接的像素电路可以和第一像素电路相同或者不同，第二显示区除第一区域之外的其它像素所连接的像素电路也可以和第一像素电路相同或者不同，本申请对此不作限定。

在一些可选的实施例中，如图17所示，显示面板100的扫描线(图中未示出)的延伸方向为X，显示面板100的数据线(图中未示出)的延伸方向为Y。示例性的，方向X可以是行方向，方向Y可以是列方向。第一区域A1与第一显示区AA1在方向X上的正投影可以至少部分交叠。也就是说，在方向X上，第一区域A1与第一显示区AA1至少部分区域是正对的，如此，第一区域A1与第一显示区AA1的数据线上压降(IR drop)大致是相同的，使得第一区域A1能够更准确的模拟第一显示区AA1的实际显示情况。

在第一区域A1与第一显示区AA1在方向X上的正投影至少部分交叠的情况下，第一区域A1可以和第一显示区AA1邻接，第一区域A1也可以和第一显示区AA1间隔设置，本申请对此不作限定。

可以理解的是，在第一区域A1与第一显示区AA1在方向X上的正投影至少部分交叠的情况下，第一区域A1的面积可以大于等于亮度检测装置中镜头的面积。第一区域A1的面积可以理解为第一像素P1和第二像素P2一起占据的面积。亮度检测装置中的镜头通常为圆形的，图12中以虚线框S表示镜头的面积。在利用镜头采集第一区域A1的亮度数据时，应当保证镜头在显示面板上的正投影在第一区域A1内，避免镜头采集到除第一区域A1之外的第二显示区AA2的亮度数据。

在一些可选的实施例中，请继续参考图1，第一区域A1与第一显示区AA1可以邻接且第一区域A1至少部分包围第一显示区AA1。图1示例性的示出了第一显示区AA1位于显示区AA的边缘，因此，第一区域A1部分包围第一显示区AA1。当然，第一显示区AA1也可以靠近显示区AA的中心位置位置，第一区域A1可以完全包围第一显示区AA1，本申请对此不作限定。

由于第一区域A1能够模拟第一显示区AA1的显示情况，且第一区域A1部分包围第一显示区AA1，因此在需要获取第一显示区AA1的亮度数据时，可以使第一显示区AA1内的像素P及第一区域A1内的第一像素P1均处于显示状态，使第二像素P2处于非显示状态，这样不仅可以获取第一区域A1的亮度数据作为第一显示区AA1的至少部分亮度数据，还可以获取第一显示区AA1自身的亮度数据，且第一显示区AA1自身的亮度数据就是第一显示区AA1的实际显示情况。

应当理解的是，在第一区域A1部分包围第一显示区AA1的情况下，第一区域A1与第一显示区AA1的面积之和应当大于等于亮度检测装置中镜头的面积(采光面积)。第一区域A1和第一显示区AA1的面积之和可以理解为第一像素P1、第二像素P2以及第一显示区AA1内的像素P及透光区NP一起占据的面积。图1中以虚线框S表示镜头的面积。在利用镜头采集第一区域A1和第一显示区AA1的亮度数据时，一般需要保证镜头在显示面板上的正投影在第一区域A1和第一显示区AA1内，避免镜头采集到除第一区域A1之外的第二显示区AA2的亮度数据。

在一些可选的实施例中，如图18所示，第一区域A1和第一显示区AA1可以间隔设置。可选的，第一区域A1的面积大于等于亮度检测装置中镜头的面积。图18中以虚线框S表示镜头的面积。在利用第一区域A1模拟第一显示区AA1的显示情况时，可以使第一像素P1处于显示状态，并控制第一晶体管处于截止状态，从而使第二像素P2处于非显示状态，并获取第一区域A1的亮度数据作为第一显示区AA1的全部亮度数据。在需要获取第二显示区AA2的亮度数据时，可以使第一像素P1处于显示状态，并控制第一晶体管处于导通状态，从而使第二像素P2也处于显示状态，并获取第一区域A1的亮度数据作为第二显示区AA2的至少部分亮度数据。由于第一区域A1和第一显示区AA2间隔设置，因此在获取第一显示区AA1和第二显示区AA2的亮度数据的过程中，无需移动亮度采集装置。

本申请实施例还提供一种亮度检测方法，用于检测如上述实施例的显示面板的亮度。如图19所示，本申请实施例提供的亮度检测方法包括步骤110和步骤120。

步骤110，控制第一像素处于显示状态，并控制第一晶体管处于截止状态，以使第二像素处于非显示状态。

步骤120，获取第一区域的第一实测亮度数据，并将第一实测亮度数据存储为第一显示区的至少部分亮度数据。

本申请实施例提供的亮度检测方法，相对于利用模拟信号的方式使第二像素不发光，例如，在电源电压PVDD一定时，增大提供至第二像素的数据电压的值，以使第二像素不发光，在这种模拟信号的方式下，第二像素仍在导通的电路上，第二像素的数据电压仍存在，导致第一区域的数据线的负载仍包括第二像素，且第二像素的数据电压为高电压，会产生寄生电容影响周围的第一像素电路，继而影响第一像素的显示效果，本申请中可以利用第一晶体管直接断开第二像素，使得第一区域的数据线的负载仅包括第一像素，更符合第一显示区的数据线的负载的实际情况，从而检测到的第一区域的实测亮度数据更符合或者说接近第一显示区的实际亮度，并且本申请中第一晶体管直接断开第二像素，使第二像素处于断路状态，从而避免由于数据电压的存在产生寄生电容影响第一像素的显示效果的现象。另外本申请的发明人发现，在实际显示控制的过程中，利用上述模拟信号的方式，无法使第二像素处于完全不亮的状态，而本申请中利用第一晶体管直接断开第二像素，能够使第二像素完全处于断路状态，从而能够在第一晶体管(大体上)无漏流的情况下，使第二像素达到完全不亮的状态，能够更好的模拟第一显示区的显示情况。

在一些可选的实施例中，本申请实施例提供的亮度检测方法可以应用于对显示面板进行伽马调试的过程中。以显示面板可显示0～255灰阶画面为例，可以选取0～255灰阶一些灰阶作为灰阶绑点对显示面板进行伽马调试，灰阶绑点可以是0～255灰阶中的任意一个灰阶。步骤110可以包括：控制第一像素以目标灰阶电压发光，并控制第一晶体管处于截止状态，以使第二像素处于非显示状态。步骤120可以包括：获取第一区域的第一实测亮度数据，并将目标灰阶电压以及第一实测亮度数据存储为第一显示区的伽马调试数据；其中，在目标灰阶电压下，第一区域的第一实测亮度数据与第一区域的目标亮度之间的差值小于等于预设阈值。

示例性的，可以通过下述方式确定目标灰阶电压。

控制第一像素以初始灰阶电压发光，并控制第一晶体管处于截止状态，以使第二像素处于非显示状态；获取第一区域在初始灰阶电压下的实测亮度；若第一区域在初始灰阶电压下的实测亮度与目标亮度之间的差值大于预设阈值，则调整初始灰阶电压，并控制第一晶体管处于截止状态，以使第二像素处于非显示状态，直至第一区域在调整后的初始灰阶电压下的实测亮度与目标亮度之间的差值小于等于预设阈值，将调整后的初始灰阶电压作为目标灰阶电压。

在一些可选的实施例中，第一区域与第一显示区邻接且第一区域至少部分包围第一显示区，步骤110还可以包括：控制第一显示区中的像素处于发光状态。步骤120具体还可以包括：获取第一显示区的实测亮度数据，并将第一显示区的实测亮度数据存储为第一显示区的部分亮度数据。

在本申请实施例中，由于第一区域部分包围第一显示区，因此在需要获取第一显示区的亮度数据时，可以使第一显示区及第一区域内的第一像素均处于显示状态，使第二像素处于非显示状态，这样不仅可以获取第一区域的第一实测亮度数据作为第一显示区的部分亮度数据，还可以获取第一显示区自身的亮度数据，且第一显示区自身的亮度数据就是第一显示区的实际显示情况。

在一些可选的实施例中，第一区域与第一显示区间隔设置。由于第一区域与第一显示区间隔设置，可以完全利用第一区域模拟第一显示区的显示情况。具体的，可以控制第一像素处于显示状态，并控制第一晶体管处于截止状态，以使第二像素处于非显示状态，并获取第一区域的第一实测亮度数据，将第一区域的第一实测亮度数据存储为第一显示区的全部亮度数据。

在第一区域与第一显示区间隔设置的情况下，可以控制第一显示区处于显示状态，或者控制第一显示区处于非显示状态，本申请对此不作限定。

另外，在第一区域与第一显示区间隔设置的情况下，如图20所示，本申请实施例提供的亮度检测方法还可以包括步骤130及步骤140。

步骤130，控制第一像素处于显示状态，并控制第一晶体管处于导通状态，以使第二像素处于显示状态；

步骤140，获取第一区域的第二实测亮度数据，并将第一区域的第二实测亮度数据存储为第二显示区的至少部分亮度数据。

在利用第一区域模拟第一显示区的显示情况时，可以使第一像素处于显示状态，并控制第一晶体管处于截止状态，从而使第二像素处于非显示状态，并获取第一区域的第一实测亮度数据作为第一显示区的至少部分亮度数据。在需要获取第二显示区的亮度数据时，可以使第一像素处于显示状态，并控制第一晶体管处于导通状态，从而使第二像素也处于显示状态，并获取第一区域的第二实测亮度数据作为第二显示区的至少部分亮度数据。由于第一区域和第一显示区间隔设置，因此在获取第一显示区和第二显示区的亮度数据的过程中，无需移动亮度采集装置。

本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时可实现上述实施例中的亮度检测方法，且能达到相同的技术效果，为避免重复，这里不再赘述。其中，上述计算机可读存储介质可包括只读存储器(Read-Only Memory，简称ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)、磁碟或者光盘等，在此并不限定。

基于相同的发明构思，本申请还提供了一种显示装置，包括本申请提供的显示面板。请参考图21，图21是本申请实施例提供的一种显示装置的结构示意图。图21提供的显示装置1000包括本申请上述任一实施例提供的显示面板100。图21实施例仅以手机为例，对显示装置1000进行说明，可以理解的是，本申请实施例提供的显示装置，可以是可穿戴产品、电脑、电视、车载显示装置等其他具有显示功能的显示装置，本申请对此不作具体限制。本申请实施例提供的显示装置，具有本申请实施例提供的显示面板的有益效果，具体可以参考上述各实施例对于显示面板的具体说明，本实施例在此不再赘述。

依照本申请如上文所述的实施例，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该申请仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本申请的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本申请以及在本申请基础上的修改使用。本申请仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (13)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

显示区，所述显示区包括第一显示区和第二显示区，所述第一显示区的像素密度小于所述第二显示区的像素密度；

所述第二显示区包括第一区域，所述第一区域包括第一像素和第二像素；在所述第一区域中，所述第一像素的密度与所述第一显示区的像素密度相同，且所述第一像素的排布方式与所述第一显示区内的像素排布方式相同；

像素电路，所述像素电路包括第一像素电路和第二像素电路，所述第一像素电路和所述第一像素电连接；所述第二像素电路和所述第二像素电连接，所述第二像素电路包括第一晶体管，所述第一晶体管用于在亮度检测状态时，使所述第二像素处于非显示状态。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第二像素电路包括第一电源输入端及阳极输入端，至少一个所述第一晶体管串联在所述第一电源输入端与所述阳极输入端之间。

3.根据权利要求1或2所述的显示面板，其特征在于，所述第一晶体管的数量为多个，且多个所述第一晶体管的栅极与同一个控制信号端电连接。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第二像素电路包括驱动晶体管、第二晶体管及数据信号输入端，至少一个第二晶体管串联在所述驱动晶体管的栅极及与所述数据信号输入端之间，所述第二晶体管用于在亮度检测状态时，阻止所述数据信号输入端的数据信号写入所述驱动晶体管的栅极。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一区域与所述第一显示区在扫描线的延伸方向上的正投影至少部分交叠。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一区域与所述第一显示区邻接且所述第一区域至少部分包围所述第一显示区。

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第一区域与所述第一显示区的面积之和大于等于亮度检测装置中镜头的面积。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一区域与所述第一显示区间隔设置。

9.一种亮度检测方法，用于检测如权利要求1-8任意一项所述的显示面板的亮度，其特征在于，所述亮度检测方法包括：

控制所述第一像素处于显示状态，并控制所述第一晶体管处于截止状态，以使所述第二像素处于非显示状态；

获取所述第一区域的第一实测亮度数据，并将所述第一实测亮度数据存储为所述第一显示区的至少部分亮度数据。

10.根据权利要求9所述的亮度检测方法，其特征在于，所述第一区域与所述第一显示区邻接且所述第一区域至少部分包围所述第一显示区，所述亮度检测方法还包括：

控制所述第一显示区中的像素处于发光状态；

获取所述第一显示区的实测亮度数据，并将所述第一显示区的实测亮度数据存储为所述第一显示区的部分亮度数据。

11.据权利要求9所述的亮度检测方法，其特征在于，所述第一区域与所述第一显示区间隔设置，将所述第一实测亮度数据存储为所述第一显示区的全部亮度数据。

12.据权利要求9所述的亮度检测方法，其特征在于，所述亮度检测方法还包括：

控制所述第一像素处于显示状态，并控制所述第一晶体管处于导通状态，以使所述第二像素处于显示状态；

获取所述第一区域的第二实测亮度数据，并将所述第二实测亮度数据存储为所述第二显示区的至少部分亮度数据。

13.一种显示装置，其特征在于，包括根据权利要求1-8任一项所述的显示面板。

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