CN114360419A - 显示面板和检测系统 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例提供了显示面板和检测系统，显示面板包括沿行方向和列方向交叉排布的发光元件、多条第一检测线和多条第二检测线；每条第一检测线能够将一行发光元件中的多个发光元件串联，每条第二检测线能够将一列发光元件中的多个发光元件串联；每条第一检测线上设置有第一检测点位，每条第二检测线上设置有第二检测点位。本申请实施例能够降低发光元件的检测难度，提高发光元件的检测效率。
Description
技术领域
本申请属于显示技术领域，尤其涉及一种显示面板和检测系统。
背景技术
随着显示技术的发展，显示面板的种类也越来越广泛。例如，显示面板的种类有液晶显示面板(Liquid Crystal Display，LCD)、有机发光二极管(Organic Light-EmittingDiode，OLED)显示面板、次毫米发光二极管(Mini LED)显示面板和微型发光二极管(MicroLED)显示面板等。
在显示面板的制作阶段，因为工艺良率的因素，会有部分的显示像素无法发光或者是发光表现不如预期，而形成坏点(Dead Pixel)，影响显示面板的显示品质。因此，为了保证显示面板的显示品质，需要对显示面板中的发光元件进行检测或者返修。
然而，经本申请的发明人发现，由于显示面板中的发光元件的数量众多且均为像素级别，所以难以对于发生故障的发光元件进行识别和迅速定位，存在检测难度较大及检测效率低的技术问题。
发明内容
本申请实施例提供一种显示面板和检测系统，能够降低显示面板中发光元件的检测难度，提高检测效率。
第一方面，本申请实施例提供了一种显示面板，显示面板包括沿行方向和列方向交叉排布的发光元件、多条第一检测线和多条第二检测线；每条第一检测线用于将一行发光元件中的多个发光元件串联，每条第一检测线上设置有第一检测点位；每条第二检测线用于将一列发光元件中的多个发光元件串联，每条第二检测线上设置有第二检测点位。
第二方面，本申请实施例提供了一种检测系统，检测系统包括：如第一方面提供的显示面板；检测装置，检测装置能够与N条第一检测线上的第一检测电位电连接，用于输出N行发光元件的检测结果；检测装置能够与M条第二检测线上的第二检测电位电连接，用于输出M列发光元件的检测结果，M和N均为正整数。
本申请实施例的显示面板和检测系统，显示面板包括沿行方向和列方向交叉排布的发光元件、多条第一检测线和多条第二检测线；每条第一检测线能够将一行发光元件中的多个发光元件串联，每条第二检测线能够将一列发光元件中的多个发光元件串联；每条第一检测线上设置有第一检测点位，每条第二检测线上设置有第二检测点位。在某一发光元件发生故障时，与该发光元件所在的一行发光元件连接的第一检测点位上的电学参数会发生变化，同时与该发光元件所在的一列发光元件连接的第二检测点位上的电学参数也会发生变化。因此，通过第一检测点位反馈的电学参数和第二检测点位反馈的电学参数，便可以快速且准确地确定发生故障的发光元件所在的行及所在的列，进而通过行列定位便可以快速且准确地确定发生故障的发光元件的具体位置，降低了显示面板中发光元件的检测难度，提高了发光元件的检测效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的显示面板的一种俯视示意图；
图2为本申请实施例提供的显示面板的另一种俯视示意图；
图3为本申请实施例提供的显示面板的又一种俯视示意图；
图4为本申请实施例提供的显示面板的又一种俯视示意图；
图5为本申请实施例提供的显示面板的一种电路示意图；
图6为本申请实施例提供的显示面板的一种截面示意图；
图7为本申请实施例提供的显示面板的另一种截面示意图；
图8为本申请实施例提供的显示面板的又一种截面示意图；
图9为本申请实施例提供的显示面板的又一种俯视示意图；
图10为本申请实施例提供的检测系统的一种俯视示意图；
图11为本申请实施例提供的检测系统的另一种俯视示意图；
图12为本申请实施例提供的显示装置的一种结构示意图。
具体实施方式
下面将详细描述本申请的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本申请进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅意在解释本申请，而不是限定本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本申请的示例来提供对本申请更好的理解。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
需要说明的是，本申请实施例中的晶体管以N型晶体管为例进行说明，但不限于N型晶体管，也可以替换为P型晶体管。对于N型晶体管来说，导通电平为高电平，截止电平为低电平。即，N型晶体管的栅极为高电平时，其第一极和第二极之间导通，N型晶体管的栅极为低电平时，其第一极和第二极之间关断。对于P型晶体管来说，导通电平为低电平，截止电平为高电平。即，P型晶体管的控制极为低电平时，其第一极和第二极之间导通，P型晶体管的控制端为高电平时，其第一极和第二极之间关断。在具体实施时，上述各晶体管的栅极作为其控制极，并且，根据各晶体管的栅极的信号以及其类型，可以将其第一极作为源极，第二极作为漏极，或者将其第一极作为漏极，第二极作为源极，在此不做区分，另外本发明实施例中的导通电平和截止电平均为泛指，导通电平是指任何能够使晶体管导通的电平，截止电平是指任何能够使晶体管截止/关断的电平。
在本申请实施例中，术语“电连接”可以是指两个组件直接电连接，也可以是指两个组件之间经由一个或多个其它组件电连接。
在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在本申请中能进行各种修改和变化，这对于本领域技术人员来说是显而易见的。因而，本申请意在覆盖落入所对应权利要求(要求保护的技术方案)及其等同物范围内的本申请的修改和变化。需要说明的是，本申请实施例所提供的实施方式，在不矛盾的情况下可以相互组合。
在阐述本申请实施例所提供的技术方案之前，为了便于对本申请实施例理解，本申请首先对现有技术中存在的问题进行具体说明：
如前所述，在显示面板的制作阶段，因为工艺良率的因素，会有部分的显示像素无法发光或者是发光表现不如预期，而形成坏点(Dead Pixel)，影响显示面板的显示品质。
尤其对于微型发光二极管(micro LED)显示面板或次毫米发光二极管(Mini-LED)显示面板来说，在其制作工艺中，可将形成在生长基板上的发光二极管通过巨量转移的方式移栽到阵列基板上，由于需要转移的发光二极管的数量过多，受到移栽良率的影响，不可避免地存在部分发光二极管无法正常发光的现象，即出现坏点。为了保证显示面板的显示品质，需要对显示面板中的发光元件进行检测或者返修。
然而，由于显示面板中的发光元件的数量众多且均为像素级别，所以对发光元件进行逐个检测的工作量较高，且无法快速筛选出坏点。换句话说，目前发光元件的检测方式存在检测难度较大及检测效率低的技术问题。
鉴于发明人的上述研究发现，本申请实施例提供了一种显示面板和检测系统，能够解决相关技术中存在的发光元件的检测难度较大及检测效率低的技术问题。
本申请实施例的技术构思在于：在显示面板上增设多条第一检测线和多条第二检测线，每条第一检测线将一行发光元件中的多个发光元件串联，每条第二检测线将一列发光元件中的多个发光元件串联；而且，在每条第一检测线上设置第一检测点位，在每条第二检测线上设置第二检测点位。这样一来，在某一发光元件发生故障时，与该发光元件所在的一行发光元件连接的第一检测点位上的电学参数会发生变化，同时与该发光元件所在的一列发光元件连接的第二检测点位上的电学参数也会发生变化。通过第一检测点位反馈的电学参数和第二检测点位反馈的电学参数，便可以快速且准确地确定发生故障的发光元件所在的行及所在的列，进而通过行列定位便可以快速且准确地确定发生故障的发光元件的具体位置。因此，本申请实施例可以降低显示面板中发光元件的检测难度，提高发光元件的检测效率。
下面首先对本申请实施例所提供的显示面板进行介绍。
如图1所示，显示面板10包括沿行方向X和列方向Y交叉排布的发光元件101、多条第一检测线102和多条第二检测线103。示例性地，发光元件101可以包括微型发光二极管(micro LED)、次毫米发光二极管(Mini-LED)、有机发光二极管OLED或者液晶显示面板中的发光元件。在行方向X上，每条第一检测线102用于将一行发光元件中的多个发光元件101串联。例如，显示面板10可以包括M行发光元件和M条第一检测线102，其中，一条第一检测线102可以对应连接一行发光元件，M为正整数。通过M条第一检测线102则可以将M行发光元件串联。在列方向Y上，每条第二检测线103用于将一列发光元件中的多个发光元件101串联。例如，显示面板10可以包括N列发光元件和N条第二检测线103，其中，一条第二检测线103可以对应连接一列发光元件，N为正整数。通过N条第二检测线103则可以将N列发光元件串联。容易理解的是，所谓的串联即第i-1个发光元件102的阴极连接第i个发光元件102的阳极，第i个发光元件102的阴极再连接第i+1个发光元件102的阳极，依次类推，i为大于1的整数。
为了便于发光元件101的检测，每条第一检测线102上设置有第一检测点位P1。示例性地，第一检测点位P1可以为端子、焊盘或任意可以电连接的检测点或检测区域。对于任意一个第一检测点位P1而言，通过检测该第一检测点位P1上的电学参数(如电流值或电压值)，则可以获知该第一检测点位P1电连接的一行发光元件中是否有发生故障(如断路)的发光元件101。例如，当该第一检测点位P1电连接的一行发光元件中有发生故障的发光元件101时，该第一检测点位P1处的电流值可能会为0或者电流值很小。而当该第一检测点位P1电连接的一行发光元件中没有发生故障的发光元件101时，该第一检测点位P1处的电流值不为0甚至较大。
类似地，为了便于发光元件101的检测，每条第二检测线103上设置有第二检测点位P2。示例性地，第二检测点位P2可以为端子、焊盘或任意可以电连接的检测点或检测区域。对于任意一个第二检测点位P2而言，通过检测该第二检测点位P2上的电学参数(如电流值或电压值)，则可以获知该第二检测点位P2电连接的一列发光元件中是否有发生故障(如断路)的发光元件101。例如，当该第二检测点位P2电连接的一列发光元件中有发生故障的发光元件101时，该第二检测点位P2处的电流值可能会为0或者电流值很小。而当该第二检测点位P2电连接的一列发光元件中没有发生故障的发光元件101时，该第二检测点位P2处的电流值不为0甚至较大。
本申请实施例的显示面板10，显示面板10包括沿行方向和列方向交叉排布的发光元件101、多条第一检测线102和多条第二检测线103；每条第一检测线102能够将一行发光元件中的多个发光元件101串联，每条第二检测线103能够将一列发光元件中的多个发光元件101串联；每条第一检测线102上设置有第一检测点位P1，每条第二检测线103上设置有第二检测点位P2。在某一发光元件101发生故障时，与该发光元件101所在的一行发光元件连接的第一检测点位P1上的电学参数会发生变化，同时与该发光元件101所在的一列发光元件连接的第二检测点位P2上的电学参数也会发生变化。因此，通过第一检测点位P1反馈的电学参数和第二检测点位P2反馈的电学参数，便可以快速且准确地确定发生故障的发光元件101所在的行及所在的列，进而通过行列定位便可以快速且准确地确定发生故障的发光元件101的具体位置，降低了显示面板中发光元件的检测难度，提高了发光元件的检测效率。
继续参见图1，根据本申请的一些实施例，可选地，多条第一检测线102上的第一检测点位P1均位于第一检测线102的首端，或者多条第一检测线102上的第一检测点位P1均位于第一检测线102的尾端。同样地，多条第二检测线103上的第二检测点位P2均位于第二检测线103的首端，或者多条第二检测线103上的第二检测点位P2均位于第二检测线103的尾端。需要说明的是，第一检测线102的首端和尾端以及第二检测线103的首端和尾端是相对而言的，首端和尾端的位置可以颠倒。例如，以显示面板10的绑定区(或者驱动芯片)所在的一侧作为显示面板10的下侧，那么，第一检测线102的首端可以位于第一检测线102的左侧，第一检测线102的尾端可以位于第一检测线102的右侧。或者，第一检测线102的首端可以位于第一检测线102的右侧，第一检测线102的尾端可以位于第一检测线102的左侧。同理，第二检测线103的首端可以位于第二检测线103的上侧或下侧，第二检测线103的尾端可以位于第二检测线103的下侧或上侧。
无论第一检测线102的首端和尾端以及第二检测线103的首端和尾端如何变化，简单来说，多条第一检测线102上的第一检测点位P1均位于第一检测线102的同一侧，多条第二检测线103上的第二检测点位P2均位于第二检测线103的同一侧。如此一来，由于多条第一检测线102上的第一检测点位P1均位于第一检测线102的同一侧，多条第二检测线103上的第二检测点位P2均位于第二检测线103的同一侧，所以可以便于多个第一检测点位P1及多个第二检测点位P2的搭接或检测，提高检测效率。
如图2所示，根据本申请的另一些实施例，可选地，与图1所示的实施例不同的是，多条第一检测线102上的第一检测点位P1可以位于第一检测线102的首端和尾端两者。即，每条第一检测线102上可以设置两个第一检测点位P1，其中一个第一检测点位P1可以位于第一检测线102的首端，另一个第一检测点位P1可以位于第一检测线102的尾端。同理，多条第二检测线103上的第二检测点位P2可以位于第二检测线103的首端和尾端两者。即，每条第二检测线103上可以设置两个第二检测点位P2，其中一个第二检测点位P2可以位于第二检测线103的首端，另一个第二检测点位P2可以位于第二检测线103的尾端。
如此一来，每条第一检测线102上的其中一个第一检测点位P1可以便于与电源电连接以输入电信号，另一个第一检测点位P1可以用于电学参数的检测。每条第二检测线103上的其中一个第二检测点位P2可以便于与电源电连接以输入电信号，另一个第二检测点位P2可以用于电学参数的检测。
本申请的发明人考虑到在发光元件检测完成后，串联多个发光元件101的第一检测线102和第二检测线103在不断开的情况下可能会影响显示面板的显示。因此，为了保证显示面板的显示效果，根据本申请的一些实施例，可选地，在发光元件检测完成后，使得第一检测线102和第二检测线103断开。
具体地，如图3所示，显示面板10还可以包括第一扫描信号线S1、第二扫描信号线S2、多个第一开关模块301和多个第二开关模块302。第一检测线102可以包括多段第一子检测线102a，第一子检测线102a用于连接行方向X上相邻的两个发光元件101。第一开关模块301的控制端与第一扫描信号线S1电连接，第一开关模块301的第一端和第一开关模块的第二端串接于第一子检测线102a上。在对发光元件101进行检测时，第一开关模块301响应于第一扫描信号线S1输入的导通电平而导通，从而使得行方向X上任意相邻的两个发光元件101之间的第一子检测线102a导通，即使得第一检测线102导通，从而实现发光元件101的检测。在发光元件101检测完成后，第一开关模块301响应于第一扫描信号线S1输入的截止电平而截止，从而使得行方向X上任意相邻的两个发光元件101之间的第一子检测线102a断开，避免行方向X上任意相邻的两个发光元件101之间的信号串扰，保证显示面板的正常显示。
类似地，第二检测线103可以包括多段第二子检测线103a，第二子检测线103a用于连接列方向Y上相邻的两个发光元件101。第二开关模块302的控制端与第二扫描信号线S2电连接，第二开关模块302的第一端和第一开关模块的第二端串接于第二子检测线103a上。在对发光元件101进行检测时，第二开关模块302响应于第二扫描信号线S2输入的导通电平而导通，从而使得列方向Y上任意相邻的两个发光元件101之间的第二子检测线103a导通，即使得第二检测线103导通，从而实现发光元件101的检测。在发光元件101检测完成后，第二开关模块302响应于第二扫描信号线S2输入的截止电平而截止，从而使得列方向Y上任意相邻的两个发光元件101之间的第二子检测线103a断开，避免列方向Y上任意相邻的两个发光元件101之间的信号串扰，保证显示面板的正常显示。
如此一来，在行方向X上任意相邻的两个发光元件101之间设置第一开关模块301，在列方向Y上任意相邻的两个发光元件101之间设置第二开关模块302，通过控制第一开关模块301和第二开关模块302的导通/截止，既可以实现发光元件101的快速检测，又可以保证显示面板后续的正常显示。
如图4所示，根据本申请的一些实施例，可选地，第一开关模块301可以包括第一晶体管M1，第一晶体管M1的栅极与第一扫描信号线S1电连接，第一晶体管M1的第一极和第一晶体管M1的第二极串接于第一子检测线102a上。在对发光元件101进行检测时，第一晶体管M1响应于第一扫描信号线S1输入的导通电平而导通，从而使得行方向X上任意相邻的两个发光元件101之间的第一子检测线102a导通，即使得第一检测线102导通，从而实现发光元件101的检测。在发光元件101检测完成后，第一晶体管M1响应于第一扫描信号线S1输入的截止电平而截止，从而使得行方向X上任意相邻的两个发光元件101之间的第一子检测线102a断开，避免行方向X上任意相邻的两个发光元件101之间的信号串扰，保证显示面板的正常显示。
继续参见图4，第二开关模块302可以包括第二晶体管M2，第二晶体管M2的栅极与第二扫描信号线S2电连接，第二晶体管M2的第一极和第二晶体管M2的第二极串接于第二子检测线103a上。在对发光元件101进行检测时，第二晶体管M2响应于第二扫描信号线S2输入的导通电平而导通，从而使得列方向Y上任意相邻的两个发光元件101之间的第二子检测线103a导通，即使得第二检测线103导通，从而实现发光元件101的检测。在发光元件101检测完成后，第二晶体管M2响应于第二扫描信号线S2输入的截止电平而截止，从而使得列方向Y上任意相邻的两个发光元件101之间的第二子检测线103a断开，避免列方向Y上任意相邻的两个发光元件101之间的信号串扰，保证显示面板的正常显示。
如此一来，在行方向X上任意相邻的两个发光元件101之间设置第一晶体管M1，在列方向Y上任意相邻的两个发光元件101之间设置第二晶体管M2，通过控制第一晶体管M1和第二晶体管M2的导通/截止，既可以实现发光元件101的快速检测，又可以保证显示面板后续的正常显示。
为了保证显示面板的显示效果，如图5所示，根据本申请的一些实施例，可选地，显示面板10还可以包括多个第一电阻R1，每个发光元件101可以与至少一个第一电阻R1并联。第一电阻R1的阻值为发光元件101的阻值的n倍，n大于1。示例性地，第一电阻R1的阻值可以为发光元件101正向导通时的阻值的几十倍、几百倍甚至上千倍，即第一电阻R1的阻值可以远远大于发光元件101正向导通时的阻值。这样做的好处在于：在发光元件101未发生故障(如未断路)时，由于第一电阻R1的阻值远远大于发光元件101正向导通时的阻值，所以第一电阻R1基本上无电流流过，而第一检测点位P1和第二检测点位P2上可以测得明显的电流；在发光元件101发生故障(如断路)时，电流流经第一电阻R1，由于第一电阻R1的阻值较大，所以第一检测点位P1和第二检测点位P2上测得的电流很小。因此，可以根据第一检测点位P1和第二检测点位P2上测得的电流的明显变化，较为容易的确定发生故障的发光元件101的位置。另一方面，在每个发光元件101上并联至少一个第一电阻R1，可以在发光元件101发生故障的情况下，保证电流依旧能够通过并联的第一电阻R1流过，进而保证显示面板的显示效果和发光元件的检测效果。
根据本申请的一些实施例，可选地，发光元件101可以为微型发光二极管(microLED)或者次毫米发光二极管(Mini-LED)。相应地，如图6所示，显示面板10还可以包括多个键合点位601，发光元件101可以通过键合材料602键合在键合点位601上。可选地，第一电阻R1可以包括发热电阻R1’，每个发光元件101可以对应至少一个发热电阻R1’。发热电阻R1’与对应的发光元件101可以位于不同膜层。在垂直于显示面板出光面(如图6中的a表面)的方向上，每个发热电阻R1’与对应的发光元件101至少部分交叠，每个发热电阻R1’在处于发热状态时用于将对应的发光元件101与键合点位601之间的键合材料602熔融，从而实现故障发光元件101的快速剥离。
如此一来，通过在发光元件101上并联至少一个发热电阻R1’，且每个发热电阻R1’与对应的发光元件101至少部分交叠，从而在某一发光元件101发生故障时，电流流经与该故障的发光元件101并联的发热电阻R1’，发热电阻R1’产生热量。在发热电阻R1’发出的热量的作用下，该故障的发光元件101与键合点位601之间的键合材料602熔融，从而实现故障发光元件101的快速剥离。
在一些具体的实施例中，可选地，发光元件101与发热电阻R1’并联在第一检测线102或者第二检测线103上，通过第一检测线102或者第二检测线103上流过的电流驱动发热电阻R1’发热，即能够同时实现发光元件101的快速检测和发生故障的发光元件101的快速剥离。为了保证故障的发光元件101与键合点位601之间的键合材料602充分熔融，在确定发生故障的发光元件101所在的行或者列之后，可以增大与发生故障的发光元件101电连接的第一检测线102或者第二检测线103上的电流，从而使得发热电阻R1’发出足够的热量将故障的发光元件101与键合点位601之间的键合材料602充分熔融。
根据本申请的一些实施例，可选地，键合材料602可以为低熔点材料，从而便于故障发光元件101的剥离。示例性地，键合材料602的熔点可以低于300℃。例如，键合材料602可以为锂(Li)、锌(Zn)、镓(Ga)、铷(Rb)、铯(Cs)、铊(Tl)、铋(Bi)、锡(Sn)、铟(In)、钠(Na)、钾(K)或具有其混合物的合金。如此一来，通过选用熔点低于300℃的材料作为键合材料602，可以降低键合材料的熔融难度，有利于故障发光元件101的剥离。
继续参见图6，在一些具体的实施例中，可选地，显示面板10可以包括依次层叠的衬底01、驱动器件层02和键合层03。发热电阻R1’可以位于驱动器件层，键合点位位于键合层03。示例性地，驱动器件层02可以包括在远离衬底01方向上层叠设置的多个金属层，发热电阻R1’可以位于多个金属层中的任意一层或多层。值得注意的是，在垂直于显示面板出光面(如图6中的a表面)的方向上，每个发热电阻R1’与对应的发光元件101所键合的键合点位601至少部分交叠，且每个发热电阻R1’与除对应的发光元件101之外的其他发光元件所键合的键合点位601不交叠。
如此一来，在某一发光元件101发生故障时，由于该故障的发光元件101对应的发热电阻R1’仅与该故障的发光元件101所键合的键合点位601交叠，而未与除该故障的发光元件101之外的其他发光元件所键合的键合点位601交叠，所以可以保证该故障的发光元件101对应的发热电阻R1’发出的热量能够将该故障的发光元件101上的键合材料602熔融的同时，而不将邻近的其他正常的发光元件101上的键合材料602熔融，实现故障发光元件101的精准剥离。
下面结合图7和图8对于本申请实施例中的第一检测线和第二检测线的膜层分布进行介绍。
如图7和图8所示，根据本申请的一些实施例，可选地，在垂直于显示面板出光面的方向上，衬底01与驱动器件层02之间还设置有缓冲层04。缓冲层04包括但不限于无机材料层或有机材料层。其中，无机材料层的材料包括但不限定于氧化硅、氮化硅、氮氧化硅、氧化铝或氮化铝等，有机材料层的材料包括但不限定于亚克力或PI等。驱动器件层02可以包括在远离衬底01方向上层叠设置的第一金属层m1、第二金属层mc及第三金属层m2。当然，在另一些实施例中，驱动器件层02还可以包括位于第三金属层m2背离衬底01一侧的第四金属层，本申请实施例对此不作限定。第一金属层m1与缓冲层04之间设置有源层b。任意相邻的金属层之间以及有源层b与第一金属层m1之间设置有绝缘层。示例性地，第一金属层m1与有源层b之间设有栅极绝缘层GI，第二金属层mc与第一金属层m1之间设有电容绝缘层IMD，第三金属层m2与第二金属层mc之间设有层间介质层ILD。另外，驱动器件层02还可以包括位于层间介质层ILD背离衬底01一侧的平坦化层PLN。显示面板20还可以包括位于驱动器件层02背离衬底01一侧的像素定义层PDL。像素定义层PDL上开设有开口k1，发光元件101可以位于开口k1之中。键合层03可以覆盖开口k1以及部分像素定义层PDL。
在本申请实施例中，第一开关模块301和第二开关模块302可以位于驱动器件层02，第一子检测线102a、第二子检测线103a和发光元件所键合的键合点位601可以位于键合层03。例如，在第一开关模块301为第一晶体管M1、第二开关模块302为第二晶体管M2的情况下，第一晶体管M1的栅极和第二晶体管M2的栅极可以位于第一金属层m1，第一晶体管M1的源极和漏极以及第二晶体管M2的源极和漏极可以位于第三金属层m2。
继续参见图7，在行方向X上，第一子检测线102a与键合点位601电连接，第一开关模块301的第一端和第一开关模块302的第二端可以通过过孔h1与第一子检测线102a电连接。例如，在行方向X上，第一子检测线102a与第i个发光元件101的阴极SE所键合的键合点位601电连接，同时第一子检测线102a与第i+1个发光元件101的阳极RE所键合的键合点位601电连接。第一晶体管M1的第一极和第一晶体管M1的第二极可以通过过孔h1与第一子检测线102a电连接。
继续参见图8，在列方向Y上，第二子检测线103a与键合点位601电连接，第二开关模块302的第一端和第二开关模块302的第二端通过过孔h2与第二子检测线103a电连接。例如，在列方向Y上，第二子检测线103a与第j个发光元件101的阴极SE所键合的键合点位601电连接，同时第二子检测线103a与第j+1个发光元件101的阳极RE所键合的键合点位601电连接。第二晶体管M2的第一极和第二晶体管M2的第二极可以通过过孔h2与第二子检测线103a电连接。
需要说明的是，虽然仅图8示出了发热电阻R1’，但容易理解的是，图7所示的实施例中也可以包括发热电阻R1’，该发热电阻R1’可以与发光元件101并联。
如图9所示，根据本申请的一些实施例，可选地，显示面板10还可以包括多个检测灯900，每个第一检测点位P1可以电连接一个检测灯900，每个第二检测点位P2可以电连接一个检测灯900。在某一发光元件101未发生故障时，与该发光元件101所在的一行发光元件连接的检测灯900正常发光，与该发光元件101所在的一列发光元件连接的检测灯900正常发光。在某一发光元件101发生故障时，与该发光元件101所在的一行发光元件连接的检测灯900不发光或亮度变暗，同时与该发光元件101所在的一列发光元件连接的检测灯900不发光或亮度变暗。因此，通过每列发光元件连接的检测灯和每行发光元件连接的检测灯的亮度情况，便可以更加准确直观的确定发生故障的发光元件101所在的行及所在的列，进而通过行列定位便可以快速且准确地确定发生故障的发光元件101的具体位置，进一步提高了发光元件的检测效率。
基于上述实施例提供的显示面板，相应地，本申请实施例还提供了一种检测系统。如图10所示，本申请实施例提供的检测系统1000可以包括上述实施例提供的显示面板10和检测装置20。检测装置20能够与N条第一检测线102上的第一检测电位P1电连接，用于输出N行发光元件101的检测结果。检测装置20还能够与M条第二检测线103上的第二检测电位P2电连接，用于输出M列发光元件101的检测结果，M和N均为正整数。
本申请实施例的检测系统，检测系统包括显示面板10和检测装置20，显示面板10包括沿行方向和列方向交叉排布的发光元件101、多条第一检测线102和多条第二检测线103；每条第一检测线102能够将一行发光元件中的多个发光元件101串联，每条第二检测线103能够将一列发光元件中的多个发光元件101串联；每条第一检测线102上设置有第一检测点位P1，每条第二检测线103上设置有第二检测点位P2。在某一发光元件101发生故障时，与该发光元件101所在的一行发光元件连接的第一检测点位P1上的电学参数会发生变化，同时与该发光元件101所在的一列发光元件连接的第二检测点位P2上的电学参数也会发生变化。通过检测装置20检测第一检测点位P1的电学参数和第二检测点位P2的电学参数，便可以快速且准确地确定发生故障的发光元件101所在的行及所在的列，进而通过行列定位便可以快速且准确地确定发生故障的发光元件101的具体位置，降低了显示面板中发光元件的检测难度，提高了发光元件的检测效率。
如图11所示，在一些具体的实施例中，可选地，检测装置20包括多个第一检测装置20A和多个第二检测装置20B。每个第一检测装置20A可以与一条第一检测线102的第一检测点位P1电连接，每个第一检测装置20A用于输出对应连接的一行发光元件101的检测结果。每个第二检测装置20B可以与一条第二检测线103的第二检测点位P2电连接，每个第二检测装置20B用于输出对应连接的一列发光元件101的检测结果。
如此一来，通过每行发光元件连接的第一检测装置20A的检测结果和每列发光元件连接的第二检测装置20B的检测结果，便可以快速且准确地确定发生故障的发光元件101所在的行及所在的列，进而通过行列定位便可以快速且准确地确定发生故障的发光元件101的具体位置，降低了显示面板中发光元件的检测难度，提高了发光元件的检测效率。
根据本申请的一些实施例，可选地，检测装置20可以包括电压表、电流表和检测灯中的任意一种。同样地，第一检测装置20A和第二检测装置20B可以包括电压表、电流表和检测灯中的任意一种。
以检测装置20为检测灯为例，在某一发光元件101未发生故障时，与该发光元件101所在的一行发光元件连接的检测灯正常发光，与该发光元件101所在的一列发光元件连接的检测灯正常发光。在某一发光元件101发生故障时，与该发光元件101所在的一行发光元件连接的检测灯不发光或亮度变暗，同时与该发光元件101所在的一列发光元件连接的检测灯不发光或亮度变暗。因此，通过每列发光元件连接的检测灯和每行发光元件连接的检测灯的亮度情况，便可以更加准确直观的确定发生故障的发光元件101所在的行及所在的列，进而通过行列定位便可以快速且准确地确定发生故障的发光元件101的具体位置，进一步提高了发光元件的检测效率。
基于上述实施例提供的显示面板10，相应地，本申请还提供了一种显示装置，包括本申请提供的显示面板10。请参考图12，图12是本申请实施例提供的一种显示装置的结构示意图。图12提供的显示装置1200包括本申请上述任一实施例提供的显示面板10。图12实施例例如以手机为例，对显示装置1200进行说明，可以理解的是，本申请实施例提供的显示装置，可以是可穿戴产品、电脑、电视、车载显示装置等其他具有显示功能的显示装置，本申请对此不作具体限制。本申请实施例提供的显示装置，具有本申请实施例提供的阵列基板的有益效果，具体可以参考上述各实施例对于阵列基板的具体说明，本实施例在此不再赘述。
应当理解的是，本申请实施例附图提供的具体电路结构以及显示面板的膜层结构仅仅是一些示例，并不用于限定本申请。另外，在不矛盾的情况下，本申请提供的上述各实施例可以相互结合。
依照本申请如上文所述的实施例，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该申请仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本申请的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本申请以及在本申请基础上的修改使用。本申请仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
Claims (13)
1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括沿行方向和列方向交叉排布的发光元件、多条第一检测线和多条第二检测线；
每条所述第一检测线用于将一行所述发光元件中的多个所述发光元件串联，每条所述第一检测线上设置有第一检测点位；
每条所述第二检测线用于将一列所述发光元件中的多个所述发光元件串联，每条所述第二检测线上设置有第二检测点位。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，多条所述第一检测线上的所述第一检测点位均位于所述第一检测线的首端，或者均位于所述第一检测线的尾端，或者均位于所述第一检测线的首端和尾端两者；
多条所述第二检测线上的所述第二检测点位均位于所述第二检测线的首端，或者均位于所述第二检测线的尾端，或者均位于所述第二检测线的首端和尾端两者。
3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括第一扫描信号线、第二扫描信号线、多个第一开关模块和多个第二开关模块；
所述第一检测线包括多段第一子检测线，所述第一子检测线用于连接行方向上相邻的两个所述发光元件；所述第一开关模块的控制端与所述第一扫描信号线电连接，所述第一开关模块的第一端和所述第一开关模块的第二端串接于所述第一子检测线上；
所述第二检测线包括多段第二子检测线，所述第二子检测线用于连接列方向上相邻的两个所述发光元件；所述第二开关模块的控制端与所述第二扫描信号线电连接，所述第二开关模块的第一端和所述第一开关模块的第二端串接于所述第二子检测线上。
4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关模块包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极与所述第一扫描信号线电连接，所述第一晶体管的第一极和所述第一晶体管的第二极串接于所述第一子检测线上；
所述第二开关模块包括第二晶体管，所述第二晶体管的栅极与所述第二扫描信号线电连接，所述第二晶体管的第一极和所述第二晶体管的第二极串接于所述第二子检测线上。
5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括多个第一电阻，每个所述发光元件与至少一个所述第一电阻并联，所述第一电阻的阻值为所述发光元件的阻值的n倍，n大于1。
6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括多个键合点位，所述发光元件通过键合材料键合在所述键合点位上。
7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第一电阻包括发热电阻，所述发热电阻与对应的所述发光元件位于不同膜层，在垂直于所述显示面板出光面的方向上，每个所述发热电阻与对应的所述发光元件至少部分交叠，每个所述发热电阻在处于发热状态时用于将对应的所述发光元件与所述键合点位之间的键合材料熔融。
8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，所述发热电阻位于驱动器件层，所述键合点位位于键合层，在垂直于所述显示面板出光面的方向上，所述显示面板的衬底、所述驱动器件层和所述键合层依次层叠；
在垂直于所述显示面板出光面的方向上，每个所述发热电阻与对应的所述发光元件所键合的键合点位至少部分交叠，且每个所述发热电阻与除对应的所述发光元件之外的其他所述发光元件所键合的键合点位不交叠。
9.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关模块和所述第二开关模块位于驱动器件层，所述第一子检测线、所述第二子检测线和所述发光元件所键合的键合点位位于键合层，在垂直于所述显示面板出光面的方向上，所述显示面板的衬底、所述驱动器件层和所述键合层依次层叠；
所述第一子检测线与所述键合点位电连接，所述第一开关模块的第一端和所述第一开关模块的第二端通过过孔与所述第一子检测线电连接；
所述第二子检测线与所述键合点位电连接，所述第二开关模块的第一端和所述第二开关模块的第二端通过过孔与所述第二子检测线电连接。
10.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述键合材料的熔点低于300℃。
11.一种检测系统，其特征在于，包括：
如权利要求1至10中任一项所述的显示面板；
检测装置，所述检测装置能够与N条所述第一检测线上的所述第一检测电位电连接，用于输出N行所述发光元件的检测结果；所述检测装置能够与M条所述第二检测线上的所述第二检测电位电连接，用于输出M列所述发光元件的检测结果，M和N均为正整数。
12.根据权利要求11所述的检测系统，其特征在于，所述检测装置包括多个第一检测装置和多个第二检测装置；
每个所述第一检测装置与一条所述第一检测线的第一检测点位电连接，每个所述第一检测装置用于输出对应连接的一行所述发光元件的检测结果；
每个所述第二检测装置与一条所述第二检测线的第二检测点位电连接，每个所述第二检测装置用于输出对应连接的一列所述发光元件的检测结果。
13.根据权利要求11所述的检测系统，其特征在于，所述检测装置包括电压表、电流表和检测灯中的任意一种。
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