CN112630146A - 一种时空泵浦探测控制系统及方法 - Google Patents

一种时空泵浦探测控制系统及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN112630146A
CN112630146A CN202011345392.7A CN202011345392A CN112630146A CN 112630146 A CN112630146 A CN 112630146A CN 202011345392 A CN202011345392 A CN 202011345392A CN 112630146 A CN112630146 A CN 112630146A
Authority
CN
China
Prior art keywords
displacement
program
electric
light
time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202011345392.7A
Other languages
English (en)
Inventor
何大伟
边昂
王永生
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Jiaotong University
Original Assignee
Beijing Jiaotong University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing Jiaotong University filed Critical Beijing Jiaotong University
Priority to CN202011345392.7A priority Critical patent/CN112630146A/zh
Publication of CN112630146A publication Critical patent/CN112630146A/zh
Priority to US17/489,402 priority patent/US20220163448A1/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/636—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited using an arrangement of pump beam and probe beam; using the measurement of optical non-linear properties
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/35—Non-linear optics
    • G02F1/39—Non-linear optics for parametric generation or amplification of light, infrared or ultraviolet waves
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/636—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited using an arrangement of pump beam and probe beam; using the measurement of optical non-linear properties
    • G01N2021/637—Lasing effect used for analysis

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

本发明提供了一种时空泵浦探测控制系统及方法，所述系统包括超快飞秒激光器、光参量振荡器、位移延迟模块、微驱转动模块、物镜、样品台、光电耦合放大器和计算机终端；本发明所述的控制系统集成了时间分辨的泵浦探测和时空分辨的泵浦探测两种功能。本发明可实现全自动控制下的泵浦探测时间分辨扫描、一维时空分辨扫描和二维时空分辨扫描，实时数据可视化并同步写入批处理文件。本发明旨在改进时空分辨扫描操作的复杂程度，缩短测试周期，提高探测效率，确保数据结果的稳定性和可靠性。

Description

一种时空泵浦探测控制系统及方法
技术领域
本发明涉及激光技术领域，尤其涉及超快激光泵浦探测技术领域，具体为一种时空泵浦探测控制系统及方法。
背景技术
泵浦探测技术是目前超快激光技术领域中重要的应用研究技术。通过光与物质的相互作用关系，能够无接触地探测到半导体材料及其光电子器件的内部微观动力学信息。尤其是时空分辨的泵浦探测技术，不仅能获取样品上某一点处的载流子从受激到复合的全部过程，还能采集载流子受激后在样品面内的扩散状况，这对于深入理解半导体光电子器件的内部机理起到了至关重要的作用。而当前超快激光泵浦探测主要是时间分辨探测，而时空分辨的泵浦探测因其操作繁杂，稳定性差，耗时过长等诸多问题，使用范围和实用性受到了制约。
发明内容
针对现有技术中存在的缺陷，本发明的目的在于提供一种时空泵浦探测控制系统及方法，能够实现自动时空泵浦探测扫描，方便易用，提高了测试效率、稳定性和精准度。
为达到以上目的，本发明采取的技术方案是：
一种时空泵浦探测控制系统，包括：超快飞秒激光器、光参量振荡器、位移延迟模块、微驱转动模块、物镜、样品台、光电耦合放大器和计算机终端；
所述超快飞秒激光器作为超快飞秒脉冲激光光源，用于发射一束飞秒脉冲激光；
所述光参量振荡器用于改变飞秒脉冲激光的波长，并将飞秒脉冲激光分为两束激光，分别作为泵浦光和探测光；
所述位移延迟模块包括：位移延迟主控器、电动位移底座和回射镜，回射镜安装于电动位移底座的上方，电动位移底座与位移延迟主控器连接，位移延迟主控器与计算机终端连接，计算机终端用于通过位移延迟主控器控制电动位移底座的运动，从而精确控制回射镜位置，进而对泵浦光和探测光中的一束光的光程进行处理；
计算机终端还用于实时读取电动位移底座的运动数据；
所述微驱转动模块包括：微驱转动控制器和两个反射镜，每个反射镜包括两个电动旋钮，分别为电动旋钮X和电动旋钮Y，电动旋钮Y用于调整反射镜的俯仰程度，电动旋钮X用于调整反射镜的水平旋转角度；
微驱转动控制器的四个接口分别与四个电动旋钮连接，微驱转动控制器的四个接口的序列号分别为1、2、3、4，微驱转动控制器还与计算机终端连接，计算机终端用于通过微驱转动控制器控制反射镜的俯仰程度和水平旋转角度，进而调整经过位移延迟模块处理后的一束光与另一束光入射物镜的角度，从而调整泵浦光和探测光的光斑相对位置；
计算机终端还用于实时读取反射镜的俯仰程度和水平旋转角度；
所述物镜用于将经过微驱转动模块处理后的两束光聚焦于样品台；
所述光电耦合放大器用于将样品台反射或透射的探测光传送至计算机终端。
一种基于时空泵浦探测控制系统的方法，包括以下步骤：
步骤S1、首先调整泵浦光和探测光在样品台处重合，保证泵浦光和探测光的光程差相等；确定纯时间分辨扫描起止时间和时空分辨扫描的相对位置；
步骤S2、初始化程序及参数：启动LabVIEW程序至工作界面，选择测试内容，测试内容包括纯时间分辨扫描和时空分辨扫描；依次输入数据文件存储路径和新数据文件名；回射镜起止位置、位移方向、位移步长和位移时间间隔；反射镜上的电动旋钮序列号、起止位置和转动次数；保存初始参数；
预运行程序：依次读取初始参数，确认各硬件设备连接无误且正常工作，将回射镜位置置零，反射镜位置置零，此时泵浦光和探测光重合，光程相等，完成初始化，点击Save按钮，在下一次执行程序时，自动写入数据至预设路径；
步骤S3、运行程序：执行程序运行，读取初始参数，写入日志文件，进行纯时间分辨扫描或时空分辨扫描，实时显示数据值和数据值随时间变化的图像，并同步写入数据至文本文件；
a)若进行纯时间分辨扫描：程序控制回射镜运动至位移起点A处，按预设的位移方向和位移时间间隔分步移动，进入R循环，每完成一步，程序判断回射镜是否到达至位移终点B，若回射镜位置t值小于等于B值，重复R循环，继续移动，直至回射镜到达B点，R循环结束；回射镜一步返回零点位置，结束；
b)若进行一维时空分辨扫描：程序控制反射镜上的电动旋钮X一步转动到扫描起点x1，具体为将探测光斑移动到扫描起点x1，进入Q循环，回射镜移动至位移起点A处，分步移动，进入纯时间分辨扫描中的R循环，直至到达位移终点B，跳出R循环，返回位移起点A；电动旋钮X转动一步，光斑移动一次，程序判断电动旋钮X是否到达转动终点x2，若电动旋钮X的x值小于等于x2，再次执行R循环；如此往复，在每一个光斑位置进行一次纯时间分辨扫描，直至电动旋钮X到达转动终点x2，光斑到达x2位置，跳出Q循环，电动旋钮X返回转动零点位置，回射镜返回位置零点，结束；
c)若进行二维时空分辨扫描：程序控制反射镜上的电动旋钮X和电动旋钮Y一步转动到扫描起点x1和y1，具体为将探测光斑移动到扫描起点(x1,y1)，进入P循环，每完成一次上述x轴方向的一维时空分辨扫描Q循环，电动旋钮Y转动一次，程序判断电动旋钮Y是否到达转动终点y2，若电动旋钮Y的y值小于等于y2，再次执行Q循环，如此往复，在y轴方向每移动一步后，进行x轴方向的一维时空分辨扫描，即探测光斑逐行扫描，位移路径为(x1,y1)-(x2,y1)……(x1,y2)-(x2,y2)，直至电动旋钮Y到达转动终点y2，光斑移动至转动终点(x2,y2)，跳出P循环，电动旋钮X和电动旋钮Y返回转动零点位置，回射镜返回位置零点，结束；
步骤S4、程序结束。
a)程序运行过程中，程序自动读取位移延迟模块上回射镜的位置和微驱转动模块上电动旋钮的位置并与初始参数进行比较判断，是否进入下一个循环或跳出循环执行下一步直至执行结束后终止；
b)在程序运行过程中，可随时手动点击终止按钮强制结束程序；
c)若运行期间出现数据连接问题，或因计算机程序错误，程序将自动报错终止；
d)由于数据实时写入，报错不影响之前数据的保存。
本发明所述的控制系统集成了时间分辨的泵浦探测和时空分辨的泵浦探测两种功能。
本发明所述系统提供了可视化界面，能够实时显示数据信息、监测运行状态、报错误终止代码。
本发明所提供的时空泵浦探测控制系统及方法，能实现高效的时空分辨率探测，具有操作简易，集成度高，实时显示，数据批处理等诸多优势。
本发明通过对时空泵浦探测控制系统的控制，实现自动时空泵浦探测扫描，本发明通过对位移延迟模块和微驱转动模块的控制，实现了时空分辨的泵浦探测。
附图说明
本发明有如下附图：
图1为本发明所述时空泵浦探测控制系统框图。
图2为本发明所述方法流程图。
具体实施方式
以下结合附图1-2对本发明作进一步详细说明。
本发明实施例中的时空泵浦探测控制系统，包括：超快飞秒激光器、光参量振荡器、位移延迟模块、微驱转动模块、物镜、样品台、光电耦合放大器和计算机终端；
所述超快飞秒激光器作为超快飞秒脉冲激光光源，用于发射一束飞秒脉冲激光；
所述光参量振荡器用于改变飞秒脉冲激光的波长，并将飞秒脉冲激光分为两束激光，分别作为泵浦光和探测光；
所述位移延迟模块包括：位移延迟主控器、电动位移底座和回射镜，回射镜安装于电动位移底座的上方，电动位移底座与位移延迟主控器连接，位移延迟主控器与计算机终端连接，计算机终端用于通过位移延迟主控器控制电动位移底座的运动，从而精确控制回射镜位置，进而对泵浦光和探测光中的一束光的光程进行处理；
计算机终端还用于实时读取电动位移底座的运动数据；
所述微驱转动模块包括：微驱转动控制器和两个反射镜，每个反射镜包括两个电动旋钮，分别为电动旋钮X和电动旋钮Y，电动旋钮Y用于调整反射镜的俯仰程度，电动旋钮X用于调整反射镜的水平旋转角度；
微驱转动控制器的四个接口分别与四个电动旋钮连接，微驱转动控制器的四个接口的序列号分别为1、2、3、4，微驱转动控制器还与计算机终端连接，计算机终端用于通过微驱转动控制器控制反射镜的俯仰程度和水平旋转角度，进而调整经过位移延迟模块处理后的一束光与另一束光入射物镜的角度，从而调整泵浦光和探测光的光斑相对位置；
计算机终端还用于实时读取反射镜的俯仰程度和水平旋转角度；
所述物镜用于将经过微驱转动模块处理后的两束光聚焦于样品台；
所述光电耦合放大器用于将样品台反射或透射的探测光传送至计算机终端。
一种基于时空泵浦探测控制系统的方法，包括以下步骤：
步骤S1、首先调整泵浦光和探测光在样品台处重合，保证泵浦光和探测光的光程差相等；确定纯时间分辨扫描起止时间和空间扫描的相对位置；
步骤S2、初始化程序及参数：启动LabVIEW程序至工作界面，选择测试内容，测试内容包括纯时间分辨扫描和时空分辨扫描；依次输入数据文件存储路径和新数据文件名；回射镜起止位置、位移方向、位移步长和位移时间间隔；反射镜上的电动旋钮序列号、起止位置和转动次数；保存初始参数；
预运行程序：依次读取初始参数，确认各硬件设备连接无误且正常工作，将回射镜位置置零，反射镜位置置零，此时泵浦光和探测光重合，光程相等，完成初始化，点击Save按钮，在下一次执行程序时，自动写入数据至预设路径；
步骤S3、运行程序：执行程序运行，读取初始参数，写入日志文件，进行纯时间分辨扫描或时空分辨扫描，实时显示数据值和数据值随时间变化的图像，并同步写入数据至文本文件；
a)若进行纯时间分辨扫描：程序控制回射镜运动至位移起点A处，按预设的位移方向和位移时间间隔分步移动，进入R循环，每完成一步，程序判断回射镜是否到达至位移终点B，若回射镜位置t值小于等于B值，重复R循环，继续移动，直至回射镜到达B点，R循环结束；回射镜一步返回零点位置，结束；
b)若进行一维时空分辨扫描：程序控制反射镜上的电动旋钮X一步转动到扫描起点x1，具体为将探测光斑移动到扫描起点x1，进入Q循环，回射镜移动至位移起点A处，分步移动，进入纯时间分辨扫描中的R循环，直至到达位移终点B，跳出R循环，返回位移起点A；电动旋钮X转动一步，光斑移动一次，程序判断电动旋钮X是否到达转动终点x2，若电动旋钮X的x值小于等于x2，再次执行R循环；如此往复，在每一个光斑位置进行一次纯时间分辨扫描，直至电动旋钮X到达转动终点x2，光斑到达x2位置，跳出Q循环，电动旋钮X返回转动零点位置，回射镜返回位置零点，结束；
c)若进行二维时空分辨扫描：程序控制反射镜上的电动旋钮X和电动旋钮Y一步转动到扫描起点x1和y1，具体为将探测光斑移动到扫描起点(x1,y1)，进入P循环，每完成一次上述x轴方向的一维时空分辨扫描Q循环，电动旋钮Y转动一次，程序判断电动旋钮Y是否到达转动终点y2，若电动旋钮Y的y值小于等于y2，再次执行Q循环，如此往复，在y轴方向每移动一步后，进行x轴方向的一维时空分辨扫描，即探测光斑逐行扫描，位移路径为(x1,y1)-(x2,y1)……(x1,y2)-(x2,y2)，直至电动旋钮Y到达转动终点y2，光斑移动至转动终点(x2,y2)，跳出P循环，电动旋钮X和电动旋钮Y返回转动零点位置，回射镜返回位置零点，结束；
步骤S4、程序结束。
a)程序运行过程中，程序自动读取位移延迟模块上回射镜的位置和微驱转动模块上电动旋钮的位置并与初始参数进行比较判断，是否进入下一个循环或跳出循环执行下一步直至执行结束后终止；
b)在程序运行过程中，可随时手动点击终止按钮强制结束程序；
c)若运行期间出现数据连接问题，或因计算机程序错误，程序将自动报错终止；
d)由于数据实时写入，报错不影响之前数据的保存。
本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。

Claims (6)

1.一种时空泵浦探测控制系统，其特征在于，包括：超快飞秒激光器、光参量振荡器、位移延迟模块、微驱转动模块、物镜、样品台、光电耦合放大器和计算机终端；
所述超快飞秒激光器作为超快飞秒脉冲激光光源，用于发射一束飞秒脉冲激光；
所述光参量振荡器用于改变飞秒脉冲激光的波长，并将飞秒脉冲激光分为两束激光，分别作为泵浦光和探测光；
所述位移延迟模块包括：位移延迟主控器、电动位移底座和回射镜，回射镜安装于电动位移底座的上方，电动位移底座与位移延迟主控器连接，位移延迟主控器与计算机终端连接，计算机终端用于通过位移延迟主控器控制电动位移底座的运动，精确控制回射镜位置，进而对泵浦光和探测光中的一束光的光程进行处理；
计算机终端还用于实时读取电动位移底座的运动数据；
所述微驱转动模块包括：微驱转动控制器和两个反射镜，每个反射镜包括两个电动旋钮，分别为电动旋钮X和电动旋钮Y，电动旋钮Y用于调整反射镜的俯仰程度，电动旋钮X用于调整反射镜的水平旋转角度；
微驱转动控制器的四个接口分别与四个电动旋钮连接，微驱转动控制器的四个接口的序列号分别为1、2、3、4，微驱转动控制器还与计算机终端连接，计算机终端用于通过微驱转动控制器控制反射镜的俯仰程度和水平旋转角度，进而调整经过位移延迟模块处理后的一束光与另一束光入射物镜的角度，从而调整泵浦光和探测光的光斑相对位置；
计算机终端还用于实时读取反射镜的俯仰程度和水平旋转角度；
所述物镜用于将经过微驱转动模块处理后的两束光聚焦于样品台；
所述光电耦合放大器用于将样品台反射或透射的探测光传送至计算机终端。
2.一种基于如权利要求1所述的时空泵浦探测控制系统的方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S1、首先调整泵浦光和探测光在样品台处重合，保证泵浦光和探测光的光程差相等；确定纯时间分辨扫描起止时间和时空分辨扫描的相对位置；
步骤S2、初始化程序及参数：启动LabVIEW程序至工作界面，选择测试内容，测试内容包括纯时间分辨扫描和时空分辨扫描；依次输入：数据文件存储路径和新数据文件名；回射镜起止位置、位移方向、位移步长和位移时间间隔；反射镜上的电动旋钮序列号、起止位置和转动次数；保存初始参数；
预运行程序：依次读取初始参数，确认各硬件设备连接无误且正常工作，将回射镜位置置零，反射镜位置置零，此时泵浦光和探测光重合，光程相等，完成初始化，点击Save按钮，在下一次执行程序时，自动写入数据至预设的数据文件存储路径；
步骤S3、运行程序：执行程序运行，读取初始参数，写入日志文件，进行纯时间分辨扫描或时空分辨扫描，实时显示数据值和数据值随时间变化的图像，并同步写入数据至文本文件；
步骤S4、程序结束。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，步骤S3的具体步骤为：
a)若进行纯时间分辨扫描：程序控制回射镜运动至位移起点A处，按预设的位移方向和位移时间间隔分步移动，进入R循环，每完成一步，程序判断回射镜是否到达至位移终点B，若回射镜位置t值小于等于B值，重复R循环，继续移动，直至回射镜到达B点，R循环结束；回射镜一步返回零点位置，结束；
b)若进行一维时空分辨扫描：程序控制反射镜上的电动旋钮X一步转动到扫描起点x1，具体为将探测光斑移动到扫描起点x1，进入Q循环，回射镜移动至位移起点A处，分步移动，进入纯时间分辨扫描中的R循环，直至到达位移终点B，跳出R循环，返回位移起点A；电动旋钮X转动一步，光斑移动一次，程序判断电动旋钮X是否到达转动终点x2，若电动旋钮X的x值小于等于x2，再次执行R循环；如此往复，在每一个光斑位置进行一次纯时间分辨扫描，直至电动旋钮X到达转动终点x2，光斑到达x2位置，跳出Q循环，电动旋钮X返回转动零点位置，回射镜返回位置零点，结束；
c)若进行二维时空分辨扫描：程序控制反射镜上的电动旋钮X和电动旋钮Y一步转动到扫描起点x1和y1，具体为将探测光斑移动到扫描起点(x1,y1)，进入P循环，每完成一次上述x轴方向的一维时空分辨扫描Q循环，电动旋钮Y转动一次，程序判断电动旋钮Y是否到达转动终点y2，若电动旋钮Y的y值小于等于y2，再次执行Q循环，如此往复，在y轴方向每移动一步后，进行x轴方向的一维时空分辨扫描，位移路径为(x1,y1)-(x2,y1)……(x1,y2)-(x2,y2)，直至电动旋钮Y到达转动终点y2，光斑移动至转动终点(x2,y2)，跳出P循环，电动旋钮X和电动旋钮Y返回转动零点位置，回射镜返回位置零点，结束。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，程序运行过程中，程序自动读取位移延迟模块上回射镜的位置和微驱转动模块上电动旋钮的位置并与初始参数进行比较判断，是否进入下一个循环或跳出循环执行下一步直至执行结束后终止。
5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，在程序运行过程中，可随时手动点击终止按钮强制结束程序。
6.如权利要求2所述的方法，其特征在于，若运行期间出现数据连接问题，或因计算机程序错误，程序将自动报错终止；由于数据实时写入，报错不影响之前数据的保存。
CN202011345392.7A 2020-11-26 2020-11-26 一种时空泵浦探测控制系统及方法 Pending CN112630146A (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011345392.7A CN112630146A (zh) 2020-11-26 2020-11-26 一种时空泵浦探测控制系统及方法
US17/489,402 US20220163448A1 (en) 2020-11-26 2021-09-29 Temporally-resolved and spatially-resolved pump-probe control system and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011345392.7A CN112630146A (zh) 2020-11-26 2020-11-26 一种时空泵浦探测控制系统及方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN112630146A true CN112630146A (zh) 2021-04-09

Family

ID=75303941

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011345392.7A Pending CN112630146A (zh) 2020-11-26 2020-11-26 一种时空泵浦探测控制系统及方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20220163448A1 (zh)
CN (1) CN112630146A (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117492219B (zh) * 2023-12-29 2024-03-22 振电(苏州)医疗科技有限公司 一种基于单相机的泵浦探测系统合束质量优化装置及方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102183466A (zh) * 2011-02-22 2011-09-14 复旦大学 一种时间分辨椭圆偏振光谱测量系统
CN103487146A (zh) * 2013-09-16 2014-01-01 华南师范大学 一种简便的超宽带受激拉曼光谱显微成像系统
CN103868595A (zh) * 2014-03-06 2014-06-18 湖南大学 一种空间分离的泵浦-探测瞬态吸收光谱仪及实现方法
CN107843560A (zh) * 2017-10-27 2018-03-27 中国人民解放军国防科技大学 一种高空间分辨的泵浦‑探测微区测量装置、系统及方法
CN107941707A (zh) * 2017-11-14 2018-04-20 北京信息科技大学 一种基于光纤传输的泵浦探测装置和方法
CN109374134A (zh) * 2018-10-30 2019-02-22 北京工业大学 超快时间分辨瞬态反射光谱成像系统

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20170050045A1 (en) * 2014-04-28 2017-02-23 The Research Foundation For The State University Of New York Photodynamic therapy using in situ nonlinear photon upconversion of nir light by biological medium

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102183466A (zh) * 2011-02-22 2011-09-14 复旦大学 一种时间分辨椭圆偏振光谱测量系统
CN103487146A (zh) * 2013-09-16 2014-01-01 华南师范大学 一种简便的超宽带受激拉曼光谱显微成像系统
CN103868595A (zh) * 2014-03-06 2014-06-18 湖南大学 一种空间分离的泵浦-探测瞬态吸收光谱仪及实现方法
CN107843560A (zh) * 2017-10-27 2018-03-27 中国人民解放军国防科技大学 一种高空间分辨的泵浦‑探测微区测量装置、系统及方法
CN107941707A (zh) * 2017-11-14 2018-04-20 北京信息科技大学 一种基于光纤传输的泵浦探测装置和方法
CN109374134A (zh) * 2018-10-30 2019-02-22 北京工业大学 超快时间分辨瞬态反射光谱成像系统

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
曾贤贵: "基于LabVIEW的低噪声超快泵浦_探测系统开发及应用", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库信息科技辑》 *

Also Published As

Publication number Publication date
US20220163448A1 (en) 2022-05-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1987518B (zh) 距离测定方法以及距离测定装置
US11448498B2 (en) Three-dimensional reconstruction system and three-dimensional reconstruction method
US6594006B1 (en) Method and array for detecting the position of a plane scanned with a laser scanner
CN108693625A (zh) 成像方法、装置及系统
CN112630146A (zh) 一种时空泵浦探测控制系统及方法
JP2019074476A (ja) 形状測定装置
CN107860776A (zh) 一种镜片缺陷检测装置及方法
CN106997152B (zh) 扫描反射镜监测系统及方法、调焦调平系统
CN112213331A (zh) 一种基于机器视觉的表面波长级点缺陷表征装置及方法
CN206638825U (zh) 光雷达装置
CN207832690U (zh) 一种镜片缺陷检测装置
CN106645801B (zh) 一种微悬臂梁阵列循环扫描系统
CN108693624A (zh) 成像方法、装置及系统
CN114778078A (zh) 高斯光斑空间强度峰值自动化寻址方法和装置
CN111076902A (zh) Oled微型显示器性能快速检测装置和检测方法
CN113776789B (zh) 探测器的焦距测试方法
CN109693035A (zh) 激光加工机的控制装置、激光加工方法及激光加工机
CN211426269U (zh) 一种光路装置以及oct成像系统
JP2019074477A (ja) 光走査高さ測定装置
CN111486791A (zh) 一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置及操作方法
CN110068563A (zh) 一种荧光试剂检测装置及其检测方法
CN113251943A (zh) 基于光干涉的测量系统及方法
CN110389238A (zh) 扫描型探针显微镜及悬臂移动方法
CN113375914B (zh) 一种用于激光板条面检测的光斑强度分布获取方法
CN211904056U (zh) 一种坑洞深度测量结构

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20210409

RJ01 Rejection of invention patent application after publication