CN111076902A - Oled微型显示器性能快速检测装置和检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及OLED微型显示器性能快速检测，尤其是一种快速检测高温高湿环境下OLED性能参数检测装置及方法。特别是涉及一种基于数字化视觉读数系统，通过高精度直线导轨、大视场显微物镜、亮度计、图像感应器及软件算法，实现OLED微型显示器亮度均匀性、像素缺陷等的快速检测的检测装置及其快速检测方法。

Description

OLED微型显示器性能快速检测装置和检测方法

技术领域

本发明涉及OLED微型显示器性能快速检测，尤其是一种快速检测高温高湿环境下OLED性能参数检测装置及方法。

背景技术

OLED是一种通过外加电场驱动载流子在有机材料中的传输和复合，将电能转化成光能的器件，OLED微型显示器具有驱动电压低、发光亮度大、工作温度范围宽(-40～80℃之间)、视角宽、响应速度快、制作工艺简单、成本低等优点，已成为目前最有前途的、新型的平板显示器。

OLED微型显示器像素缺陷、亮度均匀性是OLED微型显示器的重要性能参数，因为OLED微型显示器尺寸小，分辨率高，对像素缺陷及亮度均匀性的检测目前常用的方法是采用高倍显微镜及亮度计分别进行测试。

用高倍显微镜检测像素缺陷时，由于高倍显微镜视场较小，需要将显示器分割为若干区域，手动移动载物台，对每个区域进行观察记录。用亮度计检测OLED微型显示器亮度均匀性时，需要将显示器分割为四个区域，手动移动载物台，对每个区域的固定点进行亮度测试记录，目前常用像素缺陷及亮度均匀性的检验方法难度高、耗时间长、定位准确性差，并且检验效率低，容易因为检验人员的主观因素，导致人为误差的出现。

发明内容

本发明针对现有检测方法的不足，提供一种用于实现高温高湿环境下OLED像素缺陷及亮度均匀性自动测量和准确定位的检测装置及其快速检测方法。

为达成所述目的，本发明提供一种OLED微型显示器性能快速检测装置，其特征在于由以下部件组成：用于固定OLED微型显示器的工装支架Ⅰ、放置于OLED微型显示器后方的半透半反分光棱镜、以及与计算机连接的图像感应器、高精度直线导轨Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ以及显示器，其中图像感应器固定在工装支架Ⅱ上，高精度直线导轨Ⅰ上固定大视场显微物镜组件，高精度直线导轨Ⅲ固定在高精度直线导轨Ⅱ上，高精度直线导轨Ⅱ与高精度直线导轨Ⅲ相互垂直，高精度直线导轨Ⅲ上还固定有亮度计，三个高精度直线导轨通过控制器接收计算机指令并按照指令运行。

本发明高温高湿环境下现场OLED性能参数检测装置的使用方法，其特征在于包括如下步骤：

对待测OLED微型显示器，通过图像感应器获取OLED微型显示器图像信息，通过亮度计检测OLED微型显示器特定位置的亮度信息，实现OLED微型显示器亮度均匀性、像素缺陷等性能参数的快速检测；

1）OLED微型显示器像素缺陷类型及缺陷数量的测量：大视场显微物镜固定在高精度直线导轨Ⅰ滑块上，控制器Ⅰ接收计算机发送的指令，控制高精度直线导轨Ⅰ前后运动，实现待测OLED微型显示器准确位于大视场显微物镜的焦面上，图像感应器设置在大视场显微物镜后端，大视场显微物镜与图像感应器光轴重合， 通过图像感应器采集OLED微型显示器的图像信息，并将图像信息传送到计算机，由计算机对所获取的图像信息进行处理，获取OLED微型显示器像素缺陷特征数据，并输出OLED微型显示器像素缺陷类型及缺陷数量；

2）OLED微型显示器亮度均匀性的测量：高精度直线导轨Ⅲ固定在高精度直线导轨Ⅱ滑块上，亮度计固定在高精度直线导轨Ⅲ滑块上，高精度直线导轨Ⅱ与高精度直线导轨Ⅲ相互垂直，控制器Ⅱ和Ⅲ接收计算机发送的指令，控制高精度直线导轨Ⅱ、高精度直线导轨Ⅲ运动，实现亮度计在OLED微型显示器的特定位置扫描，获取OLED微型显示器特定位置的亮度信息，并将特定位置亮度信息传送到计算机，由计算机对所获取的特定位置亮度信息进行处理，获取OLED微型显示器亮度均匀性特征数据，并输出OLED微型显示器亮度均匀性。

针对一个待测OLED微型显示器，首先将OLED微型显示器固定在OLED微型显示器的工装支架Ⅰ上，OLED微型显示器发出的第一路光通过半透半反分光棱镜后，入射到大视场显微物镜上，通过控制器Ⅰ接收计算机发送的指令，控制高精度直线导轨Ⅰ前后运动，实现待测OLED微型显示器准确位于大视场显微物镜的焦面上，图像感应器对大视场显微物镜出射的平行光成像，通过图像感应器采集OLED微型显示器的图像信息，并将图像信息传送到计算机，由计算机对所获取的图像信息进行处理，获取OLED微型显示器像素缺陷特征数据，并输出OLED微型显示器像素缺陷类型及缺陷数量。其次，OLED微型显示器发出的第一路光通过半透半反分光棱镜后，入射到亮度计表面，通过选择被测OLED微型显示器类型，通过控制器Ⅱ接收计算机发送的指令，高精度直线导轨依据OLED微型显示器类型选择扫描策略，高精度直线导轨Ⅱ、高精度直线导轨Ⅲ依据扫描策略移动，实现亮度计在OLED微型显示器的特定位置扫描，获取OLED微型显示器特定位置的亮度信息，并将特定位置亮度信息传送到计算机，由计算机对所获取的特定位置亮度信息进行处理，获取OLED微型显示器亮度均匀性特征数据，并输出OLED微型显示器亮度均匀性。

本发明的一种快速检测高温高湿环境下现场OLED性能参数检测装置及方法，为OLED微型显示器性能参数现场检测提供了有效可靠的依据，测量过程中具有以下有益效果：

1）采用自动化测试技术，实现OLED微型显示器性能参数自动测试，数据自动采集、分析、计算、存储和打印，系统运行稳定，操作使用方便；

2）数据采集的自动化，消除了人为干扰和误差，提高了测量的准确度，也大大提高了测量效率，降低了劳动强度，提高了测量效率和测量精度，从根本上克服了传统测量方法的缺陷，给出OLED微型显示器性能参数定量指标，为OLED微型显示器性能参数现场检测提供了有效可靠的依据。

附图说明

图1为本发明的结构示意图；

图2是本发明装置的原理框图，图1和图2中1-1是工装支架Ⅰ，1-2是工装支架Ⅱ，2是OLED微型显示器，3是半透半反棱镜，4是图像感应器，5是计算机，6-1是高精度直线导轨Ⅰ，6-2是高精度直线导轨Ⅱ，6-3是高精度直线导轨Ⅲ，7-1是控制器Ⅰ，7-2是控制器Ⅱ，7-3是控制器Ⅲ，8是亮度计，9是大视场显微物镜组件，10是显示器

图3是像素缺陷类型及缺陷数量测试软件流程图；

图4是亮度均匀性测试软件流程图。

具体实施方式

实施例1，如图1到4所示，本发明的硬件组成包括：工装支架、高精度直线导轨、大视场显微物镜、图像感应器、亮度计、计算机、显示器等。OLED微型显示器2固定在工装支架Ⅰ1-1、半透半反分光棱镜3放置于OLED微型显示器后方、以及与计算机5连接的图像感应器4、高精度直线导轨Ⅰ6-1、高精度直线导轨Ⅱ6-2、高精度直线导轨Ⅲ6-3以及显示器10，其中图像感应器4固定在工装支架Ⅱ1-2上，高精度直线导轨Ⅰ6-1上固定大视场显微物镜组件9，高精度直线导轨Ⅲ6-3固定在高精度直线导轨Ⅱ6-2上，高精度直线导轨Ⅱ与高精度直线导轨Ⅲ相互垂直，高精度直线导轨Ⅲ上还固定有亮度计8，三个高精度直线导轨通过控制器接收计算机指令并按照指令运行；

1)将待测OLED微型显示器固定在工装支架Ⅰ上,通过高精度直线导轨Ⅰ运动，使待测OLED微型显示器位于大视场显微物镜的焦面上，图像感应器采集OLED微型显示器的图像信息，并将图像信息传送到计算机，由计算机对所获取的图像信息进行处理，获取OLED微型显示器像素缺陷特征数据，并输出OLED微型显示器像素缺陷类型及缺陷数量；

2)将OLED微型显示器固定在工装支架Ⅱ上，高精度直线导轨依据OLED微型显示器类型选择扫描策略，高精度直线导轨Ⅱ、高精度直线导轨Ⅲ依据扫描策略移动，实现亮度计在OLED微型显示器的特定位置扫描，获取OLED微型显示器特定位置的亮度信息，并将特定位置亮度信息传送到计算机，由计算机对所获取的特定位置亮度信息进行处理，获取OLED微型显示器亮度均匀性特征数据，并输出OLED微型显示器亮度均匀性。

3）软件初始化包括通信部分初始化、图像感应器模块初始化、高精度直线导轨初始化。本发明软件部分主要实现了四部分的功能：

a)接收处理图像感应器、高精度直线导轨及与亮度计之间的控制指令；

b)发送图像感应器调焦变倍信息数据及高精度直线导轨移动状态信息数据；

c)显示图像感应器调焦变倍信息、高精度直线导轨移动状态信息及亮度计获取的OLED微型显示器特定位置亮度信息；

d)计算机对图像感应器及亮度计的采集信息进行处理，输出OLED微型显示器像素缺陷类型、缺陷数量及亮度均匀性。像素缺陷类型及缺陷数量测试软件流程图如图2所示，亮度均匀性测试软件流程图如图3所示。

Claims (2)

1.一种OLED微型显示器性能快速检测装置，其特征在于由以下部件组成：用于固定OLED微型显示器的工装支架Ⅰ、放置于OLED微型显示器后方的半透半反分光棱镜、以及与计算机连接的图像感应器、高精度直线导轨Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ以及显示器，其中图像感应器固定在工装支架Ⅱ上，高精度直线导轨Ⅰ上固定大视场显微物镜组件，高精度直线导轨Ⅲ固定在高精度直线导轨Ⅱ上，高精度直线导轨Ⅱ与高精度直线导轨Ⅲ相互垂直，高精度直线导轨Ⅲ上还固定有亮度计，三个高精度直线导轨通过控制器接收计算机指令并按照指令运行。

2.如权利要求1所述的OLED微型显示器性能快速检测装置用于检测的方法，其特征在于包括如下步骤：

对待测OLED微型显示器，通过图像感应器获取OLED微型显示器图像信息，通过亮度计检测OLED微型显示器特定位置的亮度信息，实现OLED微型显示器亮度均匀性、像素缺陷等性能参数的快速检测；

1）OLED微型显示器像素缺陷类型及缺陷数量的测量：大视场显微物镜固定在高精度直线导轨Ⅰ滑块上，控制器Ⅰ接收计算机发送的指令，控制高精度直线导轨Ⅰ前后运动，实现待测OLED微型显示器准确位于大视场显微物镜的焦面上，图像感应器设置在大视场显微物镜后端，大视场显微物镜与图像感应器光轴重合， 通过图像感应器采集OLED微型显示器的图像信息，并将图像信息传送到计算机，由计算机对所获取的图像信息进行处理，获取OLED微型显示器像素缺陷特征数据，并输出OLED微型显示器像素缺陷类型及缺陷数量；

2）OLED微型显示器亮度均匀性的测量：高精度直线导轨Ⅲ固定在高精度直线导轨Ⅱ滑块上，亮度计固定在高精度直线导轨Ⅲ滑块上，高精度直线导轨Ⅱ与高精度直线导轨Ⅲ相互垂直，控制器Ⅱ和Ⅲ接收计算机发送的指令，控制高精度直线导轨Ⅱ、高精度直线导轨Ⅲ运动，实现亮度计在OLED微型显示器的特定位置扫描，获取OLED微型显示器特定位置的亮度信息，并将特定位置亮度信息传送到计算机，由计算机对所获取的特定位置亮度信息进行处理，获取OLED微型显示器亮度均匀性特征数据，并输出OLED微型显示器亮度均匀性。

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