CN111486791A - 一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置及操作方法 - Google Patents

一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置及操作方法 Download PDF

Info

Publication number
CN111486791A
CN111486791A CN202010458951.9A CN202010458951A CN111486791A CN 111486791 A CN111486791 A CN 111486791A CN 202010458951 A CN202010458951 A CN 202010458951A CN 111486791 A CN111486791 A CN 111486791A
Authority
CN
China
Prior art keywords
module
laser
galvanometer
micro
camera
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202010458951.9A
Other languages
English (en)
Inventor
杭亚运
王子武
刘宇航
程诚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
China Science Fusion Perception Intelligence Research Institute Suzhou Industrial Park Co ltd
Original Assignee
China Science Fusion Perception Intelligence Research Institute Suzhou Industrial Park Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by China Science Fusion Perception Intelligence Research Institute Suzhou Industrial Park Co ltd filed Critical China Science Fusion Perception Intelligence Research Institute Suzhou Industrial Park Co ltd
Priority to CN202010458951.9A priority Critical patent/CN111486791A/zh
Publication of CN111486791A publication Critical patent/CN111486791A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G01B11/254Projection of a pattern, viewing through a pattern, e.g. moiré
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/10Scanning systems
    • G02B26/105Scanning systems with one or more pivoting mirrors or galvano-mirrors
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/09Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
    • G02B27/0927Systems for changing the beam intensity distribution, e.g. Gaussian to top-hat
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/04Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
    • G05B19/042Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using digital processors
    • G05B19/0421Multiprocessor system
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/04Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
    • G05B19/042Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using digital processors
    • G05B19/0423Input/output

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Abstract

本发明公开了一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置及操作方法,包括上位机系统、相机系统和由振镜模组、激光模组和集成电路模组构成的光机系统;所述相机系统、上位机系统和光机系统依次串联连接;所述相机系统由标准漫反射投影幕、相机拍摄模块和相机触发反馈模块组成;所述振镜模组由微振镜模块、微振镜的触发反馈部件和微振镜的驱动部件组成;所述激光模组由激光器、激光器的驱动部件和整形透镜组成;所述集成电路模组由FPGA部件、ARM部件以及外部反馈部件组成;通过相应的操作方法,可以调整亮度不均匀,正弦性较差等缺陷的光栅条纹结构光,经过矫正后可以投射出高稳定性和正弦性的结构光光栅。

Description

一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置及操作方法
技术领域
本发明涉及一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置及操作方法,属于条纹结构光扫描成像技术领域。
背景技术
当前正弦条纹结构光生成技术仍然存在很大的改进和发展空间,因为单一条纹的频率完全无法适应较高准确度的测量应用要求,所以利用正弦条纹结构光进行3D扫描和3D建模的研究成为了一项迫在眉睫的任务,为了满足高精度测量的要求,需要对投射出的正弦光栅条纹质量进行改进和优化;现有的一些条纹正弦结构光生成系统存在正弦性不好、对比度不高、条纹均匀性不好等问题,微振镜倾斜或者偏心也会使得结构光条纹正弦性不好、条纹均匀性不好等问题。
发明内容
针对上述存在的技术问题,本发明的目的是:提出了一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置及操作方法,用以解决当前正弦结构光正弦性不好、均匀性不好等问题。
本发明的技术解决方案是这样实现的:一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置,包括上位机系统、相机系统和由振镜模组、激光模组和集成电路模组构成的光机系统;所述相机系统、上位机系统和光机系统依次串联连接;所述相机系统由标准漫反射投影幕、相机拍摄模块和相机触发反馈模块组成;所述振镜模组由微振镜模块、微振镜的触发反馈部件和微振镜的驱动部件组成;所述激光模组由激光器、激光器的驱动部件和整形透镜组成;所述集成电路模组由FPGA部件、ARM部件以及外部反馈部件组成;所述微振镜的驱动部件安装连接到微振镜模块;所述激光器的驱动部件安装连接到激光器;所述FPGA部件安装连接ARM部件;所述微振镜的驱动部件和激光器的驱动部件分别安装连接到FPGA部件的两个端口上;所述微振镜的触发反馈部件和激光器的反馈部件分别安装连接到ARM部件的两个端口。
一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置的操作方法,包括如下步骤,步骤一,系统通电,依次启动光机系统中的振镜模组、激光模组、集成电路模组,相机系统和上位机系统;步骤二,系统稳定后,集成电路模组控制激光器模组和振镜模组向标准漫反射投影幕投射出未经矫正的条纹正弦结构光光栅;步骤三,相机系统进入触发模式,捕捉条纹正弦条纹结构光光栅或者扫描面光斑图片,并将得到的数据传输给上位机系统进行处理,分析光栅的正弦性、亮度均匀性指标参数,判断是否需要矫正光斑;步骤四,上位机系统分析完光栅指标参数后,得到需要矫正的光斑投射参数,投射参数通过相机触发反馈模块的串口,下发给集成电路模组,集成电路模组控制激光器模组和振镜模组投射出经过矫正后的正弦条纹结构光光栅,并将矫正后的数据保存,方便下次上电自动录入。
优选的,所述微振镜模块为电磁式MEMS微振镜。
优选的,所述激光器为边缘反射的LD激光器。
优选的,所述整形透镜将激光器发出的高斯光束整形为一字线光束。
由于上述技术方案的运用,本发明与现有技术相比具有下列优点:
本发明的一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置及操作方法,通过上位机系统、相机系统和由振镜模组、激光模组和集成电路模组构成的光机系统以及相应的操作方法,可以调整亮度不均匀,正弦性较差等缺陷的光栅条纹结构光,经过矫正后可以投射出高稳定性和正弦性的结构光光栅。
附图说明
下面结合附图对本发明技术方案作进一步说明:
附图1为本发明的一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置的整体示意图;
附图2为本发明的一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置的操作方法流程图;
附图3为未经矫正的正弦结构光光栅条纹图;
附图4为结构光正弦光栅能量分分布图;
附图5为结构光正弦光栅正弦性分析图;
附图6为结构光正弦光栅灰度值曲线图;
其中:1、上位机系统;2、相机系统;3、光机系统;4、标准漫反射投影幕;5、相机拍摄模块;6、相机触发反馈模块;7、振镜模组;8、激光模组;9、集成电路模组。
具体实施方式
下面结合附图来说明本发明。
如附图1-6所示为本发明所述的一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置,包括上位机系统1、相机系统2和由振镜模组7、激光模组8和集成电路模组9构成的光机系统3;所述相机系统2、上位机系统1和光机系统3依次串联连接;所述相机系统2由标准漫反射投影幕4、相机拍摄模块5和相机触发反馈模块6组成;所述振镜模组7由微振镜模块、微振镜的触发反馈部件和微振镜的驱动部件组成;所述激光模组8由激光器、激光器的驱动部件和整形透镜组成;所述集成电路模组9由FPGA部件、ARM部件以及外部反馈部件组成;所述微振镜的驱动部件安装连接到微振镜模块;所述激光器的驱动部件安装连接到激光器;所述FPGA部件安装连接ARM部件;所述微振镜的驱动部件和激光器的驱动部件分别安装连接到FPGA部件的两个端口上;所述微振镜的触发反馈部件和激光器的反馈部件分别安装连接到ARM部件的两个端口。
一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置的操作方法,包括如下步骤,步骤一,系统通电,依次启动光机系统3中的振镜模组7、激光模组8、集成电路模组9,相机系统2和上位机系统1;步骤二,系统稳定后,集成电路模组9控制激光器模组和振镜模组7向标准漫反射投影幕4投射出未经矫正的条纹正弦结构光光栅;步骤三,相机系统2进入触发模式,捕捉条纹正弦条纹结构光光栅或者扫描面光斑图片,并将得到的数据传输给上位机系统1进行处理,分析光栅的正弦性、亮度均匀性指标参数,判断是否需要矫正光斑;步骤四,上位机系统1分析完光栅指标参数后,得到需要矫正的光斑投射参数,投射参数通过相机触发反馈模块6的串口,下发给集成电路模组9,集成电路模组9控制激光器模组和振镜模组7投射出经过矫正后的正弦条纹结构光光栅,并将矫正后的数据保存,方便下次上电自动录入。
为了提高通用性,方便微振镜模块的选用,所述微振镜模块为电磁式MEMS微振镜。
为了提高激光光束的稳定性,所述激光器为边缘反射的LD激光器。
为了提高激光光束的稳定性,所述整形透镜将激光器发出的高斯光束整形为一字线光束。
具体实施例一:本发明系统接上电源,系统依次启动振镜模组7,激光模组8,集成电路模组9,相机系统2,上位机系统1;待系统稳定后,光机系统3向标准漫反射投影幕4投射出未经矫正的正弦结构光光栅;相机系统2进入触发模式,捕捉正弦结构光光栅,送给上位机系统1进行分析处理,分析光栅的正弦性和亮度均匀性等指标,判断是否需要矫正光栅的对应参数,包括结构光正弦光栅能量分分布图、结构光正弦光栅各项指标分析图、结构光正弦光栅正弦性分析图、结构光正弦光栅灰度值曲线图;分析上述得到参数,比如两边亮度高(振镜摆角最大,速度为0),中间低,则需要对驱动激光器的亮度值做一个均化的处理,即两边给值小,中间给值大,该数据由上位机系统1分析处理;上位机系统1分析完正弦结构光光栅以后,得到需要矫正的光栅投射参数,通过相机系统2的串口下发给光机系统3,并通过集成电路模组9控制激光器模组和振镜模组7投射出经过矫正后的扫面光栅,并将矫正后的数据保存的ROM中,方便下次上电自动录入。
本发明的一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置及操作方法,通过上位机系统1、相机系统2和由振镜模组7、激光模组8和集成电路模组9构成的光机系统3以及相应的操作方法,可以调整亮度不均匀,正弦性较差等缺陷的光栅条纹结构光,经过矫正后可以投射出高稳定性和正弦性的结构光光栅。
上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本发明的内容并加以实施,并不能以此限制本发明的保护范围,凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本发明的保护范围内。

Claims (5)

1.一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置,其特征在于:包括上位机系统、相机系统和由振镜模组、激光模组和集成电路模组构成的光机系统;所述相机系统、上位机系统和光机系统依次串联连接;所述相机系统由标准漫反射投影幕、相机拍摄模块和相机触发反馈模块组成;所述振镜模组由微振镜模块、微振镜的触发反馈部件和微振镜的驱动部件组成;所述激光模组由激光器、激光器的驱动部件和整形透镜组成;所述集成电路模组由FPGA部件、ARM部件以及外部反馈部件组成;所述微振镜的驱动部件安装连接到微振镜模块;所述激光器的驱动部件安装连接到激光器;所述FPGA部件安装连接ARM部件;所述微振镜的驱动部件和激光器的驱动部件分别安装连接到FPGA部件的两个端口上;所述微振镜的触发反馈部件和激光器的反馈部件分别安装连接到ARM部件的两个端口。
2.如权利要求1所述的一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置的操作方法,其特征在于:包括如下步骤,步骤一,系统通电,依次启动光机系统中的振镜模组、激光模组、集成电路模组,相机系统和上位机系统;步骤二,系统稳定后,集成电路模组控制激光器模组和振镜模组向标准漫反射投影幕投射出未经矫正的条纹正弦结构光光栅;步骤三,相机系统进入触发模式,捕捉条纹正弦条纹结构光光栅或者扫描面光斑图片,并将得到的数据传输给上位机系统进行处理,分析光栅的正弦性、亮度均匀性指标参数,判断是否需要矫正光斑;步骤四,上位机系统分析完光栅指标参数后,得到需要矫正的光斑投射参数,投射参数通过相机触发反馈模块的串口,下发给集成电路模组,集成电路模组控制激光器模组和振镜模组投射出经过矫正后的正弦条纹结构光光栅,并将矫正后的数据保存,方便下次上电自动录入。
3.如权利要求1所述的一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置,其特征在于:所述微振镜模块为电磁式MEMS微振镜。
4.如权利要求1所述的一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置,其特征在于:所述激光器为边缘反射的LD激光器。
5.如权利要求1所述的一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置,其特征在于:所述整形透镜将激光器发出的高斯光束整形为一字线光束。
CN202010458951.9A 2020-05-27 2020-05-27 一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置及操作方法 Pending CN111486791A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010458951.9A CN111486791A (zh) 2020-05-27 2020-05-27 一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置及操作方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010458951.9A CN111486791A (zh) 2020-05-27 2020-05-27 一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置及操作方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN111486791A true CN111486791A (zh) 2020-08-04

Family

ID=71796007

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010458951.9A Pending CN111486791A (zh) 2020-05-27 2020-05-27 一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置及操作方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111486791A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113701662A (zh) * 2021-02-10 2021-11-26 江苏珩图智能科技有限公司 基于振镜的结构光编码条纹光栅图案生成方法

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006189573A (ja) * 2005-01-05 2006-07-20 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 投影型表示器
US20150198800A1 (en) * 2013-06-28 2015-07-16 Intel Corporation Mems scanning mirror light pattern generation
CN106405829A (zh) * 2016-11-23 2017-02-15 青岛小优智能科技有限公司 一种激光结构光3d成像方法
CN107131845A (zh) * 2017-05-25 2017-09-05 青岛小优智能科技有限公司 一种正弦结构光生成方法及系统
CN107193123A (zh) * 2017-05-25 2017-09-22 西安知象光电科技有限公司 一种自适应线结构光的闭环调制方法
CN108375346A (zh) * 2018-02-11 2018-08-07 西安知象光电科技有限公司 一种基于微振镜分光式投影装置的多线激光三维扫描方法
US20180263482A1 (en) * 2017-03-16 2018-09-20 Carestream Health, Inc. Structured light generation for intraoral 3d camera using 1d mems scanning
CN109406520A (zh) * 2018-12-03 2019-03-01 青岛小优智能科技有限公司 一种mems微振镜技术产生的结构光的痕迹提取装置及方法
CN110726383A (zh) * 2019-09-26 2020-01-24 成都市众智三维科技有限公司 一种基于mems的高精度一体化三维测量系统
CN110764254A (zh) * 2019-09-30 2020-02-07 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 可编译的结构光投影系统
CN111174702A (zh) * 2020-01-22 2020-05-19 无锡微视传感科技有限公司 一种自适应结构光投射模组及测量方法

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006189573A (ja) * 2005-01-05 2006-07-20 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 投影型表示器
US20150198800A1 (en) * 2013-06-28 2015-07-16 Intel Corporation Mems scanning mirror light pattern generation
CN106405829A (zh) * 2016-11-23 2017-02-15 青岛小优智能科技有限公司 一种激光结构光3d成像方法
US20180263482A1 (en) * 2017-03-16 2018-09-20 Carestream Health, Inc. Structured light generation for intraoral 3d camera using 1d mems scanning
CN107131845A (zh) * 2017-05-25 2017-09-05 青岛小优智能科技有限公司 一种正弦结构光生成方法及系统
CN107193123A (zh) * 2017-05-25 2017-09-22 西安知象光电科技有限公司 一种自适应线结构光的闭环调制方法
CN108375346A (zh) * 2018-02-11 2018-08-07 西安知象光电科技有限公司 一种基于微振镜分光式投影装置的多线激光三维扫描方法
CN109406520A (zh) * 2018-12-03 2019-03-01 青岛小优智能科技有限公司 一种mems微振镜技术产生的结构光的痕迹提取装置及方法
CN110726383A (zh) * 2019-09-26 2020-01-24 成都市众智三维科技有限公司 一种基于mems的高精度一体化三维测量系统
CN110764254A (zh) * 2019-09-30 2020-02-07 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 可编译的结构光投影系统
CN111174702A (zh) * 2020-01-22 2020-05-19 无锡微视传感科技有限公司 一种自适应结构光投射模组及测量方法

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
YUNYE GAO等: "A self-adapting linear inchworm piezoelectric actuator based on a permanent magnets clamping structure", 《MECHANICAL SYSTEMS AND SIGNAL PROCESSING》 *
冯晨等: "基于MEMS微振镜的高精度正弦光栅产生方法", 《计算机与数字工程》 *
黄会明等: "基于微振镜结构光投射器的机器人抓取", 《中国激光》 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113701662A (zh) * 2021-02-10 2021-11-26 江苏珩图智能科技有限公司 基于振镜的结构光编码条纹光栅图案生成方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6782268B2 (ja) 高スループットシーケンシング用のレーザライン照明装置
CN101063751A (zh) 激光光斑实时监测与光路自动准直的方法和装置
CN111412835B (zh) 一种新型激光扫描投影方法
CN101354481A (zh) 激光照射装置及使用其的激光加工系统
CN110726383B (zh) 一种基于mems的高精度一体化三维测量系统
CN110196023A (zh) 一种双变焦结构光深度相机及变焦方法
CN110174075A (zh) 一种单变焦结构光深度相机及变焦方法
CN102564343A (zh) 太阳能槽式曲面反光镜面形误差检测装置
CN107945159B (zh) 一种光纤几何参数和衰减系数集成测试的自动化控制系统
TW202206888A (zh) 振鏡的參數調節方法、裝置、設備
CN111486791A (zh) 一种自适应调整正弦条纹结构光质量的装置及操作方法
CN101959081A (zh) 相机模块成品检查装置及方法
CN114898038A (zh) 一种图像重建方法、装置及设备
CN114488434A (zh) 光纤自动耦合系统和方法
CN112563865B (zh) 一种激光器离线调试装置的调试方法
CN102890430A (zh) 一种直写曝光机调整曝光面功率均匀性的装置及方法
CN113124830A (zh) 一种摄像模组成像光学倾斜度测试方法及测试设备
US8529071B2 (en) Illuminating spatial light modulators using an anamorphic prism assembly
CN106131436B (zh) 一种航空相机的检焦装置以及检焦方法
CN211698179U (zh) 一种基于干涉条纹的智能光轴装调系统
CN104937468B (zh) 图像取得装置以及图像取得装置的聚焦方法
CN206557525U (zh) 一种双面直写式曝光机系统
WO2022217737A1 (zh) 组装棱镜的方法、组装棱镜的装置以及组装棱镜的设备
CN115183683A (zh) 一种键盘外壳自动检测设备及其使用方法
CN111458022B (zh) 一种套孔法结合十字线扫描的激光光束发散角测量方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20200804