CN112612661A - 芯片系统级测试方法、装置及系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开的芯片系统级测试方法、装置及系统，属于芯片测试技术领域。其中所述测试方法包括：当测试服务器接收到用户提交的芯片的测试需求信息时，根据所述测试需求信息进行测试初始化；给测试主机上的放置有待测芯片的测试主板上电，并接收所述测试主机返回的芯片信息；根据所述芯片信息从数据库中下载与其对应的之前站别的测试结果数据，根据所述测试需求信息和所述测试结果数据生成定制化的芯片参数，发送给测试主机写入到待测芯片中；当所述测试服务器接收到所述测试主机反馈的测试结果数据时，将所述测试结果数据上传至数据库中，根据所述测试结果数据和预设分类规则对待测芯片进行分类。

Description

芯片系统级测试方法、装置及系统
技术领域
本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片系统级测试方法、装置及系统。
背景技术
芯片的系统级测试(SLT：system level test)指芯片安装到系统主板后，芯片启动完成进入操作系统后进行的测试。芯片的系统级测试常被应用于逻辑功能比较复杂的、门电路数量庞大的芯片测试过程中，如对中央处理器CPU和图形处理器GPU的测试。业界一般在FT(final test)后进行芯片的系统级测试。FT是芯片出厂前的最后一道测试，测试对象是针对封装好的芯片，一般CP(Chip Probing，也称为晶圆测试)测试之后会进行封装，封装之后进行FT测试，可以用来检测封装厂的工艺水平。现有的芯片系统级测试方案一般采用独立测试的方式，即对每颗待测芯片单独进行系统级测试。这种独立测试方式的缺点是：无法汇总测试数据，只能对所有待测芯片进行单一同样的系统级测试项，无法实现根据每颗芯片本身的性能或参数而进行定制化的系统级测试项，存在测试效率低、测试结果不精确的问题，而且因为需要对每个测试主板上的硬盘进行更新升级所以还会导致测试程序更新周期长的问题。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供的芯片系统级测试方法、装置及系统，采用多个待测芯片同时并发测试方式，可以实现根据每个待测芯片本身的性能或参数而进行定制化的系统级测试，使得测试结果更加精确并提高了产品良率。
第一方面，本发明实施例提供一种芯片系统级测试方法，包括：
步骤S1、当测试服务器接收到用户提交的芯片的测试需求信息时，根据所述测试需求信息进行测试初始化；
步骤S2、当待测芯片放置完毕时所述测试服务器给测试主机上的放置有待测芯片的测试主板上电，并接收所述测试主机返回的芯片信息；
步骤S3、所述测试服务器根据所述芯片信息从数据库中下载与其对应的之前站别的测试结果数据，根据所述测试需求信息和所述测试结果数据生成定制化的芯片参数；
步骤S4、所述测试服务器将所述定制化的芯片参数发送给测试主机，写入到待测芯片中；
步骤S5、当所述测试服务器接收到所述测试主机反馈的测试结果数据时，将所述测试结果数据上传至数据库中，根据所述测试结果数据和预设分类规则对待测芯片进行分类。
上述步骤S2之前还包括：所述测试服务器与所述测试主机建立TCP/IP网络连接。
上述芯片信息包括芯片序列号，所述测试结果数据包括芯片序列号、测试站别和测试结果；上述步骤S3中所述测试服务器根据所述芯片信息从数据库中下载与其对应的之前站别的测试结果数据具体为所述测试服务器根据所述芯片序列号从数据库中查找到与之对应的测试结果数据，并获取所述测试结果数据中所包含的之前站别的测试结果，所述之前站别的测试结果具体为系统级测试之前所进行的任一测试中的至少一种所生成的测试结果。
进一步的，上述步骤S2之前还包括：所述测试服务器与分类机械臂服务器建立UDP网络连接，所述测试服务器通过与所述分类机械臂服务器进行通信控制与所述分类机械臂服务器连接的分类机械臂完成所述待测芯片的放置。
上述步骤S5还包括所述测试服务器向测试用户显示分类结果；或者是包括所述测试服务器通过向分类机械臂服务器发送所述分类结果，控制与所述分类机械臂服务器连接的分类机械臂拾取所述待测芯片放置到对应的出料盘中。
上述方法还包括当所有待测芯片测试完成时，所述测试服务器通过向所述测试主机发送关机指令结束测试。
优选的，上述测试服务器与所述测试主机之间的通信数据是经过加密的，所述数据库中存储的测试结果数据采用密文形式存储。
第二方面，本发明实施例提供一种芯片系统级测试装置，包括人机交互模块、调试工具交互模块和数据处理模块；
所述人机交互模块，用于获取测试用户提交的芯片的测试需求信息，根据所述测试需求信息进行测试初始化；
所述调试工具交互模块，用于给测试主机上的放置有待测芯片的测试主板上电，并读取芯片信息发送给数据处理模块；
所述数据处理模块，用于根据所述芯片信息从数据库中下载与其对应的之前站别的测试结果数据，根据所述测试需求信息和所述测试结果数据生成定制化的芯片参数；还用于将所述定制化的芯片参数发送给测试主机，写入到待测芯片中；还用于接收所述测试主机反馈的测试结果数据，将所述测试结果数据上传至数据库中，根据所述测试结果数据和预设分类规则对待测芯片进行分类。
进一步的，上述装置还包括硬件控制模块，用于通过与分类机械臂服务器交互来控制分类机械臂放置待测芯片；还用于根据所述数据处理模块发送的分类结果控制分类机械臂拾取待测芯片放置到对应出料盘中。
第三方面，本发明实施例提供一种芯片系统级测试系统，包括芯片系统级测试装置，以及与其连接的至少一台测试主机，所述测试主机包括用于放置待测芯片的测试主板。
优选的，上述系统还包括与所述芯片系统级测试装置建立网络连接的分类机械臂服务器，以及与所述分类机械臂服务器连接的分类机械臂。
第四方面，本发明实施例提供一种电子设备，包括：壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路，其中，电路板安置在壳体围成的空间内部，处理器和存储器设置在电路板上；电源电路，用于为上述电子设备的各个电路或器件供电；存储器用于存储可执行程序代码；处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，用于执行前述芯片系统级测试方法。
第五方面，本发明的实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现前述芯片系统级测试方法。
本发明实施例提供的芯片系统级测试方法、装置及系统，采用多个待测芯片同时并发的测试方式，设计一台测试服务器同时控制多个测试主板，使用这种方式可以对每个待测芯片的测试结果进行汇总分析实现根据每个待测芯片本身的性能或参数而进行定制化的系统级测试，随时可以终止测试中性能不达标的测试主板或其他硬件，提高测试效率和测试准确度；本发明还支持与分类机械臂共同协作并自动完成测试，同时也支持无机械臂的手动测试，适用于芯片的工程研发阶段，可以提高芯片开发效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本发明实施例一的芯片系统级测试装置组成示意图；
图2为本发明实施例二的芯片系统级测试方法的流程图；
图3为本发明实施例三的芯片系统级测试系统的结构示意图；
图4为本发明实施例四的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。应当明确，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一
本实施例提供的芯片系统级测试装置，安装并运行在测试服务器上。测试服务器通过数据交换机与多个测试主机建立TCP/IP网络连接，TCP/IP(Transmission ControlProtocol/lnternet Protocol，传输控制协议/网际协议)是指能够在多个不同网络间实现信息传输的协议簇。同时测试服务器与分类机械臂服务器采用UDP(User DatagramProtocol，用户数据报协议)网络连接方式通信。本实施例中可以优选将测试服务器通过数据交换机与十二个测试主机同时建立连接，通过多线程并发测试十二颗待测芯片，也可以根据具体量产需求来调整测试主机数量和被测芯片数量，如对于测试主板面积大的系统级测试，可以采用一台测试服务器对接六或八个测试主机。
如图1所示，本实施例提供的芯片系统级测试装置100，通过与测试主机200进行信息交互完成对待测芯片的自动化测试，该装置具体包括人机交互模块101、硬件控制模块102、调试工具交互模块103和数据处理模块104；其中各模块功能如下：
人机交互模块101，用于获取测试用户输入的测试需求信息，根据所述测试需求信息进行测试初始化，并将所述测试需求信息发送给数据处理模块104，以及在接收到测试结果数据时向测试用户显示所述测试结果数据；
其中，上述测试结果数据是指完成系统级测试之后得到的包含测试结果的数据，若在测试过程中出现网络异常、连接端口等异常问题时，人机交互模块还用于向测试用户提示该异常问题，并通过向测试主机发送结束指令结束当前测试。
可以理解的是，人机交互模块101可以是在测试初始化完成后通过与测试主机200交互提示用户手动放置待测芯片，并在检测到待测芯片准备完毕后触发调试工具交互模块103工作；采用人工手动放置待测芯片则本装置相应的可以省略用于与分类机械臂交互的硬件控制模块。
人机交互模块101还可以是在完成测试初始化后触发硬件控制模块102工作，此时需要通过网络连接方式与分类机械臂服务器交互从而控制分类机械臂放置待测芯片，节省人工介入，实现流水线的自动化，由此可见，本实施例方案支持与分类机械臂共同协作并自动完成测试，同时也支持无机械臂参与的手动测试，适用于芯片的工程研发阶段，可有效提高芯片开发效率。
硬件控制模块102，用于在收到所述人机交互模块101的触发时通过与分类机械臂服务器交互来控制分类机械臂放置待测芯片；用于在确定待测芯片准备完毕后触发调试工具交互模块103；
调试工具交互模块103，用于在收到所述人机交互模块101或是所述硬件控制模块102的触发时向测试主机200的测试主板发送上电指令；待确定上电成功后读取芯片信息并发送给数据处理模块104；
进一步的，上述读取芯片信息可以是通过向测试主机发送读取指令来获得与测试主机连接的各个测试主板上的待测芯片的芯片信息，所述芯片信息可以包括用于标识芯片唯一性的芯片序列号。
数据处理模块104，用于接收所述人机交互模块101发送的测试需求信息以及所述调试工具交互模块103发送的芯片信息，用于根据所述芯片信息从数据库中查询并下载其对应的之前站别的测试结果数据，汇总分析所述测试需求信息与所述之前站别的测试结果数据，为各个待测芯片生成特有的定制化的芯片参数，并将生成的定制化的芯片参数写入到待测芯片中。
可以理解的是，对于芯片的测试一般会先经过CP测试和FT测试，之后再到系统级测试，本实施例提及的之前站别的测试结果数据可以包括系统级测试之前所进行的任一测试中的至少一种所生成的测试结果，优选采用FT测试所生成的测试结果，当然也可以同时采用FT测试和CP测试的测试结果。例如可以结合FT测试过程中生成的测试结果中的芯片电压、工作频率、功率、工作温度等参数，根据当前测试需求信息对这些参数进行调整生成针对当前待测芯片的特有的定制化的芯片参数。
进一步的，上述将生成的定制化的芯片参数写入到待测芯片中可以具体为向测试主机发送写入指令，所述写入指令中包含有芯片序列号和芯片参数，测试主机在接收到写入指令后，根据解析所述写入指令获得的芯片序列号确定待测芯片，并将与该芯片序列号对应的芯片参数写入到该待测芯片中。
上述数据处理模块104，还用于接收所述测试主机200反馈的测试结果数据，当根据测试主机200的反馈确认所有待测芯片测试完成时向测试主机200发送关机指令，并将接收到的测试结果数据上传至数据库中。
进一步的，上述数据处理模块还具备数据加解密功能，具体可用于将所述测试结果数据进行加密后上传至数据库中，还可用于与测试主机之间进行交互的信息的全部或部分进行加密处理，例如，可以是将所述定制化的芯片参数先加密，然后根据加密后的芯片参数组成写入指令发送给测试主机，还可以是对写入指令整体进行加密后发送给测试主机。相应的，调试工具从芯片中读取的芯片信息可以是密文形式，数据处理模块接收到该密文形式的芯片信息时需要先进行解密操作。本实施例中提及的数据加解密可以采用常用的数据加解密算法，例如MD5、各种对称或非对称加解密等均可适用，在此不做限定。
本实施例中优选的，上述数据处理模块104还用于根据预设分类规则和测试主机反馈的测试结果数据对待测芯片进行分类，并将分类结果通过测试主机显示，由人工手动拾取待测芯片放置到对应出料盘中；或者是数据处理模块104通过向分类机械臂服务器发送所述分类结果，控制与所述分类机械臂服务器连接的分类机械臂拾取所述待测芯片放置到对应的出料盘中，由机械臂自动化完成分类。
本实施例中，所述预设分类规则可以是根据测试结果划分良品和不良品两个类别，也可以进一步对良品进行多个等级的划分。
实施例二
下面采用一个具体的实施例，对实施例一中所示芯片系统级测试装置的工作方法进行详细说明，芯片系统级测试的流程按时间顺序分为：主板上电，芯片启动，芯片内部数据读取，芯片自检，系统自检，系统引导操作系统，进入操作系统后进行功能测试，系统关机，处理测试结果，芯片分类。本实施例的方法整合了上述芯片系统级测试的各个流程，并且实现了所有测试流程的自动化运行。
本实施例中以该装置具体化为测试服务器进行介绍，将该装置设计为测试服务器可以替代多个测试硬盘来存储测试程序，这样可以缩短测试程序的更新周期，无需对每个测试主板上的硬盘进行更新升级。
如图2所示，本实施例提供基于实施例1的芯片系统级测试服务器所实现的芯片级系统测试方法，包括如下步骤：
步骤201、测试服务器接收到用户提交的芯片测试需求信息时，根据所述测试需求信息进行测试初始化；
本实施例中可以理解的是，在测试初始完成之后，可以通过人工方式在测试主板上手动放置待测芯片，或者是通过与分类机械臂服务器交互来控制分类机械臂在测试主板上放置待测芯片。
步骤202、测试服务器检测到待测芯片放置完毕，通过向测试主机发送上电指令给放置有待测芯片的测试主板上电，并接收所述测试主机返回的芯片信息；
具体的，所述芯片信息包括用于标识芯片唯一性的芯片序列号。
步骤203、测试服务器根据所述芯片信息从数据库中下载与其对应的之前站别的测试结果数据，根据测试需求信息和测试结果数据生成定制化的芯片参数；
具体的，数据库中存储的每条测试结果数据包括芯片序列号及与其对应的测试站别、测试结果、测试日期等信息。测试服务器根据芯片序列号从数据库中查找到与之对应的测试结果数据，并获取所述测试结果数据中所包含的之前站别的测试结果，根据测试需求信息和测试结果生成定制化芯片参数。
可以理解的是，对于芯片的测试一般会先经过CP测试和FT测试，之后再到系统级测试，本实施例提及的之前站别的测试结果可以是系统级测试之前所进行的任一测试中的至少一种所生成的测试结果。例如本步骤中，测试服务器根据芯片序列号从数据库中查找到与之对应的测试结果数据，并从测试结果数据中选取测试站别是FT测试所对应的测试结果，该测试结果中包含芯片电压、工作频率、功率、工作温度等参数，测试服务器根据当前测试需求信息对这些参数进行调整生成针对当前待测芯片的特有的定制化的芯片参数。
本步骤能够对之前测试站别(如CP测试、FT测试)的测试结果进行汇总分析，这种方式可以实现根据每颗芯片本身的性能或参数而进行定制化的系统级测试，使得测试结果更加精确并提高了产品良率。
步骤204、测试服务器将定制化的芯片参数发送给测试主机，写入到待测芯片中；写入成功后，芯片启动并引导测试主机进入指定操作系统运行测试；
本步骤可具体为测试服务器向测试主机发送写入指令，所述写入指令中包含有芯片序列号和所述定制化的芯片参数，测试主机在接收到写入指令后，根据解析所述写入指令获得的芯片序列号确定待测芯片，并将与该芯片序列号对应的定制化的芯片参数写入到该待测芯片中。
本步骤还可以具体为测试服务器向测试主机发送写入指令，所述写入指令中包含有经过预设加密算法处理的芯片序列号和定制化的芯片参数，测试主机在接收到写入指令后，对所述写入指令进行解析，并根据预设解密算法解密获取芯片序列号和定制化的芯片参数，根据获取的芯片序列号确定待测芯片，并将与该芯片序列号对应的定制化的芯片参数写入到该待测芯片中。
步骤205、测试服务器接收所述测试主机反馈的测试结果数据，将所述测试结果数据上传至数据库中，根据测试结果数据和预设分类规则对待测芯片进行分类。
所述测试结果数据包括芯片序列号及当前芯片的测试结果，上述将所述测试结果数据上传至数据库中还可以具体为，将所述测试结果数据进行加密之后上传至数据库中，相应的，上述步骤203中从数据库中下载获取测试结果数据还具体包括对测试结果数据进行验证或解密的过程，例如，可以采用MD5、3DES或RSA等加解密方式。
本实施例中，所述预设分类规则可以是根据测试结果划分良品和不良品两个类别，也可以进一步对良品进行多个等级的划分，例如将良品进一步细分，例如进一步细分为一等品、二等品等等。
待分类完成之后，所述测试服务器可以通过向测试用户显示分类结果完成待测芯片的分类，具体实现可以是将分类结果发送到测试主机进行显示，由人工手动拾取待测芯片放置到对应出料盘中；或者所述测试服务器通过向分类机械臂服务器发送所述分类结果，控制与所述分类机械臂服务器连接的分类机械臂拾取所述待测芯片放置到对应的出料盘中。
上述步骤205之后还可以包括，当所有待测芯片测试完成时测试服务器向测试主机发送关机指令，测试主机接收到所述关键指令后进行关机操作结束测试。
实施例三
本实施例提供的一种芯片系统级测试系统，如图3所示，包括测试服务器1、测试主机2、分类机械臂服务器3和分类机械臂4；
其中，测试服务器1，连接至少一台测试主机2，所述测试主机2内包含放置有被测芯片的测试主板，所述测试主机上还安装有与所述测试主板连接的JTAG调试工具。其中，测试主机为上位机，具体可以为一终端设备。进一步地，终端设备可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑。
本实施例中，测试服务器1与测试主机2通过TCP/IP网络连接方式进行通信。
所述测试服务器2还与用于控制分类机械臂4的分类机械臂服务器通过UDP网络连接方式连接。
可以理解的是，如若在测试过程中通过人工手动放置待测芯片到测试主板上，以及人工手动拾取待测芯片到出料盘中，则本实施例中提及的芯片系统级测试系统的设计还可以省去上述分类机械臂服务器3和分类机械臂4。
本实施例提供的系统在运行测试过程中，具体涉及到的测试服务器与测试主机以及测试服务器与分类机械臂服务器和分类机械臂的交互，具体可参照实施例一或实施例二中的描述，本实施例中不再赘述。
实施例四
本发明实施例还提供一种电子设备，所述电子设备包含前述任一实施例所述的装置。
图4为本发明电子设备一个实施例的结构示意图，可以实现本发明图2所示方法流程，如图4所示，上述电子设备可以包括：壳体41、处理器42、存储器43、电路板44和电源电路45，其中，电路板44安置在壳体41围成的空间内部，处理器42和存储器43设置在电路板44上；电源电路45，用于为上述电子设备的各个电路或器件供电；存储器43用于存储可执行程序代码；处理器42通过读取存储器43中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，用于执行前述任一实施例所述芯片系统级测试方法。
处理器42对上述步骤的具体执行过程以及处理器42通过运行可执行程序代码来进一步执行的步骤，可以参见本发明图2所示实施例的描述，在此不再赘述。
该电子设备以多种形式存在，包括但不限于：
(1)移动通信设备：这类设备的特点是具备移动通信功能，并且以提供话音、数据通信为主要目标。这类终端包括：智能手机(例如iPhone)、多媒体手机、功能性手机，以及低端手机等。
(2)超移动个人计算机设备：这类设备属于个人计算机的范畴，有计算和处理功能，一般也具备移动上网特性。这类终端包括：PDA、MID和UMPC设备等，例如iPad。
(3)便携式娱乐设备：这类设备可以显示和播放多媒体内容。该类设备包括：音频、视频播放器(例如iPod)，掌上游戏机，电子书，以及智能玩具和便携式车载导航设备。
(4)服务器：提供计算服务的设备，服务器的构成包括处理器、硬盘、内存、系统总线等，服务器和通用的计算机架构类似，但是由于需要提供高可靠的服务，因此在处理能力、稳定性、可靠性、安全性、可扩展性、可管理性等方面要求较高。
(5)其他具有数据交互功能的电子设备。
本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。
尤其，对于装置实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
为了描述的方便，描述以上装置是以功能分为各种单元/模块分别描述。当然，在实施本发明时可以把各单元/模块的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)等。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (13)

1.一种芯片系统级测试方法，其特征在于，包括：
步骤S1、当测试服务器接收到用户提交的芯片的测试需求信息时，根据所述测试需求信息进行测试初始化；
步骤S2、当待测芯片放置完毕时所述测试服务器给测试主机上的放置有待测芯片的测试主板上电，并接收所述测试主机返回的芯片信息；
步骤S3、所述测试服务器根据所述芯片信息从数据库中下载与其对应的之前站别的测试结果数据，根据所述测试需求信息和所述测试结果数据生成定制化的芯片参数；
步骤S4、所述测试服务器将所述定制化的芯片参数发送给测试主机，写入到待测芯片中；
步骤S5、当所述测试服务器接收到所述测试主机反馈的测试结果数据时，将所述测试结果数据上传至数据库中，根据所述测试结果数据和预设分类规则对待测芯片进行分类。
2.根据权利要求1所述的芯片系统级测试方法，其特征在于：所述步骤S2之前还包括：所述测试服务器与所述测试主机建立TCP/IP网络连接。
3.根据权利要求1所述的芯片系统级测试方法，其特征在于：所述芯片信息包括芯片序列号，所述测试结果数据包括芯片序列号、测试站别和测试结果；所述步骤S3中所述测试服务器根据所述芯片信息从数据库中下载与其对应的之前站别的测试结果数据具体为所述测试服务器根据所述芯片序列号从数据库中查找到与之对应的测试结果数据，并获取所述测试结果数据中所包含的之前站别的测试结果，所述之前站别的测试结果具体为系统级测试之前所进行的测试中的任一测试中的至少一种所生成的测试结果。
4.根据权利要求1所述的芯片系统级测试方法，其特征在于：所述步骤S2之前还包括：所述测试服务器与分类机械臂服务器建立UDP网络连接，所述测试服务器通过与所述分类机械臂服务器进行通信控制与所述分类机械臂服务器连接的分类机械臂完成所述待测芯片的放置。
5.根据权利要求1所述的芯片系统级测试方法，其特征在于：所述步骤S5还包括所述测试服务器向测试用户显示分类结果；或者是包括所述测试服务器通过向分类机械臂服务器发送所述分类结果，控制与所述分类机械臂服务器连接的分类机械臂拾取所述待测芯片放置到对应的出料盘中。
6.根据权利要求1所述的芯片系统级测试方法，其特征在于：所述步骤S5还包括当所有待测芯片测试完成时，所述测试服务器向所述测试主机发送关机指令结束测试。
7.根据权利要求1所述的芯片系统级测试方法，其特征在于：所述测试服务器与所述测试主机之间的通信数据是经过加密的，所述数据库中存储的测试结果数据采用密文形式存储。
8.一种芯片系统级测试装置，其特征在于：所述装置包括人机交互模块、调试工具交互模块和数据处理模块；
所述人机交互模块，用于获取测试用户提交的芯片的测试需求信息，根据所述测试需求信息进行测试初始化，以及将所述测试需求信息发送给所述数据处理模块；
所述调试工具交互模块，用于给测试主机上的放置有待测芯片的测试主板上电，并读取芯片信息发送给所述数据处理模块；
所述数据处理模块，用于根据所述芯片信息从数据库中下载与其对应的之前站别的测试结果数据，根据所述测试需求信息和所述测试结果数据生成定制化的芯片参数；还用于将所述定制化的芯片参数发送给测试主机，写入到待测芯片中；还用于接收所述测试主机反馈的测试结果数据，将所述测试结果数据上传至数据库中，根据所述测试结果数据和预设分类规则对待测芯片进行分类。
9.根据权利要求8所述的芯片系统级测试装置，其特征在于：所述装置还包括硬件控制模块，用于通过与分类机械臂服务器交互来控制分类机械臂放置待测芯片；还用于根据所述数据处理模块发送的分类结果控制分类机械臂拾取待测芯片放置到对应出料盘中。
10.一种芯片系统级测试系统，其特征在于：包括如权利要求8或9所述的芯片系统级测试装置，以及与其连接的至少一台测试主机，所述测试主机包括用于放置待测芯片的测试主板。
11.根据权利要求10所述的芯片系统级测试系统，其特征在于：所述系统还包括与所述芯片系统级测试装置建立网络连接的分类机械臂服务器，以及与所述分类机械臂服务器连接的分类机械臂。
12.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路，其中，电路板安置在壳体围成的空间内部，处理器和存储器设置在电路板上；电源电路，用于为上述电子设备的各个电路或器件供电；存储器用于存储可执行程序代码；处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，用于执行前述1-7任一权利要求所述的方法。
13.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现前述1-7任一权利要求所述的方法。
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