CN112611395B - 校准激光扫平仪的方法和系统 - Google Patents

Abstract

本公开内容公开了校准激光扫平仪的方法和系统。所述方法包括：将激光扫平仪与探测器设置于同一水平面，使得激光扫平仪处于被探测位置；设置激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式；在探测器探测到激光扫平仪发射的用于校准的激光射线时，探测器生成第一位置信息；在激光扫平仪旋转到第一旋转角度时，将激光扫平仪中的激光投射方向相对于激光扫平仪沿相反方向旋转第一旋转角度，使得探测器探测到激光扫平仪发射的用于校准的激光射线，以生成第二位置信息；以及基于第一位置信息和第二位置信息，确定是否需要对激光扫平仪进行校准。本公开内容使得激光扫平仪能够在扇扫模式或打点模式下利用探测器实现对其精度的检测和校准。

Description

校准激光扫平仪的方法和系统

技术领域

本公开内容涉及智能测绘领域，并且更具体地，涉及校准激光扫平仪的方法和系统

背景技术

激光扫平仪的水平轴精度是指激光扫平仪正常安平之后进行水平面扫描时，水平面的前后左右四个方向中的每一个方向上，扫平仪激光面与绝对水平面的夹角大小的范围。根据几何原理，水平轴的精度还经常表示为某特定距离外的高度值范围。

现有的校准激光扫平仪的方法均是适用于旋转扫描模式下对激光扫平仪进行校准。由于探测器需要从环境光中分辨出激光扫平仪的激光射线，一般需要利用激光扫平仪的“周期性扫到探测器，从而产生光电信号”这一特点来实现，一般要求周期为某一个或者几个固定值。因此，现有的校准方法并不适于扇扫模式或打点模式操作下的激光扫平仪。

发明内容

针对上述问题，本公开内容的第一方面提出了一种校准激光扫平仪的方法，其包括：

将激光扫平仪与探测器设置于同一水平面，使得所述激光扫平仪处于被探测位置；

设置所述激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式；

在所述探测器探测到所述激光扫平仪发射的用于校准的激光射线时，所述探测器生成第一位置信息；

在所述激光扫平仪旋转到第一旋转角度时，将所述激光扫平仪中的激光投射方向相对于所述激光扫平仪沿相反方向旋转所述第一旋转角度，使得所述探测器探测到所述激光扫平仪发射的所述用于校准的激光射线，以生成第二位置信息；以及

基于所述第一位置信息和所述第二位置信息，确定是否需要对所述激光扫平仪进行校准。

根据本发明的一个示例性的实施例，所述方法还包括：

所述激光扫平仪接收所述第一位置信息和所述第二位置信息，并生成校准信息，在所述校准信息超过阈值的情况下，基于所述校准信息进行校准；或者

所述激光扫平仪接收所述探测器基于所述第一位置信息和所述第二位置信息生成的所述校准信息，在所述校准信息超过阈值的情况下，基于所述校准信息进行校准。

根据本发明的一个示例性的实施例，所述方法还包括：所述探测器基于所述第一位置信息和所述第二位置信息生成校准信息，在所述校准信息超过阈值的情况下，将所述校准信息发送到所述激光扫平仪，使得所述激光扫平仪基于所述校准信息进行校准。

根据本发明的一个示例性的实施例，所述方法还包括：

在所述激光扫平仪准备向所述探测器发射所述用于校准的激光射线之前，对所述激光扫平仪进行安平操作；

在所述激光扫平仪旋转到第一旋转角度后，对所述激光扫平仪进行安平操作。

根据本发明的一个示例性的实施例，设置所述激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式进一步包括：

设置所述激光扫平仪处于打点模式；

将脉冲信号作用于所述激光扫平仪，使得所述激光扫平仪发射所述用于校准的激光射线，其中，所述用于校准的激光射线的频率与所述脉冲信号的频率相同。

根据本发明的一个示例性的实施例，设置所述激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式进一步包括：

设置所述激光扫平仪处于扇扫模式；

将脉冲信号作用于所述激光扫平仪，使得所述激光扫平仪发射所述用于校准的激光射线，其中，通过合并所述脉冲信号的频率和扇扫频率形成所述用于校准的激光射线的频率。

根据本发明的一个示例性的实施例，所述脉冲信号具有固定频率或可变频率。

根据本发明的一个示例性的实施例，设置所述激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式进一步包括：

设置所述激光扫平仪处于扇扫模式；

使得所述激光扫平仪发射的激光射线作为所述用于校准的激光射线。

针对上述问题，本公开内容的第二方面提出了一种校准激光扫平仪的系统，其包括：

激光扫平仪，用于在校准状态下生成用于校准的激光射线；以及

探测器，用于获取所述用于校准的激光射线；

其中：

所述激光扫平仪与所述探测器设置于同一水平面，使得所述激光扫平仪处于被探测位置；

所述激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式。

根据本发明的一个示例性的实施例，所述激光扫平仪包括：

壳体；

控制模块，设置在所述壳体内；

脉冲信号产生模块，设置在所述壳体内并与所述控制模块电耦接，并受所述控制模块控制产生脉冲信号；

激光器模块，设置在所述壳体内并与所述脉冲信号产生模块电耦接，在校准状态下利用所述脉冲信号生成所述用于校准的激光射线；以及

激光旋转单元，设置在所述壳体并与所述控制模块电耦接，用于控制和调理所述激光器模块生成的激光射线的投射方向。

根据本发明的一个示例性的实施例，所述激光旋转单元包括：

电机模块，与所述控制模块耦接；以及

光学模块，与所述电机模块耦接，用于改变激光射线的方向；在所述控制模块控制所述电机模块驱动所述光学模块旋转的情况下，改变所述激光扫平仪发射激光射线的方向。

根据本发明的一个示例性的实施例，所述探测器进一步用于：

在第一次探测到所述用于校准的激光射线时，生成第一位置信息；

在第二次探测到所述用于校准的激光射线时，生成第二位置信息；以及

基于所述第一位置信息和所述第二位置信息，生成校准信息；

在所述校准信息超出阈值的情况下，向所述激光扫平仪发送所述校准信息。

根据本发明的一个示例性的实施例，所述激光扫平仪进一步用于：

发射所述用于校准的激光射线，使得所述探测器接收所述用于校准的激光射线；

在所述壳体旋转到第一旋转角度时，将所述激光旋转单元相对于所述壳体沿着相反方向旋转所述第一旋转角度，使得所述激光器模块发射的所述用于校准的激光射线被所述探测器接收；以及

在所述校准信息超出阈值的情况下，接收所述校准信息，并基于所述校准信息进行校准。

根据本发明的一个示例性的实施例，在所述激光扫平仪处于打点模式时，所述用于校准的激光射线的频率与所述脉冲信号的频率相同。

根据本发明的一个示例性的实施例，在所述激光扫平仪处于扇扫模式时，通过合并所述脉冲信号的频率和扇扫频率形成所述用于校准的激光射线的频率。

依据本公开内容的校准激光扫平仪的方法及系统能够通过在探测器探测到激光扫平仪发射的用于校准的激光射线时，探测器生成第一位置信息；并且在激光扫平仪旋转到第一旋转角度时，将激光扫平仪中的激光投射方向相对于激光扫平仪沿相反方向旋转第一旋转角度，使得探测器探测到激光扫平仪发射的用于校准的激光射线，以生成第二位置信息；来实现对处于扇扫模式或打点模式的激光扫平仪的校准。由此使用者能够更灵活地选择激光扫平仪处于不同的工作模式来实现对其的校准。

附图说明

结合附图并参考以下详细说明，本公开的各实施例的特征、优点及其他方面将变得更加明显，在此以示例性而非限制性的方式示出了本公开的若干实施例，在附图中：

图1为依据本公开内容的校准激光扫平仪的系统的示意图；

图2为依据本公开内容的激光扫平仪的系统框图；

图3为依据本公开内容的使用激光扫平仪追踪探测器的方法的流程图；以及

图4为依据本公开内容的校准激光扫平仪的方法的流程图；

图5示出了校准激光扫平仪过程的示意图之一；

图6示出了校准激光扫平仪过程的示意图之二；

图7示出了校准激光扫平仪过程的示意图之三；以及

图8示出了校准激光扫平仪过程的示意图之四。

具体实施方式

以下参考附图详细描述本公开的各个示例性实施例。附图中的流程图和框图示出了根据本公开的各种实施例的方法和系统的可能实现的体系架构、功能和操作。应当注意，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，所述模块、程序段、或代码的一部分可以包括一个或多个用于实现各个实施例中所规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为备选的实现中，方框中所标注的功能也可以按照不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，或者它们有时也可以按照相反的顺序执行，这取决于所涉及的功能。同样应当注意的是，流程图和/或框图中的每个方框、以及流程图和/或框图中的方框的组合，可以使用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以使用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

本文所使用的术语“包括”、“包含”及类似术语应该被理解为是开放性的术语，即“包括/包含但不限于”，表示还可以包括其他内容。术语“基于”是“至少部分地基于"。术语“一个实施例”表示“至少一个实施例”；术语“另一实施例”表示“至少一个另外的实施例”，等等。

本发明主要关注以下技术问题：如何能够在激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式的情况下实现对该激光扫平仪的校准。

为了解决上述问题，根据本发明的一个总体构思，提供一种校准激光扫平仪的方法，其包括：将激光扫平仪与探测器设置于同一水平面，使得所述激光扫平仪处于被探测位置；设置所述激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式；在所述探测器探测到所述激光扫平仪发射的用于校准的激光射线时，所述探测器生成第一位置信息；在所述激光扫平仪旋转到第一旋转角度时，将所述激光扫平仪中的激光投射方向相对于所述激光扫平仪沿相反方向旋转所述第一旋转角度，使得所述探测器探测到所述激光扫平仪发射的所述用于校准的激光射线，以生成第二位置信息；以及基于所述第一位置信息和所述第二位置信息，确定是否需要对所述激光扫平仪进行校准。

实施例1

如图1所示，公开了激光追踪系统，其包括激光扫平仪1以及与激光扫平仪1间隔设置于同一水平面的探测器2。在对激光扫平仪1进行校准之前，需要实现激光扫平仪1对探测器2的追踪，由此能够确定激光扫平仪1的被探测位置。

在本实施例中，激光扫平仪1至少用于发射激光射线以进行圆周式扫描，探测器2至少用于接收该激光射线。进一步，探测器2包括第一无线通信模块，并且激光扫平仪1包括第二无线通信模块；其中，当探测器2探测到激光射线时，第一无线通信模块向激光扫平仪1的第二无线通信模块发送探测信号。第一无线通信模块、第二无线通信模块可以采用任何现有已知的或未来开发的通信技术实现无线通信(例如，蓝牙通信技术等)。

图3公开了本实施例的激光追踪系统实现使用激光扫平仪追踪探测器的方法，具体操作如下：

首先将激光扫平仪1与探测器2放置于同一水平面内，同时建立激光扫平仪1与探测器2之间的通信。具体地，如图1所示，二者可以间隔固定距离或者间隔可以由测距器能够测量的距离，所间隔的距离使得探测器2能够精准地探测到激光扫平仪1所发射的激光射线；激光扫平仪1发射激光射线4以固定速率(例如，沿着方向5)做圆周式旋转，以形成激光面3；在该激光面3的扫描区域内安置探测器2，以便于探测器2探测到激光扫平仪1发射的激光射线。

步骤310：激光扫平仪1发射激光射线以进行圆周式扫描。

具体地，激光扫平仪1以第一速率进行圆周式扫描，其中，该第一速率是探测器2能够探测到激光射线的速率。

步骤320：在该圆周式扫描的过程中，当探测器2探测到激光射线时，探测器2向激光扫平仪1发送探测信号。

具体地，在该圆周式扫描的过程中，当探测器2探测到激光射线时，第一无线通信模块向激光扫平仪1的第二无线通信模块发送探测信号。

步骤330：当激光扫平仪1接收到该探测信号时，激光扫平仪1所发射的激光射线以相反方向进行圆周式扫描。

在本实施例中，步骤330中，在激光扫平仪1的第二无线通信模块接收到探测信号时，激光扫平仪1以第二速率进行相反方向的圆周式扫描，其中，第二速率小于激光扫平仪的当前速率，并且第二速率是探测器2能够探测到激光射线的速率。

返回执行步骤320，直到激光扫平仪接收探测信号的频率大于第一阈值时，执行步骤340。

或者，返回执行步骤320，直到激光扫平仪1变换圆周式扫描的扫描方向的时间间隔小于第二阈值时，执行步骤340。

本实施例中，在重复执行步骤320和步骤330的过程中，激光扫平仪1进行圆周式扫描的速率随着每次扫描方向的改变而呈阶梯式下降。

步骤340：确定所述激光扫平仪追踪到所述探测器。

具体地，由于激光扫平仪1往返进行圆周式扫描(例如，在接收到探测信号之后实现相反方向的圆周式扫描)，由此可知，激光扫平仪1往返进行圆周式扫描的频率越来越高，使得探测器2接收到激光射线的频率变高，进而探测器2发送探测信号的频率也越来越高，当激光扫平仪1接收到探测信号的频率高于其内部设定的阈值(例如，第一阈值)时，表明激光扫平仪1已经追踪到探测器2，也即到达了被探测位置。

或者，由于激光扫平仪1往返进行圆周式扫描(例如，在接收到探测信号之后实现相反方向的圆周式扫描)，由此可知，激光扫平仪1往返进行圆周式扫描的频率越来越高，当激光扫平仪1变换圆周式扫描的扫描方向的时间间隔小于其内设的阈值(例如，第二阈值)时，明激光扫平仪1已经追踪到探测器2，也即到达了被探测位置。

另外，在步骤340之后，在激光扫平仪1追踪到探测器2的位置处，将激光扫平仪1设置进入所述扇扫模式或所述打点模式。

本实施例所公开的激光扫平仪追踪探测器的方法及系统在无需对激光扫平仪和探测器进行找平操作的情况下，仅在探测器能够接收到激光射线的条件下，实现激光扫平仪追踪探测器以确定准确的被探测位置。也即，实施例1所公开的激光扫平仪追踪探测器的方法及系统操作简单、结构简单并且能够实现对被探测位置的精准定位。

实施例2

如图1所示，公开了校准激光扫平仪的系统，其包括了：用于在校准状态下生成用于校准的激光射线的激光扫平仪1以及用于获取该用于校准的激光射线的探测器2。其中，激光扫平仪1与探测器2设置于同一水平面，使得激光扫平仪1处于被探测位置；并且激光扫平仪1被设置为打点模式或扇扫模式。

此外，如图2所示的激光扫平仪1包括：壳体150、控制模块110、脉冲信号产生模块120、激光器模块130以及激光旋转单元140。其中，控制模块110设置在壳体150内，脉冲信号产生模块120设置在壳体150内并与控制模块110电耦接，以受控制模块110控制产生脉冲信号；激光器模块130设置在壳体150内并与该脉冲信号产生模块120电耦接，在校准状态下利用该脉冲信号生成用于校准的激光射线；激光旋转单元140设置在壳体150并与控制模块110电耦接，用于控制和调理激光器模块130生成的激光射线的投射方向。

并且，激光旋转单元140包括：电机模块141和光学模块142，其中，电机模块141与控制模块110电耦接，光学模块142与电机模块141电耦接，用于改变激光射线的方向；在控制模块110控制电机模块141驱动光学模块142旋转的情况下，改变激光扫平仪1发射激光射线的方向。

基于实施例1所公开的使用激光扫平仪追踪探测器的方法，实现了激光扫平仪1精确地确定被探测位置，由此能够实现图4所公开的校准激光扫平仪的方法。

图4公开了本实施例的校准激光扫平仪的方法，具体操作如下：

步骤410：将激光扫平仪1与探测器2设置于同一水平面，使得激光扫平仪1处于被探测位置。

如图5所示，在本步骤中，激光扫平仪1与探测器2间隔距离6设置于同一水平面。并且在激光扫平仪1准备向探测器2发射用于校准的激光射线之前，对激光扫平仪1进行安平操作。具体地，激光扫平仪1在开机之后，首先进行自动安平操作，也即，激光扫平仪1通过水泡检测，调整X轴、Y轴到其认为的水平状态。

步骤420：设置激光扫平仪1处于打点模式或扇扫模式。

由于实现激光扫平仪1的校准过程中探测器2可以接收到来自校准环境的各种频率的射线(例如，自然光等)，此外，由于激光扫平仪1处于打点模式或扇扫模式与常规利用扫平仪发射周期性激光射线以便于探测器接收不同；因此为了使探测器2能够准确地接收来自激光扫平仪1的激光射线并且克服现有技术的缺陷，需要激光扫平仪1处于打点模式或扇扫模式仍能够发射具有单一频率的亮灭或亮暗变化的激光射线，以便于探测器2识别。

本步骤具体包括：

步骤420.1：将设置激光扫平仪1处于打点模式；

步骤420.2：在校准状态下，激光扫平仪1的控制模块110控制脉冲信号产生模块120生成脉冲信号，激光器模块130利用脉冲信号生成用于校准的激光射线，并且该用于校准的激光射线的频率与上述脉冲信号的频率限相同。

或者，步骤420具体包括：

步骤421.1：将设置激光扫平仪1处于扇扫模式；

步骤421.2：在校准状态下，将脉冲信号作用于激光扫平仪1，使得其发射用于校准的激光射线，其中，通过合并脉冲信号的频率和扇扫频率形成该用于校准的激光射线的频率。具体地，激光扫平仪1的控制模块110控制脉冲信号产生模块120生成脉冲信号，激光器模块130利用脉冲信号生成用于校准的激光射线。

在本实施例中提及的脉冲信号具有探测器2可识别的固定频率或可变频率。

或者，步骤420具体包括：

步骤422.1：设置激光扫平仪1处于扇扫模式

步骤422.2：使得激光扫平仪1发射的激光射线作为用于校准的激光射线。

也就是说，在扇扫模式下，激光扫平仪1扇扫的频率即作为探测器2接收的用于校准的激光射线的频率。

步骤430：在探测器2探测到激光扫平仪1发射的用于校准的激光射线时，探测器生成第一位置信息。

如图6所示，激光扫平仪1进行圆周式运动，使得其所发射的用于校准的激光射线10被探测器2探测到。

如图7所示，在探测器2探测到激光扫平仪1发射的用于校准的激光射线10时，探测器探测的第一位置信息具体地可以是第一高度信息8，或者可以是基于距离6和第一高度信息8生成的第一角度信息7。

步骤440：在激光扫平仪1旋转到第一旋转角度时，将激光扫平仪中的激光投射方向相对于激光扫平仪沿相反方向旋转第一旋转角度，使得探测器探测到激光扫平仪发射的用于校准的激光射线，以生成第二位置信息；

具体地，在激光扫平仪1旋转到第一旋转角度时，激光扫平仪1再次进行安平操作。在本实施例中，第一旋转角度可以是任意角度，优选为90°、180°、270°，根据选取的角度，校准过程可能需要多次重复操作。例如，当完成X轴的校准后，激光扫平仪1旋转90°，重复与X轴校准相同的操作来实现Y轴的校准。

在壳体150旋转到第一旋转角度时，将激光旋转单元140相对于壳体150沿着相反方向旋转第一旋转角度，使得激光器模块130发射的用于校准的激光射线10被探测器2接收。

如图8所示，在探测器2探测到激光扫平仪1发射的用于校准的激光射线10时，探测器2探测的第二位置信息具体地可以是第二高度信息11，或者可以是基于距离6和第二高度信息11生成的第二角度信息9。

步骤450：基于第一位置信息和第二位置信息，确定是否需要对激光扫平仪进行校准。

该步骤具体包括：

激光扫平仪1接收第一位置信息和第二位置信息，并生成校准信息，在该校准信息超过设定的阈值的情况下，基于该校准信息进行校准；或者

激光扫平仪1接收探测器2基于第一位置信息和第二位置信息生成的校准信息，在该校准信息超过设定的阈值的情况下，基于该校准信息进行校准；或者

探测器2基于第一位置信息和第二位置信息生成校准信息，在该校准信息超过设定的阈值的情况下，将该校准信息发送到激光扫平仪1，使得激光扫平仪1基于校准信息进行校准。

在本实施例中，例如，校准信息可以是第一高度信息8和第二高度信息11差值的平均值，也可以是第一角度信息7和第二角度信息9差值的平均值。

本实施例所公开的校准激光扫平仪的方法及系统能够实现激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式下的校准，极大的提高了校准技术的适用范围，为激光扫平仪的实际使用者带来了更大的便利。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。对于附图中的各单元之间的连线，仅仅是为了便于说明，其表示至少连线两端的单元是相互通信的，并非旨在限制未连线的单元之间无法通信。

以上所述仅为本公开的实施例可选实施例，并不用于限制本公开的实施例，对于本领域的技术人员来说，本公开的实施例可以有各种更改和变化。凡在本公开的实施例的精神和原则之内，所作的任何修改、等效替换、改进等，均应包含在本公开的实施例的保护范围之内。

虽然已经参考若干具体实施例描述了本公开的实施例，但是应该理解，本公开的实施例并不限于所公开的具体实施例。本公开的实施例旨在涵盖在所附权利要求的精神和范围内所包括的各种修改和等同布置。所附权利要求的范围符合最宽泛的解释，从而包含所有这样的修改及等同结构和功能。

Claims (13)

1.一种校准激光扫平仪的方法，所述方法包括：

将激光扫平仪与探测器设置为使得所述激光扫平仪处于被探测位置；

设置所述激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式；

在所述探测器探测到所述激光扫平仪发射的用于校准的激光射线时，所述探测器生成第一位置信息；

在所述激光扫平仪旋转到第一旋转角度时，将所述激光扫平仪中的激光投射方向相对于所述激光扫平仪沿相反方向旋转所述第一旋转角度，使得所述探测器探测到所述激光扫平仪发射的所述用于校准的激光射线，以生成第二位置信息；以及

基于所述第一位置信息和所述第二位置信息，确定是否需要对所述激光扫平仪进行校准。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括：

所述激光扫平仪接收所述第一位置信息和所述第二位置信息，并生成校准信息，在所述校准信息超过阈值的情况下，基于所述校准信息进行校准；或者

所述激光扫平仪接收所述探测器基于所述第一位置信息和所述第二位置信息生成的所述校准信息，在所述校准信息超过阈值的情况下，基于所述校准信息进行校准。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括：

所述探测器基于所述第一位置信息和所述第二位置信息生成校准信息，在所述校准信息超过阈值的情况下，将所述校准信息发送到所述激光扫平仪，使得所述激光扫平仪基于所述校准信息进行校准。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法还包括：

在所述激光扫平仪准备向所述探测器发射所述用于校准的激光射线之前，对所述激光扫平仪进行安平操作；

在所述激光扫平仪旋转到第一旋转角度后，对所述激光扫平仪进行安平操作。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，设置所述激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式进一步包括：

设置所述激光扫平仪处于打点模式；

将脉冲信号作用于所述激光扫平仪，使得所述激光扫平仪发射所述用于校准的激光射线，其中，所述用于校准的激光射线的频率与所述脉冲信号的频率相同。

6.根据权利要求1所述的方法，其中，设置所述激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式进一步包括：

设置所述激光扫平仪处于扇扫模式；

将脉冲信号作用于所述激光扫平仪，使得所述激光扫平仪发射所述用于校准的激光射线，其中，通过合并所述脉冲信号的频率和扇扫频率形成所述用于校准的激光射线的频率。

7.根据权利要求5或6所述的方法，其中，所述脉冲信号具有固定频率或可变频率。

8.根据权利要求1所述的方法，其中，设置所述激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式进一步包括：

设置所述激光扫平仪处于扇扫模式；

使得所述激光扫平仪发射的激光射线作为所述用于校准的激光射线。

9.一种校准激光扫平仪的系统，所述系统包括：

激光扫平仪，用于在校准状态下生成用于校准的激光射线，其中，所述激光扫平仪包括：

壳体；

控制模块，设置在所述壳体内；

脉冲信号产生模块，设置在所述壳体内并与所述控制模块电耦接，并受所述控制模块控制产生脉冲信号；

激光器模块，设置在所述壳体内并与所述脉冲信号产生模块电耦接，在校准状态下利用所述脉冲信号生成所述用于校准的激光射线；以及

激光旋转单元，设置在所述壳体并与所述控制模块电耦接，用于控制和调理所述激光器模块生成的激光射线的投射方向；以及

探测器，用于获取所述用于校准的激光射线；

其中：

将所述激光扫平仪与所述探测器设置为使得所述激光扫平仪处于被探测位置；

所述激光扫平仪处于打点模式或扇扫模式；

所述激光扫平仪进一步用于：

发射所述用于校准的激光射线，使得所述探测器接收所述用于校准的激光射线；

在所述壳体旋转到第一旋转角度时，将所述激光旋转单元相对于所述壳体沿着相反方向旋转所述第一旋转角度，使得所述激光器模块发射的所述用于校准的激光射线被所述探测器接收；以及

在校准信息超出阈值的情况下，接收所述校准信息，并基于所述校准信息进行校准。

10.根据权利要求9所述的系统，其中，所述激光旋转单元包括：

电机模块，与所述控制模块耦接；以及

光学模块，与所述电机模块耦接，用于改变激光射线的方向；在所述控制模块控制所述电机模块驱动所述光学模块旋转的情况下，改变所述激光扫平仪发射激光射线的方向。

11.根据权利要求9所述的系统，其中，所述探测器进一步用于：

在第一次探测到所述用于校准的激光射线时，生成第一位置信息；

在第二次探测到所述用于校准的激光射线时，生成第二位置信息；以及

基于所述第一位置信息和所述第二位置信息，生成所述校准信息；

在所述校准信息超出阈值的情况下，向所述激光扫平仪发送所述校准信息。

12.根据权利要求9所述的系统，其中，在所述激光扫平仪处于打点模式时，所述用于校准的激光射线的频率与所述脉冲信号的频率相同。

13.根据权利要求9所述的系统，其中，在所述激光扫平仪处于扇扫模式时，通过合并所述脉冲信号的频率和扇扫频率形成所述用于校准的激光射线的频率。

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