CN115183754B - 用于工程测高的激光校准方法、装置及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于工程测高的激光校准方法、装置及系统,该方法包括:获取辅助接收器发送的针对扫平仪的扫平光线的激光接收信息;根据激光接收信息,判断扫平仪是否存在受干扰的情况;若判断到扫平仪存在受干扰的情况,根据激光接收信息,确定扫平仪的偏差程度参数;根据偏差程度参数,确定设备接收器对应的基准调节指令;基准调节指令用于控制设备接收器调节其接收器基准以实现其与扫平仪之间的激光校准。可见,本发明能够通过设置的额外的辅助接收器来判断扫平仪是否存在受扰情况,并在其受扰时根据偏差程度来调节设备接收器的基准,从而能够实现从根源处提高整体工程测高的稳定性和精确度,提高施工效率。
Description
技术领域
本发明涉及激光校准技术领域,尤其涉及一种用于工程测高的激光校准方法、装置及系统。
背景技术
随着工程开发项目对于工程进度的要求的提高,越来越多的企业和研究方开始在工程开发项目上应用高新技术以提高其开发效率,其中,在施工设备上应用激光测高技术,可以有效提高对施工过程中的施工面高度的把控精确度,从而有效提高了施工效率,因此吸引了市场的注意。
现有的工程测高技术一般采用设置在工程区域的扫平仪和设置在施工设备上的接收器来实现激光通信,以确定施工设备的施工面的高度。但现有技术没有考虑到扫平仪其本身可能被环境因素或人为因素所干扰,从而其发出的扫平光线可能本身即存在误差,因此缺乏对于扫平仪本身的有效监控和校准。可见,现有技术存在缺陷,亟待解决。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于,提供一种用于工程测高的激光校准方法、装置及系统,能够实现对扫平仪的有效监测和对误差的及时校准,从根源处提高整体工程测高的稳定性和精确度,提高施工效率。
为了解决上述技术问题,本发明第一方面公开了一种用于工程测高的激光校准方法,其应用于激光校准系统,所述激光校准系统包括扫平仪、施工设备、辅助接收器以及设置在所述施工设备上的设备接收器;所述辅助接收器与所述设备接收器所处的位置不同;所述方法包括:
获取所述辅助接收器发送的针对所述扫平仪的扫平光线的激光接收信息;
根据所述激光接收信息,判断所述扫平仪是否存在受干扰的情况;
若判断到所述扫平仪存在受干扰的情况,根据所述激光接收信息,确定所述扫平仪的偏差程度参数;
根据所述偏差程度参数,确定所述设备接收器对应的基准调节指令;所述基准调节指令用于控制所述设备接收器调节其接收器基准以实现其与所述扫平仪之间的激光校准。
作为一种可选的实施方式,在本发明第一方面中,所述根据所述激光接收信息,判断所述扫平仪是否存在受干扰的情况,包括:
根据所述激光接收信息,确定所述扫平光线的出光参数;所述出光参数包括出光高度、出光角度和出光强度中的至少一种;
根据所述扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断所述扫平仪是否存在受干扰的情况。
作为一种可选的实施方式,在本发明第一方面中,所述根据所述扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断所述扫平仪是否存在受干扰的情况,包括:
判断所述扫平光线的出光参数是否与预设的参数标准值不同,若是,则判断所述扫平仪存在受干扰的情况;
和/或,
判断所述扫平光线的出光参数与预设的参数标准值之间的差值是否大于预设的差值阈值,若是,则判断所述扫平仪存在受干扰的情况。
作为一种可选的实施方式,在本发明第一方面中,所述根据所述激光接收信息,确定所述扫平仪的偏差程度参数,包括:
计算所述扫平光线的出光参数和所述参数标准值之间的差值,得到所述扫平仪的偏差程度参数。
作为一种可选的实施方式,在本发明第一方面中,所述根据所述偏差程度参数,确定所述设备接收器对应的基准调节指令,包括:
根据所述偏差程度参数,确定所述设备接收器对应的基准变化值;
根据所述基准变化值生成所述设备接收器对应的基准调节指令;所述基准调节指令具体用于控制所述设备接收器调节其接收器基准变化所述基准变化值。
作为一种可选的实施方式,在本发明第一方面中,所述接收器基准为处理器内部储存的软件代码定义的基准。
作为一种可选的实施方式,在本发明第一方面中,所述辅助接收器与所述施工设备和/或工程控制终端之间建立无线通信连接。
本发明实施例第二方面公开了一种用于工程测高的激光校准装置,其应用于激光校准系统,所述激光校准系统包括扫平仪、施工设备、辅助接收器以及设置在所述施工设备上的设备接收器;所述辅助接收器与所述设备接收器所处的位置不同;所述装置包括:
获取模块,用于获取所述辅助接收器发送的针对所述扫平仪的扫平光线的激光接收信息;
判断模块,用于根据所述激光接收信息,判断所述扫平仪是否存在受干扰的情况;
确定模块,用于在所述判断模块判断到所述扫平仪存在受干扰的情况时,根据所述激光接收信息,确定所述扫平仪的偏差程度参数;
调节模块,用于根据所述偏差程度参数,确定所述设备接收器对应的基准调节指令;所述基准调节指令用于控制所述设备接收器调节其接收器基准以实现其与所述扫平仪之间的激光校准。
作为一种可选的实施方式,在本发明第二方面中,所述判断模块根据所述激光接收信息,判断所述扫平仪是否存在受干扰的情况的具体方式,包括:
根据所述激光接收信息,确定所述扫平光线的出光参数;所述出光参数包括出光高度、出光角度和出光强度中的至少一种;
根据所述扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断所述扫平仪是否存在受干扰的情况。
作为一种可选的实施方式,在本发明第二方面中,所述判断模块根据所述扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断所述扫平仪是否存在受干扰的情况的具体方式,包括:
判断所述扫平光线的出光参数是否与预设的参数标准值不同,若是,则判断所述扫平仪存在受干扰的情况;
和/或,
判断所述扫平光线的出光参数与预设的参数标准值之间的差值是否大于预设的差值阈值,若是,则判断所述扫平仪存在受干扰的情况。
作为一种可选的实施方式,在本发明第二方面中,所述确定模块根据所述激光接收信息,确定所述扫平仪的偏差程度参数的具体方式,包括:
计算所述扫平光线的出光参数和所述参数标准值之间的差值,得到所述扫平仪的偏差程度参数。
作为一种可选的实施方式,在本发明第二方面中,所述调节模块根据所述偏差程度参数,确定所述设备接收器对应的基准调节指令的具体方式,包括:
根据所述偏差程度参数,确定所述设备接收器对应的基准变化值;
根据所述基准变化值生成所述设备接收器对应的基准调节指令;所述基准调节指令具体用于控制所述设备接收器调节其接收器基准变化所述基准变化值。
作为一种可选的实施方式,在本发明第二方面中,所述接收器基准为处理器内部储存的软件代码定义的基准。
作为一种可选的实施方式,在本发明第二方面中,所述辅助接收器与所述施工设备和/或工程控制终端之间建立无线通信连接。
本发明第三方面公开了另一种用于工程测高的激光校准装置,所述装置包括:
存储有可执行程序代码的存储器;
与所述存储器耦合的处理器;
所述处理器调用所述存储器中存储的所述可执行程序代码,执行本发明第一方面公开的用于工程测高的激光校准方法中的部分或全部步骤。
本发明第四方面公开了一种计算机存储介质,所述计算机存储介质存储有计算机指令,所述计算机指令被调用时,用于执行本发明第一方面公开的用于工程测高的激光校准方法中的部分或全部步骤。
本发明第五方面公开了一种激光校准系统,所述激光校准系统包括激光校准装置、扫平仪、施工设备、辅助接收器以及设置在所述施工设备上的设备接收器;所述辅助接收器与所述设备接收器所处的位置不同;所述激光校准装置用于执行本发明第一方面公开的用于工程测高的激光校准方法中的部分或全部步骤。
与现有技术相比,本发明实施例具有以下有益效果:
本发明实施例中,公开了一种用于工程测高的激光校准方法、装置及系统,该方法包括:获取所述辅助接收器发送的针对所述扫平仪的扫平光线的激光接收信息;根据所述激光接收信息,判断所述扫平仪是否存在受干扰的情况;若判断到所述扫平仪存在受干扰的情况,根据所述激光接收信息,确定所述扫平仪的偏差程度参数;根据所述偏差程度参数,确定所述设备接收器对应的基准调节指令;所述基准调节指令用于控制所述设备接收器调节其接收器基准以实现其与所述扫平仪之间的激光校准。可见,本发明实施例能够通过设置的额外的辅助接收器来确定扫平仪的实时的激光信息,以判断扫平仪是否存在受扰情况,并在其受扰时根据偏差程度来调节施工设备的设备接收器的基准,从而能够实现对扫平仪的有效监测和对误差的及时校准,从根源处提高整体工程测高的稳定性和精确度,提高施工效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例公开的一种用于工程测高的激光校准方法的流程示意图。
图2是本发明实施例公开的一种用于工程测高的激光校准装置的结构示意图。
图3是本发明实施例公开的另一种用于工程测高的激光校准装置的结构示意图。
图4是本发明实施例公开的一种激光校准系统的结构示意图。
图5是本发明实施例公开的一种扫平仪受干扰时的激光光路示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象,而不是用于描述特定顺序。此外,术语“包括”和“具有”以及它们任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、装置、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元,而是可选地还包括没有列出的步骤或单元,或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。
在本文中提及“实施例”意味着,结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例,也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是,本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
本发明公开了一种用于工程测高的激光校准方法、装置及系统,能够通过设置的额外的辅助接收器来确定扫平仪的实时的激光信息,以判断扫平仪是否存在受扰情况,并在其受扰时根据偏差程度来调节施工设备的设备接收器的基准,从而能够实现对扫平仪的有效监测和对误差的及时校准,从根源处提高整体工程测高的稳定性和精确度,提高施工效率。以下分别进行详细说明。
实施例一
请参阅图1,图1是本发明实施例公开的一种用于工程测高的激光校准方法的流程示意图。其中,图1所描述的用于工程测高的激光校准方法可以应用于校准数据处理系统、处理设备或处理服务器(其中,该服务器包括本地处理服务器或云处理服务器)中。优选的,该激光校准方法可以应用于如图4所示的激光校准系统,具体的,如图4所示,该激光校准系统可以包括扫平仪5、施工设备8、辅助接收器3以及设置在施工设备8上的设备接收器1,其中,该辅助接收器3与设备接收器1也即施工设备8所处的位置不同,以实现从不同的位置对扫平仪5进行监测和校准。可选的,该激光校准系统设置在施工区域7上,其中,施工设备8可以用于在施工区域7上施工,并通过其上设置的设备接收器1接收来自扫平仪5的扫平光线4,以确定施工区域7的施工面高度。具体的,设备接收器1具有接收器基准2,其用于定义设备接收器1的基准高度。在图4中,其被描绘为具有实体结构的基准设备,具备可以上下调节高度的调节机构。
可选的,设备接收器1与施工设备8之间具有直接的通讯关系,设备接收器可以永久地或可拆卸地固定在施工设备8上,并能够将采集到的扫平仪5的扫平光线所对应的施工面高度传输给施工设备8。可选的,施工设备8可以为施工机器人,例如地面整平机器人或地面抹平机器人等需要确定施工区域7的施工面高度的施工设备,其作业需要严格根据施工面高度信息进行,因此本发明中的技术方案对其作业有较优异的帮助效果。具体的,施工设备8在施工过程中需要控制安装有设备接收器1的执行机构上下移动,使得其激光接收器基准始终与扫平仪5的扫平光线4所形成的平面保持平齐。
具体的,扫平仪5通过扫平仪安装架6架设在施工区域7上,能够不断发射出激光,并旋转形成扫平光线4,该扫平光线为一光线旋转形成的平面,其可以用于标定特定的高度。
具体的,辅助接收器3可以架设在施工区域7上,且其可以具有无线通讯功能,能够通过无线网络将所采集到的扫平仪5的扫平光线所对应的激光接收信息实时传递给施工设备8,或是与其建立通信连接的电子设备如操作平板等。
可选的,设备接收器1与辅助接收器3可以为不同型号的激光接收器,以实现通过不同型号的设备来监测同一扫平仪5,避免因为设备的固有缺陷而导致无法有效对扫平仪5进行受扰监测。
可选的,扫平仪5、施工设备8、辅助接收器3、设备接收器1和其他电子设备如工程控制终端中的至少两种之间均可以建立通信连接,以实现数据传输。可选的,该通信连接可以使用WiFi网络连接,或者无线电或光连接的直接通信信道进行连接。其中,通过WiFi网络连接的一个优点是,它可以最大限度地减少在WiFi网络流量很大的位置可能发生的网络延迟的可能性,例如可以在目标区域内建立稳定的WiFi网络以实现这些连接。但是,在某些区域由于网络设备的先进性不足,WiFi网络可能会受到很大延迟的影响,本发明中的通信连接也可以采用LoRa通信协议或光通信连接,本发明不作具体的限定。
具体的,如图1所示,该激光校准方法可以包括以下操作:
101、获取辅助接收器发送的针对扫平仪的扫平光线的激光接收信息。
102、根据激光接收信息,判断扫平仪是否存在受干扰的情况。
103、若判断到扫平仪存在受干扰的情况,根据激光接收信息,确定扫平仪的偏差程度参数。
104、根据偏差程度参数,确定设备接收器对应的基准调节指令。
具体的,基准调节指令用于控制设备接收器调节其接收器基准以实现其与扫平仪之间的激光校准。可选的,可以将基准调节指令发送给设备接收器或施工设备,以控制设备接收器调节其接收器基准以实现其与扫平仪之间的激光校准。例如,如图4中的系统,可以由施工设备8控制接收器基准2的调节机构进行移动以实现设备接收器与扫平仪之间的激光校准。
具体的,设备接收器与扫平仪之间的激光校准可以被定义为设备接收器的激光接收口与扫平仪的扫平光线在同一高度上。
可选的,上述步骤均可以由扫平仪、施工设备或与辅助接收器建立通信连接的其他电子设备来实施,其中,该电子设备可以为包含用户界面的便携式计算设备,例如平板电脑,其具有易于携带的特点,且可以执行用户输入的多种控制指令,可以通过其对整个激光校准系统的操作控制。
可见,本发明实施例能够通过设置的额外的辅助接收器来确定扫平仪的实时的激光信息,以判断扫平仪是否存在受扰情况,并在其受扰时根据偏差程度来调节施工设备的设备接收器的基准,从而能够实现对扫平仪的有效监测和对误差的及时校准,从根源处提高整体工程测高的稳定性和精确度,提高施工效率。
作为一种可选的实施方式,上述步骤102中的,根据激光接收信息,判断扫平仪是否存在受干扰的情况,包括:
根据激光接收信息,确定扫平光线的出光参数;
根据扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断扫平仪是否存在受干扰的情况。
可选的,出光参数可以包括出光高度、出光角度和出光强度中的至少一种。可选的,参数标准值也可以包括出光高度标准值、出光角度标准值和出光强度标准值中的至少一种。
可选的,根据扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断扫平仪是否存在受干扰的情况的一种示意图可以参照图5,如图5所示,扫平仪在正常工作的情况下会发出理想状况下的扫平光线,如图中的理想的未受扰的光路所示,辅助接收器接收到该理想的未受扰的光路时,其确定出的出光参数一般为上述参数标准值,而在扫平仪受到干扰时,其发出的受干扰的扫平光线的光路如图所示,会与理想的光路之间存在一定的偏差,该偏差可能是角度或高度,或是图中没有示出的强度方面的偏差,而辅助接收器可以通过确定扫平光线的出光参数并将其和预设的参数标准值进行比较,以判断出这种偏差,进而判断扫平仪是否存在受干扰的情况。
当然,一般情况下,辅助接收器接收到的扫平仪的扫平光线的出光参数会保持不变(一般为该参数标准值),因为扫平仪一般会被设置在较为稳定的环境中以实现标高确定,因此,可以根据扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断扫平仪是否存在受干扰的情况。可选的,该参数标准值可以根据施工区域的区域参数来确定,也可以根据实验值或经验值来确定,并在后续进行调整。
可见,通过该可选的实施方式,能够根据扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断扫平仪是否存在受干扰的情况,从而能够准确确定扫平仪的受扰情况,为后续校准操作建立有效的数据基础,实现对扫平仪的有效监测和对误差的及时校准。
作为一种可选的实施方式,上述步骤中的,根据扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断扫平仪是否存在受干扰的情况,包括:
判断扫平光线的出光参数是否与预设的参数标准值不同,若是,则判断扫平仪存在受干扰的情况。
可见,通过该可选的实施方式,能够根据扫平光线的出光参数是否与预设的参数标准值不同,判断扫平仪是否存在受干扰的情况,从而能够准确确定扫平仪的受扰情况,为后续校准操作建立有效的数据基础,实现对扫平仪的有效监测和对误差的及时校准。
作为一种可选的实施方式,上述步骤中的,根据扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断扫平仪是否存在受干扰的情况,包括:
判断扫平光线的出光参数与预设的参数标准值之间的差值是否大于预设的差值阈值,若是,则判断扫平仪存在受干扰的情况。
可选的,差值阈值可以由操作人员根据经验值或具体的实验结果来确定,后续可以在具体实施中根据实施效果进行调节。
可见,通过该可选的实施方式,能够根据扫平光线的出光参数与预设的参数标准值之间的差值是否大于预设的差值阈值,判断扫平仪是否存在受干扰的情况,从而能够准确确定扫平仪的受扰情况,为后续校准操作建立有效的数据基础,实现对扫平仪的有效监测和对误差的及时校准。
作为一种可选的实施方式,上述步骤中的,根据激光接收信息,确定扫平仪的偏差程度参数,包括:
计算扫平光线的出光参数和参数标准值之间的差值,得到扫平仪的偏差程度参数。
可选的,该差值可以包括高度差值、角度差值和强度差值中的至少一种。
可见,通过该可选的实施方式,能够计算扫平光线的出光参数和参数标准值之间的差值,得到扫平仪的偏差程度参数,从而能够准确确定扫平仪的偏差程度,为后续校准操作建立有效的数据基础,实现对扫平仪的有效监测和对误差的及时校准。
作为一种可选的实施方式,上述步骤104中的,根据偏差程度参数,确定设备接收器对应的基准调节指令,包括:
根据偏差程度参数,确定设备接收器对应的基准变化值;
根据基准变化值生成设备接收器对应的基准调节指令。
具体的,基准调节指令具体用于控制设备接收器调节其接收器基准变化该基准变化值。
可选的,可以直接将偏差程度参数确定为基准变化值,以控制接收器基准变化该基准变化值实现与扫平仪的校准,在一些情况下,由于偏差程度参数无法直接用于指示基准变化值,因此,可以通过预设的算法模型,根据偏差程度参数演算出基准变化值。可选的,可以通过包括由多个训练偏差程度参数和对应的训练基准调整值的训练集以训练得到一个神经网络模型,后续根据这一神经网络模型来根据偏差程度参数演算出基准变化值。可选的,也可以根据施工区域对应的三维模型,根据该偏差程度参数确定出此时设备接收器和扫平仪的模拟位置,再根据模拟演算算法,演算出该接收器基准在该模拟位置要和扫平仪对齐需要变化的基准变化值。
可见,通过该可选的实施方式,能够根据偏差程度参数,确定设备接收器对应的基准变化值,再根据基准变化值生成设备接收器对应的基准调节指令,从而能够对接收器基准进行准确地调节以实现校准,提高整体工程测高的稳定性和精确度,提高施工效率。
作为一种可选的实施方式,接收器基准为设备接收器内部储存的软件代码定义的基准,其可以通过指令直接进行修改。可选的,也可以通过与设备接收器连接的处理器中内部储存的软件代码定义该接收器基准,该处理器也可以为施工设备或与设备接收器建立通信连接中的电子设备中的处理器,从而可以直接接收基准调节指令以调节该接收器基准。
通过该可选的实施方式,通过代码定义的接收器基准具有更易调节且调节效率更高的特点,从而可以实现更高效的误差校准。
实施例二
请参阅图2,图2是本发明实施例公开的一种用于工程测高的激光校准装置的结构示意图。其中,图2所描述的用于工程测高的激光校准装置可以应用于校准数据处理系统、处理设备或处理服务器(其中,该服务器包括本地处理服务器或云处理服务器)中。优选的,其可以应用于如实施例一所述的激光校准系统,其具体细节可以参照实施例一中的表述,在此不做赘述。
如图2所示,该用于工程测高的激光校准装置可以包括:
获取模块201,用于获取辅助接收器发送的针对扫平仪的扫平光线的激光接收信息;
判断模块202,用于根据激光接收信息,判断扫平仪是否存在受干扰的情况;
确定模块203,用于在判断模块202判断到扫平仪存在受干扰的情况时,根据激光接收信息,确定扫平仪的偏差程度参数;
调节模块204,用于根据偏差程度参数,确定设备接收器对应的基准调节指令。具体的,基准调节指令用于控制设备接收器调节其接收器基准以实现其与扫平仪之间的激光校准。可选的,可以将基准调节指令发送给设备接收器或施工设备,以控制设备接收器调节其接收器基准以实现其与扫平仪之间的激光校准。例如,如图4中的系统,可以由施工设备8控制接收器基准2的调节机构进行移动以实现设备接收器与扫平仪之间的激光校准。
具体的,设备接收器与扫平仪之间的激光校准可以被定义为设备接收器的激光接收口与扫平仪的扫平光线在同一高度上。
可选的,上述模块均可以由扫平仪、施工设备或与辅助接收器建立通信连接的其他电子设备来实施,其中,该电子设备可以为包含用户界面的便携式计算设备,例如平板电脑,其具有易于携带的特点,且可以执行用户输入的多种控制指令,可以通过其对整个激光校准系统的操作控制。
可见,本发明实施例能够通过设置的额外的辅助接收器来确定扫平仪的实时的激光信息,以判断扫平仪是否存在受扰情况,并在其受扰时根据偏差程度来调节施工设备的设备接收器的基准,从而能够实现对扫平仪的有效监测和对误差的及时校准,从根源处提高整体工程测高的稳定性和精确度,提高施工效率。
作为一种可选的实施方式,判断模块202根据激光接收信息,判断扫平仪是否存在受干扰的情况的具体方式,包括:
根据激光接收信息,确定扫平光线的出光参数;
根据扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断扫平仪是否存在受干扰的情况。
可选的,出光参数可以包括出光高度、出光角度和出光强度中的至少一种。可选的,参数标准值也可以包括出光高度标准值、出光角度标准值和出光强度标准值中的至少一种。
可选的,根据扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断扫平仪是否存在受干扰的情况的一种示意图可以参照图5,如图5所示,扫平仪在正常工作的情况下会发出理想状况下的扫平光线,如图中的理想的未受扰的光路所示,辅助接收器接收到该理想的未受扰的光路时,其确定出的出光参数一般为上述参数标准值,而在扫平仪受到干扰时,其发出的受干扰的扫平光线的光路如图所示,会与理想的光路之间存在一定的偏差,该偏差可能是角度或高度,或是图中没有示出的强度方面的偏差,而辅助接收器可以通过确定扫平光线的出光参数并将其和预设的参数标准值进行比较,以判断出这种偏差,进而判断扫平仪是否存在受干扰的情况。
当然,一般情况下,辅助接收器接收到的扫平仪的扫平光线的出光参数会保持不变(一般为该参数标准值),因为扫平仪一般会被设置在较为稳定的环境中以实现标高确定,因此,可以根据扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断扫平仪是否存在受干扰的情况。可选的,该参数标准值可以根据施工区域的区域参数来确定,也可以根据实验值或经验值来确定,并在后续进行调整。
可见,通过该可选的实施方式,能够根据扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断扫平仪是否存在受干扰的情况,从而能够准确确定扫平仪的受扰情况,为后续校准操作建立有效的数据基础,实现对扫平仪的有效监测和对误差的及时校准。
作为一种可选的实施方式,判断模块202根据扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断扫平仪是否存在受干扰的情况的具体方式,包括:
判断扫平光线的出光参数是否与预设的参数标准值不同,若是,则判断扫平仪存在受干扰的情况。
可见,通过该可选的实施方式,能够根据扫平光线的出光参数是否与预设的参数标准值不同,判断扫平仪是否存在受干扰的情况,从而能够准确确定扫平仪的受扰情况,为后续校准操作建立有效的数据基础,实现对扫平仪的有效监测和对误差的及时校准。
作为一种可选的实施方式,判断模块202根据扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断扫平仪是否存在受干扰的情况的具体方式,包括:
判断扫平光线的出光参数与预设的参数标准值之间的差值是否大于预设的差值阈值,若是,则判断扫平仪存在受干扰的情况。
可选的,差值阈值可以由操作人员根据经验值或具体的实验结果来确定,后续可以在具体实施中根据实施效果进行调节。
可见,通过该可选的实施方式,能够根据扫平光线的出光参数与预设的参数标准值之间的差值是否大于预设的差值阈值,判断扫平仪是否存在受干扰的情况,从而能够准确确定扫平仪的受扰情况,为后续校准操作建立有效的数据基础,实现对扫平仪的有效监测和对误差的及时校准。
作为一种可选的实施方式,确定模块203根据激光接收信息,确定扫平仪的偏差程度参数的具体方式,包括:
计算扫平光线的出光参数和参数标准值之间的差值,得到扫平仪的偏差程度参数。
可选的,该差值可以包括高度差值、角度差值和强度差值中的至少一种。
可见,通过该可选的实施方式,能够计算扫平光线的出光参数和参数标准值之间的差值,得到扫平仪的偏差程度参数,从而能够准确确定扫平仪的偏差程度,为后续校准操作建立有效的数据基础,实现对扫平仪的有效监测和对误差的及时校准。
作为一种可选的实施方式,调节模块204根据偏差程度参数,确定设备接收器对应的基准调节指令的具体方式,包括:
根据偏差程度参数,确定设备接收器对应的基准变化值;
根据基准变化值生成设备接收器对应的基准调节指令。
具体的,基准调节指令具体用于控制设备接收器调节其接收器基准变化该基准变化值。
可选的,可以直接将偏差程度参数确定为基准变化值,以控制接收器基准变化该基准变化值实现与扫平仪的校准,在一些情况下,由于偏差程度参数无法直接用于指示基准变化值,因此,可以通过预设的算法模型,根据偏差程度参数演算出基准变化值。可选的,可以通过包括由多个训练偏差程度参数和对应的训练基准调整值的训练集以训练得到一个神经网络模型,后续根据这一神经网络模型来根据偏差程度参数演算出基准变化值。可选的,也可以根据施工区域对应的三维模型,根据该偏差程度参数确定出此时设备接收器和扫平仪的模拟位置,再根据模拟演算算法,演算出该接收器基准在该模拟位置要和扫平仪对齐需要变化的基准变化值。
可见,通过该可选的实施方式,能够根据偏差程度参数,确定设备接收器对应的基准变化值,再根据基准变化值生成设备接收器对应的基准调节指令,从而能够对接收器基准进行准确地调节以实现校准,提高整体工程测高的稳定性和精确度,提高施工效率。
作为一种可选的实施方式,接收器基准为设备接收器内部储存的软件代码定义的基准,其可以通过指令直接进行修改。可选的,也可以通过与设备接收器连接的处理器中内部储存的软件代码定义该接收器基准,该处理器也可以为施工设备或与设备接收器建立通信连接中的电子设备中的处理器,从而可以直接接收基准调节指令以调节该接收器基准。
通过该可选的实施方式,通过代码定义的接收器基准具有更易调节且调节效率更高的特点,从而可以实现更高效的误差校准。
实施例三
请参阅图3,图3是本发明实施例公开的又一种用于工程测高的激光校准装置。图3所描述的用于工程测高的激光校准装置可以应用于校准数据处理系统、处理设备或处理服务器(其中,该服务器包括本地处理服务器或云处理服务器)中。优选的,其可以应用于如实施例一所述的激光校准系统,其具体细节可以参照实施例一中的表述,在此不做赘述。
如图3所示,该用于工程测高的激光校准装置可以包括:
存储有可执行程序代码的存储器301;
与存储器301耦合的处理器302;
其中,处理器302调用存储器301中存储的可执行程序代码,用于执行实施例一所描述的用于工程测高的激光校准方法的步骤。
实施例四
本发明实施例公开了一种计算机读存储介质,其存储用于电子数据交换的计算机程序,其中,该计算机程序使得计算机执行实施例一所描述的用于工程测高的激光校准方法的步骤。
实施例五
本发明实施例公开了一种计算机程序产品,该计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质,且该计算机程序可操作来使计算机执行实施例一所描述的用于工程测高的激光校准方法的步骤。
实施例六
本发明实施例公开了一种激光校准系统,该激光校准系统包括激光校准装置、扫平仪、施工设备、辅助接收器以及设置在施工设备上的设备接收器,其中辅助接收器与设备接收器所处的位置不同。该激光校准装置用于执行实施例一所描述的用于工程测高的激光校准方法中的部分或全部步骤。
具体的,该激光校准系统中的扫平仪、施工设备、辅助接收器以及设备接收器的设置可以参照图4中的结构设置,具体的,该激光校准装置可以由扫平仪、施工设备、辅助接收器或设备接收器中的处理器实施,也可以由通信连接至这些设备中的任意一个的电子设备来实施,本发明不做限定。具体的,该激光校准系统中的设备的工作方式和进一步的细节,可以参照实施例一中的阐述,在此不做赘述。
上述对本说明书特定实施例进行了描述,其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下,在权利要求书中记载的动作或步骤可以按照不同于实施例中的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外,附图中描绘的过程不一定必须按照示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中,多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于装置、设备、非易失性计算机可读存储介质实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
本说明书实施例提供的装置、设备、非易失性计算机可读存储介质与方法是对应的,因此,装置、设备、非易失性计算机存储介质也具有与对应方法类似的有益技术效果,由于上面已经对方法的有益技术效果进行了详细说明,因此,这里不再赘述对应装置、设备、非易失性计算机存储介质的有益技术效果。
控制器可以按任何适当的方式实现,例如,控制器可以采取例如微处理器或处理器以及存储可由该(微)处理器执行的计算机可读程序代码(例如软件或固件)的计算机可读介质、逻辑门、开关、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、可编程逻辑控制器和嵌入微控制器的形式,控制器的例子包括但不限于以下微控制器:ARC 625D、Atmel AT91SAM、Microchip PIC18F26K20以及Silicone Labs C8051F320,存储器控制器还可以被实现为存储器的控制逻辑的一部分。本领域技术人员也知道,除了以纯计算机可读程序代码方式实现控制器以外,完全可以通过将方法步骤进行逻辑编程来使得控制器以逻辑门、开关、专用集成电路、可编程逻辑控制器和嵌入微控制器等的形式来实现相同功能。因此这种控制器可以被认为是一种硬件部件,而对其内包括的用于实现各种功能的装置也可以视为硬件部件内的结构。或者甚至,可以将用于实现各种功能的装置视为既可以是实现方法的软件模块又可以是硬件部件内的结构。
上述实施例阐明的系统、装置、模块或单元,具体可以由计算机芯片或实体实现,或者由具有某种功能的产品来实现。一种典型的实现设备为计算机。具体的,计算机例如可以为个人计算机、膝上型计算机、蜂窝电话、相机电话、智能电话、个人数字助理、媒体播放器、导航设备、电子邮件设备、游戏控制台、平板计算机、可穿戴设备或者这些设备中的任何设备的组合。
为了描述的方便,描述以上装置时以功能分为各种单元分别描述。当然,在实施本说明书时可以把各单元的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
本领域内的技术人员应明白,本说明书实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本说明书实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本说明书实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本说明书是参照根据本说明书实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
在一个典型的配置中,计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。
内存可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器,随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式,如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。内存是计算机可读介质的示例。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括,但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带,磁带式磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质,可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定,计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media),如调制的数据信号和载波。
还需要说明的是,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
本说明书可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述,例如程序模块。一般地,程序模块包括执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构等等。也可以在分布式计算环境中实践本说明书,在这些分布式计算环境中,由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。在分布式计算环境中,程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。
最后应说明的是:本发明实施例公开的一种用于工程测高的激光校准方法、装置及系统所揭露的仅为本发明较佳实施例而已,仅用于说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解;其依然可以对前述各项实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或替换,并不使相应的技术方案的本质脱离本发明各项实施例技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种用于工程测高的激光校准方法,其应用于激光校准系统,其特征在于,所述激光校准系统包括扫平仪、施工设备、辅助接收器以及设置在所述施工设备上的设备接收器;所述辅助接收器与所述设备接收器所处的位置不同;所述方法包括:
获取所述辅助接收器发送的针对所述扫平仪的扫平光线的激光接收信息;
根据所述激光接收信息,判断所述扫平仪是否存在受干扰的情况;
若判断到所述扫平仪存在受干扰的情况,根据所述激光接收信息,确定所述扫平仪的偏差程度参数;
根据所述偏差程度参数,确定所述设备接收器对应的基准调节指令;所述基准调节指令用于控制所述设备接收器调节其接收器基准以实现其与所述扫平仪之间的激光校准。
2.根据权利要求1所述的用于工程测高的激光校准方法,其特征在于,所述根据所述激光接收信息,判断所述扫平仪是否存在受干扰的情况,包括:
根据所述激光接收信息,确定所述扫平光线的出光参数;所述出光参数包括出光高度、出光角度和出光强度中的至少一种;
根据所述扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断所述扫平仪是否存在受干扰的情况。
3.根据权利要求2所述的用于工程测高的激光校准方法,其特征在于,所述根据所述扫平光线的出光参数和预设的参数标准值,判断所述扫平仪是否存在受干扰的情况,包括:
判断所述扫平光线的出光参数是否与预设的参数标准值不同,若是,则判断所述扫平仪存在受干扰的情况;
和/或,
判断所述扫平光线的出光参数与预设的参数标准值之间的差值是否大于预设的差值阈值,若是,则判断所述扫平仪存在受干扰的情况。
4.根据权利要求2所述的用于工程测高的激光校准方法,其特征在于,所述根据所述激光接收信息,确定所述扫平仪的偏差程度参数,包括:
计算所述扫平光线的出光参数和所述参数标准值之间的差值,得到所述扫平仪的偏差程度参数。
5.根据权利要求1所述的用于工程测高的激光校准方法,其特征在于,所述根据所述偏差程度参数,确定所述设备接收器对应的基准调节指令,包括:
根据所述偏差程度参数,确定所述设备接收器对应的基准变化值;
根据所述基准变化值生成所述设备接收器对应的基准调节指令;所述基准调节指令具体用于控制所述设备接收器按照所述基准变化值调节其接收器基准。
6.根据权利要求1所述的用于工程测高的激光校准方法,其特征在于,所述接收器基准为处理器内部储存的软件代码定义的基准。
7.根据权利要求1所述的用于工程测高的激光校准方法,其特征在于,所述辅助接收器与所述施工设备和/或工程控制终端之间建立无线通信连接。
8.一种用于工程测高的激光校准装置,其应用于激光校准系统,其特征在于,所述激光校准系统包括扫平仪、施工设备、辅助接收器以及设置在所述施工设备上的设备接收器;所述辅助接收器与所述设备接收器所处的位置不同;所述装置包括:
获取模块,用于获取所述辅助接收器发送的针对所述扫平仪的扫平光线的激光接收信息;
判断模块,用于根据所述激光接收信息,判断所述扫平仪是否存在受干扰的情况;
确定模块,用于在所述判断模块判断到所述扫平仪存在受干扰的情况时,根据所述激光接收信息,确定所述扫平仪的偏差程度参数;
调节模块,用于根据所述偏差程度参数,确定所述设备接收器对应的基准调节指令;所述基准调节指令用于控制所述设备接收器调节其接收器基准以实现其与所述扫平仪之间的激光校准。
9.一种用于工程测高的激光校准装置,其应用于激光校准系统,其特征在于,所述激光校准系统包括扫平仪、施工设备、辅助接收器以及设置在所述施工设备上的设备接收器;所述辅助接收器与所述设备接收器所处的位置不同;所述装置包括:
存储有可执行程序代码的存储器;
与所述存储器耦合的处理器;
所述处理器调用所述存储器中存储的所述可执行程序代码,执行如权利要求1-7任一项所述的用于工程测高的激光校准方法。
10.一种激光校准系统,其特征在于,所述激光校准系统包括激光校准装置、扫平仪、施工设备、辅助接收器以及设置在所述施工设备上的设备接收器;所述辅助接收器与所述设备接收器所处的位置不同;所述激光校准装置用于执行如权利要求1-7任一项所述的用于工程测高的激光校准方法。
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