CN112582447A - 显示设备及其校正方法 - Google Patents

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Abstract

本发明揭示一种显示设备，其包括一发光装置、一感光层、一第一电子组件和一第二电子组件。该发光装置发出光，该发光装置具有许多发光单元。该感光层接收光并根据该接收到的光产生一第一信号。该第一信号对应于该发光单元的参数。该第一电子组件控制所述这些发光单元。该第二电子组件将该第一信号与对应于该发光单元的一预定参数的数据进行比较，并识别哪个发光单元相对于该预定参数具有不同参数。

Description

显示设备及其校正方法
技术领域
本发明是关于显示设备及其校正方法，尤其是关于有机发光显示设备。
背景技术
有机发光显示器(OLED)已广泛用于大多数高端电子设备中，尤其是主动矩阵型OLED(AMOLED)。AMOLED中的每个发光组件(即像素)均由薄膜晶体管(TFT)独立控制。像素需要电源供应信号线来加载直流输出电压(VDD)进行驱动，然而，由于用于所有像素的驱动电流由VDD提供，所以可能存在非期望的电阻，并且导致电源供应电压下降(IR压降)。该IR压降可能导致不同区域之间的电流差，从而导致亮度不均(即mura)现象。
此外，该AMOLED通过使电流流过有机材料膜来发光。随着时间的流逝，有机材料可能老化，同时，发光效率可能降低。此外，老化问题也是AMOLED的主要问题之一。因此，OLED行业正在寻找解决上述问题的途径。
发明内容
根据本公开的实施例，一种显示设备包括一发光装置、一感光层、一第一电子组件和一第二电子组件。该发光装置发出光，该发光装置具有许多发光单元。该感光层接收光并根据该接收到的光产生一第一信号。该第一信号对应于该发光单元的参数。该第一电子组件控制所述这些发光单元。该第二电子组件将该第一信号与对应于该发光单元的一预定参数之数据进行比较，并识别哪个发光单元相对于该预定参数具有不同参数。
根据本发明的另一种实施例，一种用于校正一显示设备之方法包括：(a)由许多发光装置发出一光线；(b)由一感光器接收该光线；(c)比较由该感光器所接收光线的一参数与一预定参数；(d)如果该发光单元的该参数不同于该预定参数，则将一发光单元确定为异常发光单元；以及(e)产生一校正信号以调整该异常发光单元的该参数。来自该发光单元的该光线朝着该感光器发射，或者来自该发光单元的该光线朝着覆盖该发光单元的物体发射并反射到该感光器。
附图说明
下面，将结合附图对本发明的优选实施方式进行进一步详细的说明，其中：
图1例示依照本发明中一些具体实施例的一显示设备的剖面图；
图2例示依照本发明中一些具体实施例的一发光装置的俯视图；
图3例示依照本发明中一些具体实施例的一发光装置的剖面图；
图4例示依照本发明中一些具体实施例的一发光装置的剖面图；
图5例示依照本发明中一些具体实施例显示用于执行指纹辨识的操作的流程图；以及
图6例示依照本发明中一些具体实施例显示用于执行校正的操作的流程图。
在整个附图和详细描述中使用共同的参考编号来指示相同或相似的组件。从下列详细说明并结合附图，将可对本发明有通盘的了解。
具体实施方式
下列说明提供用于实现本发明中不同特征的许多不同的具体实施例或范例。以下说明组件和配置的具体范例，以简化本发明。当然，这些仅为范例，而非限制性。例如，以下描述中在第二特征上或之上形成第一特征可包括其中第一和第二特征直接接触形成的具体实施例，并且也可包括其中可在第一与第二特征之间形成附加特征，使得第一和第二特征不直接接触的具体实施例。此外，本发明可在各个范例中重复参考编号及/或字母。该重复的目的在于简单和清楚，并且本身并不表示所讨论的各种具体实施例及/或配置之间的关系。
此外，本文可使用空间相关用语，例如「底下」、「下方」、「之下」、「上方」、「之上」等，以便于描述一个组件或特征与另一组件或特征的关系，如图中所示。除了图中所描绘方位之外，此类空间相关用语还涵盖装置于使用或操作中的不同方位。该设备可以其他方式定向(旋转90度或在其他方位上)，并且可相应地解释本文中使用的空间相关用语。
在此提供发光面板的具体实施例。该发光面板的结构可包括至少两个主要层。一层经配置以为包括发光装置数组并提供照明给该面板的一发光层。该发光装置可由有机或无机材料制成。另一层是电路层，其电链接至该发光层并且与该发光层垂直堆栈。电路层将电源和控制信号提供给该发光层，以便依需要显示颜色或图案。在一些具体实施例中，通过一光微影操作来决定该发光装置在该数组内的配置。
图1例示依照本发明中一些具体实施例的一显示设备1(或一显示面板)的剖面图。显示设备1包括一感光层10、一光学组件11、一发光装置12、一盖板13以及电子组件15和16。在一些具体实施例中，显示设备1可在诸如电视屏幕、计算机监视器、诸如智能电话、手持游戏机和PDA的可携式系统这类电子装置中使用或实现。显示设备1可为刚性或软性显示器。
感光层10可包括许多感光单元(或感光器)，例如：感光层10包括所述这些感光单元的数组，例如：感光层10包括M N感光单元，其中M和N为大于1的整数。感光层10经配置以根据由感光层10所接收该光线的光信号来输出电信号，例如：感光层10经配置以接收该光线，并将该光线的亮度转换成电信号。在一些具体实施例中，感光层10的每个感光单元可包括一或多个光敏电阻器(即，具有根据入射光而变化电阻值的组件)、光敏晶体管(即，根据入射光放大基极/栅极与集电极/发射极之间电流值的组件)及/或光电二极管。
光学组件11配置在感光层10上，以覆盖感光层10。光学组件11经配置以调节或改变通过光学组件11的该光线的特征(例如，入射角、频率、强度等)。在一些具体实施例中，光学组件11可以是或包括微透镜数组(MLA)、准直器、散射器或其组合。
发光装置12配置在光学组件11上。在一些具体实施例中，发光装置12可包括部分12a、12b和12c。在一些具体实施例中，部分12a、12b和12c可一体成型。另外，部分12a、12b和12c可为单独部件并已连接。部分12a配置在光学组件11的顶端表面上，部分12b配置在光学组件11和感光层10的侧表面上，部分12c配置在感光层10的底部表面上。在一些具体实施例中，发光装置12可只配置在光学组件11的顶端表面上。
在一些具体实施例中，发光装置12可包括许多发光单元(例如OLED或AMOLED)。例如，如图2所示，其例示发光装置12一部分的俯视图，根据本发明的一些具体实施例，发光装置12可包括许多发光单元125(也可称为发光像素)。在一些具体实施例中，发光单元125可以数组方式布置。例如：发光装置12可包括M N发光单元125，其中M和N为大于1的整数。在如图2所示的一些具体实施例中，发光装置12可包括一基板122以及配置其上的一发光层123。在一些具体实施例中，几个导电迹线可配置在基板122中，并形成电路以提供电流给发光层123。在一些具体实施例中，基板122可包括一TFT(薄膜晶体管)数组。
在一些具体实施例中，发光单元125可经配置以配置在基板122上的平台。在一些具体实施例中，发光单元125可经配置以在基板122的凹槽内。在一些具体实施例中，发光单元125可以数组方式布置。每个独立的发光单元都与其他相邻的发光单元分开。在一些具体实施例中，两相邻发光单元之间的分隔距离大约在2nm与100um之间。在一些具体实施例中，该分隔距离受控制为至少不大于约50um，使得发光单元125的密度可设计为至少大于700ppi或1200ppi。在一些具体实施例中，发光单元125具有一宽度W，介于大约2nm与大约500um之间。在一些具体实施例中，该宽度W不大于约2um。
图3例示依照本发明中一些具体实施例，沿图2内所示A-A'线的发光装置12的一像素(即发光单元125)的剖面图。如图2B所示，发光单元125可包括一TFT层121，在TFT层121上方的基板122以及在基板122上方的该发光层(包括电极127、128和有机层120)。在一些具体实施例中，发光装置12可包括基板122上方的许多凸块210和212。在一些具体实施例中，每个独立发光单元125都通过凸块210和212与其他相邻发光单元125分开。凸块210和212也称为像素定义层(PDL)。凸块210和212可形成为不同类型的形状。在一些具体实施例中，所述这些凸块具有弯曲的表面。在一些具体实施例中，所述这些凸块的形状为梯形。
在一些具体实施例中，电极127配置在基板122上与可在基板122之内延伸。电极128配置于电极127上方。有机层120配置在电极127和电极128之间。在一些具体实施例中，电极127、128和有机层120沿着垂直于基板122的顶表面122A的方向堆栈在基板122上。在一些具体实施例中，电极127由凸块210和212部分覆盖。在一些具体实施例中，电极210和212由有机层120和电极128部分覆盖。在一些具体实施例中，电极127和128分别具体实施为发光装置12的阳极和阴极。
在一些具体实施例中，有机层120可包括一第一类型载体注入层214、一第一类型载体传输层216、一有机发射层(EM)层218和一第二类型载体传输层220。
在一些具体实施例中，第一类型载体注入层214是电子注入层(EIL)，并且第一类型载体传输层216是电子传输层(ETL)。在一些具体实施例中，第一类型载体注入层214是空穴注入层(HIL)，并且第一类型载体传输层216是空穴传输层(HTL)。在一些具体实施例中，第二类型载体传输层220可为一空穴或电子传输层220。在一些具体实施例中，第二类型载体注入层220和第一类型载体传输层216分别设置用于相对类型的电荷。在一些具体实施例中，一第二类型载体注入层(图式内未显示)可进一步配置在第二类型载体传输层220之上。在一个具体实施例内，EM层218经配置以发出一波长范围的光。
在一定的电压驱动下，电子和空穴分别从阴极和阳极注入电子和空穴传输层216和220。电子和空穴分别从电子和空穴传输层216和220迁移到EM层218，并在EM层218中相互碰撞形成激子以激发该发射分子。
由于有机层120的固有特性，发光装置12可能包括老化、色斑(mura)、IR下降及/或退化的问题，这将不利地影响显示设备1的性能。在一些具体实施例中，可通过改变显示器中不同区域的亮度来补偿老化问题。在一些具体实施例中，可通过发光装置12中的补偿电路来补偿色斑和IR下降问题。例如，可通过Vth补偿电路缓解色斑问题，并且可通过VDD补偿电路缓解IR下降问题。然而，这种补偿电路连接到OLED面板(例如，发光装置12)的每个像素(例如，发光单元)。随着OLED面板像素数量增加，补偿电路的数量或复杂度也随之增加。这将增加OLED面板的面积和功耗。另外，难以同时解决老化、色斑、IR下降和劣化的问题。根据本发明的一些具体实施例，通过使用如图1所示显示设备1的电子组件15和16，可同时解决老化、色斑、IR下降和劣化的问题。
请参阅图1，电子组件16(晶粒或芯片)电连接至发光装置12。在一些具体实施例中，光学组件16可以是或包括一显示驱动器整合电路(DDIC)。在一些具体实施例中，电子组件16连接到发光装置12中每个发光单元125的驱动电路(例如，TFT层121)。电子组件16经配置以产生信号(例如，频率、控制信号等)，以控制发光装置12发出不同颜色的光，来实现显示影像的功能。例如，电子组件16经配置以控制驱动电路，以发送驱动电流(或电压)至发光装置12的每个发光单元125，并且发光单元125由驱动电流驱动，以发射具有与驱动电流大小相对应亮度的光。许多种电路可当成用于驱动发光单元125的驱动电路，例如，该驱动电路可包括许多晶体管与至少一个储存电容器。例如，驱动电路可包括表示为5T/1C型、4T/1C型、3T/1C型、2T/1C型等的驱动配置，其中T表示晶体管、C表示储存电容器。
电子组件15(晶粒或芯片)电连接至电子组件16。在一些具体实施例中，电子组件15可以是或包括一识别整合电路(IDIC)。电子组件15经配置以储存与发光装置12中每个发光单元125相对应的信息。例如，电子组件15可包括一内存，以储存与发光装置12中每个发光单元125的参数(例如，强度、颜色等)的默认值相对应的地址及/或数据。在其他具体实施例中，该内存可从电子组件15排除并电连接到电子组件15。电子组件15已连接到感光层10，以接收与由感光层10所侦测到的光的参数相对应的信号。由感光层10侦测到的光可从发光装置12或任何其他外部光源发射。
在一些具体实施例中，电子组件15经配置以将从感光层10接收到的信号与对应于储存在内存中发光单元125的信息(例如，强度或颜色)的数据进行比较。在某些发光单元125的参数与储存在内存中那些发光单元125的默认(或预定)值不同的情况下，电子组件15经配置以将那些发光单元125确定为异常发光单元125，并指示那些异常发光单元125的地址。
在一些具体实施例中，电子组件15经配置以当发现任何异常发光单元125时，产生信号(例如，补偿信号或校准信号)，并将补偿信号发送到电子组件16。在电子组件16从电子组件15接收到补偿信号之后，电子组件16经配置以控制驱动电路，以调节异常发光单元125的参数(例如，强度及/或颜色)。例如，电子组件16经配置以调节伽马电压，以保证异常发光单元125的伽马曲线与标准伽马曲线的一致性。在一些具体实施例中，可通过改变施加到异常发光单元125的电流或电压来实现调节。在其他具体实施例中，可在电子组件15发现任何异常发光单元125之后由电子组件16产生补偿信号。在一些具体实施例中，电子组件15和16可整合成单一电子组件(例如芯片或晶粒)。
在一些具体实施例中，电子组件15可包括一指纹识别/辨识电路。电子组件15经配置以将由感光层10侦测到的指纹信息与储存在内存中的指纹信息进行比较，并且确定侦测到的指纹是否已授权。
盖板13配置在发光装置12上。在一些具体实施例中，盖板13由透光材料(例如，玻璃)形成或包括该透光材料，以允许由发光装置12产生的光穿过。
图4例示依照本发明中一些具体实施例的发光装置的一像素(即发光单元125')的剖面图。发光单元125'类似于图3中的发光单元125，除了发光单元125'还包括感光区域36之外。
发光区域36配置在基板122之内。在一些具体实施例中，发光单元125'可包括基板122内的许多感光区域36。感光区域36经配置以接收该光线，并依照该已接收光线输出电或光信号。在一些具体实施例中，该感光区域可包括一或多个光敏电阻器(即，具有根据入射光而变化电阻值的组件)、光敏晶体管(即，根据入射光放大基极/闸极与集极/射极之间电流值的组件)及/或光电二极管。
在一些具体实施例中，图3中发光装置12的发光单元125可用图4中的发光单元125'代替。在这种具体实施例中，可省略图1中显示设备1的感光层10。这可降低显示设备1的厚度。在其他具体实施例中，图3中发光装置12的发光单元125可由任何其他发光单元代替。
在一定的电压驱动下，发射层218形成激子以激发所述这些发射光。一部分发射光由感光区域36接收。通过感光区域36将发射光转换为数据信息。在一些具体实施例中，在感光区域36中吸收的发射光转换成电荷载体。在一些具体实施例中，所述这些电荷载体可为正或负。电荷载体流到接触塞，以将关于发射光特性的信息传递到TFT层121中的电路，来进行进一步处理及/或输出。
在一些具体实施例中，感光区域36通过接触塞链接至另一个半导体装置，例如晶体管。数据信息从晶体管传输到TFT层121中的电路。
在一些具体实施例中，通过TFT层121中的功能模块，将发射光的特性与标准值(预定值或默认值)进行比较。在一些具体实施例中，比较发射光的段落(例如，强度、亮度、颜色等)。在一些具体实施例中，由于在发光装置12的操作期间由感光区域36感测到发射光，所以可立即且准确地侦测到发射光的特性。在一些具体实施例中，如果特性偏离标准值，则可及时补偿电压。例如，如果侦测到发射光的亮度低于标准值，则TFT层121可作用来增加发射该发射光的像素的电压。
图5例示依照本发明中一些具体实施例显示用于执行指纹辨识的操作的流程图。在一些具体实施例中，图5中所示的操作可由图1内所示的显示设备1实现。另外，图5中所示的操作可由任何其他装置或电子装置实现。
请参阅操作S51，启动指纹辨识模式。在一些具体实施例中，可通过从包括显示设备1的系统所接收的命令来启动指纹辨识模式。例如，指纹辨识模式可由用户启动，以操作系统中的某些软件(或应用程序)或输入一些命令。在一些具体实施例中，当已启动指纹辨识模式，则将关闭校正模式。
请参阅操作S52，光朝着一或多个手指发射。在一些具体实施例中，电子组件16经配置以控制发光装置12向按在盖板13上的手指发射该光线。
请参阅操作S53，侦测或接收该(等)手指所反射的光线，以获得光信号。在一些具体实施例中，反射光由感光层10接收，以获得光信号(例如，强度、颜色等)。
请参阅操作S54，将光信号转换为电信号。在一些具体实施例中，感光层10经配置以根据由感光层10所接收该光线来输出电信号，例如，感光层10经配置以接收该光线，并将该光线的亮度转换成电信号。例如，电信号对应于由感光层10所接收光线的参数。在一些具体实施例中，感光层10另经配置以基于与反射光相对应的光信号，来检测手指在盖板13上的位置。在一些具体实施例中，感光层10经配置以将电信号传输到电子组件15。
请参阅操作S55，根据所述这些电信号辨识指纹。在一些具体实施例中，电子组件15经配置以将对应至由感光层10侦测到的指纹信息的所述这些电信号与对应至储存在内存中的指纹信息的数据进行比较，并且确定侦测到的指纹是否已授权。
图6例示依照本发明中一些具体实施例显示用于执行发光单元的校正(或补偿)的操作流程图。在一些具体实施例中，图6中所示的操作可由图1内所示的显示设备1实现。另外，图6中所示的操作可由任何其他显示设备或电子装置实现。
请参阅操作S61，启动校正模式。在一些具体实施例中，可通过从包括显示设备1的系统所接收的命令来启动校正模式。例如，该补偿模式可由用户启动，以操作系统中某些软件(或应用程序)或输入一些命令(例如，重新启动系统或进入工程模式)。在一些具体实施例中，当已启动校正模式，则将关闭指纹辨识模式。在一些具体实施例中，启动校正模式以消除或减轻显示设备1的异常发光单元125或125'(其可能包括老化、色斑、IR下降、退化等问题)。
请参阅操作S62，控制发光装置12发光。在一些具体实施例中，电子组件16经配置以控制发光装置12发光。在一些具体实施例中，从发光装置12发射的光可为黑白(或灰阶)光。在一些具体实施例中，从发光装置12发射的光可以是或包括2N位灰阶，其中N为大于1的整数。
在一些具体实施例中，从发光装置12发射的光朝向配置在盖板13上的物体(例如，反射板、镜子等)发射，以完全覆盖发光装置12来反射该光线。在一些具体实施例中，从发光装置12发射的光直接朝向显示设备1的感光层10或发光单元125'的感光区域36。
请参阅操作S63，接收或侦测由发光装置12发射的光或由物体反射的光，以获得光信号。在一些具体实施例中，感光层10(或感光区域36)经配置以接收从物体反射的光或从发光装置12直接朝感光层10(或感光区域36)发射的光。在一些具体实施例中，感光层10(或感光区域36)经配置以根据该已接收的光，获得与发光装置12中每个发光单元125(或发光单元125')的信息相对应的光信号。
请参阅操作S64，将光信号转换为电信号。在一些具体实施例中，感光层10(或感光区域36)经配置以根据由感光层10(或感光区域36)所接收该光线来输出电信号，例如，感光层10(或感光区域36)经配置以接收该光线，并将该光线的亮度转换成电信号。例如，电信号对应于由感光层10(或感光区域36)所接收光线的参数。在一些具体实施例中，感光层10(或感光区域36)经配置以将电信号传输到电子组件15。
请参阅操作S65，将与发光装置12中每个发光单元125(或发光单元125')的信息或参数(例如，强度，颜色等)相对应的电信号，与发光装置12中每个发光单元125(或发光单元125')的预定(默认或标准)信息的数据相比较，以检查其间是否存在任何差异。
在某些发光单元125(或发光单元125')的参数与储存在内存中的默认值不同的情况下，确定那些发光单元125(或发光单元125')如操作S66所示成为异常发光单元125(或异常发光单元125')。此外，另指示那些异常发光单元125(或异常发光单元125')的地址。在并无发光单元125(或多个发光单元125')被确定为异常的情况下，完成校正模式。在一些具体实施例中，通过电子组件15完成该比较操作。
请参阅操作S67，如果发现任何异常发光单元125(或异常发光单元125')，则产生补偿或校正信号。在一些具体实施例中，校正信号可由电子组件15生成，然后发送到电子组件16。另外，该校正信号也可由电子组件16产生。
请参阅操作S68，基于校正信号调整异常发光单元125(或异常发光单元125')的参数(例如，强度及/或颜色)。在一些具体实施例中，电子组件16经配置以通过改变施加到异常发光单元125(或异常发光单元125')的电流或电压来控制驱动电路，以调整异常发光单元125(或异常发光单元125')的参数。例如，电子组件16经配置以调节伽马电压，以保证异常发光单元125的伽马曲线与标准伽马曲线的一致性。例如，如果发光单元的强度(其将被确定为异常)大于发光单元强度的预定值，则电子组件16经配置以控制该发光单元的驱动电路，以减小施加到该发光单元的电压或电流，反之亦然。
根据如本发明中图1至图6所示的具体实施例，可同时校正、消除或减轻老化、色斑、IR下降和退化的问题。另外，可仅通过使用显示设备1内的组件(例如，感光层10、发光装置12、电子组件15和16)来执行针对异常像素的校正操作，因此可由末端使用者执行校正操作，这将简化显示设备1的校正操作。
如本文中所使用，术语「大体上」、「实质上」、「大约」和「约」用于表示和说明微小变化。例如，当与数值结合使用时，这些术语可指的是小于或等于该数值±10％的变化范围，例如小于或等于±5％、小于或等于±4％、小于或等于±3％、小于或等于±2％、小于或等于±1％、小于或等于±0.5％、小于或等于±0.1％或小于或等于±0.05％。根据另一范例，「大体上均匀」的膜或层厚度可指的是小于或等于膜或层的平均厚度±10％的标准偏差，例如小于或等于±5％、小于或等于±4％、小于或等于±3％、小于或等于±2％、小于或等于±1％、小于或等于±0.5％、小于或等于±0.1％或小于或等于±0.05％。术语「大体上共面」可指的是沿着同一平面位于50μm以内的两表面，例如沿着同一平面位于40μm以内、30μm以内、20μm以内、10μm以内或1μm以内。如果两个组件重叠或在200μm之内、150μm之内、100μm之内、50μm之内、40μm之内、30μm之内、20μm之内、10μm之内或1μm之内，则这两个组件可认为是「大体上对齐」。如果两个表面或组件之间的角度例如为90°±10°，例如，±5°、±4°、±3°、±2°、±1°、±0.5°、±0.1°或±0.05°，则可认为是「大体上垂直」。当与事件或情况结合使用时，术语「大体上」、「实质性」、「大约」和「约」可指事件或情况准确发生的情况，以及事件或情况非常接近发生的情况。
在一些具体实施例的描述中，一组件提供在另一组件「上」可包括前者组件直接在后者组件上(例如与之物理接触)的情况，以及一或多个中间组件位于前者组件与后者组件之间的情况。
另外，数量、比率和其他数值有时在本文中以范围格式呈现。可以理解，这样的范围格式是为了方便和简洁而使用，并且应该灵活地理解为不仅包括明确指定为范围限制的数值，而且包括该范围内包括的所有单一数值或子范围，好像每个数值和子范围均已明确指定。
尽管已经参考本发明的特定具体实施例描述和说明本发明，但是这些描述和说明并不限制本发明。精通技术人士可清楚理解，在不脱离由申请专利范围限定的本发明真实精神和范围的情况下，可进行各种改变，并且可在具体实施例内替换等同要素。图式未依照比例绘制。由于制程等的变化，在本发明中的工艺表现形式与实际设备之间可能存在区别。可能存在未具体示出的本发明其他具体实施例，因此规格与图式仅供参考而不做限制。可进行修改，以使特定情况、材料、物质组成、方法或过程适应于本发明目的、精神和范围。所有这些修改旨在位于申请专利范围内。尽管已经参考以特定顺序执行的特定操作，来描述本文所揭示的方法，但是可以理解，在不脱离本发明教导的情况下，可将这些操作组合、细分或重新排序以形成等效方法。因此，除非本文特别指出，否则操作的顺序和分组并非本发明的限制。
【符号说明】
1:显示设备
10:感光层
11:光学组件
12:发光装置
12a,12b,12c:部分
13:盖板
15,16:电子组件
36:感光区域
120:有机层
121:TFT层
122:基板
122A:顶表面
123:发光层
125:发光单元
125':发光单元
127,128:电极
210,212:凸块
214:第一类型载体注入层
216:第一类型载体传输层
218:有机发射层
220:第二类型载体传输层

Claims (21)

1.一种显示设备，包括：
一发光装置，其经配置以发光，该发光装置具有许多发光单元；
一感光层，其经配置以接收该光并根据该接收到的光产生一第一信号，该第一信号对应至所述这些发光单元的一参数；
一第一电子组件，其经配置以控制所述这些发光单元；以及
一第二电子组件，其经配置以将该第一信号与对应于所述这些发光单元的一预定参数的数据进行比较，并识别哪个发光单元相对于该预定参数具有一不同参数。
2.如权利要求1所述的显示设备，其中该第二电子组件经配置以将相对于该预定参数具有该不同参数的该发光单元确定为一异常发光单元。
3.如权利要求2所述的显示设备，其中该第二电子组件经配置以识别该异常发光单元的一地址。
4.如权利要求2所述的显示设备，其中该第二电子组件经配置以产生用于该异常发光单元的一校正信号，并将该校正信号传输至该第一电子组件。
5.如权利要求4所述的显示设备，其中该第一电子组件经配置以根据该校正信号，调整该异常发光单元的该参数。
6.如权利要求5所述的显示设备，其中该第一电子组件经配置以调整施加至该异常发光单元的一电流或电压。
7.如权利要求2所述的显示设备，其中该第一电子组件经配置以产生一校正信号给该异常发光单元。
8.如权利要求7所述的显示设备，其中该第一电子组件经配置以根据该校正信号，调整该异常发光单元的该参数。
9.如权利要求8所述的显示设备，其中该第一电子组件经配置以调整施加至该异常发光单元的一电流或电压。
10.如权利要求2所述的显示设备，其中该第二电子组件经配置以调节该异常发光单元的一伽马电压，以保证该异常发光单元的该伽马曲线与一标准伽马曲线的一致性。
11.如权利要求1所述的显示设备，其中该发光装置与该感光层彼此分隔。
12.如权利要求11所述的显示设备，另包括配置在该发光装置与该感光层之间的一微透镜数组(MLA)、一准直器及/或一扩散器。
13.如权利要求1所述的显示设备，其中该感光层整合在该发光装置的所述这些发光单元每一者之内。
14.如权利要求1所述的显示设备，其中该第一电子组件与该第二电子组件整合在一芯片或一晶粒之内。
15.如权利要求1所述的显示设备，其中该参数包括强度或颜色。
16.如权利要求1所述的显示设备，其中来自该发光装置的该光线朝向该感光层发射。
17.如权利要求1所述的显示设备，其中来自该发光装置的该光线朝向覆盖该发光装置的一物体发射，并反射到该感光层。
18.一种用于校正一显示设备的方法，包括：
(a)由许多发光装置发出一光线；
(b)由一感光器接收该光线；
(c)比较由该感光器所接收光线的一参数与一预定参数；
(d)如果该发光单元的该参数不同于该预定参数，则将一发光单元确定为一异常发光单元；
(e)产生一校正信号以调整该异常发光单元的该参数，
其中来自所述这些发光单元的该光线朝着该感光器发射，或者来自所述这些发光单元的该光线朝着覆盖所述这些发光单元的一物体发射并反射到该感光器。
19.如权利要求18所述的方法，另包括识别该异常发光单元的一地址。
20.如权利要求18所述的方法，其中该参数包括强度或颜色。
21.如权利要求18所述的方法，其中操作(e)另包括调节该异常发光单元的一伽马电压，以保证该异常发光单元的该伽马曲线与一标准伽马曲线的一致性。
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