CN112526278A - 用于光模块老化测试的转接装置、光模块老化装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种用于光模块老化测试的转接装置、光模块老化装置及方法，其中，所述转接装置用于将老化电源的电压转换为并联的若干个光模块中每一光模块对应的供电电压，按照光模块测试逻辑对各光模块实现逐个上电并通信；其中，处理模块根据转接装置的上电信号按照光模块测试逻辑依次使能连接光模块的每一个降压模块，实现逐个降压模块对光模块的上电；处理模块接收控制板的测试完毕指令，断开第一开关模块实现转接装置断电，且按照所述光模块测试逻辑依次关闭每一个降压模块的电压输出端口，以逐个断开光模块。本发明的转接装置应用于光模块老化测试中，能够解决现有光模块上电/断电时的浪涌电流的问题。

Description

用于光模块老化测试的转接装置、光模块老化装置及方法

技术领域

本发明涉及光通信技术领域，尤其涉及一种用于光模块老化测试的转接装置、光模块老化装置及方法。

背景技术

随着光通信技术的发展和日趋广泛的运用，光网络的稳定性以及可靠性更加凸显，由于光网络品质很大程度上受到光模块质量的影响，因而进行批量生产时，通过对光模块进行老化，提前暴露出会在寿命终止前出现异常的光模块。

传统光模块老化板，插上电源接头后，打开机械开关，一块老化板上的所有光模块瞬间同时上电，由于可插拔光模块存在浪涌电流（虽然光模块内部做了缓启动电路，也只能减缓浪涌电流到一定程度，却无法完全消除），这么多个光模块的浪涌电流叠在在一起，将会对供电设备造成极大的冲击，另外由于多个光模块同时上电瞬间，电源线路上的压降过大，导致光模块无法获得合适的供电电压，会造成光模块内部芯片的损伤，在老化结束后，再切换机械开关至断开状态，此时，所有的光模块又是同时断电，根据U=-L*(di/dt)，此时会产生极大的反向冲击电压，即使有些高端供电电源有着较好的浪涌抑制电路，但也很难经受得住浪涌电流得频繁冲击，更何况有些电源设备本身抗浪涌能力较弱，再加上光模块的功耗越来越大，个体光模块在上电/断电时的浪涌电流也显著增加，这更加剧了这种破坏性的冲击力度，再者打开和闭合机械开关时，由于瞬间的高压，会产生电弧，造成打火现象。

传统老化板方案的另外一个显著缺点是无法时刻保证每个光模块的供电电压稳定在3.3v。

发明内容

（一）要解决的技术问题

鉴于现有技术的上述缺点、不足，本发明提供一种用于光模块老化测试的转接装置、光模块老化装置及方法。

（二）技术方案

为了达到上述目的，本发明采用的主要技术方案包括：

第一方面，本实施例提供一种用于光模块老化测试的转接装置，所述转接装置用于将老化电源的电压转换为并联的若干个光模块中每一光模块对应的供电电压，且按照光模块测试逻辑对各光模块实现逐个上电并通信；

其中，所述转接装置包括：连接外部控制板的处理模块，用于控制转接装置上电的第一开关模块、多个降压模块，每一降压模块的电压输出端口连接一个光模块；

所述处理模块接收控制板的上电指令，使能第一开关模块实现转接装置上电，所述处理模块根据转接装置的上电信号按照所述光模块测试逻辑依次使能连接光模块的每一个降压模块，实现逐个降压模块对光模块的上电；

所述处理模块接收控制板的测试完毕指令，断开第一开关模块实现转接装置断电，且按照所述光模块测试逻辑依次关闭每一个降压模块的电压输出端口，以逐个断开光模块。

优选的，所述处理模块包括：

第一指示灯模块，在处理模块上电时所述第一指示灯模块亮；

直流电源接口，用于连接所述外部控制板，以接通直流电源；

通信接口，用于与外部控制板通信，且用于与第一开关模块的信号输出端口连接，以获取转接装置的上电信号；

对应第一开关模块的第一类使能接口，用于连接所述第一开关模块的使能端，且在处理模块上电后，向所述第一开关模块发送使能信号；

对应每一降压模块的第二类使能接口，用于连接对应的降压模块的使能端；

处理单元，所述处理单元连接指示灯模块、通信接口、第一类使能接口和第二类使能接口，所述处理单元在所述转接装置上电后按照所述光模块测试逻辑依次向各第二类使能接口发送使能信号。

优选的，所述第一开关模块包括：

第一电子开关和第一降压电路；

所述第一电子开关接收所述处理模块通过第一类使能接口发送的使能信号，使得所述第一降压电路与所述老化电源连通，且所述第一降压电路的电压输出端口输出用于表示转接装置上电的第一类电压。

优选的，每一个降压模块包括，使能端、电源端、电压输出端口和第二降压电路；

所述降压模块的使能端接收到使能信号后，电源端与所述老化电源连通，所述第二降压电路将老化电源的电压转换为3.3V供电电压，并通过所述降压模块中的电压输出端口输出。

优选的，每一个降压模块还包括：

第二指示灯模块，在所述降压模块与老化电源连通时所述第二指示灯模块亮。

第二方面，本实施例提供一种光模块老化装置，包括上述任一所述用于光模块老化测试的转接装置，控制板和老化电源；

其中，所述老化电源的电压在0V至30V之间；

所述老化电源连接所述转接装置中的第一开关模块和所有的降压模块；

所述控制板连接所述转接装置中的处理模块。

优选的，所述控制板包括：

第二电子开关、直流电源以及控制装置；

所述第二电子开关用于控制所述处理模块与所述直流电源的通断；

所述控制装置根据老化程序的信号与所述处理模块通信。

第三方面，本实施例还提供一种基于上述的光模块老化装置的测试方法，包括：

S1、将待老化的光模块插接在所述转接装置中降压模块的电压输出端口，且将所述转接装置与老化电源插接；

S2、将插接所述光模块的转接装置放入烘箱中；

S3、基于老化程序借助于控制板对所述转接装置的处理模块上电；

S4、所述转接装置的处理模块上电后，给第一开关模块发送使能信号，使能第一开关模块实现转接装置上电，并当所述转接装置的上电后按照所述光模块测试逻辑依次使能连接光模块的每一个降压模块，以输出光模块使用的3.3V供电电压；以及断开第一开关模块的使能信号，并按照光模块测试逻辑依次关闭每一个降压模块。

优选的，还包括：

S5、断开所述转接装置与所述老化电源，并从烘箱中取出所述转接装置。

优选的，所述处理模块借助于通信接口与每一光模块连接，以获取每一光模块在老化过程中的信息。

（三）有益效果

本发明的有益效果是：本发明的一种用于光模块老化测试的转接装置，由于所述处理模块能够使能第一开关模块实现转接装置上电，所述处理模块根据转接装置的上电信号按照所述光模块测试逻辑依次使能连接光模块的每一个降压模块，实现逐个降压模块对光模块的上电；所述处理模块能够断开第一开关模块实现转接装置断电，且按照所述光模块测试逻辑依次关闭每一个降压模块的电压输出端口，以逐个断开光模块，因此应用于老化测试中能解决传统的光模块老化板上电时的浪涌冲击；还能解决传统的光模块老化板断电时的浪涌冲击。

本发明中的一种光模块老化装置采用第一电子开关和第二电子开关取代了传统的机械开关，因此消除开关切换时的打火现象。

其次，在本发明中的一种光模块老化装置中，每一个光模块都与一个降压模块连接，因此能够保证每个光模块的供电电压都稳定在3.3v，消除供电过高或者过低之异常。

本发明的光模块老化测试方法，由于采用本发明中的一种光模块老化装置，因此能够在光模块老化测试过程中，避免光模块老化板上电或断电时的浪涌冲击，以及保证了每个光模块的供电电压都稳定在3.3v。

附图说明

图1为本发明的一种用于光模块老化测试的转接装置的结构示意图；

图2为本发明实施例中插接待老化光模块的转接装置的结构示意图；

图3为本发明的一种光模块老化装置示意图；

图4为本发明实施例中插接有待老化光模块的老化装置示意图；

图5为本发明的一种光模块老化测试方法的流程图。

附图标记说明

101：直流电源接口；

102：第一类使能接口；

103：第二类使能接口；

104：通信接口；

105：电源端；

106：使能端；

107：电压输出端口。

具体实施方式

为了更好的解释本发明，以便于理解，下面结合附图，通过具体实施方式，对本发明作详细描述。

为了更好的理解上述技术方案，下面将参照附图更详细地描述本发明的示例性实施例。虽然附图中显示了本发明的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本发明而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更清楚、透彻地理解本发明，并且能够将本发明的范围完整的传达给本领域的技术人员。

在本发明实施例中，端口、接口和端均指的是电路的接口或集成有指定电路的芯片的引脚，本发明实施例中为描述方便不同位置使用了不同的用语。

本实施例提供一种用于光模块老化测试的转接装置，本实施例中的转接装置可用于将老化电源的电压转换为并联的若干个光模块中每一光模块对应的供电电压，且按照光模块测试逻辑对各光模块实现逐个上电并通信。

当前光模块所使用的供电电压为3.3V，当然，在其他实施例中，还可以是其他的电压，本实施例并不限定转接装置的每一降压模块输出的供电电压值。

参见图1，本实施例的转接装置可包括：连接外部控制板的处理模块，用于控制转接装置上电的第一开关模块、多个降压模块，每一降压模块的电压输出端口连接一个光模块即插接待老化的光模块。

所述处理模块接收控制板的上电指令，使能第一开关模块实现转接装置上电，所述处理模块根据转接装置的上电信号按照所述光模块测试逻辑依次使能连接光模块的每一个降压模块，实现逐个降压模块对光模块的上电。

所述处理模块接收控制板的测试完毕指令，断开第一开关模块实现转接装置断电，且按照所述光模块测试逻辑依次关闭每一个降压模块的电压输出端口，以逐个断开光模块。

通过上述实施例的转接装置，实现对每一光模块的的依次测试，进而能够有效解决现有技术中光模块上电/断电时的浪涌冲击，且可以实现对多个光模块的老化测试。

具体地，参见图2所示，在本实施例的实际应用中，所述处理模块可包括：

第一指示灯模块，在处理模块上电时所述第一指示灯模块亮，如图2中的LED -B和电阻R-B。当LED-B灯亮时，表示外部的直流电源与处理模块连通了。

直流电源接口101，用于连接所述外部控制板，以接通直流电源，如图2中的通过MCU-2中的VCC引脚也就是直流电源接口101，经过控制板连接直流电源。

通信接口104，用于与外部控制板通信，且用于与第一开关模块的信号输出端口连接，以获取转接装置的上电信号。如图4所示，通过通信接口104也就是MCU-2中的ADC引脚连接控制板中的MCU-1。

对应第一开关模块的第一类使能接口102，用于连接所述第一开关模块的使能端106，且在处理模块上电后，向所述第一开关模块发送使能信号。如图2所示，在本实施例的实际应用中，对应第一开关模块的第一类使能接口102即为集成在MCU-2中的IO-0引脚。本实施例中的使能信号也就是高电平信号。

对应每一降压模块的第二类使能接口103，用于连接对应的降压模块的使能端106。如图2所示，在本实施的实际应用中，对应每一降压模块的第二类使能接口103即为集成在MCU-2中的IO-0至IO-n引脚。处理单元，所述处理单元连接指示灯模块、通信接口104、第一类使能接口102和第二类使能接口103，所述处理单元在所述转接装置上电后按照所述光模块测试逻辑依次向各第二类使能接口103发送使能信号。

参见图2，在本实施例的实际应用中，处理单元与通信接口104、第一类使能接口102和第二类使能接口103连接，并都集成在MCU-2中，并且，指示灯模块与MCU-2中的VCC引脚连接，其中，通信接口104即为集成在MCU-2中的ADC引脚，第一类使能接口102即为集成在MCU-2中的IO-0引脚，第二类使能接口103即为集成在MCU-2中的IO-0至IO-n引脚，也就是说，第二类使能接口103具有n个。本实施例中的降压模块为具有降压功能的降压电路，此电路是否集成在芯片上，对此本发明并不做限定。

在本实施例的实际应用中，所述第一开关模块包括：

第一电子开关和第一降压电路。

参见图2，在本实施例的实际应用中，第一降压电路能够将所述老化电源的电压转化为表示转接装置上电的第一类电压，在具体的应用中，第一降压电路包括了一个集成有初步降压电路的芯片A和分压电阻Ra，其中芯片A的电压输出端与分压电阻Ra电压输入端连接，分压电阻Ra的电压输出端与处理模块连接，具体的分压电阻Ra的电压输出端与MCU-2中的ADC引脚连接，这个芯片A中集成的初步降压电路和分压电阻Ra共同构成了第一降压电路。本实施例中，芯片A的VCC引脚和EN引脚分别与所述第一电子开关的输出端连接，芯片A的OUT引脚与分压电阻Ra电压输入端连接。

所述第一电子开关接收所述处理模块通过第一类使能接口102发送的使能信号，使得所述第一降压电路与所述老化电源连通，且所述第一降压电路的电压输出端口输出用于表示转接装置上电的第一类电压。

本实施例实际应用中，芯片A配合分压电阻Ra，在分压电阻Ra的输出端得到0V~3.3v之间任意一个确定的表示转接装置上电的第一类电压，比如1.5v。

在本实施例的实际应用中第一开关模块还包括：第三指示灯模块，在所述第一降压电路与所述老化电源连通时所述第三指示灯模块亮，如图2中的LED -A和电阻R-A。当LED-A灯亮时，表示电子开关1已经打开，外部的老化电源已与芯片A连接通电。

本实施例中，每一个降压模块包括，使能端106、电源端105、电压输出端口107和第二降压电路。

参见图2，在本实施例中降压模块为集成有使能端106、电源端105、电压输出端口107和第二降压电路的降压芯片，在降压芯片中VCC引脚即为电源端105，降压芯片中EN引脚即为使能端106，降压芯片中OUT引脚即为电压输出端口107。

所述降压模块的使能端106接收到使能信号后，电源端105与所述老化电源连通，所述第二降压电路将老化电源的电压转换为3.3V供电电压，并通过所述降压模块中的电压输出端口107输出。

本实施例中，每一个降压模块还包括：

第二指示灯模块，在所述降压模块与老化电源连通时所述第二指示灯模块亮，如图2中的LED -n和电阻Rn。

本实施例中的一种光模块老化测试的转接装置，由于所述处理模块能够使能第一开关模块实现转接装置上电，所述处理模块根据转接装置的上电信号按照所述光模块测试逻辑依次使能连接光模块的每一个降压模块，实现逐个降压模块对光模块的上电；所述处理模块能够断开第一开关模块实现转接装置断电，且按照所述光模块测试逻辑依次关闭每一个降压模块的电压输出端口，以逐个断开光模块，因此能解决传统的光模块老化板上电时的浪涌冲击；还能解决传统的光模块老化板断电时的浪涌冲击。

第二方面，参见图3，本实施例还提供一种光模块老化装置，包括上述任一的用于光模块老化测试的转接装置，控制板和老化电源。

其中，所述老化电源的电压在0V至30V之间。

所述老化电源连接所述转接装置中的第一开关模块和所有的降压模块。

所述控制板连接所述转接装置中的处理模块。

本实施例中，所述控制板包括：

第二电子开关、直流电源以及控制装置。

参见图4，在本实施的的实际应用中，第二电子开关即为电子开关2。电子开关2与直流电源和控制装置连接。

所述第二电子开关用于控制所述处理模块与所述直流电源的通断。

所述控制装置根据老化程序的信号与所述处理模块通信。

参见图4，在本实施的的实际应用中，控制装置即为MCU-1。

在本实施例的实际应用中，老化电源可以输出0V至30V之间的电压给到转接装置。

直流电源供电给控制板。

电子开关1控制芯片A输出端口的通或断。

电子开关2控制MCU-2的通电或者断电。

MCU-1使能电子开关2，并监控所有待老化光模块在老化过程中的数据。

MCU-2控制电子开关1通或断和降压芯片1至降压芯片N的电压输出端口的关闭或打开。

芯片A配合分压电阻Ra，在分压电阻Ra的电压输出端得到0~3.3v之间任意一个确定的电压值。

降压芯片1至降压芯片n给待老化光模块提供稳定的3.3v供电电压，并控制每个光模块间隔分开上电或者断电。

当LED1至LEDn逐个亮，可以直观显示各个待老化光模块逐个上电的过程；当LED1至LEDn逐个熄灭，可以直观显示各个待老化光模块逐个断电。

本实施例中的一种光模块老化装置采用第一电子开关和第二电子开关取代了传统的机械开关，因此消除开关切换时的打火现象。每一个光模块都与一个降压模块连接，因此能够保证每个光模块的供电电压都稳定在3.3v，消除供电过高或者过低之异常。

第三方面，参见图5，本实施例还提供一种基于上述的光模块老化装置的测试方法，包括：

S1、将待老化的光模块连接在所述转接装置中降压模块的电压输出端口，且将所述转接装置与老化电源插接。

S2、将所述转接装置放入烘箱中。

S3、基于老化程序借助于控制板对所述转接装置的处理模块上电。

在本实施例的实际应用中，S3的具体实现为基于老化程序和控制板上的MUC-1，使能电子开关2，给转接装置中降压模块上电，具体的是给转接装置中降压模块中MCU-2上电。

S4、所述转接装置的处理模块上电后，给第一开关模块发送使能信号，使能第一开关模块实现转接装置上电，并当所述转接装置的上电后按照所述光模块测试逻辑依次使能连接光模块的每一个降压模块，以输出光模块使用的3.3V供电电压；以及断开第一开关模块的使能信号，并按照光模块测试逻辑依次关闭每一个降压模块。

本实施例中转接装置的处理模块上电后，给第一开关模块发送的使能信号为高电平。

参见图4，在本实施例的实际应用中S4的具体实现过程为：

处理模块中MCU-2上电后，设置IO-0为高电平，使能电子开关1。

电子开关1使能后，芯片A配合分压电阻Ra，使得MCU-2的ADC引脚得到一个确定的电压值，比如1.5V，MCU-2读取到此电压值即探测到转接装置上电了。

MCU-2探测到转接装置上电后，依次使能IO-1至IO-n，也即逐个使能降压芯片1至降压芯片n，从而实现逐个给光模块1至光模块n上电，避免了同时上电。

当老化程序侦测到老化时间到达后，向处理模块中的MCU-2下达指令，设置IO-0为低电平，从而断开电子开关1，进而断开芯片A的输出电压，使得MCU-2的ADC引脚的电压为0V。

当MCU-2侦测到ADC引脚的电压为0V，即可判断老化时间结束，则MCU-2逐个拉低IO-1至IO-n，从而关闭降压芯片1至降压芯片n的输出端口，进而逐个断开每个光模块的上电，避免所有的光模块同时断电。

本实施例中，还包括：

S5、断开所述转接装置与所述老化电源，并从烘箱中取出所述转接装置。

本实施例中优选的，所述处理模块借助于通信接口与每一光模块连接，以获取每一光模块在老化过程中的信息。

本实施例中的光模块老化测试方法，由于采用本发明中的一种光模块老化装置，因此能够在光模块老化测试过程中，避免光模块老化板上电或断电时的浪涌冲击，以及保证了每个光模块的供电电压都稳定在3.3v。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连；可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征 “上”或“下”，可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”，可以是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”，可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度低于第二特征。

在本说明书的描述中，术语“一个实施例”、“一些实施例”、“实施例”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述，是指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行改动、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种用于光模块老化测试的转接装置，其特征在于，所述转接装置用于将老化电源的电压转换为并联的若干个光模块中每一光模块对应的供电电压，且按照光模块测试逻辑对各光模块实现逐个上电并通信；

其中，所述转接装置包括：连接外部控制板的处理模块，用于控制转接装置上电的第一开关模块、多个降压模块，每一降压模块的电压输出端口连接一个光模块；

所述处理模块接收控制板的上电指令，使能第一开关模块实现转接装置上电，所述处理模块根据转接装置的上电信号按照所述光模块测试逻辑依次使能连接光模块的每一个降压模块，实现逐个降压模块对光模块的上电；

所述处理模块接收控制板的测试完毕指令，断开第一开关模块实现转接装置断电，且按照所述光模块测试逻辑依次关闭每一个降压模块的电压输出端口，以逐个断开光模块。

2.根据权利要求1所述的转接装置，其特征在于，所述处理模块包括：

第一指示灯模块，在处理模块上电时所述第一指示灯模块亮；

直流电源接口，用于连接所述外部控制板，以接通直流电源；

通信接口，用于与外部控制板通信，且用于与第一开关模块的信号输出端口连接，以获取转接装置的上电信号；

对应第一开关模块的第一类使能接口，用于连接所述第一开关模块的使能端，且在处理模块上电后，向所述第一开关模块发送使能信号；

对应每一降压模块的第二类使能接口，用于连接对应的降压模块的使能端；

处理单元，所述处理单元连接指示灯模块、通信接口、第一类使能接口和第二类使能接口，所述处理单元在所述转接装置上电后按照所述光模块测试逻辑依次向各第二类使能接口发送使能信号。

3.根据权利要求2所述的转接装置，其特征在于，所述第一开关模块包括：

第一电子开关和第一降压电路；

所述第一电子开关接收所述处理模块通过第一类使能接口发送的使能信号，使得所述第一降压电路与所述老化电源连通，且所述第一降压电路的电压输出端口输出用于表示转接装置上电的第一类电压。

4.根据权利要求1至3任一所述的转接装置，其特征在于，每一个降压模块包括，使能端、电源端、电压输出端口和第二降压电路；

所述降压模块的使能端接收到使能信号后，电源端与所述老化电源连通，所述第二降压电路将老化电源的电压转换为3.3V供电电压，并通过所述降压模块中的电压输出端口输出。

5.根据权利要求4所述的转接装置，其特征在于，每一个降压模块还包括：

第二指示灯模块，在所述降压模块与老化电源连通时所述第二指示灯模块亮。

6.一种光模块老化装置，其特征在于，包括上述权利要求1至5任一所述用于光模块老化测试的转接装置，控制板和老化电源；

其中，所述老化电源的电压在0V至30V之间；

所述老化电源连接所述转接装置中的第一开关模块和所有的降压模块；

所述控制板连接所述转接装置中的处理模块。

7.根据权利要求6所述的光模块老化装置，其特征在于，所述控制板包括：

第二电子开关、直流电源以及控制装置；

所述第二电子开关用于控制所述处理模块与所述直流电源的通断；

所述控制装置根据老化程序的信号与所述处理模块通信。

8.一种基于权利要求6或7所述的光模块老化装置的测试方法，其特征在于，包括：

S1、将待老化的光模块插接在所述转接装置中降压模块的电压输出端口，且将所述转接装置与老化电源插接；

S2、将插接所述光模块的转接装置放入烘箱中；

S3、基于老化程序借助于控制板对所述转接装置的处理模块上电；

S4、所述转接装置的处理模块上电后，给第一开关模块发送使能信号，使能第一开关模块实现转接装置上电，并当所述转接装置的上电后按照所述光模块测试逻辑依次使能连接光模块的每一个降压模块，以输出光模块使用的3.3V供电电压；以及断开第一开关模块的使能信号，并按照光模块测试逻辑依次关闭每一个降压模块。

9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，还包括：

S5、断开所述转接装置与所述老化电源，并从烘箱中取出所述转接装置。

10.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述处理模块借助于通信接口与每一光模块连接，以获取每一光模块在老化过程中的信息。

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