CN115833532A - 一种集成电路测试模块供电装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种集成电路测试模块供电装置及方法，包括测试系统A、测试头B以及测试模块C，所述测试头B包括供电模块B1和接口模块二B2，供电模块B1包括相互连接的电压转换电路B11和延时开关控制电路B12，所述测试模块C包括相互连接的接口模块三C1与测试电路C2。接口模块三C1、接口模块二B2以及延时开关控制电路B12组成供电控制电路。本发明不仅减少测试模块的损坏概率、提升了测试产能，而且改善了电路的可靠性、提升了产品的使用寿命，同时本发明有效降低了制造成本，提高了操作的便利性。

Description

一种集成电路测试模块供电装置及方法

技术领域

本发明涉及一种集成电路测试模块供电装置及方法，属于半导体测试技术领域。

背景技术

在半导体行业集成电路测试过程中需要采用测试系统来测试集成电路的电气参数与特性，在量产过程中为提升测试覆盖面更需要搭配不同功能的测试模块来测试对应的集成电路。在实际的测试方案中用户会根据测试需要来设计不同的测试模块，在更换测试产品时需要更换对应的测试模块。

传统的方案在更换测试模块时需要关闭测试系统的电源再拔掉原有的测试模块更换新的测试模块。如果不关闭测试系统的电源插拔板卡时测试系统一直给测试模块供电，属于热插拔作业，容易导致测试模块或测试系统损坏，如每次都需要关闭测试系统的电源电压会影响量产作业效率。

其他的常用方案通常是在测试头上针对供电电路增加独立的控制开关需要插拔板卡时认为的关闭供电电源，再进行板卡插拔作业，这种方案在实际操作中容易存在人为的遗漏，因忘记关闭电源导致带点操作从而损坏测试模块。

为了使用户能够快速的更换测试模块，需要解决以下问题：

1．传统方案中关闭测试系统主电源进行测试模块插拔作业，系统上电后还需要进行预热恢复，会增加测试模块更换作业的时间，影响量产测试效率，需减少人为操作失误，提高断电再上电的作业效率；

2．其他的常用方案中，通过独立的控制开关来关断测试头的供电电源，提升了整体作业效率，但由于开关存在使用寿命问题，也无法减少人为的操作失误，需要提升防呆能力。

发明内容

发明目的：为了克服现有技术中存在的不足，本发明提供一种结构简单、兼容性强、适配可靠、操作简便的集成电路测试模块供电装置及方法。

技术方案：为实现上述目的，本发明采用的技术方案为：

一种集成电路测试模块供电装置，包括测试系统A、测试头B以及测试模块C，其中：

所述测试系统A用于向测试头B输出系统测试电源。

所述测试头B包括相互连接的供电模块B1和接口模块二B2，供电模块B1包括相互连接的电压转换电路B11和延时开关控制电路B12，所述电压转换电路B11用于将系统测试电源电压转换为测试模块供电电压Vout。

所述测试模块C包括相互连接的接口模块三C1与测试电路C2。

接口模块三C1、接口模块二B2以及延时开关控制电路B12组成供电控制电路。当接口模块三C1插入接口模块二B2中时，延时开关控制电路B12形成工作回路处于工作状态，延时开关控制电路B12在等待预设的延时时间后将开关闭合，从而将电压转换电路B11输出的测试模块供电电压Vout输出至接口模块二B2，再传输到测试模块C上接口模块三C1上给测试电路C2供电使用，达到控制供电电压输出的功能。

优选的：所述接口模块三C1的接口端子一P1和接口模块三C1的接口端子二P2短路连接。接口模块二B2的接口端子一P1接地，而接口模块二B2的接口端子二P2与延时开关控制电路B12的电路电源正极VCC连接。当接口模块三C1插入接口模块二B2中时，延时开关控制电路B12的电路电源正极VCC、接口模块二B2的接口端子二P2、接口模块三C1的接口端子二P2、接口模块三C1的接口端子一P1、接口模块二B2的接口端子一P1以及地线导通，使得延时开关控制电路B12形成工作回路处于工作状态，延时开关控制电路B12在等待预设的延时时间后将开关闭合，从而将电压转换电路B11输出的测试模块供电电压Vout输出至接口模块二B2，再传输到测试模块C上接口模块三C1上给测试电路C2供电使用。

优选的：所述测试系统A包括依次连接的控制功能板模块A1和系统电源A2，所述控制功能板模块A1用于控制系统电源A2向测试头B输出系统测试电源。

优选的：所述测试模块C通过接插件插在测试头B上。

一种集成电路测试模块供电方法，包括以下步骤：

步骤1，测试时，将待测试板卡插入测试模块C的输出端。

步骤2，将测试头B插入测试模块C的输入端。

步骤3，启动测试系统A，由于测试头B插入测试模块C，使得延时开关控制电路B12形成工作回路处于工作状态，延时开关控制电路B12在等待预设的延时时间后将开关闭合，从而将电压转换电路B11输出的测试模块供电电压Vout输出至接口模块二B2，再传输到测试模块C上接口模块三C1上给测试电路C2供电使用。

步骤4，得到测试模块供电电压Vout后，测试电路C2给待测试板卡进行测试。

本发明相比现有技术，具有以下有益效果：

1.本发明可提高测试模块更换作业效率，减少测试模块的损坏概率，提升了测试产能。

2.相比常用的的电源控制方案，本发明可减少人为操作导致的失误，改善了电路的可靠性，提升了产品的使用寿命。

3. 本发明具有电路结构简单特点，有效降低了制造成本，提高了操作的便利性。

附图说明

图1为测试系统结构图。

图2为测试头结构示意图。

图3为测试模块结构示意图。

图4为测试系统连接示意图。

图5为供电控制原理图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本发明，应理解这些实例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围，在阅读了本发明之后，本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。

一种集成电路测试模块供电装置，如图1-5所示，包括测试系统A、测试头B以及测试模块C，其中：

所述测试系统A用于向测试头B输出系统测试电源。所述测试系统A包括依次连接的控制功能板模块A1和系统电源A2，所述控制功能板模块A1用于控制系统电源A2向测试头B输出系统测试电源。测试系统通过控制功能板卡实现集成电路功能测试。

所述测试头B包括相互连接的供电模块B1和接口模块二B2，供电模块具有延迟开关控制电路，当接口配置信号正常连接时，可触发延迟控制电路，来控制开关电路闭合，从而达到自动输出电压的效果。供电模块B1包括相互连接的电压转换电路B11和延时开关控制电路B12，所述电压转换电路B11用于将系统测试电源电压转换为测试模块供电电压Vout。

所述测试模块C包括相互连接的接口模块三C1与测试电路C2。测试模块具有不同的测试应用电路，并预留接口配置信号来实现供电电路电压输出功能。

接口模块三C1、接口模块二B2以及延时开关控制电路B12组成供电控制电路。当接口模块三C1插入接口模块二B2中时，延时开关控制电路B12形成工作回路处于工作状态，延时开关控制电路B12在等待预设的延时时间后将开关闭合，从而将电压转换电路B11输出的测试模块供电电压Vout输出至接口模块二B2，再传输到测试模块C上接口模块三C1上给测试电路C2供电使用，达到控制供电电压输出的功能。所述测试模块C通过接插件插在测试头B上。

测试头分别与测试系统及测试模块连接，通过测试头将测试系统内的测试资源集中到测试接口上再输出给测试模块使用。

本发明通过接口模块三C1上的接口配置信号与测试头B上的接口模块二B2对接，组成完整的供电延时开关控制电路，达到控制供电电压输出的功能。

如图5所示，所述接口模块三C1的接口端子一P1和接口模块三C1的接口端子二P2短路连接。接口模块二B2的接口端子一P1接地，而接口模块二B2的接口端子二P2与延时开关控制电路B12的电路电源正极VCC连接。当接口模块三C1插入接口模块二B2中时，延时开关控制电路B12的电路电源正极VCC、接口模块二B2的接口端子二P2、接口模块三C1的接口端子二P2、接口模块三C1的接口端子一P1、接口模块二B2的接口端子一P1以及地线导通，使得延时开关控制电路B12形成工作回路处于工作状态，延时开关控制电路B12在等待预设的延时时间后将开关闭合，从而将电压转换电路B11输出的测试模块供电电压Vout输出至接口模块二B2，再传输到测试模块C上接口模块三C1上给测试电路C2供电使用。

当测试模块C没有插在测试头B上时，测试头B上的延时开关控制电路B12的控制线圈由于一端悬空为非工作状态，开关处于断开状态，接口模块二B2上没有电源电压，此时延时开关控制电路B12未工作，即延时开关控制电路B12处于打开状态，测试模块供电电压Vout不能输出给测试模块C，测试模块C处于未工作状态。

当接口模块二B2插上测试模块三C1时，延时开关控制电路B12的电路电源正极VCC、接口模块二B2的接口端子二P2、接口模块三C1的接口端子二P2、接口模块三C1的接口端子一P1、接口模块二B2的接口端子一P1以及地线导通，使得延时开关控制电路B12形成工作回路处于工作状态，延时开关控制电路B12在等待预设的延时时间后将开关闭合，从而将电压转换电路B11输出的测试模块供电电压Vout输出至接口模块二B2，再传输到测试模块C上接口模块三C1上给测试电路C2供电使用，至此本发明完成了将供电电压输出到的测试模块的操作。

一种集成电路测试模块供电方法，包括以下步骤：

步骤1，测试时，将待测试板卡插入测试模块C的输出端。

步骤2，将测试头B插入测试模块C的输入端。

步骤3，启动测试系统A，由于测试头B插入测试模块C，使得延时开关控制电路B12形成工作回路处于工作状态，延时开关控制电路B12在等待预设的延时时间后将开关闭合，从而将电压转换电路B11输出的测试模块供电电压Vout输出至接口模块二B2，再传输到测试模块C上接口模块三C1上给测试电路C2供电使用。

步骤4，得到测试模块供电电压Vout后，测试电路C2给待测试板卡进行测试。

在半导体集成电路测试应用中，通过本发明进行测试模块供电，与传统的电源控制电路比较，无需额外的设置操作，应用更方便，电路更可靠，使用寿命更长；较传统的开关控制电路，操作更快捷，结构更简单，成本更低廉，兼容性更好。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出：对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (5)

1.一种集成电路测试模块供电装置，其特征在于：包括测试系统A、测试头B以及测试模块C，其中：

所述测试系统A用于向测试头B输出系统测试电源；

所述测试头B包括相互连接的供电模块B1和接口模块二B2，供电模块B1包括相互连接的电压转换电路B11和延时开关控制电路B12，所述电压转换电路B11用于将系统测试电源电压转换为测试模块供电电压Vout；

所述测试模块C包括相互连接的接口模块三C1与测试电路C2；

接口模块三C1、接口模块二B2以及延时开关控制电路B12组成供电控制电路；当接口模块三C1插入接口模块二B2中时，延时开关控制电路B12形成工作回路处于工作状态。

2.根据权利要求1所述集成电路测试模块供电装置，其特征在于：所述接口模块三C1的接口端子一P1和接口模块三C1的接口端子二P2短路连接；接口模块二B2的接口端子一P1接地，而接口模块二B2的接口端子二P2与延时开关控制电路B12的电路电源正极VCC连接；当接口模块三C1插入接口模块二B2中时，延时开关控制电路B12的电路电源正极VCC、接口模块二B2的接口端子二P2、接口模块三C1的接口端子二P2、接口模块三C1的接口端子一P1、接口模块二B2的接口端子一P1以及地线导通，使得延时开关控制电路B12形成工作回路处于工作状态。

3.根据权利要求2所述集成电路测试模块供电装置，其特征在于：所述测试系统A包括依次连接的控制功能板模块A1和系统电源A2，所述控制功能板模块A1用于控制系统电源A2向测试头B输出系统测试电源。

4.根据权利要求3所述集成电路测试模块供电装置，其特征在于：所述测试模块C通过接插件插在测试头B上。

5.一种基于权利要求1所述集成电路测试模块供电装置的供电方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，测试时，将待测试板卡插入测试模块C的输出端；

步骤2，将测试头B插入测试模块C的输入端；

步骤3，启动测试系统A，由于测试头B插入测试模块C，使得延时开关控制电路B12形成工作回路处于工作状态，延时开关控制电路B12在等待预设的延时时间后将开关闭合，从而将电压转换电路B11输出的测试模块供电电压Vout输出至接口模块二B2，再传输到测试模块C上接口模块三C1上给测试电路C2供电使用；

步骤4，得到测试模块供电电压Vout后，测试电路C2给待测试板卡进行测试。

Images