CN219871601U - 光源老化测试模组、设备 - Google Patents
光源老化测试模组、设备 Download PDFInfo
- Publication number
- CN219871601U CN219871601U CN202321054362.XU CN202321054362U CN219871601U CN 219871601 U CN219871601 U CN 219871601U CN 202321054362 U CN202321054362 U CN 202321054362U CN 219871601 U CN219871601 U CN 219871601U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- light source
- module
- voltage conversion
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 215
- 230000032683 aging Effects 0.000 title claims abstract description 35
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 51
- 230000000712 assembly Effects 0.000 claims description 4
- 238000000429 assembly Methods 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本申请涉及一种光源老化测试模组、设备。包括:承载测试板,承载测试板上设置有多个测试插座,测试插座用于容置可插拔式待测光源;多个电压转换电路的输入端均与外部交流电源连接,用于将外部交流电源提供的交流电转换为对应的直流电输出。电压切换开关,电压切换开关的输入端分别与各电压转换电路的输出端连接,电压切换开关的输出端分别与承载测试板上的测试插座连接,用于导通目标电压转换电路与承载测试板上的测试插座之间的通路。采用本申请的模组,能够对大批量的待测光源同时进行测试,大大提高了光源检测的效率,并且能够提供多种不同的直流电,可以根据待测光源的测试需求切换不同的直流电,以便于满足待测光源的不同的老化测试要求。
Description
技术领域
本申请涉及检测设备技术领域,特别是涉及一种光源老化测试模组、设备。
背景技术
随着科学技术的进步和科技的发展,显示屏、照明灯具、各种光学类传感器、探测灯越来越多,而这些器件都需要使用到光源,光源的可靠性和稳定性直接决定了这些器件的性能,在光源出厂前,会对光源进行检测以保证出厂的光源产品是达标的。
传统技术中,由工作人员采用万用表或仪器对光源进行抽检。
然而,采用传统技术的方式进行光源检测,检测效率低。
实用新型内容
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够高效的对光源进行检测的光源老化测试模组、设备。
一种光源老化测试模组,包括:
承载测试板,所述承载测试板上设置有多个测试插座,所述测试插座用于容置可插拔式待测光源;
多个电压转换电路,各所述电压转换电路的输入端均与外部交流电源连接,各所述电压转换电路用于将所述外部交流电源提供的交流电转换为对应的直流电输出,其中,各所述电压转换电路输出的直流电的电压不同;
电压切换开关,所述电压切换开关的输入端分别与各所述电压转换电路的输出端连接,所述电压切换开关的输出端分别与所述承载测试板上的测试插座连接,用于导通目标电压转换电路与所述承载测试板上的测试插座之间的通路,其中,所述目标电压转换电路为所述多个电压转换电路中的一个。
在其中一个实施例中,光源老化测试模组还包括:
定时电路,设置在所述电压切换开关与各所述承载测试板上的测试插座之间,用于定时导通所述电压切换开关与各所述承载测试板上的测试插座之间的通路。
在其中一个实施例中,所述定时电路包括:
继电器,所述继电器的第一端与所述电压切换开关连接,所述继电器的第二端与各所述承载测试板上的测试插座连接;
定时器,所述定时器与所述继电器连接。
在其中一个实施例中,所述承载测试板的数量为多个,所述定时电路的数量为多个,多个所述定时电路与多个承载测试板一一对应,各所述定时电路的第一端均与所述电压切换开关的输出端连接,各所述定时电路的第二端与对应的承载测试板上的测试插座连接,所述定时电路用于定时导通所述电压切换开关与对应的承载测试板上的测试插座之间的通路。
在其中一个实施例中,光源老化测试模组还包括:
保险电路,设置在所述定时电路与各所述承载测试板上的测试插座之间。
在其中一个实施例中,光源老化测试模组还包括:与多个所述测试插座对应的多个锁紧组件,所述锁紧组件设置在对应的所述测试插座上,用于将插入所述测试插座中的光源锁紧固定。
在其中一个实施例中,所述承载测试板为防静电板。
一种光源老化测试设备,包括前述的光源老化测试模组,所述设备还包括:框架,在沿所述框架的高度方向上间隔设置有多个所述承载测试板。
在其中一个实施例中,光源老化测试设备还包括:多个滚轮,设置在所述框架的底部。
在其中一个实施例中,光源老化测试设备还包括:
第一指示灯,与所述电压转换电路的输入端连接,所述第一指示灯的亮灭用于指示所述电压转换电路是否有交流电输入;
第二指示灯,与所述电压转换电路的输出端连接,所述第二指示灯的亮灭用于指示所述电压转换电路是否正在输出直流电。
上述光源老化测试模组、设备,通过设置承载测试板,承载测试板上设置多个容置可插拔式待测光源的测试插座,从而能够同时容纳多个待测光源进行测试,实现了大批量的待测光源的同时测试,大大提高了检测的效率。通过设置多个电压转换电路,能够将外部交流电源提供的交流电转换为多种电压不同的直流电,以便于满足不同的待测光源的测试需求,然后通过设置电压切换开关,能够选择将哪一个电压转换电路提供的直流电提供给测试插座,从而可以通过电压切换开关来更改提供给测试插座的直流电,以便于根据待测光源的不同的老化测试需求来灵活的调节为待测光源提供的测试电流,满足待测光源的测试要求。综上,采用本申请的模组,能够对大批量的待测光源同时进行测试,大大提高了光源检测的效率,并且能够提供多种不同的直流电,可以根据待测光源的测试需求切换不同的直流电,以便于满足待测光源的不同的老化测试要求。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案,下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一个实施例中光源老化测试模组的结构示意图;
图2为一个实施例中测试插座的结构示意图;
图3为一个实施例中承载测试板的结构示意图;
图4为又一个实施例中光源老化测试模组的结构框图;
图5为又一个实施例中光源老化测试模组的结构框图;
图6为又一个实施例中光源老化测试模组的结构框图;
图7为又一个实施例中光源老化测试模组的结构框图;
图8为又一个实施例中光源老化测试模组的结构框图;
图9为一个实施例中光源老化测试设备的结构示意图;
图10为一个实施例中框架的结构示意图;
图11为又一个实施例中光源老化测试模组的结构框图;
图12为一个实施例中控制面板的示意图。
附图标记说明:
10-框架,20-承载测试板,30-测试插座,50-外部交流电源,41-电压转换电路,42-电压切换开关,60-定时电路,61-继电器,62-定时器,70-保险电路,31-锁紧组件,311-锁紧摇杆,312-锁紧座,32-供电端子,80-滚轮,90-第一指示灯,91-第二指示灯,100-控制面板。
具体实施方式
为了便于理解本申请,下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的实施例。但是,本申请可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使本申请的公开内容更加透彻全面。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本申请。
可以理解,本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件,但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。
空间关系术语例如“在...下”、“在...下面”、“下面的”、“在...之下”、“在...之上”、“上面的”等,在这里可以用于描述图中所示的一个元件或特征与其它元件或特征的关系。应当明白,除了图中所示的取向以外,空间关系术语还包括使用和操作中的器件的不同取向。例如,如果附图中的器件翻转,描述为“在其它元件下面”或“在其之下”或“在其下”元件或特征将取向为在其它元件或特征“上”。因此,示例性术语“在...下面”和“在...下”可包括上和下两个取向。此外,器件也可以包括另外地取向(譬如,旋转90度或其它取向),并且在此使用的空间描述语相应地被解释。
需要说明的是,当一个元件被认为是“连接”另一个元件时,它可以是直接连接到另一个元件,或者通过居中元件连接另一个元件。此外,以下实施例中的“连接”,如果被连接的对象之间具有电信号或数据的传递,则应理解为“电连接”、“通信连接”等。
在此使用时,单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也可以包括复数形式,除非上下文清楚指出另外的方式。还应当理解的是,术语“包括/包含”或“具有”等指定所陈述的特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的存在,但是不排除存在或添加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的可能性。
在一个实施例中,如图1所示,提供了一种光源老化测试模组,该模组包括:承载测试板20、多个电压转换电路41、电压切换开关42。其中:
承载测试板20上设置有多个用于测试插座30,测试插座30用于容置可插拔式待测光源。
示例性地,承载测试板20为防静电板,能够提高本模组的安全性。如图2所示,承载测试板20上按照需要预埋了定位柱和供电端子32等,定位柱用于固定测试插座30,供电端子32用于将测试插座30与电压切换开关42电连接。测试插座30可以为电路板,是电子元器件电气相互连接的载体,上面敷设有铜箔供电,分为正极和负极,可以插入多个光源。外部交流电源50提供220V交流电,多个电压转换电路41能够将220V交流电转换为3V、5V、12V直流电中的一个,然后由电压切换开关42选择后提供给测试插座30以满足对待测光源进行测试的需求。
示例性地,如图3所示,为承载测试板20的俯视图,承载测试板20上阵列排布设置有多个如图2所示的测试插座30。
各电压转换电路41的输入端均与外部交流电源50连接,各电压转换电路41用于将外部交流电源50提供的交流电转换为对应的直流电输出。
其中,各电压转换电路41输出的直流电的电压不同。
示例性地,各电压转换电路41的输入端通过三芯电线与外部交流电源50连接,从而引入市电进行电压转换。多个电压转换电路41包括:220V交流电转12V的直流电的电压转换电路41,能够提供29A电流,调节范围为10%、220V交流电转5V的直流电的电压转换电路41,能够提供60A电流,调节范围为10%、220V交流电转3V的直流电的电压转换电路41,能够提供100A电流,调节范围为10%。从而能够满足待测光源的不同的老化测试要求。
示例性地,电压转换电路41可以为开关电源(Switch Mode Power Supply,简称SMPS),又称交换式电源、开关变换器,是一种高频化电能转换装置,是电源供应器的一种。其功能是将一个位准的电压,透过不同形式的架构转换为用户端所需求的电压或电流。开关电源的输入多半是交流电源(例如市电)或是直流电源,而输出多半是需要直流电源的设备。
电压切换开关42的输入端分别与各电压转换电路41的输出端连接,电压切换开关42的输出端分别与承载测试板20上的测试插座30连接,用于导通目标电压转换电路41与承载测试板20上的测试插座30之间的通路。
其中,目标电压转换电路41为多个电压转换电路41中的一个。
示例性地,电压切换开关42包括四个档位,分别是关闭(0V)、3V、5V、12V,通过电压切换开关42实现电压等级的调节,以便于用户选择将关闭(0V)、3V、5V、12V中的一个电压提供给多个测试插座30。
在本实施例中,通过设置承载测试板,承载测试板上设置多个容置可插拔式待测光源的测试插座,从而能够同时容纳多个待测光源进行测试,实现了大批量的待测光源的同时测试,大大提高了检测的效率。通过设置多个电压转换电路,能够将外部交流电源提供的交流电转换为多种电压不同的直流电,以便于满足不同的待测光源的测试需求,然后通过设置电压切换开关,能够选择将哪一个电压转换电路提供的直流电提供给测试插座,从而可以通过电压切换开关来更改提供给测试插座的直流电,以便于根据待测光源的不同的老化测试需求来灵活的调节为待测光源提供的测试电流,满足待测光源的测试要求。综上,采用本申请的模组,能够对大批量的待测光源同时进行测试,大大提高了光源检测的效率,并且能够提供多种不同的直流电,可以根据待测光源的测试需求切换不同的直流电,以便于满足待测光源的不同的老化测试要求。
在一个实施例中,如图4所示,光源老化测试模组还包括:定时电路60。定时电路60设置在电压切换开关42与各承载测试板20上的测试插座30之间,用于定时导通电压切换开关42与各承载测试板20上的测试插座30之间的通路。
具体地,通过设置定时电路60能够对光源老化测试模组为测试插座30提供直流电的时间进行设定,只有电压切换开关42打开,并且定时电路60设定的电压切换开关42与各承载测试板20上的测试插座30之间的通路的导通时长大于0的时候,测试插座30才会接收到电流。
示例性地,定时电路60可设置的电压切换开关42与各承载测试板20上的测试插座30之间的通路的导通时长为0.1秒~99小时。用户可以查阅待测光源的设计说明书,以确定待测光源进行老化测试所需的电压等级和测试时长等。
在本实施例中,通过设置定时电路60,能够对本申请的模组对待测光源进行老化测试的时间进行定时,以便于工作人员预先设定好测试时长后,本申请的模组能够自动在测试结束后断电,保证了待测光源的安全,并且使得测试更加简便,无需工作人员手动断电。
在一个实施例中,如图5所示,定时电路包括:继电器61、定时器62,其中:
继电器61的第一端与电压切换开关42连接,继电器61的第二端与各承载测试板20上的测试插座30连接。
具体地,继电器61分别与电压切换开关42和测试插座30连接,在闭合时导通电压切换开关42和测试插座30之间的通路。
定时器62与继电器61连接,用于定时控制继电器61导通。
具体地,用户可以在定时器62上设置时长,在设置好的时长内,定时器62都会控制继电器61导通,在设定时长之后,定时器62会控制继电器61断开。例如,用户设定时长为一小时,则定时器62会控制继电器61闭合一小时,一小时后,继电器61断开。
示例性地,继电器61也定时器62也可以集成在一起,采用定时继电器代替。
在本实施例中,通过设置继电器61和定时器62,实现了对待测光源的定时测试,无需工作人员手动断电,更加安全方便。
在一个实施例中,如图6所示,承载测试板20的数量为多个,定时电路60的数量为多个,多个定时电路60与多个承载测试板20一一对应,各定时电路60的第一端均与电压切换开关42的输出端连接,各定时电路60的第二端与对应的承载测试板20上的测试插座30连接,定时电路60用于定时导通电压切换开关42与对应的承载测试板20上的测试插座30之间的通路。
具体地,多个定时电路60与多个承载测试板20一一对应,每个定时电路60能够独立的控制与其对应的承载测试板20上的测试插座30与电压切换开关42之间的导通时间,即每个定时电路60能够独立的控制与其对应的承载测试板20上的待测光源的老化测试时间,从而各承载测试板20上插接的待测光源的测试时间可以不同。
在本实施例中,通过设置与各承载测试板20一一对应的定时电路60,能够对各承载测试板20对待测光源进行老化测试的时间分别进行定时,以便于工作人员预先设定好测试时长后,本申请的模组能够自动在测试结束后断电,保证了待测光源的安全,并且使得测试更加简便,并且各承载测试板20设定的测试时长可以不同,以便于同时对不同规格的待测光源进行测试,测试效率更高。
在一个实施例中,如图7所示,光源老化测试模组还包括:保险电路70。保险电路70设置在定时电路60与各承载测试板20上的测试插座30之间,用于在接收到的电流值大于设定阈值时,断开定时电路60与各承载测试板20上的测试插座30之间的通路。
示例性地,保险电路70可以为自恢复保险,从而在线路出现短路或故障导致流经保险电路70的电流值大于设定阈值时,保险电路70能够断开以有效的保护本模组,当流经保险电路70的电流值小于或等于设定阈值时,保险电路70能够自动恢复导通状态。
示例性地,如图8所示,保险电路70也可以是多个,多个保险电路70与测试插座30一一对应设置。能够独立的对每个测试插座30进行保护。
在本实施例中,通过设置保险电路70,能够在电流过大时自动断开断开定时电路60与各承载测试板20上的测试插座30之间的通路,从而能够保护待测光源不会被损坏。
在一个实施例中,请继续参见图2,光源老化测试模组还包括:与多个测试插座30对应的多个锁紧组件31,锁紧组件31设置在对应的测试插座30上,用于将插入测试插座30中的光源锁紧固定。
具体地,待测光源可以通过插拔的方式与测试插座30连接,再通过锁紧组件31固定,从而可以方便的实现待测光源的插接,相比起传统技术中采用将光源焊接到面包板上进行检测的方式,本申请的方式在测试过程中不会损坏待测光源,待测光源在测试完后还可以继续使用,能够避免不必要的损耗。
示例性地,锁紧组件31包括锁紧座312和锁紧摇杆311,待测光源插入测试插座30中,然后拨动锁紧摇杆311,锁紧座312就会夹紧待测光源的引脚,实现待测光源的锁紧固定。
示例性地,测试插座30上还包括保险电路70、供电端子3232。
在本实施例中,通过设置测试插座30、锁紧组件31,从而实现了待测光源的固定,使得待测光源能够通过插拔的方式接入测试电路进行老化测试相比起传统技术中采用将光源焊接到面包板上进行检测的方式,本申请的方式在测试过程中不会损坏待测光源,待测光源在测试完后还可以继续使用,能够避免不必要的损耗。
在一个实施例中,如图9所示,提供了一种光源老化测试设备,包括前述的光源老化测试模组,该设备还包括:
框架10,在沿框架10的高度方向上间隔设置有多个承载测试板20。
示例性地,框架10采用精益管搭建,精益管便于加工和组装,并且承载能力强。
在本实施例中,通过设置框架10,并沿框架10的高度方向在框架10上间隔设置多个承载测试板20,各承载测试板20上设置多个用于插入待测光源的测试插座30,从而通过设置多层承载测试板20,并且设置多个测试插座30,能够同时容纳多个待测光源进行测试,实现了大批量的待测光源的同时测试,大大提高了检测的效率。
在一个实施例中,如图10所示,光源老化测试设备还包括:多个滚轮80,设置在框架10的底部。
其中,滚轮80为万向轮
在本实施例中,通过在框架10的底部设置多个滚轮80,从而便于光源老化测试模组的移动。
在一个实施例中,如图11所示,光源老化测试设备还包括:第一指示灯90、第二指示灯91,其中:
第一指示灯90与电压转换电路41的输入端连接,第一指示灯90的亮灭用于指示电压转换电路41是否有交流电输入。
其中,第一指示灯90用于在光源老化测试模组接通外部交流电时亮起,从而用于指示光源老化测试模组是否通电。
第二指示灯91与电压转换电路41的输出端连接,第二指示灯91的亮灭用于指示电压转换电路41是否正在输出直流电。
其中,第二指示灯91在光源老化测试模组正在向测试插座30输出直流电的时候亮起,便于工作人员判断待测光源是否正在进行测试。
示例性地,请继续参考图10,光源老化测试模组的侧面设置有控制面板100,如图12所示,控制面板100包括电压切换开关42、第一指示灯90、第二指示灯91、多个定时电路60,用户可以直接在控制面板100上控制光源老化测试模组输出的电压的大小,并且设定测试的时间,还能够通过控制面板100上的指示灯来查看光源老化测试模组的状态。
在本实施例中,通过设置第一指示灯90和第二指示灯91,以便于用户能够直观方便的了解光源老化测试模组的工作状态。
在一个实施例中,提供了本申请中的光源老化测试模组的完整使用流程:
步骤S100,查阅待测光源的设计说明书和测试文件,确认光源参数规格,光源老化和测试条件。
步骤S110,将待测光源插入测试插座中。
其中,发光二极管需要注意极性,红外光源不需要分极性。
步骤S120,操作锁紧组件将待测光源锁紧固定。
步骤S130,根据待测光源老化测试需要的参数,设定定时电路的定时时长、调节电压切换开关到合适的电压等级,待测光源开始老化测试。
步骤S140,老化测试结束后,光源老化测试模组自动断电,移除损坏或亮度异常的光源,确认无损坏光源,电压切换开关转动到“关”状态,取下好的光源备用。
步骤S150,测试完毕,关闭光源老化测试模组的电源。
需要说明的是:根据待测光源功率,确认同时进行老化测试的待测光源的数量,预防高功耗光源导致开关电源带载不足,如果带载不足或者自恢复保险动作,则需要减少老化测试的待测光源的数量。
在本实施例中,提供了本申请的光源老化测试模组的使用方式,采用该流程进行操作,即可完成待测光源的测试,简单方便。
在本说明书的描述中,参考术语“有些实施例”、“其他实施例”、“理想实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特征包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性描述不一定指的是相同的实施例或示例。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种光源老化测试模组,其特征在于,包括:
承载测试板,所述承载测试板上设置有多个测试插座,所述测试插座用于容置可插拔式待测光源;
多个电压转换电路,各所述电压转换电路的输入端均与外部交流电源连接,各所述电压转换电路用于将所述外部交流电源提供的交流电转换为对应的直流电输出,其中,各所述电压转换电路输出的直流电的电压不同;
电压切换开关,所述电压切换开关的输入端分别与各所述电压转换电路的输出端连接,所述电压切换开关的输出端分别与所述承载测试板上的测试插座连接,用于导通目标电压转换电路与所述承载测试板上的测试插座之间的通路,其中,所述目标电压转换电路为所述多个电压转换电路中的一个。
2.根据权利要求1所述的光源老化测试模组,其特征在于,所述模组还包括:
定时电路,设置在所述电压切换开关与所述承载测试板上的测试插座之间,用于定时导通所述电压切换开关与所述承载测试板上的测试插座之间的通路。
3.根据权利要求2所述的光源老化测试模组,其特征在于,所述定时电路包括:
继电器,所述继电器的第一端与所述电压切换开关连接,所述继电器的第二端与所述承载测试板上的测试插座连接;
定时器,所述定时器与所述继电器连接。
4.根据权利要求2所述的光源老化测试模组,其特征在于,所述承载测试板的数量为多个,所述定时电路的数量为多个,多个所述定时电路与多个承载测试板一一对应,各所述定时电路的第一端均与所述电压切换开关的输出端连接,各所述定时电路的第二端与对应的承载测试板上的测试插座连接,所述定时电路用于定时导通所述电压切换开关与对应的承载测试板上的测试插座之间的通路。
5.根据权利要求2所述的光源老化测试模组,其特征在于,所述模组还包括:
保险电路,设置在所述定时电路与所述承载测试板上的测试插座之间。
6.根据权利要求1-5任一项所述的光源老化测试模组,其特征在于,所述模组还包括:
与多个所述测试插座对应的多个锁紧组件,所述锁紧组件设置在对应的所述测试插座上,用于将插入所述测试插座中的光源锁紧固定。
7.根据权利要求1-5任一项所述的光源老化测试模组,其特征在于,所述承载测试板为防静电板。
8.一种光源老化测试设备,其特征在于,包括如权利要求1-7任一项所述的光源老化测试模组,所述设备还包括:
框架,在沿所述框架的高度方向上间隔设置有多个所述承载测试板。
9.根据权利要求8所述的光源老化测试设备,其特征在于,所述设备还包括:多个滚轮,设置在所述框架的底部。
10.根据权利要求8所述的光源老化测试设备,其特征在于,所述设备还包括:
第一指示灯,与所述电压转换电路的输入端连接,所述第一指示灯的亮灭用于指示所述电压转换电路是否有交流电输入;
第二指示灯,与所述电压转换电路的输出端连接,所述第二指示灯的亮灭用于指示所述电压转换电路是否正在输出直流电。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202321054362.XU CN219871601U (zh) | 2023-05-05 | 2023-05-05 | 光源老化测试模组、设备 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202321054362.XU CN219871601U (zh) | 2023-05-05 | 2023-05-05 | 光源老化测试模组、设备 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN219871601U true CN219871601U (zh) | 2023-10-20 |
Family
ID=88340305
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202321054362.XU Active CN219871601U (zh) | 2023-05-05 | 2023-05-05 | 光源老化测试模组、设备 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN219871601U (zh) |
-
2023
- 2023-05-05 CN CN202321054362.XU patent/CN219871601U/zh active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20220052619A1 (en) | Apparatus and method for persistent dc power panel conversion | |
CN202153654U (zh) | 用于检测电池组中的开路电池接头的系统 | |
CN219871601U (zh) | 光源老化测试模组、设备 | |
CN215678636U (zh) | 芯片测试电路和芯片测试系统 | |
CN112526278A (zh) | 用于光模块老化测试的转接装置、光模块老化装置及方法 | |
WO2005104327A1 (fr) | Adaptateur d'alimentation capable d'afficher un niveau de tension de sortie c.c. | |
JP6502289B2 (ja) | 結線確認試験器及び結線確認試験方法 | |
CN112162125A (zh) | 一种模拟电池实现方法 | |
WO2005104341A1 (fr) | Adaptateur de tension de courant continu interchangeable avec affichage de niveau de tension | |
CN109283472A (zh) | 一种电源设备智能化测试系统及测试方法 | |
CN1722594B (zh) | 用于多个输出电压的电压供给装置 | |
CN108957288B (zh) | 一种适用于多种规格晶振的测试基板 | |
CN210323265U (zh) | 一种交直流led通用型灯具老化装置 | |
US20070268634A1 (en) | Power supply system | |
CN221176338U (zh) | 采样装置、电池模组和车辆 | |
CN213581304U (zh) | 防爆变频器内部排线检测装置 | |
CN217404335U (zh) | Ate测试装置及ate测试设备 | |
CN220603899U (zh) | 一种短路故障注入测试装置 | |
CN220732354U (zh) | 一种漏电检测保护电路和漏电检测保护设备 | |
CN215734051U (zh) | 多路恒压数字电源 | |
CN212748977U (zh) | 一种功率模块测试板及测试系统 | |
CN217386205U (zh) | 一种故障检测装置及系统 | |
CN209858618U (zh) | 一种绝缘性能试验的辅助接线装置 | |
CN216485394U (zh) | Cfi型低压开关离线试验装置及设备 | |
CN212209347U (zh) | 取电器、开关控制电路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |