CN112509630A - Lpddr芯片测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种LPDDR芯片测试装置，该LPDDR芯片测试装置包括测试台、设于所述测试台内的测试主板和设于所述测试台上的测试座，所述测试主板位于所述测试座的内腔中，所述测试台上还设有用于将测试数据输出至显示器的显示器接口、用于给所述测试主板供电的电源接口和若干测试按钮，所述显示器接口、所述电源接口和若干所述测试按钮分别与所述测试主板电性连接。本发明实施例所提出的LPDDR芯片测试装置可对不同型号的LPDDR进行测试，譬如LPDDR4和LPDDR4X，具体通过测试按钮切换测试电压即可，同时还可兼容EMCP、UMCP中LPDDR的测试。

Description

LPDDR芯片测试装置

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，具体涉及一种LPDDR芯片测试装置。

背景技术

低功耗双重数据比率(Low Power Double Data Rate，LPDDR)，是美国JEDEC固态技术协会(JEDEC Solid State Technology Association)面向低功耗内存而制定的通信标准，其专门用于移动式电子产品。

LPDDR芯片在出厂前需要对其进行测试，标准规定的LPDDR芯片测试主要分为三个方面，分别为：功能测试、时序参数测试及电气性能测试。LPDDR芯片测试不仅包括对于独立的LPDDR芯片测试，还包括对于LPDDR、EMCP、UMCP中的LPDDR芯片测试，EMCP是结合EMMC和LPDDR封装而成，UMCP是结合UFS和LPDDR封装而成。

目前，市面上暂不存在针对LPDDR芯片的测试平台，因此亟需一种能够对LPDDR芯片进行测试的LPDDR芯片测试装置。

发明内容

本发明通过提出一种LPDDR芯片测试装置，以解决上述背景技术中提出的技术问题。

具体的，本发明提出一种LPDDR芯片测试装置，该LPDDR芯片测试装置包括测试台、设于所述测试台内的测试主板和设于所述测试台上的测试座，所述测试主板位于所述测试座的内腔中，所述测试台上还设有用于将测试数据输出至显示器的显示器接口、用于给所述测试主板供电的电源接口和若干测试按钮，所述显示器接口、所述电源接口和若干所述测试按钮分别与所述测试主板电性连接。

优选地，所述测试座包括安装台和多个设于所述安装台上的测试治具，所述测试治具包括与所述安装台铰接的压盖和多个用于容置LPDDR芯片的芯片座，多个所述芯片座并排设置且位于所述压盖的下方，所述压盖朝向所述芯片座的一侧设有多个用于抵持所述芯片座内的LPDDR芯片的压头。

优选地，所述压盖下方设有用于安装多个所述压头的安装板，所述安装板的周侧贯穿设有多个导向柱，所述导向柱上套设有第一弹性件，所述导向柱的一端与所述压盖连接，所述压盖内设有用于供所述安装板和多个所述压头上下移动的容置腔。

优选地，所述压盖上相对于其铰接侧的另一侧设有转动轴，所述转动轴上套设有用于固定所述压盖的锁止件，所述锁止件与所述压盖之间设有第二弹性件，所述锁止件包括按压部和与所述按压部连接的钩挂部，所述安装台上对应所述钩挂部设有钩挂板。

优选地，所述压盖上贯穿设有螺纹孔，所述螺纹孔内设有螺纹柱，所述螺纹柱的一端设有位于所述压盖上方的转动座，所述转动座上设有位于其侧壁上的凹陷部，所述凹陷部沿所述转动座的转动方向延伸预设长度，所述锁止件还包括与所述按压部连接且朝向所述转动座延伸的抵接部。

优选地，所述螺纹柱的另一端设有位于所述安装板上的抵接板，所述安装板对应所述抵接板设有定位槽，所述抵接板嵌设在所述定位槽内。

优选地，所述抵接板上设有多个穿孔，多个所述穿孔围绕所述抵接板的中心分布，所述穿孔内设有可转动的滚柱。

优选地，所述转动座朝向所述螺纹孔的一侧设有限位槽，所述限位槽沿所述转动座的转动方向延伸预设长度，所述限位槽下方对应设有位于所述压盖上的限位柱。

优选地，所述安装板与所述压头之间设有电路板，所述压头内设有用于加热所述芯片座内的LPDDR芯片的加热模块，所述加热模块与所述电路板电性连接。

优选地，所述测试台上还设有用于控制所述加热模块的温控器。

与现有技术相比，本发明实施例的有益技术效果在于：

本发明实施例所提出的LPDDR芯片测试装置可对不同型号的LPDDR进行测试，譬如LPDDR4和LPDDR4X，具体通过测试按钮切换测试电压即可，同时还可兼容EMCP、UMCP中LPDDR的测试。在进行测试时，先将待测LPDDR芯片放置在测试座内，由于测试座的底部与测试主板是导通的，因此将待测LPDDR芯片放置在测试座内即可将其与测试主板电性连接，再通过操作测试台上的测试按钮以对LPDDR芯片进行测试，测试数据将通过显示器接口实时传输给与其连接的显示器，以供操作人员根据反馈的测试数据，判断待测LPDDR芯片是否正常。

附图说明

图1为本发明LPDDR芯片测试装置一实施例的结构示意图；

图2为本发明LPDDR芯片测试装置的测试座的结构示意图；

图3为本发明LPDDR芯片测试装置的压盖在一视角下的内部结构示意图；

图4为本发明LPDDR芯片测试装置的压盖在另一视角下的内部结构示意图；

图5为本发明LPDDR芯片测试装置的压盖的结构示意图；

图6为本发明LPDDR芯片测试装置的转动座、螺纹柱及压盖的部分爆炸图；

图7为本发明LPDDR芯片测试装置的锁止件与转动轴的结构示意图；

图8为本发明LPDDR芯片测试装置的转动座、螺纹柱及安装板的装配结构示意图；

图9为本发明LPDDR芯片测试装置的转动座的结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例一

本发明提出一种LPDDR芯片测试装置，参见图1-4，该LPDDR芯片测试装置包括测试台1、设于测试台1内的测试主板2和设于测试台1上的测试座3，测试主板2位于测试座3的内腔中，测试台1上还设有用于将测试数据输出至显示器的显示器接口4、用于给测试主板2供电的电源接口5和若干测试按钮6，显示器接口4、电源接口5和若干测试按钮6分别与测试主板2电性连接。

本发明实施例所提出的测试台1呈矩形状设置，其包括有用于安装测试主板2、显示器接口4、电源接口5和测试按钮6的底座和设于底座下方的支撑脚，以通过支撑脚将底座放置在台面上。由于支撑脚的存在，底座与台面之间会具有一定间隙，该间隙可供用户手掌部分伸入，以方便用户抓取底座部分，从而将LPDDR芯片测试装置转移。同时，测试主板2在运行时会产生热量，而该热量会在测试台1内散发至其侧壁上，若测试台1的底部与台面之间没有支撑脚，则测试台1的底部将是贴合在台面上的，如此会导致测试台1底部的热量散发很慢，从而导致测试台1内的温度上升，可能会影响测试主板2的正常运行。为此，本发明实施例在底座下方设有多个支撑脚，以使得底座与台面之间具有间隙，而由于间隙的存在会使得测试台1底部的空气流动更快，从而加速测试台1内热量的散发，进而保证测试主板2运行在正常温度范围内。

本发明实施例所提出的LPDDR芯片测试装置的测试程序可以存储在固态硬盘SSD中，也可以存储在优盘中，还可以存储在网络服务器中。具体的，在测试台1上会设有USB数据口和网络接口，存储有测试程序的优盘可插接在USB数据口中，以通过优盘的形式启动LPDDR芯片的测试程序。此外，通过网络接口可将LPDDR芯片测试装置与网络服务器连接，以通过存储在网络服务器中的测试程序对LPDDR芯片进行测试。在测试台1上还设有用于供电的电源接口5和用于传输测试数据的显示器接口4，本发明实施例所提出的USB数据接口、网络接口、显示器接口4和电源接口5在测试台1的右上方呈并排设置，且从左到右分别为两个USB数据接口、一个网络接口、一个显示器接口4和一个电源接口5。

本发明实施例所提出的测试主板2是基于intel ice lake的CPU进行设计的，其位于测试台1上并延伸至测试座3的底部，并且在测试主板2的上方设有防护罩，该防护罩从上述接口所在位置朝向测试座3所在位置延伸。防护罩上开设有用于供上述数据接口显露于外部的通孔，防护罩靠近测试座3的一端设有开口，防护罩上还设有散热孔，散热孔的下方设有位于测试主板2上的散热风扇。测试主板2在运行时所产生的热量，可通过散热风扇将其排出，产生的热量具体可从散热孔、通孔及开口排出，从而保证测试主板2运行时所产生的热量能够快速排出，进而保证测试主板2运行在正常的温度范围内。

本发明实施例所提出的测试按钮6包括有电源按钮、电压切换按钮、开机按钮和重启按钮，在电源接口5与外部电源连通后，可通过电源按钮控制测试主板2的上下电状态，而在测试座3内放置有待测LPDDR芯片后，则可通过按下开机按钮以对LPDDR芯片进行测试。对于不同类型的LPDDR芯片，譬如LPDDR4和LPDDR4X，则可通过电压切换按钮切换不同的测试电压(1.1V/0.6V)，以对不同型号的LPDDR芯片进行测试。

实施例二

参见图2，本发明实施例所提出的测试座3包括安装台31和多个设于安装台31上的测试治具，测试治具包括与安装台31铰接的压盖321和多个用于容置LPDDR芯片的芯片座322，多个芯片座322并排设置且位于压盖321的下方，压盖321朝向芯片座322的一侧设有多个用于抵持芯片座322内的LPDDR芯片的压头323。本实施例中，安装台31呈矩形框结构，在其矩形框的长边侧设有间隔分布的铰接座，两铰接座之间设有铰接轴，铰接轴上套设有扭簧，压盖321可转动地设置在铰接轴上。在矩形框的内腔中设有多个用于容置待测LPDDR芯片的芯片座322，芯片座322的形状与待测LPDDR芯片的形状相适配。为保证测试时待测LPDDR芯片与测试主板2稳定连接，在压盖321朝向芯片座322的一侧设有多个压头323，多个压头323分别对应多个芯片座322设置。具体的，在测试之前先将压盖321打开，再将待测LPDDR芯片放置在芯片座322内，而后将压盖321朝向芯片座322的方向转动，以使得压盖321上的压头323抵接在待测LPDDR芯片上，从而保证待测LPDDR芯片与测试主板2的稳定连接。安装台31上设置有多个测试治具，每个测试治具内设置有多个芯片座322，也即每个测试治具可同时对多个LPDDR芯片进行测试，从而提高LPDDR芯片的测试效率。每个测试治具可对应不同尺寸的LPDDR芯片，作为优选，本实施例所提出的测试治具设置为两个，两个测试治具分别对应200球和254球的LPDDR芯片，市场上大多数的LPDDR芯片都是采用200球和254球进行封装的。当然，本领域技术人员可根据实际情况设计不同尺寸的测试治具，其包括可容纳上述提及的200球和254球的LPDDR芯片的测试治具，但不限于此。

实施例三

参见图3和图4，本发明实施例所提出的压盖321下方设有用于安装多个压头323的安装板324，安装板324的周侧贯穿设有多个导向柱325，导向柱325上套设有第一弹性件326，导向柱325的一端与压盖321连接，压盖321内设有用于供安装板324和多个压头323上下移动的容置腔。本实施例中，在将待测LPDDR芯片放置于芯片座322后，需通过压头323抵持在待测LPDDR芯片表面，以保证待测LPDDR芯片与测试主板2稳定连接。而由于压头323与待测LPDDR芯片为刚性接触，也即在盖上压盖321后，待测LPDDR芯片会受到压头323向下的压力作用，因此会存在损坏待测LPDDR芯片的现象。为此，本实施例在压头323与压盖321之间设有弹性缓冲装置，以使得压头323与待测LPDDR芯片为弹性接触，从而避免出现因刚性接触而导致的损坏待测LPDDR芯片的问题。具体的，在压盖321的下方设有安装板324，安装板324的四角位置处设有导向柱325，导向柱325上设有第一弹性件326，安装板324可沿着导向柱325上下移动。在将压盖321朝向芯片座322转动时，压盖321上的压头323会与待测LPDDR芯片接触，在两者接触时，若压头323继续朝向芯片座322下压，待测LPDDR芯片会受到压头323向下的作用力，而压头323则会受到待测LPDDR芯片向上的反作用力，该反作用力会带动安装板324沿导向柱325向上移动，从而带动压头323向上移动，以保证压头323与待测LPDDR芯片接触时，在待测LPDDR芯片上不会受到向下的压力，从而保证待测LPDDR芯片在测试时不会被损坏。在压头323沿导向柱325向上移动时，第一弹性件326会产生形变力，该形变力用于打开压盖321后的压头323复位。

实施例四

参见图6和图7，本发明实施例所提出的压盖321上相对于其铰接侧的另一侧设有转动轴327，转动轴327上套设有用于固定压盖321的锁止件328，锁止件328与压盖321之间设有第二弹性件329，锁止件328包括按压部328A和与按压部328A连接的钩挂部328B，安装台31上对应钩挂部328B设有钩挂板311。本实施例中，压盖321上相对于铰接侧的另一侧呈U形结构设置，在U形结构的两相对侧壁上设有转动轴327，转动轴327上套设有用于固定压盖321的锁止件328。可以理解的是，在将压盖321盖合在芯片座322上方后，为避免在测试过程中压盖321被打开或晃动，在压盖321上设有锁止件328，该锁止件328沿竖直方向布置，其包括位于中上部的按压部328A和位于中下部的钩挂部328B。在锁止状态下，钩挂部328B是挂接在钩挂板311上的，而在需要打开时，则可通过施加作用力于按压部328A，以使得按压部328A朝向压盖321的方向转动，而按压部328A转动将带动钩挂部328B转动，从而使得钩挂部328B脱离钩挂板311。

实施例五

参见图6和图7，本发明实施例所提出的压盖321上贯穿设有螺纹孔321A，螺纹孔321A内设有螺纹柱321B，螺纹柱321B的一端设有位于压盖321上方的转动座321C，转动座321C上设有位于其侧壁上的凹陷部321D，凹陷部321D沿转动座321C的转动方向延伸预设长度，锁止件328还包括与按压部328A连接且朝向转动座321C延伸的抵接部328C。本实施例中，在利用锁止件328固定压盖321后，为避免在测试过程中误触锁止件328，还可通过转动座321C限制锁止件328被误触。需要说明的是，在凹陷部321D处于抵接部328C的正前方时，通过按压按压部328A，可使得按压部328A下方的钩挂部328B完全张开，以脱离安装台31上设置的钩挂板311。而当转动座321C上的凹陷部321D被转动至其它位置后，也即凹陷部321D未处于抵接部328C的正前方位置，在按压按压部328A时，抵接部328C会被转动座321C的侧壁阻挡，以限制抵接部328C转动的角度，致使钩挂部328B不能完全张开，从而保证在未拧动转动座321C的前提下仅按压按压部328A是无法打开压盖321的，进而避免在对LPDDR芯片进行测试出现锁止件328被误触的情况。

实施例六

参见图6和图8，本发明实施例所提出的螺纹柱321B的另一端设有位于安装板324上的抵接板321E，安装板324对应抵接板321E设有定位槽324A，抵接板321E嵌设在定位槽324A内。本实施例中，在拧动转动座321C时，螺纹柱321B会在螺纹孔321A内转动，而由于螺纹孔321A周向侧壁上的螺纹段较短，因此螺纹柱321B在与螺纹孔321A两侧的螺纹段进行螺纹配合时会存在转动不稳定的情况。为此，本实施例在螺纹柱321B的底端设有抵接板321E，该抵接板321E是嵌设在定位槽324A内的，该定位槽324A位于安装板324上对应抵接板321E的位置。也即，在通过转动座321C拧动螺纹柱321B时，螺纹柱321B的下端会被定位槽324A限制在其内转动，而不会左右移动，从而提高螺纹柱321B的转动稳定性。作为优选，本发明实施例所提出的抵接板321E为圆形板，定位槽324A为圆形槽，此仅为示例性非，而非限制性的，本领域技术人员可根据实际情况进行设计。

实施例七

参见图8，本发明实施例所提出的抵接板321E上设有多个穿孔324B，多个穿孔324B围绕抵接板321E的中心分布，穿孔324B内设有可转动的滚柱324C。本实施例中，螺纹柱321B在转动时，会带动连接在其下端的抵接板321E转动，为减小转动时抵接板321E与定位槽324A之间的摩擦，在抵接板321E的周向上设置有多个滚柱324C。具体的，螺纹柱321B带动抵接板321E转动时，滚柱324C将抵接板321E与定位槽324A之间的平面摩擦转化为滚动摩擦，从而减小抵接板321E与定位槽324A之间的摩擦力，以使得转动座321C的转动较为容易，无需施加较大的作用力于转动座321C上。

实施例八

参见图5、图6和图9本发明实施例所提出的转动座321C朝向螺纹孔321A的一侧设有限位槽321F，限位槽321F沿转动座321C的转动方向延伸预设长度，限位槽321F下方对应设有位于压盖321上的限位柱321G。本实施例中，在拧动转动座321C的过程中，限位槽321F的两端会分别与其下方的限位柱321G抵接，也即在转动座321C转动一定角度后，其会被限位柱321G限制在第一预设位置处；反向转动转动座321C，其在转动一定角度后，会被限制在第二预设位置处。第一预设位置对应按压锁止件328后即可打开压盖321，第二预设位置则对应按压锁止件328仍无法打开压盖321，此时转动座321C的凹陷部321D是远离按压部328A的正对位置，需要将转动座321C转动至第二预设位置方可打开压盖321。

实施例九

参见图3，本发明实施例所提出的安装板324与压头323之间设有电路板7，压头323内设有用于加热芯片座322内的LPDDR芯片的加热模块，加热模块与电路板7电性连接。本实施例中，通过加热模块可对待测LPDDR芯片进行加热，以对LPDDR芯片在不同温度下的性能进行测试。需要说明的是，LPDDR芯片在实际使用时会有不同的环境温度，其需要适应不同环境温度下的运行。为此，本实施通过加热模块模拟环境温度，以测试LPDDR芯片在不同温度下的性能，加热模块为电加热器，具体可以是PTC加热器，包括但不限于此，本领域技术人员可根据实际情况进行选择。本发明实施例所提出的加热模块可以与测试主板2共用电源，也即通过电源接口5与外部电源连接，加热模块还可以单独设置一个供电电源，在测试台1的左上方设有电源正负极接口，以通过该电源正负极接口对加热模块进行单独供电。作为优选，本发明选择给加热模块单独供电，以避免出现因加热模块占用测试主板2电源而导致的测试不准确问题。

实施例十

参见图1，本发明实施例所提出的测试台1上还设有用于控制加热模块的温控器8。本实施例中，通过温控器8可对待测LPDDR芯片的测试温度进行实时监控，并可将检测到温度实时显示在温控器8的屏幕上，以供操作人员查看。

以上的仅为本发明的部分或优选实施例，无论是文字还是附图都不能因此限制本发明保护的范围，凡是在与本发明一个整体的构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明保护的范围内。

Claims (10)

1.一种LPDDR芯片测试装置，其特征在于，包括测试台、设于所述测试台内的测试主板和设于所述测试台上的测试座，所述测试主板位于所述测试座的内腔中，所述测试台上还设有用于将测试数据输出至显示器的显示器接口、用于给所述测试主板供电的电源接口和若干测试按钮，所述显示器接口、所述电源接口和若干所述测试按钮分别与所述测试主板电性连接。

2.根据权利要求1所述的LPDDR芯片测试装置，其特征在于，所述测试座包括安装台和多个设于所述安装台上的测试治具，所述测试治具包括与所述安装台铰接的压盖和多个用于容置LPDDR芯片的芯片座，多个所述芯片座并排设置且位于所述压盖的下方，所述压盖朝向所述芯片座的一侧设有多个用于抵持所述芯片座内的LPDDR芯片的压头。

3.根据权利要求2所述的LPDDR芯片测试装置，其特征在于，所述压盖下方设有用于安装多个所述压头的安装板，所述安装板的周侧贯穿设有多个导向柱，所述导向柱上套设有第一弹性件，所述导向柱的一端与所述压盖连接，所述压盖内设有用于供所述安装板和多个所述压头上下移动的容置腔。

4.根据权利要求3所述的LPDDR芯片测试装置，其特征在于，所述压盖上相对于其铰接侧的另一侧设有转动轴，所述转动轴上套设有用于固定所述压盖的锁止件，所述锁止件与所述压盖之间设有第二弹性件，所述锁止件包括按压部和与所述按压部连接的钩挂部，所述安装台上对应所述钩挂部设有钩挂板。

5.根据权利要求4所述的LPDDR芯片测试装置，其特征在于，所述压盖上贯穿设有螺纹孔，所述螺纹孔内设有螺纹柱，所述螺纹柱的一端设有位于所述压盖上方的转动座，所述转动座上设有位于其侧壁上的凹陷部，所述凹陷部沿所述转动座的转动方向延伸预设长度，所述锁止件还包括与所述按压部连接且朝向所述转动座延伸的抵接部。

6.根据权利要求5所述的LPDDR芯片测试装置，其特征在于，所述螺纹柱的另一端设有位于所述安装板上的抵接板，所述安装板对应所述抵接板设有定位槽，所述抵接板嵌设在所述定位槽内。

7.根据权利要求6所述的LPDDR芯片测试装置，其特征在于，所述抵接板上设有多个穿孔，多个所述穿孔围绕所述抵接板的中心分布，所述穿孔内设有可转动的滚柱。

8.根据权利要求5所述的LPDDR芯片测试装置，其特征在于，所述转动座朝向所述螺纹孔的一侧设有限位槽，所述限位槽沿所述转动座的转动方向延伸预设长度，所述限位槽下方对应设有位于所述压盖上的限位柱。

9.根据权利要求3所述的LPDDR芯片测试装置，其特征在于，所述安装板与所述压头之间设有电路板，所述压头内设有用于加热所述芯片座内的LPDDR芯片的加热模块，所述加热模块与所述电路板电性连接。

10.根据权利要求9所述的LPDDR芯片测试装置，其特征在于，所述测试台上还设有用于控制所述加热模块的温控器。

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