CN112466386B - 一种面向故障分类的存储器测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种面向故障分类的存储器测试系统及方法。系统包括存储器端口选择器，存储器端口选择器分别与存储器和存储器测试控制器相连；存储器测试控制器分别连接小周期故障记录内容可寻址存储器、大周期故障记录内容可寻址存储器和大周期故障次数记录单元。本发明采用大小周期结合的测试方法解决了现有技术中存储器测试电路实现故障分类的方法过于繁琐、面积开销较大，没有考虑间歇性故障的发生需要一定时间的问题。本发明可以以高效、准确、低开销的方式实现对存储器单元故障类型的分类，便于后续修复工作的开展。

Description

一种面向故障分类的存储器测试系统及方法

技术领域

本发明涉及存储器测试领域，具体涉及一种面向故障分类的存储器测试系统及方法。

背景技术

随着集成电路集成度的提高，越来越多的IP核被集成到片上系统(SoC)中，使得集成电路能够高效并行地处理任务。现在的SoC中，占有最大片上空间的IP核就是嵌入式存储器，因此嵌入式存储器的可靠性和稳定性对整个系统的可靠性和稳定性尤为重要。为了提高嵌入式存储器的可靠性，需要定期测试存储器以进行故障诊断。内建自测试技术(MBIST)由于其能够实现高效、低成本的测试，逐渐成为了存储器测试的主流方案。

根据故障的持续时间不同，集成电路的故障可以分为三类，不同类型的故障具有不同的产生机制。第一类是永久性故障，指集成电路中发生了固定、不能恢复、不可逆转的物理性改变；第二类是间歇性故障，指集成电路在特定的温度、电压等周围环境的影响下间歇性发生故障；第三类是瞬时故障，指随机发生没有规律，瞬时性可恢复的故障。在存储器老化过程中，随着瞬时故障的增多，会转变为间歇性故障和永久性故障。针对不同的存储器故障类型，可以采用针对性的修复方法，因此需要一种面向故障分类的存储器测试电路对存储器的故障类型进行判断。

发明内容

针对现有技术中的上述不足，本发明提供的一种面向故障分类的存储器测试系统及方法可以对存储器的故障类型进行判断。

为了达到上述发明目的，本发明采用的技术方案为：

提供一种面向故障分类的存储器测试系统，其包括存储器端口选择器，存储器端口选择器分别与存储器和存储器测试控制器相连；存储器测试控制器分别连接小周期故障记录内容可寻址存储器、大周期故障记录内容可寻址存储器和大周期故障次数记录单元；

存储器端口选择器，用于连接外部设备与存储器，或连接存储器与存储器测试控制器；

存储器测试控制器，用于生成测试信号，对存储器进行故障测试，并获取反馈数据；

小周期故障记录内容可寻址存储器，用于记录存储器在小周期测试中的故障地址，并对小周期测试得到的故障地址进行不重复存储；其中小周期为存储器进行一次测试所需的时间；

大周期故障记录内容可寻址存储器，用于记录大周期测试中每个故障地址所对应的故障次数；其中一轮出现故障的小周期测试作为一次故障进行记录，每个大周期测试包括N个小周期测试。

进一步地，存储器测试控制器包括控制模块，以及与控制模块相连接的地址生成模块、数据生成模块、读写比较模块、读写信号生成模块和内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块；读写比较模块分别与数据生成模块和读写信号生成模块相连接；

控制模块，用于根据测试启动信号生成与存储器端口选择器的交互信号，获取读写比较模块的比较结果，将读写比较模块的比较结果发送至内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块；

地址生成模块，用于生成存储器的测试地址；

数据生成模块，用于生成对存储器的写数据，向读写比较模块输入比较数据；

读写比较模块，用于将数据生成模块生成的比较数据与存储器的读数据进行比较，并将比较结果反馈给控制模块；

读写信号生成模块，用于生成对读写比较模块的比较使能信号与对存储器的读写使能信号；

内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块，用于根据测试及故障分类的工作流程生成与小周期故障记录内容可寻址存储器、大周期故障记录内容可寻址存储器和大周期故障次数记录单元之间的交互信号。

进一步地，小周期故障记录内容可寻址存储器包括小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针和小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针；其中

小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针，用于记录小周期故障记录内容可寻址存储器中用来存储新的故障地址信息的内容可寻址存储器地址；

小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针，用于记录在顺序遍历小周期故障记录内容可寻址存储器过程中接下来需要访问的地址。

进一步地，大周期故障记录内容可寻址存储器包括大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针和大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针；其中

大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针，用于记录大周期故障记录内容可寻址存储器中用来存储新的故障地址信息的内容可寻址存储器地址；

大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针，用于记录在顺序遍历大周期故障记录内容可寻址存储器过程中接下来需要访问的地址。

提供一种面向故障分类的存储器测试方法，其包括以下步骤：

S1、清空小周期故障记录内容可寻址存储器、大周期故障记录内容可寻址存储器和大周期故障次数记录单元中的内容，设定每个大周期测试包括小周期测试的数量N；将小周期测试计数器、小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针、小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针、大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针和大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针复位至初始位置；

S2、开始小周期测试，若检测到存储器的某个存储单元存在故障，则根据故障内容对小周期故障记录内容可寻址存储器进行查询，获取查询结果；其中每进行一次小周期测试，小周期测试计数器的值加1；

S3、判断查询结果是否为匹配，若是则进入步骤S4，否则将测试到的存储器故障地址写入小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针所指向的地址，并将小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针的值加1，进入步骤S4；

S4、判断当前小周期测试是否结束，若是则进入步骤S5，否则返回步骤S2继续当前小周期测试；

S5、判断小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针是否等于小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针，若是则进入步骤S8，否则进入步骤S6；

S6、根据小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针的值读取所指向的小周期故障记录内容可寻址存储器中对应存储单元的内容，并根据该内容查询大周期故障记录内容可寻址存储器，将该内容从小周期故障记录内容可寻址存储器中清除，将小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针的值加1；

S7、判断步骤S6中大周期故障记录内容可寻址存储器的查询结果是否为匹配，若是则将大周期故障记录内容可寻址存储器中的匹配地址对应的大周期故障次数记录单元的值加1，返回步骤S5；否则将当前故障信息写入大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针对应的储存单元，并将大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针的值加1，返回步骤S5；

S8、复位小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针和小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针，判断小周期测试计数器的值是否等于N，若是则进入步骤S9，否则返回步骤S2；

S9、判断大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针的值是否等于大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针的值，若是则结束一个大周期的存储器测试及故障类型判断，否则进入步骤S10；

S10、根据大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针的值读取大周期故障记录内容可寻址存储器中对应的故障地址信息和对应的大周期故障次数记录单元的值；

S11、根据大周期故障次数记录单元的值进行故障类型判断，并返回步骤S9。

进一步地，每个大周期测试包括小周期测试的数量N为100。

进一步地，步骤S11中根据大周期故障次数记录单元的值进行故障类型判断的具体方法为：

对于一个故障地址，若大周期故障次数记录单元的值为N，则判定该故障地址为永久性故障；若大周期故障次数记录单元的值为1，则判定该故障地址为瞬时故障；若大周期故障次数记录单元的值位于2至N-1之间，则判定该故障地址为间歇性故障。

本发明的有益效果为：本发明采用大小周期结合的测试方法解决了现有技术中存储器测试电路实现故障分类的方法过于繁琐、面积开销较大，没有考虑间歇性故障的发生需要一定时间的问题。本发明可以以高效、准确、低开销的方式实现对存储器单元故障类型的分类，便于后续修复工作的开展。

附图说明

图1为本系统的结构框图；

图2为存储器测试控制器的结构示意图；

图3为本方法的流程示意图；

其中：101、存储器；102、存储器端口选择器；103、存储器测试控制器；104、小周期故障记录内容可寻址存储器；105、大周期故障记录内容可寻址存储器；106、大周期故障次数记录单元；201、控制模块；202、地址生成模块；203、数据生成模块；204、读写比较模块；205、读写信号生成模块；206、内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块。

具体实施方式

下面对本发明的具体实施方式进行描述，以便于本技术领域的技术人员理解本发明，但应该清楚，本发明不限于具体实施方式的范围，对本技术领域的普通技术人员来讲，只要各种变化在所附的权利要求限定和确定的本发明的精神和范围内，这些变化是显而易见的，一切利用本发明构思的发明创造均在保护之列。

如图1所示，该面向故障分类的存储器测试系统包括存储器端口选择器102，存储器端口选择器102分别与存储器101和存储器测试控制器103相连；存储器测试控制器103分别连接小周期故障记录内容可寻址存储器104、大周期故障记录内容可寻址存储器105和大周期故障次数记录单元106；

存储器端口选择器102，用于连接外部设备与存储器101，或连接存储器101与存储器测试控制器103；

存储器测试控制器103，用于生成测试信号，对存储器101进行故障测试，并获取反馈数据；

小周期故障记录内容可寻址存储器104，用于记录存储器101在小周期测试中的故障地址，并对小周期测试得到的故障地址进行不重复存储；其中小周期为存储器101进行一次测试所需的时间；

大周期故障记录内容可寻址存储器105，用于记录大周期测试中每个故障地址所对应的故障次数；其中一轮出现故障的小周期测试作为一次故障进行记录，每个大周期测试包括N个小周期测试。

如图2所示，存储器测试控制器103包括控制模块201，以及与控制模块201相连接的地址生成模块202、数据生成模块203、读写比较模块204、读写信号生成模块205和内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块206；读写比较模块204分别与数据生成模块203和读写信号生成模块205相连接；

控制模块201，用于根据测试启动信号生成与存储器端口选择器102的交互信号，获取读写比较模块204的比较结果，将读写比较模块204的比较结果发送至内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块206；

地址生成模块202，用于生成存储器101的测试地址；

数据生成模块203，用于生成对存储器101的写数据，向读写比较模块204输入比较数据；

读写比较模块204，用于将数据生成模块203生成的比较数据与存储器101的读数据进行比较，并将比较结果反馈给控制模块201；

读写信号生成模块205，用于生成对读写比较模块204的比较使能信号与对存储器101的读写使能信号；

内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块206，用于根据测试及故障分类的工作流程生成与小周期故障记录内容可寻址存储器104、大周期故障记录内容可寻址存储器105和大周期故障次数记录单元106之间的交互信号。

小周期故障记录内容可寻址存储器104包括小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针和小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针；其中

小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针，用于记录小周期故障记录内容可寻址存储器104中用来存储新的故障地址信息的内容可寻址存储器地址；

小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针，用于记录在顺序遍历小周期故障记录内容可寻址存储器104过程中接下来需要访问的地址。

例如小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针的值为4，则当存储器测试检测到新的故障单元时，将故障地址信息写入到小周期故障记录内容可寻址存储器104地址为4的存储单元，并将小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针的值加1。由于一次小周期测试中可能会多次检测出同一个故障地址，小周期故障记录内容可寻址存储器104的作用在于将每一次测试小周期所检测到的故障仅记录一次，不重复记录以减少面积开销和简化后续处理。

大周期故障记录内容可寻址存储器105包括大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针和大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针；其中

大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针，用于记录大周期故障记录内容可寻址存储器105中用来存储新的故障地址信息的内容可寻址存储器地址；

大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针，用于记录在顺序遍历大周期故障记录内容可寻址存储器105过程中接下来需要访问的地址。

例如大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针的值为6，则在遍历小周期故障记录内容可寻址存储器104的过程中发现大周期故障记录内容可寻址存储器105中未存储的新故障地址时，则将故障地址信息写入到大周期故障记录内容可寻址存储器105地址为6的存储单元，并将大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针的值加1。

如图3所示，该面向故障分类的存储器测试方法包括以下步骤：

S1、清空小周期故障记录内容可寻址存储器104、大周期故障记录内容可寻址存储器105和大周期故障次数记录单元106中的内容，设定每个大周期测试包括小周期测试的数量N；将小周期测试计数器、小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针、小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针、大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针和大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针复位至初始位置；每个大周期测试包括小周期测试的数量N的值可以为100；

S2、开始小周期测试，若检测到存储器101的某个存储单元存在故障，则根据故障内容对小周期故障记录内容可寻址存储器104进行查询，获取查询结果；其中每进行一次小周期测试，小周期测试计数器的值加1；

S3、判断查询结果是否为匹配，若是则进入步骤S4，否则将测试到的存储器101故障地址写入小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针所指向的地址，并将小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针的值加1，进入步骤S4；

S4、判断当前小周期测试是否结束，若是则进入步骤S5，否则返回步骤S2继续当前小周期测试；

S5、判断小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针是否等于小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针，若是则进入步骤S8，否则进入步骤S6；

S6、根据小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针的值读取所指向的小周期故障记录内容可寻址存储器104中对应存储单元的内容，并根据该内容查询大周期故障记录内容可寻址存储器105，将该内容从小周期故障记录内容可寻址存储器104中清除，将小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针的值加1；

S7、判断步骤S6中大周期故障记录内容可寻址存储器105的查询结果是否为匹配，若是则将大周期故障记录内容可寻址存储器105中的匹配地址对应的大周期故障次数记录单元106的值加1，返回步骤S5；否则将当前故障信息写入大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针对应的储存单元，并将大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针的值加1，返回步骤S5；

S8、复位小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针和小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针，判断小周期测试计数器的值是否等于N，若是则进入步骤S9，否则返回步骤S2；

S9、判断大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针的值是否等于大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针的值，若是则结束一个大周期的存储器测试及故障类型判断，否则进入步骤S10；

S10、根据大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针的值读取大周期故障记录内容可寻址存储器105中对应的故障地址信息和对应的大周期故障次数记录单元106的值；

S11、根据大周期故障次数记录单元106的值进行故障类型判断，并返回步骤S9。其中根据大周期故障次数记录单元106的值进行故障类型判断的具体方法为：对于一个故障地址，若大周期故障次数记录单元106的值为N，则判定该故障地址为永久性故障；若大周期故障次数记录单元106的值为1，则判定该故障地址为瞬时故障；若大周期故障次数记录单元106的值位于2至N-1之间，则判定该故障地址为间歇性故障。

在本发明的一个实施例中，存储器端口选择器102可以选择正常模式下对存储器101的访问信号，或者选择在测试模式下存储器测试控制器103产生的对存储器101的测试信号。存储器端口选择器102的内部可以由多路复用器实现，当存储器测试控制器103生成的测试模式信号有效时，存储器端口选择器102中的多路复用器用来连接存储器测试控制器103和存储器101；当存储器测试控制器103生成的测试模式信号无效时，存储器端口选择器102中的多路复用器用来连接正常的存储器访问信号到存储器101。

小周期故障记录内容可寻址存储器104和大周期故障记录内容可寻址存储器105都为内容可寻址存储器(CAM)，其可以实现读、写、查询三种功能。当写使能信号有效时CAM工作在写模式，可以将写数据写入写地址对应的存储单元；当读使能信号有效时CAM工作在读模式，读取读地址对应的存储单元中的内容；当查询使能有效时CAM工作在查询模式，根据输入的查询数据查询CAM中的所有存储单元，若CAM中存在查询数据，则输出匹配信号与匹配地址，若不存在查询数据，则输出匹配无效信号。小周期故障记录内容可寻址存储器104用来记录小周期存储器测试的故障地址，需要保证小周期内测试到的故障地址的不重复存储。大周期故障记录内容可寻址存储器105用来记录大周期存储器测试的故障地址，需要保证大周期内测试到的故障地址的不重复存储。

大周期故障次数记录单元106用来记录大周期测试中每个故障地址所对应的故障次数，一轮小周期测试作为一次故障进行记录，其内部通过一系列计数器对每个故障地址的故障次数进行计数。当写使能有效时，输入地址所对应的计数器将加1；当读使能有效时，根据输入地址，读取其对应的计数器值作为模块输出。

存储器测试控制器103控制整个存储器测试及故障分类的过程，其与小周期故障记录内容可寻址存储器104、大周期故障记录内容可寻址存储器105、大周期故障次数记录单元106、存储器端口选择器102相连，内部可以由有限状态机实现。单次测试过程可以由100个小周期组成，每个小周期利用March算法对存储器101进行内建自测试，100个小周期构成一个大周期，大周期测试数目阈值寄存器中保存一个大周期中的小周期数目。

如图2所示，存储器测试控制器103与外部交互的信号分为两部分，一部分信号与外部的存储器端口选择器102进行交互，一部分信号与外部的小周期故障记录内容可寻址存储器104、大周期故障记录内容可寻址存储器105、大周期故障次数记录单元106进行交互。

当控制模块201接收到测试启动信号后，本系统进入测试模式，输出测试模式信号，并按照存储器内建自测试所采用的算法生成与存储器端口选择器102的交互信号。地址生成模块202负责按照存储器内建自测试所采用的算法生成存储器101的测试地址。数据生成模块203负责按照存储器内建自测试所采用的算法生成对存储器101的写数据以及输入给读写比较模块204的比较数据。读写比较模块204负责按照存储器内建自测试所采用的算法对数据生成模块203生成的比较数据与存储器101的读数据进行比较，将比较结果反馈给控制模块201。读写信号生成模块205负责按照存储器内建自测试所采用的算法生成对读写比较模块204的比较使能与对存储器101的读写使能信号。内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块206负责按照存储器测试及故障分类的工作流程生成与小周期故障记录内容可寻址存储器104、大周期故障记录内容可寻址存储器105、大周期故障次数记录单元106之间的交互信号。控制模块201负责对存储器测试控制器103整个测试及故障分类过程的控制，生成对地址生成模块202、数据生成模块203、读写比较模块204、读写信号生成模块205、内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块206的控制信号，其内部可以通过有限状态机实现。

综上所述，本发明采用大小周期结合的测试方法解决了现有技术中存储器测试电路实现故障分类的方法过于繁琐、面积开销较大，没有考虑间歇性故障的发生需要一定时间的问题。本发明可以以高效、准确、低开销的方式实现对存储器单元故障类型的分类，便于后续修复工作的开展。

Claims (6)

1.一种面向故障分类的存储器测试系统，其特征在于，包括存储器端口选择器（102），所述存储器端口选择器（102）分别与存储器（101）和存储器测试控制器（103）相连；所述存储器测试控制器（103）分别连接小周期故障记录内容可寻址存储器（104）、大周期故障记录内容可寻址存储器（105）和大周期故障次数记录单元（106）；

所述存储器端口选择器（102），用于连接外部设备与存储器（101），或连接存储器（101）与存储器测试控制器（103）；

所述存储器测试控制器（103），用于生成测试信号，对存储器（101）进行故障测试，并获取反馈数据；

所述小周期故障记录内容可寻址存储器（104），用于记录存储器（101）在小周期测试中的故障地址，并对小周期测试得到的故障地址进行不重复存储；其中小周期为存储器（101）进行一次测试所需的时间；

所述大周期故障记录内容可寻址存储器（105），用于记录大周期测试中每个故障地址所对应的故障次数；其中一轮出现故障的小周期测试作为一次故障进行记录，每个大周期测试包括N个小周期测试；

所述大周期故障次数记录单元（106），用于记录大周期内每个故障地址的故障次数；

对于一个故障地址，若大周期故障次数记录单元（106）的值为N，则判定该故障地址为永久性故障；若大周期故障次数记录单元（106）的值为1，则判定该故障地址为瞬时故障；若大周期故障次数记录单元（106）的值位于2至N-1之间，则判定该故障地址为间歇性故障。

2.根据权利要求1所述的面向故障分类的存储器测试系统，其特征在于，所述存储器测试控制器（103）包括控制模块（201），以及与控制模块（201）相连接的地址生成模块（202）、数据生成模块（203）、读写比较模块（204）、读写信号生成模块（205）和内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块（206）；所述读写比较模块（204）分别与数据生成模块（203）和读写信号生成模块（205）相连接；

所述控制模块（201），用于根据测试启动信号生成与存储器端口选择器（102）的交互信号，获取读写比较模块（204）的比较结果，将读写比较模块（204）的比较结果发送至内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块（206）；

所述地址生成模块（202），用于生成存储器（101）的测试地址；

所述数据生成模块（203），用于生成对存储器（101）的写数据，向读写比较模块（204）输入比较数据；

所述读写比较模块（204），用于将数据生成模块（203）生成的比较数据与存储器（101）的读数据进行比较，并将比较结果反馈给控制模块（201）；

所述读写信号生成模块（205），用于生成对读写比较模块（204）的比较使能信号与对存储器（101）的读写使能信号；

所述内容可寻址存储器及故障次数记录控制模块（206），用于根据测试及故障分类的工作流程生成与小周期故障记录内容可寻址存储器（104）、大周期故障记录内容可寻址存储器（105）和大周期故障次数记录单元（106）之间的交互信号。

3.根据权利要求1所述的面向故障分类的存储器测试系统，其特征在于，所述小周期故障记录内容可寻址存储器（104）包括小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针和小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针；其中

小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针，用于记录小周期故障记录内容可寻址存储器（104）中用来存储新的故障地址信息的内容可寻址存储器地址；

小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针，用于记录在顺序遍历小周期故障记录内容可寻址存储器（104）过程中接下来需要访问的地址。

4.根据权利要求1所述的面向故障分类的存储器测试系统，其特征在于，所述大周期故障记录内容可寻址存储器（105）包括大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针和大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针；其中

大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针，用于记录大周期故障记录内容可寻址存储器（105）中用来存储新的故障地址信息的内容可寻址存储器地址；

大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针，用于记录在顺序遍历大周期故障记录内容可寻址存储器（105）过程中接下来需要访问的地址。

5.一种面向故障分类的存储器测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、清空小周期故障记录内容可寻址存储器（104）、大周期故障记录内容可寻址存储器（105）和大周期故障次数记录单元（106）中的内容，设定每个大周期测试包括小周期测试的数量N；将小周期测试计数器、小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针、小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针、大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针和大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针复位至初始位置；

S2、开始小周期测试，若检测到存储器（101）的某个存储单元存在故障，则根据故障内容对小周期故障记录内容可寻址存储器（104）进行查询，获取查询结果；其中每进行一次小周期测试，小周期测试计数器的值加1；

S3、判断查询结果是否为匹配，若是则进入步骤S4，否则将测试到的存储器（101）故障地址写入小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针所指向的地址，并将小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针的值加1，进入步骤S4；

S4、判断当前小周期测试是否结束，若是则进入步骤S5，否则返回步骤S2继续当前小周期测试；

S5、判断小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针是否等于小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针，若是则进入步骤S8，否则进入步骤S6；

S6、根据小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针的值读取所指向的小周期故障记录内容可寻址存储器（104）中对应存储单元的内容，并根据该内容查询大周期故障记录内容可寻址存储器（105），将该内容从小周期故障记录内容可寻址存储器（104）中清除，将小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针的值加1；

S7、判断步骤S6中大周期故障记录内容可寻址存储器（105）的查询结果是否为匹配，若是则将大周期故障记录内容可寻址存储器（105）中的匹配地址对应的大周期故障次数记录单元（106）的值加1，返回步骤S5；否则将当前故障信息写入大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针对应的储存单元，并将大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针的值加1，返回步骤S5；

S8、复位小周期故障记录内容可寻址存储器记录指针和小周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针，判断小周期测试计数器的值是否等于N，若是则进入步骤S9，否则返回步骤S2；

S9、判断大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针的值是否等于大周期故障记录内容可寻址存储器记录指针的值，若是则结束一个大周期的存储器测试及故障类型判断，否则进入步骤S10；

S10、根据大周期故障记录内容可寻址存储器遍历指针的值读取大周期故障记录内容可寻址存储器（105）中对应的故障地址信息和对应的大周期故障次数记录单元（106）的值；

S11、根据大周期故障次数记录单元（106）的值进行故障类型判断，并返回步骤S9；

步骤S11中根据大周期故障次数记录单元（106）的值进行故障类型判断的具体方法为：

对于一个故障地址，若大周期故障次数记录单元（106）的值为N，则判定该故障地址为永久性故障；若大周期故障次数记录单元（106）的值为1，则判定该故障地址为瞬时故障；若大周期故障次数记录单元（106）的值位于2至N-1之间，则判定该故障地址为间歇性故障。

6.根据权利要求5所述的面向故障分类的存储器测试方法，其特征在于，每个大周期测试包括小周期测试的数量N为100。

Images