CN112445036A - 液晶设备及其像素检查方法、以及波长选择光开关装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种适于在抑制电路规模增大的同时执行像素的检查的液晶设备及其像素检查方法、以及波长选择光开关装置。液晶显示装置(1)具备将相同列中相邻的两个像素(12_u、12_d)作为一对像素对而构成多个像素对的多个像素(12)，在各像素对中，晶体管(Tr9_u)、晶体管(Tr9_d)根据共用的读出用开关选择信号进行导通断开的控制，该晶体管(Tr9_u)切换是否将写入到一个像素(12_u)的影像信号的电压输出到对应的数据线，晶体管(Tr9_d)切换是否将写入到另一个像素(12_d)的影像信号的电压输出到对应的数据线。

Description

液晶设备及其像素检查方法、以及波长选择光开关装置
技术领域
本发明涉及液晶设备、波长选择光开关装置以及液晶设备的像素检查方法，涉及适于在抑制电路规模增大的同时执行像素检查的液晶设备、波长选择光开关装置以及液晶设备的像素检查方法。
背景技术
专利文献1所公开的液晶显示装置包括：配置成矩阵状的多个像素；与多个像素的各列对应设置的多组数据线；与多个像素的各行对应设置的多个栅极线；用于对多组数据线以组为单位依次提供正极性和负极性影像信号的多个开关；以及驱动多个开关和多个栅极线的驱动单元。
在先技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2009-223289号公报。
发明内容
发明要解决的问题
然而，在液晶显示装置中，为了提高可靠性，例如要求在产品出厂前检查像素是否有缺陷或特性劣化。
但是，在专利文献1中，没有公开关于像素的检查方法的具体内容。因此，在专利文献1所公开的液晶显示装置中，当要组装用于检查像素的检查电路时，由于用于像素检查的控制信号线增加，布线会变得拥挤。若为了避免该布线拥挤而充分增大布线间隔，则存在像素间距变大、结果电路规模增大的问题。
本发明是鉴于以上问题而完成的，其目的在于提供一种适于在抑制电路规模的增大的同时执行像素检查的液晶设备、波长选择光开关装置以及液晶设备的像素检查方法。
用于解决问题的手段
本发明的一个方式的液晶设备，包括：多个像素，被设置成矩阵状；多个第一数据线，与所述多个像素的各列对应地设置；多个第二数据线，与所述多个像素的各列对应地设置；以及开关电路，切换所述多根第一数据线的每个与第一外部端子之间的导通断开，并且切换所述多根第二数据线的每个与第二外部端子之间的导通断开，所述多个像素将第一像素和第二像素作为一对像素对而构成多对像素对，所述第一像素和第二像素是相同列中相邻的两个像素，在各像素对中，所述第一像素具有：第一采样保持电路，对从所述第一外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第一数据线上的正极性影像信号进行采样并保持；第二采样保持电路，对从所述第二外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第二数据线上的负极性影像信号进行采样并保持；第一液晶显示元件，包括第一像素驱动电极、公共电极以及封入到它们之间的液晶；第一极性切换开关，控制是否选择由所述第一采样保持电路保持的所述正极性影像信号的电压和由所述第二采样保持电路保持的所述负极性影像信号的电压中的某一个施加到所述第一像素驱动电极；以及第一开关晶体管，切换是否将经由所述第一极性切换开关施加到所述第一像素驱动电极的电压作为像素驱动电压输出给所述对应的第一数据线或所述对应的第二数据线，所述第二像素具有：第三采样保持电路，对从所述第一外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第一数据线的正极性影像信号进行采样并保持；第四采样保持电路，对从所述第二外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第二数据线上的负极性影像信号进行采样并保持；第二液晶显示元件，包括第二像素驱动电极、公共电极以及封入到它们之间的液晶；第二极性切换开关，控制是否选择由所述第三采样保持电路保持的所述正极性影像信号的电压和由所述第四采样保持电路保持的所述负极性影像信号的电压中的某一个施加到所述第二像素驱动电极；以及第二开关晶体管，切换是否将经由所述第二极性切换开关施加到所述第二像素驱动电极的电压作为像素驱动电压输出给所述对应的第一数据线或所述对应的第二数据线，在各像素对中，所述第一像素的所述第一开关晶体管和所述第二像素的所述第二开关晶体管被构成为，通过在公共的控制信号线上传输的控制信号进行导通断开的控制。
本发明的一个方式的液晶设备的像素检查方法，所述液晶设备包括：多个像素，被设置成矩阵状；多个第一数据线，与所述多个像素的各列对应地设置；多个第二数据线，与所述多个像素的各列对应地设置；以及开关电路，切换所述多根第一数据线的每个与第一外部端子之间的导通断开，并且切换所述多根第二数据线的每个与第二外部端子之间的导通断开，所述多个像素将第一像素和第二像素作为一对像素对而构成多对像素对，所述第一像素和第二像素是相同列中相邻的两个像素，在各像素对中，所述第一像素具有：第一采样保持电路，对从所述第一外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第一数据线上的正极性影像信号进行采样并保持；第二采样保持电路，对从所述第二外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第二数据线上的负极的影像信号进行采样并保持；第一液晶显示元件，包括第一像素驱动电极、公共电极以及封入到它们之间的液晶；第一极性切换开关，控制是否选择由所述第一采样保持电路保持的所述正极性影像信号的电压和由所述第二采样保持电路保持的所述负极性影像信号的电压中的某一个施加到所述第一像素驱动电极；以及第一开关晶体管，切换是否将经由所述第一极性切换开关施加到所述第一像素驱动电极的电压作为像素驱动电压输出给所述对应的第一数据线或所述对应的第二数据线，所述第二像素具有：第三采样保持电路，对从所述第一外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第一数据线上的正极性影像信号进行采样并保持；第四采样保持电路，对从所述第二外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第二数据线上的负极性影像信号进行采样并保持；第二液晶显示元件，包括第二像素驱动电极、公共电极以及封入到它们之间的液晶；第二极性切换开关，控制是否选择由所述第三采样保持电路保持的所述正极性影像信号的电压和由所述第四采样保持电路保持的所述负极性影像信号的电压中的某一个施加到所述第二像素驱动电极；以及第二开关晶体管，切换是否将经由所述第二极性切换开关施加到所述第二像素驱动电极的电压作为像素驱动电压输出给所述对应的第一数据线或所述对应的第二数据线，在各像素对中，所述第一像素的所述第一开关晶体管和所述第二像素的所述第二开关晶体管被构成为，通过在公共的控制信号线上传输的控制信号进行导通断开的控制，所述像素检测方法在检查对象的所述像素对中，使所述第一像素的第一开关晶体管和所述第二像素的第二开关晶体管都导通，将从所述第一采样保持电路经由所述第一极性切换开关施加到所述第一像素驱动电极的电压读出到所述对应的第一数据线或所述对应的第二数据线，并根据该读出的电压检测有无故障，将从所述第二采样保持电路经由所述第一极性切换开关施加到所述第一像素驱动电极的电压读出到所述对应的第一数据线或所述对应的第二数据线，并根据该读出的电压检测有无故障，将从所述第三采样保持电路经由所述第二极性切换开关施加到所述第二像素驱动电极的电压读出到所述对应的第一数据线或所述对应的第二数据线，并根据该读出的电压检测有无故障，将从所述第四采样保持电路经由所述第二极性切换开关施加到所述第二像素驱动电极的电压读出到所述对应第一数据线或所述对应的第二数据线，并根据该读出的电压检测有无故障。
根据本发明，能够提供一种在抑制电路规模增大的同时执行像素检查的液晶设备、波长选择光开关装置以及液晶设备的像素检查方法。
附图说明
图1是示出构想阶段的液晶显示装置的结构例的图；
图2是更详细地示出设置在图1所示的液晶显示装置中的水平驱动器及模拟开关部的图；
图3是示出设置在图1所示的液晶显示装置中的像素的具体结构例的图；
图4是用于说明由图1所示的液晶显示装置进行像素的驱动方法的时序图；
图5是用于说明写入像素的正极性影像信号和负极性影像信号各自的从黑到白的电压电平的图；
图6是示出图1所示的液晶显示装置在图像显示模式下的动作的时序图；
图7是示出实施方式1涉及的液晶显示装置的结构例的图；
图8是示出设置在图7所示的液晶显示装置中的像素的具体结构例的图；
图9是示出图7所示的液晶显示装置在像素检查模式下的动作的时序图；
图10是示出在图7所示的液晶显示装置的第一变形例中设置的一部分像素、水平驱动器以及模拟开关部的图；
图11是示出在图7所示的液晶显示装置的第二变形例中设置的一部分像素、水平驱动器以及模拟开关部的图；
图12是示出在图7所示的液晶显示装置的第三变形例中设置的像素的具体结构例的图；
图13是示出图7所示的液晶显示装置的第四变形例在像素检查模式下的动作的时序图；
图14是示出实施方式2涉及的液晶显示装置的结构例的图；
图15是示出设置在图14所示的液晶显示装置中的像素及其周边电路的具体结构例的图；
图16是更详细地示出设置在图14所示的液晶显示装置中的开关部、读出放大部以及锁存部的图；
图17是示出图14所示的液晶显示装置在像素检查模式下的动作的时序图。
具体实施方式
<发明人进行的事先研究>
在对实施方式1涉及的液晶显示装置进行说明之前，对本发明人事先研究的内容进行说明。
(构思阶段的液晶显示装置50的结构)
图1是示出构思阶段的有源矩阵型液晶显示装置(液晶设备)50的结构例的图。如图1所示，液晶显示装置50包括图像显示部51、定时发生器13、极性切换控制电路14、垂直移位寄存器和电平转换器15、水平驱动器16、模拟开关部(开关电路)17、以及与(AND)电路ADA1～ADAn、ADB1～ADBn。水平驱动器16与模拟开关部17一起构成数据线驱动电路，具有移位寄存器电路161、1行锁存电路162、比较器部163和灰度计数器164。另外，在图1中还示出了在通常动作时与液晶显示装置50连接的斜坡信号发生器40。
图2是更详细地示出设置在液晶显示装置50上的水平驱动器16和模拟开关部17的图。比较器部163具备与m(m是2以上整数)列的像素52对应的m个比较器163_1～163_m。模拟开关部17具备与m列像素52对应的m组开关元件SW1+、SW1-～SWm+、SWm-。
在图像显示部51的像素配置区域中，布线有在水平方向(X轴方向)上延伸的n行(n是2以上的整数)的行扫描线G1～Gn以及n行的读出用开关选择线TG1～TGn、沿垂直方向(Y轴方向)延伸的m列数据线D1+、D1-～Dm+、Dm-的组。另外，在图像显示部51的像素配置区域中，布线有栅极控制信号线S+、S-以及栅极控制信号线B。
图像显示部51具有规则地配置的多个像素52。这里，多个像素52以二维矩阵状配置在合计n×m个交叉部，所述n×m个交叉部为在水平方向(X轴方向)上延伸的n行的行扫描线G1～Gn与在垂直方向(Y轴方向)上延伸的m组数据线D1+、D1-～Dm+、Dm-交叉而得。
行扫描线Gj(j是1～n的任意整数)以及读出用开关选择线TGj分别与配置在第j行的m个像素52的每个共用地连接。另外，数据线Di+、Di-(i是1～m的任意整数)与配置在第i列的n个像素52的每个共用地连接。进一步，栅极控制信号线S+、S-以及栅极控制信号线B都共用地连接到所有像素52。但是，栅极控制信号线S+、S-以及栅极控制信号线B都可以按每行单独设置。
极性切换控制电路14基于由定时发生器13生成的定时信号，对栅极控制信号线S+输出正极性用栅极控制信号(以下称为栅极控制信号S+)，对栅极控制信号线S-输出负极性用栅极控制信号(以下称为栅极控制信号S-)，进而，对栅极控制信号线B输出栅极控制信号(以下称为栅极控制信号B)。
垂直移位寄存器和电平转换器15从第一行到第n行逐行依次以1个水平扫描期间HST的周期输出n行的扫描脉冲。与电路ADA1～ADAn分别基于从外部提供的模式切换信号MD，控制是否将从垂直移位寄存器和电平转换器15逐行依次输出的n行扫描脉冲输出到行扫描线G1～Gn。与电路ADB1～ADBn分别基于从外部提供的模式切换信号MD，控制是否将从垂直移位寄存器和电平转换器15逐行依次输出的n行扫描脉冲输出到读出用开关选择线TG1～TGn。
例如，在向像素52写入影像信号的动作(图像写入动作)的情况下，从外部提供H电平的模式切换信号MD。在这种情况下，与电路ADA1～ADAn分别将从垂直移位寄存器和水平水平移位器15逐行依次输出的n行扫描脉冲输出到行扫描线G1～Gn。另一方面，与电路ADB1～ADBn各个不将从垂直移位寄存器和水平水平移位器15逐行依次输出的n行扫描脉冲输出到读出用开关选择线TG1～TGn。因此，读出用开关选择线TG1～TGn都被固定为L电平。
与此相对，在读出写入到像素52的影像信号的动作(图像读出动作)的情况下，从外部提供L电平的模式切换信号MD。在这种情况下，与电路ADB1～ADBn分别将从垂直移位寄存器和电平转换器15逐行依次输出的n行扫描脉冲输出到读出用开关选择线TG1～TGn。另一方面，与电路ADA1～ADAn各个不将从垂直移位寄存器和水平水平移位器15逐行依次输出的n行的扫描脉冲输出到行扫描线G1～Gn。因此，行扫描线G1～Gn都被固定为L电平。
(像素52的具体结构例)
图3是示出像素52的具体结构例的图。这里，对n行×m列的像素52中设置在第j行且第i列的像素52进行说明。
如图3所示，像素52具有N沟道MOS(Metal Oxide Semiconductor，金属氧化物半导体)晶体管(以下简称为晶体管)Tr1、Tr2、Tr5、Tr6、Tr9以及P沟道MOS晶体管(以下简称为晶体管)Tr3、Tr4、Tr7、Tr8。
晶体管Tr1和保持电容Cs1构成对经由数据线Di+提供的正极性影像信号进行采样并保持的采样保持电路。具体而言，在晶体管Tr1中，源极与数据线对的一个数据线Di+连接，漏极与晶体管Tr3的栅极连接，栅极与行扫描线Gj连接。保持电容Cs1设置在晶体管Tr3的栅极与接地电压端子Vss之间。
晶体管Tr2和保持电容Cs2构成对经由数据线Di-提供的负极性影像信号进行采样并保持的采样保持电路。具体而言，在晶体管Tr2中，源极与数据线对的另一个数据线Di-连接，漏极与晶体管Tr4的栅极连接，栅极连接到行扫描线Gj。保持电容Cs2设置在晶体管Tr3的栅极与接地电压端子Vss之间。另外，保持电容Cs1、Cs2相互独立地设置，分别并行地保持正极性和负极性影像信号。
晶体管Tr3、Tr7构成输出保持在保持电容Cs1中的电压的源极跟随器缓冲器(阻抗变换用缓冲器)。具体而言，在源极跟随器的晶体管Tr3中，漏极与接地电压线Vss连接，源极与节点Na连接。在用作可控制偏置的恒流负载的晶体管Tr7中，源极与电源电压线Vdd连接，漏极与节点Na连接，栅极与栅极控制信号线B连接。
晶体管Tr4、Tr8构成输出保持在保持电容Cs2中的电压的源极跟随器缓冲器。具体而言，在源极跟随器的晶体管Tr4中，漏极与接地电压线Vss连接，源极与节点Nb连接。在用作可控制偏置的恒流负载的晶体管Tr8中，源极与电源电压线Vdd连接，漏极与节点Nb连接，栅极与栅极控制信号线B连接。
晶体管Tr5、Tr6构成极性切换开关。具体而言，在晶体管Tr5中，源极与节点Na连接，漏极与像素驱动电极PE连接，栅极与栅极控制信号线对中的一个栅极控制信号线S+连接。在晶体管Tr6中，源极与节点Nb连接，漏极与像素驱动电极PE连接，栅极与栅极控制信号线对的另一个栅极控制信号线S-连接。
液晶显示元件LC包含具有光反射特性的像素驱动电极(反射电极)PE、与像素驱动电极分离对置配置且具有透光性的公共电极CE、以及填充封入在它们之间的空间区域中的液晶LCM。共用电压Vcom被施加到公共电极CE。晶体管(开关晶体管)Tr9设置在像素驱动电极PE与数据线Di+之间，通过读出用开关选择线TGj切换导通断开。
向数据线对Di+、Di-提供由模拟开关部17采样的极性相互不同的影像信号。这里，当从垂直移位寄存器和电平转换器15输出的扫描脉冲被提供行扫描线Gj时，晶体管Tr1、Tr2同时处于导通状态。由此，在保持电容Cs1、Cs2中分别蓄积并保持正极性和负极性影像信号的电压。
另外，正极侧及负极侧各自的源极跟随器缓冲器的输入电阻几乎无限大。因此，蓄积在保持电容Cs1、Cs2的每个中的电荷不发生泄漏，一直保持到经过1个垂直扫描期间而被写入新的影像信号为止。
构成极性切换开关的晶体管Tr5、Tr6通过根据栅极控制信号S+、S-切换导通断开，交替选择正极侧的源极跟随器缓冲器的输出电压(正极性影像信号的电压)和负极侧的源极跟随器缓冲器的输出电压(负极性影像信号的电压)，并对像素驱动电极PE输出。由此，对像素驱动电极PE施加周期性极性反转的影像信号的电压。这样，该液晶显示装置由于像素本身具有极性反转功能，因此在各像素中通过高速切换提供给像素驱动电极PE的影像信号的电压的极性，能够与垂直扫描频率无关地进行高频下的交流驱动。
(像素52的交流驱动方法的说明)
图4是用于说明由液晶显示装置50进行像素52的交流驱动方法的时序图。这里，对在n行×m列的像素52中第j行且第i列设置的像素52的交流驱动方法进行说明。
另外，在图4中，VST表示成为影像信号的垂直扫描的基准的垂直同步信号。B表示提供用作两种源极跟随器缓冲器的恒流负载的晶体管Tr7、Tr8各个的栅极的栅极控制信号。S+表示提供设置在极性切换开关上的正极侧的晶体管Tr5的栅极的栅极控制信号。S-表示提供设置在极性切换开关上的负极侧的晶体管Tr6的栅极的栅极控制信号。VPE表示施加到像素驱动电极PE的电压。Vcom表示施加于公共电极CE的电压。VLC表示施加于液晶LCM的交流电压。
另外，图5是用于说明写入像素52的正极性影像信号和负极性影像信号各个的从黑到白的电压电平的图。在图5的例子中，正极性影像信号在电压电平最小时表示黑电平，在电压电平最大时表示白电平。与此相对，负极性影像信号在电压电平最小时表示白电平，在电压电平最大时表示黑电平。但是，正极性影像信号也可以在电压电平最小时表示白电平，在电压电平最大时表示黑电平。另外，负极性影像信号也可以在电压电平最小时表示黑电平，在电压电平最大时表示白电平。另外，图中的点划线表示正极性影像信号和负极性影像信号的反转中心。
在像素52中，晶体管Tr9由于读出用开关选择线TGj被固定为L电平而维持断开状态。另一方面，在向行扫描线Gj提供扫描脉冲的情况下，晶体管Tr1、Tr2暂时导通。在晶体管Tr1、Tr2导通的情况下，在保持电容Cs1、Cs2中分别蓄积、保持正极性和负极性影像信号的电压。
如图4所示，在栅极控制信号S+表示H电平期间，正极侧的晶体管Tr5导通。此时，通过使栅极控制信号B为L电平，晶体管Tr7导通，因此正极性侧的源极跟随器缓冲器变为有效。由此，像素驱动电极PE被充电到正极性影像信号的电压电平。另外，通过使栅极控制信号B为L电平，晶体管Tr8导通，因此负极性侧的源极跟随器缓冲器也变为有效。但是，由于负极性侧的晶体管Tr6断开，所以像素驱动电极PE不会被充电到负极性影像信号的电压电平。在电荷被完全充电到像素驱动电极PE的时刻，将栅极控制信号B从L电平切换为H电平，同时将栅极控制信号S+从H电平切换为L电平。由此，像素驱动电极PE成为悬浮状态，因此在液晶电容中保持正极性的驱动电压。
另一方面，在栅极控制信号S-表示H电平期间，负极侧的晶体管Tr6导通。此时，通过使栅极控制信号B为L电平，负极侧的晶体管Tr8导通，因此负极侧的源极跟随器缓冲器变为有效。由此，像素驱动电极PE被充电到负极性影像信号的电压电平。另外，通过使栅极控制信号B为L电平，晶体管Tr7导通，因此正极性侧的源极跟随器缓冲器也变为有效。但是，由于正极性侧的晶体管Tr5断开，所以像素驱动电极PE不会被充电到正极性影像信号的电压电平。在电荷被完全充电到像素驱动电极PE的时刻，将栅极控制信号B从L电平切换为H电平，同时将栅极控制信号S-从H电平切换为L电平。由此，像素驱动电极PE成为悬浮状态，因此在液晶电容中保持负极性的驱动电压。
通过交替地重复上述正极侧和负极侧各自的动作，在像素驱动电极PE中施加使用正极性和负极性各自的影像信号的电压而交流化的驱动电压VPE。
另外，由于不是将保持电容Cs1、Cs2中保持的电荷直接传送到像素驱动电极PE，而是经由源极跟随器缓冲器传送，因此即使在像素驱动电极PE中反复进行正极性和负极性影像信号的电压的充放电的情况下，也能够在不中和电荷的情况下实现电压电平不衰减的像素驱动。
另外，如图4所示，与对像素驱动电极PE的施加电压VPE的电压电平的切换同步地，将对公共电极CE的施加电压Vcom的电压电平切换为与施加电压VPE相反的电平。另外，对公共电极CE的施加电压Vcom以与对像素驱动电极PE的施加电压VPE的反相基准电压大致相等的电压作为反相基准。
这里，由于施加于液晶LCM的实质的交流电压VLC是对像素驱动电极PE的施加电压VPE与对公共电极CE的施加电压Vcom的差电压，液晶LCM被施加不包含直流分量的交流电压VLC。这样，通过与对像素驱动电极PE的施加电压VPE反相地切换对公共电极CE的施加电压Vcom，能够减小应施加于像素驱动电极PE的电压的振幅，因此能够降低构成像素的电路部分的晶体管的耐压及功耗。
另外，即使在每一像素的源极跟随器缓冲器中稳定地流动的电流为1μA的微小电流的情况下，在液晶显示装置的全部像素中稳定地流动的电流有可能成为不可忽视的大电流。例如，在全高清200万像素的液晶显示装置中，消耗电流有可能达到2A。因此，在像素52中，不使用作恒流负载的晶体管Tr7、Tr8始终导通，而仅在分别使正极侧和负极侧的晶体管Tr5、Tr6导通的期间中的有限的期间导通。由此，在使一个源极跟随器缓冲器动作的情况下，能够使另一个源极跟随器缓冲器的动作停止，因此，能够抑制消耗电流增大。
液晶显示元件LC的交流驱动频率与垂直扫描频率无关，可以通过调整像素自身的反相控制周期来自由调整。例如，假设垂直扫描频率是在一般的电视影像信号中使用的60Hz，全高清的垂直周期扫描线数n是1125行。另外，假设以15行期间左右的周期进行各像素中的极性切换。换言之，将各像素中的极性切换的每个周期的行数r设为30行。在这种情况下，液晶的交流驱动频率为60Hz×1125/(15×2)＝2.25kHz。即，液晶显示装置50能够飞跃性地提高液晶的交流驱动频率。由此，能够大幅度提高在液晶的交流驱动频率低的情况下成为问题的在液晶画面上显示的影像的可靠性、稳定性、显示质量。
接着，对液晶显示装置50在各动作模式下的动作进行说明。
(在图像显示模式下的液晶显示装置50的动作)
首先，使用图6对液晶显示装置50在图像显示模式下的动作进行说明。图6是表示液晶显示装置50在图像显示模式下的动作的时序图。
如图6所示，当提供水平同步信号HST的脉冲信号时，移位寄存器电路161与时钟信号HCK同步，依次取入m列量的N(N为2以上整数)位宽的影像信号。1行锁存电路162在触发信号REG_S暂时变为有效的定时将取入到移位寄存器电路161的m列量的影像信号一齐输出。
灰度计数器164对时钟信号CNT_CK的上升次数进行计数，输出与该计数值对应的灰度电平的灰度信号Cout。这里，灰度计数器164在一个水平扫描期间开始时(水平同步信号HST上升时)输出最小电平的灰度信号Cout，随着计数值的上升而使灰度信号Cout的灰度电平增加，在一个水平扫描期间结束时(紧接水平同步信号HST的下一个上升之前)输出最大电平的灰度信号Cout。另外，灰度计数器164的计数值例如根据水平同步信号HST的上升而复位信号CNT_R变为有效，由此初始化为“0”。
设置在比较器部163中的m列的比较器163_1～163_m与时钟信号CMP_CK同步地动作，在从灰度计数器164输出的灰度信号Cout与从1行锁存电路162一齐输出的m列影像信号(行数据)的每个一致的定时，使一致信号P1～Pm为有效(例如L电平)。
在设置于模拟开关部17的m组开关元件SW1+、SW1-～SWm+、SWm-中，正极性侧的开关元件SW1+～SWm+分别设置在数据线D1+～Dm+与共用布线Dcom+之间。另外，负极性侧的开关元件SW1-～SWm-分别设置在数据线D1-～Dm-与共用布线Dcom-之间。m组开关元件SW1+、SW1-～SWm+、SWm-分别根据来自比较器163_1～163_m的一致信号P1～Pm而切换导通断开。
另外，共用布线Dcom+经由外部端子(第一外部端子)而被提供从斜坡信号发生器40输出的作为正极性用的斜坡信号的基准斜坡电压Ref_R+。另外，共用布线Dcom-经由外部端子(第二外部端子)而被提供从斜坡信号发生器40输出的作为负极性用的斜坡信号的基准斜坡电压Ref_R-。
基准斜坡电压Ref_R+是从各水平扫描期间的开始到结束而影像的电平从黑电平变化为白电平的扫描信号。基准斜坡电压Ref_R-是从各水平扫描期间的开始到结束而影像的电平从白电平变化为黑电平的扫描信号。因此，对于共用电压Vcom的基准斜坡电压Ref_R+和对于共用电压Vcom的基准斜坡电压Ref_R-成为相互反相关系。
开关元件SW1+、SW1-～SWm+、SWm-在水平扫描期间开始时，启动信号SW_Start变为有效(例如H电平)，从而一齐导通。之后，开关元件SW1+、SW1-～SWm+、SWm-分别通过从比较器163_1～163_m输出的一致信号P1～Pm变为有效(例如L电平)，而从导通切换为断开。另外，在水平扫描期间结束时，启动信号SW_Start变为无效(例如L电平)。
在图6的例子中，表示切换与写入灰度电平k的影像信号的像素列对应设置的开关元件SWq+、SWq-(q是1～m中的任意一个整数)的导通断开的定时的波形被示出为波形SPk。参照图6，上述开关元件SWq+、SWq-在启动信号SW_Start上升时导通后，一致信号Pq变为有效，由此从导通切换为断开。这里，开关元件SWq+、SWq-在从导通切换到断开的定时对基准斜坡电压Ref_R+、Ref_R-(图6中的电压P、Q)进行采样。这些被采样的电压P、Q被提供数据线Dq+、Dq-。换言之，灰度电平k的影像信号的DA变换结果、即模拟电压P、Q分别被提供给数据线Dq+、Dq-。
另外，在图像显示模式中，从外部提供H电平的模式切换信号MD。因此，从垂直移位寄存器和电平转换器15逐行依次输出的n行扫描脉冲分别被提供给行扫描线G1～Gn。由此，例如设置在第j行的各像素52中的晶体管Tr1、Tr2暂时导通。其结果是，在设置于第j行的各像素52的保持电容Cs1、Cs2中，分别蓄积、保持对应的正极性和负极性影像信号的电压。另一方面，由于读出用开关选择线TG1～TGn断开，所以设置在各像素52中的晶体管Tr9维持断开状态。关于之后的各像素52的交流驱动方法，如已经说明的那样。
如上所述，开关元件SW1+、SW1-～SWm+、SWm-在各水平扫描期间开始时一齐导通，但在与使对应的像素52显示的图像的灰度电平对应的任意定时断开。即，开关元件SW1+、SW1-～SWm+、SWm-有时全部同时断开，有时在不同定时断开。另外，关闭的顺序也不固定。
这样，液晶显示装置50通过使用斜坡信号对影像信号进行DA变换后写入到像素52，从而能够提高图像的直线性。
(在像素检查模式下的液晶显示装置50的动作)
接着，对液晶显示装置50的像素检查模式下的动作进行说明。另外，在像素检查模式下，代替斜坡信号发生器40而设置检查装置(未图示)。
在像素检查模式下，首先，对作为检查对象的第j行的m个像素52进行检查用的影像信号的写入。此时的动作基本上与像素显示模式下的动作是同样的。然后，读出写入到作为检查对象的第j行的m个像素52中的影像信号(像素驱动电压VPE)。
在像素读出动作中，从外部提供的模式切换信号MD从H电平切换到L电平。因此，从垂直移位寄存器和电平转换器15输出的第j行的扫描脉冲被提供给读出用开关选择线TGj。由此，设置在作为检查对象的第j行的各像素52中的晶体管Tr9暂时导通。另一方面，由于行扫描线Gj断开，所以设置在各像素52中的晶体管Tr1、Tr2维持断开状态。
例如，在第j行且第i列设置的像素52中，通过晶体管Tr9导通，像素驱动电极PE和数据线Di+成为导通状态。此时，通过使晶体管Tr7、Tr8有效，并且使晶体管Tr5、Tr6中的任一个导通，像素驱动电极PE成为由晶体管Tr3、Tr7或由晶体管Tr4、Tr8构成的源极跟随器缓冲器驱动的状态。由此，由源极跟随器缓冲器施加到像素驱动电极PE的驱动电压VPE被读出到数据线Di+。
从作为检查对象的第j行的m个像素52读出到各个数据线D1+～Dm+的m个像素驱动电压VPE，通过依次导通设置在模拟开关部17上的m组SW1+、SW1-～SWm+、SWm-，而依次被提供到共用布线Dcom+。代替斜坡信号发生器40而设置的检查装置(未图示)基于经由共用布线Dcom+而依次提供的m个像素驱动电压VPE，检测第j行的m个像素52有无故障(像素的缺陷及特性劣化)。
这样的检查从第一行的m个像素52到第n行的m个像素52逐行依次进行。
这里，在检查对象的像素52中，由于直接读出由低输出阻抗的源极跟随器缓冲器驱动的像素驱动电极PE的电压VPE，因此能够准确且容易地检测出为检查对象的像素52的缺陷或特性劣化。
但是，在液晶显示装置50的结构中，由于在n行的像素52的每一个上设置有读出用开关选择线TG1～TGn，所以布线变得拥挤。若为了避免该布线拥挤而充分增大布线间隔，则存在像素间距变大、结果电路规模增大的问题。
具体而言，在本例中，读出用开关选择线TG1～TGn分别以在水平方向(X轴方向)上延伸方式布线在沿垂直方向(Y轴方向)排列的n行像素12之间。由于该影响，无法充分减小纵向(Y轴方向)的像素间距。这里，一般情况下，纵向的像素间距和横向(X轴方向)的像素间距需要一致为相同的值。因此，如果不能充分减小纵向的像素间距，则横向的像素间距也不能充分减小。由此，在液晶显示装置50中，难以实现像素的小型化。
若不能实现像素的小型化，则面板尺寸变大，因此从一片晶片得到的芯片的获取数变少，其结果，芯片成本变高。另外，在搭载有这样的电路规模大的液晶显示装置50的投影机中，由于光学系统变大，投影机主体大型化，并且，就会变得昂贵。
因此，发现了能够在减小像素间距来抑制电路规模增大的同时执行像素检查的、实施方式1涉及的液晶显示装置及其检查方法。
<实施方式1>
图7是示出实施方式1涉及的液晶显示装置(液晶设备)1的结构例的图。在液晶显示装置1中，与液晶显示装置50相比，减少了像素检查时使用的控制信号线的根数。
具体而言，与液晶显示装置50相比，液晶显示装置1具备图像显示部11来代替图像显示部51，并且具备n个的二分之一的p个与电路ADB1～ADBp来代替n个与电路ADB1～ADBn。另外，在图7中还示出了在通常动作时与液晶显示装置1连接的斜坡信号发生器40。
水平驱动器16与模拟开关部17一起构成数据线驱动电路，具有移位寄存器电路161、1行锁存电路162、比较器部163和灰度计数器164。比较器部163具备与m(m是2以上整数)列像素12对应的m个比较器163_1～163_m。模拟开关部17具备与m列像素12对应的m组开关元件SW1+、SW1-～SWm+、SWm-。
在图像显示部11的像素配置区域中，首先，n行(n是2以上的偶数)的行扫描线G1～Gn分别以在垂直方向(Y轴方向)上排列且在水平方向(X轴方向)上延伸的方式布线。另外，在图7的例子中，在n根行扫描线G1～Gn中，布线在第奇数行的p根行扫描线分别表示为行扫描线G1_u～Gp_u，布线在第偶数行的p根行扫描线分别表示为行扫描线G1_d～Gp_d。
另外，在图7的例子中，在n个与电路ADA1～ADAn中，与行扫描线G1_u～Gp_u对应设置的第奇数个的p个与电路分别表示为与电路ADA1_u～ADAp_u，与行扫描线G1_d～Gp_d对应设置的第偶数个的p个与电路分别表示为与电路ADA1_d～ADAp_d。
另外，在图像显示部11的像素配置区域中，p(p是n的二分之一)行的读出用开关选择线TG1～TGp分别以在垂直方向上排列且在水平方向上延伸的方式布线。
另外，在图像显示部11的像素配置区域中，m列数据线D1+、D1-～Dm+、Dm-的组分别以在水平方向上排列且在垂直方向上延伸的方式布线。
进而，在图像显示部11的像素配置区域中，分别布线有用于控制配置在第奇数行的各像素12(以下也称为像素12_u)的栅极控制信号线S+_u、S-_u、B_u、以及用于控制配置在第偶数行的各像素12(以下也称为像素12_d)的栅极控制信号线S+_d、S-_d、B_d。
图像显示部11具有规则地配置的多个像素12。这里，多个像素12以二维矩阵状(行列状)配置在合计n×m个交叉部，该n×m个交叉部为在水平方向(X轴方向)上延伸的n行行扫描线G1～Gn(即，行扫描线G1_u、G1_d～Gp_u、Gp_d)与在垂直方向(Y轴方向)延伸的m组数据线D1+、D1-～Dm+、Dm-交叉而得。
在n根行扫描线G1～Gn中的第j行(j是1～n的任意整数)上布线的行扫描线Gj与配置在第j行的m个像素12的每个共用连接。
换言之，首先，在第奇数行上布线的p(p是n的二分之一的整数)根行扫描线G1_u～Gp_u中，在第f(f是1～p的任意整数)个奇数行上布线的行扫描线Gf_u，与配置在第f个奇数行上的m个像素12_u的每个共用连接。另外，在第偶数行上布线的p根行扫描线G1_d～Gp_d中，在第f个偶数行上布线的行扫描线Gf_d与配置在第f个偶数行的m个像素12_d的每个共用连接。
另外，读出用开关选择线TGf(f是1～p的任意整数)与配置在第f个奇数行的m个像素12(即像素12_u)和配置在第f个偶数行的m个像素12(即像素12_d)的每个共用连接。即，读出用开关选择线TGf与m×2个像素12共用连接。
此外，栅极控制信号线S+_u、S-_u和栅极控制信号线B_u都与设置在第奇数行中的所有像素12(即，像素12_u)共用连接，并且，栅极控制信号线S+_d、S-_d以及栅极控制信号线B_d都与设置在第偶数行的所有像素12(即，像素12_d)共用连接。另外，栅极控制信号线S+_u、S-_u以及栅极控制信号线B_u都可以相对于第奇数行的各个行分别设置，栅极控制信号线S+_d、S-_d以及栅极控制信号线B_d都可以对第偶数行的各个行分别设置。
[像素12的具体结构例]
图8是示出设置在液晶显示装置1中的像素12的具体结构例的图。另外，在图8例子中，示出由有p行(p是n的二分之一)的奇数行中的第f个奇数行且第i列的像素12、即像素(第一像素)12_u和有p行的偶数行中的第f个偶数行且第i列的像素12、即像素(第二像素)12_d构成的一对像素对。
这里，像素12_u、12_d基本上具有与像素52相同的电路结构。但是，为了使说明容易理解，在赋予像素12_u的构成要素的符号的末尾有时会附加“_u”，在赋予像素12_d的构成要素的符号的末尾有时会附加“_d”。
参照图8，像素12_u、12_d在垂直方向(Y轴方向)上相邻配置，共用数据线Di+、Di-。在图8的例子中，像素12_u、12_d以它们的边界线为对称轴对称地配置。
在图8例子中，像素12_u中的晶体管Tr1_u～Tr9_u、保持电容Cs1_u、Cs2_u、液晶显示元件LC_u、像素驱动电极PE_u、液晶LCM_u分别对应于像素52中的晶体管Tr1～Tr9、保持电容Cs1、Cs2、液晶显示元件LC、像素驱动电极PE、液晶LCM。另外，像素12_d中的晶体管Tr1_d～Tr9_d、保持电容Cs1_d、Cs2_d、液晶显示元件LC_d、像素驱动电极PE_d、液晶LCM_d分别对应于像素52中的晶体管Tr1～Tr9、保持电容Cs1、Cs2、液晶显示元件LC、像素驱动电极PE、液晶LCM。
在像素12_u中，晶体管Tr1_u、Tr2_u各自的栅极都与行扫描线Gf_u连接。另外，晶体管Tr5_u的栅极与栅极控制信号线S+_u连接，晶体管Tr6_u的栅极与栅极控制信号线S-_u连接。晶体管Tr7_u、Tr8_u各自的栅极都与栅极控制信号线B_u连接。此外，晶体管Tr9_u的栅极与读出用开关选择线TGf连接。
在像素12_d中，晶体管Tr1_d、Tr2_d各自的栅极都与行扫描线Gf_d连接。另外，晶体管Tr5_d的栅极与栅极控制信号线S+_d连接，晶体管Tr6_d的栅极与栅极控制信号线S-_d连接。晶体管Tr7_d、Tr8_d各自的栅极都与栅极控制信号线B_d连接。此外，晶体管Tr9_d的栅极与读出用开关选择线TGf连接。
即，像素12_u中设置的晶体管Tr9_u的栅极和像素12_d中设置的晶体管Tr9_d的栅极与共用的读出用开关选择线TGf连接。关于各像素12_u、12_d的其他结构，由于与像素52的情况是同样的，所以省略其说明。
极性切换控制电路14根据由定时发生器13生成的定时信号，对栅极控制信号线S+_u、S+_d输出正极性用的栅极控制信号(栅极控制信号S+_u、S+_d)，对栅极控制信号线S-_u、S-_d输出负极性用的栅极控制信号(栅极控制信号S-_u、S-_d)，进而，对栅极控制信号线B_u、B_d输出栅极控制信号(栅极控制信号B_u、B_d)。
垂直移位寄存器和电平转换器15从第一行到第n行逐行依次以1水平扫描期间HST的周期输出n行的扫描脉冲。与电路ADA1～ADAn(换言之，与电路ADA1_u、ADA1_d～ADAp_u、ADAp_d)分别基于从外部提供的模式切换信号MD，控制是否将从垂直移位寄存器和电平转换器15逐行依次输出的n行扫描脉冲输出到行扫描线G1～Gn(换言之，行扫描线G1_u、G1_d～Gp_u、Gp_d)。另外，与电路ADB1～ADBp分别基于从外部提供的模式切换信号MD，控制是否将从垂直移位寄存器和电平转换器15逐行依次输出的p行的扫描脉冲输出到读出用开关选择线TG1～TGp。
例如，在向像素12写入影像信号的动作(图像写入动作)的情况下，从外部提供H电平的模式切换信号MD。在这种情况下，与电路ADA1～ADAn分别将从垂直移位寄存器和电平转换器15逐行依次输出的n行的扫描脉冲输出到行扫描线G1～Gn。另外，此时，与电路ADB1～ADBp的各个不将从垂直移位寄存器和电平转换器15逐行依次输出的p行的扫描脉冲输出到读出用开关选择线TG1～TGp。因此，读出用开关选择线TG1～TGp都被固定为L电平。
与此相对，在读出写入到像素12中的影像信号的动作(图像读出动作)的情况下，从外部提供L电平的模式切换信号MD。在这种情况下，与电路ADB1～ADBp分别将从垂直移位寄存器和电平转换器15逐行依次输出的p行的扫描脉冲输出到读出用开关选择线TG1～TGp。另外，此时，与电路ADA1～ADAn的各个不将从垂直移位寄存器和电平转换器15逐行依次输出的n行的扫描脉冲输出到行扫描线G1～Gn。因此，行扫描线G1～Gn都被固定为L电平。
[像素检查模式下的液晶显示装置1的动作]
接着，对液晶显示装置1在像素检查模式下的动作进行说明。另外，在像素检查模式下，代替斜坡信号发生器40而设置检查装置。
如已经说明的那样，图8示出有p行(p是n的二分之一)的奇数行中第f个奇数行且第i列的像素12、即像素12_u和有p行的偶数行中第f个偶数行且第i列的像素12、即像素12_d的图。另外，图9是表示液晶显示装置1在像素检查模式下的动作的时序图。以下，以共用图8所示的读出用开关选择线TGf的第i列的像素12_u、12_d的检查方法为中心进行说明。
在像素检查模式中，首先，对像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)进行检查用的影像信号的写入。此时的动作基本上与图像显示模式下的影像信号的写入动作是同样的。
具体而言，首先，使设置于模拟开关部17的开关元件SW1+、SW1-～SWm+、SWm-导通。由此，从水平驱动器16输出的检查用的影像信号被提供给数据线D1+、D1-～Dm+、Dm-。另外，此时，由于从外部提供H电平的模式切换信号MD，因此从垂直移位寄存器和电平转换器15输出的扫描脉冲被提供给行扫描线Gf_u。通过行扫描信号Gf_u上升，由于设置在像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)中的晶体管Tr1_u、Tr2_u暂时导通，所以在像素12_u中设置的保持电容Cs1_u、Cs2_u中，分别蓄积、保持(时刻t11)向数据线Di+、Di-提供的影像信号的电压。另一方面，在像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)中设置的晶体管Tr9_u维持断开状态。
在本例中，作为检查用影像信号，4V的电压被提供给数据线Di+，1V的电压被提供给数据线Di-。因此，在保持电容Cs1_u中写入4V的影像信号的电压，在保持电容Cs2_u中写入1V的影像信号的电压。
接着，对像素12_d(更详细地说，包含像素12_d的检查对象的行的m个像素12)进行检查用的影像信号的写入。此时的动作基本上与图像显示模式下的影像信号的写入动作是同样的。
具体而言，首先，使设置于模拟开关部17的开关元件SW1+、SW1-～SWm+、SWm-导通。由此，从水平驱动器16输出的检查用的影像信号被提供给数据线D1+、D1-～Dm+、Dm-。另外，此时，由于从外部提供H电平的模式切换信号MD，因此从垂直移位寄存器和电平转换器15输出的扫描脉冲被提供给行扫描线Gf_d。通过行扫描信号Gf_d上升，由于设置在像素12_d(更详细地说，包含像素12_d的检查对象的行的m个像素12)中的晶体管Tr1_d、Tr2_d暂时导通，所以在像素12_d中设置的保持电容Cs1_d、Cs2_d中，分别蓄积、保持(时刻t12)向数据线Di+、Di-提供的影像信号的电压。另一方面，在像素12_d(更详细地说，包含像素12_d的检查对象的行的m个像素12)中设置的晶体管Tr9_d维持断开状态。
在本例中，作为检查用的影像信号，1V的电压被提供数据线Di+，4V的电压被提供数据线Di-。因此，在保持电容Cs1_d中写入1V的影像信号的电压，在保持电容Cs2_d中写入4V的影像信号的电压。
在保持电容Cs1_u、Cs2_u、Cs1_d、Cs2_d中写入影像信号后，在模拟开关部17中设置的开关元件SW1+、SW1-～SWm+、SWm-都被控制为断开。由此，停止从水平驱动器16向数据线D1+、D1-～Dm+、Dm-提供影像信号。
然后，进行写入到像素12_u、12_d中的影像信号的读出。
首先，作为读出前的准备动作，从外部提供的模式切换信号MD从H电平切换为L电平。由此，从垂直移位寄存器和电平转换器15输出的扫描脉冲被提供给读出用开关选择线TGf。由此，在像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)中设置的晶体管Tr9_u导通。同时，在像素12_d(更详细地说，包含像素12_d的行的m个像素12)中设置的晶体管Tr9_d也导通。
当读出用开关选择线TGf上升时，设置于像素12_u中的像素驱动电极PE_u和数据线Di+成为导通状态，并且设置于像素12_d中的像素驱动电极PE_d和数据线Di+成为导通状态(时刻t13)。
另外，此时，像素12_u的晶体管Tr5_u、Tr6_u以及像素12_d的晶体管Tr5_d、Tr6_d均断开。因此，在像素12_u、12_d的构成要素中，成为仅像素驱动电极PE_u、PE_d与数据线Di+连接的状态。
在本例中，作为检查用的影像信号，向数据线Di+提供1V的电压。因此，在像素驱动电极PE_u、PE_d中，均考虑到源极跟随器的偏置，而被写入约1V的电压VPE_u、VPE_d。
这里，临时导通设置在模拟开关部17上的开关元件SWi+。由此，数据线Di+的电压经由设置在模拟开关部17上的开关元件SWi+被提供给检查装置(未图示)。该检查装置例如在检测出数据线Di+表示1V的情况下，判定为像素驱动电极PE_u、PE_d与电源电压及接地电压均未短路，当检测到数据线Di+表示电源电压或接地电压的值时，判断为像素驱动电极PE_u、PE_d的至少某一个与电源电压或接地电压短路。
同样地，通过将设置在模拟开关部17上的开关元件SW1+～SWm+逐一地依次暂时导通，检查装置能够进行以下检查：在包含像素12_u、12_d的检查对象的2行的m×2个像素12中设置的像素驱动电极PE是否与电源电压或接地电压短路。
当读出之前的准备动作完成时，例如，进行将在像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)的正极性侧的保持电容Cs1_u中写入的正极性影像信号向数据线Di+读出。
具体而言，首先，通过使栅极控制信号B_u为有效(L电平)，使像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)的、通过晶体管Tr3_u、Tr7_u构成的源极跟随器缓冲器、以及通过晶体管Tr4_u、Tr8_u构成的源跟随器缓冲器动作(时刻t14)。
然后，通过使栅极控制信号S+_u为有效(H电平)，使像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)的正极性侧的晶体管Tr5_u导通(时刻t15)。由此，保持在保持电容Cs1_u中的正极性影像信号的电压传输到像素驱动电极PE_u，该像素驱动电极PE_u的电压VPE_u经由晶体管Tr9_u传输(读出)到数据线Di+。
这里，晶体管Tr3_u、Tr7_u构成源极跟随器缓冲器，因此能够持续驱动数据线Di+，直到该数据线Di+的电压达到在保持电容Cs1_u中保持的正极性影像信号的电压上加上晶体管Tr3_u的阈值电压而得的电压为止。
在本例中，在保持电容Cs1_u中保持4V的电压。因此，由晶体管Tr3_u、Tr7_u构成的源极跟随器缓冲器，将像素驱动电极PE_u驱动到考虑了晶体管Tr3_u的阈值电压量的约5.5V，进而驱动数据线Di+到约5.5V。
这里，临时导通设置在模拟开关部17上的开关元件SWi+。由此，从像素12_u读出到数据线Di+的5.5V的影像信号经由设置于模拟开关部17的开关元件SWi+，提供到检查装置(未图示)。该检查装置例如在检测出数据线Di+示出为5.5V的情况下，判定为晶体管Tr1_u、Tr3_u、Tr5_u、Tr7_u及保持电容Cs1_u没有异常，当检测出数据线Di+表示5.5V以外时，判定为晶体管Tr1_u、Tr3_u、Tr5_u、Tr7_u及保持电容Cs1_u中的某一个存在异常。
同样地，通过将设置在模拟开关部17上的开关元件SW1+～SWm+逐个地依次暂时导通，检查装置能够对包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12的每一个检查正极性侧的晶体管及正极性侧的保持电容是否存在异常。
然后，通过使栅极控制信号S+_u为无效(L电平)，使像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)的正极性侧的晶体管Tr5_u断开(时刻t16)。由此，结束在像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)中设置的正极性侧的晶体管以及正极性侧的保持电容的检查。
接着，对像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)的负极性侧的保持电容Cs2_u中写入的负极性影像信号向数据线Di+进行读出。
具体而言，通过使栅极控制信号S-_u为有效(H电平)，使像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)的负极性侧的晶体管Tr6_u导通(时刻t17)。由此，保持在保持电容Cs2_u中的负极性影像信号的电压传输到像素驱动电极PE_u，该像素驱动电极PE_u的电压VPE_u经由晶体管Tr9_u传输(读出)到数据线Di+。
这里，晶体管Tr4_u、Tr8_u构成源极跟随器缓冲器，因此能够持续驱动数据线Di+，直到该数据线Di+的电压达到在保持电容Cs2_u中保持的负极性影像信号的电压上加上晶体管Tr4_u的阈值电压而得的电压为止。
在本例中，在保持电容Cs2_u中保持1V的电压。因此，由晶体管Tr4_u、Tr8_u构成的源极跟随器缓冲器，将像素驱动电极PE_u驱动到考虑了晶体管Tr4_u的阈值电压量的约1.8V，进而驱动数据线Di+至约1.8V。
这里，临时导通设置在模拟开关部17上的开关元件SWi+。由此，从像素12_u读出到数据线Di+的1.8V的影像信号经由设置于模拟开关部17的开关元件SWi+，提供到检查装置(未图示)。该检查装置例如在检测出数据线Di+示出为1.8V时，判定为晶体管Tr2_u、Tr4_u、Tr6_u、Tr8_u及保持电容Cs2_u没有异常，当检测出数据线Di+表示1.8V以外时，判定为晶体管Tr2_u、Tr4_u、Tr6_u、Tr8_u及保持电容Cs2_u中的某一个存在异常。
同样地，通过将设置在模拟开关部17上的开关元件SW1+～SWm+逐个依次暂时导通，检查装置能够对包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12的每一个检查负极性侧的晶体管及负极性侧的保持电容是否存在异常。
然后，通过使栅极控制信号S-_u为无效(L电平)，使像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)的负极性侧的晶体管Tr6_u断开(时刻t18)。由此，结束在像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)中设置的负极性侧的晶体管以及负极性侧的保持电容的检查。
接着，将像素12_d(更详细地说，包含像素12_d的检查对象的行的m个像素12)的正极性侧的保持电容Cs1_d中写入的正极性影像信号向数据线Di+进行读出。
具体而言，首先，通过使栅极控制信号B_d为有效(L电平)，使像素12_d(更详细地说，包含像素12_d的检查对象的行的m个像素12)的晶体管Tr3_d、Tr7_d构成的源极跟随器缓冲器以及晶体管Tr4_d、Tr8_d构成的源跟随器缓冲器动作(时刻t19)。
然后，通过使栅极控制信号S+_d为有效(H电平)，使像素12_d(更详细地说，包含像素12_d的检查对象的行的m个像素12)的正极性侧的晶体管Tr5_d导通(时刻t20)。由此，保持在保持电容Cs1_d中的正极性影像信号的电压传输到像素驱动电极PE_d，该像素驱动电极PE_d的电压VPE_d经由晶体管Tr9_d传输(读出)到数据线Di+。
这里，晶体管Tr3_d、Tr7_d构成源极跟随器缓冲器，因此能够持续驱动数据线Di+，直到该数据线Di+的电压达到在保持电容Cs1_d中保持的正极性影像信号的电压上加上晶体管Tr3_d的阈值电压而得的电压为止。
在本例中，在保持电容Cs1_d中保持1V的电压。因此，由晶体管Tr3_d、Tr7_d构成的源极跟随器缓冲器，将像素驱动电极PE_d驱动至考虑了晶体管Tr3_d的阈值电压量的约1.8V，进而驱动数据线Di+至约1.8V。
这里，临时导通设置在模拟开关部17上的开关元件SWi+。由此，从像素12_u读出到数据线Di+的1.8V的影像信号经由设置于模拟开关部17的开关元件SWi+提供到检查装置(未图示)。该检查装置例如在检测出数据线Di+示出为1.8V的情况下，判定为晶体管Tr1_d、Tr3_d、Tr5_d、Tr7_d及保持电容Cs1_d没有异常，当检测出数据线Di+示出1.8V以外时，判定为晶体管Tr1_d、Tr3_d、Tr5_d、Tr7_d及保持电容Cs1_d中的某一个存在异常。
同样地，通过将设置在模拟开关部17上的开关元件SW1+～SWm+逐个地依次暂时导通，检查装置能够对包含像素12_d的检查对象行的m个像素12的每一个检查正极性侧的晶体管及正极性侧的保持电容是否存在异常。
然后，通过使栅极控制信号S+_d为无效(L电平)，使像素12_d(更详细地说，包含像素12_d的检查对象的行的m个像素12)的正极性侧的晶体管Tr5_d断开(时刻t21)。由此，结束在像素12_d(更详细地说，包含像素12_d的检查对象的行的m个像素12)中设置的正极性侧的晶体管以及正极性侧的保持电容的检查。
接着，对像素12_d(更详细地说，包含像素12_d的检查对象的行的m个像素12)的负极性侧的保持电容Cs2_d中写入的负极性影像信号向数据线Di+进行读出。
具体而言，通过使栅极控制信号S-_d为有效(H电平)，使像素12_d(更详细地说，包含像素12_d的检查对象的行的m个像素12)的负极性侧的晶体管Tr6_d导通(时刻t22)。由此，保持在保持电容Cs2_d中的负极性影像信号的电压传输到像素驱动电极PE_d，该像素驱动电极PE_d的电压VPE_d经由晶体管Tr9_d传输(读出)到数据线Di+。
这里，晶体管Tr4_d、Tr8_d构成源极跟随器缓冲器，因此能够持续驱动数据线Di+，直到该数据线Di+的电压达到在保持电容Cs2_d中保持的负极性影像信号的电压上加上晶体管Tr4_d的阈值电压的电压为止。
在本例中，在保持电容Cs2_d中保持4V的电压。因此，由晶体管Tr4_d、Tr8_d构成的源极跟随器缓冲器，将像素驱动电极PE_d驱动到考虑了晶体管Tr4_d的阈值电压量的约5.5V，进而驱动数据线Di+到约5.5V。
这里，临时导通设置在模拟开关部17上的开关元件SWi+。由此，从像素12_d读出到数据线Di+的5.5V的影像信号经由设置于模拟开关部17的开关元件SWi+而被提供到检查装置(未图示)。该检查装置例如在检测出数据线Di+示出为5.5V的情况下，判定为晶体管Tr2_d、Tr4_d、Tr6_d、Tr8_d及保持电容Cs2_d没有异常，当检测出数据线Di+示出5.5V以外时，判定为晶体管Tr2_d、Tr4_d、Tr6_d、Tr8_d及保持电容Cs2_d中的某一个存在异常。
同样地，通过将设置在模拟开关部17上的开关元件SW1+～SWm+逐个地依次暂时导通，检查装置能够对包含像素12_d的检查对象的行的m个像素12的每一个检查负极性侧的晶体管及负极性侧的保持电容是否存在异常。
然后，通过使栅极控制信号S-_d为无效(L电平)，使像素12_d(更详细地说，包含像素12_d的检查对象的行的m个像素12)的负极性侧的晶体管Tr6_d断开(时刻t23)。由此，结束在像素12_d(更详细地说，包含像素12_d的检查对象行的m个像素12)中设置的负极性侧的晶体管以及负极性侧的保持电容的检查。
然后，从外部提供的模式切换信号MD从L电平切换为H电平。由此，读出用开关选择线TGf被固定为L电平，因此在像素12_u、12_d(更详细地说，包含像素12_u、12_d的行的m×2个像素12)中设置的晶体管Tr9_u、Tr9_d断开(时刻t24)。由此，结束在像素12_u、12_d(更详细地说，包含像素12_u、12_d的行的m×2个像素12)中设置的晶体管及保持电容的检查。
这样的检查从第一行的m个像素12到第n行的m个像素12按每2行的顺序进行。
这样，本实施方式涉及的液晶显示装置1能够检查构成各像素12的晶体管Tr1～Tr9及保持电容Cs1、Cs2的每一个是否正常动作。
另外，在本实施方式涉及的液晶显示装置1中，不是在各个n行像素上设置n根读出用开关选择线TG1～TGn，而对n行像素12设置n行的二分之一的p根读出用开关选择线TG1～TGp。换言之，在本实施方式涉及的液晶显示装置1中，对2行量的m×2个像素12设置有1根读出用开关选择线。由此，在本实施方式涉及的液晶显示装置1中，与液晶显示装置50的情况相比，不仅能够减小横向的像素间距，而且能够减小纵向的像素间距，因此，结果能够抑制电路规模的增大。
总之，本实施方式涉及的液晶显示装置1能够抑制电路规模的增大，并且能够执行像素的检查。
通过像素的小型化，能够实现面板尺寸的小型化，因此从一片晶片得到的芯片的获取数变多，其结果，削减芯片成本。另外，在搭载有这样的电路规模较小的液晶显示装置1的投影机中，由于抑制了光学系统的规模，因此能够实现投影仪主体的小型化及成本削减。
例如，在液晶显示装置50中，每个像素的像素间距为6um，与此相对，在液晶显示装置1中，能够将每个像素的像素间距减小到大约5.5um。这对于多像素化非常有效。例如，在4K2K的情况下，由于在纵方向上需要2000像素，因此通过每个像素0.5um的小型化，能够实现像素整体为1mm左右的小型化。
另外，读出用开关选择线TG1～TGp仅在用于辨别晶片完成后且切割前进行的芯片的不良的探针测试中使用。因此，在探针测试后从晶片切出的各芯片中，例如读出用开关选择线TG1～TGp被固定为L电平的电压。这里，在各芯片中，固定为规定电压的读出用开关选择线TG1～TGp起到屏蔽的作用，以抑制在以夹着它们的方式配置的像素12之间可能发生的信号串扰。
例如，在以夹着读出用开关选择线TGf(f是1～p中任意整数)的方式配置的像素12_u、12_d中，写入相互独立的影像信号(模拟信号)。这里，在像素12_u、12_d之间发生信号串扰的情况下，像素12_u、12_d不能分别显示准确的画。
具体而言，在本例中，写入像素12中的影像信号由模拟灰度表现，例如在以10位宽的灰度表现为5.5V的情况下，1灰度为5.3mV。因此，当信号电压由于超过5.3mV的信号串扰而产生偏差时，像素12_u、12_d无法分别显示准确的画。
但是，在探针测试后从晶片切出的各芯片中，读出用开关选择线TG1～TGp均被固定为L电平的电压。因此，例如，在像素12_u、12_d之间布线的读出用开关选择线TGf，能够抑制在像素12_u、12_d之间可能发生的信号串扰。即，在各芯片中，能够抑制在以将读出用开关选择线TG1～TGp的各个夹着的方式配置的像素12之间可能产生的信号串扰。
通常，为了使像素间距小型化，需要使信号线等布线间的间隙变窄，但若使布线间隔变窄，则在布线间会产生较多的信号串扰。与此相对，在本实施方式中，不仅能够使像素间距小型化，还能够通过读出用开关选择线TG1～TGp，能够抑制在以夹着它们的方式配置的像素之间可能产生的信号串扰。
另外，本实施方式涉及的液晶显示装置1也可以检查由晶体管Tr3、Tr7构成的源极跟随器缓冲器、以及由晶体管Tr4、Tr8构成的源极跟随器缓冲器各自的阈值电压的偏差和漏电流量等。进而，本实施方式涉及的液晶显示装置1还能够校正这些阈值电压的偏差，或者进行考虑了漏电流的影像信号的写入。
例如，在检查时，读出与阈值电压的偏差对应的像素驱动电压VPE的偏差量并预先保存在外部存储器中，在检查后的通常动作时，通过反映与保存在外部存储器中的偏差量对应的偏置，能够消除每个像素的阈值电压的偏差。由此，能够抑制因阈值电压的偏差而产生的画面上的影像的不均匀，因此能够得到均匀的显示特性。
另外，例如，在检查时，预先确定漏电流量及其像素位置，在检查后的通常动作时，通过将考虑了泄漏量的影像信号写入成为对象的位置的像素，能够消除每个像素的漏电流量的偏差。由此，能够使用因漏电流量多而废弃的芯片，因此提高成品率。
在本实施方式中，以像素12_u的正极性侧、像素12_u的负极性侧、像素12_d的正极性侧、以及像素12_d的负极性侧的顺序进行是否有异常的检查的情况为例进行了说明，但不限于此。检查顺序可以适当变更。
接着，说明液晶显示装置1的几个变形例。
[液晶显示装置1的第一变形例]
图10是示出在作为液晶显示装置1的第一变形例的液晶显示装置中设置的一部分像素12、水平驱动器16以及模拟开关部17的图。
在液晶显示装置1中，设置在m列像素12的各个上的m列晶体管Tr9分别与数据线D1+～Dm+连接。与此相对，在第一变形例的液晶显示装置中，如图10所示，设置在奇数列的像素12的各个上的奇数列的晶体管Tr9(Tr9_u、Tr9_d)分别与奇数列且正极性侧的数据线D1+、D3+、……、D(m-1)+连接，设置在偶数列的像素12的各个上的偶数列的晶体管Tr9(Tr9_u、Tr9_d)分别与偶数列且负极性侧的数据线D2-、D4-、……、Dm-连接。
由此，第一变形例的液晶显示装置能够使用两个共用布线Dcom+、Dcom-同时读出写入到在水平方向(横向)上相邻的两个像素12的各个中的检查用的影像信号。例如，第一变形例的液晶显示装置能够经由数据线D1+、开关元件SW1+及共用布线Dcom+读出写入到第一列像素12的检查用的影像信号，并经由数据线D2-、开关元件SW2-及共用布线Dcom-读出写入到第二列像素12的检查用的影像信号等。由此，能够缩短由外部检查装置(未图示)进行的全部像素12的检查。
[液晶显示装置1的第二变形例]
图11是表示在作为液晶显示装置1的第二变形例的液晶显示装置中设置的一部分像素12、水平驱动器16以及模拟开关部17的图。
在图11所示的第二变形例的液晶显示装置中，共用布线Dcom+通过4根共用布线Dcom1+～Dcom4+构成，共用布线Dcom-通过4根共用布线Dcom1-～Dcom4-构成。由于第二变形例的液晶显示装置的其他结构与第一变形例的液晶显示装置的情况相同，因此省略其说明。
这里，在第二变形例的液晶显示装置中，正极性侧的数据线D1+～Dm+经由模拟开关部17分散连接于共用布线Dcom1+～Dcom4+，负极性侧的数据线D1-～Dm-经由模拟开关部17分散连接于共用布线Dcom1-～Dcom4-。
由此，第二变形例的液晶显示装置能够使用8个共用布线Dcom1+～Dcom4+、Dcom1-～Dcom4-同时读出写入到在水平方向(横向)上相邻的8个像素12的各个中的检查用的影像信号。由此，能够进一步缩短由外部检查装置(未图示)进行的全部像素12的检查。
在图11的例子中，对共用布线Dcom+通过4根共用布线Dcom1+～Dcom4+构成、共用布线Dcom-通过4根共用布线Dcom1-～Dcom4-构成的情况进行了说明，但不限于此。共用布线Dcom+可以通过两个以上的任意数量的共用布线构成，共用布线Dcom-也可以通过两个以上的任意数量的共用布线构成。
[液晶显示装置1的第三变形例]
图12是示出在作为液晶显示装置1的第三变形例的液晶显示装置中设置的一部分像素12的图。另外，在图12的例子中，示出了有p行(p是n的二分之一)的奇数行中的第f(f是1～p的任意整数)奇数行且第i列的像素12的像素12_u、有p行的偶数行中的第f偶数行且第i列的像素12的像素12_d。
在图8的例子中，设置在像素12_u、12_d的各个上的晶体管Tr9_u、Tr9_d都与正极性侧的数据线Di+连接。与此相对，在图12的例子中，设置于像素12_u的晶体管Tr9_u与正极性侧的数据线Di+连接，设置于像素12_d的晶体管Tr9_d与负极性侧的数据线Di-连接。
由此，第三变形例的液晶显示装置能够使用2个共用布线Dcom+、Dcom-同时读出写入到共用读出用开关选择线TGf的一对像素12_u、12_d的每个中的检查用影像信号。
具体而言，例如，第三变形例的液晶显示装置能够经由数据线D1+、开关元件SW1+及共用布线Dcom+读出写入到第一行且第一列的像素12的检查用的影像信号，并经由数据线D1-、开关元件SW-及共用布线Dcom-读出写入到第二行且第一列的像素12的检查用的影像信号等。由此，能够缩短由外部检查装置(未图示)进行的全部像素12的检查。
另外，共用布线Dcom+也可以通过2根以上的共用布线构成、共用布线Dcom-也可以通过2根以上的共用布线构成。在这种情况下，正极性侧的数据线D1+～Dm+经由模拟开关部17分散连接在构成共用布线Dcom+的多个共用布线上，负极性侧的数据线D1-～Dm-经由模拟开关部17分散连接在构成共用布线Dcom-的多个共用布线上。由此，能够进一步缩短由外部检查装置(未图示)进行的全部像素12的检查。
[液晶显示装置1的第四变形例]
图13是示出作为液晶显示装置1的第四变形例的液晶显示装置的动作的时序图。
如图13所示，在第四变形例的液晶显示装置中，与液晶显示装置1的情况相比，通过使写入像素12_u的正极性和负极性影像信号的读出定时延迟，从而使写入到像素12_u、12_d的每个中的正极性影像信号的读出定时设为相同，并且使写入像素12_u、12_d的每个中的负极性影像信号的读出定时设为相同。以下，详细地进行说明。
当在所有像素12中写入检查用的影像信号后，经过读出前的准备动作，写入到像素12_u、12_d的正极性侧的保持电容Cs1_u、Cs1_d中的正极性影像信号被进行向数据线Di+的读出。
具体而言，通过使栅极控制信号B_u为有效(L电平)，使像素12_u的由晶体管Tr3_u、Tr7_u构成的源极跟随器缓冲器以及由晶体管Tr4_u、Tr8_u构成的源极跟随器缓冲器动作(时刻t19)。同时，通过使栅极控制信号B_d为有效(L电平)，使像素12_d的由晶体管Tr3_d、Tr7_d构成的源极跟随器缓冲器以及由晶体管Tr4_d、Tr8_d构成的源极跟随器缓冲器动作(时刻t19)。
然后，通过使栅极控制信号S+_u为有效(H电平)，使像素12_u的正极性侧的晶体管Tr5_u导通(时刻t20)。由此，保持在保持电容Cs1_u中的正极性影像信号的电压传输到像素驱动电极PE_u，该像素驱动电极PE_u的电压VPE_u经由晶体管Tr9_u传输(读出)到数据线Di+。同时，通过使栅极控制信号S+_d为有效(H电平)，使像素12_d的正极性侧的晶体管Tr5_d导通(时刻t20)。由此，保持在保持电容Cs1_d中的正极性影像信号的电压传输到像素驱动电极PE_d，该像素驱动电极PE_d的电压VPE_d经由晶体管Tr9_d传输(读出)到数据线Di+。
在本例中，在保持电容Cs1_u中保持4V的电压。因此，由晶体管Tr3_u、Tr7_u构成的源极跟随器缓冲器将像素驱动电极PE_u驱动到5.5V。另外，在保持电容Cs1_d中保持1V的电压。因此，由晶体管Tr3_d、Tr7_d构成的源极跟随器缓冲器将像素驱动电极PE_d驱动到1.8V。因此，通过使晶体管Tr9_u、Tr9_d同时导通，数据线Di+如果是正常，则示出3.65V(＝(5.5V+1.8V)/2)。
这里，临时导通设置在模拟开关部17上的开关元件SWi+。由此，从像素12_u、12_d读出到数据线Di+的3.65V的影像信号经由设置在模拟开关部17上的开关元件SWi+被提供到检查装置(未图示)。该检查装置例如在检测出数据线Di+示出3.65V的情况下，判定为像素12_u、12_d各自的正极性侧的晶体管及正极性侧的保持电容没有异常，在检测出数据线Di+示出3.65V以外的情况下，判定为像素12_u、12_d各自的正极性侧的晶体管及正极性侧的保持电容中的某一个存在异常。
同样地，通过将设置在模拟开关部17上的开关元件SW1+～SWm+逐一地依次暂时导通，检查装置能够对包含像素12_u、12_d的检查对象的行的m×2个像素12的每一个检查正极性侧的晶体管以及正极性侧的保持电容是否存在异常。
然后，通过使栅极控制信号S+_u、S+_d为无效(L电平)，使像素12_u、12_d的正极性侧的晶体管Tr5_d断开(时刻t21)。由此，结束设置于像素12_u、12_d的正极性侧的晶体管及正极性侧的保持电容的检查。
接着，写入到像素12_u、12_d的负极性侧的保持电容Cs2_u、Cs2_d的负极性影像信号被进行向数据线Di+的读出。
具体而言，通过使栅极控制信号S-_u为有效(H电平)，使像素12_u的负极性侧的晶体管Tr6_u导通(时刻t22)。由此，保持在保持电容Cs2_u中的负极性影像信号的电压传输到像素驱动电极PE_u，该像素驱动电极PE_u的电压VPE_u经由晶体管Tr9_u传输(读出)到数据线Di+。同时，通过使栅极控制信号S-_d为有效(H电平)，使像素12_d的负极性侧的晶体管Tr6_d导通(时刻t22)。由此，保持在保持电容Cs2_d中的负极性影像信号的电压传输到像素驱动电极PE_d，该像素驱动电极PE_d的电压VPE_d经由晶体管Tr9_d传输(读出)到数据线Di+。
在本例中，在保持电容Cs2_u中保持1V的电压。因此，由晶体管Tr4_u、Tr8_u构成的源极跟随器缓冲器将像素驱动电极PE_u驱动至考虑了晶体管Tr4_u的阈值电压量的约1.8V。另外，在保持电容Cs2_d中保持4V的电压。因此，由晶体管Tr4_d、Tr8_d构成的源极跟随器缓冲器将像素驱动电极PE_d驱动至考虑了晶体管Tr4_d的阈值电压量的约5.5V。因此，通过使晶体管Tr9_u、Tr9_d同时导通，如果数据线Di+是正常则示出3.65V(＝(1.8V+5.5V)/2)。
这里，临时导通设置在模拟开关部17上的开关元件SWi+。由此，从像素12_u、12_d读出到数据线Di+的3.65V的影像信号经由设置在模拟开关部17上的开关元件SWi+被提供到检查装置(未图示)。该检查装置例如在检测出数据线Di+示出3.65V的情况下，判定为像素12_u、12_d各自的负极性侧的晶体管及负极性侧的保持电容没有异常，在检测出数据线Di+示出3.65V以外的情况下，判定为像素12_u、12_d各自的负极性侧的晶体管以及负极性侧的保持电容中的任意一个存在异常。
同样地，通过将设置在模拟开关部17上的开关元件SW1+～SWm+逐一地依次暂时导通，检查装置能够对包含像素12_u、12_d的检查对象的行的m×2个像素12的每一个检查负极性侧的晶体管以及负极性侧的保持电容是否存在异常。
然后，通过使栅极控制信号S-_u、S-_d为无效(L电平)，使像素12_u、12_d的负极性侧的晶体管Tr6_d断开(时刻t23)。由此，结束设置于像素12_u、12_d的负极性侧的晶体管以及负极性侧的保持电容的检查。
然后，从外部提供的模式切换信号MD从L电平切换为H电平。由此，读出用开关选择线TGf被固定为L电平，因此设置在像素12_u、12_d(更详细地说，包含像素12_u、12_d的行的m×2个像素12)中的晶体管Tr9_u、Tr9_d断开(时刻t24)。由此，结束设置在像素12_u、12_d(更详细地说，包含像素12_u、12_d的行的m×2个像素12)中的晶体管及保持电容的检查。
这样的检查从第一行的m个像素12到第n行的m个像素12按每2行的顺序进行。
这样，第四变形例涉及的液晶显示装置与液晶显示装置1的情况相比，能够更迅速地检查构成各像素12的晶体管Tr1～Tr9及保持电容Cs1、Cs2各自是否正常动作。
在本实施方式中，以在像素12_u的保持电容Cs1_u中保持4V的电压、在像素12_d的保持电容Cs1_d中保持1V的电压的情况为例进行了说明，但不限于此。在保持电容Cs1_u，Cs1_d中可以分别保持任意的电压。同样，在本实施方式中，以在像素12_u的保持电容Cs2_u中保持1V的电压、在像素12_d的保持电容Cs2_d中保持4V的电压的情况为例进行了说明，但不限于此。在保持电容Cs2_u，Cs2_d中可以分别保持任意的电压。
<实施方式2>
在图1所示的液晶显示装置50中，从检查对象的像素52读出的像素驱动电压VPE经由数据线Di+、开关元件SWi+以及共用布线Dcom+输出到外部的检查装置(未图示)。因此，作为检查对象的像素52的源极跟随器缓冲器需要驱动具有大负载电容和大电阻的布线。
具体而言，对数据线Di+附加n行量的像素52的布线电容。例如，在FHD(Full HighDefinition，全高清)的情况下，对数据线Di+附加1080像素量的布线电容(例如1pF)。另外，在共用布线Dcom+上附加有例如5pF的布线电容。因此，检查对象的像素52的源极跟随器缓冲器为了使像素驱动电压VPE稳定在与保持电容Cs1、Cs2的任一个的保持电压同等的电平，需要花费长时间进行合计6pF左右的高负载电容的充电。另外，在像素检查模式下，由于所有像素52各自的像素驱动电压VPE被串行读出，所以检查装置的检查时间变得非常长。即，在液晶显示装置50中，存在不能迅速地执行检查装置对像素52的检查的问题。检查时间的延长引起检查成本的增大。
另外，为了缩短检查时间，在不等待像素驱动电压VPE稳定而进行检查对象的像素52的检查的情况下，检查装置准确地检测检查对象的像素52的缺陷或特性劣化。在这种情况下，例如，如果不尝试使图像显示部51上显示整体的图像，则无法确定像素缺陷，因此液晶组装或投影评价等的工时增大，其结果是，增加成本。
因此，发现了实施方式2涉及的液晶显示装置及其检查方法，该液晶显示装置能够执行像素的快速检查，例如能够削减检查成本。
图14是表示出实施方式2涉及的液晶显示装置2的结构例的图。另外，在图14中还示出了在通常动作时与液晶显示装置2连接的斜坡信号发生器40。另外，图15是示出设置在液晶显示装置2上的像素12及其周边电路的具体结构例的图。另外，在图15的例子中，示出了有p行(p是n的二分之一)的奇数行中的第f奇数行且第i列的像素12、即像素12_u和有p行的偶数行中的第f偶数行且第i列的像素12、即像素12_d构成的一对像素对。这里，液晶显示装置2与液晶显示装置1的情况相比，除了向像素12写入影像信号的写入路径之外，还具备从像素12读出影像信号的读出路径。
具体而言，液晶显示装置2与液晶显示装置1相比，还具备开关部18、读出放大器部19、锁存部20以及移位寄存器电路21。另外，参照图15，在液晶显示装置2中，与作为液晶显示装置1的第三变形例的液晶显示装置的情况是同样的，共用读出用开关选择线TGf的第i列的像素12_u、12_d中，像素12_u中设置的晶体管Tr9_u与正极性侧的数据线Di+连接，像素12_d中设置的晶体管Tr9_d与负极性侧的数据线Di-连接。
开关部18切换是否将从检查对象的行的m个像素12读出到m根数据线D1+～Dm+的各个的m个像素驱动电压VPE输出到节点Nd1_1～Nd1_m。另外，开关部18切换是否将从检查对象的行的m个像素12读出到m根数据线D1-～Dm-的每个的m个像素驱动电压VPE输出到节点Nd2_1～Nd2_m。进而，开关部18还进行是否对m组数据线D1+、D1-～Dm+、Dm-输出电压供给线mid的规定电压(规定电压mid)的切换。
读出放大器部19放大以下电位差，并输出放大信号e_1～e_m，该电位差是从m条数据线D1+～Dm+经由开关部18输出到节点Nd1_1～Nd1_m的电压与从m条数据线D1-～Dm-经由开关部18输出到节点Nd2_1～Nd2_m的电压之间的各个的电位差。锁存部20锁存从读出放大器部19输出的放大信号e_1～e_m，并一齐输出。
图16是更详细地示出设置在液晶显示装置2中的开关部18、读出放大器部19以及锁存部20的图。开关部18具备m个开关元件SW2_1～SW2_m、m个开关元件SW3_1～SW3_m、m个开关元件SW7_1～SW7_m、以及m个开关元件SW8_1～SW8_m。读出放大器部19具备m个读出放大器SA_1～SA_m。锁存部20具备m个开关元件SW4_1～SW4_m。
在开关部18中，开关元件SW2_1～SW2_m分别设置在数据线D1+～Dm+与节点Nd1_1～Nd1_m之间，根据切换信号KSW切换导通断开。开关元件SW3_1～SW3_m分别设置在节点Nd1_1～Nd1_m与电压供给线mid之间，根据切换信号nut切换导通断开。另外，开关元件SW7_1～SW7_m分别设置在数据线D1-～Dm-与节点Nd2_1～Nd2_m之间，根据切换信号KSW切换导通断开。开关元件SW8_1～SW8_m分别设置在节点Nd2_1～Nd2_m与电压供给线mid之间，根据切换信号nut切换导通断开。
在读出放大器部19中，读出放大器SA_1～SA_m对节点Nd1_1～Nd1_m的电压与节点Nd2_1～Nd2_m的电压之间的各电位差进行放大，并输出放大信号e_1～e_m。在锁存部20中，开关元件SW4_1～SW4_m分别设置在放大信号e_1～e_m传送的信号线上，根据触发信号Tlat切换导通断开。
例如，通过导通开关元件SW2_1～SW2_m并导通开关元件SW3_1～SW3_m，m个数据线D1+～Dm+与电压供给线mid短路。由此，m个数据线D1+～Dm+的电压被刷新为规定电压mid。同样，通过导通开关元件SW7_1～SW7_m并导通开关元件SW8_1～SW8_m，m个数据线D1-～Dm-与电压供给线mid短路。由此，m个数据线D1-～Dm-的电压被刷新为规定电压mid。
另外，例如，通过导通开关元件SW2_1～SW2_m并断开开关元件SW3_1～SW3_m，从检查对象的行的m个像素12读出到m个数据线D1+～Dm+的各个上的m个像素驱动电压VPE被输出到节点Nd1_1～Nd1_m。同样，通过导通开关元件SW7_1～SW7_m并断开开关元件SW8_1～SW8_m，从检查对象的行的m个像素12分别读出到m个数据线D1-～Dm-的各个上的m个像素驱动电压VPE被输出到节点Nd2_1～Nd2_m。此时，读出放大器SA_1～SA_m放大节点Nd1_1～Nd1_m的电压与节点Nd2_1～Nd2_m的电压之间的各个的电位差，并输出用H或L电平表示的放大信号e_1～e_m。并且，设置于锁存部20的开关元件SW4_1～SW4_m锁存读出放大器SA_1～SA_m的放大信号e_1～e_m，并一齐输出。
[像素检查模式下的液晶显示装置2的动作]
接着，对液晶显示装置2在像素检查模式下的动作进行说明。图17是示出液晶显示装置2在像素检查模式下的动作的时序图。以下，以图15所示的共用读出用开关选择线TGf的第i列的像素12_u、12_d的检查方法为中心进行说明。
在像素检查模式下，首先，对像素12_u、12_d(更详细地说，包含像素12_u、12_d的检查对象的行的m×2个像素12)进行检查用的影像信号的写入(时刻t31)。此时动作与液晶显示装置1的情况相同，因此省略其说明。
在本例中，在像素12_u的保持电容Cs1_u中写入2.6V及2.4V中的一个电压，在像素12_d的保持电容Cs1_d中写入2.6V及2.4V中的另一个电压。另外，在像素12_u的保持电容Cs2_u中写入2.6V及2.4V中的一个电压，在像素12_d的保持电容Cs2_d中写入2.6V及2.4V的另一个电压。
在保持电容Cs1_u、Cs1_d、Cs2_u、Cs2_d中写入影像信号后，在模拟开关部17中设置的开关元件SW1+、SW1-～SWm+、SWm-都被控制为断开(控制模拟开关部17的各开关元件的导通断开的控制信号A_SW被控制为无效(L电平))。由此，停止从水平驱动器16向数据线D1+、D1-～Dm+、Dm-提供影像信号。
接着，进行写入到像素12_u、12_d中的影像信号的读出。
首先，作为读出前的准备动作，从外部提供的模式切换信号MD从H电平切换为L电平。
另外，通过使切换信号KSW为有效(例如H电平)，将开关元件SW2_1～SW2_m、SW7_1～SW7_m从断开切换到导通(时刻t32)。由此，读出放大器SA_1～SA_m各自的非反相输入端子和数据线D1+～Dm+成为导通状态，并且读出放大器SA_1～SA_m各自的反相输入端子和数据线D1-～Dm-成为导通状态。
之后，通过将切换信号nut暂时设为有效(例如H电平)，使开关元件SW3_1～SW3_m、SW8_1～SW8_m暂时导通(时刻t33)。由此，数据线D1+～Dm+与电压提供线mid短路，因此数据线D1+～Dm+的电压被刷新为规定电压mid。另外，由于数据线D1-～Dm-与电压提供线mid短路，所以数据线D1-～Dm-的电压被刷新为规定电压mid。
当读出之前的准备动作完成时，进行例如写入到像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)的正极性侧的保持电容Cs1_u中的正极性影像信号向数据线Di+的读出、以及写入到像素12_d(更详细地说，包含12_d的检查对象的行的m个像素12)的正极性侧的保持电容Cs1_d中的正极性影像信号向数据线Di-的读出。
具体而言，首先，通过使栅极控制信号B_u为有效(L电平)，使像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)的、由晶体管Tr3_u、Tr7_u构成的源极跟随器缓冲器以及由晶体管Tr4_u、Tr8_u构成的源极跟随器缓冲器动作(时刻t34)。同时，通过使栅极控制信号B_d为有效(L电平)，使像素12_d(更详细地说，包含像素12_d的检查对象的行的m个像素12)的、由晶体管Tr3_d、Tr7_d构成的源极跟随器缓冲器以及由晶体管Tr4_d、Tr8_d构成的源极跟随器缓冲器动作(时刻t34)。
然后，通过使栅极控制信号S+_u为有效(H电平)，使像素12_u(更详细地说，包含像素12_u的检查对象的行的m个像素12)的正极性侧的晶体管Tr5_u导通(时刻t35)。因此，保持在保持电容Cs1_u中的正极性影像信号的电压被传输到像素驱动电极PE_u。同时，通过使栅极控制信号S+_d为有效(H电平)，使像素12_d(更详细地说，包含像素12_d的检查对象的行的m个像素12)的正极性侧的晶体管Tr5_d导通(时刻t35)。因此，保持在保持电容器Cs1_d中的正极性影像信号的电压被传输到像素驱动电极PE_d。
然后，将从垂直移位寄存器和电平转换器15输出的扫描脉冲提供给读出用开关选择线TGf(时间t36)。由此，由于在像素12_u、12_d(更详细地说，包含像素12_u、12_d的检查对象的行的m×2个像素12)中设置的晶体管Tr9_u、Tr9_d导通，因此像素驱动电极PE_u、PE_d的电压VPE_u、VPE_d分别经由晶体管Tr9_u、Tr9_d，被读出到数据线Di+、Di-并被保持。
这里，由于模拟开关部17的所有开关被控制为断开，所以在数据线Di+上没有附加共用布线Dcom+的5pF左右的布线电容，仅附加n行量的像素12的布线电容。例如，在FHD的情况下，对数据线Di+仅附加1080像素量的1pF左右的布线电容。因此，在液晶显示装置2中，在检查对象的像素12_u设置的正极性侧的源极跟随器缓冲器(Tr3_u、Tr7_u)，由于不受共用布线Dcom+的布线电容的影响，因此与液晶显示装置50的情况相比，仅驱动以电容换算为六分之一左右的电容即可。而且，该正极性侧的源极跟随器缓冲器也不受共用布线Dcom+的布线电阻的影响。因此，到由设置在检查对象的像素12_u中的正极性侧的源极跟随器缓冲器使像素驱动电压VPE_u稳定在与保持电容Cs1_u的保持电压同等电平为止的时间被缩短。
同样地，由于模拟开关部17的全部开关被控制为断开，所以在数据线Di-上没有附加共用布线Dcom-的5pF左右的布线电容，仅附加n行量的像素12的布线电容。例如，在FHD的情况下，对数据线Di-仅附加1080像素量的1pF左右的布线电容。因此，在液晶显示装置2中，设置在检查对象的像素12_d中的正极性侧的源极跟随器缓冲器(Tr3_d、Tr7_d)，由于不受共用布线Dcom-的布线电容的影响，因此与液晶显示装置50的情况相比，仅驱动以电容换算为六分之一左右的电容即可。而且，该正极性侧的源极跟随器缓冲器也不受共用布线Dcom-的布线电阻的影响。因此到由设置在检查对象的像素12_d中的正极性侧的源极跟随器缓冲器使像素驱动电压VPE_d稳定在与保持电容Cs1_d的保持电压同等电平为止的时间被缩短。
另外，数据线Di+和数据线Di-各自的电压电平的大小的比较如果是它们的差电压为几mV左右，能够使用读出放大器SA_i进行。因此，能够在数据线Di+和数据线Di-各自的电压电平表示标准的值之前不等待充电而进行像素检查。
之后，栅极控制信号S+_u、S+_d以及读出用开关选择信号TGf都变为无效(L电平)。由此，晶体管Tr5_u、Tr5_d断开，同时晶体管Tr9_u、Tr9_d断开(时刻t37)。
从检查对象的行的m个像素12_u分别读出到数据线D1+～Dm+的m个正极性的像素驱动电压VPE_u分别被提供给读出放大器SA_1～SA_m的非反相输入端子。从检查对象的行的m个像素12_d分别读出到数据线D1-～Dm-的m个正极性的像素驱动电压VPE_d分别被提供给读出放大器SA_1～SA_m的反相输入端子。
读出放大器SA_1～SA_m放大读出到数据线D1+～Dm+的m个正极性的像素驱动电压VPE_u与读出到数据线D1-～Dm-的m个正极性的像素驱动电压VPE_d之间的各自的电位差，并输出用H或L电平表示的放大信号e_1～e_m。
例如，在共用读出用开关选择线TGf的第i列的像素12_u、12_d中，当从像素12_u向数据线Di+读出2.6V的正极性的像素驱动电压VPE_u且从像素12_d向数据线Di-读出2.4V的正极性的像素驱动电压VPE_d时，读出放大器SA_i输出H电平的放大信号e_i。相反，当从像素12_u向数据线Di+读出2.4V的正极性的像素驱动电压VPE_u且从像素12_d向数据线Di-读出2.6V的正极性的像素驱动电压VPE_d时，读出放大器SA_i输出L电平的放大信号e_i。
并且，设置于锁存部20的开关元件SW4_1～SW4_m，在触发信号Tlat暂时成为有效的定时，一齐输出读出放大器SA_1～SA_m的放大信号e_1～e_m(时刻t38)。
之后，移位寄存器电路21取入从锁存部20一齐输出的放大信号e_1～e_m，将它们逐个依次作为检查信号TOUT输出(时刻t39)。
设置在液晶显示装置2的外部的检查装置(未图示)通过比较该检查信号TOUT的值和期待值，检测检查对象的奇数行的m个像素12_u的正极性侧的故障(缺陷和特性劣化等)，同时检测检查对象的偶数行的m个像素12_d的正极性侧的故障。
该检查装置能够在检测出检查对象的奇数行的m个像素12_u的负极侧的故障的同时，检测出检查对象的偶数行的m个像素12_d的负极性侧的故障。关于负极性侧的故障的检测方法的详细情况，由于与检测正极性侧的故障的情况基本相同，因此省略其说明。这样的检查从第一行的m个像素12到第n行的m个像素12按每2行的顺序进行。
这样，本实施方式涉及的液晶显示装置2能够起到与液晶显示装置1同等的效果。进而，除了向像素12写入影像信号的路径之外，还具备读出来自像素12的影像信号的路径，在读出写入到检查对象的像素12中的影像信号时，使向像素12写入影像信号的路径的一部分与数据线电分离。由此，本实施方式涉及的液晶显示装置2在读出写入到检查对象的像素12中的影像信号时，由于不需要例如对共用布线Dcom+、Dcom-的布线电容进行多余的充电，能够缩短到由各像素12的源极跟随器缓冲器稳定像素驱动电压VPE为止的时间，其结果，能够迅速地执行由检查装置进行的像素12的检查。
在本实施方式中，以设置于像素12_u中的晶体管Tr9_u与正极性侧的数据线Di+连接、设置于像素12_d的晶体管Tr9_d与负极性侧的数据线Di-连接的情况为例进行了说明，但不限于此。各像素12-d也可以具备与正极性侧的数据线Di+连接的晶体管Tr9_d，各像素12_u也可以具备与负极性侧的数据线Di-连接的晶体管Tr9_u。由此，液晶显示装置2例如能够根据各像素12的正极性侧的影像信号与负极性侧的影像信号的比较结果，检测各像素12的故障。
另外，上述实施方式1、2涉及的液晶显示装置1、2的机制例如也适用于在波长复用光通信领域中使用的波长选择光开关装置(WWS：Wavelength Selective Switch)上搭载的空间光调制器(SLM；Spatial Light Modulator)。空间光调制器例如采用LCOS(LiquidCrystal on Silicon)技术构成，对入射到输入端口的光信号进行偏转，从一个或多个输出端口中选择的任意一个输出端口射出。
更具体地，波长选择光开关装置具备例如输入端口、一个或多个输出端口、波长色散器、光学耦合器和空间光调制器。波长色散器将入射到输入端口的光信号在空间上色散为多个波长分量。光学耦合器会聚由波长色散器色散的多个波长分量。空间光调制器具有例如矩阵状地配置在由根据波长展开的x轴方向和与x轴方向垂直的y轴方向构成的xy平面上的多个像素12。多个像素12将由光学耦合器会聚的光信号按照每个波长改变(即偏转)反射方向，并从一个或多个输出端口中选择的某一个输出端口射出。
波长选择光开关装置通过在空间光调制器中应用上述实施方式1、2涉及的液晶显示装置1、2的机制，能够起到与液晶显示装置1、2同等的效果。
符号说明
1 液晶显示装置
2 液晶显示装置
11 图像显示部
12 像素
13 定时发生器
14 极性切换控制电路
15 垂直移位寄存器和电平转换器
16 水平驱动器
17 模拟开关部
18 开关部
19 读出放大器部
20 锁存部
21 移位寄存器电路
40 斜坡信号发生器
50 液晶显示装置
51 图像显示部
52 像素
161 移位寄存器电路
1621 行锁存电路
163 比较器部
163_1～163_m 比较器
164 灰度计数器
ADA1～ADAn 与电路
ADB1～ADBn 与电路
B 栅极控制信号线
CE 公共电极
Cs1、Cs2 保持电容
D1+、D1-～Dm+、Dm-数据线
Dcom+、Dcom-共用布线
G1～Gn 行扫描线
LC 液晶显示元件
LCM 液晶
Na、Nb 节点
Nd1_1～Nd1_m 节点
Nd2_1～Nd2_m 节点
PE 像素驱动电极(反射电极)
S+、S-栅极控制信号线
SA_1～SA_m 读出放大器
SW1+、SW1-～SWm+、SWm-开关元件
SW2_1～SW2_m 开关元件
SW3_1～SW3_m 开关元件
SW4_1～SW4_m 开关元件
SW7_1～SW7_m 开关元件
SW8_1～SW8_m开关元件
TG1～TGp 读出用开关选择线
Tr1～Tr9、Tr9_d、Tr9_u 晶体管

Claims (11)

1.一种液晶设备，包括：
多个像素，被设置成矩阵状；
多个第一数据线，与所述多个像素的各列对应地设置；
多个第二数据线，与所述多个像素的各列对应地设置；以及
开关电路，切换所述多根第一数据线的每个与第一外部端子之间的导通断开，并且切换所述多根第二数据线的每个与第二外部端子之间的导通断开，
所述多个像素将第一像素和第二像素作为一对像素对而构成多对像素对，所述第一像素和第二像素是相同列中相邻的两个像素，
在各像素对中，
所述第一像素具有：
第一采样保持电路，对从所述第一外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第一数据线上的正极性影像信号进行采样并保持；
第二采样保持电路，对从所述第二外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第二数据线上的负极性影像信号进行采样并保持；
第一液晶显示元件，包括第一像素驱动电极、公共电极以及封入到它们之间的液晶；
第一极性切换开关，控制是否选择由所述第一采样保持电路保持的所述正极性影像信号的电压和由所述第二采样保持电路保持的所述负极性影像信号的电压中的某一个施加到所述第一像素驱动电极；以及
第一开关晶体管，切换是否将经由所述第一极性切换开关施加到所述第一像素驱动电极的电压作为像素驱动电压输出给所述对应的第一数据线或所述对应的第二数据线，
所述第二像素具有：
第三采样保持电路，对从所述第一外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第一数据线的正极性影像信号进行采样并保持；
第四采样保持电路，对从所述第二外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第二数据线上的负极性影像信号进行采样并保持；
第二液晶显示元件，包括第二像素驱动电极、公共电极以及封入到它们之间的液晶；
第二极性切换开关，控制是否选择由所述第三采样保持电路保持的所述正极性影像信号的电压和由所述第四采样保持电路保持的所述负极性影像信号的电压中的某一个施加到所述第二像素驱动电极；以及
第二开关晶体管，切换是否将经由所述第二极性切换开关施加到所述第二像素驱动电极的电压作为像素驱动电压输出给所述对应的第一数据线或所述对应的第二数据线，
在各像素对中，所述第一像素的所述第一开关晶体管和所述第二像素的所述第二开关晶体管被构成为，通过在公共的控制信号线上传输的控制信号进行导通断开的控制。
2.如权利要求1所述的液晶设备，其中，
在设置于奇数列的各像素对中，
所述第一像素的所述第一开关晶体管设置在所述第一像素驱动电极与所述对应的第一数据线之间，
所述第二像素的所述第二开关晶体管设置在所述第二像素驱动电极与所述对应的第一数据线之间，在设置于偶数列的各像素对中，
所述第一像素的所述第一开关晶体管设置在所述第一像素驱动电极与所述对应的第二数据线之间，
所述第二像素的所述第二开关晶体管设置在所述第二像素驱动电极与所述对应的第二数据线之间，
所述开关电路被构成为，将从设置在奇数列的检查对象的所述像素读出到所述对应的第一数据线上的像素驱动电压输出到所述第一外部端子，并且将从设置在偶数列的检查对象的所述像素读出到所述对应的第二数据线上的像素驱动电压输出到所述第二外部端子。
3.如权利要求1所述的液晶设备，其中，
在各像素对中，
所述第一像素的所述第一开关晶体管设置在所述第一像素驱动电极与所述对应的第一数据线之间，
所述第二像素的所述第二开关晶体管设置在所述第二像素驱动电极与所述对应的第二数据线之间，
所述开关电路被构成为，将从检查对象的所述第一像素读出到所述对应的第一数据线上的像素驱动电压输出到所述第一外部端子，并且将从检查对象的所述第二像素读出到所述对应的第二数据线上的像素驱动电压输出到所述第二外部端子。
4.如权利要求1所述的液晶设备，其中，
在各像素对中，
所述第一像素的所述第一开关晶体管设置在所述第一像素驱动电极与所述对应的第一数据线之间，
所述第二像素的所述第二开关晶体管设置在所述第二像素驱动电极与所述对应的第二数据线之间，
所述液晶设备还包括多个读出放大器，所述多个读出放大器将各个电位差放大后作为多个检测信号输出，所述各个电位差是从检查对象的多个所述第一像素读出到所述多个第一数据线的每个上的多个像素驱动电压与从检查对象的多个所述第二像素读出到所述多个第二数据线的每个上的多个像素驱动电压之间的各个电位差。
5.如权利要求1所述的液晶设备，其中
在各像素对中，
所述第一像素包括：
所述第一开关晶体管，切换是否将从所述第一采样保持电路经由所述第一极性切换开关施加到所述第一像素驱动电极的电压作为正极性像素驱动电压输出给所述对应的第一数据线；以及
第三开关晶体管，切换是否将从所述第二采样保持电路经由所述第一极性切换开关施加到所述第一像素驱动电极的电压作为负极性像素驱动电压输出给所述对应的第二数据线，
所述第二像素包括：
所述第二开关晶体管，切换是否将从所述第三采样保持电路经由所述第二极性切换开关施加到所述第二像素驱动电极的电压作为正极性像素驱动电压输出给所述对应的第一数据线；以及
第四开关晶体管，切换是否将从所述第四采样保持电路经由所述第二极性切换开关施加到所述第二像素驱动电极的电压作为负极性像素驱动电压输出给所述对应的第二数据线，
所述液晶设备还包括多个读出放大器，所述多个读出放大器将各个电位差放大后作为多个检测信号输出，所述各个电位差是从检查对象的行的多个所述像素读出到所述多个第一数据线的每个上的多个正极性像素驱动电压与从检查对象的行的多个所述像素读出到所述多个第二数据线的每个上的多个负极性像素驱动电压之间的各个电位差。
6.一种波长选择光开关装置，包括：
输入端口；
一个或多个输出端口；
空间光调制器，包括权利要求1至5中任一项所述的液晶设备，所述液晶设备具有多个像素，所述多个像素使入射到所述输入端口的光信号偏转后从选自所述一个或多个输出端口中的某一个输出端口射出。
7.一种液晶设备的像素检查方法，所述液晶设备包括：
多个像素，被设置成矩阵状；
多个第一数据线，与所述多个像素的各列对应地设置；
多个第二数据线，与所述多个像素的各列对应地设置；以及
开关电路，切换所述多根第一数据线的每个与第一外部端子之间的导通断开，并且切换所述多根第二数据线的每个与第二外部端子之间的导通断开，
所述多个像素将第一像素和第二像素作为一对像素对而构成多对像素对，所述第一像素和第二像素是相同列中相邻的两个像素，
在各像素对中，
所述第一像素具有：
第一采样保持电路，对从所述第一外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第一数据线上的正极性影像信号进行采样并保持；
第二采样保持电路，对从所述第二外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第二数据线上的负极的影像信号进行采样并保持；
第一液晶显示元件，包括第一像素驱动电极、公共电极以及封入到它们之间的液晶；
第一极性切换开关，控制是否选择由所述第一采样保持电路保持的所述正极性影像信号的电压和由所述第二采样保持电路保持的所述负极性影像信号的电压中的某一个施加到所述第一像素驱动电极；以及
第一开关晶体管，切换是否将经由所述第一极性切换开关施加到所述第一像素驱动电极的电压作为像素驱动电压输出给所述对应的第一数据线或所述对应的第二数据线，
所述第二像素具有：
第三采样保持电路，对从所述第一外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第一数据线上的正极性影像信号进行采样并保持；
第四采样保持电路，对从所述第二外部端子经由所述开关电路提供到对应的所述第二数据线上的负极性影像信号进行采样并保持；
第二液晶显示元件，包括第二像素驱动电极、公共电极以及封入到它们之间的液晶；
第二极性切换开关，控制是否选择由所述第三采样保持电路保持的所述正极性影像信号的电压和由所述第四采样保持电路保持的所述负极性影像信号的电压中的某一个施加到所述第二像素驱动电极；以及
第二开关晶体管，切换是否将经由所述第二极性切换开关施加到所述第二像素驱动电极的电压作为像素驱动电压输出给所述对应的第一数据线或所述对应的第二数据线，
在各像素对中，所述第一像素的所述第一开关晶体管和所述第二像素的所述第二开关晶体管被构成为，通过在公共的控制信号线上传输的控制信号进行导通断开的控制，
所述像素检测方法在检查对象的所述像素对中，
使所述第一像素的第一开关晶体管和所述第二像素的第二开关晶体管都导通，
将从所述第一采样保持电路经由所述第一极性切换开关施加到所述第一像素驱动电极的电压读出到所述对应的第一数据线或所述对应的第二数据线，并根据该读出的电压检测有无故障，
将从所述第二采样保持电路经由所述第一极性切换开关施加到所述第一像素驱动电极的电压读出到所述对应的第一数据线或所述对应的第二数据线，并根据该读出的电压检测有无故障，
将从所述第三采样保持电路经由所述第二极性切换开关施加到所述第二像素驱动电极的电压读出到所述对应的第一数据线或所述对应的第二数据线，并根据该读出的电压检测有无故障，
将从所述第四采样保持电路经由所述第二极性切换开关施加到所述第二像素驱动电极的电压读出到所述对应第一数据线或所述对应的第二数据线，并根据该读出的电压检测有无故障。
8.如权利要求7所述的液晶设备的像素检查方法，其中，
在设置于奇数列的各像素对中，
所述第一像素的所述第一开关晶体管设置在所述第一像素驱动电极与所述应的第一数据线之间，
所述第二像素的所述第二开关晶体管设置在所述第二像素驱动电极与所述对应的第一数据线之间，在设置于偶数列的各像素对中，
所述第一像素的所述第一开关晶体管设置在所述第一像素驱动电极与所述对应的第二数据线之间，
所述第二像素的所述第二开关晶体管设置在所述第二像素驱动电极与所述对应的第二数据线之间，所述像素检测方法使用所述开关电路，将从设置在奇数列的检查对象的所述像素读出到所述对应的第一数据线上的像素驱动电压输出到所述第一外部端子，并且将从设置在偶数列的检查对象的所述像素读出到所述对应的第二数据线上的像素驱动电压输出到所述第二外部端子。
9.如权利要求7所述的液晶设备的像素检查方法，其中，
在各像素对中，
所述第一像素的所述第一开关晶体管设置在所述第一像素驱动电极与所述对应的第一数据线之间，
所述第二像素的所述第二开关晶体管设置在所述第二像素驱动电极与所述对应的第二数据线之间，
所述像素检测方法使用所述开关电路，将从检查对象的所述第一像素读出到所述对应的第一数据线上的像素驱动电压输出到所述第一外部端子，并且将从检查对象的所述第二像素读出到所述对应的第二数据线上的像素驱动电压输出到所述第二外部端子。
10.如权利要求7所述的液晶设备的像素检查方法，其中，
在各像素对中，
所述一像素的所述第一开关晶体管设置在所述第一像素驱动电极与所述对应的第一数据线之间，
所述第二像素的所述第二开关晶体管设置在所述第二像素驱动电极与所述对应的第二数据线之间，
所述液晶设备还包括多个读出放大器，
所述像素检测方法使用所述多个读出放大器将各个电位差放大后作为多个检测信号输出，所述各个电位差是从检查对象的多个所述第一像素读出到所述多个第一数据线的每个上的多个像素驱动电压与从检查对象的多个所述第二像素读出到所述多个第二数据线的每个上的多个像素驱动电压之间的各个电位差。
11.如权利要求7所述的液晶设备的像素检查方法，其中，
在各像素对中，
所述第一像素包括：
第一开关晶体管，切换是否将从所述第一采样保持电路经由所述第一极性切换开关施加到所述第一像素驱动电极的电压作为正极性像素驱动电压输出给所述对应的第一数据线；以及
第三开关晶体管，切换是否将从所述第二采样保持电路经由所述第一极性切换开关施加到所述第一像素驱动电极的电压作为负极性像素驱动电压输出给所述对应的第二数据线，
所述第二像素包括：
第二开关晶体管，切换是否将从所述第三采样保持电路经由所述第二极性切换开关施加于所述第二像素驱动电极的电压作为正极性像素驱动电压输出给所述对应的第一数据线；以及
第四开关晶体管，切换是否将从所述第四采样保持电路经由所述第二极性切换开关施加于所述第二像素驱动电极的电压作为负极性像素驱动电压输出给所述对应的第二数据线，
所述液晶设备还包括多个读出放大器，
所述像素检测方法使用所述多个读出放大器将各个电位差放大后作为多个检测信号输出，所述各个电位差是从所述检查对象的行的多个所述像素读出到所述多个第一数据线的每个上的多个正极性像素驱动电压与从检查对象的行的多个所述像素读出到所述多个第二数据线的每个上的多个负极性像素驱动电压之间的各个电位差。
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