CN112362914A - 测试用柔性电路板和压接测试方法 - Google Patents

测试用柔性电路板和压接测试方法 Download PDF

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Abstract

本申请提供了一种测试用柔性电路板和压接测试方法，所述测试用柔性电路板用于在压接测试过程中与被测试引脚电连接，包括：基材；多个测试引脚，并排间隔设置于所述基材的第一表面，且所述测试引脚包括朝背离所述第一表面方向凸出的弯曲部，所述弯曲部在抵接于被测试引脚时能够发生形变，以使得所述测试引脚与所述被测试引脚充分接触。通过上述方式，本申请可以提高压接测试结果的准确率。

Description

测试用柔性电路板和压接测试方法
技术领域
本申请属于测试技术领域，具体涉及一种测试用柔性电路板和压接测试方法。
背景技术
在制作柔性显示面板过程中，一般需要引入压接测试装置对切割后的显示面板做压接测试，以检测显示面板是否存在显示异常。其中，压接测试装置包括压力机构以及柔性电路板，柔性电路板上排布有多个测试引脚。压接测试时，先将柔性电路板的测试引脚与显示面板的被测试引脚对位；然后，压力机构中的压头下压，以使测试引脚与被测试引脚接触并电连接；接着，输入点灯信号进行测试。
但是，在压接测试过程中，测试引脚和待测试引脚存在接触不充分的问题，进而使得压接测试结果的准确率降低。
发明内容
本申请提供一种测试用柔性电路板和压接测试方法，以解决测试用柔性电路板的测试引脚与待测试引脚接触不充分的技术问题。
为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种测试用柔性电路板，用于在压接测试过程中与被测试引脚电连接，包括：基材；多个测试引脚，并排间隔设置于所述基材的第一表面，且所述测试引脚包括朝背离所述第一表面方向凸出的弯曲部，所述弯曲部在抵接于所述被测试引脚时能够发生形变，以使得所述测试引脚与所述被测试引脚充分接触。
其中，所述测试引脚包括电连接的第一平直部和弯曲部，所述第一平直部固定设置于所述第一表面，所述弯曲部的第一端与所述基材和所述第一平直部接触，所述弯曲部的第二端悬空，且所述弯曲部抵接于被测试引脚时，所述弯曲部的第二端沿所述第一平直部的长度延伸方向延伸；优选地，所述第一平直部和所述弯曲部的材质相同。
其中，所述弯曲部在抵接于被测试引脚并发生形变时，所述弯曲部沿所述第一平直部的长度延伸方向延伸，至少部分所述测试引脚超出所述基材。
其中，所述测试引脚还包括与所述弯曲部的第二端接触并电连接的第二平直部，所述第二平直部悬空，且与所述第一平直部平行；其中，所述弯曲部完全延展时在所述第一表面的正投影位于所述第一表面内，至少部分所述第二平直部超出所述基材。
其中，所述弯曲部包括宽度不同的第一部分和第二部分，所述第一部分的宽度大于所述第二部分以及所述第一平直部的宽度。
其中，所述弯曲部包括远离所述第一表面的顶点，所述第一部分位于或邻近所述顶点设置；和/或，相邻所述测试引脚的所述第一部分之间在所述测试引脚的长度方向上相互错位设置。
其中，所述弯曲部为弧形弹片，所述第二端与所述基材之间具有间隙；优选地，所述间隙在0.5-1mm之间。
其中，所述弯曲部在所述第一表面具有第一投影区域，所述第一平直部自所述第一投影区域外侧延伸至所述第一投影区域内。
其中，所述弯曲部与所述第一平直部可拆卸连接；优选地，所述基材对应所述弯曲部与所述第一平直部连接的位置设置有孔洞，所述第一端位于所述孔洞内。
为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种压接测试方法，利用上述任一实施例中所述的测试用柔性电路板，所述压接测试方法包括：将测试用柔性电路板的多个测试引脚和显示面板的多个被测试引脚一一对位；压合所述测试引脚的弯曲部，以使得所述弯曲部发生形变，并与对应位置处的所述被测试引脚压合接触。
区别于现有技术情况，本申请的有益效果是：本申请所提供的测试用柔性电路板包括基材和设置于基材第一表面上的多个测试引脚；其中，测试引脚包括朝背离第一表面方向凸出的弯曲部，该弯曲部在抵接于被测试引脚时能够发生形变，以使得测试引脚和被测试引脚能够充分接触。现有技术中平面状的测试引脚与待测试引脚之间在压合时存在接触不充分的问题。而本申请中通过引入可形变的弯曲部，通过形变使得测试引脚与被测试引脚之间的接触更为充分，进而使得压接测试结果的准确率更高；此外，上述弯曲部还可以降低测试时对待测试引脚的损伤。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：
图1a为现有柔性电路板一实施方式的俯视示意图；
图1b为现有柔性电路板一实施方式的侧视示意图；
图2为本申请测试用柔性电路板一实施方式的结构示意图；
图3为本申请测试用柔性电路板与显示面板压接测试时一实施方式的结构示意图；
图4为本申请测试用柔性电路板另一实施方式的结构示意图；
图5为图2中相邻的部分弯曲部对应的一实施方式的俯视示意图；
图6为本申请测试用柔性电路板另一实施方式的结构示意图；
图7为本申请压接测试装置一实施方式的结构示意图；
图8为本申请压接测试方法一实施方式的流程示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
如图1a和1b所示，图1a为现有柔性电路板一实施方式的俯视示意图，图1b为现有柔性电路板一实施方式的侧视示意图。现有柔性电路板10上的测试引脚100为平面形状，当其与显示面板上的待测试引脚压合时，可能存在接触不充分的问题，进而使得压接测试结果的准确率降低。
请参阅图2，图2为本申请测试用柔性电路板一实施方式的结构示意图，该测试用柔性电路板20可以用于显示面板压接测试，其具体包括基材200和多个测试引脚202。其中，基材200主体材料可以为聚酰亚胺等，多个测试引脚202的材质可以为金属，例如，铜、金等。多个测试引脚202并排且间隔设置于基材200的第一表面2000；上述多个测试引脚202之间可以相互平行设置，且相邻测试引脚202之间的距离可以相同；且每个测试引脚202均包括朝背离第一表面2000方向凸出的弯曲部2024，弯曲部2024在抵接于被测试引脚时能够发生形变，以使得弯曲部2024在第一表面2000上的正投影长度增大，测试引脚202与被测试引脚能够充分接触。
本申请中通过引入可形变的弯曲部2024，弯曲部2024可以改善原先平面状与平面状接触不充分的情况，通过形变使得测试引脚202与被测试引脚之间的接触更为充分，进而使得压接测试结果的准确率更高；此外，上述弯曲部2024还可以降低测试时对待测试引脚的损伤。
在本实施例中，请继续参阅图2，本申请中的测试引脚202具体包括相互电连接的第一平直部2022和弯曲部2024；第一平直部2022固定设置于第一表面2000，例如，第一平直部2022可以通过焊接的方式使其固定于第一表面2000，第一平直部2022可以与第一表面2000相互平行设置；弯曲部2024的第一端20240与第一平直部2022接触，弯曲部2024的第二端20242悬空，且弯曲部2024抵接于被测试引脚时，第二端20242沿第一平直部2022的长度延伸方向延伸。上述测试引脚202的设计方式结构较为简单，且易于制备获得。
较佳地，上述第一平直部2022和弯曲部2024的材质相同，例如，第一平直部2022和弯曲部2024的材质均为铜、金等。该设计方式可以降低整个测试引脚202的阻值，有利于测试过程中信号的传输。
可选地，上述弯曲部2024为弧形弹片，弯曲部2024的第二端20242与基材200之间具有间隙，该间隙可以在0.5-1mm(例如，0.7mm、0.9mm等)之间；即在非压接测试时，第二端20242与基材200之间非接触，该设计方式可以降低第二端20242与基材200摩擦接触的概率，降低基材200和测试引脚202损伤的概率。
而对于弧形的弯曲部2024而言，其各个地方的弯曲程度可以不同，例如，弯曲部2024具有远离(例如，最远离)第一表面2000的顶点P，越靠近顶点P的弯曲部2024的弯曲程度(即弯曲曲率)越大。
进一步，弯曲部2024在抵接于被测试引脚并发生形变时，弯曲部2024沿第一平直部2022的长度延伸方向延伸，至少部分测试引脚202超出基材200。具体效果如图3所示，图3为本申请测试用柔性电路板与显示面板压接测试时一实施方式的结构示意图。图2中的弯曲部2024在压力的作用下产生形变，其在第一表面2000上的正投影长度增大，进而带动测试引脚202的其中一个端部A远离并超出基材200；即该弯曲部2024设计方式可以延长测试引脚202在压接测试时的延展长度，从而增大测试引脚202与被测试引脚300在长度方向(水平方向，X1)上的有效接触面积；在某些情况下，即使测试引脚202与被测试引脚300在长度方向X1上发生错位偏移，上述弯曲部2024的设计方式也可抵消部分长度方向X1上的错位偏移，使得压接测试过程可以正常进行。
更进一步，请参阅图4，图4为本申请测试用柔性电路板另一实施方式的结构示意图。测试引脚202a还包括与弯曲部2024a的第二端20242a接触并电连接的第二平直部2026a，第二平直部2026a悬空，且与第一平直部2022a平行。其中，弯曲部2024a完全延展时，弯曲部2024a在第一表面2000a的正投影位于第一表面2000内，而第二平直部2026a的其中一个端部20260a(即远离弯曲部2024a的端部20260a)超出基材200。在压接测试过程中，如图3中所示，超出基材200的测试引脚202不受力，超出基材200的测试引脚202可能会发生翘曲。在该设计方式中，通过引入第二平直部2026a以及弯曲部2024a长度的设计方式，使得在压接测试时超出基材200的测试引脚202a为第二平直部2026a，第二平直部2026a为不会翘曲的平面状，进而可以与被测试引脚紧密贴合，以达到图3中的效果。
在又一个实施方式中，如图5所示，图5为图2中相邻的部分弯曲部对应的一实施方式的俯视示意图。弯曲部2024包括宽度不同的第一部分20200和第二部分20202，第一部分20200的宽度大于第二部分20202以及第一平直部2022的宽度。而对于第一平直部2022和第二部分20202，两者宽度可以相同。上述第一部分20200的宽度可以比第一平直部2022和第二部分20202的宽度分别大50微米以上。在压接测试过程中，柔性电路板20和显示面板还有可能出现角度偏移或者测试引脚202宽度方向上的偏移的情况。为了解决该技术问题，本申请对上述部分弯曲部2024的宽度进行加宽处理，以使得在柔性电路板20和显示面板出现角度偏移或者测试引脚202宽度方向上偏移时，仍有部分测试引脚202能够与被测试引脚搭接，进而使得测试过程可以正常进行。
进一步，如图2和图5所示，弯曲部2024包括远离第一表面2000的顶点P；在压接测试时，顶点P最先与被测试引脚接触。为了使得上述加宽的第一部分20200能够更好地与被测试引脚接触，顶点P可以位于第一部分20200内，或者，顶点P可以位于第一部分20200外，但与第一部分20200邻近设置。
此外，请继续参阅图5，相邻测试引脚202的第一部分20200之间在测试引脚202的长度方向上相互错位设置。柔性电路板20上的所有第一部分20200的中心点连线可以呈波浪型，也可以呈阶梯型等，本申请对此不作限定。较佳地，柔性电路板20上第偶数个测试引脚202的第一部分20200可以在同一直线上，而第奇数个测试引脚202的第一部分20200在另一个直线上。上述设计方式可以降低相邻的加宽的第一部分20200之间在压接测试过程中发生短路的概率。
另外，请再次参阅图2，弯曲部2024在第一表面2000上具有第一投影区域，第一平直部2022位于第一投影区域外侧，第一平直部2022的端部与弯曲部2024的第一端20240接触并电连接。该设计方式可以降低测试引脚202的成本。
当然，在其他实施例中，如图6所示，图6为本申请测试用柔性电路板另一实施方式的结构示意图。弯曲部2024b在第一表面2000b具有第一投影区域，第一平直部2022b自第一投影区域外侧延伸至第一投影区域内；即弯曲部2024b与第一表面2000b之间还设置有第一平直部2022b。该第一平直部2022b的设计方式一方面可以降低工艺制备难度，即可以在现有柔性电路板的基础上，直接增加一个弯曲部2024b即可；另一方面在测试过程中，延伸至第一投影区域内的第一平直部2022b可以对弯曲部2024b起到支撑作用，降低基材200损伤的概率。
进一步，上述弯曲部2024b的第一端20240b可以以可拆卸的方式与第一平直部2022b固定设置，当弯曲部2024b磨损达到使用寿命时，可以直接将弯曲部2024b拆卸、更换，而无需更换整个柔性电路板20b，从而可以延长整个柔性电路板20b的使用寿命，且降低成本。进一步实现可拆卸固定的方式可以为：基材200b和第一平直部2022b对应第一端20240b的位置设置有孔洞(图未示)，第一端20240b位于孔洞内；例如，第一端20240b与孔洞的形状相同，第一端20240b与孔洞采取过盈配合的方式实现可拆卸固定连接。或者，孔洞的尺寸大于第一端20240b的尺寸，孔洞的内侧壁可以设置有凹陷，第一端20240b对应凹陷的位置设置有可伸缩的凸起。
请参阅图7，图7为本申请压接测试装置一实施方式的结构示意图，该压接测试装置40可以包括上述任一实施例中的柔性电路板400以及压力机构402；该压力机构402用于提供压力以使得柔性电路板400的弯曲部4000与对应位置处的被测试引脚贴合。具体压力机构的结构可参见现有技术中任一一种，在此不再赘述。
当然，在其他实施例中，该压接测试装置40还可以包括压接平台，用于承载显示面板和柔性电路板400，该压接平台上还可进一步设置有真空吸附装置，以固定显示面板的位置。
请参阅图8，图8为本申请压接测试方法一实施方式的流程示意图，在本实施例中，可以利用上述任一实施例中所提及的测试用柔性电路板对显示面板实现压接测试，具体过程可以为：
S101：将测试用柔性电路板的多个测试引脚和显示面板的多个被测试引脚一一对位。
具体地，上述步骤S101具体包括：将显示面板放置于压接平台上，且显示面板上的多个被测试引脚朝向背离压接平台一侧；在显示面板背离压接平台一侧设置测试用柔性电路板，且测试用柔性电路板上的测试引脚朝向被测试引脚设置；利用CCD将测试用柔性电路板和显示面板上的对位标记进行对位，以使得测试引脚和被测试引脚一一对位。
S102：压合测试引脚的弯曲部，以使得弯曲部发生形变，并与对应位置处的被测试引脚压合接触。
具体地，上述步骤S102所达到的最终效果可以如图3中所示。上述步骤S102中可以利用压力机构向显示面板或测试用柔性电路板施加压力，以实现压合弯曲部的目的。上述测试引脚的弯曲部通过形变使得测试引脚与被测试引脚之间的接触更为充分，进而使得压接测试结果的准确率更高；此外，上述弯曲部还可以降低测试时对待测试引脚的损伤。
以上所述仅为本申请的实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种测试用柔性电路板，用于在压接测试过程中与被测试引脚电连接，其特征在于，包括：
基材；
多个测试引脚，并排间隔设置于所述基材的第一表面，且所述测试引脚包括朝背离所述第一表面方向凸出的弯曲部，所述弯曲部在抵接于所述被测试引脚时能够发生形变，以使得所述测试引脚与所述被测试引脚充分接触。
2.根据权利要求1所述的柔性电路板，其特征在于，
所述测试引脚包括电连接的第一平直部和所述弯曲部，所述第一平直部固定设置于所述第一表面，所述弯曲部的第一端与所述第一平直部接触，所述弯曲部的第二端悬空，且所述弯曲部抵接于所述被测试引脚时，所述弯曲部的第二端沿所述第一平直部的长度延伸方向延伸；
优选地，所述第一平直部和所述弯曲部的材质相同。
3.根据权利要求2所述的柔性电路板，其特征在于，
所述弯曲部在抵接于被测试引脚并发生形变时，所述弯曲部沿所述第一平直部的长度延伸方向延伸，至少部分所述测试引脚超出所述基材。
4.根据权利要求3所述的柔性电路板，其特征在于，
所述测试引脚还包括与所述弯曲部的第二端接触并电连接的第二平直部，所述第二平直部悬空，且与所述第一平直部平行；
其中，所述弯曲部完全延展时在所述第一表面的正投影位于所述第一表面内，至少部分所述平直部超出所述基材。
5.根据权利要求2所述的柔性电路板，其特征在于，
所述弯曲部包括宽度不同的第一部分和第二部分，所述第一部分的宽度大于所述第二部分以及所述第一平直部的宽度。
6.根据权利要求5所述的柔性电路板，其特征在于，
所述弯曲部包括远离所述第一表面的顶点，所述第一部分位于或邻近所述顶点设置；和/或，
相邻所述测试引脚的所述第一部分之间在所述测试引脚的长度方向上相互错位设置。
7.根据权利要求2所述的柔性电路板，其特征在于，
所述弯曲部为弧形弹片，所述弯曲部的第二端与所述基材之间具有间隙；
优选地，所述间隙在0.5-1mm之间。
8.根据权利要求2所述的柔性电路板，其特征在于，
所述弯曲部在所述第一表面具有第一投影区域，所述第一平直部自所述第一投影区域外侧延伸至所述第一投影区域内。
9.根据权利要求8所述的柔性电路板，其特征在于，
所述弯曲部与所述第一平直部可拆卸连接；
优选地，所述基材对应所述弯曲部与所述第一平直部连接的位置设置有孔洞，所述第一端位于所述孔洞内。
10.一种压接测试方法，其特征在于，利用权利要求1-9中任一项所述的测试用柔性电路板，所述压接测试方法包括：
将测试用柔性电路板的多个测试引脚和显示面板的多个被测试引脚一一对位；
压合所述测试引脚的弯曲部，以使得所述弯曲部发生形变，并与对应位置处的所述被测试引脚压合接触。
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