CN112345920A - 一种用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置，具体包括以下步骤：S1、当要对激光二极管芯片进行加电测试时，将芯片放置在放置框顶部设置的凹槽内部，然后启动外部的控制开关，使得电机开始工作，电机已预先调整好转速，电机启动带动第一皮带轮转动，第一皮带轮继而通过皮带带动第二皮带轮转动，此时活动杆也开始转动，本发明涉及激光二极管技术领域。该用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置，可实现对激光二极管芯片进行传送式输送，从而方便后续芯片的自动化加电测试，无需人工拿取探针对芯片进行逐个测试，加电测试后的测试数据能及时显示出来，大大提高了工作进度，提高了测试的稳定性以及精确性。
Description
技术领域
本发明涉及激光二极管技术领域，具体为一种用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置。
背景技术
激光二极管包括单异质结(SH)、双异质结(DH)和量子阱(QW)激光二极管，量子阱激光二极管具有阈值电流低，输出功率高的优点，是市场应用的主流产品，同激光器相比，激光二极管具有效率高、体积小、寿命长的优点，但其输出功率小(一般小于2mW)，线性差、单色性不太好，使其在有线电视系统中的应用受到很大限制，不能传输多频道，高性能模拟信号，在双向光接收机的回传模块中，上行发射一般都采用量子阱激光二极管作为光源。
现有对激光二极管芯片进行加电测试通常都是通过人工拿取加电探针，将加电探针与芯片相接触从而进行加电测试，但是这样的操作方式存在的安全隐患大且需要对若干个芯片进行测试时，严重拖慢了测试效率，同时也影响了测试的稳定性以及精确性，不符合实际的使用需求。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足，本发明提供了一种用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置，解决了人工拿取加电探针，将加电探针与芯片相接触从而进行加电测试，存在的安全隐患大且需要对若干个芯片进行测试时，严重拖慢了测试效率，同时也影响了测试的稳定性以及精确性，不符合实际使用需求的问题。
(二)技术方案
为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种用于激光二极管芯片测试的加电方法，具体包括以下步骤：
S1、当要对激光二极管芯片进行加电测试时，将芯片放置在放置框顶部设置的凹槽内部，然后启动外部的控制开关，使得电机开始工作，电机已预先调整好转速，电机启动带动第一皮带轮转动，第一皮带轮继而通过皮带带动第二皮带轮转动，此时活动杆也开始转动，活动杆上齿轮通过链条带动转动杆转动，这时传送皮带带动放置框向加电测试机构的方向进行传送；
S2、当装有芯片的放置框进入到支撑架的底部时，启动电动推杆，电动推杆的伸出端带动压板向芯片的方向进行移动，直至压板的底部与芯片相接触即可，压板用于对芯片的压紧限位；
S3、然后启动双杆液压缸，双杆液压缸的两个伸出端带动竖杆相对移动，竖杆上的测试探针同时也向放置框的方向进行移动，直至竖杆带动测试探针移动至通槽内部，当测试探针与芯片管脚接触，使芯片管脚通电，即可进行加电测试；
S4、加电测试时产生的测试数据则由控制机箱上的显示屏进行显示，故障检测模块对控制机箱的运行状态进行监测，一旦出现运行故障，则控制机箱通过操作暂停模块立即停止该装置的测试工作，并将这警报信息通过无线传输模块传送至测试中心进行后续处理；
S5、待芯片测试完毕后，由传送皮带将芯片传送至接料盒内部，最终人员将接料盒从安装板内部滑动出来对测试好的芯片进行后续处理即可。
本发明还公开了一种用于激光二极管芯片测试的加电装置，包括底板、固定连接于底板顶部一侧正面和背面的第一竖板，所述底板顶部的另一侧固定连接有第二竖板，所述第一竖板和第二竖板相对的一侧之间通过支撑板设置有加电测试机构，所述底板的顶部设置有自动传送机构。
所述加电测试机构包括支撑架，所述支撑架的底部与支撑板的顶部固定连接，所述支撑架内壁的底部通过固定筒固定连接有双杆液压缸，所述双杆液压缸的两个伸出端均固定连接有竖杆，两个竖杆表面相对的一侧均螺纹连接有测试探针，所述支撑架内壁的顶部固定连接有电动推杆，所述电动推杆的伸出端固定连接有压板。
所述自动传送机构包括电机，所述电机的底部与底板顶部的一侧固定连接，两个所述第一竖板相对的一侧之间通过轴承转动连接有活动杆，所述活动杆的一端贯穿第一竖板并延伸至第一竖板的正面，所述电机输出轴的一端通过联轴器固定连接有第一皮带轮，所述活动杆的表面且位于第一竖板的正面固定连接有第二皮带轮，两个所述第二竖板相对的一侧之间转动连接有转动杆，所述活动杆的表面且位于两个第一竖板相对的一侧之间以及转动杆的表面均固定连接有齿轮，且齿轮的表面通过齿牙传动连接有链条，所述链条的表面固定连接有传送皮带。
优选的，所述第一皮带轮的表面通过皮带与第二皮带轮的表面传动连接，所述传送皮带的顶部固定连接有放置框。
优选的，所述放置框的正面和背面均开设有与测试探针相适配的通槽，两个所述第二竖板的一侧均固定连接有安装板。
优选的，两个所述安装板相对的一侧之间滑动连接有接料盒，所述支撑架正面的顶部固定连接有控制机箱。
优选的，所述控制机箱的正面固定连接有显示屏，所述控制机箱的输出端通过导线分别与操作暂停模块、无线传输模块和显示屏的输入端电性连接。
优选的，所述控制机箱的输入端通过导线与分别与测试探针和故障检测模块的输出端电性连接。
优选的，所述无线传输模块的输出端通过导线与测试中心的输入端电性连接。
(三)有益效果
本发明提供了一种用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置。具备以下有益效果：
(1)、该用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置，通过底板顶部的另一侧固定连接有第二竖板，第一竖板和第二竖板相对的一侧之间通过支撑板设置有加电测试机构，底板的顶部设置有自动传送机构，加电测试机构包括支撑架，支撑架的底部与支撑板的顶部固定连接，支撑架内壁的底部通过固定筒固定连接有双杆液压缸，双杆液压缸的两个伸出端均固定连接有竖杆，两个竖杆表面相对的一侧均螺纹连接有测试探针，支撑架内壁的顶部固定连接有电动推杆，电动推杆的伸出端固定连接有压板，自动传送机构包括电机，电机的底部与底板顶部的一侧固定连接，两个第一竖板相对的一侧之间通过轴承转动连接有活动杆，活动杆的一端贯穿第一竖板并延伸至第一竖板的正面，电机输出轴的一端通过联轴器固定连接有第一皮带轮，活动杆的表面且位于第一竖板的正面固定连接有第二皮带轮，两个第二竖板相对的一侧之间转动连接有转动杆，活动杆的表面且位于两个第一竖板相对的一侧之间以及转动杆的表面均固定连接有齿轮，且齿轮的表面通过齿牙传动连接有链条，链条的表面固定连接有传送皮带，第一皮带轮的表面通过皮带与第二皮带轮的表面传动连接，传送皮带的顶部固定连接有放置框，放置框的正面和背面均开设有与测试探针相适配的通槽，可实现对激光二极管芯片进行传送式输送，从而方便后续芯片的自动化加电测试，无需人工拿取探针对芯片进行逐个测试，加电测试后的测试数据能及时显示出来，大大提高了工作进度，同时也提高了测试的稳定性以及精确性。
(2)、该用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置，通过两个安装板相对的一侧之间滑动连接有接料盒，电动推杆的伸出端固定连接有压板，可实现对芯片进行压紧，防止测试探针的测试端与芯片管脚接触有误差的问题，同时接料盒的设置可方便对测试后的芯片进行收集，对芯片起到了保护作用，也方便了人员的后续处理。
(3)、该用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置，通过述控制机箱的正面固定连接有显示屏，控制机箱的输出端通过导线分别与操作暂停模块、无线传输模块和显示屏的输入端电性连接，控制机箱的输入端通过导线与分别与测试探针和故障检测模块的输出端电性连接，无线传输模块的输出端通过导线与测试中心的输入端电性连接，可实现对控制机箱在运行时对其进行监测，一旦运行出现故障时，则通过操作暂停模块立即停止该装置的工作，并同时进行预警工作。
附图说明
图1为本发明结构的正视图；
图2为本发明结构的侧视图；
图3为本发明图1中A处的局部放大图；
图4为本发明系统的结构原理框图。
图中：1-底板、2-第一竖板、3-第二竖板、4-支撑板、5-加电测试机构、51-支撑架、52-压板、53-双杆液压缸、54-竖杆、55-测试探针、56-电动推杆、6-自动传送机构、61-电机、62-活动杆、63-第一皮带轮、64-第二皮带轮、65-转动杆、66-齿轮、67-链条、68-传送皮带、7-放置框、8-通槽、9-安装板、10-接料盒、11-控制机箱、12-显示屏、13-操作暂停模块、14-无线传输模块、15-故障检测模块、16-测试中心。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-4，本发明实施例提供一种技术方案：一种用于激光二极管芯片测试的加电方法，可实现对激光二极管芯片进行传送式输送，从而方便后续芯片的自动化加电测试，无需人工拿取探针对芯片进行逐个测试，加电测试后的测试数据能及时显示出来，大大提高了工作进度，同时也提高了测试的稳定性以及精确性，具体包括以下步骤：
S1、当要对激光二极管芯片进行加电测试时，将芯片放置在放置框7顶部设置的凹槽内部，然后启动外部的控制开关，使得电机61开始工作，电机61已预先调整好转速，电机61启动带动第一皮带轮63转动，第一皮带轮63继而通过皮带带动第二皮带轮64转动，此时活动杆62也开始转动，活动杆62上齿轮66通过链条67带动转动杆65转动，这时传送皮带68带动放置框7向加电测试机构5的方向进行传送；
S2、当装有芯片的放置框7进入到支撑架51的底部时，启动电动推杆56，电动推杆56的伸出端带动压板52向芯片的方向进行移动，直至压板52的底部与芯片相接触即可，压板52用于对芯片的压紧限位；
S3、然后启动双杆液压缸53，双杆液压缸53的两个伸出端带动竖杆54相对移动，竖杆54上的测试探针55同时也向放置框7的方向进行移动，直至竖杆54带动测试探针55移动至通槽8内部，当测试探针55与芯片管脚接触，使芯片管脚通电，即可进行加电测试；
S4、加电测试时产生的测试数据则由控制机箱11上的显示屏12进行显示，故障检测模块15对控制机箱11的运行状态进行监测，一旦出现运行故障，则控制机箱11通过操作暂停模块13立即停止该装置的测试工作，并将这警报信息通过无线传输模块14传送至测试中心16进行后续处理；
S5、待芯片测试完毕后，由传送皮带68将芯片传送至接料盒10内部，最终人员将接料盒10从安装板9内部滑动出来对测试好的芯片进行后续处理即可。
本发明还公开了一种用于激光二极管芯片测试的加电装置，包括底板1、固定连接于底板1顶部一侧正面和背面的第一竖板2，底板1顶部的另一侧固定连接有第二竖板3，第一竖板2和第二竖板3相对的一侧之间通过支撑板4设置有加电测试机构5，底板1的顶部设置有自动传送机构6。
本发明实施例中，加电测试机构5包括支撑架51，支撑架51的底部与支撑板4的顶部固定连接，支撑架51内壁的底部通过固定筒固定连接有双杆液压缸53，双杆液压缸53的两个伸出端均固定连接有竖杆54，两个竖杆54表面相对的一侧均螺纹连接有测试探针55，支撑架51内壁的顶部固定连接有电动推杆56，电动推杆56的伸出端固定连接有压板52，可实现对芯片进行压紧，防止测试探针55的测试端与芯片管脚接触有误差的问题。
本发明实施例中，自动传送机构6包括电机61，电机61为三相异步电动机，可调整转速以及正反转，电机61的底部与底板1顶部的一侧固定连接，两个第一竖板2相对的一侧之间通过轴承转动连接有活动杆62，活动杆62的一端贯穿第一竖板2并延伸至第一竖板2的正面，电机61输出轴的一端通过联轴器固定连接有第一皮带轮63，活动杆62的表面且位于第一竖板2的正面固定连接有第二皮带轮64，两个第二竖板3相对的一侧之间转动连接有转动杆65，活动杆62的表面且位于两个第一竖板2相对的一侧之间以及转动杆65的表面均固定连接有齿轮66，且齿轮66的表面通过齿牙传动连接有链条67，链条67的表面固定连接有传送皮带68。
本发明实施例中，第一皮带轮63的表面通过皮带与第二皮带轮64的表面传动连接，传送皮带68的顶部固定连接有放置框7。
本发明实施例中，放置框7的正面和背面均开设有与测试探针55相适配的通槽8，两个第二竖板3的一侧均固定连接有安装板9。
本发明实施例中，两个安装板9相对的一侧之间滑动连接有接料盒10，，接料盒10的设置可方便对测试后的芯片进行收集，对芯片起到了保护作用，也方便了人员的后续处理，支撑架51正面的顶部固定连接有控制机箱11。
本发明实施例中，控制机箱11的正面固定连接有显示屏12，控制机箱11的输出端通过导线分别与操作暂停模块13、无线传输模块14和显示屏12的输入端电性连接，无线传输模块14是利用无线技术进行无线传输的一种模块，它被广泛地应用于电脑无线网络，无线通讯，无线控制等领域，无线传输模块14主要由发射器，接收器和控制器组成。
本发明实施例中，控制机箱11的输入端通过导线与分别与测试探针55和故障检测模块15的输出端电性连接。
本发明实施例中，无线传输模块14的输出端通过导线与测试中心16的输入端电性连接，可实现对控制机箱11在运行时对其进行监测，一旦运行出现故障时，则通过操作暂停模块13立即停止该装置的工作，并同时进行预警工作。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (8)
1.一种用于激光二极管芯片测试的加电方法，其特征在于：具体包括以下步骤：
S1、当要对激光二极管芯片进行加电测试时，将芯片放置在放置框(7)顶部设置的凹槽内部，然后启动外部的控制开关，使得电机(61)开始工作，电机(61)已预先调整好转速，电机(61)启动带动第一皮带轮(63)转动，第一皮带轮(63)继而通过皮带带动第二皮带轮(64)转动，此时活动杆(62)也开始转动，活动杆(62)上齿轮(66)通过链条(67)带动转动杆(65)转动，这时传送皮带(68)带动放置框(7)向加电测试机构(5)的方向进行传送；
S2、当装有芯片的放置框(7)进入到支撑架(51)的底部时，启动电动推杆(56)，电动推杆(56)的伸出端带动压板(52)向芯片的方向进行移动，直至压板(52)的底部与芯片相接触即可，压板(52)用于对芯片的压紧限位；
S3、然后启动双杆液压缸(53)，双杆液压缸(53)的两个伸出端带动竖杆(54)相对移动，竖杆(54)上的测试探针(55)同时也向放置框(7)的方向进行移动，直至竖杆(54)带动测试探针(55)移动至通槽(8)内部，当测试探针(55)与芯片管脚接触，使芯片管脚通电，即可进行加电测试；
S4、加电测试时产生的测试数据则由控制机箱(11)上的显示屏(12)进行显示，故障检测模块(15)对控制机箱(11)的运行状态进行监测，一旦出现运行故障，则控制机箱(11)通过操作暂停模块(13)立即停止该装置的测试工作，并将这警报信息通过无线传输模块(14)传送至测试中心(16)进行后续处理；
S5、待芯片测试完毕后，由传送皮带(68)将芯片传送至接料盒(10)内部，最终人员将接料盒(10)从安装板(9)内部滑动出来对测试好的芯片进行后续处理即可。
2.一种用于激光二极管芯片测试的加电装置，包括底板(1)、固定连接于底板(1)顶部一侧正面和背面的第一竖板(2)，所述底板(1)顶部的另一侧固定连接有第二竖板(3)，其特征在于：所述第一竖板(2)和第二竖板(3)相对的一侧之间通过支撑板(4)设置有加电测试机构(5)，所述底板(1)的顶部设置有自动传送机构(6)；
所述加电测试机构(5)包括支撑架(51)，所述支撑架(51)的底部与支撑板(4)的顶部固定连接，所述支撑架(51)内壁的底部通过固定筒固定连接有双杆液压缸(53)，所述双杆液压缸(53)的两个伸出端均固定连接有竖杆(54)，两个竖杆(54)表面相对的一侧均螺纹连接有测试探针(55)，所述支撑架(51)内壁的顶部固定连接有电动推杆(56)，所述电动推杆(56)的伸出端固定连接有压板(52)；
所述自动传送机构(6)包括电机(61)，所述电机(61)的底部与底板(1)顶部的一侧固定连接，两个所述第一竖板(2)相对的一侧之间通过轴承转动连接有活动杆(62)，所述活动杆(62)的一端贯穿第一竖板(2)并延伸至第一竖板(2)的正面，所述电机(61)输出轴的一端通过联轴器固定连接有第一皮带轮(63)，所述活动杆(62)的表面且位于第一竖板(2)的正面固定连接有第二皮带轮(64)，两个所述第二竖板(3)相对的一侧之间转动连接有转动杆(65)，所述活动杆(62)的表面且位于两个第一竖板(2)相对的一侧之间以及转动杆(65)的表面均固定连接有齿轮(66)，且齿轮(66)的表面通过齿牙传动连接有链条(67)，所述链条(67)的表面固定连接有传送皮带(68)。
3.根据权利要求2所述的一种用于激光二极管芯片测试的加电装置，其特征在于：所述第一皮带轮(63)的表面通过皮带与第二皮带轮(64)的表面传动连接，所述传送皮带(68)的顶部固定连接有放置框(7)。
4.根据权利要求3所述的一种用于激光二极管芯片测试的加电装置，其特征在于：所述放置框(7)的正面和背面均开设有与测试探针(55)相适配的通槽(8)，两个所述第二竖板(3)的一侧均固定连接有安装板(9)。
5.根据权利要求4所述的一种用于激光二极管芯片测试的加电装置，其特征在于：两个所述安装板(9)相对的一侧之间滑动连接有接料盒(10)，所述支撑架(51)正面的顶部固定连接有控制机箱(11)。
6.根据权利要求5所述的一种用于激光二极管芯片测试的加电装置，其特征在于：所述控制机箱(11)的正面固定连接有显示屏(12)，所述控制机箱(11)的输出端通过导线分别与操作暂停模块(13)、无线传输模块(14)和显示屏(12)的输入端电性连接。
7.根据权利要求5所述的一种用于激光二极管芯片测试的加电装置，其特征在于：所述控制机箱(11)的输入端通过导线与分别与测试探针(55)和故障检测模块(15)的输出端电性连接。
8.根据权利要求6所述的一种用于激光二极管芯片测试的加电装置，其特征在于：所述无线传输模块(14)的输出端通过导线与测试中心(16)的输入端电性连接。
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- 2020-11-03 CN CN202011210841.7A patent/CN112345920A/zh active Pending
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