CN112285529A - 一种使用ate测试向量控制继电器的方法 - Google Patents

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刘远华
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季海英
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Abstract

本发明公开了一种使用ATE测试向量控制继电器的方法，通过使用ATE设备的数字IO信号代替relay信号；把relay信号脚都分配到数字IO端口，在给这些脚的VIH定义为5V，VIL定义为0V；然后在测试pattern的pin脚中也加入这些数字IO脚，在测试中某个时间点，需要闭合某个继电器，把这个继电器的pin在pattern中这个时间点给1，需要断开继电器就给0，实现跟随pattern的测试位置随意切换继电器的状态。在测试中某个时间点，如果需要闭合某个继电器，就把这个继电器的pin在pattern中这个时间点给1，如果需要断开继电器就给0，这样就代替了传统的relay信号控制继电器，而且可以跟随pattern的测试位置随意切换继电器的状态。

Description

一种使用ATE测试向量控制继电器的方法
技术领域
本发明应用于集成电路测试中，是在使用ATE测试设备测pattern的时候，实现测试中多次控制继电器状态的一种方法，更具体地说是一种使用ATE测试向量控制继电器的方法。
背景技术
在集成电路测试中，ATE会向被测试芯片的输入管脚在不同的时序点发送一系列的高低电压，而在芯片的输出管脚预期的时序点比较输出的电压，由此判断测试芯片是否满足其功能。在实际测试中，可能会遇到测试中途更换测试线路或者断开闭合某个元器件，通常这时候会使用继电器。但是目前的ATE设备在测试pattern的时候，传统的方法只支持继电器单次状态的切换，对于一些复杂的测试，如果需要多次切换继电器状态就不能满足。如现有技术中，使用ATE测试设备的固定方法(以泰瑞达的J750平台为例)，给每个继电器分配一个relay信号，如图1，在测试前对继电器进行切合或者断开，如图2中K13继电器切合，K1～K10、K12继电器断开。此类型技术在测试pattern的时候只能在测试前对继电器进行控制，不能满足更复杂的测试要求，比如在测试中也需要控制继电器的状态改变。
综上所述，针对现有技术中的上述缺陷，本申请方案提供了一种使用ATE测试设备测pattern的时候，实现可以多次控制继电器状态改变的一种方法，可应用于上述提及的集成电路测试，该方法具有灵活方便、应用广泛、使用简单的优点。
发明内容
本发明为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种使用ATE测试向量控制继电器的方法，满足部分芯片使用ATE测试pattern的时候，在测试过程中也可以多次对继电器进行控制，其中，具体技术方案为：
通过使用ATE设备的数字IO信号代替relay信号；把relay信号脚都分配到数字IO端口，在给这些脚的VIH定义为5V，VIL定义为0V；
然后在测试pattern的pin脚中也加入这些数字IO脚，在测试中某个时间点，需要闭合某个继电器，把这个继电器的pin在pattern中这个时间点给1，需要断开继电器就给0，实现跟随pattern的测试位置随意切换继电器的状态。
上述的一种使用ATE测试向量控制继电器的方法，其中：使用ATE测试设备测pattern的时候，在测试中多次改变继电器的状态。
上述的一种使用ATE测试向量控制继电器的方法，其中：使用ATE测试设备J750给需要控制的继电器K1～K10、K12、K13分配数字IO资源，然后给这些数字IO分一个group，然后再设置VIH为5V，VIL为0V，修改原测试pattern，加入relay的管脚。
上述的一种使用ATE测试向量控制继电器的方法，其中：K2～K10、K12、K13都断开，K1需要在4～12行的时间点处于闭合状态，13到18行处于断开状态，19到24行处于闭合状态，25到27行处于断开状态，28到34行闭合状态，修改pattern之后，只需要按照J750正常测试功能的方法测试即完成继电器的控制。
本发明相对于现有技术具有如下有益效果：
针对目前国内的集成电路测试迅猛发展、芯片复杂程度相应增加、芯片测试复杂程度增加的情况，本发明提供了一种使用ATE测试设备测pattern的时候，实现测试中可以多次控制继电器的方法，满足了一些有特殊要求测试的芯片。
附图说明
图1为relay信号分配的示意图；
图2为继电器状态控制的示意图；
图3为继电器资源分配的示意图；
图4为relay pin分组的示意图；
图5为设定VIH VIL的示意图；
图6为pattern中对继电器设置的示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的描述。
ATE：集成电路测试时使用的自动测试设备。
Pattern：芯片测试向量，芯片输入、输出电的真值表。
VIH：芯片输入高电压。
VIL:芯片输入低电压。
继电器：是一种电控制器件，可以切合和断开线路。
此项技术方案是为了满足部分芯片，使用ATE测试pattern的时候，在测试过程中多次对继电器进行控制。
本技术方案是通过使用ATE设备的数字IO信号代替传统的relay信号。把传统的relay信号脚都分配到数字IO端口，在给这些脚的VIH定义为5V，VIL定义为0V。然后在传统测试pattern的pin脚中也加入这些数字IO脚(原relay信号的脚)。在测试中某个时间点，如果需要闭合某个继电器，就把这个继电器的pin在pattern中这个时间点给1，如果需要断开继电器就给0，这样就代替了传统的relay信号控制继电器，而且可以跟随pattern的测试位置随意切换继电器的状态。
通过上述方案，使用ATE测试设备测pattern的时候，可以在测试中多次改变继电器的状态。使用ATE测试设备J750给需要控制的继电器K1～K10，K12，K13分配数字IO资源，如图3，然后给这些数字IO分一个group，如图4，然后再给他们设置VIH为5V，VIL为0V，如图5。修改原测试pattern，加入relay的管脚，本例测试中需要给K2～K10、K12、K13都断开。K1需要在4～12行的时间点处于闭合状态，13到18行处于断开状态，19到24行处于闭合状态，25到27行处于断开状态，28到34行闭合状态，如图6。修改pattern之后，只需要按照J750正常测试功能的方法测试就可以完成继电器的控制。
在此说明书中，本发明已参照其特定的实施例作了描述。但是，很显然仍可以作出各种修改和变换而不背离本发明的精神和范围。因此，说明书和附图应被认为是说明性的而非限制性的。

Claims (4)

1.一种使用ATE测试向量控制继电器的方法，其特征在于：通过使用ATE设备的数字IO信号代替relay信号；把relay信号脚都分配到数字IO端口，在给这些脚的VIH定义为5V，VIL定义为0V；
然后在测试pattern的pin脚中也加入这些数字IO脚，在测试中某个时间点，需要闭合某个继电器，把这个继电器的pin在pattern中这个时间点给1，需要断开继电器就给0，实现跟随pattern的测试位置随意切换继电器的状态。
2.如权利要求1所述的一种使用ATE测试向量控制继电器的方法，其特征在于：使用ATE测试设备测pattern的时候，在测试中多次改变继电器的状态。
3.如权利要求2所述的一种使用ATE测试向量控制继电器的方法，其特征在于：使用ATE测试设备J750给需要控制的继电器K1～K10、K12、K13分配数字IO资源，然后给这些数字IO分一个groun，然后再设置VIH为5V，VIL为0V，修改原测试pattern，加入relay的管脚。
4.如权利要求3所述的一种使用ATE测试向量控制继电器的方法，其特征在于：K2～K10、K12、K13都断开，K1需要在4～12行的时间点处于闭合状态，13到18行处于断开状态，19到24行处于闭合状态，25到27行处于断开状态，28到34行闭合状态，修改pattern之后，只需要按照J750正常测试功能的方法测试即完成继电器的控制。
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