CN112255251A - 检查装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及检查装置。X射线检查装置(1)具有：存储部(21)，存储多种图像处理算法；获取部(22)，获取通过使电磁波透射附有异物(F)的物品(A)得到的透射图像(P11)或者合成透射图像(P13)作为基准透射图像(P1)；评价部(24)，根据利用存储部(21)中存储的多种图像处理算法分别对基准透射图像(P1)进行处理得到的评价图像(P3)，评价各种图像处理算法对异物(F)的检测精度；以及设定部(25)，根据评价部(24)的评价将图像处理算法中至少一种图像处理算法设定为预先选择的图像处理算法。

Description

检查装置

技术领域

本发明的一个方面涉及检查装置。

背景技术

已知有一种检查装置，针对通过使电磁波透射物品得到的透射图像，实施使用了图像处理算法的图像处理并生成处理图像，根据该处理图像进行物品检查。在这样的检查装置中，预先在存储部存储多种图像处理算法，从所存储的多种图像处理算法中选择并设定在检查时的图像处理中使用的最佳图像处理算法。

例如，在专利文献1(日本专利第5635903号公报)中公开了一种检查装置(X射线检查装置)，在操作者选出从被检查物检测的异物的异物检测特性时，从预先存储的多种图像处理算法中提取与所选择的异物检测特性近似的多种图像处理算法并显示于显示部。

但是，在上述以往的检查装置中，虽然根据异物检测特性提取出的多种图像处理算法会显示于显示部，但是从这些提取出的多种图像处理算法中决定最终用于图像处理的图像处理算法的仍是操作者。因此，有可能导致在图像处理算法的选择上花费时间或者功夫，或者有可能导致在上述选择的过程中选不出最佳的图像处理算法。因此，在选择最佳的图像处理算法上还有改善的余地。

发明内容

因此，本发明的一个方面的目的在于提供一种检查装置，能够不需人工介入地从预先存储的多种图像处理算法中设定最佳的图像处理算法。

本发明的一个方面所涉及的检查装置针对通过使电磁波透射物品得到的透射图像，使用从多种图像处理算法中预先选择的图像处理算法进行图像处理，根据其图像处理结果检查物品中是否包含异物，该检查装置具有：存储部，存储多种图像处理算法；获取部，获取通过使电磁波透射附有异物的物品得到的透射图像或者合成透射图像作为基准透射图像，该合成透射图像是通过对使电磁波透射物品得到的透射图像虚拟地合成异物而生成的；评价部，根据利用存储部中存储的多种图像处理算法分别对基准透射图像进行处理得到的评价图像，评价各种图像处理算法对异物的检测精度；以及设定部，根据评价部的评价将图像处理算法中至少一种图像处理算法设定为预先选择的图像处理算法。

此外，在通过获取部所获取的基准透射图像中包含的异物中，还包括对应异物的测试片(试验片)。在该结构的检查装置中，根据利用存储部中存储的多种图像处理算法分别对基准透射图像进行处理得到的评价图像，评价各种图像处理算法对异物的检测精度，因而能够进行图像处理方法的客观评价。然后，从经客观评价的图像处理算法中自动设定至少一种图像处理算法，作为在检查中进行图像处理时的预先选择的图像处理算法。其结果是，能够不需人工介入地从预先存储的多种图像处理算法中设定最佳的图像处理算法。

在本发明的一个方面所涉及的检查装置中，也可以是，合成透射图像是通过对使电磁波透射物品得到的透射图像的至少一部分合成通过使电磁波透射异物得到透射图像而生成的。由此，能够容易获取附有异物的物品的透射图像。

在本发明的一个方面所涉及的检查装置中，也可以是，评价部根据得分来评价检测精度，该得分是根据评价图像的与异物对应的部分的平均亮度、评价图像的与异物对应的部分的最小亮度、以及评价图像的与异物以外的物品对应的部分的最大亮度计算出的。由此，能够更准确地判定异物的检测精度。

在本发明的一个方面所涉及的检查装置中，也可以是，在通过图像处理算法对基准透射图像进行处理后，得到在电磁波的透射量越大时显示得越暗且在透射量越小时显示得越亮的评价图像的情况下，评价部根据按照计算式计算出的得分来评价检测精度，该计算式被设定为在评价图像的与异物对应的部分越亮且与异物以外的物品对应的部分越暗时，使得分越高。由此，明确示出了针对多种图像处理算法的各个评价，因而能够将通过评价部所评价的图像处理算法可靠地设定为预先选择的图像处理算法。

在本发明的一个方面所涉及的检查装置中，也可以是，获取部根据通过使电磁波透射以放置于传送带的状态被输送的异物而获取的透射图像来生成异物透射图像，该异物透射图像在电磁波的透射量越大时显示得越暗且在透射量越小时显示得越亮，并且该异物透射图像是通过从透射图像中切取与异物对应的部分和与异物的周围的背景对应的部分而得到的，通过从构成异物透射图像的各个像素的亮度减去作为异物透射图像中的亮度的最频值的亮度，生成使与背景对应的部分的亮度为0的虚拟异物图像，将虚拟异物图像合成在通过使电磁波透射物品得到的透射图像上，由此生成合成透射图像。由此，能够容易生成对图像处理算法评价异物的检测精度时使用的合成透射图像，并且获取适当的基准透射图像作为评价图像处理算法时的图像。

在本发明的一个方面所涉及的检查装置中，也可以是，获取部获取第一变化量和第二变化量，该第一变化量表示异物透射图像中与异物对应的部分相对于与背景对应的部分的亮度的变化，该第二变化量表示在通过使电磁波透射含有异物的物品得到的透射图像中，与异物对应的部分相对于与物品对应的部分的亮度的变化，获取部根据第一变化量和第二变化量校正构成合成透射图像的各个像素的亮度。由此，能够获取更接近现实的合成透射图像，因而能够提高评价部的评价精度。

根据本发明的一个方面，能够不需人工介入地从预先存储的多种图像处理算法中设定最佳的图像处理算法。

附图说明

图1是一个实施方式所涉及的X射线检查装置的结构图。

图2是图1所示的屏蔽箱的内部的结构图。

图3是表示一个实施方式所涉及的X射线检查装置的功能结构的功能框图。

图4是表示一个实施方式所涉及的X射线检查装置的图像处理的流程的说明图。

图5A是通过传送带输送的多个异物的透射图像的一例。

图5B是异物透射图像的一例。

图5C是使异物透射图像进行明暗反转得到的图像的一例。

图6A是异物区域图像的一例。

图6B是虚拟异物图像的一例。

图7A是透射图像的一例。

图7B是通过基于图像处理算法的图像处理适当地检测出异物的评价图像的一例。

图7C是通过基于图像处理算法的图像处理未适当地检测出异物的评价图像的一例。

具体实施方式

如图1所示，X射线检查装置(检查装置)1具有装置主体2、支承腿3、屏蔽箱4、输送部5、X射线照射部6、X射线检测部7、显示操作部8和控制部20。

X射线检查装置1通过一面输送物品A一面向物品A照射X射线(电磁波)而生成物品A的X射线透射图像，根据该X射线透射图像进行物品A的检查(例如收纳数量检查、异物混入检查、缺货检查、裂口缺口检查等)。检查前的物品A通过搬入传送带51被搬入X射线检查装置1。检查后的物品A通过搬出传送带52从X射线检查装置1被搬出。通过X射线检查装置1判定为不合格品的物品A，通过在搬出传送带52的下游配置的分拣装置(省略图示)被分拣到生产线外部。通过X射线检查装置1判定为合格品的物品A在该分拣装置直接通过。

装置主体2收纳控制部20等。支承腿3支承装置主体2。屏蔽箱4被设于装置主体2。屏蔽箱4防止X射线向外部泄露。在屏蔽箱4的内部设有检查区域R，用于实施X射线对物品A的检查。在屏蔽箱4形成有搬入口4a及搬出口4b。检查前的物品A从搬入传送带51经由搬入口4a被搬入检查区域R。检查后的物品A从检查区域R经由搬出口4b被搬出到搬出传送带52上。在搬入口4a及搬出口4b分别设有防止X射线泄露的X射线屏蔽帘(省略图示)。

输送部5被配置在屏蔽箱4内。输送部5将物品A沿着输送方向D从搬入口4a经由检查区域R输送到搬出口4b。输送部5例如是被架设在搬入口4a和搬出口4b之间的传送带。

如图1及图2所示，X射线照射部6被配置在屏蔽箱4内。X射线照射部6向通过输送部5输送的物品A照射X射线。X射线照射部6例如具有射出X射线的X射线管和准直仪，准直仪使X射线管射出的X射线在与输送方向D垂直的面内呈扇状扩散。

X射线检测部7被配置在屏蔽箱4内。X射线检测部7检测从X射线照射部6朝向通过输送部5输送的物品A照射并透射物品A后的X射线。X射线检测部7是由沿着与输送方向D垂直的水平方向一维排列的X射线检测元件构成的线传感器。

如图1所示，显示操作部8被设于装置主体2。显示操作部8显示各种信息，并且受理各种条件的输入。显示操作部8例如是液晶显示器，显示作为触摸屏的操作画面。在这种情况下，操作者能够经由显示操作部8输入各种条件。

控制部20被配置在装置主体2内。控制部20控制X射线检查装置1的各部分的动作。控制部20由CPU(Central Processing Unit，中央处理器)、ROM(Read Only Memory，只读存储器)、RAM(Random Access Memory，随机存取存储器)、SSD(Solid State Drive，固态驱动器)等构成。在ROM中存储有用于控制X射线检查装置1的程序。输送部5、X射线照射部6、X射线检测部7及显示操作部8与I/O端口及通信端口连接。由此，控制部20能够控制X射线检查装置1的各种动作。

如图3所示，控制部20具有存储部21、获取部22、图像处理部23、评价部24、设定部25及异物判定部28，其中，获取部22、图像处理部23、评价部24、设定部25及异物判定部28是通过使CPU及RAM等的硬件读取规定的计算机软件并在CPU的控制下执行该软件而构成的。

存储部21存储多种图像处理算法。在存储部21存储的多种图像处理算法能够经由因特网等网络从外部获取到。另外，在存储部21存储的多种图像处理算法能够从USB存储器、CF卡或者可移动硬盘等外部存储介质获取到。

在存储部21存储的多种图像处理算法能够采用应用了生物界的遗传及进化的机理的方法即基因算法(GA＝Genetic Algorithms)，根据X射线检查装置1的规格或者检查条件等由多种图像处理滤波器自动生成。此外，在存储部21预先存储的多种图像处理算法除了采用基因算法生成的算法以外，还可以是由人工适当组合多个图像处理滤波器而成的算法。

获取部22获取通过使X射线透射有可能含有异物F的物品A(参照图4)得到的透射图像P11(参照图4)。图像处理部23对透射图像P11实施图像处理而生成以多个灰度呈现的浓淡图像即处理图像P2，该图像处理使用了通过在后面描述的设定部25预先设定的图像处理算法。图像处理部23使显示操作部8显示所生成的该处理图像P2。

异物判定部28根据通过图像处理部23实施了图像处理的处理图像P2进行物品A的检查。具体地，异物判定部28根据沿一个方向扫描处理图像P2时的亮度的变化(例如，有无亮度骤变部)判定有无异物F(合格与否的判定)。异物判定部28例如也可以在显示处理图像的显示操作部8中用框等包围异物F的周围或插入文字，以明确显示检查结果。此外，本说明书中的亮度是指构成图像的各个像素的亮度，利用浓淡值、浓度值、明度值、亮度值等进行表示。

为了在这样的X射线检查装置1中进行异物F的检查，需要从存储部21中存储的多种图像处理算法中预先选择用于生成处理图像P2的图像处理算法，并设定为在检查中使用的图像处理算法。并且，为了提高异物F的检测精度，需要预先选择并设定用于生成处理图像P2的最佳的图像处理算法。为此，X射线检查装置1具备从多种图像处理算法中选择并设定在检查中使用的图像处理算法的初始设定功能。

现有的X射线检查装置具有如下的初始设定功能：将对透射图像P11实施各种图像处理算法得到的各个评价图像P3(参照图4)提示给操作者，操作者能够将生成主观地感觉最佳的评价图像P3的图像处理算法设定为预先选择的图像处理算法。在本实施方式中，具有不经由操作者手工的初始设定功能，能够自动地从多种图像处理算法中预先选择并设定最佳的图像处理算法。这样的初始设定功能主要由获取部22、图像处理部23、评价部24和设定部25来实现。下面，对本实施方式的初始设定功能进行说明。

首先，对通过各种图像处理算法进行处理的图像即基准透射图像P1的获取功能进行说明。如图4所示，获取部22获取通过使X射线透射含有异物F的物品A得到的透射图像P11或者合成透射图像P13作为基准透射图像P1，合成透射图像P13是通过对使X射线透射物品A得到的合格品透射图像PA1合成使X射线透射异物F得到的异物透射图像PF而生成的。

获取部22向通过作为输送部5的传送带输送的含有异物F的物品A(对不含异物F的合格品物品安装了异物F或者测试片的物品A)照射X射线，并检测透射物品A后的X射线，由此获取透射图像P11。本实施方式的获取部22获取在X射线的透射量越大时显示得越亮且在X射线的透射量越小时显示得越暗的透射图像P11。

获取部22向通过作为输送部5的传送带输送的不含异物F的物品A(作为合格品的物品A)照射X射线，并检测透射作为合格品的物品A后的X射线，由此获取合格品透射图像PA1。本实施方式的获取部22获取在X射线的透射量越大时显示得越亮且在X射线的透射量越小时显示得越暗的合格品透射图像PA1。

另外，获取部22向通过作为输送部5的传送带输送的异物F照射X射线，并检测透射异物F后的X射线，由此获取异物透射图像PF。本实施方式的获取部22获取在X射线的透射量越大时显示得越亮且在X射线的透射量越小时显示得越暗的异物透射图像PF。获取部22通过对这样得到的合格品透射图像PA1合成异物透射图像PF，获取合成透射图像P13。获取部22获取在X射线的透射量越大时显示得越亮且在X射线的透射量越小时显示得越暗的合成透射图像P13。

合格品透射图像PA1是指不含异物F的检查对象物品的X射线透射图像。对该合格品透射图像PA1合成根据异物透射图像PF生成的虚拟异物图像PF3(参照图6A及图6B)而形成的合成透射图像P13，是被作为用于评价在同种物品的异物检查中使用的最佳的图像处理算法的基准的基准透射图像P1。即，虚拟异物图像PF3在合格品透射图像PA1中的虚拟异物的尺寸及位置是预先得知的。在已知合成于合格品透射图像PA1的虚拟异物图像的位置及尺寸的状态下进行基于各种图像处理算法的图像处理，因而节省设定异物F存在的位置(像素)的作业(贴标签)等的功夫，通过根据各种图像处理算法的图像处理结果是否能够适当进行异物检测，能够评价各种图像处理算法。

在此，对于通过获取部22得到的合成透射图像P13和使用虚拟异物图像PF3生成合成透射图像P13的功能进行更详细的说明。在本实施方式的X射线检查装置1中，具有能够预先存储(登记)异物F的每个种类的透射图像即虚拟异物图像PF3(参照图6A及图6B)的功能。在具有这种功能的X射线检查装置1中，如果获取到合格品透射图像PA1，则能够使用预先登记的虚拟异物图像PF3生成基准透射图像P1。即，使对作为合格品的物品A放置异物F(或者测试片)的状态的样品在传送带上通过，可以省略获取基准透射图像P1的功夫。下面，对虚拟异物图像PF3的生成功能进行说明。

如图5A所示，获取部22获取多个异物F的透射图像PF0。具体地，多个异物F通过操作者被排列在作为输送部5的传送带上，获取基于X射线检查装置1的透射图像。图5A示出种类相同的异物F，但尺寸彼此不同。获取部22例如在操作者通过适当的方法选择出含有想要作为异物F登记的异物F的部分(区域)(例如，图5A的框部)时，切取该部分并生成图5B所示的异物透射图像PF。获取部22获取图5C所示的使异物透射图像PF进行明暗反转得到的异物透射图像PF1。

在此，获取部22生成异物透射图像PF1的亮度直方图，获取亮度的最频值。获取部22将该最频值判定为异物透射图像PF1中的异物F以外的部分即背景部分。获取部22对于异物透射图像PF1整体减去上述的成为最频值的亮度，获取图6A所示的使异物F以外的部分的亮度为0的异物区域图像PF2。即，异物区域图像PF2是以亮度为0的部分(用黑色示出的部分)为背景的、与异物F对应的区域显示得比周围亮的图像。获取部22生成如图6B所示使异物区域图像PF2的与异物F对应的区域膨胀而得的虚拟异物图像PF3。

获取部22通过使虚拟异物图像PF3与上述的合格品透射图像PA1合成而生成合成透射图像P13。此时，获取部22获取第一变化量和第二变化量，第一变化量表示在异物透射图像PF1中与异物F对应的部分(区域)相对于与背景对应的部分(区域)的亮度的变化，第二变化量表示在通过使X射线透射含有异物F的物品A得到的透射图像P11中，与异物对应F的部分相对于与物品A对应的部分的亮度的变化。获取部22根据上述的第一变化量和第二变化量校正构成合成透射图像P13的各个像素的亮度。

更具体地，根据利用下面的计算式计算出的合成图像的亮度，校正构成合成透射图像P13的各个像素的亮度。

需要说明的是，调整系数表示合成时的权重。

在本实施方式的X射线检查装置1中，通过这种获取部22对合成图像的校正，能够获取更接近现实的合成透射图像P13。此外，在图4中以在X射线的透射量越小时显示得越暗的合成透射图像P13为例进行说明，但不限于此，明暗也可以颠倒。另外，对于透射图像P11也一样，明暗也可以颠倒。

下面，对评价各图像处理算法的功能进行说明。图像处理部23生成通过评价部24实施图像处理算法的评价的评价图像P3。具体地，图像处理部23对于存储部21中存储的多种图像处理算法分别进行如下的处理，即，对通过获取部22所获取的基准透射图像P1，使用存储部21中存储的图像处理算法实施图像处理并生成评价图像P3。即，如图4所示，图像处理部23生成多个评价图像P31、P32、…、P3n，该多个评价图像P31、P32、…、P3n是利用多种图像处理算法分别对基准透射图像P1(透射图像P11或者合成透射图像P13)进行图像处理而得到的。

此外，图像处理部23可以针对存储部21中存储的所有(例如200种以上)图像处理算法生成上述评价图像P3，例如还可以针对使用各种选择方法自动选择出来的一部分(例如约5～10种)图像处理算法生成评价图像P3。

评价部24根据通过图像处理部23所生成的评价图像P3，评价各种图像处理算法对异物的检测精度。评价部24根据按照评价图像P3的与异物F对应的部分的平均亮度、与异物F对应的部分的最小亮度、以及与异物F以外的物品A对应的部分的最大亮度计算出的得分(Score)，评价异物F的检测精度。

具体地，评价部24根据按照计算式计算出的得分来评价检测精度，该计算式被设定为在评价图像P3的与异物F对应的部分(像素)越亮且与异物F以外的物品A对应的部分(像素)越暗时，使得分越高。更具体地，评价部24根据通过下面的计算式(1)得到的得分来评价异物的检测精度。在本实施方式中，评价部24将生成最大得分(Score)的评价图像P3的图像处理算法判定为最佳算法。

AveMinRate：等级均匀度(这里为0～1.00)

需要说明的是，在异物F部分的平均亮度为0的情况下，AveMinRate＝0。

AveSub：平均等级差(这里为0～100)

平均等级差＝(异物F部分的平均亮度)-(异物F部分以外的最大亮度)

MinSub：最小等级差(这里为0～100)

最小等级差＝((异物F部分的最小亮度)-(异物F部分以外的最大亮度))×2

AveRate：平均对比度(这里为0～100)

MinRate：最小对比度(这里为0～100)

根据上述的计算式(1)，能够如下所示准确评价图像处理算法，下面对这一情况进行说明。首先，获取在4处含有异物F的样品的透射图像P11(参照图7A)作为基准透射图像P1，对该基准透射图像P1分别实施第一图像处理算法和与第一图像处理算法不同的第二图像处理算法，生成评价图像P31和评价图像P32。可知，评价图像P31是通过基于图像处理算法的图像处理良好地检测出异物F的图像，评价图像P32是通过基于图像处理算法的图像处理不能适当地检测出异物F的图像。

在根据上述的计算式(1)对这样的评价图像P31及评价图像P32分别计算得分时，得到下面所示的表1的结果。即，可知根据上述的计算式(1)，良好地检测出异物F的图像的得分大于不能适当地检测出异物F的图像的得分。

(表1)

设定部25将存储部21中存储的多种图像处理算法中通过评价部24所选择的一种图像处理算法设定(确定)为在检查中使用的图像处理算法。本实施方式的设定部25将通过评价部24计算出的得分的分数最高的图像处理算法设定为在检查中使用的图像处理算法。设定部25对多种(例如200～300种)的物品A分别按照多个敏感度等级(感度レベル)设定通过评价部24评价为最佳的图像处理算法。

接下来，对在如上所述构成的X射线检查装置1中对物品A进行按照异物F的种类、敏感度等级设定最佳的图像处理算法的步骤(初始设定)的步骤进行说明。并且，在此对使用合成透射图像P13作为基准透射图像P1的步骤进行说明。

操作者在作为初始设定画面的敏感度自动设定菜单画面中，例如设定想要按照敏感度等级4～7提取的异物F的种类。接下来，操作者在通过敏感度自动设定决定了X射线的输出等级及图像强调等级的设定后，使能够含有异物F的、(实际)不含异物F的合格品的物品A在输送部5通过，获取合格品透射图像PA1。操作者反复进行该作业，以获取10个合格品透射图像PA1。

接下来，操作者对合格品透射图像PA1选择与在敏感度等级4时想要提取的异物F对应的虚拟异物图像PF3。X射线检查装置1将通过操作者所选择的虚拟异物图像PF3与10个合格品透射图像PA1分别合成，生成10个合成透射图像P13。当在X射线检查装置1中生成了10个合成透射图像P13时，自动地或者通过操作者的操作，对10个合成透射图像P13开始基于多种图像处理算法的图像处理。图像处理算法如上所述被存储在存储部21(包括外部存储介质)中。

当在X射线检查装置1中生成了利用多种图像处理算法实施处理而得的各个评价图像P3时，对各个评价图像P3计算用于评价异物的检测精度的得分。X射线检查装置1选出得分最高的图像处理算法，并自动设定为在检查中使用的图像处理算法。在此，对于某一物品A，设定对某种异物F的敏感度等级4而言最佳的图像处理算法。操作者对于敏感度等级5～7也反复进行相同的步骤。

当在进行了这种初始设定的X射线检查装置1中进行物品A的检查时，操作者只要至少选择了物品A的种类，便可使用从多种图像处理算法中预先选择的图像处理算法进行透射图像P11的图像处理，并执行物品A的检查。

如以上说明的那样，本实施方式所涉及的X射线检查装置1中，根据利用存储部21中存储的多种图像处理算法对基准透射图像P1分别进行处理得到的评价图像P3，评价各种图像处理算法对异物F的检测精度，因而能够进行图像处理算法的客观评价。然后，从经客观评价的图像处理算法中自动设定当在检查中进行图像处理时预先选择的图像处理算法。其结果是，能够不需人工介入地从预先存储的多种图像处理算法中设定最佳的图像处理算法。

以上对本发明的一个方面所涉及的实施方式进行了说明，但本发明的一个方面不限于上述的实施方式，能够在不脱离其宗旨的范围内进行各种各样的变更。

在上述实施方式中，以由一个线传感器构成的X射线检测部7为例进行了说明，但也可以具有第一线传感器及第二线传感器这两个传感器。在这种情况下，也可以是所谓双能级传感器(デュアルエナジーセンサ)，即，第一线传感器检测低能段的X射线，第二线传感器检测比低能段高的能段的X射线。在这种情况下，对通过第一线传感器及第二线传感器的检测而生成的透射图像分别实施适当的图像处理算法。因此，即使是在初始设定时，也能对物品A按照异物F的种类、按照敏感度等级针对第一线传感器及第二线传感器设定各自的最佳的图像处理算法。

在上述实施方式中，说明了对物品A按照异物F的种类、按照敏感度等级设定一种最佳算法的例子，但也可以选择两种以上最佳算法，并设定为预先选择的图像处理算法。

在上述实施方式中，作为合成透射图像P13的生成方法的例子，说明了获取部22对通过使电磁波透射物品A得到的透射图像(合格品透射图像PA1)合成异物透射图像PF而生成的例子，但不限于此。例如，也可以进行这样的处理，根据按照电磁波的吸收特性等决定的规定的像素值，变更构成合格品透射图像PA1的像素的至少一部分的像素值。这样的处理还可以通过计算机程序来实现。

另外，在上述实施方式中，以检查装置是X射线检查装置1的方式为一例进行了说明。但是，本发明所涉及的检查装置不限于X射线检查装置1，只要是利用电磁波进行物品A的异物检查的装置即可。其中，电磁波是指X射线、近红外线、光等其他电磁波。另外，物品A的种类没有特别限定，能够将各种各样的物品A作为检查对象。同样地，异物的种类没有特别限定，能够将各种各样的异物作为检查对象。

Claims (6)

1.一种检查装置，针对通过使电磁波透射物品得到的透射图像，使用从多种图像处理算法中预先选择的图像处理算法进行图像处理，根据所述图像处理的结果来检查所述物品中是否包含异物，其特征在于，

所述检查装置具有：

存储部，存储多种所述图像处理算法；

获取部，获取通过使电磁波透射附有异物的所述物品得到的透射图像或者合成透射图像作为基准透射图像，所述合成透射图像是通过对使电磁波透射所述物品得到的透射图像虚拟地合成所述异物而生成的；

评价部，根据利用所述存储部中存储的多种所述图像处理算法分别对所述基准透射图像进行处理得到的评价图像，评价各种所述图像处理算法对所述异物的检测精度；以及

设定部，根据所述评价部的评价将所述图像处理算法中至少一种图像处理算法设定为所述预先选择的图像处理算法。

2.根据权利要求1所述的检查装置，其特征在于，

所述合成透射图像是通过对使电磁波透射所述物品得到的透射图像的至少一部分合成通过使电磁波透射所述异物得到的透射图像而生成的。

3.根据权利要求1或2所述的检查装置，其特征在于，

所述评价部根据得分来评价所述检测精度，所述得分是根据所述评价图像的与所述异物对应的部分的平均亮度、所述评价图像的与所述异物对应的部分的最小亮度、以及所述评价图像的与所述异物以外的所述物品对应的部分的最大亮度计算出的。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的检查装置，其特征在于，

在通过所述图像处理算法对所述基准透射图像进行处理后，得到在所述电磁波的透射量越大时显示得越暗且在所述透射量越小时显示得越亮的评价图像的情况下，

所述评价部根据按照计算式计算出的得分来评价所述检测精度，所述计算式被设定为在所述评价图像的与所述异物对应的部分越亮且与所述异物以外的所述物品对应的部分越暗时，使所述得分越高。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的检查装置，其特征在于，

所述获取部根据通过使电磁波透射以放置于传送带的状态被输送的所述异物而获取的透射图像来生成异物透射图像，所述异物透射图像在电磁波的透射量越大时显示得越暗且在所述透射量越小时显示得越亮，并且所述异物透射图像是通过从所述透射图像中切取与所述异物对应的部分和与所述异物的周围的背景对应的部分而得到的，通过从构成所述异物透射图像的各个像素的亮度减去作为所述异物透射图像中的亮度的最频值的亮度，生成使与所述背景对应的部分的亮度为0的虚拟异物图像，将所述虚拟异物图像合成在通过使电磁波透射所述物品得到的透射图像上，由此生成所述合成透射图像。

6.根据权利要求5所述的检查装置，其特征在于，

所述获取部获取：

第一变化量，表示所述异物透射图像中与所述异物对应的部分相对于与所述背景对应的部分的亮度的变化；以及

第二变化量，表示在通过使电磁波透射含有所述异物的所述物品得到的透射图像中，与所述异物对应的部分相对于与所述物品对应的部分的亮度的变化，

所述获取部根据所述第一变化量和所述第二变化量来校正构成所述合成透射图像的各个像素的亮度。

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