CN112130806B - 相位升采样方法及装置、计算机可读存储介质 - Google Patents

相位升采样方法及装置、计算机可读存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN112130806B
CN112130806B CN202011021933.0A CN202011021933A CN112130806B CN 112130806 B CN112130806 B CN 112130806B CN 202011021933 A CN202011021933 A CN 202011021933A CN 112130806 B CN112130806 B CN 112130806B
Authority
CN
China
Prior art keywords
polynomial
sampling point
phase
value
determining
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202011021933.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112130806A (zh
Inventor
栾亦夫
李开
罗丽云
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RDA Microelectronics Beijing Co Ltd
Original Assignee
RDA Microelectronics Beijing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RDA Microelectronics Beijing Co Ltd filed Critical RDA Microelectronics Beijing Co Ltd
Priority to CN202011021933.0A priority Critical patent/CN112130806B/zh
Publication of CN112130806A publication Critical patent/CN112130806A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112130806B publication Critical patent/CN112130806B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F7/00—Methods or arrangements for processing data by operating upon the order or content of the data handled
    • G06F7/38—Methods or arrangements for performing computations using exclusively denominational number representation, e.g. using binary, ternary, decimal representation
    • G06F7/48—Methods or arrangements for performing computations using exclusively denominational number representation, e.g. using binary, ternary, decimal representation using non-contact-making devices, e.g. tube, solid state device; using unspecified devices
    • G06F7/544—Methods or arrangements for performing computations using exclusively denominational number representation, e.g. using binary, ternary, decimal representation using non-contact-making devices, e.g. tube, solid state device; using unspecified devices for evaluating functions by calculation
    • G06F7/5443—Sum of products
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F7/00—Methods or arrangements for processing data by operating upon the order or content of the data handled
    • G06F7/38—Methods or arrangements for performing computations using exclusively denominational number representation, e.g. using binary, ternary, decimal representation
    • G06F7/48—Methods or arrangements for performing computations using exclusively denominational number representation, e.g. using binary, ternary, decimal representation using non-contact-making devices, e.g. tube, solid state device; using unspecified devices
    • G06F7/57—Arithmetic logic units [ALU], i.e. arrangements or devices for performing two or more of the operations covered by groups G06F7/483 – G06F7/556 or for performing logical operations
    • G06F7/575—Basic arithmetic logic units, i.e. devices selectable to perform either addition, subtraction or one of several logical operations, using, at least partially, the same circuitry

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computational Mathematics (AREA)
  • Mathematical Analysis (AREA)
  • Mathematical Optimization (AREA)
  • Pure & Applied Mathematics (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Complex Calculations (AREA)

Abstract

一种相位升采样方法及装置、计算机可读存储介质，所述方法包括：计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式，采用所述第一多项式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值。上述方案能够降低对相位信号进行升采样时存在的信号失真，减少发射功率谱带外杂散，提升发射信号质量。

Description

相位升采样方法及装置、计算机可读存储介质
技术领域
本发明涉及无线通信技术领域，尤其涉及一种相位升采样方法及装置、计算机可读存储介质。
背景技术
极性(Polar)发射系统在将复信号转换为幅度信号和相位信号之后，由于相位信号的非带限特性，使用常规升采样和线性插值方法对相位信号进行处理时，会导致信号失真，发射功率谱恶化。
发明内容
本发明实施例解决的是对相位信号进行升采样时存在信号失真较大的技术问题。
为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种相位升采样方法，包括：计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式，采用所述第一多项式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值。
可选的，所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定所述第一多项式系数。
可选的，所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定所述第一多项式系数。
可选的，所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点被划分为第一子集与第二子集，且所述第一子集与所述第二子集无交集，所述第一子集与所述前一采样点相邻，所述第二子集与所述当前采样点相邻；所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值；根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定第一子多项式系数；获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定第二子多项式系数。
可选的，所述根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式，采用所述第一多项式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值，包括：根据所述第一子多项式系数与所述第一多项式模型，构建第一子多项式；根据所述第二子多项式系数与所述第一多项式模型，构建第二子多项式；采用所述第一子多项式计算所述第一子集中各升采样点的相位值，采用所述第二子多项式计算所述第二子集中各升采样点的相位值。
可选的，所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点被划分为第一子集、第二子集与第三子集，且所述第一子集、所述第二子集、所述第三子集两两之间无交集，所述第一子集与所述前一采样点相邻，所述第二子集与所述当前采样点相邻，所述第三子集位于所述第一子集与所述第二子集之间；所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定第一子多项式系数；获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值；根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定第二子多项式系数。
可选的，所述根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式，采用所述第一多项式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值，包括：根据所述第一子多项式系数与所述第一多项式模型，构建第一子多项式；根据所述第二子多项式系数与所述第一多项式模型，构建第二子多项式；采用所述第一子多项式计算所述第一子集中各升采样点的相位值，采用所述第二子多项式计算所述第二子集中各升采样点的相位值；计算所述前一采样点的相位值与第一加权系数之积得到第一乘积，计算所述当前采样点的相位值与第二加权系数之积得到第二乘积，计算所述第一乘积与所述第二乘积之后，作为所述第三子集中各升采样点的相位值。
可选的，在确定所述第一差值大于所述第一门限值之后，还包括：计算所述前一采样点的相位值与第二采样点的相位值之间的第二差值，所述第二采样点为所述前一采样点之前的采样点；当所述第二差值大于预设第二门限值时，确定第二多项式模型及第二多项式系数；所述第二门限值大于所述第一门限值；根据所述第二多项式模型及所述第二多项式系数构建第二多项式，采用所述第二多项式计算所述前一采样点与所述第二采样点之间的升采样点的相位值。
可选的，所述当所述第二差值大于预设第二门限值时，确定第二多项式模型及第二多项式系数，包括：当所述第二差值大于所述第二门限值时，根据所述第二门限值确定所述第二多项式模型；获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，n与所述第二多项式模型的项数相关；根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定所述第二多项式系数。
可选的，在确定所述第一差值大于所述第一门限值之后，还包括：计算所述当前采样点的相位值与第三采样点的相位值之间的第三差值，所述第三采样点为所述当前采样点之后的采样点；当所述第三差值大于预设第三门限时，确定第三多项式模型及第三多项式系数；所述第三门限值大于所述第一门限值；根据所述第三多项式模型与所述第三多项式系数构建第三多项式，采用所述第三多项式计算所述当前采样点与所述第三采样点之间的升采样点的相位值。
可选的，所述当所述第三差值大于预设第三门限时，确定第三多项式模型及第三多项式系数，包括：当所述第三差值大于所述第三门限值时，根据所述第三门限值确定所述第三多项式模型；获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，n与所述第三多项式模型的项数相关；根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定所述第三多项式系数。
为解决上述技术问题，本发明实施例还提供了一种相位升采样装置，包括：第一计算单元，用于计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；确定单元，用于当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；构建单元，用于根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式；第二计算单元，用于采用所述第一多项式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值。
本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质为非易失性存储介质或非瞬态存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行上述所述的任一种相位升采样方法的步骤。
本发明实施例还提供了另一种相位升采样装置，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器运行所述计算机程序时执行上述所述的任一种相位升采样方法的步骤。
与现有技术相比，本发明实施例的技术方案具有以下有益效果：
在当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，构建第一多项式。根据第一多项式，采用多项式插值的方式计算当前采样点与前一采样点之间的升采样点的相位值，可以降低信号失真，减少发射功率谱带外杂散，提升发射信号质量。
进一步，对当前采样点与前一采样点之间的升采样点进行划分，以不同的规则确定不同部分的升采样点对应的升采样规则，可以更进一步降低信号失真和发射功率谱带外杂散。
附图说明
图1是本发明实施例中的一种相位升采样方法的流程图；
图2是采用本发明实施例中提供的相位升采样方法得到的升采样效果图；
图3是采用本发明实施例中提供的相位升采样方法得到的信号发射功率谱示意图；
图4是采用现有线性插值方法进行相位升采样得到的信号发射功率谱示意图；
图5是采用现有的CIC滤波升采样方法得到的信号发射功率谱示意图；
图6是本发明实施例中的一种相位升采样装置的结构示意图；
图7是现有的一种极性发射系统的结构示意图。
具体实施方式
参照图7，给出了现有的一种应用两点调制技术的极性发射系统的结构示意图。
如图7所示，发射信号为复信号。复信号输入至CORDIC模块的同相分量输入端I以及正交分量输入端Q，得到幅度信号AM以及相位信号PM。幅度信号AM经过AM升采样模块、AM数/模转换器(AM DAC)以及低通滤波器(LPF)，输入至功率放大器(PA)。相位信号PM经过PM升采样模块、相位平滑模块、微分运算模块(d/dt)得到调频信号FM。调频信号FM与载波信息分别输入至加法器，加法器将和值输入至sigma-delta调制器(SDM)，SDM将结果输入至锁相环(PLL)，经由锁相环(PLL)输出至PA。
然而，极性(Polar)发射系统在将复信号转换为幅度信号和相位信号之后，由于相位信号的非带限特性，使用常规升采样和线性插值方法对相位信号进行处理时，会导致信号失真，发射功率谱恶化。
在本发明实施例中，在当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，构建第一多项式。根据第一多项式，采用多项式插值的方式计算当前采样点与前一采样点之间的升采样点的相位值，可以降低信号失真，减少发射功率谱带外杂散。
为使本发明的上述目的、特征和有益效果能够更为明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。
本发明实施例提供了一种相位升采样方法，参照图1，以下通过具体步骤进行详细说明。
步骤S101，计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值。
在具体实施中，可以分别获取当前采样点的相位值phase[n]与前一采样点的相位值phase[n-1]，并计算二者之间的差值。本发明实施例中所述的前一采样点为：在时序上早于当前采样点且与当前采样点最近的采样点。
在本发明实施例中，第一差值为|phase[n]-phase[n-1]|，也即第一差值为phase[n]与phase[n-1]之差的绝对值，表征phase[n-1]与phase[n]的变化幅度。
在实际应用中可知，可以根据相位信号的初始采样频率来分别确定当前采样点以及前一采样点，进而获取当前采样点的相位值与前一采样点的相位值。
在本发明实施例中，当第一差值小于预设的第一门限值时，可以确定当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的差值较小，因此，可以采用已有的线性插值方式计算当前采样点与前一采样点之间的升采样点的相位值。
在具体实施中，可以根据计算复杂度以及对升采样失真的要求，来确定第一门限值。当对升采样失真的要求较低时，可以选取较大的第一门限值，此时，进行相位升采样的计算复杂度也相应较低；当对升采样失真的要求较高时，可以选取较小的第一门限值，此时，进行相位升采样的计算复杂度也相应升高。
因此，在具体应用中，可以在计算复杂度与升采样失真程度之间进行均衡，来选择合适的第一门限值。此外，在选择第一门限值时，还可以考虑信号特性，不同的信号特性可以对应不同的第一门限值。
在本发明实施例中，当第一差值大于预设的第一门限值时，可以确定当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的差值较大，可以采用如下步骤S102～步骤S103，计算当前采样点与前一采样点之间的升采样点的相位值。
步骤S102，当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数。
在具体实施中，当检测到第一差值大于预设的第一门限值时，可以确定第一多项式模型以及第一多项式系数。
在本发明实施例中，当检测到第一差值大于第一门限值时，可以根据信号特性选择相应的第一多项式模型，并确定对应的第一多项式系数。
在具体应用中，针对不同的第一差值，设置的第一多项式模型可以相同，也可以不同。多项式模型可以表征多项式所包含的变量及变量对应的幂次方。例如，第一差值在某一范围内时，设定第一多项式模型为某一系数与x4的乘积与另一系数与x的乘积之和。当第一差值在另一范围内时，设定第一多项式模型为某一系数与x2的乘积与一常数之和。
步骤S103，根据所述第一多项式模型与所述第一多项式系数构建第一多项式，采用所述第一多项式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值。
在具体实施中，在确定了第一多项式模型以及第一多项式系数之后，可以根据第一多项式模型与第一多项式系数构建第一多项式。采用第一多项式，以多项式插值的方式计算当前采样点与前一采样点之间的升采样点的相位值。
例如，构建的第一多项式为：f(x)＝a×x4+b×x2+c。
下面对上述步骤S102～S103进行详细说明。
在本发明一实施例中，在确定了第一多项式模型之后，可以获取当前采样点之后的n个采样点的相位值，n与第一多项式模型的项数相关；根据获取到的n个采样点的相位值，计算得到第一多项式系数。
例如，第一多项式模型的项数为4项，包括一个常数项，因此，第一多项式模型中存在3个变量项。获取当前采样点之后的3个采样点的相位值，能够计算得到3个变量项对应的系数，3个变量项对应的系数也即第一多项式系数。
可以理解的是，如上述示例，也可以获取当前采样点之后的更多个采样点的相位值，来计算3个变量项对应的系数。
在具体实施中，上述的当前采样点之后的n个采样点，可以为与当前采样点相邻的、且在当前采样点之后的n个采样点。例如，当前采样点为采样点m，n＝3，则当前采样点之后的3个采样点依次为采样点m+1、采样点m+2以及采样点m+3。
在本发明另一实施例中，在确定了第一多项式模型后，可以获取前一采样点之前的n个采样点的相位值，n与第一多项式模型的项数相关；根据获取到的n个采样点的相位值，计算得到第一多项式系数。
例如，第一多项式模型的项数为4项，包括一个常数项，因此，第一多项式模型中存在3个变量项。获取前一采样点之前的3个采样点的相位值，能够计算得到3个变量项对应的系数，3个变量项对应的系数也即第一多项式系数。
可以理解的是，如上述示例，也可以获取前一采样点之前的更多个采样点的相位值，来计算3个变量项对应的系数。
在具体实施中，上述的前一采样点之前的n个采样点，可以为与前一采样点相邻的、且在前一采样点之前的n个采样点。例如，前一采样点为采样点m-1，n＝3，则前一采样点之前的3个采样点依次为采样点m-2、采样点m-3以及采样点m-4。
在本发明一实施例中，当前采样点与前一采样点之间的升采样点可以被划分为第一子集与第二子集，且第一子集与第二子集无交集，第一子集中的升采样点与前一采样点相近，第二子集中的升采样点与当前采样点相近。第一子集与第二子集的划分可以根据具体的应用场景设定。
例如，在时序上，当前采样点与前一采样点之间的升采样点依次为：升采样点a1、a2、a3、a4，第一子集中的元素为升采样点a1、a2，第二子集中的元素为升采样点a3、a4。
在确定了第一多项式模型之后，获取前一采样点之前的n个采样点的相位值，根据前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定第一子多项式系数；获取当前采样点之后的n个采样点的相位值，根据当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定第二子多项式系数。
也就是说，在将当前采样点与前一采样点之间的升采样点划分为两个子集之后，所确定的第一多项式系数包括两组：第一子多项式系数以及第二子多项式系数。
在获取到第一多项式系数之后，可以构建第一多项式。由于第一多项式系数包括两组，因此，构建的第一多项式可以包括第一子多项式以及第二子多项式，第一子多项式根据第一子多项式系数与第一子多项式模型构建得到，第二子多项式根据第二子多项式系数与第二子多项式模型构建得到。
在采用第一多项式计算当前采样点与前一采样点之间的升采样的相位值时，可以采用第一子多项式，以多项式插值的方式计算第一子集中各升采样点的相位值；相应地，采用第二子多项式，以多项式插值的方式计算第二子集中各升采样点的相位值。
如上述实施例中所述示例，n与第一多项式模型的项数相关。例如，第一多项式模型的项数为4项，包括一个常数项，因此，第一多项式模型中存在3个变量项。因此，需要获取至少3个前一采样点之前的采样点的相位值，确定第一子多项式系数。相应地，需要获取至少3个当前采样点之后的采样点的相位值，确定第二子多项式系数。
上述的前一采样点之前的n个采样点，可以为与前一采样点相邻的、且在前一采样点之前的n个采样点。上述的当前采样点之后的n个采样点，可以为与当前采样点相邻的、且在当前采样点之后的n个采样点。
在本发明一实施例中，当前采样点与前一采样点之间的升采样点被划分为第一子集、第二子集与第三子集，且第一子集、第二子集、第三子集两两之间无交集，第一子集中的升采样点与前一采样点相邻，第二子集中的升采样点与当前采样点相邻，第三子集中的升采样点位于第一子集中的升采样点与第二子集中的升采样点之间。
例如，在时序上，当前采样点与前一采样点之间的升采样点包括升采样点a1、a2、a3、a4、a5以及a6，第一子集中的元素为升采样点a1、a2，第三子集中的元素为升采样点a3、a4，第二子集中的元素为升采样点a5、a6。
获取前一采样点之前的n个采样点的相位值，根据前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定第一子多项式系数；获取当前采样点之后的n个采样点的相位值，根据当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定第二子多项式系数。
对于第三子集中各升采样点的相位值，可以计算前一采样点的相位值与第一加权系数之积得到第一乘积，计算当前采样点的相位值与第二加权系数之积得到第二乘积，计算第一乘积与第二乘积之和，作为第三子集中各升采样点的相位值。
第三子集中的各升采样点对应的第一加权系数可以相等，也可以不相等；第三子集中的各升采样点对应的第二加权系数可以相等，也可以不相等。第三子集中的各升采样点对应的第一加权系数、第二加权系数可以根据经验值确定。
例如，第三子集中的元素为升采样点a3、a4，升采样点a3对应的第一加权系数为3/5，对应的第二加权系数为2/5；升采样点a4对应的第一加权系数为2/5，对应的第二加权系数为3/5。
在具体实施中，在确定当前采样点的相位值phase[n]与前一采样点的相位值phase[n-1]之差大于第一门限值之后，还可以计算前一采样点的相位值与第二采样点的相位值之间的第二差值，第二采样点在时序上早于前一采样点。
在本发明实施例中，设定第二采样点的相位值为phase[N]，则第二差值为|phase[n-1]-phase[N]|，也即第二差值为phase[N]与phase[n-1]之差的绝对值，表征phase[n-1]与phase[N]的变化幅度。
需要说明的是，本发明实施例中所述的前一采样点，若无特殊说明，均为当前采样点之前且与当前采样点相邻的采样点。
当第二差值大于预设第二门限值时，可以确定第二多项式模型以及第二多项式系数，第二门限值大于第一门限值；当第二差值小于第二门限值时，可以采用现有的线性插值方式计算前一采样点与第二采样点之间的升采样点的相位值。
在确定了第二多项式模型与第二多项式系数之后，即可构建第二多项式。根据所构建的第二多项式，采用多项式插值的方式计算前一采样点与第二采样点之间的升采样点的相位值。
在具体实施中，可以采用前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定第二多项式系数，进而构建第二多项式。n与第二多项式模型的项数相关。n的数值的确定可以参照上述实施例中所示的n与第一多项式模型的项数之间的关系，此处不做赘述。
在本发明实施例中，第二采样点可以为在时序上早于前一采样点且与前一采样点最邻近的采样点。
例如，前一采样点为采样点m-1，则第二采样点为采样点m-2。
在具体实施中，可以根据计算复杂度以及对升采样失真的要求，来确定第二门限值。当对升采样失真的要求较低时，可以选取较大的第二门限值，此时，进行相位升采样的计算复杂度也相应较低；当对升采样失真的要求较高时，可以选取较小的第二门限值，此时，进行相位升采样的计算复杂度也相应升高。
因此，在具体应用中，可以在计算复杂度与升采样失真程度之间进行均衡，来选择合适的第二门限值。此外，在选择第二门限值时，还可以考虑信号特性，不同的信号特性可以对应不同的第二门限值。
采用上述求取第二多项式的方案，可以计算得到前一采样点与第二采样点之间的升采样点的相位值。
在具体实施中，在具体实施中，在确定当前采样点的相位值phase[n]与前一采样点的相位值phase[n-1]之差大于第一门限值之后，还可以计算当前采样点的相位值与第三采样点的相位值之间的第三差值，第三采样点在时序上晚于当前采样点。
当第三差值大于预设第三门限值时，可以确定第三多项式模型以及第三多项式系数，第三门限值大于第一门限值；当第三差值小于第三门限值时，可以采用现有的线性插值方式计算当前采样点与第三采样点之间的升采样点的相位值。
在本发明实施例中，设定第三采样点的相位值为phase[N’]，则第三差值为|phase[n]-phase[N’]|，也即第三差值为phase[N’]与phase[n]之差的绝对值，表征phase[n]与phase[N’]的变化幅度。
在确定了第三多项式模型与第三多项式系数之后，即可构建第三多项式。根据所构建的第三多项式，采用多项式插值的方式计算当前采样点与第三采样点之间的升采样点的相位值。
在具体实施中，可以采用当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定第三多项式系数，进而构建第三多项式。n与第三多项式模型的项数相关。n的数值的确定可以参照上述实施例中所示的n与第一多项式模型的项数之间的关系，此处不做赘述。
在本发明实施例中，第三采样点可以为在时序上晚于当前采样点且与当前采样点最邻近的采样点。
例如，当前采样点为采样点m，则第三采样点为采样点m+1。
在具体实施中，可以根据计算复杂度以及对升采样失真的要求，来确定第三门限值。当对升采样失真的要求较低时，可以选取较大的第三门限值，此时，进行相位升采样的计算复杂度也相应较低；当对升采样失真的要求较高时，可以选取较小的第三门限值，此时，进行相位升采样的计算复杂度也相应升高。
因此，在具体应用中，可以在计算复杂度与升采样失真程度之间进行均衡，来选择合适的第三门限值。此外，在选择第三门限值时，还可以考虑信号特性，不同的信号特性可以对应不同的第三门限值。
在本发明实施例中，以差分8级相移监控(8DPSK)信号为例，符号速率为1Mbps，成型滤波器采用平方根升余弦滚降滤波器，在采样率16MHz通过cordic模块将复信号转换为幅度与相位信号，对相位信号进行4倍升采样，升采样过程中使用的第一多项式、第二多项式以及第三多项式均为f(x)＝a×x4+b×x+c，升采样效果如图2所示。
由图2可知，在升采样点1～4、17～20采用线性插值方式进行升采样，在升采样点5～10、12～16采用多项式插值方式进行升采样，在升采样点11采用经验系数插值方式进行升采样。
参照图3，给出了采用本发明实施例中提供的相位升采样方法得到的信号发射功率谱示意图。参照图4，给出了现有线性插值方法进行相位升采样得到的信号发射功率谱示意图。参照图5，给出了采用现有的CIC(级联积分梳状)滤波升采样方法得到的信号发射功率谱示意图。
结合图3～图5可知，本发明实施例中提供的相位升采样方法得到的信号，在相位升采样过程中产生的失真更小，发射功率谱带外杂散更低。
在具体实施中，结合图7，本发明上述实施例中提供的相位升采样方法，主要应用于PM升采样模块中。
参照图6，给出了本发明实施例中的一种相位升采样装置60，包括：第一计算单元601、确定单元602、构建单元603以及第二计算单元604，其中：
第一计算单元601，用于计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；
确定单元602，用于当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；
构建单元603，用于根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式；
第二计算单元604，用于采用所述第一多项式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值。
在具体实施中，上述各单元的具体工作流程及原理可以参照上述实施例中所述的相位升采样方法，本发明实施例不做赘述。
本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质为非易失性存储介质或非瞬态存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行上述任一实施例所述的相位升采样方法的步骤。
本发明实施例还提供了另一种相位升采样装置，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器运行所述计算机程序时执行上述任一实施例所述的相位升采样方法的步骤。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指示相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质可以包括：ROM、RAM、磁盘或光盘等。
虽然本发明披露如上，但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。

Claims (28)

1.一种相位升采样方法，其特征在于，包括：
计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；
当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；所述第一多项式模型表征第一多项式所包含的变量及变量对应的幂次方；
根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式，根据所述第一多项式，采用多项式插值的方式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值；
所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定所述第一多项式系数。
2.如权利要求1所述的相位升采样方法，其特征在于，在确定所述第一差值大于所述第一门限值之后，还包括：
计算所述前一采样点的相位值与第二采样点的相位值之间的第二差值，所述第二采样点为所述前一采样点之前的采样点；
当所述第二差值大于预设第二门限值时，确定第二多项式模型及第二多项式系数；所述第二门限值大于所述第一门限值；
根据所述第二多项式模型及所述第二多项式系数构建第二多项式，采用所述第二多项式计算所述前一采样点与所述第二采样点之间的升采样点的相位值。
3.如权利要求2所述的相位升采样方法，其特征在于，所述当所述第二差值大于预设第二门限值时，确定第二多项式模型及第二多项式系数，包括：
当所述第二差值大于所述第二门限值时，根据所述第二门限值确定所述第二多项式模型；
获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，n与所述第二多项式模型的项数相关；
根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定所述第二多项式系数。
4.如权利要求1所述的相位升采样方法，其特征在于，在确定所述第一差值大于所述第一门限值之后，还包括：
计算所述当前采样点的相位值与第三采样点的相位值之间的第三差值，所述第三采样点为所述当前采样点之后的采样点；
当所述第三差值大于预设第三门限时，确定第三多项式模型及第三多项式系数；所述第三门限值大于所述第一门限值；
根据所述第三多项式模型与所述第三多项式系数构建第三多项式，采用所述第三多项式计算所述当前采样点与所述第三采样点之间的升采样点的相位值。
5.如权利要求4所述的相位升采样方法，其特征在于，所述当所述第三差值大于预设第三门限时，确定第三多项式模型及第三多项式系数，包括：
当所述第三差值大于所述第三门限值时，根据所述第三门限值确定所述第三多项式模型；
获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，n与所述第三多项式模型的项数相关；
根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定所述第三多项式系数。
6.一种相位升采样方法，其特征在于，包括：
计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；
当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；所述第一多项式模型表征第一多项式所包含的变量及变量对应的幂次方；
根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式，根据所述第一多项式，采用多项式插值的方式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值；
所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定所述第一多项式系数。
7.如权利要求6所述的相位升采样方法，其特征在于，在确定所述第一差值大于所述第一门限值之后，还包括：
计算所述前一采样点的相位值与第二采样点的相位值之间的第二差值，所述第二采样点为所述前一采样点之前的采样点；
当所述第二差值大于预设第二门限值时，确定第二多项式模型及第二多项式系数；所述第二门限值大于所述第一门限值；
根据所述第二多项式模型及所述第二多项式系数构建第二多项式，采用所述第二多项式计算所述前一采样点与所述第二采样点之间的升采样点的相位值。
8.如权利要求7所述的相位升采样方法，其特征在于，所述当所述第二差值大于预设第二门限值时，确定第二多项式模型及第二多项式系数，包括：
当所述第二差值大于所述第二门限值时，根据所述第二门限值确定所述第二多项式模型；
获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，n与所述第二多项式模型的项数相关；
根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定所述第二多项式系数。
9.如权利要求6所述的相位升采样方法，其特征在于，在确定所述第一差值大于所述第一门限值之后，还包括：
计算所述当前采样点的相位值与第三采样点的相位值之间的第三差值，所述第三采样点为所述当前采样点之后的采样点；
当所述第三差值大于预设第三门限时，确定第三多项式模型及第三多项式系数；所述第三门限值大于所述第一门限值；
根据所述第三多项式模型与所述第三多项式系数构建第三多项式，采用所述第三多项式计算所述当前采样点与所述第三采样点之间的升采样点的相位值。
10.如权利要求9所述的相位升采样方法，其特征在于，所述当所述第三差值大于预设第三门限时，确定第三多项式模型及第三多项式系数，包括：
当所述第三差值大于所述第三门限值时，根据所述第三门限值确定所述第三多项式模型；
获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，n与所述第三多项式模型的项数相关；
根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定所述第三多项式系数。
11.一种相位升采样方法，其特征在于，包括：
计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；
当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；所述第一多项式模型表征第一多项式所包含的变量及变量对应的幂次方；
根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式，根据所述第一多项式，采用多项式插值的方式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值；
所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点被划分为第一子集与第二子集，且所述第一子集与所述第二子集无交集，所述第一子集与所述前一采样点相邻，所述第二子集与所述当前采样点相邻；所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值；根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定第一子多项式系数；获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定第二子多项式系数。
12.如权利要求11所述的相位升采样方法，其特征在于，所述根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式，采用所述第一多项式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值，包括：
根据所述第一子多项式系数与所述第一多项式模型，构建第一子多项式；
根据所述第二子多项式系数与所述第一多项式模型，构建第二子多项式；
采用所述第一子多项式计算所述第一子集中各升采样点的相位值，采用所述第二子多项式计算所述第二子集中各升采样点的相位值。
13.如权利要求11所述的相位升采样方法，其特征在于，在确定所述第一差值大于所述第一门限值之后，还包括：
计算所述前一采样点的相位值与第二采样点的相位值之间的第二差值，所述第二采样点为所述前一采样点之前的采样点；
当所述第二差值大于预设第二门限值时，确定第二多项式模型及第二多项式系数；所述第二门限值大于所述第一门限值；
根据所述第二多项式模型及所述第二多项式系数构建第二多项式，采用所述第二多项式计算所述前一采样点与所述第二采样点之间的升采样点的相位值。
14.如权利要求13所述的相位升采样方法，其特征在于，所述当所述第二差值大于预设第二门限值时，确定第二多项式模型及第二多项式系数，包括：当所述第二差值大于所述第二门限值时，根据所述第二门限值确定所述第二多项式模型；
获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，n与所述第二多项式模型的项数相关；
根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定所述第二多项式系数。
15.如权利要求11所述的相位升采样方法，其特征在于，在确定所述第一差值大于所述第一门限值之后，还包括：
计算所述当前采样点的相位值与第三采样点的相位值之间的第三差值，所述第三采样点为所述当前采样点之后的采样点；
当所述第三差值大于预设第三门限时，确定第三多项式模型及第三多项式系数；所述第三门限值大于所述第一门限值；
根据所述第三多项式模型与所述第三多项式系数构建第三多项式，采用所述第三多项式计算所述当前采样点与所述第三采样点之间的升采样点的相位值。
16.如权利要求15所述的相位升采样方法，其特征在于，所述当所述第三差值大于预设第三门限时，确定第三多项式模型及第三多项式系数，包括：
当所述第三差值大于所述第三门限值时，根据所述第三门限值确定所述第三多项式模型；
获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，n与所述第三多项式模型的项数相关；
根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定所述第三多项式系数。
17.一种相位升采样方法，其特征在于，包括：
计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；
当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；所述第一多项式模型表征第一多项式所包含的变量及变量对应的幂次方；
根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式，根据所述第一多项式，采用多项式插值的方式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值；
所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点被划分为第一子集、第二子集与第三子集，且所述第一子集、所述第二子集、所述第三子集两两之间无交集，所述第一子集与所述前一采样点相邻，所述第二子集与所述当前采样点相邻，所述第三子集位于所述第一子集与所述第二子集之间；所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定第一子多项式系数；获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值；根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定第二子多项式系数。
18.如权利要求17所述的相位升采样方法，其特征在于，所述根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式，采用所述第一多项式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值，包括：
根据所述第一子多项式系数与所述第一多项式模型，构建第一子多项式；
根据所述第二子多项式系数与所述第一多项式模型，构建第二子多项式；
采用所述第一子多项式计算所述第一子集中各升采样点的相位值，采用所述第二子多项式计算所述第二子集中各升采样点的相位值；
计算所述前一采样点的相位值与第一加权系数之积得到第一乘积，计算所述当前采样点的相位值与第二加权系数之积得到第二乘积，计算所述第一乘积与所述第二乘积之后，作为所述第三子集中各升采样点的相位值。
19.如权利要求17所述的相位升采样方法，其特征在于，在确定所述第一差值大于所述第一门限值之后，还包括：
计算所述前一采样点的相位值与第二采样点的相位值之间的第二差值，所述第二采样点为所述前一采样点之前的采样点；
当所述第二差值大于预设第二门限值时，确定第二多项式模型及第二多项式系数；所述第二门限值大于所述第一门限值；
根据所述第二多项式模型及所述第二多项式系数构建第二多项式，采用所述第二多项式计算所述前一采样点与所述第二采样点之间的升采样点的相位值。
20.如权利要求19所述的相位升采样方法，其特征在于，所述当所述第二差值大于预设第二门限值时，确定第二多项式模型及第二多项式系数，包括：当所述第二差值大于所述第二门限值时，根据所述第二门限值确定所述第二多项式模型；
获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，n与所述第二多项式模型的项数相关；
根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定所述第二多项式系数。
21.如权利要求17所述的相位升采样方法，其特征在于，在确定所述第一差值大于所述第一门限值之后，还包括：
计算所述当前采样点的相位值与第三采样点的相位值之间的第三差值，所述第三采样点为所述当前采样点之后的采样点；
当所述第三差值大于预设第三门限时，确定第三多项式模型及第三多项式系数；所述第三门限值大于所述第一门限值；
根据所述第三多项式模型与所述第三多项式系数构建第三多项式，采用所述第三多项式计算所述当前采样点与所述第三采样点之间的升采样点的相位值。
22.如权利要求21所述的相位升采样方法，其特征在于，所述当所述第三差值大于预设第三门限时，确定第三多项式模型及第三多项式系数，包括：
当所述第三差值大于所述第三门限值时，根据所述第三门限值确定所述第三多项式模型；
获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，n与所述第三多项式模型的项数相关；
根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定所述第三多项式系数。
23.一种相位升采样装置，其特征在于，包括：
第一计算单元，用于计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；
确定单元，用于当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；所述第一多项式模型表征第一多项式所包含的变量及变量对应的幂次方；
构建单元，用于根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式；
第二计算单元，用于根据所述第一多项式，采用多项式插值的方式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值；
所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定所述第一多项式系数。
24.一种相位升采样装置，其特征在于，包括：
第一计算单元，用于计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；
确定单元，用于当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；所述第一多项式模型表征第一多项式所包含的变量及变量对应的幂次方；
构建单元，用于根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式；
第二计算单元，用于根据所述第一多项式，采用多项式插值的方式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值；
所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定所述第一多项式系数。
25.一种相位升采样装置，其特征在于，包括：
第一计算单元，用于计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；
确定单元，用于当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；所述第一多项式模型表征第一多项式所包含的变量及变量对应的幂次方；
构建单元，用于根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式；
第二计算单元，用于根据所述第一多项式，采用多项式插值的方式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值；
所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点被划分为第一子集与第二子集，且所述第一子集与所述第二子集无交集，所述第一子集与所述前一采样点相邻，所述第二子集与所述当前采样点相邻；所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值；根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定第一子多项式系数；获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定第二子多项式系数。
26.一种相位升采样装置，其特征在于，包括：
第一计算单元，用于计算当前采样点的相位值与前一采样点的相位值之间的第一差值；
确定单元，用于当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数；所述第一多项式模型表征第一多项式所包含的变量及变量对应的幂次方；
构建单元，用于根据所述第一多项式模型及所述第一多项式系数构建第一多项式；
第二计算单元，用于根据所述第一多项式，采用多项式插值的方式计算所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点的相位值；
所述当前采样点与所述前一采样点之间的升采样点被划分为第一子集、第二子集与第三子集，且所述第一子集、所述第二子集、所述第三子集两两之间无交集，所述第一子集与所述前一采样点相邻，所述第二子集与所述当前采样点相邻，所述第三子集位于所述第一子集与所述第二子集之间；所述当所述第一差值大于预设第一门限值时，确定第一多项式模型及第一多项式系数，包括：当所述第一差值大于所述第一门限值时，根据所述第一门限值确定所述第一多项式模型；获取所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，n与所述第一多项式模型的项数相关；根据所述前一采样点之前的n个采样点的相位值，确定第一子多项式系数；获取所述当前采样点之后的n个采样点的相位值；根据所述当前采样点之后的n个采样点的相位值，确定第二子多项式系数。
27.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质为非易失性存储介质或非瞬态存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器运行时执行权利要求1～22任一项所述的相位升采样方法的步骤。
28.一种相位升采样装置，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器运行所述计算机程序时执行权利要求1～22任一项所述的相位升采样方法的步骤。
CN202011021933.0A 2020-09-25 2020-09-25 相位升采样方法及装置、计算机可读存储介质 Active CN112130806B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011021933.0A CN112130806B (zh) 2020-09-25 2020-09-25 相位升采样方法及装置、计算机可读存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011021933.0A CN112130806B (zh) 2020-09-25 2020-09-25 相位升采样方法及装置、计算机可读存储介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112130806A CN112130806A (zh) 2020-12-25
CN112130806B true CN112130806B (zh) 2023-10-24

Family

ID=73840072

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011021933.0A Active CN112130806B (zh) 2020-09-25 2020-09-25 相位升采样方法及装置、计算机可读存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112130806B (zh)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005061337B3 (de) * 2005-12-21 2007-10-31 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren und Vorrichtung zur Kompensation eines Frequenzoffsets und/oder einer Frequenzdrift in einem phasenverrauschten Signal
CN109444935A (zh) * 2018-10-17 2019-03-08 桂林电子科技大学 一种低采样率的多普勒周跳探测和修复方法
CN109889692A (zh) * 2019-02-21 2019-06-14 无锡中感微电子股份有限公司 一种电视信号重采样处理方法及装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005061337B3 (de) * 2005-12-21 2007-10-31 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Verfahren und Vorrichtung zur Kompensation eines Frequenzoffsets und/oder einer Frequenzdrift in einem phasenverrauschten Signal
CN109444935A (zh) * 2018-10-17 2019-03-08 桂林电子科技大学 一种低采样率的多普勒周跳探测和修复方法
CN109889692A (zh) * 2019-02-21 2019-06-14 无锡中感微电子股份有限公司 一种电视信号重采样处理方法及装置

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
基于多项式插值法估计小波系数的阈值;赵璐;《中国科技纵横》(第10期);36, 32 *
小波系数阈值估计的改进模型;赵瑞珍;《西北工业大学学报》;第19卷(第4期);625-628 *
应用于频率波动电网的改进相位差校正法;马也驰;陈隆道;;电力系统保护与控制(第09期);143-152 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN112130806A (zh) 2020-12-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10050659B2 (en) Systems and methods for non-linear digital self-interference cancellation
Raz et al. Baseband Volterra filters for implementing carrier based nonlinearities
US6717464B2 (en) Distortion compensating apparatus
JP2018514995A (ja) 実数ｍ値信号をエンコードするための方法、およびそれを使用したエンコーディング装置
JP6854915B2 (ja) 歪み軽減量子化器回路、歪み雑音を軽減する方法及びデジタル送信機
KR102024428B1 (ko) 디지털 인코더 및 인코딩 방법
CN107534633A (zh) 载波相位调制方法及装置以及检测多级相位编码数字信号的应用
CN110224967A (zh) 用于峰值均值功率比降低的方法和发射器
CN106506428B (zh) 降低ufmc系统papr的低计算复杂度的pts方法
CN104143967A (zh) 用于级联积分梳状抽取器的补偿滤波器的设计方法和系统
US9800272B2 (en) Circuits and methods for transmitting signals
CN102437838B (zh) 由功率放大器传输信号
CN104956635B (zh) 用于在无线通信系统中支持时间正交幅度调制的装置和方法
CN112130806B (zh) 相位升采样方法及装置、计算机可读存储介质
US8687734B1 (en) Non-causal orthogonal frequency division multiplexing tapered peak suppression
US10418974B2 (en) Apparatus for modifying a sampling rate system including an apparatus for modifying a sampling rate and method for modifying a sampling rate
JP4649777B2 (ja) デルタシグマ変調装置及び方法、並びにデジタル信号処理装置及び方法
CN111988046B (zh) 非线性系统校正方法、装置及电子设备
Chang et al. Design and analysis of single-bit ternary matched filter
CN112165440B (zh) 相位平滑处理方法及装置、计算机可读存储介质
US7450660B2 (en) Apparatus and method for digital modulation
WO2006103924A1 (ja) ピーク電力抑圧装置及びピーク電力抑圧方法
CN110753013A (zh) Usb遥测信号降采样率实现方法、装置与电子设备
US3510640A (en) Method and apparatus for interpolation and conversion of signals specified by real and complex zeros
CN114422318A (zh) 一种信号预失真的系统响应估计方法、装置及系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant