CN112086050A - 显示基板、其裂纹的检测方法及显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供了一种显示基板、其裂纹检测方法及显示装置。该显示基板包括位于边框区的裂纹检测电路和包绕显示区的检测线，裂纹检测电路与输入高电平信号的第一信号输入端和输入低电平信号的第二信号输入端电连接；当检测线断裂时裂纹检测电路使第二信号输入端输入的低电平信号将第一信号输入端输入的高电平信号拉低，从而使脉冲宽度调光模式下的显示基板出现多分屏不良；当检测线完整时裂纹检测电路使第一信号输入端维持高电平信号，使第二信号输入端维持低电平信号，从而使处于脉冲宽度调光模式下的显示基板进行正常显示。本实施例利用多分屏不良的原理对裂纹进行检测，能够快速、准确地检测出边框区的裂纹，无需单独设置经检测单元。

Description

显示基板、其裂纹的检测方法及显示装置

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体而言，本申请涉及一种显示基板、其裂纹的检测方法及显示装置。

背景技术

对于有机发光二极管(OLED)显示基板来说，尤其是柔性OLED显示基板来说，由于可弯折，使得面板边缘很容易产生裂纹(Crack)，目前常用的方法是采用PCD(PanelCrackDetection)走线来检测。但该检测需要输入独立的信号且预留独立的信号输入端口，且该信号输入端口在显示屏的正常显示过程中并无信号输入，因此，这不仅加了检测步骤，又占用了边框区的空间。

发明内容

本申请针对现有方式的缺点，提出一种显示基板、其裂纹的检测方法及显示装置，以解决现有技术中的裂纹检测需要输入独立的信号且预留独立的检测单元的技术问题。

第一个方面，本申请实施例提供了一种显示基板，包括显示区和位于所述显示区周围的边框区，所述显示基板包括位于所述边框区的裂纹检测电路以及与所述裂纹检测电路连接的检测线；所述检测线包绕所述显示区，所述裂纹检测电路分别与第一信号输入端和第二信号输入端电连接，所述第一信号输入端输入高电平信号，所述第二信号输入端输入低电平信号；当所述检测线断裂时所述检测电路使所述第二信号输入端输入的低电平信号将所述第一信号输入端输入的高电平信号拉低，从而使脉冲宽度调光模式下的显示基板出现多分屏不良；当所述检测线完整时所述裂纹检测电路使所述第一信号输入端维持高电平信号，使所述第二信号输入端维持低电平信号，从而使处于脉冲宽度调光模式下的显示基板进行正常显示。

可选地，所述裂纹检测电路包括第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管和所述第二晶体管的栅极电连接，所述第一晶体管的第一极与所述第一信号输入端电连接，所述第二晶体管的第二极与所述第二晶体管电连接，所述第一晶体管的第二极与所述第二晶体管的第一极电连接；所述检测线包括第一端和第二端，所述第一端与所述第一晶体管的栅极和所述第二晶体管的栅极电连接，所述第二端与所述第一晶体管的第二极电连接。

可选地，所述裂纹检测电路包括第三晶体管，所述第三晶体管的栅极与所述第一信号输入端电连接，所述第三晶体管的第二极与所述第二信号输入端电连接；所述检测线包括第一端和第二端，所述第一端与所述第三晶体管的栅极电连接，所述第二端与所述第三晶体管的第一极电连接。

可选地，所述裂纹检测电路的数量为两个，所述检测线的数量为两个，且所述检测线与所述裂纹检测电路一一对应，所述两个检测线对称地设置在边框区。

可选地，所述边框区设置有阴极线，所述检测线位于所述阴极线远离所述显示区的一侧。

可选地，所述显示基板包括：柔性衬底；位于所述柔性衬底一面上的缓冲层；有源层，位于所述缓冲层远离所述柔性衬底的一侧，包括位于所述边框区的第一有源岛，所述第一有源岛包括第一源极、第二漏极、位于所述第一源极和所述第二漏极之间的共用源漏极、位于所述第一源极和所述共用源漏极之间的第一沟道和位于所述第二漏极和所述共用源漏极区之的第二沟道，所述第一源极为所述第一晶体管的第一极，所述第二漏极为所述第二晶体管的第二极，所述共用源漏极为电连接的所述第一晶体管的第二极和所述第二晶体管的第一极，所述第一沟道为所述第一晶体管的沟道，所述第二沟道为所述第二晶体管的沟道；第一绝缘层，位于所述有源层远离所述缓冲层的一侧；第一金属层，位于所述第一绝缘层远离所述有源层的一侧，包括位于所述边框区的第一晶体管的栅极和第二晶体管的栅极；第二绝缘层，位于所述第一金属层远离所述第一绝缘层的一侧；第二金属层，位于所述第二绝缘层远离所述第一金属层的一侧，包括第一电极和第二电极，所述第一电极分别与所述第二晶体管的栅极和所述第一源极电连接，所述第二电极与所述第二漏极电连接。

可选地，所述显示基板包括：柔性衬底；位于所述柔性衬底一面上的缓冲层；有源层，位于所述缓冲层远离所述柔性衬底的一侧，包括位于所述边框区的第二有源岛，所述第二有源岛包括第三源极、第三漏极、位于所述第三源极和所述第三漏极之间的第三沟道，所述第三源极为所述第三晶体管的第一极，所述第三漏极为所述第三晶体管的第二极，所述第三沟道为所述第三晶体管的沟道；第一绝缘层，位于所述有源层远离所述缓冲层的一侧；第一金属层，位于所述第一绝缘层远离所述有源层的一侧，包括位于所述边框区的第三晶体管的栅极；第二绝缘层，位于所述第一金属层远离所述第一绝缘层的一侧；第二金属层，位于所述第二绝缘层远离所述第一金属层的一侧，包括第三电极和第四电极，所述第三电极分别与所述第三晶体管的栅极和所述第三源极电连接，所述第四电极与所述第三漏极电连接。

可选地，所述第一金属层还包括所述检测线和/或所述第二金属层还包括所述检测线。

第二个方面，本申请实施例提供了一种显示装置，所述显示装置包括上述的显示基板。

第三个方面，本申请实施例提供了一种显示基板裂纹的检测方法，包括：将显示基板调节至脉冲宽度调光模式；在第一信号输入端输入高电平信号，在第二信号输入端输入低电平信号，若显示基板正常显示则判定所述显示基板的边框区无裂纹，若显示基板出现多分屏不良则判定所述显示基板的边框区存在裂纹。

本申请实施例提供的技术方案带来的有益技术效果是：

本申请实施例提供的本申请实施例提供的显示基板、显示基板及其裂纹检测方法、显示装置，通过在边框区设置裂纹检测电路，利用多分屏产生的原理对裂纹进行检测，能够快速、准确、高效地检测出边框区的裂纹，并且将裂纹检测电路与VGH信号以及VGH信号的输入端连接，无需单独设置检测单元，同时，裂纹的检测可以和显示基板的Module程序测试同时进行，无需再单独对裂纹进行检测。

本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，这些将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为现有技术中显示基板出现四分屏不良时的一种显示画面的示意图；

图2为图1所示的四分屏不良显示画面所对应的脉冲宽度调制信号；

图3为本申请实施例提供的一种显示基板的俯视结构示意图；

图4为本申请实施例提供的另一种显示基板的俯视结构示意图显示基板；

图5为本申请实施例提供的一种显示基板的边框区的局部结构示意图；

图6为本申请实施例提供的又一种显示基板的局部俯视结构示意图；

图7为本申请实施例提供的一种裂纹检测电路的结构示意图；

图8为基于图7所示的裂纹检测电路的显示面板的膜层结构示意图；

图9为本申请实施例提供的另一种裂纹检测电路的结构示意图；

图10为基于图9所示的裂纹检测电路的显示面板的膜层结构示意图；

图11为本申请实施例提供的一种显示基板的制作方法的流程示意图；

图12为本申请实施例提供的一种显示基板的裂纹检测方法的流程示意图；

图13为本申请实施例提供的一种显示装置的框架结构示意图。

附图标记：

1-柔性衬底；2-缓冲层；3-有源层；301-第一有源岛；302-第二有源岛；4-第一绝缘层；5-第一金属层；501-第一晶体管的栅极；502-第二晶体管的栅极；503-第三晶体管的栅极；6-第二绝缘层；7-第二金属层；701-第一电极；702-第二电极；703-第三电极；704-第四电极；

10-显示区；20-边框区；

e-裂纹检测电路；T1-第一晶体管；T2-第二晶体管；T3-第三晶体管；L-检测线；

S1-第一源极；S2/D1-共用源漏极；D2-第二漏极；S3-第三源极；D3-第三漏极。

具体实施方式

下面详细描述本申请，本申请的实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的部件或具有相同或类似功能的部件。此外，如果已知技术的详细描述对于示出的本申请的特征是不必要的，则将其省略。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能解释为对本申请的限制。

本技术领域技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)，具有与本申请所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。

本技术领域技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本申请的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。

柔性OLED显示基板的边缘很容易产生裂纹，目前常用的PCD走线虽然能够检测出裂纹。该检测需要输入独立的信号且预留独立的检测单元，且该检测单元在显示屏的正常显示过程中并无信号输入，因此，这不仅增加了检测步骤，又占用了边框区的空间。

当显示基板的Module(模组)代码中的PWM(pulse width modulation，脉冲宽度调制)打开时，显示基板进入到Normal 2～4模式，即PWM调光模式，在该模式下，降低VGH的电压值，会引起显示区的像素驱动电路中的薄膜晶体管发生漏电，导致当发光信号(EM)处于发光阶段的高电位时，数据信号Vdata通过漏电的薄膜晶体管写入电路中，引起显示屏在固定位置的亮度降低而产生暗带，即出现多分屏不良。

具体地，如图1和图2所示，t1阶段为上电阶段，t2阶段为发光阶段，由于输入的是PWM信号，因此，发光阶段是由多个亮暗阶段组成的，如图2所示的PWM信号，会产生如图1所示的四分屏不良。由于PWM信号的不同，暗带产生的位置会有所不同，因此根据输入的PWM信号不同，会出现二分屏不良、三分屏不良以及四分屏不良等多分屏不良。

本申请的发明人根据多分屏不良发生的原理，提出一种新的用于检测显示面部裂纹的方案，不仅能够快速、准确、高效地检测出显示基板的裂纹，而且无需另设检测单元。以下结合附图对本方案进行详细说明。

本申请实施例提供了一种显示基板，如图3所示，该显示基板包括显示区10和位于显示区10周围的边框区20。本实施例提供的显示基板包括位于所述边框区20的裂纹检测电路e以及与裂纹检测电路e连接的检测线L；

检测线L包绕显示区10，裂纹检测电路e分别与第一信号输入端和第二信号输入端电连接，第一信号输入端输入高电平信号VGH，第二信号输入端输入低电平信号VGL；

当检测线L断裂时检测电路使第二信号输入端输入的低电平信号VGL将第一信号输入端输入的高电平信号VGH拉低，从而使脉冲宽度调光模式下的显示基板出现多分屏不良；当检测线L完整时裂纹检测电路e使第一信号输入端维持高电平信号VGH，使第二信号输入端维持低电平信号VGL，从而使处于脉冲宽度调光模式下的显示基板进行正常显示。

本实施例通过在边框区20设置裂纹检测电路e和检测线L利用多分屏产生的原理对裂纹进行检测，能够快速、准确、高效地检测出边框区20的裂纹，并且将裂纹检测电路e与高电平信号VGH以及低电平信号VGL的输入端连接，无需单独设置检测单元，同时，裂纹的检测可以和显示基板的Module程序测试同时进行，无需再单独对裂纹进行检测。

需要说明的是，边框区20还包括绑定区，第一信号输入端和第二信号输入端位于绑定区，能够更便于在裂纹检测时的信号输入。

可选地，如图4所示，本实施例提供的显示基板中，裂纹检测电路e的数量为两个，检测线L的数量为两个，且检测线L与裂纹检测电路e一一对应，两个检测线L对称地设置在边框区20。如此设置不仅能够判断是否产生裂纹，而且能够判断出裂纹出现的在边框区20的哪个半区。

可选地，如图5所示，本实施例提供的显示基板中，边框区20设置有阴极线，检测线L位于阴极线远离显示区10的一侧。具体地，边框区20还包括栅极驱动电路区域GOA、位于GOA远离显示区10一侧的发光信号驱动电路EOA，其中，阴极线位于EOA远离显示区10的一侧。

本实施例中，检测线L所处的位置基本是显示基板的最边缘位置，由于裂纹通常是由外向内延伸的，因此将检测线L设置在最边缘的位置能够对显示基板的整个边框区20的裂纹进行检测，避免对较为边缘处的裂纹漏检。

可选地，如图6所示，显示基板设置有至少一个缺口，检测线L包围所述缺口。本实施例的显示基板，能够有效检测出缺口处的裂纹。

需要说明的是，如图5和图6所示，裂纹检测电路e可以设置边框区20区的任何不影响显示基板原有器件布置的位置，例如，设置在缺口两侧的边框区20。

可选地，如图7所示，本实施例提供的显示基板中，裂纹检测电路e包括第三晶体管T3，第三晶体管T3第三晶体管T3的栅极503与第一信号输入端电连接，第三晶体管T3的第二极与第二信号输入端电连接；检测线L包括第一端和第二端，第一端与第三晶体管T3第三晶体管T3的栅极503电连接，第二端与第三晶体管T3的第一极电连接。

其中，第三晶体管T3为P型晶体管，第一极为源极，第二极为漏极。

当信号线完整时，第三晶体管T3的栅源电压差V_G3S3＝VGH-VGH＝0，此时，第三晶体管T3处于未导通状态，第一信号输入端的电压维持在VGH，第二信号输入端的电压维持在VGL，能够使显示基板进行正常显示。

当信号线完整时，第三晶体管T3的栅源电压差V_G3S3＝0-VGH＝-VGH，此时，第三晶体管T3处于导通状态，第一信号输入端的电压VGH被第二信号输入端的电压VGL拉低，使得处于PWM调光模式下的显示基板出现多分屏不良。

因此，能够利用多分屏不良出现的原理快速检测出显示基板的边框区20是否存在裂纹。

可选地，如图9所示，本实施例提供的显示基板中，裂纹检测电路e包括第一晶体管T1和第二晶体管T2，第一晶体管T1和第二晶体管T2第二晶体管T2的栅极502电连接，第一晶体管T1的第一极与第一信号输入端电连接，第二晶体管T2的第二极与第二晶体管T2电连接，第一晶体管T1的第二极与第二晶体管T2的第一极电连接；检测线L包括第一端和第二端，第一端与第一晶体管T1第一晶体管T1的栅极501和第二晶体管T2第二晶体管T2的栅极502电连接，第二端与第一晶体管T1的第二极电连接。

具体地，以第一晶体管T1、第二晶体管T2和驱动晶体管均为P型晶体管为例进行说明。

在进行裂纹检测时，第一信号输入端输入的是高电平信号VGH，第二信号输入端输入的是低电平信号VGL，若检测线L能够保持完整，此时，第一晶体管T1的栅源电压差为V_G1S1＝VGH-VGH＝0V，第一晶体管T1未导通，第二晶体管T2也处于未导通状态，第一信号输入端的电压维持在VGH，第二信号输入端的电压维持在VGL，能够使显示基板进行正常显示。

若显示基板的边框区20存在裂纹使得检测线L断裂，第一晶体管T1的栅极501电压可视为0V，此时第一晶体管T1和第二晶体管T2均导通，从而将第一信号输入端输入的高电平拉低，使得显示区10的驱动晶体管因高电平信号降低，会引起显示区10固定位置的暗区，即产生多分屏现象，以此能够判断显示基板的边框区20是否产生裂纹。

本实施例提供的显示基板中，裂纹检测电路e包括两个串联的晶体管，能够降低因裂纹检测电路e中的晶体管漏电而导致检测结果不准确的概率，提升裂纹检测的准确性。

需要说明的是，裂纹检测电路e中串联的晶体管的数量可以不仅是两个，还可以是更多个晶体管串联，只要不影响显示基板中其它器件的设计即可。

如图8和图10所示，本实施例提供的阵列显示基板包括柔性衬底1、位于柔性衬底1一面上的缓冲层2、位于缓冲层2远离柔性衬底1一侧的有源层3、位于有源层3远离缓冲层2一侧的第一绝缘层4、位于第一绝缘层4远离有源层3一侧的第一金属层5、位于第一金属层5远离第一绝缘层4一侧的第二绝缘层6、以及位于第二绝缘层6远离第一金属层5一侧的第二金属层7。

需要说明的是，本实施例提供的阵列基板还包括位于第二绝缘层6和第二金属层7之间的层间介质层、位于第二金属层7远离第二绝缘层6一侧的平坦化层、位于平坦化层远离第二金属层7一侧的阳极层等。

具体地，如图7和图8所示，当裂纹检测电路e包括第三晶体管T3时，本实施例提供的显示基板中，有源层3包括位于边框区20的第二有源岛302，第二有源岛302包括第三源极S3、第三漏极D3、位于第三源极S3和第三漏极D3之间的第三沟道ch3，第三源极S3为第三晶体管T3的第一极，第三漏极D3为第三晶体管T3的第二极，第三沟道ch3为第三晶体管T3的沟道；第一金属层5包括位于边框区20的第三晶体管T3第三晶体管T3的栅极503；第二金属层7包括第三电极703和第四电极704，第三电极703分别与第三晶体管T3第三晶体管T3的栅极503和第三源极S3电连接，第四电极704与第三漏极D3电连接。

具体地，如图9和图10所示，当裂纹检测电路e包括第一晶体管T1和第二晶体管T2时，本实施例提供的显示基板中，有源层3包括位于边框区20的第一有源岛301，第一有源岛301包括第一源极S1、第二漏极D2、位于第一源极S1和第二漏极D2之间的共用源漏极S2/D1、位于第一源极S1和共用源漏极S2/D1之间的第一沟道ch1和位于第二漏极和共用源漏极S2/D1之的第二沟道ch1，第一源极S1为第一晶体管T1的第一极，第二漏极D2为第二晶体管T2的第二极，共用源漏极S2/D1为电连接的第一晶体管T1的第二极和第二晶体管T2的第一极，第一沟道ch1为第一晶体管T1的沟道，第二沟道ch2为第二晶体管T2的沟道；第一金属层5包括位于边框区20的第一晶体管T1第一晶体管T1的栅极501和第二晶体管T2第二晶体管T2的栅极502；第二金属层7包括第一电极701和第二电极702，第一电极701分别与第二晶体管T2第二晶体管T2的栅极502和第一源极S1电连接，第二电极702与第二漏极D2电连接。

需要说明的是，有源层3还包括用于形成像素驱动电路、栅极驱动电路、发光信号驱动电路等所包括的晶体管的有源岛，第一金属层5还包括用于形成像素驱动电路、栅极驱动电路、发光信号驱动电路等所包括的晶体管的栅极，第二金属层7还包括用于形成像素驱动电路、栅极驱动电路、发光信号驱动电路等所包括的晶体管的有源岛的源极和漏极连接的金属电极。

本实施例利用显示基板中现有的膜层来形成裂纹检测电路e，在实现裂纹检测的同时不会增加显示基板的生产成本。

进一步地，如图7-10所示，本实施例提供的显示基板中，第一金属层5还包括检测线L和/或第二金属层7还包括检测线L；检测线L的第一端与第一晶体管T1第一晶体管T1的栅极501电连接，检测线L的第二端与第一电极701电连接。

具体地，当第一金属层5和第二金属层7均包括检测线时，检测线可以在第一金属层5和第二金属层7之间进行跳线以形成完整的检测线；当然，作为优选，第一金属层5的检测线在柔性衬底1上的正投影与第二金属层7的检测线在柔性衬底1上的正投影重合，且检测线的第一端位于第一金属层5，检测线的第二端位于第二金属层7。这是因为裂纹更容易对临近膜层的金属结构产生破坏，如此设置，能够进一步提升裂纹的检出率。

本申请实施例还提供了一种显示基板的制作方法，如图7至图11所示，该制作方法包括：

S101：提供一柔性衬底1，并在柔性衬底1上形成缓冲层2。该柔性衬底1包括显示区10和包围显示区10的边框区20。柔性衬底1的材料为聚酰亚胺薄膜。

S102：在缓冲层2上沉积有源材料并对该有源材料进行图形化处理以形成有源层3。

在图8所示的显示基板中，有源层3包括位于边框区20的第二有源岛302，第二有源岛302包括第三源极S3、第三漏极D3、位于第三源极S3和第三漏极D3之间的第三沟道ch3，第三源极S3为第三晶体管T3的第一极，第三漏极D3为第三晶体管T3的第二极，第三沟道ch3为第三晶体管T3的沟道。

在图10所示的显示基板中，有源层3包括位于边框区20的第一有源岛301，第一有源岛301包括第一源极S1、第二漏极D2、位于第一源极S1和第二漏极D2之间的共用源漏极S2/D1、位于第一源极S1和共用源漏极S2/D1之间的第一沟道ch1和位于第二漏极和共用源漏极S2/D1之的第二沟道ch1，第一源极S1为第一晶体管T1的第一极，第二漏极D2为第二晶体管T2的第二极，共用源漏极S2/D1为电连接的第一晶体管T1的第二极和第二晶体管T2的第一极，第一沟道ch1为第一晶体管T1的沟道，第二沟道ch2为第二晶体管T2的沟道。

具体地，有源层3还包括用于形成像素驱动电路、栅极驱动电路、发光信号驱动电路等所包括的晶体管的有源岛。

S103：在缓冲层2上形成第一绝缘层4。

S104：在第一绝缘层4上形成金属材料并对该金属材料进行图形化处理以形成第一金属层5。

在图8所示的显示基板中，第一金属层5包括位于边框区20的第三晶体管T3第三晶体管T3的栅极503。

在图10所示的显示基板中，第一金属层5包括位于边框区20的第一晶体管T1第一晶体管T1的栅极501和第二晶体管T2第二晶体管T2的栅极502。

具体地，第一金属层5还包括用于形成像素驱动电路、栅极驱动电路、发光信号驱动电路等所包括的晶体管的栅极。

S105：在第一金属层5上形成第二绝缘层6，并对第一绝缘层4和第二绝缘层6进行图形化处理以形成贯穿第二绝缘层或第一绝缘层4和第二绝缘层6的过孔。

S106：在第二绝缘层6上形成金属材料并对该金属材料进行图形化处理以形成第二金属层7。

在图8所示的显示基板中，第二金属层7包括第三电极703和第四电极704，第三电极703分别与第三晶体管T3第三晶体管T3的栅极503和第三源极S3电连接，第四电极704与第三漏极D3电连接。

在图10所示的显示基板中，第二金属层7包括第一电极701和第二电极702，第一电极701分别与第二晶体管T2第二晶体管T2的栅极502和第一源极S1电连接，第二电极702与第二漏极D2电连接。

具体地，第二金属层7还包括用于形成像素驱动电路、栅极驱动电路、发光信号驱动电路等所包括的晶体管的有源岛的源极和漏极连接的金属电极。

进一步地，本实施例提供的显示基板的制作方法在形成第二金属层7之前还包括形成层间介质层。

进一步地，本实施例提供的显示基板的制作方法还包括在第二金属层7上形成平坦化层，在平坦化层上形成阳极层等。

本实施例提供的显示基板的制作方法，能够利用显示基板本就包括的膜层来形成裂纹检测电路e以及检测线L，能够在实现裂纹检测的同时不增加生产成本。

基于同一发明构思，本申请实施例还提供了一种显示基板裂纹的检测方法，如图11所示，该检测方法包括：

S201：将显示基板调节至脉冲宽度调光模式；

S202：在第一信号输入端输入高电平信号，在第二信号输入端输入低电平信号，若显示基板正常显示则判定显示基板的边框区无裂纹，若显示基板出现多分屏不良则判定显示基板的边框区存在裂纹。

可选地，本实施例提供的显示基板的边框区裂纹检测方法，在显示基板的出厂检测阶段对显示基板进行检测。

可选地，本实施例提供的显示基板的边框区裂纹检测方法，在显示基板的出厂检测阶段以及显示基板的正常使用阶段对显示基板进行检测。

本实施例提供的检测方法，不仅能够快速、高效、准确地检测出显示基板上是否出现裂纹，而且可以和脉冲宽度调光同时进行检测，同时即使在显示基板出厂后，也可以对显示基板是否存在裂纹进行检测，以便于对显示基板在出厂后是否产生裂纹进行监控。

基于同一发明构思，本申请实施例还提供了一种显示装置，如图13所示，该显示装置包括上述实施例中的显示基板，具有上述实施例中的显示基板的有益效果，在此不再赘述。

具体地，如图13所示，本实施例提供的显示装置还包括驱动芯片，用于为显示基板提供驱动信号。

应用本申请实施例，至少能够实现如下有益效果：

本申请实施例提供的显示基板、显示基板及其裂纹检测方法、显示装置，通过在边框区设置裂纹检测电路，利用多分屏产生的原理对裂纹进行检测，能够快速、准确、高效地检测出边框区的裂纹，并且将裂纹检测电路与VGH信号以及VGH信号的输入端连接，无需单独设置检测单元，同时，裂纹的检测可以和显示基板的Module程序测试同时进行，无需再单独对裂纹进行检测。

本技术领域技术人员可以理解，本申请中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案可以被交替、更改、组合或删除。进一步地，具有本申请中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的其他步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。进一步地，现有技术中的具有与本申请中公开的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本说明书的描述中，具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

应该理解的是，虽然附图的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，其可以以其他的顺序执行。而且，附图的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，其执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其他步骤或者其他步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

以上所述仅是本申请的部分实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种显示基板，包括显示区和位于所述显示区周围的边框区，其特征在于，所述显示基板包括位于所述边框区的裂纹检测电路以及与所述裂纹检测电路连接的检测线；

所述检测线包绕所述显示区，所述检测电路分别与第一信号输入端和第二信号输入端电连接，所述第一信号输入端输入高电平信号，所述第二信号输入端输入低电平信号；

当所述裂纹检测线断裂时所述检测电路使所述第二信号输入端输入的低电平信号将所述第一信号输入端输入的高电平信号拉低，从而使脉冲宽度调光模式下的显示基板出现多分屏不良；当所述检测线完整时所述裂纹检测电路使所述第一信号输入端维持高电平信号，使所述第二信号输入端维持低电平信号，从而使处于脉冲宽度调光模式下的显示基板进行正常显示。

2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，

所述裂纹检测电路包括第一晶体管和第二晶体管，所述第一晶体管和所述第二晶体管的栅极电连接，所述第一晶体管的第一极与所述第一信号输入端电连接，所述第二晶体管的第二极与所述第二晶体管电连接，所述第一晶体管的第二极与所述第二晶体管的第一极电连接；

所述检测线包括第一端和第二端，所述第一端与所述第一晶体管的栅极和所述第二晶体管的栅极电连接，所述第二端与所述第一晶体管的第二极电连接。

3.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，

所述裂纹检测电路包括第三晶体管，所述第三晶体管的栅极与所述第一信号输入端电连接，所述第三晶体管的第二极与所述第二信号输入端电连接；

所述检测线包括第一端和第二端，所述第一端与所述第三晶体管的栅极电连接，所述第二端与所述第三晶体管的第一极电连接。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的显示基板，其特征在于，所述裂纹检测电路的数量为两个，所述检测线的数量为两个，且所述检测线与所述裂纹检测电路一一对应，所述两个检测线对称地设置在边框区。

5.根据权利要求1-3中任一项所述的显示基板，其特征在于，所述边框区设置有阴极线，所述检测线位于所述阴极线远离所述显示区的一侧。

6.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于，包括：

柔性衬底；

位于所述柔性衬底一面上的缓冲层；

有源层，位于所述缓冲层远离所述柔性衬底的一侧，包括位于所述边框区的第一有源岛，所述第一有源岛包括第一源极、第二漏极、位于所述第一源极和所述第二漏极之间的共用源漏极、位于所述第一源极和所述共用源漏极之间的第一沟道和位于所述第二漏极和所述共用源漏极区之的第二沟道，所述第一源极为所述第一晶体管的第一极，所述第二漏极为所述第二晶体管的第二极，所述共用源漏极为电连接的所述第一晶体管的第二极和所述第二晶体管的第一极，所述第一沟道为所述第一晶体管的沟道，所述第二沟道为所述第二晶体管的沟道；

第一绝缘层，位于所述有源层远离所述缓冲层的一侧；

第一金属层，位于所述第一绝缘层远离所述有源层的一侧，包括位于所述边框区的第一晶体管的栅极和第二晶体管的栅极；

第二绝缘层，位于所述第一金属层远离所述第一绝缘层的一侧；

第二金属层，位于所述第二绝缘层远离所述第一金属层的一侧，包括第一电极和第二电极，所述第一电极分别与所述第二晶体管的栅极和所述第一源极电连接，所述第二电极与所述第二漏极电连接。

7.根据权利要求3所述的显示基板，其特征在于，包括：

柔性衬底；

位于所述柔性衬底一面上的缓冲层；

有源层，位于所述缓冲层远离所述柔性衬底的一侧，包括位于所述边框区的第二有源岛，所述第二有源岛包括第三源极、第三漏极、位于所述第三源极和所述第三漏极之间的第三沟道，所述第三源极为所述第三晶体管的第一极，所述第三漏极为所述第三晶体管的第二极，所述第三沟道为所述第三晶体管的沟道；

第一绝缘层，位于所述有源层远离所述缓冲层的一侧；

第一金属层，位于所述第一绝缘层远离所述有源层的一侧，包括位于所述边框区的第三晶体管的栅极；

第二绝缘层，位于所述第一金属层远离所述第一绝缘层的一侧；

第二金属层，位于所述第二绝缘层远离所述第一金属层的一侧，包括第三电极和第四电极，所述第三电极分别与所述第三晶体管的栅极和所述第三源极电连接，所述第四电极与所述第三漏极电连接。

8.根据权利要求6或7所述的显示基板，其特征在于，所述第一金属层还包括所述检测线和/或所述第二金属层还包括所述检测线。

9.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-8中任一项所述的显示基板。

10.一种如权利要求1-8中任一项所述的显示基板的裂纹检测方法，其特征在于，包括：

将显示基板调节至脉冲宽度调光模式；

在第一信号输入端输入高电平信号，在第二信号输入端输入低电平信号，若显示基板正常显示则判定所述显示基板的边框区无裂纹，若显示基板出现多分屏不良则判定所述显示基板的边框区存在裂纹。

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