CN112034254A - 一种电阻测试方法 - Google Patents

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CN112034254A CN202010800981.3A CN202010800981A CN112034254A CN 112034254 A CN112034254 A CN 112034254A CN 202010800981 A CN202010800981 A CN 202010800981A CN 112034254 A CN112034254 A CN 112034254A
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Abstract

本发明涉及电子测试领域，特别是涉及一种电阻测试方法，将测试电源的正极与一电源点相连，第二电源点与测试电源的负极相连；将第一采样点的电压值保存到变量H1；将第二采样点的电压值保存到变量D1；将测试电源的负极与一电源点相连，第二电源点与测试电源的正极相连；将第一采样点的电压值保存到变量D2；将第二采样点的电压值保存到变量H2；调用控制模块数学计算电路，进行如下数学公式的运算：Y=|H2‑H1|+|D2‑D1|；若Y的值小于允许的误差阈值，则表明待测电阻合格，若Y的值不小于允许的误差阈值，则表明待测电阻不合格。本发明具有成本低、适应广、效率高、准确度高、耗能低、精度高等有益效果。

Description

一种电阻测试方法
技术领域
本发明涉及电子测试领域，特别是涉及一种电阻测试方法。
背景技术
电阻测试的目的是检验电阻阻值是否符合应用要求，电阻测试的作用是剔除不良品。
目前，现有技术对电阻阻值的测试主要依靠欧姆定律；
专利号：CN201310054770X专利名称：一种电阻测试方法
专利号：CN201210273406.8专利名称：一种电阻测试方法
以上为与本发明最接近的现有技术，它们存在以下技术缺陷：
技术缺陷1、测试步骤复杂，测试功能模块较多，各个测试功能模块的成本都很高。
技术缺陷2、测试过程对测试电源信号要求较高，测试电源信号必须无偏差，如果测试电源信号产生偏移，则会导致测试结果有较大的偏差，利用比如5V的电源进行测试，如果电源输出电压漂移到4V时会导致测试不准确，比如利用蓄电池作为测试电源时，随着电池电量的降低，测试会变得越来越不准确。
技术缺陷3、测试速度慢，测试效率较低。
技术缺陷4、测试过程对环境的温度要求较高，当环境温度发生较大变化，容易导致电源信号偏移，导致测试结果错误。
技术缺陷5、现有技术难以发现和避免测试机的老化问题，测试机的老化会导致测试结果错误。
综上所述，现有技术存在成本高、效率低、误差大、环境要求高、依赖标准源等技术问题，存在改进空间。
发明内容
1.技术方案
为解决上述问题，本发明采用如下的技术方案。
一种电阻测试方法，基于测试系统，测试系统包括控制模块(KZMK)和检测模块(JCMK)；
检测模块(JCMK)包括第一电阻(R1)、第二电阻(R2)和测试电源；
检测模块(JCMK)用于检测待测电阻(RV1)的阻值是否在允许误差的范围内；
待测电阻(RV1)的第二端与第一电阻(R1)的第一端相连，第一电阻(R1)的第二端与第二电阻(R2)的第一端相连，第一采样点(C1)与待测电阻(RV1)的第二端相连，第二采样点(C2)与第一电阻(R1)的第二端相连，第一电源点(V1)与待测电阻(RV1)的第一端相连，第二电源点(V2)与第二电阻(R2)的第二端相连；
检测模块(JCMK)与控制模块(KZMK)电性连接；
控制模块(KZMK)具有数学计算电路；
控制模块(KZMK)具有如下测试流程：
步骤a1、将测试电源的正极与一电源点(V1)相连，第二电源点(V2)与测试电源的负极相连；
步骤a2、利用AD采样技术采集第一采样点(C1)的电压值，并将第一采样点(C1)的电压值保存到变量H1；利用AD采样技术采集第二采样点(C2)的电压值，并将第二采样点(C2)的电压值保存到变量D1；
步骤a3、将测试电源的负极与一电源点(V1)相连，第二电源点(V2)与测试电源的正极相连；
步骤a4、利用AD采样技术采集第一采样点(C1)的电压值，并将第一采样点(C1)的电压值保存到变量D2；利用AD采样技术采集第二采样点(C2)的电压值，并将第二采样点(C2)的电压值保存到变量H2；
步骤a5、调用控制模块(KZMK)数学计算电路，进行如下数学公式的运算：
Y＝|H2-H1|+|D2-D1|；
步骤a6、调用控制模块(KZMK)判断Y的值是否小于允许的误差阈值，若Y的值小于允许的误差阈值，则表明待测电阻(RV1)合格，若Y的值不小于允许的误差阈值，则表明待测电阻(RV1)不合格。
进一步的，替换步骤a6，步骤a6、调用控制模块(KZMK)判断Y的值，若Y的值小于等于允许的误差阈值，则表明待测电阻(RV1)合格，若Y的值大于允许的误差阈值，则表明待测电阻(RV1)不合格。
进一步的，待测电阻(RV1)为电位器，对电位器进行持续测试，并调节电位器的阻值直至调整至所需范围内。
进一步的，待测电阻(RV1)为厚膜电阻。
进一步的，测试系统还包括测试按键(CS2)，测试按键(CS2)与控制模块(KZMK)电性相接，控制模块(KZMK)能够判断自检按键(CS1)的按键状态，按下测试按键(CS2)测试流程启动。
进一步的，测试系统还包括提示模块(TSMK)，提示模块(TSMK)与控制模块(KZMK)电性相接，提示模块(TSMK)具有显示装置，提示模块(TSMK)能够显示Y的值是否在误差范围内。
进一步的，测试系统还包括提示模块(TSMK)，提示模块(TSMK)与控制模块(KZMK)电性相接，提示模块(TSMK)具有显示装置，提示模块(TSMK)能够显示Y的值。
进一步的，控制模块(KZMK)包含单片机，单片机的型号为PIC16F877。
进一步的，测试电源由单片机的IO引脚提供。
进一步的，AD采样由单片机的IO引脚提供。
2.有益效果
相比于现有技术，本发明的优点在于：
一、提供了一种新的技术思路。
二、本发明测试步骤简单，测试模块少，各个模块都极其简单，硬件成本极低。
三、本发明测试过程对电源信号要求低，本发明无需标准源，即使测试电源的电压值存在偏差，只要不存在波动，无论电源信号的值是多少，都可得出准确的测试结果；本发明受电源约束小，可以适应多种电源，特别适合随着时间推移而偏移的电源，比如锂电池。
四、本发明测试速度快，测试效率高。
五、本发明的测试过程对环境的温度要求低，当环境温度发生改变，不会影响测试结果的准确性，所以本发明适应性广。
六、本发明具有自校验功能，可以及时检测出器件是否老化，有效避免因器件老化问题，导致的测试结果的错误，避免不良品混入良品中，所以本发明准确度高。
七、本发明由于器件少，所以测试过程中耗能很低。
八、本发明由于器件少，所以累计误差很小，所以本发明测试精度高。综上所述，本发明具有成本低、适应广、效率高、准确度高、耗能低、精度高等有益效果。
附图说明
图1本发明的实施例1的框架图；
图2本发明的实施例1的检测模块示意图；
图3本发明的实施例1的主流程的流程图；
图4本发明的实施例1的自检流程的流程图；
图5本发明的实施例1的自校验操作流程图；
图6本发明的实施例1的测试流程的流程图；
图7本发明的实施例2的电路图。
具体实施方式
实施例1：
如图1-6所示，一种电阻测试系统，包括控制模块KZMK、自检按键CS1、测试按键CS2和检测模块JCMK；
检测模块JCMK包括第一电阻R1、第二电阻R2和测试电源；
检测模块JCMK用于检测待测电阻RV1的阻值是否在允许误差的范围内；
待测电阻RV1的第二端与第一电阻R1的第一端相连，第一电阻R1的第二端与第二电阻R2的第一端相连，第一采样点C1与待测电阻RV1的第二端相连，第二采样点C2与第一电阻R1的第二端相连，第一电源点V1与待测电阻RV1的第一端相连，第二电源点V2与第二电阻R2的第二端相连；
自检按键CS1与控制模块KZMK电性连接；
测试按键CS2与控制模块KZMK电性连接；
检测模块JCMK与控制模块KZMK电性连接；
控制模块KZMK具有数学计算电路；
控制模块KZMK具有如下测试流程：
步骤a1、将测试电源的正极与第一电源点V1相连，第二电源点V2与测试电源的负极相连；
步骤a2、利用AD采样技术采集第一采样点C1的电压值，并将第一采样点C1的电压值保存到变量H1；利用AD采样技术采集第二采样点C2的电压值，并将第二采样点C2的电压值保存到变量D1；
步骤a3、将测试电源的负极与第一电源点V1相连，第二电源点V2与测试电源的正极相连；
步骤a4、利用AD采样技术采集第一采样点C1的电压值，并将第一采样点C1的电压值保存到变量D2；利用AD采样技术采集第二采样点C2的电压值，并将第二采样点C2的电压值保存到变量H2；
步骤a5、调用控制模块KZMK数学计算电路，进行如下数学公式的运算：
Y＝|H2-H1|+|D2-D1|；
步骤a6、调用控制模块KZMK判断Y的值是否小于允许的误差阈值，若Y的值小于允许的误差阈值，则表明待测电阻RV1合格，若Y的值不小于允许的误差阈值，则表明待测电阻RV1不合格；
控制模块KZMK具有如下自校验操作流程：用于校验第一电阻R1电阻值和第二电阻R2的电阻值之差是否符合测试要求；
步骤b1、将测试电源的正极与第一采样点C1相连，第二电源点V2与测试电源的负极相连；
步骤b2、利用AD采样技术采集第二采样点C2的电压值，并将第二采样点C2的电压值保存到变量T；
步骤b3、将测试电源的负极与第一采样点C1相连，第二电源点V2与测试电源的正极相连；
步骤b4、利用AD采样技术采集第二采样点C2的电压值，并将第二采样点C2的电压值保存到变量L；
步骤b5、调用控制模块KZMK数学计算电路，进行如下数学公式的运算：
X＝|T-L|；
步骤b6、调用控制模块KZMK判断X的值是否小于允许的误差阈值，若X的值小于允许的误差阈值，则表明第一电阻R1电阻值和第二电阻R2的电阻值之差是符合测试要求，则表明校验正常，若X的值不小于允许的误差阈值，则表明第一电阻R1电阻值和第二电阻R2的电阻值之差不符合测试要求，则表明表明校验异常；
控制模块KZMK具有如下自检流程：
步骤bz1、将标准样品接入，将标准样品的第一端与第一电源点V1相连，标准样品的第二端与第一采样点C1相连；
步骤bz2、启动自校验操作流程，如果校验异常则表明自检失败，如果校验正常，则进入步骤bz3；
步骤bz3、启动测试流程，对标准样品进行测试，如果测试结果不合格则表明自检失败，如果测试结果合格则表明自检成功；
控制模块KZMK具有如下主流程：
步骤e1、控制模块KZMK获取自检按键CS1的状态，若自检按键CS1未按下，则进入步骤e2，若自检按键CS1被按下则进入步骤e4；
步骤e2、控制模块KZMK获取测试按键CS2的按键状态，若测试按键CS2处于按下状态未被松开，则进入步骤e3，若测试按键CS2处于被松开的状态，则进入步骤e5；
步骤e3、启动测试流程，等待测试流程完成之后进入步骤e5；
步骤e4、启动自检流程，等待自检流程完成之后进入步骤e5；
步骤e5、进入步骤e1。
还包括提示模块TSMK，提示模块TSMK包括显示装置，显示装置包括红色LED灯和绿色LED灯，在自检流程中自检失败则点亮红色LED灯，自检成功则点亮绿色LED灯。
实施例2：在实施例1的基础上进一步设计如下：
如图7所示，一种电阻测试电路，包括单片机U1、第一电容C11、第二电容C21、晶振CRYSTAL、第三电阻R3、第四电阻R4、自检按键CS1、测试按键CS2和电源BAT1、第一电阻R1、第二电阻R2、红色LED灯D11、绿色LED灯D21、第一采样点C1、第二采样点C2、第一电源点V1、第二电源点V2、第一接入点IN1和第二接入点IN2；
第一电容C11第一端与地点GND相连，第一电容C11第二端与单片机U1第13引脚相连；
第二电容C21第一端与地点GND相连，第二电容C21第二端与单片机U1第14引脚相连；
晶振CRYSTAL第一端与第一电容C11第二端相连，晶振CRYSTAL第二端与第二电容C1第二端相连；
第三电阻R3第一端与电源点VCC相连，第三电阻R3第二端与单片机U1第19引脚相连；
第四电阻R4第一端与电源点VCC相连，第四电阻R4第二端与单片机U1第20引脚相连；
电源BAT1的第一端与电源点VCC相连，电源BAT1的第二端与地点GND相连；
自检按键CS1的第一端与单片机U1的第19引脚相连,自检按键CS1的第二端与地点GND相连；
测试按键CS2的第一端与单片机U1的第20引脚相连,测试按键CS2的第二端与地点GND相连；
绿色LED灯D21的正极与节点DP1相连，绿色LED灯D21的负极与地点GND相连，红色LED灯D11的正极与节点DP2相连，红色LED灯D11的负极与地点GND相连；
第一电阻R1的第一端与第一采样点C1相连，第一电阻R1的第二端与第二采样点C2相连，第二电阻R2的第一端与第二采样点C2相连，第二电阻R2的第一端与第二电源点V2相连，第一电阻R1的第一端与第一接入点IN1相连，第一电源点V1与第二接入点IN2相连；
第一接入点IN1、第二接入点IN2用于接入被测电阻RV1或标准样品。单片机U1型号为PIC16F877。本实施例的单片机U1的源代码如下，源代码采用：
Figure BDA0002627374430000091
Figure BDA0002627374430000101
Figure BDA0002627374430000111
Figure BDA0002627374430000121
Figure BDA0002627374430000131
Figure BDA0002627374430000141
Figure BDA0002627374430000151
Figure BDA0002627374430000161
Figure BDA0002627374430000171
Figure BDA0002627374430000181
以上所述；仅为本发明较佳的具体实施方式；但本发明的保护范围并不局限于此；任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内；根据本发明的技术方案及其改进构思加以等同替换或改变；都应涵盖在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种电阻测试方法，其特征在于：基于测试系统，测试系统包括控制模块（KZMK）和检测模块（JCMK）；
检测模块（JCMK）包括第一电阻（R1）、第二电阻（R2）和测试电源；
检测模块（JCMK）用于检测待测电阻（RV1）的阻值是否在允许误差的范围内；
待测电阻（RV1）的第二端与第一电阻（R1）的第一端相连，第一电阻（R1）的第二端与第二电阻（R2）的第一端相连，第一采样点（C1）与待测电阻（RV1）的第二端相连，第二采样点（C2）与第一电阻（R1）的第二端相连，第一电源点（V1）与待测电阻（RV1）的第一端相连，第二电源点（V2）与第二电阻（R2）的第二端相连；
检测模块（JCMK）与控制模块（KZMK）电性连接；
控制模块（KZMK）具有数学计算电路；
控制模块（KZMK）具有如下测试流程：
步骤a1、将测试电源的正极与一电源点（V1）相连，第二电源点（V2）与测试电源的负极相连；
步骤a2、利用AD采样技术采集第一采样点（C1）的电压值，并将第一采样点（C1）的电压值保存到变量H1；利用AD采样技术采集第二采样点（C2）的电压值，并将第二采样点（C2）的电压值保存到变量D1；
步骤a3、将测试电源的负极与一电源点（V1）相连，第二电源点（V2）与测试电源的正极相连；
步骤a4、利用AD采样技术采集第一采样点（C1）的电压值，并将第一采样点（C1）的电压值保存到变量D2；利用AD采样技术采集第二采样点（C2）的电压值，并将第二采样点（C2）的电压值保存到变量H2；
步骤a5、调用控制模块（KZMK）数学计算电路，进行如下数学公式的运算：
Y=|H2-H1|+|D2-D1|；
步骤a6、调用控制模块（KZMK）判断Y的值是否小于允许的误差阈值，若Y的值小于允许的误差阈值，则表明待测电阻（RV1）合格，若Y的值不小于允许的误差阈值，则表明待测电阻（RV1）不合格。
2.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：替换步骤a6，步骤a6、调用控制模块（KZMK）判断Y的值，若Y的值小于等于允许的误差阈值，则表明待测电阻（RV1）合格，若Y的值大于允许的误差阈值，则表明待测电阻（RV1）不合格。
3.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：待测电阻（RV1）为电位器，对电位器进行持续测试，并调节电位器的阻值直至调整至所需范围内。
4.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：待测电阻（RV1）为厚膜电阻。
5.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：测试系统还包括测试按键（CS2），测试按键（CS2）与控制模块（KZMK）电性相接，控制模块（KZMK）能够判断自检按键（CS1）的按键状态，按下测试按键（CS2）测试流程启动。
6.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：测试系统还包括提示模块（TSMK），提示模块（TSMK）与控制模块（KZMK）电性相接，提示模块（TSMK）具有显示装置，提示模块（TSMK）能够显示Y的值是否在误差范围内。
7.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：测试系统还包括提示模块（TSMK），提示模块（TSMK）与控制模块（KZMK）电性相接，提示模块（TSMK）具有显示装置，提示模块（TSMK）能够显示Y的值。
8.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：控制模块（KZMK）包含单片机，单片机的型号为PIC16F877。
9.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：测试电源由单片机的IO引脚提供。
10.根据权利要求1所述的一种电阻测试方法，其特征在于：AD采样由单片机的IO引脚提供。
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