CN112034255A - 一种电阻测试系统 - Google Patents

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CN112034255A
CN112034255A CN202010801721.8A CN202010801721A CN112034255A CN 112034255 A CN112034255 A CN 112034255A CN 202010801721 A CN202010801721 A CN 202010801721A CN 112034255 A CN112034255 A CN 112034255A
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resistor
test
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checking
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CN202010801721.8A
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彭亚林
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Hangzhou Wangzhi Xinchuang Information Technology Research Co Ltd
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Hangzhou Wangzhi Xinchuang Information Technology Research Co Ltd
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
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Abstract

本发明涉及电子测试领域，特别是涉及一种电阻测试系统，包括控制模块、自检按键、测试按键和检测模块；检测模块包括第一电阻、第二电阻和测试电源；检测模块用于检测待测电阻的阻值是否在允许误差的范围内。本发明具有成本低、适应广、效率高、准确度高、耗能低、精度高等有益效果。

Description

一种电阻测试系统
技术领域
本发明涉及电子测试领域，特别是涉及一种电阻测试系统。
背景技术
电阻测试的目的是检验电阻阻值是否符合应用要求，电阻测试的作用是剔除不良品。
目前，现有技术对电阻阻值的测试主要依靠欧姆定律；
专利号：CN201310054770X 专利名称：一种电阻测试系统
专利号：CN201210273406.8 专利名称：一种电阻测试系统
以上为与本发明最接近的现有技术，它们存在以下技术缺陷：
技术缺陷1、测试步骤复杂，测试功能模块较多，各个测试功能模块的成本都很高。
技术缺陷2、测试过程对测试电源信号要求较高，测试电源信号必须无偏差，如果测试电源信号产生偏移，则会导致测试结果有较大的偏差，利用比如5V的电源进行测试，如果电源输出电压漂移到4V时会导致测试不准确，比如利用蓄电池作为测试电源时，随着电池电量的降低，测试会变得越来越不准确。
技术缺陷3、测试速度慢，测试效率较低。
技术缺陷4、测试过程对环境的温度要求较高，当环境温度发生较大变化，容易导致电源信号偏移，导致测试结果错误。
技术缺陷5、现有技术难以发现和避免测试机的老化问题，测试机的老化会导致测试结果错误。
综上所述，现有技术存在成本高、效率低、误差大、环境要求高、依赖标准源等技术问题，存在改进空间。
发明内容
1．技术方案
为解决上述问题，本发明采用如下的技术方案。
一种电阻测试系统，包括控制模块（KZMK）、自检按键（CS1）、测试按键（CS2）和检测模块（JCMK）；检测模块（JCMK）包括第一电阻（R1）、第二电阻（R2）和测试电源；检测模块（JCMK）用于检测待测电阻（RV1）的阻值是否在允许误差的范围内；待测电阻（RV1）的第二端与第一电阻（R1）的第一端相连，第一电阻（R1）的第二端与第二电阻（R2）的第一端相连，第一采样点（C1）与待测电阻（RV1）的第二端相连，第二采样点（C2）与第一电阻（R1）的第二端相连，第一电源点（V1）与待测电阻（RV1）的第一端相连，第二电源点（V2）与第二电阻（R2）的第二端相连；自检按键（CS1）与控制模块（KZMK）电性连接；测试按键（CS2）与控制模块（KZMK）电性连接；检测模块（JCMK）与控制模块（KZMK）电性连接；控制模块（KZMK）具有数学计算电路；控制模块（KZMK）具有如下测试流程：
步骤a1、将测试电源的正极与第一电源点（V1）相连，第二电源点（V2）与测试电源的负极相连；
步骤a2、利用AD采样技术采集第一采样点（C1）的电压值，并将第一采样点（C1）的电压值保存到变量H1；利用AD采样技术采集第二采样点（C2）的电压值，并将第二采样点（C2）的电压值保存到变量D1；
步骤a3、将测试电源的负极与第一电源点（V1）相连，第二电源点（V2）与测试电源的正极相连；
步骤a4、利用AD采样技术采集第一采样点（C1）的电压值，并将第一采样点（C1）的电压值保存到变量D2；利用AD采样技术采集第二采样点（C2）的电压值，并将第二采样点（C2）的电压值保存到变量H2；
步骤a5、调用控制模块（KZMK）数学计算电路，进行如下数学公式的运算：
Y=|H2-H1|+|D2-D1|；
步骤a6、调用控制模块（KZMK）判断Y的值是否小于允许的误差阈值，若Y的值小于允许的误差阈值，则表明待测电阻（RV1）合格，若Y的值不小于允许的误差阈值，则表明待测电阻（RV1）不合格；
控制模块（KZMK）具有如下自校验操作流程：用于校验第一电阻（R1）电阻值和第二电阻（R2）的电阻值之差是否符合测试要求；
步骤b1、将测试电源的正极与第一采样点（C1）相连，第二电源点（V2）与测试电源的负极相连；
步骤b2、利用AD采样技术采集第二采样点（C2）的电压值，并将第二采样点（C2）的电压值保存到变量T；
步骤b3、将测试电源的负极与第一采样点（C1）相连，第二电源点（V2）与测试电源的正极相连；
步骤b4、利用AD采样技术采集第二采样点（C2）的电压值，并将第二采样点（C2）的电压值保存到变量L；
步骤b5、调用控制模块（KZMK）数学计算电路，进行如下数学公式的运算：
X=|T-L|；
步骤b6、调用控制模块（KZMK）判断X的值是否小于允许的误差阈值，若X的值小于允许的误差阈值，则表明第一电阻（R1）电阻值和第二电阻（R2）的电阻值之差是符合测试要求，则表明校验正常，若X的值不小于允许的误差阈值，则表明第一电阻（R1）电阻值和第二电阻（R2）的电阻值之差不符合测试要求，则表明表明校验异常；
控制模块（KZMK）具有如下自检流程：
步骤bz1、将标准样品接入，将标准样品的第一端与第一电源点（V1）相连，标准样品的第二端与第一采样点（C1）相连；
步骤bz2、启动自校验操作流程，如果校验异常则表明自检失败，如果校验正常，则进入步骤bz3；
步骤bz3、启动测试流程，对标准样品进行测试，如果测试结果不合格则表明自检失败，如果测试结果合格则表明自检成功；
控制模块（KZMK）具有如下主流程：
步骤e1、控制模块（KZMK）获取自检按键（CS1）的状态，若自检按键（CS1）未按下，则进入步骤e2，若自检按键（CS1）被按下则进入步骤e4；
步骤e2、控制模块（KZMK）获取测试按键（CS2）的按键状态，若测试按键（CS2）处于按下状态未被松开，则进入步骤e3，若测试按键（CS2）处于被松开的状态，则进入步骤e5；
步骤e3、启动测试流程，等待测试流程完成之后进入步骤e5；
步骤e4、启动自检流程，等待自检流程完成之后进入步骤e5；
步骤e5、进入步骤e1。
进一步的，还包括提示模块（TSMK），提示模块（TSMK）包括显示装置，显示装置包括红色LED灯和绿色LED灯，在自检流程中自检失败则点亮红色LED灯，自检成功则点亮绿色LED灯。
进一步的，所述还包括提示模块（TSMK），提示模块（TSMK）包括显示装置，显示装置能显示测试流程的测试结果。
进一步的，所述第一电阻（R1）和第二电阻（R2）均为碳膜电阻。
进一步的，所述第一电阻（R1）和第二电阻（R2）均为金属膜电阻。
进一步的，所述测试电源为开关电源。
进一步的，所述测试电源为蓄电池。
进一步的，所述自检按键（CS1）为轻触开关。
进一步的，所述测试按键（CS2）为轻触开关。
进一步的，所述AD采样技术由独立的AD采样芯片提供。
2．有益效果
相比于现有技术，本发明的优点在于：
一、提供了一种新的技术思路。
二、本发明测试步骤简单，测试模块少，各个模块都极其简单，硬件成本极低。
三、本发明测试过程对电源信号要求低，本发明无需标准源，即使测试电源的电压值存在偏差，只要不存在波动，无论电源信号的值是多少，都可得出准确的测试结果；本发明受电源约束小，可以适应多种电源，特别适合随着时间推移而偏移的电源，比如锂电池。
四、本发明测试速度快，测试效率高。
五、本发明的测试过程对环境的温度要求低，当环境温度发生改变，不会影响测试结果的准确性，所以本发明适应性广。
六、本发明具有自校验功能，可以及时检测出器件是否老化，有效避免因器件老化问题，导致的测试结果的错误，避免不良品混入良品中，所以本发明准确度高。
七、本发明由于器件少，所以测试过程中耗能很低。
八、本发明由于器件少，所以累计误差很小，所以本发明测试精度高。
综上所述，本发明具有成本低、适应广、效率高、准确度高、耗能低、精度高等有益效果。
附图说明
图1本发明的实施例1的框架图；
图2本发明的实施例1的检测模块示意图；
图3本发明的实施例1的主流程的流程图；
图4本发明的实施例1的自检流程的流程图；
图5本发明的实施例1的自校验操作流程图；
图6本发明的实施例1的测试流程的流程图；
图7本发明的实施例2的电路图。
具体实施方式
实施例1：
如图1-6所示，一种电阻测试系统，包括控制模块KZMK、自检按键CS1、测试按键CS2和检测模块JCMK；
检测模块JCMK包括第一电阻R1、第二电阻R2和测试电源；
检测模块JCMK用于检测待测电阻RV1的阻值是否在允许误差的范围内；
待测电阻RV1的第二端与第一电阻R1的第一端相连，第一电阻R1的第二端与第二电阻R2的第一端相连，第一采样点C1与待测电阻RV1的第二端相连，第二采样点C2与第一电阻R1的第二端相连，第一电源点V1与待测电阻RV1的第一端相连，第二电源点V2与第二电阻R2的第二端相连；
自检按键CS1与控制模块KZMK电性连接；
测试按键CS2与控制模块KZMK电性连接；
检测模块JCMK与控制模块KZMK电性连接；
控制模块KZMK具有数学计算电路；
控制模块KZMK具有如下测试流程：
步骤a1、将测试电源的正极与第一电源点V1相连，第二电源点V2与测试电源的负极相连；
步骤a2、利用AD采样技术采集第一采样点C1的电压值，并将第一采样点C1的电压值保存到变量H1；利用AD采样技术采集第二采样点C2的电压值，并将第二采样点C2的电压值保存到变量D1；
步骤a3、将测试电源的负极与第一电源点V1相连，第二电源点V2与测试电源的正极相连；
步骤a4、利用AD采样技术采集第一采样点C1的电压值，并将第一采样点C1的电压值保存到变量D2；利用AD采样技术采集第二采样点C2的电压值，并将第二采样点C2的电压值保存到变量H2；
步骤a5、调用控制模块KZMK数学计算电路，进行如下数学公式的运算：
Y=|H2-H1|+|D2-D1|；
步骤a6、调用控制模块KZMK判断Y的值是否小于允许的误差阈值，若Y的值小于允许的误差阈值，则表明待测电阻RV1合格，若Y的值不小于允许的误差阈值，则表明待测电阻RV1不合格；
控制模块KZMK具有如下自校验操作流程：用于校验第一电阻R1电阻值和第二电阻R2的电阻值之差是否符合测试要求；
步骤b1、将测试电源的正极与第一采样点C1相连，第二电源点V2与测试电源的负极相连；
步骤b2、利用AD采样技术采集第二采样点C2的电压值，并将第二采样点C2的电压值保存到变量T；
步骤b3、将测试电源的负极与第一采样点C1相连，第二电源点V2与测试电源的正极相连；
步骤b4、利用AD采样技术采集第二采样点C2的电压值，并将第二采样点C2的电压值保存到变量L；
步骤b5、调用控制模块KZMK数学计算电路，进行如下数学公式的运算：
X=|T-L|；
步骤b6、调用控制模块KZMK判断X的值是否小于允许的误差阈值，若X的值小于允许的误差阈值，则表明第一电阻R1电阻值和第二电阻R2的电阻值之差是符合测试要求，则表明校验正常，若X的值不小于允许的误差阈值，则表明第一电阻R1电阻值和第二电阻R2的电阻值之差不符合测试要求，则表明表明校验异常；
控制模块KZMK具有如下自检流程：
步骤bz1、将标准样品接入，将标准样品的第一端与第一电源点V1相连，标准样品的第二端与第一采样点C1相连；
步骤bz2、启动自校验操作流程，如果校验异常则表明自检失败，如果校验正常，则进入步骤bz3；
步骤bz3、启动测试流程，对标准样品进行测试，如果测试结果不合格则表明自检失败，如果测试结果合格则表明自检成功；
控制模块KZMK具有如下主流程：
步骤e1、控制模块KZMK获取自检按键CS1的状态，若自检按键CS1未按下，则进入步骤e2，若自检按键CS1被按下则进入步骤e4；
步骤e2、控制模块KZMK获取测试按键CS2的按键状态，若测试按键CS2处于按下状态未被松开，则进入步骤e3，若测试按键CS2处于被松开的状态，则进入步骤e5；
步骤e3、启动测试流程，等待测试流程完成之后进入步骤e5；
步骤e4、启动自检流程，等待自检流程完成之后进入步骤e5；
步骤e5、进入步骤e1。
还包括提示模块TSMK，提示模块TSMK包括显示装置，显示装置包括红色LED灯和绿色LED灯，在自检流程中自检失败则点亮红色LED灯，自检成功则点亮绿色LED灯。
实施例2：在实施例1的基础上进一步设计如下：
如图7所示，一种电阻测试电路，包括单片机U1、第一电容C11、第二电容C21、晶振CRYSTAL、第三电阻R3、第四电阻R4、自检按键CS1、测试按键CS2和电源BAT1、第一电阻R1、第二电阻R2、红色LED灯D11、绿色LED灯D21、第一采样点C1、第二采样点C2、第一电源点V1、第二电源点V2、第一接入点IN1和第二接入点IN2；
第一电容C11第一端与地点GND相连，第一电容C11第二端与单片机U1第13引脚相连；
第二电容C21第一端与地点GND相连，第二电容C21第二端与单片机U1第14引脚相连；
晶振CRYSTAL第一端与第一电容C11第二端相连，晶振CRYSTAL第二端与第二电容C1第二端相连；
第三电阻R3第一端与电源点VCC相连，第三电阻R3第二端与单片机U1第19引脚相连；
第四电阻R4第一端与电源点VCC相连，第四电阻R4第二端与单片机U1第20引脚相连；
电源BAT1的第一端与电源点VCC相连，电源BAT1的第二端与地点GND相连；
自检按键CS1的第一端与单片机U1的第19引脚相连,自检按键CS1的第二端与地点GND相连；
测试按键CS2的第一端与单片机U1的第20引脚相连,测试按键CS2的第二端与地点GND相连；
绿色LED灯D21的正极与节点DP1相连，绿色LED灯D21的负极与地点GND相连，红色LED灯D11的正极与节点DP2相连，红色LED灯D11的负极与地点GND相连；
第一电阻R1的第一端与第一采样点C1相连，第一电阻R1的第二端与第二采样点C2相连，第二电阻R2的第一端与第二采样点C2相连，第二电阻R2的第一端与第二电源点V2相连，第一电阻R1的第一端与第一接入点IN1相连，第一电源点V1与第二接入点IN2相连；
第一接入点IN1、第二接入点IN2用于接入被测电阻RV1或标准样品。
单片机U1型号为PIC16F877。本实施例的单片机U1的源代码如下，源代码采用：
#include <pic.h>
#include "main.h"
#include <xc.h>
#include <stdio.h>
#include <stdlib.h>
#include "config.h"
void GPIO_Init(void); //IO初始化
void AD_Init(void); //AD初始化
void Auto_SelfTest(void); //自校准函数
void LED_Display(void); //指示灯显示函数
void Test_Mode(void); //测试模式
void AD_Convert1(unsigned char direction);//测试流程下的AD采样函数
void AD_Convert2(unsigned char direction);//自校准流程下的AD采样函数
void Calculate_Data(void); //误差计算
unsigned int Voltage_X_Data = 1; //代表1%误差
unsigned long Error_Percent = 10; //代表10%误差
unsigned int T_Value = 0; // C2的电压值放大100倍
unsigned int L_Value = 0; // C2的电压值放大100倍
unsigned int H1_Value = 0; //与H1对应，数据放大100倍
unsigned int D1_Value = 0; //与D1对应，数据放大100倍
unsigned int D2_Value = 0; //与D2对应，数据放大100倍
unsigned int H2_Value = 0; //与H2对应，数据放大100倍
unsigned int X_Value = 0; //自校准流程下的误差值
unsigned int Y_Value = 0; //测试流程下的误差值
unsigned char Test_Result = 0; //测试模式结论：1代表合格，0代表不合格
unsigned char SelfTest_Flag = 0; //自校验结果标志：1代表正常，0代表不正常
/***********************主函数******************/
int main(int argc, char** argv)
{
AD_Init(); //AD采样初始化
GPIO_Init(); //IO口初始化
DP1 = 0; //绿灯初始化，灭
DP2 = 0; //红灯初始化，灭
while(1)
{
if (Key_CS1 == 0) //按键CS1按下，自检启动
{
Auto_SelfTest(); //自校验模式
if (SelfTest_Flag == 1) Test_Mode(); //校验正常，进入测试模式
}
else
{
if (Key_CS2 == 0) //CS2按键按下，测试启动
{
Test_Mode(); //进入测试模式
}
}
}
/*******************AD初始化函数****************/
void AD_Init(void)
{
TRISA = 0x03; //RA0 RA1 input mode
ADCON1 = 0x8D; //右对齐,ADCS2=0,1101
}
/*******************自校验流程********************/
void Auto_SelfTest(void)
{
unsigned int X_Data_Per;
TRISA = 0x02;
RA0 = 1; //C1输出高电平
Set_V2 = 0; //V2输出低电平
AD_Convert2(Left);
RA0 = 0; //C1输出低电平
Set_V2 = 1; //V2输出高电平
AD_Convert2(Right);
if (T_Value >= L_Value)
{
X_Value = T_Value - L_Value;
}
else
{
X_Value = L_Value - T_Value;
}
X_Data_Per = X_Value/5; // 电压差/5V=误差
if (X_Data_Per <= Voltage_X_Data)
{
SelfTest_Flag = 1; //自校验正常
DP2 =0; //红灯灭
}
else
{
SelfTest_Flag = 0; //自校验异常
DP2 =1; //红灯亮
}
}
/*****************AD转化2流程*******************/
void AD_Convert2(unsigned char direction)
{
unsigned int AD_Value;
ADCON0 = 0x49; //ADCS1:ADCS0=01 fosc/8,AN1,,A/D On
GO = 1; //启动AD转化
while(GO); //等待AD采样计数
AD_Value = ADRESH; //读取AD数据高位
AD_Value = AD_Value<<8|ADRESL; //将采样到的数据存到AD_Value里
if (direction == Left)
{
T_Value= ((unsigned long) AD_Value)*500/1023;
}
else
{
L_Value= ((unsigned long) AD_Value)*500/1023;
}
}
/**************AD转化1流程*****************/
void AD_Convert1(unsigned char direction)
{
unsigned int AD_Value;
ADCON0 = 0x41; //ADCS1:ADCS0=01 fosc/8,AN0,,A/D On
GO = 1; //启动AD转化
while(GO); //等待AD采样计数
AD_Value = ADRESH; //读取AD数据高位
AD_Value = AD_Value<<8|ADRESL; //将采样到的数据存到AD_Value里
if (direction == Left)
{
H1_Value = ((unsigned long) AD_Value)*500/1023;
}
else
{
D2_Value= ((unsigned long) AD_Value)*500/1023;
}
ADCON0 = 0x49; //ADCS1:ADCS0=01 fosc/8,AN1,,A/D On
GO = 1; //启动AD转化
while(GO); //等待AD采样计数
AD_Value = ADRESH; //读取AD数据高位
AD_Value = AD_Value<<8|ADRESL; //将采样到的数据存到AD_Value里
if (direction == Left)
{
D1_Value = ((unsigned long) AD_Value)*500/1023;
}
else
{
H2_Value = ((unsigned long) AD_Value)*500/1023;
}
}
/*******************测试流程********************/
void Test_Mode(void)
{
TRISA |= 0x03; //RA0、RA1置为AD输入
Set_V1 = 1; //V1高电平
Set_V2 = 0; //V2低电平
AD_Convert1(Left);
Set_V1 = 0; //V1低电平
Set_V2 = 1; //V2高电平
AD_Convert1(Right);
Calculate_Data(); //误差值计算
LED_Display(); //指示灯显示函数
}
void LED_Display(void)
{
if (Test_Result == 1)
{
DP1 =1; //绿灯亮
DP2 =0; //红灯灭
}
else
{
DP1 =0; //绿灯灭
DP2 =1; //红灯亮
}
}
/********************IO口初始化*****************/
void GPIO_Init(void)
{
TRISB = 0x00; //RC 口输出
TRISD = 0xff; //RD 口输入
}
/********************误差计算*******************/
void Calculate_Data(void)
{
unsigned long Range; //误差范围
if (H2_Value >= H1_Value)
{
if (D2_Value >= D1_Value)
{
Y_Value = H2_Value - H1_Value + D2_Value - D1_Value;
}
else
{
Y_Value = H2_Value - H1_Value + D1_Value - D2_Value;
}
}
else
{
if (D2_Value >= D1_Value)
{
Y_Value = H1_Value - H2_Value + D2_Value - D1_Value;
}
else
{
Y_Value = H1_Value - H2_Value + D1_Value - D2_Value;
}
}
Range = ((1000-(100-Error_Percent)*10)*1000/(2000+(100-Error_Percent)*10));
if (Y_Value < Range)
{
Test_Result = 1; //合格
}
else
{
Test_Result = 0; //不合格
}
}
#ifndef XC_HEADER_TEMPLATE_H
#define XC_HEADER_TEMPLATE_H
#include <xc.h> // include processor files - each processor file isguarded.
#ifdef __cplusplus
extern "C" {
#endif /* __cplusplus */
#ifdef __cplusplus
}
#endif /* __cplusplus */
#endif /* XC_HEADER_TEMPLATE_H */
/*******************按键输入***********************************/
#define Key_CS1 RD0 //CS1按键
#define Key_CS2 RD1 //CS2按键
/*******************IO口设置***********************************/
#define DP1 RB4 //DP1指示灯
#define DP2 RB5 //DP2指示灯
#define Set_V1 RB1//V1电平设置脚
#define Set_V2 RB2//V2电平设置脚
#define Left 1 //V1高电平，V2低电平
#define Right 0 //V2高电平，V1低电平
// CONFIG
#pragma config FOSC = HS // Oscillator Selection bits (HSoscillator)
#pragma config WDTE = OFF // Watchdog Timer Enable bit (WDTdisabled)
#pragma config PWRTE = OFF // Power-up Timer Enable bit (PWRTdisabled)
#pragma config CP = OFF // FLASH Program Memory Code Protectionbits (Code protection off)
#pragma config BOREN = ON // Brown-out Reset Enable bit (BORenabled)
#pragma config LVP = ON // Low Voltage In-Circuit SerialProgramming Enable bit (RB3/PGM pin has PGM function; low-voltage programmingenabled)
#pragma config CPD = OFF // Data EE Memory Code Protection (CodeProtection off)
#pragma config WRT = ON // FLASH Program Memory Write Enable(Unprotected program memory may be written to by EECON control)
#include <xc.h>源代码结束。
以上所述；仅为本发明较佳的具体实施方式；但本发明的保护范围并不局限于此；任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内；根据本发明的技术方案及其改进构思加以等同替换或改变；都应涵盖在本发明的保护范围内。

Claims (10)

1.一种电阻测试系统，其特征在于：包括控制模块（KZMK）、自检按键（CS1）、测试按键（CS2）和检测模块（JCMK）；
检测模块（JCMK）包括第一电阻（R1）、第二电阻（R2）和测试电源；
检测模块（JCMK）用于检测待测电阻（RV1）的阻值是否在允许误差的范围内；
待测电阻（RV1）的第二端与第一电阻（R1）的第一端相连，第一电阻（R1）的第二端与第二电阻（R2）的第一端相连，第一采样点（C1）与待测电阻（RV1）的第二端相连，第二采样点（C2）与第一电阻（R1）的第二端相连，第一电源点（V1）与待测电阻（RV1）的第一端相连，第二电源点（V2）与第二电阻（R2）的第二端相连；
自检按键（CS1）与控制模块（KZMK）电性连接；
测试按键（CS2）与控制模块（KZMK）电性连接；
检测模块（JCMK）与控制模块（KZMK）电性连接；
控制模块（KZMK）具有数学计算电路；
控制模块（KZMK）具有如下测试流程：
步骤a1、将测试电源的正极与第一电源点（V1）相连，第二电源点（V2）与测试电源的负极相连；
步骤a2、利用AD采样技术采集第一采样点（C1）的电压值，并将第一采样点（C1）的电压值保存到变量H1；利用AD采样技术采集第二采样点（C2）的电压值，并将第二采样点（C2）的电压值保存到变量D1；
步骤a3、将测试电源的负极与第一电源点（V1）相连，第二电源点（V2）与测试电源的正极相连；
步骤a4、利用AD采样技术采集第一采样点（C1）的电压值，并将第一采样点（C1）的电压值保存到变量D2；利用AD采样技术采集第二采样点（C2）的电压值，并将第二采样点（C2）的电压值保存到变量H2；
步骤a5、调用控制模块（KZMK）数学计算电路，进行如下数学公式的运算：
Y=|H2-H1|+|D2-D1|；
步骤a6、调用控制模块（KZMK）判断Y的值是否小于允许的误差阈值，若Y的值小于允许的误差阈值，则表明待测电阻（RV1）合格，若Y的值不小于允许的误差阈值，则表明待测电阻（RV1）不合格；
控制模块（KZMK）具有如下自校验操作流程：用于校验第一电阻（R1）电阻值和第二电阻（R2）的电阻值之差是否符合测试要求；
步骤b1、将测试电源的正极与第一采样点（C1）相连，第二电源点（V2）与测试电源的负极相连；
步骤b2、利用AD采样技术采集第二采样点（C2）的电压值，并将第二采样点（C2）的电压值保存到变量T；
步骤b3、将测试电源的负极与第一采样点（C1）相连，第二电源点（V2）与测试电源的正极相连；
步骤b4、利用AD采样技术采集第二采样点（C2）的电压值，并将第二采样点（C2）的电压值保存到变量L；
步骤b5、调用控制模块（KZMK）数学计算电路，进行如下数学公式的运算：
X=|T-L|；
步骤b6、调用控制模块（KZMK）判断X的值是否小于允许的误差阈值，若X的值小于允许的误差阈值，则表明第一电阻（R1）电阻值和第二电阻（R2）的电阻值之差是符合测试要求，则表明校验正常，若X的值不小于允许的误差阈值，则表明第一电阻（R1）电阻值和第二电阻（R2）的电阻值之差不符合测试要求，则表明表明校验异常；
控制模块（KZMK）具有如下自检流程：
步骤bz1、将标准样品接入，将标准样品的第一端与第一电源点（V1）相连，标准样品的第二端与第一采样点（C1）相连；
步骤bz2、启动自校验操作流程，如果校验异常则表明自检失败，如果校验正常，则进入步骤bz3；
步骤bz3、启动测试流程，对标准样品进行测试，如果测试结果不合格则表明自检失败，如果测试结果合格则表明自检成功；
控制模块（KZMK）具有如下主流程：
步骤e1、控制模块（KZMK）获取自检按键（CS1）的状态，若自检按键（CS1）未按下，则进入步骤e2，若自检按键（CS1）被按下则进入步骤e4；
步骤e2、控制模块（KZMK）获取测试按键（CS2）的按键状态，若测试按键（CS2）处于按下状态未被松开，则进入步骤e3，若测试按键（CS2）处于被松开的状态，则进入步骤e5；
步骤e3、启动测试流程，等待测试流程完成之后进入步骤e5；
步骤e4、启动自检流程，等待自检流程完成之后进入步骤e5；
步骤e5、进入步骤e1。
2.根据权利要求1所述的一种电阻测试系统，其特征在于：还包括提示模块（TSMK），提示模块（TSMK）包括显示装置，显示装置包括红色LED灯和绿色LED灯，在自检流程中自检失败则点亮红色LED灯，自检成功则点亮绿色LED灯。
3.根据权利要求1所述的一种电阻测试系统，其特征在于：所述还包括提示模块（TSMK），提示模块（TSMK）包括显示装置，显示装置能显示测试流程的测试结果。
4.根据权利要求1所述的一种电阻测试系统，其特征在于：所述第一电阻（R1）和第二电阻（R2）均为碳膜电阻。
5.根据权利要求1所述的一种电阻测试系统，其特征在于：所述第一电阻（R1）和第二电阻（R2）均为金属膜电阻。
6.根据权利要求1所述的一种电阻测试系统，其特征在于：所述测试电源为开关电源。
7.根据权利要求1所述的一种电阻测试系统，其特征在于：所述测试电源为蓄电池。
8.根据权利要求1所述的一种电阻测试系统，其特征在于：所述自检按键（CS1）为轻触开关。
9.根据权利要求1所述的一种电阻测试系统，其特征在于：所述测试按键（CS2）为轻触开关。
10.根据权利要求1所述的一种电阻测试系统，其特征在于：所述AD采样技术由独立的AD采样芯片提供。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0496147A1 (en) * 1991-01-25 1992-07-29 John Fluke Mfg. Co., Inc. Method of precise measurement of small resistance values
KR20120139795A (ko) * 2010-05-31 2012-12-27 가부시키가이샤 어드밴티스트 측정 장치 및 방법
JP5791347B2 (ja) * 2011-04-20 2015-10-07 日置電機株式会社 抵抗測定装置
JP2013061303A (ja) * 2011-09-15 2013-04-04 Hashimoto Denshi Kogyo Kk 低抵抗体の良否検査装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117233515A (zh) * 2023-11-13 2023-12-15 广东电网有限责任公司佛山供电局 一种出口压板状态测量方法和系统
CN117233515B (zh) * 2023-11-13 2024-02-13 广东电网有限责任公司佛山供电局 一种出口压板状态测量方法和系统

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