CN112014720A - 心率芯片测试设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种心率芯片测试设备，心率芯片测试设备包括测试机台、测试分选器以及M个测试座，其中，所述测试分选器与所述测试机台连接。M个测试座，每一所述测试分选器分别与M个所述测试座连接，每一所述测试座供一待测试心率芯片放置。所述测试机台，用于同步输出M路测试信号至所述测试分选器；所述测试分选器用于根据M路测试信号一对一测试M个测试座并获取测试结果，并将所述测试结果返回至所述测试机台。上述方案解决心率芯片测试设备测试效率较低的技术问题。

Description

心率芯片测试设备
技术领域
本发明涉及芯片测试的技术领域，特别涉及心率芯片测试设备。
背景技术
目前行业里面一般心率传感器芯片测试以4dut和8dut居多。具有dut数少，测试效率底等缺点。同时也受限于测试机的资源，测试效率低，产能低难达到客户要求的供货需求。以目前4/8工站去进行测试，明显很难满足市场的需求和产品更新换代的脚步，速度太慢等缺点。如果需要达到预期的产能，只能增加相应的机台数量，从而导致需要更大的厂房面积供设备放置，增加了人力和物力。
发明内容
本发明的主要目的是提出一种心率芯片测试设备，旨在解决心率芯片测试设备测试效率较低的技术问题。
为实现上述目的，本发明提出一种心率芯片测试设备，所述心率芯片测试设备包括：
测试机台；
测试分选器，所述测试分选器与所述测试机台连接；
M个测试座，每一所述测试分选器分别与M个所述测试座连接，每一所述测试座供一待测试心率芯片放置；
所述测试机台，用于同步输出M路测试信号至所述测试分选器；
所述测试分选器，用于根据M路测试信号一对一测试M个测试座并获取测试结果，并将所述测试结果返回至所述测试机台。
可选地，所述测试座具有多个测试点，多个所述测试点与心率芯片的引脚一对一连接。
可选地，所述测试机台均包括多个继电器、继电器控制器、数字信号通信单元和系统控制器，每一继电器控制心率芯片的每一引脚单独接入所述数字信号通信单元/所述测试座，继电器控制器具有多个控制信号输出端，用于一对于连接所述继电器的受控端，所述数字信号通信单元与所述系统控制器通过数据总线连接。
可选地，所述测试机台还包括显示屏，所述显示屏与所述系统控制器电连接，并用于将所述测试结果进行显示。
可选地，所述心率芯片集成有心电功能芯片及心率和血氧饱和度芯片。
可选地，所述心率芯片测试设备的系统控制器执行的控制方法包括：
测试机台根据所述测试信号依次对心率芯片进行连接测试、漏电测试、工作电流测试、关机电流测试和正弦波功能测试并将测试结果传输至所述测试机台；
测试机台根据所述测试结果确定不良心率芯片并统计不良心率芯片数量。
可选地，所述连接测试包括：
将心率芯片的多个电压源引脚接入测试座并对每个引脚进行初始电压设置；
将心率芯片的多个非电压源引脚接入数字通信单元并对每个引脚进行初始电压设置；
将预设的连接测试信号依次输入心率芯片的每一引脚并获取对应引脚的反馈信号；
将心率芯片的多个引脚与数字信号通信单元之间的连接断开；
系统控制器根据对应引脚的反馈信号判断引脚是否正确接入测试座。
可选地，所述漏电测试包括：
将心率芯片的多个电压源引脚接入测试座并对每个引脚进行漏电电压设置；
将心率芯片的主设备输出脚、从设备输入脚、时钟信号脚以及使能脚接入数字信号通信单元，并通过时钟信号脚对心率芯片的工作频率进行设定；
在预设的第一漏电测试模式下检测主设备输出脚、从设备输入脚、时钟信号脚以及使能脚的第一测试电流；
在预设的第二漏电测试模式下检测主设备输出脚、从设备输入脚、时钟信号脚以及使能脚的第二测试电流；
根据主设备输出脚、从设备输入脚、时钟信号脚以及使能脚对应的第一测试电流以及第二测试电流确定漏电流是否正常。
可选地，所述工作电流测试包括：
将心率芯片的多个电压源引脚接入测试座并对每个电压源引脚进行工作电压设置，并限制其电流为第一电流；
向心率芯片发送串行测试命令并配置时钟频率以及最小运行速率；
将多个电压源引脚的进行第二次测试并测量每一电压源引脚的工作电流；
根据每一电压源引脚的工作电流判断当前工作电流是否正常。
可选地，所述关机电流测试包括：
将心率芯片的多个电压源引脚接入测试座并对每个电压源引脚进行关机电压设置，并限制其电流为第三电流；
向心率芯片发送串行测试命令并配置低通滤波器，禁用心电检测引脚、生物阻抗检测引脚以及步数监测引脚，并将第一中断引脚和第二中断引脚设置为三态；
将血糖检测引脚、血糖戴白检测引脚以及参考电压引脚接入并对其电压进行设置；
将多个电压源引脚的极限电流进行设置；
检测多个电压源引脚的关机电流并判断所述关机电流符合预设关机电流范围。
可选地，所述正弦波功能测试包括：
将心率芯片的多个电压源引脚接入测试座并对每个电压源引脚进行正弦波电压以及正弦波电流设置；
将心电采样频率设置为正弦波测试的第一频率；
将心电采样频率设置为预设正弦波数值；
采集心电采样频率设置的测试信号的输出并依照预先公式计算正弦波测试值，以判断此过程得到的正弦波测试信号。
可选地，所述测试机台根据所述测试信号依次对心率芯片进行连接测试、漏电测试、工作电流测试、关机电流测试和正弦波功能测试并将测试结果传输至所述测试机台的步骤之前还包括：
通过每一所述测试座确定心率芯片位置；
对心率芯片进行OCR扫描确定心率芯片外观是否正常。
本发明的技术方案心率芯片测试设备包括测试机台、测试分选器以及M个测试座，其中，所述测试分选器与所述测试机台连接。每一所述测试分选器分别与M个所述测试座连接，每一所述测试座供一待测试心率芯片放置。所述测试机台同步输出M路测试信号至所述测试分选器。所述测试分选器根据M路测试信号一对一测试M个测试座并获取测试结果，并将所述测试结果返回至所述测试机台。本发明的技术方案通过在心率芯片测试设备中增设测试分选器，从而可以增加每一测试机台所连接的测试座的数量，从而在同等测试数量上，减少了对测试机台数量的需求，以减少了整体心率测试设备所占的体积，另外，基于测试机台仅仅增加测试分选器就极大的增加了可以测量的心率芯片的数量，从而提高了心率芯片测试设备测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明心率芯片测试设备的模块示意图；
图2为本发明心率芯片测试设备的连接示意图；
图3为本发明心率芯片测试设备的控制方法的流程图；
图4为本发明心率芯片测试设备的控制方法的流程图；
图5为本发明心率芯片测试设备的控制方法的流程图；
图6为本发明心率芯片测试设备的控制方法的流程图；
图7为本发明心率芯片测试设备的控制方法的流程图；
图8为本发明心率芯片测试设备的控制方法的流程图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。
本发明提出一种心率芯片测试设备，旨在解决心率芯片测试设备测试效率较低的技术问题。
在一实施例中，如图1所示所述心率芯片测试设备测试机台10、测试分选器20以及M个测试座30，其中，所述测试分选器20与所述测试机台10连接。每一所述测试分选器20分别与M个所述测试座30连接，每一所述测试座30供一待测试心率芯片放置。所述测试机台10同步输出M路测试信号至所述测试分选器20。所述测试分选器20根据M路测试信号一对一测试M个测试座30并获取测试结果，并将所述测试结果返回至所述测试机台10。
本发明的技术方案通过在心率芯片测试设备中增设测试分选器20，从而可以增加每一测试机台10所连接的测试座30的数量，从而增加单台测试机台10能测试的心率芯片的数量，当运用至整个生产线/测试车间，在测试同等数量的心率芯片时，可以减少心率芯片测试设备的数量，从而减少了整个生产线/测试车间所占的体积，本发明基于测试机台10，在仅仅增加测试分选器20的基础上就极大的增加了可以测量的心率芯片的数量，通过提高每一测试机台10可测试的心率芯片的数量的方式成倍的提高了心率芯片测试设备测试效率。同时对测试机台10的体积改动不大。其中，M大于1。特别的，M＝16或者M＝32。
可选地，如图2所示，所述测试座30具有多个测试点，多个所述测试点与心率芯片的引脚一对一连接。每一测试点连接到测试分选器20的每一分线端，通过多个电气隔离的测试点的设置，可以针对每一心率芯片的测试引脚进行测试，充分验证心率芯片的每个功能。
可选地，所述测试机台10均包括多个继电器40、继电器控制器U2、数字信号通信单元U4和U5系统控制器U6，每一继电器控制心率芯片的每一引脚单独接入所述数字信号通信单元U4/所述测试座30，继电器控制器U2具有多个控制信号输出端，用于一对于连接所述继电器的受控端，所述数字信号通信单元U4与所述系统控制器U6通过数据总线连接。
通过对心率芯片的每一引脚均单独采用继电器接入数字信号通信单元U4，也可以控制心率芯片的每一引脚均单独接入测试座30，从而可以在需要的时候控制心率芯片的某个引脚单独接入测试座30或数字信号通信单元U4，也可以同时接入数字信号通信单元U4以及测试座30，从而可以方便测试过程中对每个引脚的测试以及综合队多个引脚的测试，也可以方便按照不同测试方法对同一引脚或者相关引脚的测试，从而方便用户对心率芯片可以实现的每个功能进行测试，提升测试的准确度，进一步保证出厂的每一心率芯片均能实现几乎全部的功能，而且，还可以辅助发现一些仅通过简单测试难以发现的问题，促使厂商对心率芯片进行优化。
可选地，所述测试机台10还包括显示屏，所述显示屏与所述系统控制器U6电连接。
其中，显示屏并用于将所述测试结果进行显示。能方便用户及时发现次品以及得到对应提示，显示屏还能将测试机台10统计的次品率以及合格率进行显示，方便用户知道当前检测的产品的合格率。
可选地，所述心率芯片集成有心电功能芯片及心率和血氧饱和度芯片。
将心电功能芯片及心率和血氧饱和度芯片集成为心率芯片，可以实现心电功能和心率和血氧饱和度功能的同步实现，丰富了心率芯片的功能，降低了相应的研发成本，且因为两者原本也是集成芯片，其集成后体积也可以方便用在相关的产品中，对其体积影响较小。
可选地，所述心电功能芯片的型号为MAX30003，所述心率和血氧饱和度芯片的型号为MAX86141。此时，MAX30003提供心电测量功能，MAX86141提供心率测量和血氧饱和度测量功能。
可选地，所述继电器控制器U2为NI-2567。通过专用的继电器控制器U2来对多个继电器40进行控制，可以降低对系统控制器U6的要求，同时NI-2567还能体积较小，实现方式简单，且控制较为灵敏，非常适用于需要快速开关进行测试的场合，极大的提高了多个引脚测试的速度。
可选地，所述数字信号通信单元U4为NI-6570。其中，数字信号通信单元U4需要通过PXI总线与系统控制器U6相连，从而才能实现多路并行测试，互不干扰。
可选地，所述系统控制器U6为NI-1078、NI-2567、NI-6570、NI-41中任一种。
在一实施例中，如图3所示，所述心率芯片测试设备的系统控制器U6执行的控制方法包括：
S1、测试机台10根据所述测试信号依次对心率芯片进行连接测试、漏电测试、工作电流测试、关机电流测试和正弦波功能测试并将测试结果传输至所述测试机台10；
其中，测试信号为一段时间内连续变化的信号，是用户根据心率芯片引脚功能进行设计，测试机台10依据测试信号控制对应引脚的接入以及电压和电流的设定，检测相关的反馈参数，以全面的获取到测试结果，通过上述测试方案不仅可以判断某一引脚的好坏，还可以判断出心率芯片能否实现测试的功能，从多个测试数据上综合判断心率芯片的合格率，使得测试结果更为精确。
S2、测试机台10根据所述测试结果确定不良心率芯片并统计不良心率芯片数量。通过统计不良心率芯片的数量可以在测试的同时得到统计数据，从而不必专人清点就可以获知当前测试的心率芯片的良品率。
以上方案中，通过测试结果用户就可以判断不良心率芯片的数量。
基于上述方案，对应每一引脚损坏以及对应每一测试结果异常均统计其出现次数；
测试机台10根据次数确定影响心率芯片合格的原因并提示用户当前合格率。
基于上述方案，记载每一不良心率芯片的某一引脚/某一测试数据出现损坏的原因，通过记录上述数据，用户可以不必再次对不良心率芯片进行分析找出损坏原因，就可以通过大量数据累计去总结问题所在，方便后续开发设计，从而促使用户再次对这部分进行设计以优化心率芯片，有针对性性的降低不合格率。
在一实施例中，如图4所示，所述连接测试包括：
S121、将心率芯片的多个电压源引脚接入测试座30并对每个引脚进行初始电压设置；
以MAX30003部分引脚的测试为例：
将每一心率芯片的每个引脚的继电器断开，以使得心率芯片的全部引脚和测试座30或者数字通信单元断开。开启MAX30003的多个电压源引脚(ECG_AVDD、ECG_DVDD、ECG_OVDD)到测试座30之间的继电器，以将上述电压源引脚接入测试座30。并将电压源引脚(ECG_AVDD、ECG_DVDD、ECG_OVDD)设置为初始电压(0V)。
S122、将心率芯片的多个非电压源引脚接入数字通信单元并对每个引脚进行初始电压设置；
开启MAX30003的多个非电压源引脚(ECG-CSB、ECG-CPLL、ECG-FCLK、ECG-第一中断引脚INTB、ECG-第二中断引脚INT2B、SCLK、MOSI、ECG-SDO、ECGP、ECGN、ECG-VBG、ECG-VCM、ECG-VREF、AOUT、ECG-CAPP、ECG-CAPN、RBIAS)连接至数字通信单元(如NI-6570)之间的继电器，并将这些管脚设置为初始电压(0V)。
S123、将预设的连接测试信号依次输入心率芯片的每一引脚并获取对应引脚的反馈信号；
.将多个非电压源引脚(-200uA电流的管脚)以及多个电压源引脚(-200uA电流的管脚)逐一通电，设置电流限值10mA，电压限值-2V，并逐个测量反馈信号。
S124、将心率芯片的多个引脚与数字信号通信单元U4之间的连接断开；
也即断开MAX30003的多个非电压源引脚(ECG-CSB、ECG-CPLL、ECG-FCLK、ECG-第一中断引脚INTB、ECG-第二中断引脚INT2B、SCLK、MOSI、ECG-SDO、ECGP、ECGN、ECG-VBG、ECG-VCM、ECG-VREF、AOUT、ECG-CAPP、ECG-CAPN、RBIAS)连接至数字通信单元NI-6570之间的继电器，以及断开MAX30003的多个电压源引脚(ECG_AVDD、ECG_DVDD、ECG_OVDD)到测试座30之间的继电器。
S125、系统控制器U6根据对应引脚的反馈信号判断引脚是否正确接入测试座30。
在上述测试过程中，设置初始电压Vmin＝-0.70V，电压限值Vmax＝-0.40V；如果测量值vm measured>Vmax，则该引脚短路；如果每一引脚的测量值vm测量值小于Vmin，则此引脚打开(断路)；如果Vmin≤vmmeasured≤Vmax，则该引脚正常。从而可以快速检测出每一引脚是否连接正常。
在一实施例中，如图5所示，所述漏电测试包括：
S131、将心率芯片的多个电压源引脚接入测试座30并对每个引脚进行漏电电压设置；
以MAX30003部分引脚的测试为例：
开启心率芯片的多个电压源引脚(ECG_AVDD、ECG_DVDD、ECG_OVDD)与测试座30之间的继电器，用2mA将电压源引脚ECG_AVDD、ECG_DVDD的漏电电压设置为2V，用2mA将电压源引脚ECG_OVDD的漏电电压设置为3.6V。
S132、将心率芯片的主设备输出脚、从设备输入脚、时钟信号脚以及使能脚接入数字信号通信单元U4，并通过时钟信号脚对心率芯片的工作频率进行设定；
将心率芯片的主设备输出脚ECG-CSB、从设备输入脚ECG-SDO、时钟信号脚SCLK以及使能脚MOSI与数字信号通信单元U4之间的继电器，将时钟信号脚SCLK设为4MHz。
S133、在预设的第一漏电测试模式下检测主设备输出脚、从设备输入脚、时钟信号脚以及使能脚的第一测试电流；
其中，第一漏电测试模式为：.向MAX-30003发送SPI(串行测试)命令，将第一中断引脚INTB和第一中断引脚INTB2配置到CMOS：将0x00写入寄存器0x02；将0x00写入寄存器0x03；禁用SCLK，并禁用从NI-6570到ECG-CSB、SCLK、MOSI和ECG-SDO的中继；.将第一中断引脚INTB、第二中断引脚INT2B、SDO继电器从数字信号通信单元U4NI-6570切换到测试座30SMU，限位2uA，将这些引脚设置为3.6V。.在hi-z(高阻)模式下测量主设备输出脚ECG-CSB的第一测试电流、从设备输入脚ECG-SDO的第一测试电流、时钟信号脚SCLK的第一测试电流以及使能脚MOSI的第一测试电流。
S134、在预设的第二漏电测试模式下检测主设备输出脚、从设备输入脚、时钟信号脚以及使能脚的第二测试电流；
g.将主设备输出脚ECG-CSB、从设备输入脚ECG-SDO、时钟信号脚SCLK设置为0V，限制为2uA，并在hi-z模式下测量主设备输出脚ECG-CSB的第二测试电流、从设备输入脚ECG-SDO的第二测试电流、时钟信号脚SCLK的第二测试电流。
随后，.禁用从测试座30到第一中断引脚INTB、第二中断引脚INT2B和SDO的继电器；
.将电压源引脚ECG_AVDD和电压源引脚ECG_DVDD设置为2V，限制为20mA，将电压源引脚ECG_OVDD设置为3.6V，限制为20mA；
向MAX-30003发送SPI命令，将ECG设置为输入状态；
将ECGP和ECGN设置为差分输入；
测试此时的ECGP和ECGN的差分输入电流。
S135、根据主设备输出脚、从设备输入脚、时钟信号脚以及使能脚对应的第一测试电流以及第二测试电流确定漏电流是否正常。
设置Itristate_min＝-1uA，Itristate_max＝1uA；设置Iecginput_min＝-1nA，Iecginput_max＝1nA；如果Itristate_min≤Imeasured_tristate≤Itristate_max，则三态泄漏电流正常；
如果Iecginput_min≤i测量的ecg input≤Iecginput_max，则ecg输入漏电流正常；其他情况下，三态或ecg输入的漏电流无效。
通过上述方案可以快速检出心率芯片是否存在漏电情况。
在一实施例中，如图6所示，所述工作电流测试包括：
S141、将心率芯片的多个电压源引脚接入测试座30并对每个电压源引脚进行工作电压设置，并限制其电流为第一电流；
以MAX30003部分引脚的测试为例：
启动从测试座30到心率芯片的多个电压源引脚(ECG_AVDD、ECG_DVDD、ECG_OVDD)之间的继电器，将电压源引脚ECG_AVDD以及电压源引脚ECG_DVDD设置为2V，限制为2mA，将电压源引脚ECG_OVDD设置为3.6V，限制为2mA。
S142、向心率芯片发送串行测试命令并配置时钟频率以及最小运行速率；
向心率芯片MAX-30003发送SPI命令，配置时钟频率为4MHz，将心率芯片的引脚ECG、引脚DLPF、引脚DHPF旁路构成的旁路配置为最小速率，设置引脚RBIAS＝50Mohms，然后禁用时钟信号脚SCLK。
S143、将多个电压源引脚的进行第二次测试并测量每一电压源引脚的工作电流；
其中，第二次测试为将电压源引脚ECG_AVDD和电压源引脚ECG_DVDD的电流限制设置为200uA，将电压源引脚ECG_OVDD的电流限制设置为20uA；
测量电压源引脚ECG_AVDD、电压源引脚ECG_DVDD、电压源引脚ECG_OVDD的工作电流。
S144、根据每一电压源引脚的工作电流判断当前工作电流是否正常。
将单个引脚的测量的工作电流记为Imeasured_DVDD，第一电流Imin_AVDD为2mA，20uA或200uA，针对电压源引脚ECG_AVDD、电压源引脚ECG_DVDD、电压源引脚ECG_OVDD，设置Imin_AVDD＝？，Imax_AVDD＝5uA；设置Imin_DVDD＝？，max_DVDD＝5uA，设置Imin_OVDD＝？，Imax_OVDD＝5uA，如果Imin_AVDD+Imin_DVDD≤Imeasured_AVDD+Imeasured_DVDD≤Imax_AVDD+Imax_DVDD，则工作电流正常；如果Imin_OVDD≤Imeasured_OVDD≤Imax_OVDD，则工作电流正常；其他情况下，工作电流无效。通过上述方案可以快速检出心率芯片的工作电流是否正常。
在一实施例中，如图7所示，所述关机电流测试包括：
S151、将心率芯片的多个电压源引脚接入测试座30并对每个电压源引脚进行关机电压设置，并限制其电流为第三电流；
以MAX30003部分引脚的测试为例：
启动从测试座30到电压源引脚(ECG_AVDD、ECG_DVDD和ECG_OVDD)的继电器，将电压源引脚ECG_AVDD和电压源引脚ECG_DVDD设置为2V，限制为200uA，将电压源引脚ECG_OVDD设置为3.6V，限制为200uA。
S152、向心率芯片发送串行测试命令并配置低通滤波器，禁用心电检测引脚、生物阻抗检测引脚以及步数监测引脚，并将第一中断引脚和第二中断引脚设置为三态；
送SPI命令，配置ECG低通滤波器，禁用引脚心电检测引脚ECG、生物阻抗检测引脚BIOZ和步数监测引脚PACE，并将第一中断引脚INTB和第二中断引脚INT2B设置为三态。
S153、将血糖检测引脚、血糖戴白检测引脚以及参考电压引脚接入并对其电压进行设置；
启动血糖检测引脚ECG-VBG、血糖戴白检测引脚ECG-VCM和参考电压引脚ECG-VREF的继电器，将这些引脚设置为0V。
S154、将多个电压源引脚的极限电流进行设置；
将电压源引脚ECG_AVDD、电压源引脚ECG_DVDD、电压源引脚ECG_OVDD的极限电流设置为20uA。
S155、检测多个电压源引脚的关机电流并判断所述关机电流符合预设关机电流范围。
以上方案中，对于单一测试方案，设置第三电流Imin_AVDD＝？，极限电流Imax_AVDD＝2.5uA；关机电流Imeasured_AVDD，设置Imin_DVDD＝？，Imax_DVDD＝2.5uA；设置Imin_OVDD＝？，Imax_OVDD＝2.5uA；如果Imin_AVDD+Imin_DVDD≤Imeasured_AVDD+Imeasured_DVDD≤Imax_AVDD+Imax_DVDD，则电流正常；如果Imin_OVDD≤Imeasured_OVDD≤Imax_OVDD，则电流正常；其他情况下，电流无效。
在一实施例中，如图8所示，所述正弦波功能测试包括：
S161、将心率芯片的多个电压源引脚接入测试座30并对每个电压源引脚进行正弦波电压以及正弦波电流设置；
以MAX30003部分引脚的测试为例：
启动从测试座30到多个电压源引脚(ECG_AVDD、ECG_DVDD和ECG_OVDD)之间的继电器，将电压源引脚ECG_AVDD和电压源引脚电压源引脚ECG_DVDD设置为1.1V，限制为20mA，将电压源引脚ECG_OVDD设置为1.65V，限制为20mA。
S162、将心电采样频率设置为正弦波测试的第一频率；
启动从0.1nF电容到引脚ECG_CAPP和引脚ECG_CAPN的继电器；发送SPI命令，将心电采样频率也即第一频率设置为512。
S163、将心电采样频率设置为预设正弦波数值；
用U5(如图2所示)NI-4461产生一个30mVp-p/64Hz正弦波，发送到差分引脚ECGP和ECGN。
S164、采集心电采样频率设置的测试信号的输出并依照预先公式计算正弦波测试值，以判断此过程得到的正弦波测试信号。
其中，通过向测试管脚发送差分正弦波来测试心电图功能，并分析信号是否采样良好，设置THDmin＝0％，THDmax＝0.3％，发送SPI命令读取采样的FIFO(先入先出队列)数据，进行FFT(快速傅氏变换)运算，计算实时THD。.当实时THD处于THDmin与THDmax之间时，则正弦波数值正常。
在一实施例，所述测试机台10根据所述测试信号依次对心率芯片进行连接测试、漏电测试、工作电流测试、关机电流测试和正弦波功能测试并将测试结果传输至所述测试机台10的步骤之前还包括：
通过每一所述测试座30确定心率芯片位置；
此过程可以通过进行连接测试的时候同步测试出芯片的位置。
对心率芯片进行OCR(Optical Character Recognition，光学字符识别)扫描确定心率芯片外观是否正常。
以上所述仅为本发明的可选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (12)

1.一种心率芯片测试设备，其特征在于，所述心率芯片测试设备包括：
测试机台；
测试分选器，所述测试分选器与所述测试机台连接；
M个测试座，每一所述测试分选器分别与M个所述测试座连接，每一所述测试座供一待测试心率芯片放置；
所述测试机台，用于同步输出M路测试信号至所述测试分选器；
所述测试分选器，用于根据M路测试信号一对一测试M个测试座并获取测试结果，并将所述测试结果返回至所述测试机台。
2.如权利要求1所述的心率芯片测试设备，其特征在于，所述测试座具有多个测试点，多个所述测试点与心率芯片的引脚一对一连接。
3.如权利要求2所述的心率芯片测试设备，其特征在于，所述测试机台均包括多个继电器、继电器控制器、数字信号通信单元和系统控制器，每一继电器控制心率芯片的每一引脚单独接入所述数字信号通信单元/所述测试座，继电器控制器具有多个控制信号输出端，用于一对于连接所述继电器的受控端，所述数字信号通信单元与所述系统控制器通过数据总线连接。
4.如权利要求3所述的心率芯片测试设备，其特征在于，所述测试机台还包括显示屏，所述显示屏与所述系统控制器电连接，并用于将所述测试结果进行显示。
5.如权利要求1所述的心率芯片测试设备，其特征在于，所述心率芯片集成有心电功能芯片及心率和血氧饱和度芯片。
6.如权利要求3所述的心率芯片测试设备，其特征在于，所述心率芯片测试设备的系统控制器执行的控制方法包括：
测试机台根据所述测试信号依次对心率芯片进行连接测试、漏电测试、工作电流测试、关机电流测试和正弦波功能测试并将测试结果传输至所述测试机台；
测试机台根据所述测试结果确定不良心率芯片并统计不良心率芯片数量。
7.如权利要求5所述的心率芯片测试设备，其特征在于，所述连接测试包括：
将心率芯片的多个电压源引脚接入测试座并对每个引脚进行初始电压设置；
将心率芯片的多个非电压源引脚接入数字通信单元并对每个引脚进行初始电压设置；
将预设的连接测试信号依次输入心率芯片的每一引脚并获取对应引脚的反馈信号；
将心率芯片的多个引脚与数字信号通信单元之间的连接断开；
系统控制器根据对应引脚的反馈信号判断引脚是否正确接入测试座。
8.如权利要求7所述的心率芯片测试设备，其特征在于，所述漏电测试包括：
将心率芯片的多个电压源引脚接入测试座并对每个引脚进行漏电电压设置；
将心率芯片的主设备输出脚、从设备输入脚、时钟信号脚以及使能脚接入数字信号通信单元，并通过时钟信号脚对心率芯片的工作频率进行设定；
在预设的第一漏电测试模式下检测主设备输出脚、从设备输入脚、时钟信号脚以及使能脚的第一测试电流；
在预设的第二漏电测试模式下检测主设备输出脚、从设备输入脚、时钟信号脚以及使能脚的第二测试电流；
根据主设备输出脚、从设备输入脚、时钟信号脚以及使能脚对应的第一测试电流以及第二测试电流确定漏电流是否正常。
9.如权利要求7所述的心率芯片测试设备，其特征在于，所述工作电流测试包括：
将心率芯片的多个电压源引脚接入测试座并对每个电压源引脚进行工作电压设置，并限制其电流为第一电流；
向心率芯片发送串行测试命令并配置时钟频率以及最小运行速率；
将多个电压源引脚的进行第二次测试并测量每一电压源引脚的工作电流；
根据每一电压源引脚的工作电流判断当前工作电流是否正常。
10.如权利要求7所述的心率芯片测试设备，其特征在于，所述关机电流测试包括：
将心率芯片的多个电压源引脚接入测试座并对每个电压源引脚进行关机电压设置，并限制其电流为第三电流；
向心率芯片发送串行测试命令并配置低通滤波器，禁用心电检测引脚、生物阻抗检测引脚以及步数监测引脚，并将第一中断引脚和第二中断引脚设置为三态；
将血糖检测引脚、血糖戴白检测引脚以及参考电压引脚接入并对其电压进行设置；
将多个电压源引脚的极限电流进行设置；
检测多个电压源引脚的关机电流并判断所述关机电流符合预设关机电流范围。
11.如权利要求7所述的心率芯片测试设备，其特征在于，所述正弦波功能测试包括：
将心率芯片的多个电压源引脚接入测试座并对每个电压源引脚进行正弦波电压以及正弦波电流设置；
将心电采样频率设置为正弦波测试的第一频率；
将心电采样频率设置为预设正弦波数值；
采集心电采样频率设置的测试信号的输出并依照预先公式计算正弦波测试值，以判断此过程得到的正弦波测试信号。
12.如权利要求7所述的心率芯片测试设备，其特征在于，所述测试机台根据所述测试信号依次对心率芯片进行连接测试、漏电测试、工作电流测试、关机电流测试和正弦波功能测试并将测试结果传输至所述测试机台的步骤之前还包括：
通过每一所述测试座确定心率芯片位置；
对心率芯片进行OCR扫描确定心率芯片外观是否正常。
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