CN111947890A - 测试治具 - Google Patents

Abstract

一种测试治具，用于调整产品的位置，包括底座和可调结构，可调结构包括限位块、锁紧件和固定件，限位块设于底座上，锁紧块设于底座上且位于限位块边缘，锁紧块抵持于限位块边缘以锁紧限位块，固定件设于限位块上，以将限位块固定在底座上；将锁紧块从第一位置移动至第二位置时，锁紧块解锁限位块，并松开固定件，使限位块在底座上转动预定角度；限位块转动预定角度后，将锁紧块从第二位置移动至第一位置时，锁紧块锁紧限位块，拧紧固定件，使限位块固定在底座上。上述的测试治具通过可调结构能够更好的调整置于测试治具上的产品，锁紧块和固定件的限定使得限位块能够更稳定的置于底座上，避免产品出现偏移的现象。

Description

测试治具

技术领域

本发明涉及治具技术领域，尤其涉及一种测试治具。

背景技术

现有的测试治具采用翻盖式，并且测试治具上设有与产品外形相似的收容部放置产品。盖上治具的盖板后，通过所述盖板对设于治具上的产品进行定位。此时，对产品进行测试，但在测试时会出现产品的中心与检测装置没有对准的情况，通过调整治具上的螺丝对产品进行微调后，因螺丝的松紧无法很好的控制，调好后的治具经过一段时间的测试，又会发生产品与检测装置对不准的情况发生，使得测试出现异常。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种测试治具，旨在通过微调治具后，产品经过一段时间的测试，治具不会再发生偏离，避免出现测试异常的情况。

一种测试治具，用于调整产品的位置，包括底座，所述测试治具还包括可调结构，所述可调结构包括限位块、锁紧块及固定件，所述限位块设于所述底座上，所述锁紧块设于所述底座上且位于所述限位块边缘，所述锁紧块抵持于所述限位块边缘以锁紧所述限位块，所述固定件设于所述限位块上，以将所述限位块固定在所述底座上；

将所述锁紧块从第一位置移动至第二位置时，所述锁紧块解锁所述限位块，并松开所述固定件，使所述限位块在所述底座上转动预定角度；所述限位块转动预定角度后，将所述锁紧块从所述第二位置移动至第一位置时，所述锁紧块锁紧所述限位块，拧紧所述固定件，使所述限位块固定在所述底座上。

在至少一个方式中，所述限位块的一侧壁为圆弧侧壁。

在至少一个方式中，所述限位块设有与所述固定件对应的第一通孔，所述第一通孔设有预定长度，所述限位块在所述底座上转动时，所述固定件在所述第一通孔中的位置也相对改变。

在至少一个方式中，所述锁紧块在与所述限位块对应的侧壁上设有紧固件；

当所述锁紧块锁紧所述限位块时，所述紧固件抵持于所述限位块上；当所述锁紧块解锁所述限位块时，所述紧固件脱离所述限位块。

在至少一个方式中，所述锁紧块包括第一锁紧部及与所述第一锁紧部连接的第二锁紧部，所述紧固件设于所述第一锁紧部上，所述锁紧块通过所述第一锁紧部与所述限位块相配合，以锁紧所述限位块；所述锁紧块通过所述第二锁紧部固定于所述底座上。

在至少一个方式中，所述第二锁紧部设有第二通孔，所述第二锁紧部通过一锁紧件穿过所述第二通孔锁紧于所述底座上。

在至少一个方式中，所述限位块上设有第三通孔，所述测试治具还包括有能够与所述第三通孔相配合的定位柱；

当所述限位块设于所述底座上时，所述限位块通过所述定位柱凸伸入所述第三通孔中，以使所述限位块固定于所述底座上的初始位置处；当要调节所述限位块时，将所述定位柱从所述第三通孔中取出，以使所述限位块能够解锁于所述初始位置。

在至少一个方式中，所述限位块上还设有一固定部，所述固定部用于固定需要被测试的产品。

在至少一个方式中，所述测试治具还包括与所述底座连接的盖板；当所述测试治具检测产品时，所述盖板与所述底座盖合，以固定置于所述底座上的产品。

在至少一个方式中，所述测试治具还包括调节块，所述调节块设于所述限位块的一侧并用于抵持所述限位块；当所述限位块的形状发生改变时，所述调节块的形状对应的进行调整，以能够继续抵持所述限位块。

通过采用测试治具，所述测试治具包括底座及可调结构，所述可调结构包括限位块、锁紧块及固定件，所述限位块设于所述底座上，所述锁紧块设于所述底座上且位于所述限位块边缘，所述锁紧块抵持于所述限位块边缘以锁紧所述限位块，所述固定件设于所述限位块上，以将所述限位块固定在所述底座上，通过调整所述锁紧块和所述固定件，使得所述限位块能够在所述底座上转动或固定，以此来微调所述测试治具。通过采用上述的测试治具，使所述限位块的调节更加方便，更加稳定的固定在所述底座上，能够更好的对设于测试治具上的产品进行检测。

附图说明

图1为测试治具的立体图。

图2为测试治具的锁紧块脱离所述限位块的立体图。

图3为测试治具的分解图。

图4为测试治具的俯视图。

主要元件符号说明

测试治具 100

底座 1

收容腔 11

限位部 12

定位槽 13

凸伸柱 14

调节块 15

电路板 16

可调结构 2

限位块 20

圆弧侧壁 201

第一通孔 202

第三通孔 203

固定部 204

锁紧块 30

第一锁紧部 31

第二锁紧部 32

第二通孔 321

紧固件 33

固定件 40

定位柱 50

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“顶”、“底”、“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。

请参阅图1，提供一种测试治具100，用于调整产品的位置，进一步地，是检测产品的镜头中心，如手机的镜头中心。所述测试治具100包括盖板(图为标示)及与所述盖板连接的底座1，所述测试治具100还包括可调结构2，所述可调结构2设于所述底座1上。

请参阅图1和图2，所述可调结构2包括限位块20、锁紧块30及固定件40。所述限位块20设于所述底座1上，所述锁紧块30设于所述底座1上且位于所述限位块20的边缘，所述锁紧块30抵持于所述限位块20边缘以锁紧所述限位块20，所述固定件40设于所述限位块20上，以将所述限位块20固定在所述底座1上。

将所述锁紧块30从第一位置移动至第二位置时，所述锁紧块30解锁所述限位块20，并松开所述固定件40，使所述限位块20在所述底座1上转动预定角度；所述限位块20转动预定角度后，将所述锁紧块30从所述第二位置移动至所述第一位置时，所述锁紧块30锁紧所述限位块20，拧紧所述固定件40，使所述限位块20固定在所述底座1上。

可以理解的是，所述第一位置为所述锁紧块30抵持于所述限位块20时的位置，所述第二位置为所述锁紧块30脱离所述限位块20时的位置。

请参阅图3和图4，所述底座1大致为长方体结构，所述底座1的上端面的边缘位置处设有多个限位部12，所述多个限位部12围成一收容腔11，所述收容腔11用于收容所述限位块20。所述限位部12在靠近所述限位块20的边缘轮廓与所述限位块20的边缘轮廓相适配，并且所述限位部12可用于限制所述锁紧块30向左右方向移动。所述限位部12固定在所述底座1上，所述底座1还包括定位槽13及凸伸出所述底座1上端面的凸伸柱14，所述定位槽13和所述凸伸柱14用于与所述盖板相匹配。当所述盖板盖合于所述底座1上时，所述底座1可以通过所述凸伸柱14凸伸入所述盖板中进行定位，所述盖板上的定位杆(图未标示)可与所述定位槽13相适配，以将所述盖板和所述底座1准确定位并盖合。可以理解的是，在一些实施方式中，所述限位部12可与所述底座1设计为一体成型，所述盖板和所述底座1的定位方式也不限于此。

请参阅图3和图4，并以图4俯视图的角度来说明，所述限位块20上端边缘和左右两端边缘为大致呈直线状，所述限位块20的下端侧壁为一圆弧侧壁201。通过所述圆弧侧壁201和所述限位块20其他边缘的大致形状，使得所述限位块20大致呈一扇形。与所述圆弧侧壁201相对应的限位部12也大致呈圆弧状。所述限位块20通过所述圆弧侧壁201能够沿所述圆弧侧壁201的方向转动预定角度。

所述限位块20上开设有第一通孔202和固定部204。具体地，所述限位块20上开设有5个所述第一通孔202且所述第一通孔202设有预定长度。其中，三个所述第一通孔202设于所述限位块20的左侧，两个所述第一通孔202设于所述限位块20的右侧。所述固定件40设于所述第一通孔202中且固定于所述底座1上，所述限位块20在所述底座1上转动时，所述固定件40在所述第一通孔202中的位置也相对改变。进一步地，所述固定件40为调节螺丝。所述固定部204大致设于所述限位块20的中心位置，所述固定部204的下端设有真空吸管(图未标示)，并通过真空吸附的方式将产品吸附于所述固定部204上，以通过调整所述限位块20，从而调整置于所述限位块20上的产品的镜头中心。

优选的，在一些实施方式中，所述限位块20在设有第一通孔202的端面上还设有3个第三通孔203。进一步地，所述第三通孔203设于所述第一通孔202的右侧且与设于所述限位块20左侧的3个第一通孔202大致相对应。所述测试治具还包括能够与所述第三通孔203相配合的定位柱50。当所述限位块20设于所述底座1上时，所述限位块20通过所述定位柱50凸伸入所述第三通孔203中，以使所述限位块20固定在所述底座1上的初始位置处。当要调整所述限位块20时，将所述定位柱50从所述第三通孔203中取出，以使所述限位块20能够解锁于所述初始位置，从而可调整所述限位块20。可以理解的是，所述定位柱50将所述限位块20固定在初始位置处，使得所述限位块20在进行转动时也可以参照初始位置。

可以理解的是，在另一些实施方式中，所述限位块20上的第一通孔202和第三通孔203，以及所述定位柱50的数量和位置可按照所述测试治具100的具体需要进行设计，不限于上述实施方式中的内容。

请参阅图3和图4，同样结合图4俯视图的角度来说明，具体地，所述测试治具100包括4个所述锁紧块30。进一步地，4个所述锁紧块30分别设于所述限位块20的上下端和左右端。所述锁紧块30朝向所述限位块20一侧壁的其他侧壁大致与所述限位部12相接触，但所述锁紧块30朝所述限位块20的方向是可以移动的，以能够固定或解锁所述限位块20。

所述锁紧块30包括第一锁紧部31及与所述第一锁紧部31连接的第二锁紧部32，并且所述第一锁紧部31与所述第二锁紧部32大致垂直设置。所述第一锁紧部31朝向所述限位块20的侧壁上设有紧固件33，当所述锁紧块30固定所述限位块20时，所述紧固件33抵持于所述限位块20的侧壁上；当要调整所述限位块20时，所述紧固件33脱离出所述限位块20。进一步地，每一所述第一锁紧部31上设有两个所述紧固件33，所述紧固件33为几米螺丝。

所述第二锁紧部32朝所述底座1的方向上设有第二通孔321，所述第二锁紧部32通过一锁紧件(图未标示)穿过所述第二通孔321锁紧于所述底座1上。进一步地，所述第二通孔321为台阶孔。所述锁紧块30通过所述第一锁紧部31与所述限位块20相配合，以锁紧所述限位块20，并且，所述锁紧块30通过所述第二锁紧部32固定在所述底座1上。

请再参阅图1至图4，将所述限位块20固定在所述底座1上时，所述固定件40置于所述第一通孔202中并固定于所述底座1上，所述定位柱50置于所述第三通孔203中，所述锁紧块30位于所述第一位置处，且所述紧固件33抵持于所述限位块20的侧壁上，以锁紧所述限位块20，所述定位柱50使所述限位块20定位于一初始位置处。所述产品的镜头中心置于所述固定部204上。

在一实施方式中，所述测试治具100与一检测装置(图未标示)连接，当所述检测装置检测到置于所述固定部204上产品的镜头中心没有对准时，需要通过测试治具100进行调整。此时，将所述锁紧块30从所述第一位置处移动至所述第二位置处时，使得所述紧固件33脱离于所述限位块20的侧壁，将置于所述限位块20上的定位柱50从所述第三通孔203中取出后，将设于所述限位块20且固定于所述底座1上的固定件40拧松，然后转动所述限位块20至预定角度，以实现所述可调结构2进行微调，转动至产品的镜头中心对准检测机构后。再将所述锁紧块30从所述第二位置处移动至第一位置处，使得所述锁紧固件33抵持于所述限位块20的侧壁上，以锁紧所述限位块20，再将所述固定件40拧紧于所述底座1上，以能够沿大致垂直于所述限位块20的方向固定所述限位块20。

请参阅图3和图4，在一些实施例中，所述底座1上还包括一些其他构件，如调节块15及设于所述底座1下端的电路板16。具体地，在一实施例中，所述测试治具100包括两个所述调节块15，所述调节块15可拆卸的设于所述底座1上并位于所述限位块20的一侧，其中一所述调节块15的一端对应所述限位块20，以能够抵持所述限位块20，避免所述限位块20出现大幅度的偏转。另一所述调节块15与靠近所述限位块20的调节块15大致垂直设置，以抵持靠近所述限位块20的调节块15。所述限位块20通过设于所述底座1上的两所述调节块15更加稳定的设于所述底座1上。进一步地，当所述限位块20为了固定其他产品而需要更换形状时，所述调节块15对应的调整形状，以能够继续抵持所述限位块20，无需使得所述测试治具100进行大幅度的更换。所述调节块15还用于将所述电路板16固定在所述底座1的下端。可以理解的是，所述调节块15可以通过螺钉固定在所述底座1上，也可以通过其他方式固定在所述底座1上，如真空吸附或定位柱等。

综上所述，本发明实施方式中提供测试治具100通过所述可调结构2能够进行微调，以更好的将需要进行测试的产品与检测机构对准。具体的，所述可调结构2在所述第一位置和所述第二位置对所述锁紧块30进行切换，同时配合所述固定件40及定位柱50对所述限位块20进行固定或松开，从而使得所述限位块20能够固定于所述底座1上或在所述底座1进行转动，从而微调置于所述限位块20上的产品的镜头中心。这样一来，调整所述限位块20变得更加简便，并且调整好一段时间进行测试后，所述限位块20也不会出现再次跑偏，造成测试异常的情况。

另外，本技术领域的普通技术人员应当认识到，以上的实施方式仅是用来说明本发明，而并非用作为对本发明的限定，只要在本发明的实质精神范围之内，对以上实施例所作的适当改变和变化都落在本发明要求保护的范围之内。

Claims (10)

1.一种测试治具，用于调整产品的位置，包括底座，其特征在于：所述测试治具还包括可调结构，所述可调结构包括限位块、锁紧块及固定件，所述限位块设于所述底座上，所述锁紧块设于所述底座上且位于所述限位块边缘，所述锁紧块抵持于所述限位块边缘以锁紧所述限位块，所述固定件设于所述限位块上，以将所述限位块固定在所述底座上；

将所述锁紧块从第一位置移动至第二位置时，所述锁紧块解锁所述限位块，并松开所述固定件，使所述限位块在所述底座上转动预定角度；所述限位块转动预定角度后，将所述锁紧块从所述第二位置移动至第一位置时，所述锁紧块锁紧所述限位块，拧紧所述固定件，使所述限位块固定在所述底座上。

2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于：所述限位块的一侧壁为圆弧侧壁。

3.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于：所述限位块设有与所述固定件对应的第一通孔，所述第一通孔设有预定长度，所述限位块在所述底座上转动时，所述固定件在所述第一通孔中的位置也相对改变。

4.如权利要求3所述的测试治具，其特征在于：所述锁紧块在与所述限位块对应的侧壁上设有紧固件；

当所述锁紧块锁紧所述限位块时，所述紧固件抵持于所述限位块上；当所述锁紧块解锁所述限位块时，所述紧固件脱离所述限位块。

5.如权利要求4所述的测试治具，其特征在于：所述锁紧块包括第一锁紧部及与所述第一锁紧部连接的第二锁紧部，所述紧固件设于所述第一锁紧部上，所述锁紧块通过所述第一锁紧部与所述限位块相配合，以锁紧所述限位块；所述锁紧块通过所述第二锁紧部固定于所述底座上。

6.如权利要求5所述的测试治具，其特征在于：所述第二锁紧部设有第二通孔，所述第二锁紧部通过一锁紧件穿过所述第二通孔锁紧于所述底座上。

7.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于：所述限位块上设有第三通孔，所述测试治具还包括有能够与所述第三通孔相配合的定位柱；

当所述限位块设于所述底座上时，所述限位块通过所述定位柱凸伸入所述第三通孔中，以使所述限位块固定于所述底座上的初始位置处；当要调节所述限位块时，将所述定位柱从所述第三通孔中取出，以使所述限位块能够解锁于所述初始位置。

8.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于：所述限位块上还设有一固定部，所述固定部用于固定需要被测试的产品。

9.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于：所述测试治具还包括与所述底座连接的盖板；当所述测试治具检测产品时，所述盖板与所述底座盖合，以固定置于所述底座上的产品。

10.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于：所述测试治具还包括调节块，所述调节块设于所述限位块的一侧并用于抵持所述限位块；当所述限位块的形状发生改变时，所述调节块的形状对应的进行调整，以能够继续抵持所述限位块。

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