TWM457988U - 治具 - Google Patents
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Description
本創作係與治具有關,更詳而言之是指一種具有自由組裝功能之治具。
電子產品於研發、製造以及出廠前,皆會進行相關之檢測作業,以確保電子產品功能正常。
一般研發與製造階段之測試時,電子產品多屬裸板之狀態,即內部相關之電路與元件並未以外殼包覆而暴露於外,以方便研發人員進行相關之測試,但為避免電子產品與他物接觸造成短路或訊號干擾,多將裸板放置於一治具上後,再進行後續之測試作業。
然而,各種電子產品之功能以及外型皆不盡相同,而使其電路設計、裸板大小以及元件位置亦會有所不同,故研發人員則須個別開模製作不同之治具,以供不同的電子產品置放。但隨著科技的進步,許多電子產品推出後,就可能需改版或下市,使其原先所用之治具無法再延續使用。不僅造成材料的浪費,更造成研發成本的提升。
有鑑於此,本創作提供一種治具,可依需求自由排列組裝,而可供不同待測之電子產品設置。
本創作所提供之治具用以設置待測裝置;治具包含有一基板、一承載件以及一鎖固件,其中,基板具有複數個定位孔;承載件具有至少一穿孔及一作用部,其中作用部係用以設置待測裝置;鎖固件穿設於穿孔及定位孔,用以固定承載件於基板上。
藉此,透過上述承載件可依需求自由排列組裝於基板上之設計,使治具供不同之待測電子產品置放。
為更清楚地說明本創作,茲舉較佳實施例並配合圖示詳細說明如後。
參閱圖1及圖2,本創作之治具供一待測裝置100放置。
治具包含有一基板10、複數種承載件以及複數個鎖固件40,承載件用以設置待測裝置100,鎖固件40穿設於承載件,使承載件固定於基板10上。其中:基板10上具有複數個定位孔12。於本實施例中,等些定位孔12分別為一螺孔,但本創作不以此為限,於其他實施例亦可是一凹槽或貫孔,且本創作並不限制此等定位孔12之孔徑、形狀、分佈數量或分布位置;本創作亦不限制基板10的尺寸、外型、厚度或材質。
承載件分別包含有一中介座20以及一作用件31~34。請參閱圖3,於本實施例中,各中介座20具有一定高度,且具有
一第一結合部22以及四個穿孔24。於本實施例中,第一結合部22為一螺孔,且位於中介座20之中央位置處,但本創作不以此為限,於其他實施例亦可是一凹槽,且其設置位置亦可設於中介座20之一端處。值得注意的是,本創作之承載件所包含的中介座20與作用件31~34,可以是一體成形地組成承載件,即中介座20與作用件31~34均是承載件不可分離的一部份,或者是,本創作的承載件所包含的中介座20與作用件31~34,也可以是獨立的構件,且更以結合部的結構組成承載件,而於本實施例中為求詳細說明細部結構特徵,僅以獨立的中介座20與作用件31~34作為說明。
另外,本實施例之中介座20的各穿孔24則分別呈自第一結合部22向外延伸之長條型,並貫通中介座20之上下兩側,供鎖固件40穿設於其中,且中介座20具有四個自該第一結合部22對應各穿孔24分布而向外延伸之延伸部26,而各穿孔24則分別對應位於各延伸部26上,而以第一結合部22為中心環繞該第一結合部22而呈放射狀排列,使得本實施例之中介座20依據此等延伸部26之設計而呈現十字形狀,但本創作之中介座20結構並不以此為限,如前所述,本創作之承載件所包含的中介座20與作用件31~34,也可以是一體成形地組成承載件,因此,本創作另一實施例之承載件的各穿孔24則分別呈自中介座20與作用件31~34結合處向外延伸之長條型穿孔24於承載件上,並進一步可以形成對應各穿孔24分布而
向外延伸之延伸部26,而且,本創作對於穿孔24之數量與結構,亦不以此為限,並將於後續說明不同結構態樣的中介座20。
另外,於本實施例中,中介座20於各穿孔24旁更設置有一刻度標示28,用以標示鎖固件40穿設於承載件之各穿孔24之位置,而使得每次安裝治具時或是同時安裝數個治具時,各中介座20的設置位置都能一致,進而提升安裝作業之精準度與一致性。
請參閱圖4,於本實施例中,此等作用件31~34皆呈方柱狀,但本創作不以此為限,於其他實施例亦可是圓柱狀或是其他形狀。各作用件31~34之一端具有一第二結合部35,而相反之另一端則具有一作用部。於本實施例中,第二結合部35為一螺桿,但本創作不以此為限,於其他實施例亦可是一卡榫。
值得說明的是,本創作之第一結合部22與第二結合部35的對應結合的結構態樣並不以上述為限,於本創作的另一實施例中,第一結合部22亦可以是一螺桿或一卡榫,而第二結合部35則可以是一螺孔或一凹槽。
另外,此等作用件31~34依其作用部形狀與作用之不同,而區分成一第一作用件31、一第二作用件32、一第三作用件33以及一第四作用件34。其中,第一作用件31之作用部為一呈錐狀且以絕緣材料製成之頂針311,因為在一般電路板上多有供螺絲穿設之開孔,以使電路板可以固設於其產品的外殼
上,此頂針311即可穿設於此等開孔以固定電路板。第二作用件32之作用部為一呈柱狀之凸桿321,如前述,此凸桿321同樣具有支持固定的功效,特別是較大面積之電路板,為避免受壓力而毀損,於其中的位置可以此凸桿321加以支撐。第三作用件33之作用部為一自頂部邊緣凹入之嵌槽331,此嵌槽331即可設置於電路板之邊緣以固定電路板之位置,以避免滑動等位移發生。第四作用件34之作用部為一貫通作用件兩側之通孔341,此通孔341可供相關線路,如電源線或訊號線等穿設固定,使相關線路的分佈設置更穩固,也增加治具所架設之整體測試環境的明確安定,避免繁雜線路的不便;但本創作之作用部並不以此為限,即本創作之作用件類型,於其他實施例亦可是針對不同測試用途之其他類型作用件,例如一夾具。
各鎖固件40於本實施例中為一螺栓,但本創作不以此為限,於其他實施例亦可是一螺絲或鉚釘。
藉此,當研發人員欲對待測裝置100進行檢測,而需將待測裝置100置放於治具上時,則依據待測裝置100之開孔102、大小以及線材110之位置,將等些承載件分別置放於基板10上對應之位置處。換言之,即是將等些作用件31~34的第二結合部35與對應之中介座20的第一結合部22結合組成承載件,使各作用件31~34設置於對應其功能之位置上。舉例來說,請參閱圖1及圖2,當待測裝置100置放於治具上時,第一作用件31之頂針311穿設於該待測裝置100之開孔102、
第二作用件32之凸桿321頂抵於該待測裝置100之底面、第三作用件33之嵌槽331與該待測裝置100之邊緣結合、而第四作用件34之通孔341則可供該待測裝置100之線材110放置。
之後,將一個或多個鎖固件40穿過各中介座20之穿孔24,並與對應之定位孔12結合,將各中介座20固定於基板10上,而透過於穿孔24旁之刻度標示28的設計,可做為每個鎖固件40固定中介座20時之位置指示,而使得每次安裝治具時,各中介座20的位置都能一致,進而提升安裝作業之精準度,且將此等中介座20之位置固定後,即完成測試治具之架設,便可將待測裝置100置放於此等中介座20上之作用件31~34上進行後續之測試。另外,若設置待測裝置100時,發現因為其中幾個作用件31~34有些許偏移,而無法準確地與待測裝置100接抵時,研發人員更可透過將對應之該鎖固件30鬆解,使中介座20如圖5或圖6所示般,藉其十字形狀與穿孔24呈長條型之設計,而可於該基板10上做一定範圍內移動以調整其位置,進而帶動其上之各作用件31~34調整位置,進而確保等些作用件31~34皆能位於最準確地位置上,值得說明的是,由於本創作之穿孔24之延伸形成或延伸分佈的設計,使得本創作之一實施例中,中介座20具有向外延伸之延伸部26,因此在實際應用上,即使待測裝置100仍放置而覆蓋於承載件上,但鄰近待測裝置100周圍的承載件之延伸部26,則
仍會顯露於待測裝置100覆蓋之外,此時研發人員即可直接鎖固與鬆解此突出而眼露於外的延伸部26之穿孔24上的鎖固件40,以調整此承載件之位置,不僅避免必須先移除待測裝置100方可調整承載件位置之不便,同時在待測裝置100仍設置於其上的情形下,直接調整位置更提升其準確性。
而後,若研發人員須進行其它類型之待測裝置的檢測時,則將等些中介座20、作用件31~34、鎖固件40拆離基板10,再將其重新於基板10上組裝與排列,而位於對應其他待測裝置之位置上即可。
透過本創作治具之設計,便可使研發人員可依不同需求自由地排列組裝,而可供不同電子產品置放,如此一來,便不須針對不同的待測裝置製作測試治具,除不會造成材料的浪費外,亦可大幅地降低研發成本之支出,更同時兼顧架設測試環境的一致性與正確性。
必須說明的是,以上所述僅為本創作其中一種較佳之實施例而已,本創作並不以此為限。如前所述,本創作之中介座20並不限於前述態樣,除使用具有四個穿孔24之中介座20外,請參閱圖7,亦可設計使用具有一個、兩個、三個或其他數量穿孔之中介座51~53,且中介座對應延伸部所形成之形狀除十字形狀外,亦可依穿孔之數量或位置變化等需求而有所不同。另外,本創作中介座之穿孔如前述為長條型之設計外,亦可使用不同形狀的設計,如中介座54使用用曲折形之穿孔
541,或如中介座55般,其等些穿孔551僅呈單一圓孔形而不伸展,但沿延伸部方向排列分佈之設計,抑或是如中介座56及中介座57之穿孔般,混合使用長條形與圓形之穿孔561、562、571、572,亦能達到本創作之目的。再者,本創作之中介座之形狀並不以前述中介座20、51~57之形狀為限,即本創作之中介座的形狀並不限於必須對應穿孔延伸或分布的方向,亦可如本創作另一實施例之中介座58般之圓柱形、中介座59般之方柱形、或是其他可行之形狀。
值得一提的是,為因應各種待測裝置之不同,請參閱圖8,本創作之一實施例之作用件60更包含有一本體61及數個延伸件62,該本體61上具有用以設置該待測裝置之作用部611,並透過單一延伸件62與本體61連接、或是多個延伸件62串接後再與本體61連接之方式改變作用件60之高度,來達到穩固地固定待測裝置之目的。另外,當單一延伸件62一端與本體61連接時,該延伸件62另一端則成為用以與中介座連接之第二結合部621。而當多個延伸件62串接時,則位於末端之延伸件62的另一端成為用以與中介座連接之第二結合部621。除上述方式之外,本創作之一實施例亦可如圖9所示,利用堆疊數個中介座20之方式來改變高度而達到前述之相同目的。又,以上所述之定位孔12與鎖固件40、第一結合部22與第二結合部35之結合方式除使用螺孔與螺桿外,亦可使用如穿孔與插銷、滑軌與滑套等方式結合來達到相同之固定目
的,且舉凡應用本創作說明書及申請專利範圍所為之等效結構變化,理應包含在本創作之專利範圍內。
10‧‧‧基板
12‧‧‧孔
20‧‧‧中介座
22‧‧‧第一結合部
24‧‧‧穿孔
26‧‧‧延伸部
28‧‧‧刻度標示
31~34‧‧‧作用件
35‧‧‧第二結合部
311‧‧‧頂針
321‧‧‧凸桿
331‧‧‧嵌槽
341‧‧‧通孔
40‧‧‧鎖固件
51~59‧‧‧中介座
541、551、561、562、571、572‧‧‧穿孔
60‧‧‧作用件
61‧‧‧本體
611‧‧‧作用部
62‧‧‧延伸件
621‧‧‧第二結合部
100‧‧‧待測裝置
102‧‧‧開孔
110‧‧‧線材
圖1為本創作一較佳實施例之分解圖;圖2為本創作一較佳實施例之立體圖;圖3為本創作一較佳實施例中介座之立體圖;圖4為本創作一較佳實施例作用件之立體圖;圖5與圖6揭示中介座可於基板上小幅度地調整其位置;圖7揭示其它可用之中介座;圖8揭示可改變高度之作用件結構;圖9揭示可堆疊中介座來達到需求之使用高度。
10‧‧‧基板
12‧‧‧孔
20‧‧‧中介座
22‧‧‧第一結合部
24‧‧‧穿孔
31~34‧‧‧作用件
35‧‧‧第二結合部
311‧‧‧頂針
321‧‧‧凸桿
331‧‧‧嵌槽
341‧‧‧通孔
40‧‧‧鎖固件
100‧‧‧待測裝置
102‧‧‧開孔
110‧‧‧線材
Claims (11)
- 一種治具,用以設置一待測裝置;治具包含有:一基板,具有複數個定位孔;一承載件,具有至少一穿孔及一作用部,其中該作用部係用以設置該待測裝置;以及一鎖固件,穿設於該穿孔及該等定位孔之一中,固定該承載件於該基板上。
- 如請求項1所述之治具,其中,該承載件包含有一中介座及一作用件,且該作用件連接於該中介座上,該至少一穿孔位於該中介座上,且該作用部位於該作用件上。
- 如請求項2所述之治具,其中,該至少一穿孔為自該中介座與該作用件連接之一側向該中介座之周緣延伸之長條形孔。
- 如請求項2所述之治具,其中,該中介座及該作用件分別具有一第一結合部和一第二結合部,且該第一結合部結合於該第二結合部上。
- 如請求項4所述之治具,其中,該至少一穿孔為自該第一結合部之一側向該中介座之周緣延伸之長條形孔。
- 如請求項5所述之治具,其中,該中介座具有自該第一結合部向外延伸之至少一延伸部,且該至少一穿孔設於該延伸部上。
- 如請求項3所述之治具,其中,該中介座具有自該中介座與該作用件連接處向外延伸之至少一延伸部,且該至少一穿孔設於該延伸部上。
- 如請求項6所述之治具,其中,該中介座上設有一刻度標示於該穿孔旁。
- 如請求項7所述之治具,其中,該中介座上設有一刻度標示於該穿孔旁。
- 如請求項8所述之治具,其中,該作用件包含有一本體及結合於該本體上之至少一延伸件;該作用部位於該本體上,且該第二結合部位於該延伸件上。
- 如請求項10所述之治具,其中,該至少一延伸件為複數個軸向串接之延伸件,且該第二結合部位於最末端之延伸件上。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW102200187U TWM457988U (zh) | 2013-01-04 | 2013-01-04 | 治具 |
CN 201320146847 CN203204023U (zh) | 2013-01-04 | 2013-03-28 | 治具 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW102200187U TWM457988U (zh) | 2013-01-04 | 2013-01-04 | 治具 |
Publications (1)
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TWM457988U true TWM457988U (zh) | 2013-07-21 |
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Family Applications (1)
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TW102200187U TWM457988U (zh) | 2013-01-04 | 2013-01-04 | 治具 |
Country Status (2)
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CN (1) | CN203204023U (zh) |
TW (1) | TWM457988U (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI724468B (zh) * | 2019-05-16 | 2021-04-11 | 新煒科技有限公司 | 測試治具 |
-
2013
- 2013-01-04 TW TW102200187U patent/TWM457988U/zh not_active IP Right Cessation
- 2013-03-28 CN CN 201320146847 patent/CN203204023U/zh not_active Expired - Fee Related
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TWI724468B (zh) * | 2019-05-16 | 2021-04-11 | 新煒科技有限公司 | 測試治具 |
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CN203204023U (zh) | 2013-09-18 |
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