TWI464338B - 測試治具 - Google Patents

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TWI464338B
TWI464338B TW100144295A TW100144295A TWI464338B TW I464338 B TWI464338 B TW I464338B TW 100144295 A TW100144295 A TW 100144295A TW 100144295 A TW100144295 A TW 100144295A TW I464338 B TWI464338 B TW I464338B
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yu-lan Liu
chang-jun Li
wei-min Qin
Yu-Lin Liu
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Hon Hai Prec Ind Co Ltd
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M7/00Vibration-testing of structures; Shock-testing of structures
    • G01M7/02Vibration-testing by means of a shake table
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
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    • G01M7/02Vibration-testing by means of a shake table
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Devices For Use In Laboratory Experiments (AREA)

Description

測試治具
本發明涉及一種治具,特別是指一種可固定不同型號待測產品之測試治具。
於個人電腦主機、筆記本等電子產品出貨前,均必須進行振動及衝擊測試,以檢測於進行了一定次數和強度之振動之後,電子產品是否還能正常工作。測試時,一般是將電子產品放於測試平臺上。該測試平臺上安裝有用以夾持待測電子產品之治具。目前之夾持治具包括有安裝於平臺上之支撐部及安裝於支撐部上之掛盤。固定所述待測電子產品時,將待測電子產品固定藉由螺絲鎖固方式固定於掛盤上,然而掛盤上之鎖螺絲之螺絲孔位置不能改變,不能用於對不同型號之產品進行測試。
鑒於以上內容,有必要提供一種通用性強之測試治具。
一種測試治具,用以固定待測產品,包括有平臺、支撐件及掛盤,所述掛盤藉由所述支撐件固定於所述平臺上,所述測試治具還包括有活動桿,所述掛盤設有收容孔及承載部,所述活動桿設有卡槽及卡鉤,所述卡鉤滑動卡扣於所述收容孔之邊緣上,所述活動桿樞轉固定於所述承載部上,固定件卡於所述卡槽中,藉由所述活動桿之轉動和/或所述固定件之滑動能夠使所述固定件插入 開設於待測產品上之通孔中。
與習知技術相比,藉由調節緊固件於卡槽上之位置和/或調節卡鉤於收容孔上之之位置,可使緊固件對齊所述待測產品上之通孔,就可以固定不同待測產品,很方便。
10‧‧‧平臺
20‧‧‧支撐件
21‧‧‧支撐部
211‧‧‧連接孔
2111‧‧‧安裝孔
213‧‧‧固定孔
23‧‧‧安裝部
30‧‧‧活動桿
31‧‧‧卡槽
311‧‧‧卡孔
313‧‧‧卡鉤
50‧‧‧掛盤
51‧‧‧收容孔
511‧‧‧凸緣
53‧‧‧承載部
531‧‧‧承載孔
55‧‧‧定位孔
60‧‧‧緊固件
70‧‧‧待測產品
71‧‧‧通孔
80‧‧‧固定件
90‧‧‧鎖固件
圖1是本發明測試治具之一較佳實施方式與一待測產品之立體分解圖。
圖2是圖1之一立體組裝圖。
圖3是圖1中支撐件之串聯後之一立體圖。
圖4是圖1之另一立體分解圖。
圖5是圖4之一立體組裝圖。
請參閱圖1,於本發明之一較佳實施方式中,一測試治具包括有一平臺10、四支撐件20、四活動桿30、及一掛盤50。於一實施方式中,所述測試治具可用於固定一待測產品70或者其他待測產品;所述平臺10大致呈一正方形板體。所述待測產品70上開設有四通孔71。於一實施方式中,依次連接所述四通孔71所於位置大致呈正方形。
所述平臺10開設有四限位孔11。於一實施方式中,依次連接所述四限位孔11所於位置大致呈正方形。
每一支撐件20包括有一支撐部21、及一設於所述支撐部21上之安裝部23。於一實施方式中,所述支撐部21大致呈一長方體;所述 安裝部23大致呈一圓柱體。所述支撐部21於與所述安裝部23相對之一端開設有一連接孔211、並於所述連接孔211中開設有一貫穿所述安裝部23之安裝孔2111(見圖3)。其中兩支撐件20上分別於其支撐部21上還開設有一固定孔213。
每一活動桿30上開設有一卡槽31,並於所述卡槽31一端開設有一卡孔311、另一端設有一卡鉤313。
請繼續參照圖1及圖4,所述掛盤50大致呈一正方形板體,並開設有四收容孔51。於一實施方式中,所述四收容孔51均大致呈扇形;依次連接所述四收容孔51之外緣大致呈一圓形。所述掛盤50設有一承載部53,並大致位於所述四收容孔51之間之中央位置。於一實施方式中,所述承載部53大致呈一圓形。所述承載部53對應每一收容孔51開設有一承載孔531。所述掛盤50之四個頂角處分別開設有一定位孔55。所述四收容孔51之外側邊緣分別向內設有凸緣511(見圖2)。
組裝時,將一所述活動桿30安裝到所述掛盤50上時,將所述活動桿30一端上之卡鉤313滑動卡於一收容孔51之凸緣511上,另一端之卡孔311對齊與所述收容孔51對應之承載孔531,並藉由一緊固件60鎖入所述卡孔311及所述承載孔531,從而將一所述活動桿30樞轉固定於所述掛盤50上。藉由同樣之方法,將剩下之活動桿30對應樞轉固定於所述掛盤50上。
將待測產品70安裝到上述組裝好之活動桿30及掛盤50上時,先將所述活動桿30及掛盤50放置於所述待測產品70上,並使一固定件80卡於一所述活動桿30之卡槽31中,藉由於所述卡槽31中滑動所述固定件80,從而使所述固定件80對其所述待測產品70上之一通 孔71,並鎖入所述通孔71,藉由同樣之方法,使用三固定件80鎖入所述卡槽31及通孔71,由此,將所述待測產品70固定於所述活動桿30上。
請參照圖1及圖2,當需要對所述待測產品70進行水平方向上之測試時,將所述四支撐件20分別放置於所述平臺10之限位孔(圖未示)上,再將上述組裝好之待測產品70、活動桿30及掛盤50水平放置到所述四支撐件20之上方,且使掛盤50上之四定位孔55分別對齊所述四支撐件20上之安裝孔2111,再使用一鎖固件90鎖入所述掛盤50上之定位孔55、一支撐件20之安裝孔2111、及平臺10上之限位孔。這時,所述掛盤50平行於所述平臺10,且所述待測產品70位於所述平臺10及所述掛盤50之間。由此,將所述待測產品70固定於所述平臺10上,等待水平方向之測試。
請參照圖4及圖5,當需要對所述待測產品70進行垂直方向上之測試時,先將所述四支撐件20藉由所述連接孔211依次串接於一起,且具有固定孔213之兩支撐件20分別位於兩端,再將上述組裝有活動桿30及待測產品70之掛盤50垂直放置於所述平臺10上,並將串接好之四支撐件20放置於所述掛盤50之上方,使用一鎖固件90穿過一固定孔213再鎖入平臺10上之限位孔上,使用另一鎖固件90鎖入另一端支撐件20上之固定孔及平臺10上之限位孔,所述四支撐件20將所述掛盤50抵壓於所述平臺10上。於一實施方式中,所述兩固定孔213之間之距離大致等於所述兩鎖固件90之間之距離。這時,所述掛盤50垂直於所述平臺10,且所述待測產品70位於所述掛盤50一側。由此,將待測產品70固定於所述平臺10上,等待垂直方向之測試。
綜上所述,本發明確已符合發明專利要求,爰依法提出專利申請。惟,以上所述者僅為本發明之較佳實施方式,舉凡熟悉本發明技藝之人士,爰依本發明之精神所作之等效修飾或變化,皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
10‧‧‧平臺
20‧‧‧支撐件
30‧‧‧活動桿
31‧‧‧卡槽
50‧‧‧掛盤
511‧‧‧凸緣
53‧‧‧承載部
70‧‧‧待測產品
90‧‧‧鎖固件

Claims (10)

  1. 一種測試治具,用以固定待測產品,包括有平臺、支撐件及掛盤,所述掛盤藉由所述支撐件固定於所述平臺上,其改進在於:所述測試治具還包括有活動桿,所述掛盤設有收容孔及承載部,所述活動桿設有卡槽及卡鉤,所述卡鉤滑動卡扣於所述收容孔之邊緣上,所述活動桿樞轉固定於所述承載部上,固定件卡於所述卡槽中,藉由所述活動桿之轉動和/或所述固定件之滑動能夠使所述固定件插入開設於待測產品上之通孔中。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之測試治具,其中所述收容孔有四個,所述承載部大致位於所述四收容孔之間之中央位置。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之測試治具,其中所述收容孔大致呈扇形,且連接所述四收容孔之外緣大致組成一圓形。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之測試治具,其中所述收容孔於與所述承載部相對之邊緣設有凸緣,所述卡鉤滑動卡於所述凸緣上,所述活動桿開設有卡孔,所述承載部開設有承載孔,緊固件鎖入所述卡孔及所述承載孔而將所述活動桿樞轉固定於所述承載部上。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之測試治具,其中所述支撐件有四個,每一支撐件包括有支撐部、及設於所述支撐部上之安裝部,所述支撐部開設有連接孔、並於所述連接孔內開設有一貫穿所述安裝部之安裝孔。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之測試治具,其中所述掛盤開設有四定位孔,每一定位孔對應每一安裝孔,鎖固件穿過所述定位孔及所述安裝孔鎖入所述平臺之限位孔中。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之測試治具,其中所述掛盤平行於所述平臺。
  8. 如申請專利範圍第5項所述之測試治具,其中兩所述支撐件分別還開設有 固定孔,四所述支撐件藉由所述連接孔串接於一起,且具有固定孔之兩支撐件分別位於兩端,所述兩鎖固件分別穿過兩所述固定孔鎖入所述平臺而將所述掛盤抵壓於所述平臺上。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之測試治具,其中所述兩固定孔之間之距離大致等於所述兩鎖固件之間之距離。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之測試治具,其中所述掛盤垂直所述平臺。
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