CN111899231B - 显示面板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

显示面板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种显示面板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，所述方法通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据第一图像判断待检测显示面板是否存在缺陷；在待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像；通过第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和缺陷类别，并根据缺陷位置和缺陷类别生成缺陷检测结果；能够通过偏振相机对显示面板的缺陷区域进行粗定位，实现缺陷区域的快速搜索，不仅能提升微弱缺陷的检出能力，同时降低检测的时间消耗，使用显微镜加相机的方式能够提升缺陷检测的准确性，保证缺陷检出效果，有效提升了产能，提升客户良品率。

Description

显示面板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
技术领域
本发明涉及显示面板自动化检测领域，尤其涉及一种显示面板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
显示屏在生产或其他原因，出现不良的缺陷面板；产生的面板缺陷中，大部分缺陷都很明显，使用常规的光学方案能拍摄出缺陷；但是，存在极少数的亚微米级的缺陷，这类缺陷使用常规光学方案，无法拍摄到缺陷或者缺陷对比度不高容易漏检。
当显示面板中出现亚微米级的微弱缺陷时，常用显微镜取像，但是如果基于整个面板区域使用显微镜扫描，获取的图片将会非常大，还需要对获取的图片进行检测，往往需要大量的检测时间，虽然能拍摄并且检测到微弱缺陷，但存在巨大的时间消耗问题，这种检测方案因时间过长，无法在工程应用。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种显示面板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术中当显示面板中出现亚微米级的微弱缺陷时使用显微镜取像，检测时间过长，造成人力物力的浪费，且实用性不高的技术问题。
第一方面，本发明提供一种显示面板缺陷检测方法，所述显示面板缺陷检测方法包括以下步骤：
通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据所述第一图像判断所述待检测显示面板是否存在缺陷；
在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像；
通过所述第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，并根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果。
可选地，所述通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据所述第一图像判断所述待检测显示面板是否存在缺陷，包括：
通过偏振相机在不同偏振角度下获取待检测显示面板的第一图像；
对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果；
根据所述应力检测结果判断所述待检测显示面板是否存在缺陷。
可选地，所述对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果，包括：
从所述第一图像中提取不同偏振角度的图像特征，根据所述图像特征对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果。
可选地，所述根据所述应力检测结果判断所述待检测显示面板是否存在缺陷，包括：
在所述应力检测结果为所述第一图像中包含缺陷区域时，判定所述待检测显示面板存在缺陷；
在所述应力检测结果为所述第一图像中不包含缺陷区域时，判定所述待检测显示面板不存在缺陷。
可选地，所述在所述应力检测结果为所述第一图像中不包含缺陷区域时，判定所述待检测显示面板不存在缺陷之后，所述显示面板缺陷检测方法还包括：
确定所述待检测显示面板中的应力区域，并将所述应力区域从所述第一图像中过滤，并将过滤后的第一图像对应的待检测显示面板的面板区域作为无缺陷区域，结束当前检测操作。
可选地，所述通过所述第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，并根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果，包括：
基于深度学习对所述第二图像进行缺陷检测，获得二次缺陷检测结果，并根据所述二次缺陷检测结果进行二次缺陷判断，将所述第二图像中的非缺陷结果进行过滤，将过滤后的第二图像中的缺陷作为目标缺陷；
获取所述目标缺陷在所述第二图像中的相对坐标，根据所述相对坐标确定所述目标缺陷的缺陷位置；
获取所述目标缺陷对应的缺陷类型，根据所述缺陷类型确定所述目标缺陷的缺陷类别；
根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果。
可选地，所述在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像，包括：
在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过工业相机和显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行拍摄取像，获得第二图像。
第二方面，本发明还提出一种显示面板缺陷检测装置，所述显示面板缺陷检测装置包括：
缺陷判断模块，用于通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据所述第一图像判断所述待检测显示面板是否存在缺陷；
二次取像模块，用于在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像；
缺陷检测模块，用于通过所述第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，并根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果。
第三方面，本发明还提出一种显示面板缺陷检测设备，所述显示面板缺陷检测设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的显示面板缺陷检测程序，所述显示面板缺陷检测程序配置为实现如上文所述的显示面板缺陷检测方法的步骤。
第四方面，本发明还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有显示面板缺陷检测程序，所述显示面板缺陷检测程序被处理器执行时实现如上文所述的显示面板缺陷检测方法的步骤。
本发明提出的显示面板缺陷检测方法，通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据所述第一图像判断所述待检测显示面板是否存在缺陷；在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像；通过所述第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，并根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果；能够通过偏振相机对显示面板的缺陷区域进行粗定位，实现缺陷区域的快速搜索，不仅能提升微弱缺陷的检出能力，同时降低检测的时间消耗，使用显微镜加相机的方式能够提升缺陷检测的准确性，保证缺陷检出效果，有效提升了产能，提升客户良品率。
附图说明
图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的设备结构示意图；
图2为本发明显示面板缺陷检测方法第一实施例的流程示意图；
图3为本发明显示面板缺陷检测方法第二实施例的流程示意图；
图4为本发明显示面板缺陷检测方法第三实施例的流程示意图；
图5为本发明显示面板缺陷检测方法第四实施例的流程示意图；
图6为本发明显示面板缺陷检测方法第五实施例的流程示意图；
图7为本发明显示面板缺陷检测方法第六实施例的流程示意图；
图8为本发明显示面板缺陷检测装置第一实施例的功能模块图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明实施例的解决方案主要是：通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据所述第一图像判断所述待检测显示面板是否存在缺陷；在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像；通过所述第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，并根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果；能够通过偏振相机对显示面板的缺陷区域进行粗定位，实现缺陷区域的快速搜索，不仅能提升微弱缺陷的检出能力，同时降低检测的时间消耗，使用显微镜加相机的方式能够提升缺陷检测的准确性，保证缺陷检出效果，有效提升了产能，提升客户良品率，解决了现有技术中当显示面板中出现亚微米级的微弱缺陷时使用显微镜取像，检测时间过长，造成人力物力的浪费，且实用性不高的技术问题。
参照图1，图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的设备结构示意图。
如图1所示，该设备可以包括：处理器1001，例如CPU，通信总线1002、用户端接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户端接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户端接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如Wi-Fi接口)。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(Non-Volatile Memory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的设备结构并不构成对该设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
如图1所示，作为一种存储介质的存储器1005中可以包括操作装置、网络通信模块、用户端接口模块以及显示面板缺陷检测程序。
本发明设备通过处理器1001调用存储器1005中存储的显示面板缺陷检测程序，并执行以下操作：
通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据所述第一图像判断所述待检测显示面板是否存在缺陷；
在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像；
通过所述第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，并根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的显示面板缺陷检测程序，还执行以下操作：
通过偏振相机在不同偏振角度下获取待检测显示面板的第一图像；
对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果；
根据所述应力检测结果判断所述待检测显示面板是否存在缺陷。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的显示面板缺陷检测程序，还执行以下操作：
从所述第一图像中提取不同偏振角度的图像特征，根据所述图像特征对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的显示面板缺陷检测程序，还执行以下操作：
在所述应力检测结果为所述第一图像中包含缺陷区域时，判定所述待检测显示面板存在缺陷；
在所述应力检测结果为所述第一图像中不包含缺陷区域时，判定所述待检测显示面板不存在缺陷。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的显示面板缺陷检测程序，还执行以下操作：
确定所述待检测显示面板中的应力区域，并将所述应力区域从所述第一图像中过滤，并将过滤后的第一图像对应的待检测显示面板的面板区域作为无缺陷区域，结束当前检测操作。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的显示面板缺陷检测程序，还执行以下操作：
基于深度学习对所述第二图像进行缺陷检测，获得二次缺陷检测结果，并根据所述二次缺陷检测结果进行二次缺陷判断，将所述第二图像中的非缺陷结果进行过滤，将过滤后的第二图像中的缺陷作为目标缺陷；
获取所述目标缺陷在所述第二图像中的相对坐标，根据所述相对坐标确定所述目标缺陷的缺陷位置；
获取所述目标缺陷对应的缺陷类型，根据所述缺陷类型确定所述目标缺陷的缺陷类别；
根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的显示面板缺陷检测程序，还执行以下操作：
在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过工业相机和显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行拍摄取像，获得第二图像。
本实施例通过上述方案，通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据所述第一图像判断所述待检测显示面板是否存在缺陷；在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像；通过所述第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，并根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果；能够通过偏振相机对显示面板的缺陷区域进行粗定位，实现缺陷区域的快速搜索，不仅能提升微弱缺陷的检出能力，同时降低检测的时间消耗，使用显微镜加相机的方式能够提升缺陷检测的准确性，保证缺陷检出效果，有效提升了产能，提升客户良品率。
基于上述硬件结构，提出本发明显示面板缺陷检测方法实施例。
参照图2，图2为本发明显示面板缺陷检测方法第一实施例的流程示意图。
在第一实施例中，所述显示面板缺陷检测方法包括以下步骤：
步骤S10、通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据所述第一图像判断所述待检测显示面板是否存在缺陷。
需要说明的是，偏振光携带了大量的光信息，利用偏振相机获取到的偏振信息，可大幅增强被测物的细节特征体现，普通面阵相机难以辨别的缺陷，利用偏振相机可加以区分，通过偏振相机对所述待检测显示面板进行拍摄，可以获得待检测显示面板的第一图像，所述待检测显示面板为正在进行检测的显示屏面板，通过对所述第一图像进行分析可以判断所述待检测显示面板是否存在缺陷。
可以理解的是，通过偏振相机获取所述第一图像中的缺陷为微弱缺陷或者亚微米级缺陷，所述亚微米级缺陷一般是指粒度直径为100nm～1.0um的缺陷，在本实施例中，所述缺陷可以为最小宽度0.8um，长度在5-8um之间的面板缺陷，当然也可以为其他范围的缺陷作为待检测显示面板的缺陷，本实施例对此不加以限制。
步骤S20、在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像。
应当理解的是，在所述待检测显示面板存在缺陷时，可以通过显微镜对所述缺陷进行二次取像，即对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像，使缺陷从粗定位到细定位。
步骤S30、通过所述第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，并根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果。
可以理解的是，通过对所述第二图像进行分析，能够获得所述第二图像中目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，所述目标缺陷为所述第二图像中的确定的缺陷，所述缺陷位置为所述目标缺陷在所述第二图像中的坐标位置，所述缺陷类别为所述目标缺陷所属的缺陷类别，通过所述缺陷位置和/或所述缺陷类别能够生成缺陷检测结果。
本实施例通过上述方案，通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据所述第一图像判断所述待检测显示面板是否存在缺陷；在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像；通过所述第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，并根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果；能够通过偏振相机对显示面板的缺陷区域进行粗定位，实现缺陷区域的快速搜索，不仅能提升微弱缺陷的检出能力，同时降低检测的时间消耗，使用显微镜加相机的方式能够提升缺陷检测的准确性，保证缺陷检出效果，有效提升了产能，提升客户良品率。
进一步地，图3为本发明显示面板缺陷检测方法第二实施例的流程示意图，如图3所示，基于第一实施例提出本发明显示面板缺陷检测方法第二实施例，在本实施例中，所述步骤S10具体包括以下步骤：
步骤S11、通过偏振相机在不同偏振角度下获取待检测显示面板的第一图像。
需要说明的是，所述第一图像可以为在不同偏振角度下获取的待检测显示面板的各个面板区域的图像集合，也可以为在不同偏振角度下获取的待检测显示面板的图像的一张或若干张合成图像，还可以为在不同偏振角度下获取的待检测显示面板的各个面板区域图像的图层，当然也可以为其他类型的图像，本实施例对此不加以限制。
可以理解的是，通过不同角度获取待检测显示面板的图像，所述偏振相机中可以将缺陷的应力成像效果和正常应力成像效果区分开，一般的，所述偏振相机中包含0°、45°、90°以及135°偏正片，不同角度的偏振片可以将缺陷和实际应力成像区分开来，便于缺陷检测，所述偏振相机当然也可以包含其他角度的偏振片，或者通过其他方式在特定角度获取待检测显示面板的图像，本实施例对此不加以限制。
步骤S12、对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果。
可以理解的是，由于缺陷产生的应力与待检测显示面板本身应力的差异，通过对所述第一图像进行应力检测，可以确定所述第一图像中的应力是由缺陷产生的或待检测显示面板本身由于生产或挤压等其他原因出现的应力，从而可以生成对应的应力检测结果。
步骤S13、根据所述应力检测结果判断所述待检测显示面板是否存在缺陷。
应当理解的是，通过偏振相机获取所述第一图像中的缺陷和通过应力检测获得的检测结果中的缺陷都是微弱缺陷或者亚微米级缺陷，根据所述应力检测结果可以确定所述第一图像中的应力是属于缺陷产生的应力还是所述待检测显示面板本身的应力，从而可以判断所述待检测显示面板是否存在缺陷。
本实施例通过上述方案，通过偏振相机在不同偏振角度下获取待检测显示面板的第一图像；对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果；根据所述应力检测结果判断所述待检测显示面板是否存在缺陷，能够快速确定待检测显示面板中是否存在缺陷，实现了对显示面板的缺陷区域进行粗定位，不仅能提升微弱缺陷的检出能力，同时降低检测的时间消耗，有效提升了产能。
进一步地，图4为本发明显示面板缺陷检测方法第三实施例的流程示意图，如图4所示，基于第二实施例提出本发明显示面板缺陷检测方法第三实施例，在本实施例中，所述步骤S12具体包括以下步骤：
步骤S121、从所述第一图像中提取不同偏振角度的图像特征，根据所述图像特征对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果。
需要说明的是，所述第一图像中包含有不同偏振角度的图像，其对应有不同的图像特征，通过对所述图像特征进行分析，可以根据所述图像特征确定所述第一图像中的应力特征，通过与预设特征集中的应力特征匹配，可以确定所述第一图像中的应力是由缺陷产生的或待检测显示面板本身由于生产或挤压等其他原因出现的应力，从而可以生成对应的应力检测结果；所述预设特征集为预先设置的用于存储不同应力特征以及应力属性类别的集合，当然也可以是通过其他方式更加图像特征对所述第一图像进行应力检测，本实施例对此不加以限制，例如，通过分配颜色至特定偏振角度，从而获得的图像特征可以与正常显示面板的图像特征进行比对，从而对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果。
本实施例通过上述方案，通过从所述第一图像中提取不同偏振角度的图像特征，根据所述图像特征对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果，能够快速确定待检测显示面板中是否存在缺陷，实现了对显示面板的缺陷区域进行粗定位，不仅能提升微弱缺陷的检出能力，同时降低检测的时间消耗，有效提升了产能。
进一步地，图5为本发明显示面板缺陷检测方法第四实施例的流程示意图，如图5所示，基于第二实施例提出本发明显示面板缺陷检测方法第四实施例，在本实施例中，所述步骤S13具体包括以下步骤：
步骤S131、在所述应力检测结果为所述第一图像中包含缺陷区域时，判定所述待检测显示面板存在缺陷。
需要说明的是，所述缺陷区域为缺陷对应的缺陷区域，所述应力检测结果不能检测出非亚微米级缺陷，所述应力检测结果针对的是所述待检测显示面板中的应力影响的一片区域的应力检测结果，在所述应力检测结果为所述第一图像中包含缺陷区域时，即所述第一图像中的应力属于缺陷产生的应力，此时所述第一图像中的应力区域即为缺陷区域，此时可以判定所述待检测显示面板存在缺陷。
步骤S132、在所述应力检测结果为所述第一图像中不包含缺陷区域时，判定所述待检测显示面板不存在缺陷。
应当理解的是，在所述应力检测结果为所述第一图像中不包含缺陷区域时，即所述第一图像中的应力属于所述待检测显示面板本身的应力，此时所述第一图像中不保护缺陷区域，只包含待检测显示面板本身的生产或挤压等原因造成的应力图像，此时可以判定所述待检测显示面板不存在缺陷。
进一步地，所述步骤S132之后，所述显示面板缺陷检测方法还包括以下步骤：
确定所述待检测显示面板中的应力区域，并将所述应力区域从所述第一图像中过滤，并将过滤后的第一图像对应的待检测显示面板的面板区域作为无缺陷区域，结束当前检测操作。
可以理解的是，所述应力区域为所述第一图像中非亚微米级缺陷或非微弱缺陷引起的待检测显示面板的缺陷所对应的应力影响区域，在确定所述待检测显示面板不存在缺陷后，可以确定所述待检测显示面板中的应力区域，并将所述应力区域从所述第一图像中进行过滤，过滤的目的是在检测报告中不记录此次待检测显示面板的应力缺陷，从而认定所述待检测显示面板的该面板区域无显示缺陷，结束当前流程，即结束当前检测操作。
在具体实现中，若所述待检测显示面板比较大，此时通过偏振相机获取的第一图像只是针对某一个面板区域的显示面板图像，此时如果所述第一图像中不包含缺陷区域，则表明所述待检测显示面板的这一块面板区域不存在缺陷，此时可以通过确定所述待检测显示面板中的应力区域，并将所述应力区域从所述第一图像中过滤，即可确定对应的待检测显示面板的面板区域作为无缺陷区域；在实际操作中，对待检测显示面板检测时，所述待检测显示面板的正常区域显示为绿色，缺陷区域对应显示为紫黑色，而由于其他原因引起的非亚微米级缺陷对应的应力区域显示为红色或黄色或其他颜色，此时对于比较大的待检测显示面板来说，有可能需要对待检测显示面板进行分区，并按照一定顺序依次对不同面板区域进行检测，为了检测结果的精确性，可能还会进行多次检测，而应力区域对于最终的面板检测结果来说是多余的，属于干扰项，此时对应力区域进行过滤，能够极大降低最终的面板检测结果的检测工作量和计算量，提高显示面板的检测速度和效率，节省了显示面板的检测时间。
本实施例通过上述方案，通过在所述应力检测结果为所述第一图像中包含缺陷区域时，判定所述待检测显示面板存在缺陷；在所述应力检测结果为所述第一图像中不包含缺陷区域时，判定所述待检测显示面板不存在缺陷，能够快速确定待检测显示面板中是否存在缺陷，实现了对显示面板的缺陷区域进行粗定位，不仅能提升微弱缺陷的检出能力，同时降低检测的时间消耗，有效提升了产能。
进一步地，图6为本发明显示面板缺陷检测方法第五实施例的流程示意图，如图6所示，基于第一实施例提出本发明显示面板缺陷检测方法第五实施例，在本实施例中，所述步骤S30具体包括以下步骤：
步骤S31、基于深度学习对所述第二图像进行缺陷检测，获得二次缺陷检测结果，并根据所述二次缺陷检测结果进行二次缺陷判断，将所述第二图像中的非缺陷结果进行过滤，将过滤后的第二图像中的缺陷作为目标缺陷。
需要说明的是，基于深度学习对所述第二图像进行缺陷检测，可以检测所述第二图像中的各类缺陷，所述预设缺陷判断标准为预先设置的用于判断所述第二图像中不属于缺陷的区域的标准，通过所述预设缺陷判断标准可以将所述第二图像中的非缺陷结果进行筛除，即对第一图像中的缺陷进行二次缺陷判断，即进一步取像后进行的筛选判断，从中筛除非缺陷部分，从而提高了缺陷检测准确性，在将所述第二图像中的非缺陷结果进行过滤后，可以将过滤后的第二图像中的缺陷作为目标缺陷。
步骤S32、获取所述目标缺陷在所述第二图像中的相对坐标，根据所述相对坐标确定所述目标缺陷的缺陷位置。
可以理解的是，所述目标缺陷的位置能够通过获取所述目标缺陷在所述第二图像中的相对坐标来确定，即所述相对坐标对应的位置信息为所述目标缺陷的缺陷位置。
步骤S33、获取所述目标缺陷对应的缺陷类型，根据所述缺陷类型确定所述目标缺陷的缺陷类别。
应当理解的是，不同的缺陷会对应有不同的缺陷类型，通过获取所述目标缺陷的缺陷类型，能够确定所述目标缺陷所述的缺陷类别。
步骤S34、根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果。
可以理解的是，在确定了所述目标缺陷的缺陷位置和所述缺陷类别后，可以生成缺陷检测结果，一般会直接将所述缺陷检测结果进行输出，可以是输出至检测终端设备，也可以是输出至用户终端，还可以是输出至检测服务中心，本实施例对此不加以限制。
本实施例通过上述方案，通过基于深度学习对所述第二图像进行缺陷检测，获得二次缺陷检测结果，并根据所述二次缺陷检测结果进行二次缺陷判断，将所述第二图像中的非缺陷结果进行过滤，将过滤后的第二图像中的缺陷作为目标缺陷；获取所述目标缺陷在所述第二图像中的相对坐标，根据所述相对坐标确定所述目标缺陷的缺陷位置；获取所述目标缺陷对应的缺陷类型，根据所述缺陷类型确定所述目标缺陷的缺陷类别；根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果，能够提高缺陷检测的准确性，保证缺陷检出效果，有效提升了产品产能，提升了客户良品率。
进一步地，图7为本发明显示面板缺陷检测方法第六实施例的流程示意图，如图7所示，基于第一实施例提出本发明显示面板缺陷检测方法第六实施例，在本实施例中，所述步骤S20具体包括以下步骤：
步骤S21、在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过工业相机和显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行拍摄取像，获得第二图像。
需要说明的是，通过所述工业相机加显微镜的结合对所述缺陷对应的缺陷区域进行拍摄取像，能够极大提高显示面板缺陷检测的准确性，所述工业相机和显微镜的结合方式可以是在工业相机上添加显微镜头，还可以是工业相机直接对接显微镜对所述待检测显示面板进行取像，也可以是工业相机接收所述显微镜获取的待检测显示面板的图像数据，当然还可以是通过其他方式对所述缺陷对应的缺陷区域进行拍摄取像，获得第二图像，本实施例对此不加以限制。
本实施例通过上述方案，通过在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过工业相机和显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行拍摄取像，获得第二图像，能够增加图像清晰度，提升缺陷的成像效果，对缺陷具有较强的检出能力，提高了缺陷检测的准确性，保证缺陷检出效果，有效提升了产品产能，提升了客户良品率。
相应地，本发明进一步提供一种显示面板缺陷检测装置。
参照图8，图8为本发明显示面板缺陷检测装置第一实施例的功能模块图。
本发明显示面板缺陷检测装置第一实施例中，该显示面板缺陷检测装置包括：
缺陷判断模块10，用于通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据所述第一图像判断所述待检测显示面板是否存在缺陷。
二次取像模块20，用于在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像。
缺陷检测模块30，用于通过所述第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，并根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果。
其中，显示面板缺陷检测装置的各个功能模块实现的步骤可参照本发明显示面板缺陷检测方法的各个实施例，此处不再赘述。
此外，本发明实施例还提出一种存储介质，所述存储介质可以是计算机可读非易失性存储介质，当然也可以是其他类型的存储介质，本实施例对此不加以限制；所述存储介质上存储有显示面板缺陷检测程序，所述显示面板缺陷检测程序被处理器执行时实现如下操作：
通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据所述第一图像判断所述待检测显示面板是否存在缺陷；
在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像；
通过所述第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，并根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果。
进一步地，所述显示面板缺陷检测程序被处理器执行时还实现如下操作：
通过偏振相机在不同偏振角度下获取待检测显示面板的第一图像；
对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果；
根据所述应力检测结果判断所述待检测显示面板是否存在缺陷。
进一步地，所述显示面板缺陷检测程序被处理器执行时还实现如下操作：
从所述第一图像中提取不同偏振角度的图像特征，根据所述图像特征对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果。
进一步地，所述显示面板缺陷检测程序被处理器执行时还实现如下操作：
在所述应力检测结果为所述第一图像中包含缺陷区域时，判定所述待检测显示面板存在缺陷；
在所述应力检测结果为所述第一图像中不包含缺陷区域时，判定所述待检测显示面板不存在缺陷。
进一步地，所述显示面板缺陷检测程序被处理器执行时还实现如下操作：
确定所述待检测显示面板中的应力区域，并将所述应力区域从所述第一图像中过滤，并将过滤后的第一图像对应的待检测显示面板的面板区域作为无缺陷区域，结束当前检测操作。
进一步地，所述显示面板缺陷检测程序被处理器执行时还实现如下操作：
基于深度学习对所述第二图像进行缺陷检测，获得二次缺陷检测结果，并根据所述二次缺陷检测结果进行二次缺陷判断，将所述第二图像中的非缺陷结果进行过滤，将过滤后的第二图像中的缺陷作为目标缺陷；
获取所述目标缺陷在所述第二图像中的相对坐标，根据所述相对坐标确定所述目标缺陷的缺陷位置；
获取所述目标缺陷对应的缺陷类型，根据所述缺陷类型确定所述目标缺陷的缺陷类别；
根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果。
进一步地，所述显示面板缺陷检测程序被处理器执行时还实现如下操作：
在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过工业相机和显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行拍摄取像，获得第二图像。
本实施例通过上述方案，通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据所述第一图像判断所述待检测显示面板是否存在缺陷；在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像；通过所述第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，并根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果；能够通过偏振相机对显示面板的缺陷区域进行粗定位，实现缺陷区域的快速搜索，不仅能提升微弱缺陷的检出能力，同时降低检测的时间消耗，使用显微镜加相机的方式能够提升缺陷检测的准确性，保证缺陷检出效果，有效提升了产能，提升客户良品率。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种显示面板缺陷检测方法，其特征在于，所述显示面板缺陷检测方法包括：
通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据所述第一图像判断所述待检测显示面板是否存在缺陷；
在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像；
通过所述第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，并根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果；
其中，所述通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据所述第一图像判断所述待检测显示面板是否存在缺陷，包括：
通过偏振相机在不同偏振角度下获取待检测显示面板的第一图像；
对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果；
根据所述应力检测结果判断所述待检测显示面板是否存在缺陷；
其中，所述通过所述第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，并根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果，包括：
基于深度学习对所述第二图像进行缺陷检测，获得二次缺陷检测结果，并根据所述二次缺陷检测结果进行二次缺陷判断，将所述第二图像中的非缺陷结果进行过滤，将过滤后的第二图像中的缺陷作为目标缺陷；
获取所述目标缺陷在所述第二图像中的相对坐标，根据所述相对坐标确定所述目标缺陷的缺陷位置；
获取所述目标缺陷对应的缺陷类型，根据所述缺陷类型确定所述目标缺陷的缺陷类别；
根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果。
2.如权利要求1所述的显示面板缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果，包括：
从所述第一图像中提取不同偏振角度的图像特征，根据所述图像特征对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果。
3.如权利要求1所述的显示面板缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述应力检测结果判断所述待检测显示面板是否存在缺陷，包括：
在所述应力检测结果为所述第一图像中包含缺陷区域时，判定所述待检测显示面板存在缺陷，所述缺陷区域为缺陷对应的缺陷区域；
在所述应力检测结果为所述第一图像中不包含缺陷区域时，判定所述待检测显示面板不存在缺陷。
4.如权利要求3所述的显示面板缺陷检测方法，其特征在于，所述在所述应力检测结果为所述第一图像中不包含缺陷区域时，判定所述待检测显示面板不存在缺陷之后，所述显示面板缺陷检测方法还包括：
确定所述待检测显示面板中的应力区域，并将所述应力区域从所述第一图像中过滤，并将过滤后的第一图像对应的待检测显示面板的面板区域作为无缺陷区域，结束当前检测操作。
5.如权利要求1-3中任一项所述的显示面板缺陷检测方法，其特征在于，所述在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像，包括：
在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过工业相机和显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行拍摄取像，获得第二图像。
6.一种显示面板缺陷检测装置，其特征在于，所述显示面板缺陷检测装置包括：
缺陷判断模块，用于通过偏振相机获取待检测显示面板的第一图像，并根据所述第一图像判断所述待检测显示面板是否存在缺陷；
二次取像模块，用于在所述待检测显示面板存在缺陷时，通过显微镜对所述缺陷对应的缺陷区域进行取像，获得第二图像；
缺陷检测模块，用于通过所述第二图像获取目标缺陷的缺陷位置和/或缺陷类别，并根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果；
所述缺陷判断模块，还用于通过偏振相机在不同偏振角度下获取待检测显示面板的第一图像；对所述第一图像进行应力检测，并生成应力检测结果；根据所述应力检测结果判断所述待检测显示面板是否存在缺陷；
所述缺陷判断模块，还用于基于深度学习对所述第二图像进行缺陷检测，获得二次缺陷检测结果，并根据所述二次缺陷检测结果进行二次缺陷判断，将所述第二图像中的非缺陷结果进行过滤，将过滤后的第二图像中的缺陷作为目标缺陷；获取所述目标缺陷在所述第二图像中的相对坐标，根据所述相对坐标确定所述目标缺陷的缺陷位置；获取所述目标缺陷对应的缺陷类型，根据所述缺陷类型确定所述目标缺陷的缺陷类别；根据所述缺陷位置和/或所述缺陷类别生成缺陷检测结果。
7.一种显示面板缺陷检测设备，其特征在于，所述显示面板缺陷检测设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的显示面板缺陷检测程序，所述显示面板缺陷检测程序配置为实现如权利要求1至5中任一项所述的显示面板缺陷检测方法的步骤。
8.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有显示面板缺陷检测程序，所述显示面板缺陷检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的显示面板缺陷检测方法的步骤。
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