CN111766966A - 触控膜、触控组件及电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种触控膜、触控组件及电子设备，该触控膜包括：基板，基板具有相背设置的第一表面和第二表面；第一走线，设置在第一表面上；第二走线，设置在第二表面上；第一检测线路，设置在第一表面上，并位于第一走线的旁侧；第一检测电路包括两个第一引脚，以及将两个第一引脚电性连接在一起的第一检测线；第二检测线路，设置在第二表面上，并位于第二走线的旁侧；第二检测电路包括两个第二引脚，以及将两个第二引脚电性连接在一起的第二检测线。在本发明中，可以通过万用表等检测基板上是否产生了裂纹，比如，使用万用表等检测两个第一引脚或/和两个第二引脚是否连通，来判断两个检测线路是否断路，进而判断基板是否产生裂纹。

Description

触控膜、触控组件及电子设备

技术领域

本发明涉及触控技术领域，特别是涉及一种触控膜、触控组件及电子设备。

背景技术

触控膜通常包括基板以及设置在基板上的线路层，在触控膜的生产过程中，需要通过冲切方式对基板进行裁剪，此时基板的边缘容易产生裂纹，这些裂纹会影响触控膜的性能，比如裂纹可能会导致线路层上的线路断路，因此需要及时筛选出具有裂纹的触控膜。由于裂纹很细小，肉眼难以发现，所以人们难以判断触控膜的基板上是否产生了裂纹。

发明内容

基于此，有必要针对人们难以判断触控膜的基板上是否产生了裂纹的问题，提供一种触控膜、触控组件及电子设备。

一种触控膜，包括：基板，所述基板具有相背设置的第一表面和第二表面；第一触控线路，设置在所述第一表面上；第二触控线路，设置在所述第二表面上，所述第一触控线路和所述第二触控线路相对，以形成用于检测触碰信息的触控电容；第一走线，设置在所述第一表面上，所述第一走线与所述第一触控线路电性连接，用于输出所述第一触控线路上产生的电信号；第二走线，设置在所述第二表面上，所述第二走线与所述第二触控线路电性连接，用于输出所述第二触控线路上产生的电信号；第一检测线路，设置在所述第一表面上，并位于所述第一走线的旁侧，其中，所述第一检测线路用于检测所述基板对应于所述第一检测线路的区域是否产生裂纹；第二检测线路，设置在所述第二表面上，并位于所述第二走线的旁侧，其中，所述第二检测线路用于检测所述基板对应于所述第二检测线路的区域是否产生裂纹。

在本发明中，当触控膜生产完成后，可以通过万用表等检测基板上是否产生了裂纹。比如，可以使用万用表等检测第一检测线路是否连通，若第一检测线路连通，此时基板上用于设置第一检测线的区域未产生裂纹。若第一检测线路不连通，则此时基板上用于设置第一检测线的区域产生了裂纹。同样的，也可以通过检测第二检测线路是否导通来判断基板上对应于第二检测线路所在区域是否产生了裂纹。

此外，在本发明中，基板的第一表面上设有第一检测线路，基板的第二表面上设有第二检测线路，检测时，人们可以分别在第一表面和第二表面处检测基板是否产生裂纹，可以提高裂纹的检测精度。

进一步的，所述第一检测电路包括两个第一引脚，以及将两个所述第一引脚电性连接在一起的第一检测线；及/或所述第二检测电路包括两个第二引脚，以及将两个所述第二引脚电性连接在一起的第二检测线。

进一步的，所述第一检测线弯折设置，这样可以增大第一检测线的检测范围，提高第一检测线的检测效果；及/或所述第二检测线弯折设置，这样可以增大第二检测线的检测范围，提高第二检测线的检测效果。

进一步的，所述第一检测线的线宽小于30um，这样可以提高第一检测线的检测精度；及/或所述第二检测线的线宽小于30um，这样可以提高第二检测线的检测精度。

进一步的，所述第一表面具有第一绑定区，所述第二表面具有第二绑定区，所述第一绑定区和所述第二绑定区均位于所述基板的第一端；所述第一走线延伸至所述第一绑定区，以便与外电路连接；所述第二走线延伸至所述第二绑定区，以便与外电路连接；其中，所述第二绑定区的个数为两个，所述第一绑定区在所述第二表面的投影位于两个所述第二绑定区之间，并与两个所述第二绑定区间隔设置；所述第一检测线路的个数为两个，分别设置在所述第一绑定区和所述第二绑定区之间；及/或所述第二检测线路的个数为两个，所述两个第二绑定区位于两个所述第二检测线路之间。

进一步的，所述第一检测线路与所述第一端的端面之间的最小距离小于/等于所述第一走线与所述第一端的端面之间的最小距离，这样更利于通过第一检测线路来检测第一走线是否受到裂纹的破坏；及/或所述第二检测线路与所述第一端的端面之间的最小距离小于或等于所述第二走线与所述第一端的端面之间的最小距离。这样更利于通过第二检测线路来检测第二走线是否受到裂纹的破坏。

进一步的，所述第一表面具有第一绑定区，所述第二表面具有第二绑定区；所述第一走线延伸至所述第一绑定区，以便与外电路连接；所述第二走线延伸至所述第二绑定区，以便与外电路连接；所述第一表面还设有第一检测区，所述第一检测区位于所述第一绑定区外侧，且所述第一检测区在所述第二表面上的投影与所述第二绑定区重合；所述第一检测线至少有一部分位于所述第一检测区内，这样通过第一检测线路还可以直接判断第二绑定区是否产生裂纹。

进一步的，所述第一表面具有第一绑定区，所述第二表面具有第二绑定区；所述第一走线延伸至所述第一绑定区，以便与外电路连接；所述第二走线延伸至所述第二绑定区，以便与外电路连接；所述第二表面还设有第二检测区，所述第二检测区位于所述第二绑定区外侧，且所述第二检测区在所述第一表面上的投影与所述第一绑定区重合，所述第二检测线至少有一部分位于所述第二检测区内，这样通过第二检测线路还可以直接判断第一绑定区是否产生裂纹。

一种触控膜，包括：基板，所述基板具有相背设置的第一表面和第二表面；第一触控线路，设置在所述第一表面上；第二触控线路，设置在所述第一表面上，所述第一触控线路和所述第二触控线路相对，以形成用于检测触碰信息的触控电容；第一走线，设置在所述第一表面上，所述第一走线与所述第一触控线路电性连接，用于输出所述第一触控线路上产生的电信号；第二走线，设置在所述第一表面上，所述第二走线与所述第二触控线路电性连接，用于输出所述第二触控线路上产生的电信号；第一检测线路，设置在所述第一表面上，并位于所述第一走线旁侧，用于检测所述基板对应于所述第一检测线路的区域是否产生裂纹；第二检测线路，设置在所述第一表面上，并位于所述第二走线旁侧，用于检测所述基板对应于所述第二检测线路的区域是否产生裂纹；第三检测线路，设置在所述第二表面上，用于检测所述基板对应于所述第三检测线路的区域是否产生裂纹。

进一步的，所述第一表面具有第一绑定区，所述第二表面还设有第一检测区，所述第一检测区在所述第一表面上的投影与所述第一绑定区重合，所述第三检测线路至少有一部分位于所述第一检测区内；及/或所述第一表面具有第二绑定区，所述第二表面还设有第二检测区，所述第二检测区在所述第一表面上的投影与所述第二绑定区重合，所述第三检测线路至少有一部分位于所述第二检测区内；及/或所述第一检测电路包括两个第一引脚，以及将两个所述第一引脚电性连接在一起的第一检测线；及/或所述第二检测电路包括两个第二引脚，以及将两个所述第二引脚电性连接在一起的第二检测线；及/或所述第三检测电路包括两个第三引脚，以及将两个所述第三引脚电性连接在一起的第三检测线。

一种触控组件，包括：触控膜，所述触控膜如上任意一项所述；柔性电路板，与所述触控膜的走线电性连接。

进一步的，所述柔性电路板包括间隔设置的第一连接端和第二连接端，所述第一连接端绑定在所述第一绑定区，并与所述第一检测线电性连接，所述第二连接端绑定在所述第二绑定区，并与所述第二检测线电性连接；其中，两个所述第一引脚位于所述第一连接端的外侧，及/或两个所述第二引脚位于所述第二连接端的外侧。这样设置，在触控组件组装完成后，可以通过个第一检测线路和第二检测线路来检测基板上是否产生裂纹。

一种电子设备，所述电子设备包括如上所述的触控组件。

附图说明

图1为本发明提供的触控模组的结构示意图；

图2为本发明第一实施例提供的触控膜的示意图；

图3为本发明第一实施例提供的触控膜的剖面示意图；

图4为图2中A区域的放大示意图；

图5为图2中B区域的放大示意图；

图6为本发明第二实施例提供的触控膜的示意图；

图7为本发明第二实施例提供的触控膜的剖面示意图；

图8为本发明第三实施例提供的触控膜的剖面示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。

如图1所示，在本实施例中，触控组件100包括触控膜10以及与触控膜10电性连接的柔性电路板20，其中柔性电路板20上的电路作为外电路用于将触控膜10与其他元件电性连接，比如柔性电路板20还与相应的处理器电性连接，以便将触控膜10产生的电信号传播至处理器。

如图2和图3所示，在本实施例中，触控膜10包括基板1、第一线层2、第二线层3。基板1具有相背设置的第一表面11和第二表面12，第一表面11具有第一绑定区111，第二表面12具有第二绑定区121，其中，图3中第一表面11位于虚线框M内的区域便为第一绑定区111，图3中第二表面12位于虚线框N内的区域便为第二绑定区121。

如图2和图3所示，第一线层2包括第一触控线路21以及设置在第一触控线路21外侧的第一走线22，其中，第一走线22的一端与第一触控线路21电性连接在一起，第一走线22的另一端延伸至第一绑定区111，形成第一绑定块221。可以理解的，在本实施例中，第一走线22的个数为多个，这些第一走线22平行且间隔设置，同时，第一绑定块221的个数也为多个，这些第一绑定块221平行且间隔地设置在第一绑定区111。

如图2和图3所示，第二线层3包括第二触控线路31以及设置在第二触控线路31外侧的第二走线32，其中，第二触控线路31与第一触控线路21相对以形成触控电容，第二走线32的一端与第二触控线电性连接在一起，第二走线32的另一端延伸至第二绑定区121，形成第二绑定块321。可以理解的，在本实施例中，第二走线32的个数为多个，这些第二走线32平行且间隔设置，同时，第二绑定块321的个数也为多个，这些第二绑定块321平行且间隔地设置在第二绑定区121。另外，在本实施例中，第一绑定块221和第二绑定块321之间也平行设置。

如图2至图4所示，在本实施例中，第一线层2还具有第一检测线路23，第一检测线路23位于第一走线22的旁侧，用于检测基板1对应于第一检测线路23的区域是否产生裂纹，基板1对应于第一检测线路23的区域是指基板1用于设置第一检测线路23的区域。第一检测线路23具有两个第一引脚231，以及将第一引脚231电性连接在一起的第一检测线232。检测时，可以使用万用表等检测两个第一引脚231是否连通，若两个第一引脚231电性连通，则说明第一检测线232未受到破坏，此时基板1上用于设置第一检测线232的区域未产生裂纹。若两个第一引脚231之间不导通，则说明第一检测线232断路，此时基板1上用于设置第一检测线232的区域产生了裂纹。在实际生产时，第一检测线路23靠近第一走线22设置，这样便可以判断第一走线22处是否产生裂纹，方便人们判断触控膜10是否为良品。在实际产品中，第一检测线路23可以与第一走线22平行设置，比如第一检测线路23和第一走线22之间的间距处处相等，这样可以提高通过第一检测线路23检测第一走线22是否断裂的精准度。

如图2、图3以及图5所示，第二线层3还具有第二检测线路33，第二检测线路33位于第二走线32的旁侧，用于检测基板1对应于第二检测线路33的区域是否产生裂纹，其中，基板1对应于第二检测线路33的区域是指基板1用于设置第二检测线路33的区域。第二检测线路33具有两个第二引脚331，以及将第二引脚331电性连接在一起的第二检测线332。检测时，可以使用万用表等检测两个第二引脚331是否连通，若两个第二引脚331电性连通，则说明第二检测线332未受到破坏，此时基板1上用于设置第二检测线332的区域未产生裂纹。若两个第二引脚331之间不导通，则说明第二检测线332断路，此时基板1上用于设置第二检测线332的区域产生了裂纹。在实际生产时，第二检测线路33靠近第二走线32设置，这样便可以判断第二走线32处是否产生裂纹，这样可以方便人们判断触控膜10是否为良品。在实际产品中，第二检测线路33可以与第二走线32平行设置，比如第二检测线路33和第二走线32之间的间距处处相等，这样可以提高通过第二检测线路33检测第二走线32是否断裂的精准度。

在本实施例中，基板1的第一表面11上设有第一检测线路23，基板1的第二表面12上设有第二检测线路33，检测时，人们可以分别在第一表面11和第二表面12处检测基板1是否产生裂纹，可以提高裂纹的检测精度。

如图2所示，在本实施例中，第一绑定区111和第二绑定区121位于基板1的同一端，定义该端为基板1的第一端。在本实施例中，第二绑定区121的个数为两个，第一绑定区111在第二表面12的投影位于两个第二绑定区121之间，并分别与两个第二绑定区121间隔设置。第一检测线路23的个数为两个，分别设置在第一绑定区111的两侧，以提高裂纹检测效果。同时，第二检测线路33的个数为两个，这两个第二检测线路33分别设置在两个第二绑定区121远离第一绑定区111的一侧，即两个第二绑定区121位于两个第二检测线路33之间。

如图2所示，在本实施例中，第一检测线232弯折设置，即第一检测线232为弯折线或弯曲线，这样可以增大第一检测线232的检测范围，提高第一检测线232的检测效果。同样的，在本实施例中，第二检测线332也采用弯折设置，即第二检测线332为弯折线或弯曲线，这样可以增大第二检测线332的检测范围，提高第二检测线332的检测效果。

另外，在本实施例中，第一检测线232的线宽小于30um，这样可以提高第一检测线232的检测精度。同样的，在本实施例中，第二检测线332的线宽也设置的小于30um，以提高第二检测线332的检测精度。

在实际生产时，裂缝通常是由基板1的边缘区域向基板1的内侧延伸，故将第一检测线路23和第二检测线路33分别设置在第一走线22和第二走线32的旁侧，可以在裂纹延伸至第一走线22和第二走33线处之前，先延伸至第一检测线路23和第二检测线路33处。

在本实施例中，第一绑定块221和第二绑定块321均靠近基板的第一端设置，为了提高裂纹检测效果，第一检测线路23与第一端的端面的最小距离小于或等于第一走线22与第一端的端面的最小距离。第二检测线路33与第一端的端面的最小距离小于或等于第二走线32与第一端的端面的最小距离。在实际产品中，第一绑定块221相比于第一走线22的其他部分而言更靠近第一端的端面，第二绑定块321相比于第二走线32的其他部分而言更靠近第一端的端面。所以上述第一走线22与第一端的端面之间的最小距离实际上是指第一绑定块221与第一端的端面之间的最小间距。上述第二走线32与第一端的端面之间的最小距离实际上是指第二绑定块321与第一端的端面之间的最小间距。

在本实施例中，基板1的材质可以是COP、PET等透明材质，第一触控线路21和第二触控线路31可以是ITO线路，第一走线22和第二走线32可以的铜线路等金属线路，第一检测线路23和第二检测线路33可以是铜线路等金属线路。生产时，第一检测线路23和第一走线22可以是同时成型在基板1的第一表面11上，第二检测线路33和第二走线32可以是同时成型在基板1的第一表面11上，这样可以提高触控膜10的生产效率。

如图1和图2所示，柔性电路板20包括第一连接端4和第二连接端5，第一连接端4具有第一金手指，第二连接端5具有第二金手指。柔性电路板20与触控膜10组装时，第一连接端4绑定在第一绑定区111，且第一金手指与第一绑定块221电性连接，第二连接端5绑定在第二绑定区121，且第二金手指与第二绑定块321电性连接。在柔性电路板20与触控膜10绑定过程中，柔性电路板20的两个连接端会对两个绑定区进行挤压，这也会导致两个绑定区产生裂纹。故在触控组件100组装完成后，也需要检测基板1上是否产生裂纹。

在本实施例中，触控膜10生产时，第一检测线路23的两个第一引脚231远离第一绑定区111设置，使得触控组件100组装后，两个第一引脚231位于第一连接端4的外侧，即组装后两个第一引脚231不被第一连接端4遮挡，这样在触控组件100组装后还可以通过第一检测线路23来检测基板1是否产生裂纹。同样的，第二检测电路的两个第二引脚331远离第二绑定区121设置，使得触控组件100组装后，两个第二引脚331位于第二连接端5的外侧，即组装后两个第二引脚331不被第二连接端5遮挡，这样在触控组件100组装后还可以通过第二检测线路33来检测基板1是否产生裂纹。

可以理解的，在一些实施例中，触控组件100组装后也可以是只有两个第一引脚231不被第一连接端4遮挡，或者两个第二引脚331不被第二连接端5遮挡。

在实际生产中，第一绑定区111和第二绑定区121靠近基板1的边缘设置，所以冲切时这两个绑定区极易产生裂纹，使得这两个绑定区内的走线更容易被破坏。所以针对这一情况，如图6和图7所示，在本发明提供的另一实施例中，第一表面11还设有第一检测区112，第一检测区112位于第一绑定区111外侧，且第一检测区112在第二表面12上的投影与第二绑定区121重合，第一检测线232至少有一部分位于第一检测区112内。此时通过第一检测线路23还可以直接判断第二绑定区121是否产生裂纹。其中，图7中第一表面11位于虚线框P内的区域便为第一检测区112。

此外，在本实施例中，在第二绑定块321的排布方向上，第一检测线232横跨第一检测区112，这样提高第一检测线232对位于第二绑定区122的走线是否被破坏的检测效果。

同样的，如图7所示，在本实施例中，第二表面12还设有第二检测区122，第二检测区122位于第二绑定区121外侧，且第二检测区122在第一表面11上的投影与第一绑定区111重合，第二检测线332至少有一部分位于第二检测区122内。此时通过第二检测线路33还可以直接判断第一绑定区111是否产生裂纹。其中，图7中第二表面12位于虚线框Q内的区域便为第二检测区122。

此外，在本实施例中，在第一绑定块221的排布方向上，第二检测线332横跨第二检测区122，这样提高第二检测线332对位于第一绑定区111的走线是否被破坏的检测效果。

可以理解的，上述各实施例中的触控膜10相当于的一DITO触控膜，在一些实施例中，触控膜10也可以是SITO触控膜，比如如图8所示，第一线层2和第二线层3均设置在基板1的第一表面11上。此时，将第一检测线路23设置第一表面11上，便可以通过检测第一检测线路23的通断以判断基板1对于于第一检测线路23的区域是否产生裂纹，同时将第一检测线路23设置在在第一走线22的旁侧，便可以通过检测第一检测线路23的通断来判断第一走线22是否断裂。同样的，将第二检测线路33设置第一表面11上，便可以通过检测第二检测线路33的通断以判断基板1对应于第二检测线路33的区域是否产生裂纹，同时将第二检测线路33设置在在第二走线32的旁侧，便可以通过检测第二检测线路33的通断来判断第二走线32是否断裂。

另外，在本实施例中，触控膜10还具有第三检测线路6，第三检测线路6设置在第二表面12上，用于在基板1的第二表面12一侧检测基板1对应于第三检测线路6的区域是否产生裂纹，其中，第三检测电路6包括两个第三引脚，以及将两个第三引脚电性连接在一起的第三检测线61。在本实施例中，第三检测线路6的设置与第一检测线路23相似，比如，第三检测线61为铜线、第三检测线61采用弯折设备、第三检测线61的线宽小于30um等。

在实际产品中，第三检测线路6在第一表面11上的投影可以是位于第一走线22的外侧或第二走线32的外侧。当然第三检测线路6的个数也可以两个或多个，此时第三检测线路6在第一表面11上的投影可以是分别位于第一走线22的外侧和第二走线32的外侧。

另外，由于第一线层2和第二线层3均设置在第一表面上，故第一绑定区和第二绑定区均可以设置在第一表面上。此时可以在第二表面上设置第一检测区和第二检测区，其中，第一检测区在第一表面上的投影与第一绑定区重合，第二检测区在第一表面上的投影与第二绑定区重合。如图8所示，第一绑定区为第一表面11位于虚线框N内的区域，第二绑定区为第一表面11位于虚线框M内的区域，第一检测区为第二表面12位于虚线框P内的区域，第二检测区为第二表面12位于虚线框Q内的区域。

为了提高第三检测线路的检测效果，第三检测线61至少有一部分位于第一检测区内，第三检测线至少有一部分位于第二检测区内。当然，在一些实施例中，第二表面12上也可以只设置第一检测区，或者只设置第二检测区。此时只要将第三检测线61的至少一部分设置在第一检测区或第二检测区内也可以提高第三检测线的检测效果。

本发明还提供一种电子设备，该电子设备使用了如上任一实施例所述的触控组件100，该电子设备可以是手机、电脑、电视等终端产品。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (11)

1.一种触控膜，其特征在于，包括：

基板，所述基板具有相背设置的第一表面和第二表面；

第一触控线路，设置在所述第一表面上；

第二触控线路，设置在所述第二表面上，所述第一触控线路和所述第二触控线路相对，以形成用于检测触碰信息的触控电容；

第一走线，设置在所述第一表面上，所述第一走线与所述第一触控线路电性连接，用于输出所述第一触控线路上产生的电信号；

第二走线，设置在所述第二表面上，所述第二走线与所述第二触控线路电性连接，用于输出所述第二触控线路上产生的电信号；

第一检测线路，设置在所述第一表面上，并位于所述第一走线的旁侧，其中，所述第一检测线路用于检测所述基板对应于所述第一检测线路的区域是否产生裂纹；

第二检测线路，设置在所述第二表面上，并位于所述第二走线的旁侧，其中，所述第二检测线路用于检测所述基板对应于所述第二检测线路的区域是否产生裂纹。

2.根据权利要求1所述的触控膜，其特征在于，所述第一表面具有第一绑定区，所述第二表面具有第二绑定区；所述第一走线延伸至所述第一绑定区，以便与外电路连接；所述第二走线延伸至所述第二绑定区，以便与外电路连接；

所述第一表面还设有第一检测区，所述第一检测区位于所述第一绑定区外侧，且所述第一检测区在所述第二表面上的投影与所述第二绑定区重合；所述第一检测线路至少有一部分位于所述第一检测区内；及/或所述第二表面还设有第二检测区，所述第二检测区位于所述第二绑定区外侧，且所述第二检测区在所述第一表面上的投影与所述第一绑定区重合，所述第二检测线路至少有一部分位于所述第二检测区内；及/或

所述第一检测电路包括两个第一引脚，以及将两个所述第一引脚电性连接在一起的第一检测线；及/或

所述第二检测电路包括两个第二引脚，以及将两个所述第二引脚电性连接在一起的第二检测线。

3.根据权利要求2所述的触控膜，其特征在于，所述第一检测线弯折设置；及/或

所述第二检测线弯折设置；及/或

所述第一检测线的线宽小于30um；及/或

所述第二检测线的线宽小于30um。

4.根据权利要求1所述的触控膜，其特征在于，所述第一表面具有第一绑定区，所述第二表面具有第二绑定区，所述第一绑定区和所述第二绑定区均位于所述基板的第一端；所述第一走线延伸至所述第一绑定区，以便与外电路连接；所述第二走线延伸至所述第二绑定区，以便与外电路连接；其中，所述第二绑定区的个数为两个，所述第一绑定区在所述第二表面的投影位于两个所述第二绑定区之间，并与两个所述第二绑定区间隔设置；

所述第一检测线路的个数为两个，其中，两个所述第一检测线路在所述第二表面上的投影分别设置在所述第一绑定区在所述第二表面的投影和两个所述第二绑定区之间的间隙内；及/或所述第二检测线路的个数为两个，两个所述第二检测线分别位于两个所述第二绑定区相对远离的一侧。

5.根据权利要求4所述的触控膜，其特征在于，所述第一检测线路与所述第一端的端面之间的最小距离小于或等于所述第一走线与所述第一端的端面之间的最小距离；及/或

所述第二检测线路与所述第一端的端面之间的最小距离小于/等于所述第二走线与所述第一端的端面之间的最小距离。

6.一种触控膜，其特征在于，包括：

基板，所述基板具有相背设置的第一表面和第二表面；

第一触控线路，设置在所述第一表面上；

第二触控线路，设置在所述第一表面上，所述第一触控线路和所述第二触控线路相对，以形成用于检测触碰信息的触控电容；

第一走线，设置在所述第一表面上，所述第一走线与所述第一触控线路电性连接，用于输出所述第一触控线路上产生的电信号；

第二走线，设置在所述第一表面上，所述第二走线与所述第二触控线路电性连接，用于输出所述第二触控线路上产生的电信号；

第一检测线路，设置在所述第一表面上，并位于所述第一走线旁侧，用于检测所述基板对应于所述第一检测线路的区域是否产生裂纹；

第二检测线路，设置在所述第一表面上，并位于所述第二走线旁侧，用于检测所述基板对应于所述第二检测线路的区域是否产生裂纹；

第三检测线路，设置在所述第二表面上，用于检测所述基板对应于所述第三检测线路的区域是否产生裂纹。

7.根据权利要求6所述的触控膜，其特征在于，所述第一表面具有第一绑定区，所述第二表面还设有第一检测区，所述第一检测区在所述第一表面上的投影与所述第一绑定区重合，所述第三检测线路至少有一部分位于所述第一检测区内；及/或

所述第一表面具有第二绑定区，所述第二表面还设有第二检测区，所述第二检测区在所述第一表面上的投影与所述第二绑定区重合，所述第三检测线路至少有一部分位于所述第二检测区内；及/或

所述第一检测电路包括两个第一引脚，以及将两个所述第一引脚电性连接在一起的第一检测线；及/或

所述第二检测电路包括两个第二引脚，以及将两个所述第二引脚电性连接在一起的第二检测线；及/或

所述第三检测电路包括两个第三引脚，以及将两个所述第三引脚电性连接在一起的第三检测线。

8.根据权利要求7所述的触控膜，其特征在于，所述第一检测线弯折设置；及/或

所述第二检测线弯折设置；及/或

所述第三检测线弯折设置；及/或

所述第一检测线的线宽小于30um；及/或

所述第二检测线的线宽小于30um；及/或

所述第三检测线弯线宽小于30um；及/或

所述第三检测线路在所述第一表面上的投影位于所述第一走线和/或所述第二走线的旁侧。

9.一种触控组件，其特征在于，包括：

触控膜，所述触控膜如权利要求1-8任意一项所述；

柔性电路板，与所述触控膜的走线电性连接。

10.根据权利要求9所述的触控组件，其特征在于，所述柔性电路板包括间隔设置的第一连接端和第二连接端，所述第一连接端绑定在所述第一绑定区，并与所述第一检测线电性连接，所述第二连接端绑定在所述第二绑定区，并与所述第二检测线电性连接；

其中，两个所述第一引脚位于所述第一连接端的外侧，及/或两个所述第二引脚位于所述第二连接端的外侧。

11.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括如权利要求9或10所述的触控组件。

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