CN111739090A - 视场的位置确定方法及装置和计算机可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种视场的位置确定方法,所述视场的位置确定方法包括以下步骤:获取透视变换矩阵,其中,所述透视变换矩阵根据未发生畸变的第一视场与发生畸变的第一视场确定;确定第二视场中各个像素点的理想坐标,其中,发生畸变的所述第一视场的中心点、未发生畸变的所述第一视场的中心点与所述第二视场的中心点相同;根据所述透视变换矩阵对各个所述像素点的理想坐标进行变换,得到每个所述像素点对应的实际坐标。本发明还公开一种视场的位置确定装置和计算机可读存储介质。本发明能够准确的确定视场的位置。
Description
技术领域
本发明涉及视场的位置确定技术领域,尤其涉及一种视场的位置确定方法及装置和计算机可读存储介质。
背景技术
在测试光机清晰度时,一般根据客户需求或是镜头来料质量等选定特定的视场再进行清晰度测试。视场是指在一定的距离内观察到的范围的大小,因此,清晰度测试中的视场指的是在投影屏上的投影区域。
由于光机可能存在镜头畸变或是摆放时发生偏转或是俯仰等情况,使投出到屏幕上的视场难以保证是未发生畸变的矩形,故视场中像素点的具体位置较难确认。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种视场的位置确定方法及装置和计算机可读存储介质,旨在解决视场中像素点的具体位置较难确认的问题。
为实现上述目的,本发明提供的一种视场的位置确定方法,所述视场的位置确定方法包括以下步骤:
获取透视变换矩阵,其中,所述透视变换矩阵根据未发生畸变的第一视场与发生畸变的第一视场确定;
确定第二视场中各个像素点的理想坐标,其中,发生畸变的所述第一视场的中心点、未发生畸变的所述第一视场的中心点与所述第二视场的中心点相同;
根据所述透视变换矩阵对各个所述像素点的理想坐标进行变换,得到每个所述像素点对应的实际坐标。
在一实施例中,所述获取透视变换矩阵的步骤之前,还包括:
获取发生畸变的第一视场中各个第一角点的实际坐标以及未发生畸变的第一视场中各个第二角点的理想坐标;
根据各个所述第一角点的实际坐标以及各个所述第二角点的理想坐标,确定透视变换矩阵;
保存所述透视变换矩阵。
在一实施例中,所述获取发生畸变的第一视场中各个第一角点的实际坐标的步骤包括:
获取发生畸变的第一视场中每个第一角点对应的模板矩阵,所述模板矩阵由预设数量的像素值构成的矩阵;
根据预设图像获取多个测试矩阵,其中,所述测试矩阵由预设数量的像素点的像素值构成,所述测试矩阵对应的各个所述像素点依次相邻,所述预设图像包括发生畸变的所述第一视场;
在各个所述测试矩阵中,确定与各个所述模板矩阵匹配的测试矩阵,以作为目标矩阵;
确定每个所述目标矩阵中预设位置对应的像素点的坐标,以作为各个所述第一角点的实际坐标。
在一实施例中,所述在各个所述测试矩阵中,确定与各个所述模板矩阵匹配的测试矩阵,以作为目标矩阵的步骤包括:
对每个所述模板矩阵与所述模板矩阵对应的各个所述测试矩阵,进行像素值的异或操作,得到每个所述模板矩阵对应的各个异或矩阵;
对每个所述模板矩阵对应的各个所述异或矩进行求和,得到每个所述模板矩阵对应的多个数值;
在所述模板矩阵对应的各个数值中确定最大数值;
确定每个所述模板矩阵的所述最大数值对应的测试矩阵,以作为所述目标矩阵。
在一实施例中,所述在各个所述测试矩阵中,确定与各个所述模板矩阵匹配的测试矩阵,以作为目标矩阵的步骤包括:
将每个所述模板矩阵与所述模板矩阵对应的各个所述测试矩阵,进行像素值的比对,得到每个所述模板矩阵对应的多个比对结果,其中,进行比对的像素值在所述模板矩阵的位置与在所述测试矩阵的位置相同,所述比对结果为像素值不同的数量;
在所述模板矩阵对应的各个比对结果中确定数量最大的比对结果,并将数量最大的所述比对结果对应的测试矩阵确定为所述模板矩阵对应的目标矩阵。
在一实施例中,所述确定第二视场中各个像素点的理想坐标的步骤包括:
确定第二视场与未发生畸变的所述第一视场之间的尺寸比例;
获取未发生畸变的所述第一视场的中心点的理想坐标;
根据所述中心点的理想坐标以及所述尺寸比例,确定所述第二视场中各个所述像素点的理想坐标。
为实现上述目的,本发明还提供一种视场的位置确定装置,所述视场的位置确定装置包括存储器、处理器以及存储在所述存储器并可在所述处理器上运行的视场的位置确定程序,所述视场的位置确定程序被所述处理器执行时实现上所述的视场的位置确定方法的各个步骤。
为实现上述目的,本发明还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有视场的位置确定程序,所述视场的位置确定程序被处理器执行时实现如上所述的视场的位置确定方法的各个步骤。
本发明提供的视场的位置确定方法及装置和计算机可读存储介质,装置获取由未发生畸变的第一视场以及发生畸变的第一视场确定的透视变换矩阵,并确定与第一视场中心点相同的第二视场中各个像素点的理想坐标,最后根据透视变换矩阵对第二视场的各个像素点的理想坐标进行变换,得到第二视场中各个像素点的实际坐标。由于装置透视变换矩阵是由未发生畸变的视场与发生畸变的视场得到,使得装置能够根据透视变换矩阵以及所需确定位置的视场中各个像素点的理想坐标,简单准确的得到视场中像素点的实际坐标,也即装置能够简单准确的确定视场的位置。
附图说明
图1为本发明实施例涉及的视场的位置确定装置的硬件结构示意图;
图2为本发明视场的位置确定方法第一实施例的流程示意图;
图3为本发明视场的位置确定方法第二实施例的流程示意图;
图4为本发明视场的位置确定方法第三实施例步骤S40中获取发生畸变的第一视场中各个第一角点的实际坐标的细化流程示意图;
图5为本发明视场的位置确定方法第四实施例中步骤S20的细化流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明实施例的主要解决方案是:获取透视变换矩阵,其中,所述透视变换矩阵根据未发生畸变的第一视场与发生畸变的第一视场确定;确定第二视场中各个像素点的理想坐标,其中,发生畸变的所述第一视场的中心点、未发生畸变的所述第一视场的中心点与所述第二视场的中心点相同;根据所述透视变换矩阵对各个所述像素点的理想坐标进行变换,得到每个所述像素点对应的实际坐标。
由于装置透视变换矩阵是由未发生畸变的视场与发生畸变的视场得到,使得装置能够根据透视变换矩阵以及所需确定位置的视场中各个像素点的理想坐标,简单准确的得到视场中像素点的实际坐标,也即装置能够简单准确的确定视场的位置。
作为一种实现方案,视场的位置确定装置可以如图1所示。
本发明实施例方案涉及的是视场的位置确定装置,视场的位置确定装置包括存储器101,处理器102,例如CPU,通信总线103。其中,通信总线103用于实现这些组件之间的连接通信。
存储器可以是高速RAM存储设备,也可以是稳定的存储设备(non-volatilememory),例如磁盘存储设备。如图1所示,存储器101中可以包括视场的位置确定程序;而处理器102可以用于调用存储器101中存储的视场的位置确定程序,并执行以下操作:
获取透视变换矩阵,其中,所述透视变换矩阵根据未发生畸变的第一视场与发生畸变的第一视场确定;
确定第二视场中各个像素点的理想坐标,其中,发生畸变的所述第一视场的中心点、未发生畸变的所述第一视场的中心点与所述第二视场的中心点相同;
根据所述透视变换矩阵对各个所述像素点的理想坐标进行变换,得到每个所述像素点对应的实际坐标。
在一实施例中,处理器102可以用于调用存储器101中存储的视场的位置确定程序,并执行以下操作:
获取发生畸变的第一视场中各个第一角点的实际坐标以及未发生畸变的第一视场中各个第二角点的理想坐标;
根据各个所述第一角点的实际坐标以及各个所述第二角点的理想坐标,确定透视变换矩阵;
保存所述透视变换矩阵。
在一实施例中,处理器102可以用于调用存储器101中存储的视场的位置确定程序,并执行以下操作:
获取发生畸变的第一视场中每个第一角点对应的模板矩阵,所述模板矩阵由预设数量的像素值构成的矩阵;
根据预设图像获取多个测试矩阵,其中,所述测试矩阵由预设数量的像素点的像素值构成,所述测试矩阵对应的各个所述像素点依次相邻,所述预设图像包括发生畸变的所述第一视场;
在各个所述测试矩阵中,确定与各个所述模板矩阵匹配的测试矩阵,以作为目标矩阵;
确定每个所述目标矩阵中预设位置对应的像素点的坐标,以作为各个所述第一角点的实际坐标。
在一实施例中,处理器102可以用于调用存储器101中存储的视场的位置确定程序,并执行以下操作:
对每个所述模板矩阵与所述模板矩阵对应的各个所述测试矩阵,进行像素值的异或操作,得到每个所述模板矩阵对应的各个异或矩阵;
对每个所述模板矩阵对应的各个所述异或矩进行求和,得到每个所述模板矩阵对应的多个数值;
在所述模板矩阵对应的各个数值中确定最大数值;
确定每个所述模板矩阵的所述最大数值对应的测试矩阵,以作为所述目标矩阵。
在一实施例中,处理器102可以用于调用存储器101中存储的视场的位置确定程序,并执行以下操作:
将每个所述模板矩阵与所述模板矩阵对应的各个所述测试矩阵,进行像素值的比对,得到每个所述模板矩阵对应的多个比对结果,其中,进行比对的像素值在所述模板矩阵的位置与在所述测试矩阵的位置相同,所述比对结果为像素值不同的数量;
在所述模板矩阵对应的各个比对结果中确定数量最大的比对结果,并将数量最大的所述比对结果对应的测试矩阵确定为所述模板矩阵对应的目标矩阵。
在一实施例中,处理器102可以用于调用存储器101中存储的视场的位置确定程序,并执行以下操作:
确定第二视场与未发生畸变的所述第一视场之间的尺寸比例;
获取未发生畸变的所述第一视场的中心点的理想坐标;
根据所述中心点的理想坐标以及所述尺寸比例,确定所述第二视场中各个所述像素点的理想坐标。
本实施例根据上述方案,装置获取由未发生畸变的第一视场以及发生畸变的第一视场确定的透视变换矩阵,并确定与第一视场中心点相同的第二视场中各个像素点的理想坐标,最后根据透视变换矩阵对第二视场的各个像素点的理想坐标进行变换,得到第二视场中各个像素点的实际坐标。由于装置透视变换矩阵是由未发生畸变的视场与发生畸变的视场得到,使得装置能够根据透视变换矩阵以及所需确定位置的视场中各个像素点的理想坐标,简单准确的得到视场中像素点的实际坐标,也即装置能够简单准确的确定视场的位置。
基于上述视场的位置确定装置的硬件构架,提出本发明视场的位置确定方法的实施例。
参照图2,图2为本发明视场的位置确定方法的第一实施例,所述视场的位置确定方法包括以下步骤:
步骤S10,获取透视变换矩阵,其中,所述透视变换矩阵根据未发生畸变的第一视场与发生畸变的第一视场确定;
在本实施例中,执行主体为视场的位置确定装置。为了便于描述,以下采用装置指代视场的位置确定装置。
在需要测试光机的清晰度时,先控制光机向投影屏投影,再通过工业相机采集投影屏上的图像,图像由投影区域以及其他区域组成,其他区域即为未被光机投影的投影屏区域。投影区域即为本实施例中的第一视场,第一视场即为在光机距离投影屏一定间距且在投影屏上产生投影的投影区域。需要测试的光机可以是DLP(Digital LightProcessing”,数字光处理)光机。
光机在投影屏投影的第一视场为发生畸变的第一视场,发生畸变的第一视场存在畸变。理想情况下,第一视场是不存在畸变的。对此,装置需要根据未发生畸变的第一视场以及发生畸变的第一视场确定透视变换矩阵,并将透视变换矩阵进行存储。
步骤S20,确定第二视场中各个像素点的理想坐标,发生畸变的所述第一视场的中心点、未发生畸变的所述第一视场的中心点与所述第二视场的中心点相同;
第一视场下,光机与投影屏之间的距离是预设距离。而第二视场可以视为增大预设距离后,光机在投影屏上的投影区域。第二视场的尺寸小于第一视场的尺寸,且第一视场的中心点与第二视场的中心点相同。可以理解的是,第二视场下光机与投影屏的距离大于第一视场下光机与投影屏的距离,且第二视场下光机相对投影屏的方向与第一视场下光机相对投影屏的方向相同。第一视场与第二视场之间具有尺寸关系,例如,第二视场可以视为0.5第一视场。由于工业相机采集的投影屏的图像具有对应的解像力,因此,第二视场上各个像素点的理想坐标可以根据解像力确定。发生畸变的第一视场的中心点、未发生畸变的第一视场的中心点与第二视场的中心点相同;
步骤S30,根据所述透视变换矩阵对各个所述像素点的理想坐标进行变换,得到每个所述像素点对应的实际坐标。
在确定第二视场在每个像素点的理想坐标后,将每个像素点的理想坐标带入透视变换矩阵中进行逆矩阵求解,从而可以得到第二视场中每个像素点对应的实际坐标,从而准确的确定了第二视场中各个像素点的位置。
在本实施例提供的技术方案中,装置获取由未发生畸变的第一视场以及发生畸变的第一视场确定的透视变换矩阵,并确定与第一视场中心点相同的第二视场中各个像素点的理想坐标,最后根据透视变换矩阵对第二视场的各个像素点的理想坐标进行变换,得到第二视场中各个像素点的实际坐标。由于装置透视变换矩阵是由未发生畸变的视场与发生畸变的视场得到,使得装置能够根据透视变换矩阵以及所需确定位置的视场中各个像素点的理想坐标,简单准确的得到视场中像素点的实际坐标,也即装置能够简单准确的确定视场的位置。
参照图3,图3为本发明视场的位置确定方法的第二实施例,基于第一实施例,所述步骤S10之前,还包括:
步骤S40,获取发生畸变的第一视场中各个第一角点的实际坐标以及未发生畸变的第一视场中各个第二角点的理想坐标;
步骤S50,根据各个所述第一角点的实际坐标以及各个所述第二角点的理想坐标,确定透视变换矩阵;
步骤S60,保存所述透视变换矩阵。
在本实施中,工业相机采集光机在投影屏上图像传输至装置,装置对投影区域以及非投影区域进行膨胀腐蚀,以将投影区域的颜色变为白色,非投影区域变成黑色。也即第一视场为白色的投影区域。理想状态下,第一视场为矩形的白色区域,而实际情况中,由于图像畸变的原因,第一视场的边界并不是直线,也即实际情况中,第一视场并不是矩阵的白色区域。
未发生畸变的第一视场的理想坐标可以根据解像力确定。假设光机在投影屏的投影区域的解像力为1920*1080,则未发生畸变的第一视场的四个第二角度的坐标分别为(0,0)、(1919,0)、(0,1079)以及(1919,1079)。装置可以根据像素点的像素值确定发生畸变的第一视场的各个第一角点的坐标。由于第一视场为白色投影区域,图像上除了第一视场之外的区域为黑色。也即第一视场中各个像素点的像素值为0,除了第一视场的其他区域的像素点的像素值为1。位于左上角的第一角点之上、且与左上角的第一角点相邻的像素点的像素值为1;同时,位于左上角的第一角点的左边、且与左上角的第一角点相邻的像素点的像素值为1;基于此,可以确定第一视场中左上角的第一角点的实际坐标。依次类推,其他各个第一角点的实际坐标也可被依次确定。
在确定各个第一角点的实际坐标以及各个第二角点的理想坐标后,将各个第一角点的实际坐标以及各个第二角点的理想坐标带入变换矩阵公式,求解得到变换矩阵公式中的系数,从而将系数带入变换矩阵公式得到透视变换矩阵,再将透视变换矩阵进行保存。
在本实施例提供的技术方案中,装置获取发生畸变的第一视场的各个第一角点的实际坐标以及未发生畸变的未发生畸变的第一视场中各个第二角点的理想坐标,从而根据各个第一角点的实际坐标以及各个第二角点的理想坐标确定透视变换矩阵,以便于装置利用透视变换矩阵准确的确定视场的位置。
参照图4,图4为本发明视场的位置确定方法的第三实施例,基于第二实施例,所述步骤S40中获取发生畸变的第一视场中各个第一角点的实际坐标的步骤包括:
步骤S41,获取发生畸变的第一视场中每个第一角点对应的模板矩阵,所述模板矩阵由预设数量的像素值构成的矩阵;
在本实施例中,装置中存储有发生畸变的第一视场中每个第一角点对应的模板矩阵,模板矩阵由预设数量的像素值构成的矩阵。例如,模板矩阵可以8*8个像素值构成的方阵,以左上角的第一角点对应的模板矩阵(Pattern_LU-1)为例:
Pattern_LU-1= { 1,1,1,1,1,1,1,1,
1,1,1,1,1,1,1,1,
1,1,1,1,1,1,1,1,
1,1,1,1,1,1,1,1,
1,1,1,1,0,0,0,0,
1,1,1,1,0,0,0,0,
1,1,1,1,0,0,0,0,
1,1,1,1,0,0,0,0,}
步骤S42,根据预设图像获取多个测试矩阵,其中,所述测试矩阵由预设数量的像素点的像素值构成,所述测试矩阵对应的各个所述像素点依次相邻,所述预设图像包括发生畸变的所述第一视场;
装置会对预设图像进行滑窗处理,每进行一次花窗处理得到一个测试矩阵。测试矩阵为预设数量的像素点的像素值构成,且预设数量的各个像素点构成一个方阵,且各个像素点依次相邻。预设图像包括发生畸变的第一视场,预设图像可以视为整个投影屏所对应的图像。装置可以在第一视场的左上角、右上角、左下角以及右下角分别进行多次滑窗处理,得到每个模板矩阵对应的各个测试矩阵。例如,左上角的模板矩阵对应左上角花窗处理的多个测试矩阵。测试矩阵中像素值的数量与模板矩阵中的像素值的数量相同,且两者构成的方阵也相同,例如,模板矩阵是8*8,则测试矩阵也是8*8。
步骤S43,在各个所述测试矩阵中,确定与各个所述模板矩阵匹配的测试矩阵,以作为目标矩阵;
在确定每个模板矩阵对应的各个测试矩阵后,装置会确定每个模板矩阵所匹配的测试矩阵作为目标矩阵。具体的,在本实施例中,有两种方式确定与模板矩阵匹配的测试矩阵。以下对两种方式进行具体的说明。
方式A:
装置先对每个模板矩阵与模板矩阵所对应的各个测试矩阵进行像素值的异或操作,得到每个模板矩阵对应的异或矩阵。例如,模板矩阵A对应8个测试矩阵,则将模板矩阵A与8个测试矩阵进行像素值的异或操作得到8个异或矩阵。像素值异或操作指的是相同位置的像素值进行异或运算。例如,模板矩阵A中的第一行第一列的像素值与测试矩阵中第一行第一列的像素值进行异或运算,若是两个像素值相同,则异或矩阵中第一行第一列的数值为0,若两个像素值不相同,则异或矩阵中第一行第一列的数值为1。
装置在确定每个模板矩阵对应的异或矩阵后,对各个所述异或矩阵进行求和,也即将异或矩阵的数值进行叠加从而得到每个模板矩阵对应的多个数值。例如,模板矩阵A对应有8个异或矩阵,则模板矩阵A对应8个数值。
第一视场为白色区域,白色区域中各个像素点的值为1,黑色区域中各个像素点的像素值为0。理想状态下,作为目标矩阵的测试矩阵中的各个像素值与模板矩阵中的各个像素值均不同,因此,模板矩阵对应的各个数值中的最大数值所对应的测试矩阵即为与模板矩阵对应的测试矩阵。任以上述左上角的模板矩阵为例,理想状态下目标矩阵(Pattern_LU-2)可表示为:
Pattern_LU-2= { 0,0,0,0,0,0,0,0,
0,0,0,0,0,0,0,0,
0,0,0,0,0,0,0,0,
0,0,0,0,0,0,0,0,
0,0,0,0,1,1,1,1,
0,0,0,0,1,1,1,1,
0,0,0,0,1,1,1,1,
0,0,0,0,1,1,1,1,}
由Pattern_LU-1与Pattern_LU-2进行异或操作得到异或矩阵中的数值均为1,也即目标矩阵与模板矩阵对应的异或矩阵求和后的数值为64。而实际上,由于图像畸变,并不能达到64。故,装置在模板矩阵对应的各个数值中确定最大数值,并将最大数值对应的测试矩阵确定为与模板矩阵匹配的测试矩阵,以作为该模板矩阵的目标矩阵,从而得到每个模板矩阵对应的目标矩阵。
方式B:
由方式A可以知道,理想状态下,目标矩阵中的每个像素值与目标矩阵对应的模板矩阵中每个像素值是不相同的。对此,装置将每个模板矩阵对应与模板矩阵对应的各个测试矩阵进行比对,以得到每个模板矩阵对应的多个比对结果,比对结果为像素值不同的数量,且进行比对的像素值在模板矩阵的位置与在测试矩阵的位置是相同的。例如,模板矩阵有8*8个像素值,则模板矩阵与测试矩阵有64次的像素值比对。
装置在模板矩阵的各个比对结果中确定数量最大的比对结果,从而将熟料最大的比对结果的测试矩阵作为该测试矩阵对应的模板矩阵的目标矩阵,从而得到各个目标矩阵。例如,模板矩阵对应4个测试矩阵,则有四个比对结果,比对结果中的数量分别为60、50、40以及30,则选择60的比对结果所对应的测试矩阵作为测试矩阵所对应的模板矩阵的目标矩阵。
需要说明的是,上述采用异或矩阵求和后数值最大的测试矩阵作为目标矩阵,且采用数量最大的比对结果所对应的测试矩阵作为目标矩阵。但也可以通过对模板矩阵中的像素值进行更改,也即将上述模板矩阵中的1改为0且将0改为1,若进行更改,装置则采用异或矩阵求和后数值最小的测试矩阵作为目标矩阵,且采用数量最小的比对接所对应的测试矩阵作为目标矩阵,具体流程可以参照方式A与方式B的流程,在此不再进行赘述。
步骤S44,确定每个所述目标矩阵中预设位置对应的像素点的坐标,以作为各个所述第一角点的实际坐标。
在确定目标矩阵后,装置即可根据目标矩阵对应的像素点的坐标作为各个第一角点的实际坐标。参照Pattern_LU-2,方阵的中心位置(方阵的第五行第五列)即为预设位置,该预设位置的像素值所对应的像素点的坐标即为第一视场的左上角。
在本实施例提供的技术方案中,装置通过滑窗处理得到模板矩阵对应的测试矩阵,并确定与每个模板矩阵所匹配的测试矩阵作为目标矩阵,从而根据目标矩阵确定第一视场的各个第一角点的实际坐标,减少了装置确定角点的工作量,从而快速准确的确定第一视场各个角点的坐标。
参照图5,图5为本发明视场的位置确定方法的第四实施例,基于第一至第三中任一实施例,所述步骤S20包括:
步骤S21,确定第二视场与未发生畸变的所述第一视场之间的尺寸比例;
步骤S22,获取未发生畸变的所述第一视场的中心点的理想坐标;
步骤S23,根据所述中心点的理想坐标以及所述尺寸比例,确定所述第二视场中各个所述像素点的理想坐标。
在本实施例中,装置在保证透视变换矩阵时,将未发生畸变的第一视场的四个角点与透视变换矩阵进行关联存储。
装置先获取第二视场与未发生畸变的第一视场之间的尺寸比例。例如,第二视场为0.5的理想第一视场,尺寸参数即为0.5。装置再获取未发生畸变的第一视场的中心点的实际坐标。具体的,装置获取未发生畸变的第一视场的四个角点的理想坐标,再将对角的理想坐标连线,从而得到交点,该交点即为未发生畸变的第一视场的中心点,中心点的理想坐标可以根据四个角点的理想坐标可以计算得到。
装置在根据中心点的理想坐标以及尺寸参数确定第二视场中各个像素点的理想坐标。具体的,例如,尺寸比例为0.5,则第二视场的左上角点到中心点的距离为发生畸变的第一视场的左上角点到中心点的一半,第二视场的右上角点到中心点的距离为发生畸变的第一视场的右上角点到中心点的一半,第二视场的右下角点到中心点的距离为发生畸变的第一视场的右下角点到中心点的一半,且第二视场的左下角点到中心点的距离为发生畸变的第一视场的左下角点到中心点的一半。对此,装置根据上述原理得到第二视场的四个角点的理想坐标,在对四个角点进行连线,从而确定未发生畸变的第二视场,由此可以根据解像力得到第二视场中各个像素点的理想坐标。
本发明还提供一种视场的位置确定装置,所述视场的位置确定装置包括存储器、处理器以及存储在所述存储器并可在所述处理器上运行的视场的位置确定程序,所述视场的位置确定程序被所述处理器执行时实现如上实施例所述的视场的位置确定方法的各个步骤。
本发明还提供一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有视场的位置确定程序,所述视场的位置确定程序被处理器执行时实现如上实施例所述的视场的位置确定方法的各个步骤。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中,包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机,计算机,服务器,空调器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (8)
1.一种视场的位置确定方法,其特征在于,所述视场的位置确定方法包括以下步骤:
获取透视变换矩阵,其中,所述透视变换矩阵根据未发生畸变的第一视场与发生畸变的第一视场确定;
确定第二视场中各个像素点的理想坐标,其中,发生畸变的所述第一视场的中心点、未发生畸变的所述第一视场的中心点与所述第二视场的中心点相同;
根据所述透视变换矩阵对各个所述像素点的理想坐标进行变换,得到每个所述像素点对应的实际坐标。
2.如权利要求1所述的视场的位置确定方法,其特征在于,所述获取透视变换矩阵的步骤之前,还包括:
获取发生畸变的第一视场中各个第一角点的实际坐标以及未发生畸变的第一视场中各个第二角点的理想坐标;
根据各个所述第一角点的实际坐标以及各个所述第二角点的理想坐标,确定透视变换矩阵;
保存所述透视变换矩阵。
3.如权利要求2所述的视场的位置确定方法,其特征在于,所述获取发生畸变的第一视场中各个第一角点的实际坐标的步骤包括:
获取发生畸变的第一视场中每个第一角点对应的模板矩阵,所述模板矩阵由预设数量的像素值构成的矩阵;
根据预设图像获取多个测试矩阵,其中,所述测试矩阵由预设数量的像素点的像素值构成,所述测试矩阵对应的各个所述像素点依次相邻,所述预设图像包括发生畸变的所述第一视场;
在各个所述测试矩阵中,确定与各个所述模板矩阵匹配的测试矩阵,以作为目标矩阵;
确定每个所述目标矩阵中预设位置对应的像素点的坐标,以作为各个所述第一角点的实际坐标。
4.如权利要求3所述的视场的位置确定方法,其特征在于,所述在各个所述测试矩阵中,确定与各个所述模板矩阵匹配的测试矩阵,以作为目标矩阵的步骤包括:
对每个所述模板矩阵与所述模板矩阵对应的各个所述测试矩阵,进行像素值的异或操作,得到每个所述模板矩阵对应的各个异或矩阵;
对每个所述模板矩阵对应的各个所述异或矩进行求和,得到每个所述模板矩阵对应的多个数值;
在所述模板矩阵对应的各个数值中确定最大数值;
确定每个所述模板矩阵的所述最大数值对应的测试矩阵,以作为所述目标矩阵。
5.如权利要求3所述的视场的位置确定方法,其特征在于,所述在各个所述测试矩阵中,确定与各个所述模板矩阵匹配的测试矩阵,以作为目标矩阵的步骤包括:
将每个所述模板矩阵与所述模板矩阵对应的各个所述测试矩阵,进行像素值的比对,得到每个所述模板矩阵对应的多个比对结果,其中,进行比对的像素值在所述模板矩阵的位置与在所述测试矩阵的位置相同,所述比对结果为像素值不同的数量;
在所述模板矩阵对应的各个比对结果中确定数量最大的比对结果,并将数量最大的所述比对结果对应的测试矩阵确定为所述模板矩阵对应的目标矩阵。
6.如权利要求1-5任一项所述的视场的位置确定方法,其特征在于,所述确定第二视场中各个像素点的理想坐标的步骤包括:
确定第二视场与未发生畸变的所述第一视场之间的尺寸比例;
获取未发生畸变的所述第一视场的中心点的理想坐标;
根据所述中心点的理想坐标以及所述尺寸比例,确定所述第二视场中各个所述像素点的理想坐标。
7.一种视场的位置确定装置,其特征在于,所述视场的位置确定装置包括存储器、处理器以及存储在所述存储器并可在所述处理器上运行的视场的位置确定程序,所述视场的位置确定程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述的视场的位置确定方法的各个步骤。
8.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有视场的位置确定程序,所述视场的位置确定程序被处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述的视场的位置确定方法的各个步骤。
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