CN111735823B - 一种模组的缺陷检测方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种模组的缺陷检测方法及系统，其通过点亮待检测模组使其显示预设的灰阶画面，开启模组检测设备的侧光源以获取第一检测画面，通过第一检测画面中的发暗缺陷实现盖板玻璃内的异物缺陷的检测，在背光和侧光的共同作用下，通过L128和Particle画面结合，来针对盖板下异物和盖板上异物进行准确的分类，从而有利于后续的缺陷判别与输出。
Description
技术领域
本发明属于模组检测领域，具体涉及一种模组的缺陷检测方法及系统。
背景技术
随着越来越多厂牌推出触控手机、触控平板电脑和触控车载显示屏等新产品，对该类产品的检测需求也越来越多。在显示面板上加入Cover Glass（盖板玻璃）时可能会有灰尘进入；粘合显示面板与盖板时，会有粘合剂溢出进入显示区域，这些工艺上的问题都会降低产品的质量，厂商要求把这些作为缺陷检出。
通常进行AOI检测，面板表面灰尘会在white、R/G/B、L48、L0这些画面发暗，然后通过Particle画面（即只打侧光的画面）打亮上表面异物来进行灰尘过滤减少过检，但是Cover Glass下的灰尘和残胶在white、R/G/B、L48、L0这些画面也是发暗的，在Particle画面也都是发亮的，如果也通过灰尘过滤这种机制将会漏检。其中，红（R）、绿（G）、蓝（B）为三基色，调节范围分别为0-255。分别为RGB设置不同的值可以搭配出不同的画面，R255为单色红且红色的值为255的画面，即RGB(255, 0, 0)画面；G255为单色绿且绿色的值为255的画面，即RGB(0, 255, 0)画面；B255为单色蓝且蓝色的值为255的画面，即RGB(0, 0, 255)画面；L0为黑色画面，即RGB的值都为0；L48为48灰阶画面，其RGB的值均为48，即RGB(48, 48,48)画面；L255为255灰阶画面，其RGB的值均为255，即RGB(255, 255, 255)画面。
对于如何区分盖板内异物和盖板上的异物来说，现有的技术方案要么直接忽略这个问题，但是这样会导致面板检测时此类缺陷的大量漏检；要么单独设置一个复判工位进行人员的逐个复判，然而会带来时间成本与人力成本的增加；要么增加线扫相机，通过线扫相机的优势区分盖板上下异物，但是这样不仅需要在机台上增加线扫机位还会增加物料成本。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本发明提供了一种模组的缺陷检测方法及系统，其通过点亮待检测模组使其显示预设的灰阶画面，开启模组检测设备的侧光源以获取第一检测画面，通过第一检测画面中的发暗缺陷实现盖板玻璃内的异物缺陷的检测。
为实现上述目的，按照本发明的一个方面，提供了一种模组的缺陷检测方法，待检测模组包括盖板玻璃，该方法包括：
点亮待检测模组使其显示预设的灰阶画面，开启模组检测设备的侧光源以获取第一检测画面，将第一检测画面中的发暗缺陷判断为盖板玻璃内的异物缺陷。
作为本发明的进一步改进，预设的灰阶画面的灰阶值范围为：88~168。
作为本发明的进一步改进，该方法还包括：
对待检测模组进行多种不同检测画面的缺陷检测，获得第一缺陷集合；
对待检测模组进行灰尘检测，对第一缺陷集合进行灰尘过滤，获得第二缺陷集合；
保留盖板玻璃内的异物缺陷；
对第二缺陷集合进行缺陷分类识别，输出识别结果。
作为本发明的进一步改进，对待检测模组进行灰尘检测，对第一缺陷集合进行灰尘过滤，获得第二缺陷集合包括：
点亮待检测模组且不开启模组检测设备的侧光源以获取第二检测画面，不点亮待检测模组且开启模组检测设备的侧光源以获取第三检测画面，将第二检测画面中为发暗缺陷且第三检测画面中为发亮缺陷的缺陷判断为盖板玻璃上的灰尘缺陷；
从第一缺陷集合中去除灰尘缺陷，获得第二缺陷集合。
第二检测画面或者第三检测画面为R255、G255、B255、L0、L48和L255中的一种或多种。
作为本发明的进一步改进，通过面阵相机获取第一检测画面或者第二检测画面或者第三检测画面。
为实现上述目的，按照本发明的另一个方面，提供了一种模组的缺陷检测设备，待检测模组包括盖板玻璃，检测设备包括侧光源，
缺陷检测设备用于点亮待检测模组使其显示预设的灰阶画面，开启模组检测设备的侧光源以获取第一检测画面，将第一检测画面中的发暗缺陷判断为盖板玻璃内的异物缺陷。
作为本发明的进一步改进，检测设备的检测步骤为：
进行盖板玻璃内的异物缺陷判断；
进行盖板玻璃上的灰尘的判断；
进行其他类型缺陷的判断，即通过点亮待检测模组使其显示待检测画面以实现其他类型缺陷的检测，对于已判断为盖板玻璃内的异物缺陷的缺陷或判断为盖板玻璃上的灰尘，不再对其进行其他类型缺陷的判断。
作为本发明的进一步改进，预设的灰阶画面的灰阶值范围为：88~168。
为实现上述目的，按照本发明的另一个方面，提供了一种计算机可读介质，其存储有可由终端设备执行的计算机程序，当程序在终端设备上运行时，使得终端设备执行上述方法的步骤。
总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有以下有益效果：
本发明的一种模组的缺陷检测方法及系统，其通过点亮待检测模组使其显示预设的灰阶画面，开启模组检测设备的侧光源以获取第一检测画面，通过第一检测画面中的发暗缺陷实现盖板玻璃内的异物缺陷的检测，在特定灰阶下，尤其是P128下或其附近时，在背光和侧光的共同作用下，针对盖板下异物和盖板上异物进行准确的区分，从而有利于后续的缺陷判别与输出；从而无需进行硬件结构的修改，不会增加额外的成本，方法简单，可实施性极强，也不会导致整个检测时间TT的增加，提高了模组检测设备尤其是AOI检测系统的性能。
附图说明
图1为本发明实施例的缺陷检测顺序的示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。下面结合具体实施方式对本发明进一步详细说明。
一种模组的缺陷检测方法，用于模组检测设备对待检查模组进行检测，可以准确地识别该缺陷到底属于盖板玻璃内的异物缺陷还是盖板玻璃上的灰尘，本申请中所指的对待检查模组是具有盖板玻璃的模组，作为一个示例，待检查模组可以为LCD、OLED、MicroLED或Mini LED。
本实施例的测试方法具体包括如下步骤：
点亮待检测模组使其显示预设的灰阶画面，开启模组检测设备的侧光源以获取第一检测画面，将第一检测画面中的发暗缺陷判断为盖板玻璃内的异物缺陷。通过开启模组检测设备的侧光源并选择合适的预设灰阶画面，采用和常规灰阶画面检测相同的曝光时间和增益进行拍摄得到对应的检测画面，不点亮模组的情况下，盖板上异物和盖板下异物均会是发亮状态，然而通过点亮模组和开启侧光源，并使其显示特定的灰阶画面，可以使得盖板上异物依然是发亮，盖板下的异物变成了发暗状态，优选的，此种情况下还可以将第一检测画面中的发亮缺陷判断为盖板玻璃上的异物缺陷，从而可以达到区分盖板玻璃内外的异物的效果。在背光和侧光的共同作用下，通过L128和Particle画面结合，来针对盖板下异物和盖板上异物进行准确的分类，从而有益于后续的缺陷判别与输出。由于侧光源的光照角度和光强，以及不同的灰阶下面板的背光强度有所不同，作为一种具体的实施方式，可以利用同时存在盖板下异物和盖板上异物的参考模组进行调试，以获取预设的灰阶画面的灰阶值，当然利用参考模组的方式仅为一个示例，还可以通过仿真模拟或其他方式来获取预设的灰阶画面的灰阶值。优选的，预设的灰阶画面的灰阶值范围为：88~168。
可选的，该方法还包括：
对待检测模组进行多种不同检测画面的缺陷检测，获得第一缺陷集合；
对待检测模组进行灰尘检测，对第一缺陷集合进行灰尘过滤，获得第二缺陷集合；
保留盖板玻璃内的异物缺陷；
对第二缺陷集合进行缺陷分类识别，输出识别结果。
可选的，对所述待检测模组进行灰尘检测，对第一缺陷集合进行灰尘过滤，获得第二缺陷集合包括：
点亮待检测模组且不开启模组检测设备的侧光源以获取第二检测画面，不点亮待检测模组且开启模组检测设备的侧光源以获取第三检测画面，将第二检测画面中为发暗缺陷且第三检测画面中为发亮缺陷的缺陷判断为盖板玻璃上的灰尘缺陷；
从第一缺陷集合中去除所述灰尘缺陷，获得第二缺陷集合。
可选的，第二检测画面或者第三检测画面为包括但不限于R255、G255、B255、L0、L48和L255中的一种或多种。
可选的，其他类型缺陷包括但不限于点缺陷、线缺陷和mura缺陷中的一种或多种。
可选的，对于已判断为盖板玻璃内的异物缺陷的缺陷或判断为盖板玻璃上的灰尘，不再对其进行其他类型缺陷的判断。
可选的，通过面阵相机获取所述第一检测画面或者第二检测画面或者第三检测画面
图1为本发明实施例的一种模组的缺陷检测顺序的示意图。如图1所示，作为一个具体的实施方式，该方法中缺陷判断的顺序为：首先进行盖板玻璃内的异物缺陷判断，再进行盖板玻璃上的灰尘的判断，最后再进行其他缺陷的判断。
一种模组的缺陷检测设备，待检测模组包括盖板玻璃，检测设备包括侧光源，
缺陷检测设备用于点亮待检测模组使其显示预设的灰阶画面，开启模组检测设备的侧光源以获取第一检测画面，将第一检测画面中的发暗缺陷判断为盖板玻璃内的异物缺陷。通过开启模组检测设备的侧光源并选择合适的预设灰阶画面，采用和常规灰阶画面检测相同的曝光时间和增益进行拍摄得到对应的检测画面，不点亮模组的情况下，盖板上异物和盖板下异物均会是发亮状态，然而通过点亮模组使其显示特定的灰阶画面，可以使得盖板下异物依然是发暗，从而可以达到区分盖板玻璃内外的异物的效果。优选的，预设的灰阶画面的灰阶值范围为：88~168。
可选的，缺陷检测设备还用于点亮待检测模组且不开启模组检测设备的侧光源以获取第二检测画面，不点亮待检测模组且开启模组检测设备的侧光源以获取第三检测画面；排除所述盖板玻璃内的异物缺陷，将第二检测画面中为发暗缺陷且第三检测画面中为发亮缺陷的缺陷判断为所述盖板玻璃上的灰尘。
可选的，缺陷检测设备还用于通过点亮待检测模组使其显示待检测画面以实现其他类型缺陷的检测，其中，待检测画面的类型包括但不限于R255、G255、B255、L0、L48和L255中的一种或多种。其中，红（R）、绿（G）、蓝（B）为三基色，调节范围分别为0-255。分别为RGB设置不同的值可以搭配出不同的画面；R255为单色红且红色的值为255的画面，即RGB(255,0, 0)画面；G255为单色绿且绿色的值为255的画面，即RGB(0, 255, 0)画面；B255为单色蓝且蓝色的值为255的画面，即RGB(0, 0, 255)画面；L0为黑色画面，即RGB的值都为0；L48为48灰阶画面，其RGB的值均为48，即RGB(48, 48, 48)画面；L255为255灰阶画面，其RGB的值均为255，即RGB(255, 255, 255)画面。其他类型缺陷包括但不限于点缺陷、线缺陷和mura缺陷中的一种或多种。
可选的，检测设备的检测步骤为：
进行盖板玻璃内的异物缺陷判断；
进行盖板玻璃上的灰尘的判断；
进行其他类型缺陷的判断，即通过点亮待检测模组使其显示待检测画面以实现其他类型缺陷的检测，对于已判断为盖板玻璃内的异物缺陷的缺陷或判断为盖板玻璃上的灰尘，不再对其进行其他类型缺陷的判断。
可选的，该缺陷检测设备为AOI检测设备。
一种计算机可读介质，其存储有可由终端设备执行的计算机程序，当程序在终端设备上运行时，使得终端设备执行上述方法的步骤。
一种终端设备，包括至少一个处理单元、以及至少一个存储单元，其中，存储单元存储有计算机程序，当程序被处理单元执行时，使得处理单元执行上述方法的步骤。
本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种模组的缺陷检测方法，待检测模组包括盖板玻璃，其特征在于，该方法包括：
点亮待检测模组使其显示预设的灰阶画面，开启模组检测设备的侧光源以获取第一检测画面，将所述第一检测画面中的发暗缺陷判断为盖板玻璃内的异物缺陷；所述预设的灰阶画面的灰阶值范围为：L88~L168。
2.根据权利要求1所述的一种模组的缺陷检测方法，其中，该方法还包括：
对待检测模组进行多种不同检测画面的缺陷检测，获得第一缺陷集合；
对所述待检测模组进行灰尘检测，对所述第一缺陷集合进行灰尘过滤，获得第二缺陷集合；
保留所述盖板玻璃内的异物缺陷；
对所述第二缺陷集合进行缺陷分类识别，输出识别结果。
3.根据权利要求2所述的一种模组的缺陷检测方法，所述对所述待检测模组进行灰尘检测，对所述第一缺陷集合进行灰尘过滤，获得第二缺陷集合包括：
点亮待检测模组且不开启模组检测设备的侧光源以获取第二检测画面，不点亮待检测模组且开启模组检测设备的侧光源以获取第三检测画面，将第二检测画面中为发暗缺陷且第三检测画面中为发亮缺陷的缺陷判断为所述盖板玻璃上的灰尘缺陷；
从所述第一缺陷集合中去除所述灰尘缺陷，获得第二缺陷集合。
4.根据权利要求3所述的一种模组的缺陷检测方法，其中，该方法还包括：
所述第二检测画面或者第三检测画面为R255、G255、B255、L0、L48和L255中的一种或多种。
5.根据权利要求3所述的一种模组的缺陷检测方法，其中，通过面阵相机获取所述第一检测画面或者第二检测画面或者第三检测画面。
6.一种模组的缺陷检测设备，待检测模组包括盖板玻璃，所述检测设备包括侧光源，其特征在于，
所述缺陷检测设备用于点亮待检测模组使其显示预设的灰阶画面，开启模组检测设备的侧光源以获取第一检测画面，将所述第一检测画面中的发暗缺陷判断为盖板玻璃内的异物缺陷；所述预设的灰阶画面的灰阶值范围为：L88~L168。
7.根据权利要求6所述的一种模组的缺陷检测设备，其中，所述检测设备的检测步骤为：
进行盖板玻璃内的异物缺陷判断；
进行盖板玻璃上的灰尘判断；
进行其他类型缺陷的判断，即通过点亮待检测模组使其显示待检测画面以实现其他类型缺陷的检测，对于已判断为盖板玻璃内的异物缺陷的缺陷或判断为所述盖板玻璃上的灰尘，不再对其进行其他类型缺陷的判断。
8.一种计算机可读介质，其特征在于，其存储有可由终端设备执行的计算机程序，当所述程序在终端设备上运行时，使得所述终端设备执行权利要求1～5任一权利要求所述方法的步骤。
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