CN111443509A - 一种用于检测lcd液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种用于检测LCD液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法,包括如下步骤:步骤S1,根据待检测产品预设点亮产品的驱动条件和检测参数;步骤S2,将待检测产品放置于检测设备上,并启动检测;步骤S3,待产品移送到位后,启动相机进行连续拍摄;步骤S4,获取相机拍摄的图像并进行综合分析比对检测,判断闪烁缺陷;步骤S5,输出缺陷分析结果;步骤S6,根据缺陷分析结果分拣产品。本发明通过连续拍摄多张图像,能有效抓拍到产品的闪烁缺陷,并通过多张图像对比,能有效判断产品是否存在闪烁缺陷,提高了检测的准确性,有效避免误检或漏检,检测效果好。
Description
技术领域
本发明涉及LCD屏检测技术领域,尤其涉及一种用于检测LCD液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法。
背景技术
目前,LCD液晶屏行业对于LCD液晶屏的闪烁类缺陷检测与LCD液晶屏的普通缺陷检测方法一致,都是通过拍摄LCD屏表面的一张图像,然后对图像进行检测分析来得到检测结果;但是,现有技术对于LCD液晶屏的黑白斑或闪烁类缺陷检测还存在以下缺陷:
1、在产品额定的工作电压和驱动频率条件下点亮LCD液晶屏时,黑白斑或闪烁类缺陷的特征很不明显。换句话说,在产品的常规驱动条件下,很难观察到这类缺陷,检测的准确性低、效果差;
2、现有的测试设备一般是在LCD液晶屏切换画面的瞬间才能明显地观察到黑白斑或闪烁类缺陷。但此时画面显示内容不稳定,缺陷保持的时间短暂,难以稳定地捕捉到缺陷,容易造成误检或漏检。
因此,现有技术存在缺陷,需要改进。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术的不足,提供一种用于检测LCD液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法。
本发明的技术方案如下:
一种用于检测LCD液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤S1,根据待检测产品预设点亮产品的驱动条件和检测参数;
步骤S2,将待检测产品放置于检测设备上,并启动检测;
其中,检测设备包括上料机构和定位检测机构;所述上料机构与一计算机通信连接,用于抓取及转运产品;所述定位检测机构由检测台和设置在检测台上的相机所构成,所述相机与所述计算机通信连接,用于定位拍摄产品表面的图像;
步骤S3,待产品移送到位后,启动相机进行连续拍摄;
步骤S4,获取相机拍摄的图像并进行综合分析比对检测,判断黑白斑或闪烁缺陷;
步骤S5,输出缺陷分析结果;
步骤S6,根据缺陷分析结果分拣产品。
进一步地,步骤S1中所述的驱动条件为采用有别于产品额定驱动条件的低压和低频电源来点亮产品;其中,电压的取值范围为V10~V90之间,V10表示LCD对比度为10%时的电压,V90表示LCD对比度为90%时的电压;频率的取值范围为0HZ~64HZ之间;
步骤S1中所述的检测参数包括拍摄图像的次数参数及时间参数。进一步地,步骤S3中所述的启动相机进行连续拍摄是指相机按照次数参数和时间参数拍摄多张待检测产品表面的图像。
进一步地,步骤S4中所述的获取相机拍摄的图像的方式为计算机通过相机的SDK接口同步抓取相机当前拍摄的图像。
进一步地,步骤S4中所述的综合分析比对检测包括对所有图像的预处理和图像对比;进一步的,对所有图像的预处理包括对比度增强、去噪、滤波及图像增强中的一种至多种;而对所有图像的对比是通过与模板图像相较找出差异过大的区域,或在当前图像中找出亮度不均的区域,从而完成图像对比。
进一步地,步骤S4是通过比对所有图像的特征、亮度和灰度来判断产品是否存在缺陷;其中,不存在缺陷则判断当前产品为良品,反之则判断当前产品为不良品;进一步的,如果通过对所有图像的特征、亮度和灰度的比对分析,找到一张或多张照片存在亮点,而剩余照片在同一位置不存在亮点,即可判断上述位置存在黑白斑或闪烁缺陷。
进一步地,步骤S5是根据步骤S4中所述的综合分析比对检测来输出当前所检测的产品是否存在缺陷,并输出不良品的缺陷的坐标。
进一步地,步骤S6是通过所述计算机输出缺陷分析结果,再通过计算机控制所述上料机构将检测完成的产品按缺陷分析结果分拣到良品分拣处或不良品分拣处。
采用上述方案,本发明具有以下有益效果:
本发明通过低频、低压的驱动条件来点亮产品,让黑白斑和闪烁类缺陷能够长时间稳定保持住,再通过连续拍摄多张图像,能有效抓拍到产品的黑白斑和闪烁缺陷;通过多张图像对比,能有效判断产品是否存在闪烁缺陷,提高了检测的准确性,有效避免误检或漏检,检测效果好。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明的用于检测LCD液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法的步骤流程图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例,对本发明进行详细说明。
参照图1所示,本发明提供一种用于检测LCD液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法,包括如下步骤:
步骤S1,根据待检测产品预设点亮产品的驱动条件和检测参数,其中,检测参数包括拍摄图像的次数参数及时间参数;
步骤S2,将待检测产品放置于检测设备上,并启动检测;
其中,检测设备包括上料机构和定位检测机构;所述上料机构由机械手和设置在机械手上的吸盘所构成,所述机械手和吸盘分别与一计算机通信连接,用于抓取及转运产品;所述定位检测机构由检测台和设置在检测台上的相机所构成,所述相机与所述计算机通信连接,用于定位拍摄产品表面的图像;
步骤S3,待产品移送到位后,启动相机进行连续拍摄;
其中,产品移送到位是指待检测产品被吸盘紧密吸附住后,通过及机械手的动作来驱动吸盘将产品转运至相机下方;
步骤S4,获取相机拍摄的图像并进行综合分析比对检测,判断黑白斑或闪烁缺陷;
步骤S5,输出缺陷分析结果;
步骤S6,根据缺陷分析结果分拣产品;
上述通过重复循环步骤S2至步骤S6,批量完成LCD面板的检测。
在本实施例中,步骤S1中所述的驱动条件为采用有别于产品额定驱动条件的低压和低频电源来点亮产品,其中,电压的取值范围为V10~V90之间(V10表示LCD对比度为10%时的电压,V90表示LCD对比度为90%时的电压,具体数值可根据产品的规格来决定),频率的取值范围为0HZ~64HZ之间。
在本实施例中,步骤S1中所述的次数参数设定为3~20次,时间参数设定为每间隔50~300毫秒拍摄一张产品表面的图像。
在本实施例中,步骤S3中所述的启动相机进行连续拍摄是指相机按照次数参数和时间参数拍摄多张待检测产品表面的图像。
在本实施例中,步骤S4中所述的获取相机拍摄的图像的方式为计算机通过相机的SDK接口同步抓取相机当前拍摄的图像。
在本实施例中,步骤S4中所述的综合分析比对检测包括对所有图像的预处理和图像对比;进一步的,对所有图像的预处理包括对比度增强、去噪、滤波及图像增强中的一种至多种;而对所有图像的对比是通过与模板图像相较找出差异过大的区域,或在当前图像中找出亮度不均的区域,从而完成图像对比。
在本实施例中,步骤S4是通过比对所有图像的特征、亮度和灰度来判断产品是否存在缺陷;其中,不存在缺陷则判断当前产品为良品,反之则判断当前产品为不良品;进一步的,如果通过对所有图像的特征、亮度和灰度的比对分析,找到一张或多张照片存在亮点,而剩余照片在同一位置不存在亮点,即可判断上述位置存在黑白斑或闪烁缺陷;
值得一提的是,若产品存在闪烁缺陷的话,现有技术通过相机仅拍摄一张产品表面的图像,可能抓拍不到缺陷闪烁的亮点;而通过低频、低压的驱动条件让缺陷长时间的、稳定地保持,再通过相机连续拍摄多次,能获得多张产品显示画面的图像,其中,一张或多张照片存在因缺陷而产生的亮点,剩余照片不存在因缺陷而产生的亮点,能有效保证相机抓拍到黑白斑或闪烁缺陷,有效避免误检或漏检。
在本实施例中,步骤S5是根据步骤S4中所述的综合分析比对检测来输出当前所检测的产品是否存在缺陷,并输出不良品的缺陷的坐标。
在本实施例中,步骤S6是通过所述计算机输出缺陷分析结果,再通过计算机控制所述上料机构将检测完成的产品按缺陷分析结果分拣到良品分拣处或不良品分拣处。
与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:
本发明通过低频、低压的驱动条件来点亮产品,让黑白斑和闪烁类缺陷能够长时间稳定保持住,再通过连续拍摄多张图像,能有效抓拍到产品的黑白斑和闪烁缺陷;通过多张图像对比,能有效判断产品是否存在闪烁缺陷,提高了检测的准确性,有效避免误检或漏检,检测效果好。
以上仅为本发明的较佳实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种用于检测LCD液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤S1,根据待检测产品预设点亮产品的驱动条件和检测参数;
步骤S2,将待检测产品放置于检测设备上,并启动检测;
其中,检测设备包括上料机构和定位检测机构;所述上料机构与一计算机通信连接,用于抓取及转运产品;所述定位检测机构由检测台和设置在检测台上的相机所构成,所述相机与所述计算机通信连接,用于定位拍摄产品表面的图像;
步骤S3,待产品移送到位后,启动相机进行连续拍摄;
步骤S4,获取相机拍摄的图像并进行综合分析比对检测,判断黑白斑或闪烁缺陷;
步骤S5,输出缺陷分析结果;
步骤S6,根据缺陷分析结果分拣产品。
2.根据权利要求1所述的用于检测LCD液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法,其特征在于,步骤S1中所述的驱动条件为采用有别于产品额定驱动条件的低压和低频电源来点亮产品;其中,电压的取值范围为V10~V90之间,V10表示LCD对比度为10%时的电压,V90表示LCD对比度为90%时的电压;频率的取值范围为0HZ~64HZ之间;
步骤S1中所述的检测参数包括拍摄图像的次数参数及时间参数。
3.根据权利要求2所述的用于检测LCD液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法,其特征在于,步骤S3中所述的启动相机进行连续拍摄是指相机按照次数参数和时间参数拍摄多张待检测产品表面的图像。
4.根据权利要求1所述的用于检测LCD液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法,其特征在于,步骤S4中所述的获取相机拍摄的图像的方式为计算机通过相机的SDK接口同步抓取相机当前拍摄的图像。
5.根据权利要求4所述的用于检测LCD液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法,其特征在于,步骤S4中所述的综合分析比对检测包括对所有图像的预处理和图像对比;进一步的,对所有图像的预处理包括对比度增强、去噪、滤波及图像增强中的一种至多种;而对所有图像的对比是通过与模板图像相较找出差异过大的区域,或在当前图像中找出亮度不均的区域,从而完成图像对比。
6.根据权利要求5所述的用于检测LCD液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法,其特征在于,步骤S4是通过比对所有图像的特征、亮度和灰度来判断产品是否存在缺陷;其中,不存在缺陷则判断当前产品为良品,反之则判断当前产品为不良品;进一步的,如果通过对所有图像的特征、亮度和灰度的比对分析,找到一张或多张照片存在亮点,而剩余照片在同一位置不存在亮点,即可判断上述位置存在黑白斑或闪烁缺陷。
7.根据权利要求1所述的用于检测LCD液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法,其特征在于,步骤S5是根据步骤S4中所述的综合分析比对检测来输出当前所检测的产品是否存在缺陷,并输出不良品的缺陷的坐标。
8.根据权利要求1所述的用于检测LCD液晶屏黑白斑和闪烁类缺陷的方法,其特征在于,步骤S6是通过所述计算机输出缺陷分析结果,再通过计算机控制所述上料机构将检测完成的产品按缺陷分析结果分拣到良品分拣处或不良品分拣处。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112504637A (zh) * | 2020-12-01 | 2021-03-16 | 成都新西旺自动化科技有限公司 | 一种基于机器视觉检测的光源频闪检测系统及方法 |
CN113281942A (zh) * | 2021-04-20 | 2021-08-20 | 信利(惠州)智能显示有限公司 | 一种提高TN型号Island残留引起点缺陷的检出率的方法 |
WO2022027817A1 (zh) * | 2020-08-03 | 2022-02-10 | 深圳回收宝科技有限公司 | 一种用于显示装置白斑异常的检测方法及相关装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20150129749A1 (en) * | 2013-11-08 | 2015-05-14 | Ye Dai | Method and Device for Measuring Flicker Value of Liquid Crystal Modules |
CN107765463A (zh) * | 2017-10-13 | 2018-03-06 | 上海友衷科技有限公司 | 一种仪表盘液晶屏的检测方法 |
CN207301544U (zh) * | 2017-10-30 | 2018-05-01 | 上海维迩克显示技术有限公司 | 一种液晶屏自动检测系统 |
CN108303431A (zh) * | 2017-01-11 | 2018-07-20 | 由田新技股份有限公司 | 用于表面异物检测的自动光学检测系统 |
CN110426873A (zh) * | 2019-08-26 | 2019-11-08 | 深圳市全洲自动化设备有限公司 | 一种lcd液晶屏测试方法 |
CN110764290A (zh) * | 2019-10-30 | 2020-02-07 | 苏州精濑光电有限公司 | 一种检测机构 |
-
2020
- 2020-05-13 CN CN202010403595.0A patent/CN111443509B/zh active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20150129749A1 (en) * | 2013-11-08 | 2015-05-14 | Ye Dai | Method and Device for Measuring Flicker Value of Liquid Crystal Modules |
CN108303431A (zh) * | 2017-01-11 | 2018-07-20 | 由田新技股份有限公司 | 用于表面异物检测的自动光学检测系统 |
CN107765463A (zh) * | 2017-10-13 | 2018-03-06 | 上海友衷科技有限公司 | 一种仪表盘液晶屏的检测方法 |
CN207301544U (zh) * | 2017-10-30 | 2018-05-01 | 上海维迩克显示技术有限公司 | 一种液晶屏自动检测系统 |
CN110426873A (zh) * | 2019-08-26 | 2019-11-08 | 深圳市全洲自动化设备有限公司 | 一种lcd液晶屏测试方法 |
CN110764290A (zh) * | 2019-10-30 | 2020-02-07 | 苏州精濑光电有限公司 | 一种检测机构 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022027817A1 (zh) * | 2020-08-03 | 2022-02-10 | 深圳回收宝科技有限公司 | 一种用于显示装置白斑异常的检测方法及相关装置 |
CN112504637A (zh) * | 2020-12-01 | 2021-03-16 | 成都新西旺自动化科技有限公司 | 一种基于机器视觉检测的光源频闪检测系统及方法 |
CN112504637B (zh) * | 2020-12-01 | 2022-09-20 | 成都新西旺自动化科技有限公司 | 一种基于机器视觉检测的光源频闪检测系统及方法 |
CN113281942A (zh) * | 2021-04-20 | 2021-08-20 | 信利(惠州)智能显示有限公司 | 一种提高TN型号Island残留引起点缺陷的检出率的方法 |
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