CN111711418A - 一种快速评估光伏组件封装胶膜抗pid效果的测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及封装胶膜技术领域，尤其是一种快速评估光伏组件封装胶膜抗PID效果的测试方法，包括：S1设计组件板面，S2按单玻、双玻结构叠层，放置于层压机内压制组件；S3标定待测组件初始功率，组件四周贴双面导电铜箔，置于老化箱内，设置测试负高压、老化箱的温度和湿度，启动设备进行抗PID性能测试；S4测试结束后，取出组件，常温放置一段时间后，标定测试后的组件功率，PID结果即为组件测试前后功率差值与组件初始功率的比值；S5确定组件功率衰减标准。采用本发明中的组件版型，降低对测试设备的要求，方便运输存放，降低组件损坏的概率，组件耗材成本降低；在有限的条件下单次测试组件数量增加，测试频率减少，测试时间变短，时效性提高。
Description
技术领域
本发明涉及封装胶膜技术领域，尤其是一种快速评估光伏组件封装胶膜抗PID效果的测试方法。
背景技术
太阳能光伏组件在室外电站进行发电工作时组件直接暴漏在空气和雨水中，在电站中处于负偏压较大的组件会出现PID现象，导致发电效率降低，严重的甚至失去发电能力，造成很大损失。室外组件产生PID现象，其中一个原因就是封装胶膜能否起到抗PID的作用，因此需要对光伏组件封装胶膜预先进行抗PID的测试，从而确定封装胶膜是否能达到抗PID的效果。
常规的光伏组件封装胶膜抗PID的测试方法采用的是由60片或72片电池片封装的单、双玻组件，测试组件尺寸较大，对测试使用的老化箱要求高，设备运行成本随之增大，同时搬运放置过程易造成组件损坏，特备是无铝边框的双玻组件。制作组件的耗材成本也较高，对于非专业组件制造厂家不利于实验成本的控制。常规抗PID测试方法测试时间规定为96h一轮，耗时较长，同时因受老化设备空间限制，单次测试组件数量较少，测试频率增加，时效性不佳。
现所述的快速光伏组件封装胶膜抗PID效果测试方法弥补常规测试方法的不足之处：对测试设备要求降低、方便运输、制作组件耗材成本降低、时效性大大提升。
发明内容
本发明的目的是：克服现有技术中的不足，提供一种快速评估光伏组件封装胶膜抗PID效果的测试方法，该测试方法对测试设备要求降低、方便运输、制作组件耗材成本降低、时效性大大提升。
为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案如下：
一种快速评估光伏组件封装胶膜抗PID效果的测试方法，所述测试方法包括：
S1设计组件板面，
S2按单玻、双玻结构叠层，放置于层压机内压制组件；
S3标定待测组件初始功率，组件四周贴双面导电铜箔，置于老化箱内，设置测试负高压、老化箱的温度和湿度，启动设备进行抗PID性能测试；
S4测试结束后，取出组件，常温放置一段时间后，标定测试后的组件功率，PID结果即为组件测试前后功率差值与组件初始功率的比值；
S5确定组件功率衰减标准。
进一步的，所述组件板面的尺寸设计参考组件电池片间距、电池片串间距、电池片与玻璃四个边缘的距离以及电池片尺寸及数量这些技术参数。
进一步的，所述电池片数量为16-28片。
进一步的，所述组件板面的长度与检测电池片的数量关系为：16片电池片705±1mm、20片电池片866±1mm、24片电池片1027±1mm、28片电池片1188±1mm，宽度均为670±1mm。
进一步的，所述单玻结构从上到下依次为玻璃层、胶膜层、电池片串层、胶膜层和背材层，所述双玻结构从上到下依次为玻璃层、胶膜层、电池片串层、胶膜层和玻璃层。
进一步的，所述单玻采用3.2mm厚度超白钢化玻璃，所述双玻采用2.5mm或2.0mm厚度超白钢化玻璃和普通浮法玻璃。
进一步的，所述步骤S3中待测组件放置于老化箱内设置测试负高压前，将铜箔连接PID电源接地端，组件引出正负极连接PID电源电压输出端。
进一步的，所述步骤S3中老化箱的温度为85±2℃，湿度为85±5％。
进一步的，所述步骤S4中待测组件从老化箱中取出后常温放置24h。
进一步的，所述组件功率衰减标准为<2.5％或<3.0％。
采用本发明的技术方案的有益效果是：
本发明中通过采用长度：705±1mm(16片)、866±1mm(20片)、1027±1mm(24片)、1188±1mm(28片)，宽度均为670±1mm版型，降低对测试设备的要求，方便运输存放，降低组件损坏的概率。制作组件的耗材成本也降低，适用于非专业组件制造厂家，能有效控制实验成本。在有限的条件下单次测试组件数量增加，测试频率减少，测试时间变短，时效性提高。
附图说明
图1为本发明中的测试方法所使用的组件版型。
图中：1组件板面，2电池片，3上汇流条，4下汇流条。
具体实施方式
下面的实施例可以使本专业技术人员更全面地理解本发明，但是这些实施例不是对本发明保护范围的限制。此处所称的“一个实施例”或“实施例”是指可包含于本发明至少一个实现方式中的特定特征、结构或特性。在本说明书中不同地方出现的“在一个实施例中”并非均指同一个实施例，也不是单独的或选择性的与其他实施例互相排斥的实施例。
一种快速评估光伏组件封装胶膜抗PID效果的测试方法，包括以下步骤：
S1设计组件板面1，本发明中组件板面1的尺寸设计参考组件电池片2间距、电池片串间距、电池片2与玻璃四个边缘的距离以及电池片2尺寸及数量这些技术参数。
图1为本发明中的测试方法所使用的组件版型。
请参阅图1，本发明中的一个实施例中，同一条电池片串中相邻电池片2之间的间距c为≤3mm，电池片串中位于最上面的一片电池片2距离上汇流条3内侧面的距离b为13±1mm，位于外侧的电池片串的外边缘与组件板右边缘之间的距离a为17±1mm，上汇流条3的内侧面距离组件板上边缘的距离g为28±1mm，下汇流条4的外侧面与组件板下边缘的距离a为17±1mm，相邻电池片串之间的间距d为3±1mm，组件板的长度f可以是：705±1mm(16片)、866±1mm(20片)、1027±1mm(24片)、1188±1mm(28片)，宽度e均为670±1mm。
S2按单玻、双玻结构叠层，放置于层压机内压制组件，组件的层压工艺为现有技术，本申请中不再赘述；
S3标定待测组件初始功率，组件四周贴双面导电铜箔，置于老化箱内，设置测试负高压、老化箱的温度和湿度，启动设备进行PID电源测试；
S4测试结束后，取出组件，常温放置一段时间后，标定测试后的组件功率，PID结果即为组件测试前后功率差值与组件初始功率的比值；
S5确定组件功率衰减标准。
电池片2数量为16-28片，这样可以实现在有限的条件下单次测试组件数量增加，测试频率减少，测试时间变短，时效性提高的目的。
组件板面1的尺寸为长度：705±1mm(16片)、866±1mm(20片)、1027±1mm(24片)、1188±1mm(28片)，宽度均为670±1mm版型，采用此版型，降低对测试设备的要求，方便运输存放，降低组件损坏的概率；制作组件的耗材成本也降低，适用于非专业组件制造厂家，能有效控制实验成本。
单玻结构从上到下依次为玻璃层、胶膜层、电池片串层、胶膜层和背材层，所述双玻结构从上到下依次为玻璃层、胶膜层、电池片串层、胶膜层和玻璃层优选的，单玻采用3.2mm厚度超白钢化玻璃，双玻正面采用2.5mm或2.0mm超白钢化压花玻璃，背面采用与正玻厚度一致的超白钢化压花或普通浮法玻璃。
步骤S3中待测组件放置于老化箱内设置测试负高压前，将铜箔连接PID电源接地端，组件引出正负极连接PID电源电压输出端，老化箱的温度为85±2℃，湿度为85±5％，步骤S4中待测组件从老化箱中取出后常温放置24h。
本实施例中组件功率衰减标准为<2.5％，采用此标准，测试效率更高，给封装胶膜配方的研发调整提供了极大的便利。
本发明中的测试方法中针对的电池片的尺寸为158*158mm，其他尺寸的电池片，例如：158.75*158.75mm，166*166mm，以及将来的182*182mm和210*210mm，本发明中的检测方法同样适用。
实施例1
第一步：参照组件电池片2间距、电池串间距、电池片2与玻璃四个边缘的距离等技术参数设计适用于本方法的组件板面1，确定组件尺寸为705*670mm，电池片的数量为16片；
图1为本发明中的测试方法所使用的组件版型。
请参阅图1，本发明中组件版型的设计如下：同一条电池片串中相邻电池片2之间的间距c为≤3mm，电池片串中位于最上面的一片电池片2距离上汇流条3内侧面的距离b为13±1mm，位于外侧的电池片串的外边缘与组件板右边缘之间的距离a为17±1mm，上汇流条3的内侧面距离组件板上边缘的距离g为28±1mm，下汇流条4的外侧面与组件板下边缘的距离a为17±1mm，相邻电池片串之间的间距d为3±1mm，组件板的宽度e为670±1mm，组件板的长度f为705±1mm。
第二步：按单玻(玻璃/胶膜/电池串/胶膜/背材)、双玻(玻璃/胶膜/电池串/胶膜/玻璃)结构叠层，放置于层压机内按合适的工艺压制组件。本实施例中单玻采用3.2mm厚度超白钢化玻璃，双玻正面采用2.5mm或2.0mm超白钢化压花玻璃，背面采用与正玻厚度一致的超白钢化压花或普通浮法玻璃
第三步：标定待测组件初始功率，组件四周贴双面导电铜箔，后放置于老化箱内，铜箔连接PID电源接地端，组件引出正负极连接PID电源电压输出端，按需设置测试负高压，同时老化箱温度设为85±2℃、湿度设为85±5％，设备启动待测试温湿度达到要求后开启PID电源测试。
第四步：待测试时间结束后，取出组件，常温放置24h，标定测试后的组件功率。
第五步：PID结果即为组件测试前后功率差值与组件初始功率的比值(百分比)。
第六步：通过与常规组件抗PID实验比对确定快速测试方法的组件功率衰减标准：<2.5％。
实施例2
第一步：参照组件电池片2间距、电池串间距、电池片2与玻璃四个边缘的距离等技术参数设计适用于本方法的组件板面1，确定组件尺寸为866*670mm，电池片的数量为20片；
本发明中组件版型的设计方案如下：同一条电池片串中相邻电池片2之间的间距c为≤3mm，电池片串中位于最上面的一片电池片2距离上汇流条3内侧面的距离b为13±1mm，位于外侧的电池片串的外边缘与组件板右边缘之间的距离a为17±1mm，上汇流条3的内侧面距离组件板上边缘的距离g为28±1mm，下汇流条4的外侧面与组件板下边缘的距离a为17±1mm，相邻电池片串之间的间距d为3±1mm，组件板的宽度e为670±1mm，组件板的长度f为866±1mm。
第二步：按单玻(玻璃/胶膜/电池串/胶膜/背材)、双玻(玻璃/胶膜/电池串/胶膜/玻璃)结构叠层，放置于层压机内按合适的工艺压制组件。本实施例中单玻采用3.2mm厚度超白钢化玻璃，双玻正面采用2.5mm或2.0mm超白钢化压花玻璃，背面采用与正玻厚度一致的超白钢化压花或普通浮法玻璃。
第三步：标定待测组件初始功率，组件四周贴双面导电铜箔，后放置于老化箱内，铜箔连接PID电源接地端，组件引出正负极连接PID电源电压输出端，按需设置测试负高压，同时老化箱温度设为85±2℃、湿度设为85±5％，设备启动待测试温湿度达到要求后开启PID电源测试。
第四步：待测试时间结束后，取出组件，常温放置24h，标定测试后的组件功率。
第五步：PID结果即为组件测试前后功率差值与组件初始功率的比值(百分比)。
第六步：通过与常规组件抗PID实验比对确定快速测试方法的组件功率衰减标准：<2.5％。
实施例3
第一步：参照组件电池片2间距、电池串间距、电池片2与玻璃四个边缘的距离等技术参数设计适用于本方法的组件板面1，确定组件尺寸为1027*670mm，电池片的数量为24片；
本发明中组件版型的设计方案如下：同一条电池片串中相邻电池片2之间的间距c为≤3mm，电池片串中位于最上面的一片电池片2距离上汇流条3内侧面的距离b为13±1mm，位于外侧的电池片串的外边缘与组件板右边缘之间的距离a为17±1mm，上汇流条3的内侧面距离组件板上边缘的距离g为28±1mm，下汇流条4的外侧面与组件板下边缘的距离a为17±1mm，相邻电池片串之间的间距d为3±1mm，组件板的宽度e为670±1mm，组件板的长度f为1027±1mm。
第二步：按单玻(玻璃/胶膜/电池串/胶膜/背材)、双玻(玻璃/胶膜/电池串/胶膜/玻璃)结构叠层，放置于层压机内按合适的工艺压制组件。本实施例中单玻采用3.2mm厚度超白钢化玻璃，双玻正面采用2.5mm或2.0mm超白钢化压花玻璃，背面采用与正玻厚度一致的超白钢化压花或普通浮法玻璃。
第三步：标定待测组件初始功率，组件四周贴双面导电铜箔，后放置于老化箱内，铜箔连接PID电源接地端，组件引出正负极连接PID电源电压输出端，按需设置测试负高压，同时老化箱温度设为85±2℃、湿度设为85±5％，设备启动待测试温湿度达到要求后开启PID电源测试。
第四步：待测试时间结束后，取出组件，常温放置24h，标定测试后的组件功率。
第五步：PID结果即为组件测试前后功率差值与组件初始功率的比值(百分比)。
第六步：通过与常规组件抗PID实验比对确定快速测试方法的组件功率衰减标准：<3.0％。
实施例4
第一步：参照组件电池片2间距、电池串间距、电池片2与玻璃四个边缘的距离等技术参数设计适用于本方法的组件板面1，确定组件尺寸为1188*670mm，电池片的数量为28片；
本实施例中的组件版型设计方法如下：同一条电池片串中相邻电池片2之间的间距c为≤3mm，电池片串中位于最上面的一片电池片2距离上汇流条3内侧面的距离b为13±1mm，位于外侧的电池片串的外边缘与组件板右边缘之间的距离a为17±1mm，上汇流条3的内侧面距离组件板上边缘的距离g为28±1mm，下汇流条4的外侧面与组件板下边缘的距离a为17±1mm，相邻电池片串之间的间距d为3±1mm，组件板的宽度e为670±1mm，组件板的长度f为1188±1mm。
第二步：按单玻(玻璃/胶膜/电池串/胶膜/背材)、双玻(玻璃/胶膜/电池串/胶膜/玻璃)结构叠层，放置于层压机内按合适的工艺压制组件。本实施例中单玻采用3.2mm厚度超白钢化玻璃，双玻正面采用2.5mm或2.0mm超白钢化压花玻璃，背面采用与正玻厚度一致的超白钢化压花或普通浮法玻璃。
第三步：标定待测组件初始功率，组件四周贴双面导电铜箔，后放置于老化箱内，铜箔连接PID电源接地端，组件引出正负极连接PID电源电压输出端，按需设置测试负高压，同时老化箱温度设为85±2℃、湿度设为85±5％，设备启动待测试温湿度达到要求后开启PID电源测试。
第四步：待测试时间结束后，取出组件，常温放置24h，标定测试后的组件功率。
第五步：PID结果即为组件测试前后功率差值与组件初始功率的比值(百分比)。
第六步：通过与常规组件抗PID实验比对确定快速测试方法的组件功率衰减标准：<3.0％。
检测效率对比：
一台双85老化箱一次实验只能放置十块左右的60整片(120半片)或72整片(144半片)组件，测试PID的组件数量大于老化箱容量时，就需要分批进行测试。我们以需要测试的组件数量20片为例：
改进前与改进后主要对比项
由表格中内容可知，相比传统的测试方法：
当本发明中的电池片数量为16片时，具有以下效果：每件组件减少71％～73％，单个老化箱组件数量增加50％，胶膜数量每件组件减少超过68％，测试频率降低一半，测试时间减少一半，需要人工数量减少一半，改进后取得的效果显著。
当本发明中的电池片数量为20片时，具有以下效果：每件组件减少67％～71％，单个老化箱组件数量增加50％，胶膜数量每件组件减少超过61％，测试频率降低一半，测试时间减少一半，需要人工数量减少一半，改进后取得的效果显著。
当本发明中的电池片数量为24片时，具有以下效果：每件组件减少60％～66％，单个老化箱组件数量增加50％，胶膜数量每件组件减少超过54％，测试频率降低一半，测试时间减少一半，改进后取得的效果显著。
当本发明中的电池片数量为28片时，具有以下效果：每件组件减少53％～60％，单个老化箱组件数量增加50％，胶膜数量每件组件减少超过45％，测试频率降低一半，测试时间减少一半，改进后取得的效果显著。
以上述依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。
Claims (10)
1.一种快速评估光伏组件封装胶膜抗PID效果的测试方法，其特征在于：所述测试方法包括：
S1设计组件板面，
S2按单玻、双玻结构叠层，放置于层压机内压制组件；
S3标定待测组件初始功率，组件四周贴双面导电铜箔，置于老化箱内，设置测试负高压、老化箱的温度和湿度，启动设备进行抗PID性能测试；
S4测试结束后，取出组件，常温放置一段时间后，标定测试后的组件功率，PID结果即为组件测试前后功率差值与组件初始功率的比值；
S5确定组件功率衰减标准。
2.根据权利要求1所述的一种快速评估光伏组件封装胶膜抗PID效果的测试方法，其特征在于：所述组件板面的尺寸设计参考组件电池片间距、电池片串间距、电池片与玻璃四个边缘的距离以及电池片尺寸及数量这些技术参数。
3.根据权利要求2所述的一种快速评估光伏组件封装胶膜抗PID效果的测试方法，其特征在于：所述电池片数量为16-28片。
4.根据权利要求1所述的一种快速评估光伏组件封装胶膜抗PID效果的测试方法，其特征在于：所述组件板面的长度与检测电池片的数量关系为：16片电池片705±1mm、20片电池片866±1mm、24片电池片1027±1mm、28片电池片1188±1mm，宽度均为670±1mm。
5.根据权利要求1所述的一种快速评估光伏组件封装胶膜抗PID效果的测试方法，其特征在于：所述单玻结构从上到下依次为玻璃层、胶膜层、电池片串层、胶膜层和背材层，所述双玻结构从上到下依次为玻璃层、胶膜层、电池片串层、胶膜层和玻璃层。
6.根据权利要求1所述的一种快速评估光伏组件封装胶膜抗PID效果的测试方法，其特征在于：所述单玻采用3.2mm厚度超白钢化玻璃，所述双玻采用2.5mm或2.0mm厚度超白钢化玻璃和普通浮法玻璃。
7.根据权利要求1所述的一种快速评估光伏组件封装胶膜抗PID效果的测试方法，其特征在于：所述步骤S3中待测组件放置于老化箱内设置测试负高压前，将铜箔连接PID电源接地端，组件引出正负极连接PID电源电压输出端。
8.根据权利要求1所述的一种快速评估光伏组件封装胶膜抗PID效果的测试方法，其特征在于：所述步骤S3中老化箱的温度为85±2℃，湿度为85±5%。
9.根据权利要求1所述的一种快速评估光伏组件封装胶膜抗PID效果的测试方法，其特征在于：所述步骤S4中待测组件从老化箱中取出后常温放置24h。
10.根据权利要求1所述的一种快速评估光伏组件封装胶膜抗PID效果的测试方法，其特征在于：所述组件功率衰减标准为<2.5%或<3.0%。
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Citations (5)
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|---|---|---|---|---|
| CN103795341A (zh) * | 2014-03-03 | 2014-05-14 | 江苏万丰光伏有限公司 | 一种光伏组件抗pid衰减的测试方法 |
| CN104345276A (zh) * | 2013-08-01 | 2015-02-11 | 普德光伏技术（苏州）有限公司 | 一种光伏组件衰减的测试方法 |
| CN204391130U (zh) * | 2014-11-28 | 2015-06-10 | 中电电气(上海)太阳能科技有限公司 | 一种抗pid效应的电池组件 |
| KR20170023428A (ko) * | 2015-08-24 | 2017-03-06 | 전자부품연구원 | 태양전지 pid 특성 시험방법 |
| CN106656038A (zh) * | 2016-11-11 | 2017-05-10 | 杭州福斯特光伏材料股份有限公司 | 一种光伏组件封装胶膜抗pid性能加速测试方法 |
-
2020
- 2020-07-17 CN CN202010693014.1A patent/CN111711418A/zh active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104345276A (zh) * | 2013-08-01 | 2015-02-11 | 普德光伏技术（苏州）有限公司 | 一种光伏组件衰减的测试方法 |
| CN103795341A (zh) * | 2014-03-03 | 2014-05-14 | 江苏万丰光伏有限公司 | 一种光伏组件抗pid衰减的测试方法 |
| CN204391130U (zh) * | 2014-11-28 | 2015-06-10 | 中电电气(上海)太阳能科技有限公司 | 一种抗pid效应的电池组件 |
| KR20170023428A (ko) * | 2015-08-24 | 2017-03-06 | 전자부품연구원 | 태양전지 pid 특성 시험방법 |
| CN106656038A (zh) * | 2016-11-11 | 2017-05-10 | 杭州福斯特光伏材料股份有限公司 | 一种光伏组件封装胶膜抗pid性能加速测试方法 |
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